MUESTREO PARA LA ACEPTACIN

1. INTRODUCCIN ........................................................................................................... 1
2. MUESTREO POR LOTES, CONTROL POR ATRIBUTOS ................................................... 4
2.1. Curvas caractersticas de operacin (OC) ............................................................ 5
2.2. Procedimiento de aceptacin por Normas MIL-STD ......................................... 10
2.2.1. MIL-STD-105E. MUESTREO POR LOTES. .................................................... 10
2.2.2. MIL-STD-1235. MUESTREO CONTINUO ..................................................... 14
3. MUESTREO POR LOTES. CONTROL POR VARIABLES. ................................................. 17
3.1. MIL-STD-414 ...................................................................................................... 18
1. INTRODUCCIN
Para conocer si un lote formado por un determinado nmero de unidades cumple las
especificaciones, existen dos posibilidades:
Inspeccionar todas las unidades del lote.
Inspeccionar slo una muestra representativa del lote e inferir, estadsticamente,
la homogeneidad de todo el lote.
La primera posibilidad, inspeccin del 100%, es la nica que permite conocer el nmero
exacto de unidades defectuosas que contiene el lote. Sin embargo, este tipo de
inspeccin tiene limitaciones:
Es un procedimiento costoso. Cada unidad debe ser inspeccionada
individualmente. La propia manipulacin produce daos, aumentando el nmero de
unidades defectuosas.
En realidad, no es efectiva al 100%. En los casos donde el nmero de defectos del
lote es bajo, la monotona por la repetitividad del trabajo, unido a los errores
propios de los inspectores, hacen que unidades defectuosas pasen como unidades
buenas. Si, por el contrario, el nmero de unidades defectuosas en el lote es alto,
la falta de tiempo para la inspeccin, o la utilizacin no adecuada de los
instrumentos de medida, hace que se acepten unidades defectuosas.
No es aplicable la inspeccin del 100% si la inspeccin para conocer las
caractersticas de la pieza exige realizar ensayos destructivos.
La segunda posibilidad, el muestreo estadstico, implica riesgos basados en que la
homogeneidad del lote se infiere de los resultados de una muestra, pero presenta la
ventaja de eliminar las limitaciones de la inspeccin 100% especialmente en lo relativo al
coste de la inspeccin en el caso de ser necesarios los ensayos destructivos.
El principio de aplicacin de los planes de muestreo, parte de la base de estructurar
debidamente: el tamao de la muestra y el criterio de aceptacin de acuerdo con los
riesgos de inferencia estadstica que queramos asumir.
La inspeccin para la aceptacin se realiza en muchas de las etapas de la produccin: a
la hora de recibir los materiales, piezas o materia prima; durante la manufactura; al
terminarlo y una vez el producto es comprado, puede ser efectuado por el propio cliente.
El muestreo de aceptacin es una forma particular de inspeccin y simplemente acepta y
rechaza lotes; pero no mejora la calidad. Es decir, el muestreo de aceptacin no es una
estrategia de mejora de la calidad.
En la actualidad se tiende a sustituir por las tcnicas agrupadas en el SPC/SEIS SIGMA,
aunque sigue usndose en muchas normas nacionales e internacionales.

1
Utilidad del Muestreo para la Aceptacin
Cuando las pruebas son destructivas.
Cuando el costo de la inspeccin del 100% es muy alto
Cuando la inspeccin del 100% no es tecnolgicamente factible o requerira tanto
tiempo que afectara seriamente la programacin de la produccin.
Cuando son muchos los artculos por inspeccionar y la tasa de los errores de
inspeccin es tan elevada que la inspeccin del 100% es poco fiable.
Cuando el proveedor tiene un historial de calidad excelente y se desea cierta
reduccin en la inspeccin del 100.
Ventajas
Menos costoso.
Menor manejo del producto, se reducen daos.
Puede aplicarse cuando las pruebas son destructivas.
Menos personal implicado en la inspeccin.
Inconvenientes
Se pueden rechazar lotes buenos y aceptar lotes malos.
Se requiere una serie de clculos y documentacin que no son necesarios en
una inspeccin al 100%.

