P MINISTRIO DA EDUCAO

UNIVERSIDADE FEDERAL DE ITAJUB

Curso de Fsica Licenciatura a Distncia

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Fsica V

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t Laboratrio Fsica V

e Interfermetro de Michelson

Alessandra Loureno - 29278

Eliz Regina
EAD - Polo: Alterosa/MG

I
13/11/2017

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Sumrio

1. Introduo 3

2. Objetivo ----------------------------------------------------------------------------- ------3

3. Materiais Utilizados --------- ------------------------ ------------------------------ 10

4. Montagem-----------------------------------------------------------------11111111 1110

5. Interpretao dos Resultados -----------------------------------------------------12

6. Concluses-------------------------------------------------------------------------------13

7. Referncias Bibliogrficas --------------------------------------------------------- 14

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Interfermetro de Michelson

1. Introduo

A Michelson construiu um interfermetro para testar a existncia do ter, em um

meio hipottico em que a luz poderia se propagar. Sendo que seus trabalhos foram

essenciais para demostrar que essa hiptese e falsa, deixando clara a inexistncia

de um meio especia para a propagao da luz.O interfermetro de Michelson

consiste de um separador de feixe e de dois planos, sendo estes dispostos em

uma mesma base.

. A diferena de caminho ptico 2(l2 l1) = 2x, onde x posio de EM relao

ao ponto em que os dois braos do interfermetro so iguais. Se a fonte de luz

monocromtica (frequncia angular = k/c; c a velocidade da luz) com

comprimento de onda (k = 2/), o campo ptico resultante pode ser escrito

como:

E = E1 cos(t k2l1) + E2 cos(t k2l2),

A intensidade da luz, a menos de uma constante de proporcionalidade, a mdia

temporal do quadrado do campo:

O ltimo termo nesta expresso chamado termo de interferncia. Se o divisor de

feixe for de 50%, ento

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Deslocando EM, ento, a intensidade passa por mximos e mnimos de

interferncia com perodo 2/2k = /2. Se soubermos , podemos medir um

comprimento x apenas contando o nmero de franjas de interferncia N: x = N/2.

Alternativamente, se soubermos x, podemos medir o comprimento de onda da luz

como = 2x/N. Se EM e EF estiverem exatamente perpendiculares, o padro de

interferncia observado na forma de crculos concntricos (Fig. 2) e se estiverem

ligeiramente inclinados um relao ao outro o padro mostrar franjas claras e

escuras (na realidade so tambm crculos concntricos, mas com o centro fora do

eixo de simetria).

Fotos feitas durante o procedimento no laboratrio.

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Figura 2. Padres de interferncia observados quando os espelhos esto alinhados (a) e ligeiramente

desalinhados (b e c) .

o divisor de feixe construdo depositando uma fina camada metlica sobre a

superfcie de um vidro plano e relativamente espesso, de maneira a garantir que

no haja deformaes na superfcie (Fig. 3). Como a luz refletida em EM percorre

duas vezes a espessura da placa SE, coloca-se uma placa

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compensadora, paralela a SE, do mesmo vidro e de espessura idntica, para que

nos dois braos do interfermetro os caminhos pticos sejam idnticos quando

x=0.

Figura 3. Interfermetro de Michelson com placa compensadora e foto do instrumento a utilizar no

laboratrio.

Note na Fig. 3 que uma das reflexes em SE interna (dentro do vidro) e a outra
externa (ao vidro). Isto introduz uma diferena de fase de entre as duas ondas
refletidas, de modo que, a rigor, a Eq. 1 deve ser substituda por
I=I0(1cos2kx),
Este fato irrelevante para os fins prticos. A nica diferena que, quando x = 0
e o alinhamento perfeito, temos uma franja circular escura no centro do padro
de interferncia (em quanto que a Eq. 1 prediz um mximo).
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2. OBJETIVO

Determinar o comprimento de onda de uma fonte de luz monocromtica.

