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MINISTRIO DA EDUCAO

UNIVERSIDADE FEDERAL DE ITAJUB

Curso de Fsica Licenciatura a Distncia

Fsica V

Laboratrio Fsica V

Interfermetro de Michelson

Leene Pereira Alves Sousa 29290


Viviane de Souza Vara - 29302
EAD - Polo: Alterosa/MG

15/06/2017

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MINISTRIO DA EDUCAO

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Curso de Fsica Licenciatura a Distncia

Fsica V

Sumrio

1. Introduo 3
2. Objetivo 6
3. Materiais Utilizados 6
4. Interpretao dos Resultados 7
5. Concluses 8
6. Referncias Bibliogrficas 8

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Interfermetro de Michelson

1. Introduo

O interfermetro de Michelson um instrumento que permite medir


comprimentos com muita preciso. Consta (vide Fig. 1) de um
espelho semitransparente ES, um espelho fixo (EF, a uma
distncia l2) e outro mvel (EM, a uma distncia l1). A luz
incidente dividida no SE em partes aproximadamente iguais;
uma parte reflete sobre si mesma em EF e refletida no SE na
direo do olho do observador (ou num anteparo no caso de
utilizarmos um laser). A outra parte reflete sobre si mesma em
EM, transmitida por SE e interfere no anteparo com a primeira
parte. A diferena de caminho ptico 2(l2l1)=2x, onde x
posio de EM relao ao ponto em que os dois braos do
interfermetro so iguais. Se a fonte de luz monocromtica
(frequncia angular =k/c; c a velocidade da luz) com
comprimento de onda (k=2/), o campo ptico resultante pode
ser escrito como

E = E1cos(tk2l1) + E2cos(tk2l2),

A intensidade da luz, a menos de uma constante de


proporcionalidade, a mdia temporal do quadrado do campo:

I=<E2> = I1+I2+2E1E2cos2kx.

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O ltimo termo nesta expresso chamado termo de interferncia.


Se o divisor de feixe for de 50%, ento I1=I2=E1E2=I0/2 e temos

I=I0(1+cos2kx).

Figura 1 Esquema de observao do experimento

Deslocando EM, ento, a intensidade passa por mximos e mnimos


de interferncia com perodo 2/2k=/2. Se soubermos , podemos
medir um comprimento x apenas contando o nmero de franjas de
interferncia N: x=N/2. Alternativamente, se soubermos x,
podemos medir o comprimento de onda da luz como =2x/N.
Se EM e EF estiverem exatamente perpendiculares, o padro de
interferncia observado na forma de crculos concntricos
(Fig. 2) e se estiverem ligeiramente inclinados um relao ao
outro o padro mostrar franjas claras e escuras (na realidade
so tambm crculos concntricos, mas com o centro fora do eixo
de simetria)

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Figura 2. Padres de interferncia observados quando os espelhos esto


alinhados (a) e ligeiramente desalinhados (b e c)

Na prtica, o divisor de feixe construdo depositando uma


fina camada metlica sobre a superfcie de um vidro plano e
relativamente espesso, de maneira a garantir que no haja
deformaes na superfcie (Fig. 3). Como a luz refletida em EM
percorre duas vezes a espessura da placa SE, coloca-se uma
placa compensadora, paralela a SE, do mesmo vidro e de
espessura idntica, para que nos dois braos do interfermetro
os caminhos pticos sejam idnticos quando x=0.

Figura 3. Interfermetro de Michelson com placa compensadora e foto do


instrumento a utilizar no laboratrio

Note na Fig. 3 que uma das reflexes em SE interna (dentro


do vidro) e a outra externa (ao vidro). Isto introduz uma
diferena de fase de entre as duas ondas refletidas, de modo
que, a rigor, a Eq. 1 deve ser substituda por

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I=I0(1cos2kx),

Este fato irrelevante para os fins prticos. A nica diferena


que, quando x = 0 e o alinhamento perfeito, temos uma franja
circular escura no centro do padro de interferncia (em quanto
que a Eq. 1 prediz um mximo).

2. Objetivo

Utilizar o interfermetro de Michelson para medir comprimentos


de onda

3. Materiais
Interfermetro de Michelson com fator 990nm para cada mm
Laser HeNe
Lente 1110nm/mm

4. Procedimento Experimental

O equipamento j se encontrava montados com os devido espelhos.


Ligamos o laser e este projetou no anteparo as imagens de
interferncia com crculos concntricos.
Calculamos o erro do micrmetro (+- 0,005).
Em seguida ajustamos o micrmetro em uma determinada medida e
observamos o padro de imagem que aparecia no anteparo, assim

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demos 10 voltas(N) no micrometro at que mostrasse novamente o


padro de refrencia

5. Interpretao dos Resultados

Valor Valor encontrado d=d1-d0


micrmetro aps 10 mximos (m)
inicial centrais
(m) (m)
6,360 9,100 2,740
7,000 9,980 2,980
9,980 11,420 1,440
8,050 11,450 3,400
7,475 9,370 1,895
Mdia 7,773 10,264 2,491

.
=

= ,

Como o valor terico do comprimento de onda que emitida pela


fonte de luz sabido, o qual foi verificado no aparelho de =
632,8nm, pode-se averiguar se o valor determinado na experincia
atende ao que foi proposto por Michelson, vejamos no momento em
que estamos calculando o desvio no resultado obtido:

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1 2
=( ) . 100
2

632,80 493, 21
=( ) . 100
493,21

= 28,30

6. Concluso

Note que o resultado obtido atravs do Desvio Percentual, que


nada mais do que um clculo de porcentagem simples, do valor
terico pelo valor encontrado no experimento, um valor quase
28% menor que valor mximo sugerido pela experincia de
Michelson, que de 5%. Teoricamente esse valor deveria
coincidir, em situaes ideais, com o valor nominativo que
expresso pela fonte de luz, no entanto,
Percebemos que houve um erro de medida, pois o professor disse
que o micrmetro no tinha a calibrao adequada. Portanto, no
chegamos aos resultados esperados.

7. Referncias Bibliogrficas

Halliday, D.; Resnick, R.; Walker, J. Fundamentos de Fsica,


Volume 4. 8 edio. Rio de Janeiro: LTC 2007.

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Sears & Zemansky - Fsica IV, tica e Fsica Moderna. H. D.Young


R. A.Freedman. 12a Ed

http://www.ifsc.usp.br/~lavfis/images/BDApostilas/ApMichelson
/Michelson_1.pdf acessado em 15/06/2017

https://periodicos.ufsc.br/index.php/fisica/article/viewFile/
10025/14562 acessado em 15/06/2017

http://sites.ifi.unicamp.br/laboptica/files/2013/01/michelson
1.pdf acessado em 15/06/2017