Tipos de Planes de Muestreo: se pueden clasificar de diversas formas:

De acuerdo con la naturaleza de la poblacin base:
Lote aislado.
Lote a lote (produccin uniforme de lotes).
Fabricaciones continuas (por ejemplo industria qumica, plantas embotelladoras,
etc.).
De acuerdo con la naturaleza de la caracterstica inspeccionada:
Por atributos. La caracterstica es de tipo cualitativo (pasa /no pasa). Cada unidad
de la muestra se clasifica como buena o mala. A continuacin se compara el
nmero de unidades malas con el nmero de aceptacin y se toma la decisin de
aceptar o rechazar el lote.
Por variables. La caracterstica es de tipo cuantitativo (p.ej. longitud, peso, etc.). En
cada unidad de la muestra se mide la caracterstica observada. A continuacin se
calculan las variables estadsticas especificadas y se comparan con el valor
permitido definido en el plan, tomando la decisin de aceptar o rechazar el lote.
2
De acuerdo con el nmero de muestras a tomar:
Simples: Se toma una muestra con la que hay que decidir la aceptacin o el
rechazo.
Dobles: Se toman hasta dos muestras. Es posible aceptar o rechazar solo con la
primera muestra. Si es un resultado intermedio, se extrae una segunda muestra. El
tamao de las dos muestras puede ser diferente.
Mltiple: Conceptualmente es igual al muestreo doble pero en este caso pueden
llegarse a extraer hasta n muestras diferentes.
Continuo: En este caso se van extrayendo los elementos uno a uno y segn los
resultados que se van acumulando de elementos aceptados y rechazados, llega un
momento en el que se tiene informacin suficiente para aceptar o rechazar el lote.

Desde el mismo momento en que tomamos una decisin basada en las caractersticas
de la muestra, pueden cometerse errores, es decir aceptar/rechazar el lote de forma
equivocada. Se conocen como error Tipo I y Tipo II.

La probabilidad de rechazar un lote bueno se denomina riesgo del fabricante () y,

como es lgico debe ser baja. Normalmente se fija en un 0,05 (5%).

La probabilidad de aceptar un lote malo se denomina riesgo del consumidor () y,

como es lgico debe ser baja. Normalmente se fija en un 0,10 (10%).

En cualquier caso, queda por definir qu se entiende por lote bueno y lote malo. Para ello
se hace uso de los conceptos Nivel de Calidad Aceptable (NCA) y Porcentaje de
Unidades defectuosas Tolerado (LPTD) que veremos ms adelante.

3
2. MUESTREO POR LOTES, CONTROL POR ATRIBUTOS
El muestreo por lotes con datos basados en atributos es la forma ms simple y comn
del muestreo para la aceptacin.
La formacin del propio lote puede influir en la eficacia del plan de muestreo de
aceptacin. A continuacin se enuncia tres recomendaciones para formar los lotes:
1. Los lotes deben ser homogneos: Es decir, las unidades que forman un lote en
particular deben haber sido fabricadas bajo condiciones similares en cuanto a
mquinas, operadores, materia prima, tiempo (fechas), etctera.
2. Los lotes deben ser formados de manera que no compliquen el manejo de
materiales del proveedor y del cliente, deben ser empaquetados y embarcados
de forma que la seleccin de unidades de la muestra sea relativamente fcil.
3. Los lotes deben ser tan grandes como sea posible. Esto debido al menor costo
y mayor eficiencia de la inspeccin.
En estos planes, se extrae aleatoriamente una muestra
de un lote de tamao n, y cada pieza de la muestra es
clasificada de acuerdo con ciertos atributos como
aceptable o defectuosa. Si el nmero de piezas
defectuosas, X es menor o igual que un cierto nmero
predefinido c, nmero de aceptacin, c entonces el lote
es aceptado, en caso de que sea mayor el lote es
rechazado.
En ocasiones, podemos encontrarnos con que hay
distintos tipos de defectos a controlar, de manera que el
plan de muestreo puede ser distinto para cada uno de
ellos. Se suelen diferenciar tres tipos de defectos:
Crtico, es aquel que afecta a una caracterstica
crtica de la pieza o material, de tal manera que
probablemente la pieza o el material no pueda
satisfacer las necesidades para las que fue diseado.
Mayor, es el que, a diferencia del crtico,
probablemente acabe en fallo, o reduzca materialmente
la capacidad de uso de la unidad de producto para un propsito determinado.
Menor, es una desviacin de los estndares establecidos que no tiene gran incidencia
en el uso efectivo de la unidad de producto.