Determinar o ndice de refrao de um determinado material.
PROCEDIMENTOS EXPERIMENTAIS

Parte I Interfermetro de Michelson

O procedimento iniciou-se com a calibrao do parafuso micromtrico do brao do

espelhomvel, no sentido anti-horrio at aproximadamente o nmero 25 aparecer,
em seguida, voltar arotao, ou seja, dessa vez no sentido horrio, at coincidir o
Zero da marcao vertical com o 20 damarcao do parafuso (horizontal). Esse
procedimento tende a evitar marcaes imprecisas nomomento em que se muda a
rotao do parafuso.

(Figura 6: Calibragem do parafuso micromtrico do espelho mvel)

A partir desse momento, comea-se a girar o parafuso no sentido horrio, ao
mesmo tempo em que conta-se a quantidade de mde anis que se formam, ou
seja, os mximos da experincia deinterferncia. Para tanto se fez necessrio
normatizar que um mximo s era considerado como tal, seultrapassasse a
marcao de 1,0 cm de dimetro na rgua contida no detetor, ou tela de
observao. interessante aqui ressaltar que a contagem deve ser feita
mentalmente, uma vez que at ascorrentes de ar que so expelidas com a
respirao do experimentador podem interferir na experincia,fazendo vibrar a
interferncia dos raios de luz emitida pela fonte.Contada a quantidade m de anis,
que em nosso caso, foram 20, apurou-se o valor docomprimento do parafuso
micromtrico, anotando-se o resultado. E repetindo-se o procedimento portrs
vezes consecutivas, para acharmos um valor mdio de Is
Tabela com os resultados ser demostrada neste relatrio.

3. Materiais

Interfermetro de Michelson com fator 990nm para cada mm

Laser HeNe

Lente 1110nm/mm

4. Procedimento Experimental
O equipamento j se encontrava montados com os devido espelhos.
Ligamos o laser e este projetou no anteparo as imagens de interferncia com
crculos concntricos. Calculamos o erro do micrmetro (+- 0,005).
Em seguida ajustamos o micrmetro em uma determinada medida e observamos o
padro de imagem que aparecia no anteparo, assim demos 10 voltas(N) no
micrometro at que mostrasse novamente o padro de refrencia
5. Interpretao dos Resultados
Valor micrmetro Valor encontrado d=d1-d0
inicial aps 10 mximos (m)
(m) centrais
(m)
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Como o valor terico do comprimento de onda que emitida pela fonte de luz

sabido, o qual foi verificado no aparelho de = 632,8nm, pode-se averiguar se o

valor determinado na experincia atende ao que foi proposto por Michelson,

vejamos no momento em que estamos calculando o desvio no resultado obtido:

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6. Concluso

Note que o resultado obtido atravs do Desvio Percentual, que nada mais do que
um clculo de porcentagem simples, do valor terico pelo valor encontrado no
experimento, um valor quase 28% menor que valor mximo sugerido pela
experincia de Michelson, que de 5%. Teoricamente esse valor deveria
coincidir, em situaes ideais, com o valor nominativo que expresso pela fonte de
luz, no entanto,
Percebemos que houve um erro de medida, pois o professor disse que o
micrmetro no tinha a calibrao adequada. Portanto, no chegamos aos
resultados esperados.
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6. Referncias Bibliogrficas

Halliday, D.; Resnick, R.; Walker, J. Fundamentos de Fsica, Volume 4. 8 edio. Rio de Janeiro: LTC
2007.
Sears & Zemansky - Fsica IV, tica e Fsica Moderna. H. D.Young R. A.Freedman. 12a Ed

https://www.google.com.br/search?q=Interfer

%C3%B4metro+de+Michelson&source=lnms&tbm=isch&sa=X&ved=0ahUKEwj2hP29s9_XAhVEHZAK

HXTEAKIQ_AUICigB&biw=1920&bih=900#imgdii=BYLA0oUlWAgZfM:&imgrc=gKpYpsbK82nsrM:

https://pt.scribd.com/doc/91569122/Relatorio-do-Experimento-de-Michelson-Morley-Joelson-Alves-

Final

http://sites.ifi.unicamp.br/laboptica/files/2013/01/michelson1.pdf