4
 2.1. Curvas caractersticas de operacin (OC)
En la prctica nunca se sabe a priori la calidad real de un lote, nmero o porcentaje real
de defectuosos (p) de un lote. Por tanto, los planes de muestreo se evalan mediante el
clculo de la probabilidad de aceptacin, Pa.
Para un valor determinado de n y c y con un porcentaje de defectuosos en el lote de p, la
probabilidad de que ese lote resulte aceptado/rechazado al efectuar el muestreo es Pa.
Es importante definir es este momento dos conceptos de uso continuo en los planes de
muestreo:
El AQL (Average Quality Limit o Nivel de calidad aceptable).
Es el porcentaje mximo de unidades defectuosas en un lote que, a efectos del
muestreo, se puede considerar asumible como media del proceso, por lo que debe
tener una probabilidad de aceptacin alta (normalmente se establece en 0,95).
El LTPD (Lot Tolerance Percent Defective o Porcentaje de Unidades
Defectuosas Toleradas).
Es el porcentaje de unidades defectuosas en un lote que a efectos de muestreo se
considera insatisfactorio, por lo que debe tener una probabilidad de aceptacin baja
(normalmente 0,10).

La probabilidad de aceptacin se calcula utilizando tres tipos de distribucin de

probabilidades: la hipergeomtrica, la binomial y la de Poisson, siendo sta ltima, por su
facilidad de clculo, la ms utilizada, siempre que se cumplan las siguientes condiciones:
La proporcin p es menor o igual a 0,1.
El tamao de la muestra n es mayor o igual a 30.
El tamao del lote es al menos 10 veces el tamao de la muestra.

De la representacin de Pa para distintos valores de p (0 p 1) se obtiene el grfico

denominado Curva Caracterstica Operativa, Curva OC que expresa para un plan de
muestreo concreto la probabilidad de aceptar un lote, en funcin del porcentaje p de
artculos defectuosos existentes en dicho lote.

5
En la Curva OC se pueden observar los dos puntos que hemos mencionado:
1. NCA (NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE). Es el valor de p (c en el caso de defectos)
que tiene una probabilidad de aceptacin de 0,95. La probabilidad de rechazo de un
lote con estas caractersticas, = 0,05, se denomina riesgo del fabricante.
2. CL (CALIDAD LIMITE). En ingls QL (Quality Limit) o LTPD. Es el valor de p (c en el
caso de defectos) que tiene una probabilidad de aceptacin de 0,10. La probabilidad
de aceptacin de un lote con estas caractersticas, = 0,10, se denomina riesgo
del consumidor.

La interpretacin de la curva anterior es la siguiente:

Cuando el muestreo consiste en tomar 205 unidades y el nmero mximo de defectuosos
se establece en dos unidades:
a) Los lotes cuya proporcin real de defectuosos est por debajo del 0,4% (NCA)
tienen un 95% de posibilidades de resultar aceptados.
b) Los lotes cuya proporcin real de defectuosos est por encima del 2,55% (NCL)
solo tienen un 10% de posibilidades de ser aceptados.

Por otro lado, es evidente que la curva OC cumple las dos condiciones siguientes:
1. Para p = 0, Pa = 1. Este punto indica que el lote siempre ser aceptado ya que
no contiene elementos defectuosos.
2. Para p = 1, Pa = 0. Si todos los elementos del lote son defectuosos, sea cual sea
el muestreo efectuado, el lote ser rechazado.

6
Determine NCA y CL para el
plan de muestreo
representado en la curva

Construccin de la Curva OC en Excel. Hay que hacer uso de la funcin POISSON.DIST

1. Conocidos n y c damos valores a p desde 0 a 15% y calculamos el valor de Pa
correspondiente aplicando la funcin de Poisson como se ve en la figura.
2. Construimos el grfico con los valores obtenidos.
3. El valor de p al que le corresponde un Pa del 95% es el NCA
4. El valor de p al que le corresponde un Pa del 10% es el CL

EJEMPLO n = 80; c = 4

7
Resulta muy fcil obtener las curvas para distintos planes, de manera que se ponga de
manifiesto la influencia del valor de n o del valor de c.
a) c fijo, cambiamos el valor de n.

b) n fijo, cambiamos el valor de c.

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Haciendo uso de tablas tambin se puede obtener la curva. Se calculan los valores del
producto np (en el caso anterior n= 80) y con r (c) = 4, obtenemos en la tabla el valor de
Pa correspondiente. Por ejemplo 80 x 0,05 =4. Para np = 4 y r = 4, Pa = 0,629 = 62,9 %
que es el valor obtenido en la Excel (63%). Repitiendo el proceso para distintos valores
de np, podemos construir la curva.

Si lo que queremos es establecer un plan de muestreo (c y n) que satisfaga unos

determinados valores de NCA y CL, hay que tener en cuenta que existen mltiples
combinaciones de c y n que pueden cumplir esos requisitos. Podemos usar la misma
hoja de clculo que hemos preparado para ir probando valores de c y n que hagan que el
NCA y el CL se aproximen a los deseados.

9
 2.2. Procedimiento de aceptacin por Normas MIL-STD
La complejidad del manejo de la curvas de operacin en entornos productivos llev a la
aparicin de distintas normas para la realizacin del control por muestreo basadas en el
uso de tablas. Entre las ms difundidas se encuentran las propuestas por el
Departamento de Defensa de los EEUU, las Military Standard. Este sistema ha sido
adoptado por la International Organization for Standarization bajo la denominacin de
ISO, as como, por la mayora de las normas importantes (ANSI, BS, JIS, UNE, etc.) con
pequeas variaciones.
Existen distintas normas aplicables a distintos entornos. Nosotros vamos a comentar las
siguientes
MIL-STD -105. Esta norma es un sistema de planes de muestreo para la
aceptacin de series de lotes por atributos. Fue inicialmente desarrollado
como un conjunto de tablas de inspeccin para el ejrcito de Estados Unidos
durante la 2 Guerra Mundial. Se han sucedido diferentes modificaciones hasta
1989 (versin 105E).
MIL-STD-414. Es la equivalente a la anterior pero para muestreos basados en el
control de variables en lugar de atributos.
MIL-STD-1235. Es una norma para el control por atributos en continuo en lugar
de por lotes.

En la actualidad, el Departamento de Defensa ha unificado todas las normas de

muestreo en la MIL-STD-1916.

2.2.1. MIL-STD-105E. MUESTREO POR LOTES.

El MIL-STD-105E establece varios niveles de inspeccin: tres niveles ordinarios de
inspeccin, niveles I, II, y III, y otros cuatro especiales, niveles S1, S2, S3 y S4
El nivel II se considera el estndar. Con el nivel I se obtiene algo menos de la mitad del
tamao de muestra que da el nivel II y con el nivel III, alrededor de una vez y media del
tamao de muestra dado por el nivel II.
Los niveles de inspeccin especiales (S1 a S4), estn concebidos para aquellos casos en
que el tamao de la muestra deba ser pequeo (el objetivo principal de los niveles
especiales es el de mantener las muestras pequeas cuando verdaderamente sea
necesario, como en inspecciones destructivas por ejemplo). Sin embargo, debe tenerse
cuidado para evitar el uso de AQLs contradictorios con estos niveles (por ejemplo,
especificar nivel S1 con AQL de 0.10)
Existen tres posibles tipos de muestreo; simple, doble y mltiple.

10
Para un mismo tamao de lote y nivel de calidad aceptable, NCA (AQL) se
especifican tres planes de inspeccin:
La inspeccin Normal es usada al iniciar una actividad de inspeccin.
La inspeccin Rigurosa se establece cuando el vendedor ha tenido un mal
comportamiento en cuanto a la calidad convenida. Los requisitos para la
aceptacin de los lotes bajo una inspeccin rigurosa, son ms estrictos que una
inspeccin normal.
La inspeccin Reducida se aplica cuando el vendedor ha tenido un
comportamiento bueno en cuanto a la calidad (p < AQL). El tamao de muestra
utilizado en una inspeccin reducida es menor que en una inspeccin normal, por
lo que el costo de inspeccin es menor.

Segn se va desarrollando el muestreo, puede cambiarse de un plan a otro aplicando las

siguientes reglas:
1) En el inicio de la inspeccin, se emplear el plan de inspeccin Normal, excepto que
las circunstancias aconsejen un plan riguroso (exigencia del producto, falta de
confianza en el proveedor) o un plan reducido (proveedor de gran confianza).
2) Se cambia del plan Normal al Riguroso, si 2 de 5 lotes consecutivos han sido
rechazados.
3) Se cambia de plan Riguroso a Normal, si se aceptan 5 lotes seguidos.
4) Se cambia de plan Normal a Reducido, si se cumplen todos los requisitos siguientes:
a) La produccin es estable.
b) no se rechaza ningn lote durante 10 lotes seguidos.
c) El valor de defectuosos acumulados en los 10 lotes inspeccionados es inferior al
valor lmite establecido en la tabla VIII.
5) Se cambia de plan Reducido a Normal,
a) si un lote es rechazado.
b) Si el valor de c est comprendido entre los valores de A y R. En ese caso el lote
se acepta pero se cambia a normal
6) La inspeccin Rigurosa debe concluir despus de ms de 10 lotes rechazados y se
debe proponer al proveedor que revise los niveles de calidad de su produccin.

Aunque cambiemos el plan de inspeccin,

NO se puede cambiar el nivel de inspeccin (I, II, S1, )

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El procedimiento a seguir para obtener un plan de muestreo ser:
1. Fijar el tamao del lote (p. ej.; 400). Fijar el Modo y Nivel de Inspeccin (p. ej.;
normal, Nivel II).
2. Fijar el NCA (AQL), basado en el acuerdo entre vendedor y cliente. (p.ej.,
NCA=1,5) Para el tamao de la muestra se busca en la Tabla I, la letra-cdigo.
(p.ej.; en nuestro caso resulta ser la H).
3. A continuacin, si se desea un plan simple se ir a las Tablas II, si doble a las
Tablas III y si mltiple a las Tablas IV. En el ejemplo busquemos el plan
correspondiente a simple en inspeccin normal.
4. Tabla II-A (inspeccin normal): El tamao de la muestra es n=50 y Ac=1 y Re=2.
Por tanto, el plan de muestreo simple consiste en tomar una muestra de tamao 50
del lote y aceptar el lote si el nmero de elementos no conformes es menor o igual
a 2.

Obtenga el plan de muestreo simple para los siguientes casos:

Letra
N Nivel Modo NCA n Ac Re
cdigo
250 II Normal 0,25
1500 II Normal 1,00
1500 II Riguroso 0,40
6000 S3 Reducido 0,65
800 II Normal 1,50
800 I Normal 1,50

Puede ocurrir que para el tamao de lote y el AQL manejados no exista plan de
muestreo en la tabla. En estos casos se siguen las flechas direccionales en las tablas
para el plan de muestreo ms cercano posible. Puede ocurrir que cambie el tamao
muestral:
1. P. ej. Supongamos que nuestro AQL es ahora, 0,04.
2. El tamao del lote sigue siendo (p. ej.; 400).
3. Para el tamao de la muestra se busca en la Tabla I, la letra-cdigo. (p.ej.; en nuestro
caso resulta ser la H).
4. En la Tablas II, se sigue la flecha hasta el plan de muestreo ms prximo.
Corresponde con la letra M y especifica un tamao muestral de 315 con Ac=0 y Re=1.

12
Planes de muestreo Dobles y Mltiples:

El muestreo doble es un sistema en que se toma una primera muestra de tamao ms

pequeo que la que sera necesaria en el muestreo simple y si la calidad encontrada es
suficientemente buena o suficientemente mala, el lote se acepta o se rechaza
directamente, pero si el resultado obtenido con la muestra es un valor intermedio, se
debe tomar una segunda muestra antes de decidir sobre la aceptacin o rechazo.

Significa que si se encuentra un mximo de 2 no conformes en la primera muestra, se

aceptar el lote sin tomar una segunda muestra. Si se encuentran 5 o ms no conformes
en la primera muestra, se rechaza el lote sin tomar una segunda muestra.
Sin embargo, si la primera muestra contiene 3 4 no conformes, se debe tomar una
segunda muestra de 80 unidades y la decisin depender del total de no conformes
encontrados en ambas muestras, aceptndose el lote, en este caso, para 6 no conformes
o menos en total y rechazndose cuando haya 7 o ms no conformes en total.
En general los planes de muestreo dobles requieren menos inspeccin media que los de
muestreo simple. Es decir, son interesantes siempre y cuando la decisin de
aceptar/rechazar el lote se tome con la primera muestra estudiada. Si tenemos que
recurrir con frecuencia a la segunda, puede ser ms rentable pasar a un plan de
muestreo simple. Lo mismo es aplicable a los planes de muestreo mltiples.
Los planes de muestreo mltiples son semejantes pero con hasta siete submuestras.
Obtenga los correspondientes planes de muestreo doble.
Letra
N Nivel Modo NCA n1 Ac1 Re1 n2 Ac2 Re2
cdigo
250 II Normal 0,25
5000 II Normal 1,00
5000 II Riguroso 0,40
2000 S1 Normal 0,65
800 II Normal 2,50
800 I Normal 2,50

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 2.2.2. MIL-STD-1235. MUESTREO CONTINUO
Proporciona un procedimiento de inspeccin de aceptacin-rechazo que consta de
periodos alternativos de inspeccin al 100% y otros por muestreo.
El primer plan de muestreo continuo de etapa nica, denominado CSP-1, fue propuesto
por H.F. Dodge en 1943. En 1962 se publica la norma MIL-STD-1235. Esta norma est
compuesta por los distintos planes. La ltima versin data de 1999. Como ya se ha
comentado, ha sido sustituida por la MIL-STD-1916.
Ventajas del Muestreo Continuo
No se interrumpe la produccin ya que no es preciso formar lotes.
La entrega de productos es inmediata.
No es necesario disponer de espacio para almacenamiento de los lotes.
El productor y el consumidor ahorran costes de inspeccin.
La informacin de productos defectuosos se recibe en el momento de su
deteccin.

Las tablas nos proporcionan dos valores que caracterizan el plan de muestreo. El nmero
i, indica la cantidad de artculos consecutivos que deben calificarse como aceptables en
la fase de inspeccin del 100% antes de poder pasar a la inspeccin por muestreo. El
nmero f, es el porcentaje de unidades que se someter a inspeccin en esta segunda
fase. El proceso a seguir es:
1) Se determina una letra-cdigo de acuerdo con la tasa de produccin y el nivel de
inspeccin en la Tabla A16.1.
2) Con la letra-cdigo y el valor de AQL dado leemos en las tablas de A16.2- a A16.10,
el valor de i y el valor de f.
3) Una vez se encuentren i unidades sin defectos durante la fase inicial de inspeccin al
100 % se pasar a la fase muestral. En esta fase se inspeccionar una fraccin f de
las unidades producidas. En el momento en que se halle una sola defectuosa, se
volver al muestreo 100%.
4) Por ltimo, obtenemos el valor L que representa el mximo nmero de unidades que
podemos inspeccionar en la fase 100 %. Es decir, si estamos inspeccionando todas
las unidades producidas y llegamos a ese valor L sin haber podido pasar a la fase
muestral, debemos parar la produccin y ver qu est pasando.

14
Ejemplo
El tipo o ritmo de produccin de una
bebida gaseosa es de 3.000 botellas por
hora. La produccin es continua. Se va a
usar muestreo continuo CSP-1. Para
AQL 1 por 100 y nivel II de inspeccin
determinar el plan de muestreo,
asumiendo que el intervalo de
produccin es una hora.
a) En la Tabla A 16.1 para una muestra
de 3000, muestreo CSP-1 y nivel II de
inspeccin hallamos que la letra-cdigo
es G.

En la Tabla A 16.2 y para la letra G y AQL = 1,0, el valor i es 100 y la fraccin de

muestreo es 1/15.

En este plan, las botellas de gaseosa sern inspeccionadas continuamente hasta que se
encuentren 100 botellas consecutivas sin ninguno de los defectos objeto de la
15
inspeccin. Cuando se encuentren esas 100 botellas consecutivas se iniciara una
inspeccin fraccional o de muestreo.
Bajo la inspeccin de muestreo slo se supervisara una de cada 15 botellas. El AOQL
equivalente para este plan viene dado como 1,35 por 100 (esto no tiene ms inters que
el informativo). En cuanto aparezca una defectuosa, volvemos al muestreo 100 %.

En la Tabla A 16.4 hallamos que el valor lmite L es 475.

Esto significa que si se inspeccionan 475 botellas sin que califiquen para inspeccin de
muestreo (esto es, sin encontrar 100 botellas consecutivas libres de defectos), la
inspeccin se detendr. La produccin se interrumpir y no se reiniciar hasta que se
halle y corrija la causa que origina los productos defectuosos.

Plan CSP-2:
Anlogo al CPS-1, excepto que el descubrimiento de un defecto en la fase de muestreo
no da lugar de inmediato a un cambio de inspeccin al 100%, sino que se sigue la
inspeccin de S unidades y si en ellas, se encuentra un segundo elemento defectuoso,
se vuelve a la inspeccin del 100%. Si no es as, se sigue con la inspeccin de muestreo.

16
3. MUESTREO POR LOTES. CONTROL POR VARIABLES.
Los planes de muestreo por variables se utilizan para tomar decisiones sobre un lote de
material en el que las especificaciones se expresan en forma de mediciones continuas.
Cada unidad de la muestra es medida y su valor registrado. Se calcula un ndice con
estos valores, se compara con el valor de referencia y se toma la decisin de aceptar o
rechazar el lote.
El tamao de muestra es ms pequeo que para los planes por atributos y adems
permiten cuantificar determinados aspectos y tomar decisiones adicionales a las de
aceptacin o rechazo.
El muestreo de aceptacin por variables se aplica cuando:
La caracterstica objeto de inspeccin es una variable o capaz de ser convertida
segn una escala variable.
La inspeccin por atributos es muy costosa o los ensayos son destructivos.
La inspeccin por atributos no brinda suficiente informacin sobre la calidad del
producto o se tarda mucho tiempo.
Ventajas del Muestreo por Variables
Se pueden utilizar muestras ms pequeas.
Se puede valorar el grado de cumplimiento o de no conformidad con una
especificacin dada, lo que es importante cuando hay un margen de seguridad
en las especificaciones de diseo.
Se pueden detectar mejor los errores de medicin en menor tiempo.
Brindan un mejor sustento para evaluar el historial de calidad a la hora de tomar
decisiones de aceptacin, pues se obtiene ms informacin sobre un lote que
con el nmero de defectuosos.
Inconvenientes del Muestreo por Variables
La mayor es que solo puede aplicarse para la aceptacin o rechazo de una
caracterstica sometida a inspeccin, lo que implica hacer un plan de muestreo
para cada una.
Se asume una distribucin normal. Es necesario verificar que la variable medida
se ajuste a esta distribucin.
Implica mayores costos, hay que emplear personal ms cualificado y equipos de
medicin muchas veces costosos.

17
 3.1. MIL-STD-414
La norma MIL-STD-414 fue creada en 1957 por el Departamento de Defensa de los
Estados Unidos. Es un mtodo de muestreo de aceptacin de lotes por variables. La
norma se basa en los valores numricos del NCA que van desde 0,10% hasta 10,0% y
contempla el uso de Inspeccin Normal, Rigurosa y Restringida.
El tamao de las muestras es funcin del tamao del lote y del Nivel de la Inspeccin. Se
supone que la variable es aleatoria y distribuida normalmente. La norma MIL-STD-414
tiene una extensin de ciento diecisis pginas, veintisis tablas y nueve procedimientos
que permiten evaluar la aceptacin o rechazo de lotes.
Establece valores del tamao muestral y de k (forma 1) y M, (forma 2) en funcin del
nivel de calidad aceptable (AQL) y del tamao del lote.
Ofrece tres tipos de inspeccin: normal, reducida y rigurosa.
Ofrece cinco niveles de inspeccin: I a V, siendo el nivel IV el recomendado en planes de
aceptacin para productos normales.
Existen distintos tipos de planes dependiendo de si la variabilidad es conocida o
desconocida.
En el caso de variabilidad desconocida, se pueden realizar mediante la desviacin tpica
muestral o mediante el recorrido.
Existen 2 tipos generales de procedimientos de muestreo por variable: los planes que
controlan la fraccin defectuosa del lote y los planes que controlan un parmetro del
lote o proceso.
1. Mtodo k. Basados en la comparacin de la media con las tolerancias
admitidas.
2. Mtodo M. Basados en la estimacin de la proporcin de defectuosos.

Veamos con un ejemplo cmo se aplican.

18
La temperatura mxima de operacin para un determinado aparato es 209 F. Un lote de
40 uds es sometido a inspeccin, establecindose un nivel IV, inspeccin normal y un
AQL del 1%. Establecer el plan de muestreo.

1. Mtodo k
De la tabla 12.16 obtenemos que la letra cdigo es D. En la tabla B.1 vemos que el
tamao de muestra es 5 y el valor de k = 1,53.E
Supongamos que los valores obtenidos en el muestreo son:
197; 188; 184; 205; 201. Qu decisin tomamos respecto al lote?
Media = 195; s = 8,80; LS = 209
(LS media) / s = 1,59
Como es mayor que 1,53, se acepta el lote.

2. Mtodo M
La letra cdigo sigue siendo D. En la tabla 12.17 nos da n = 5 y M = 3,32.
Para los cinco mismos valores de antes:
Zs = (209-195) / 8,80 = 1,59
En la tabla 12.18, para (1,59; 5) el porcentaje de defectuosos estimado es 2,19.
Como 2,19 es menor que el valor M obtenido anteriormente (3,32), el lote es aceptado.

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