Microscopa BsicaUna Destreza Importante para

Fitopatlogos (Espaol)
Riley, M. 2003. Microscopa Bsica - Una Destreza Importante para Fitopatlogos. Trans. Jos Carlos Ureta R. 2008. The Plant
Health Instructor. DOI: 10.1094/PHI-I-2008-0715-01

Melissa B. Riley, Department of Plant Pathology and Physiology, Clemson University

Traductor: Jos Carlos Ureta R. Departamento de Proteccin Vegetal Facultad de Ciencias

Agropecuarias, Universidad de Panam, Panam.

OBJETIVOS:

Familiarizar al estudiante con los componentes de los microscopios comnmente utilizados por
fitopatlogos.
Ensear el cuidado y mantenimiento apropiado de los microscopios.
Aprender los pasos de un adecuado manejo del enfoque y observacin de especimenes con los
microscopios.
Determinar la magnificacin de los microscopios.

INTRODUCCIN:
Usted va a embarcarse en la aventura de su vida en el laboratorio de fitopatologa. El microscopio es
una de las herramientas ms tiles que tiene un fitopatlogo, cuando trata de identificar al agente causal
de una enfermedad en plantas. Algunas veces el microscopio le brindar informacin que le permitir
conocer exactamente la causa de una enfermedad en plantas. En otros casos, pueden ser importantes
para determinar que ciertos fitopatgenos no estn causando un problema fitopatolgico.

El uso adecuado de un microscopio es una de las destrezas ms importantes que debe aprender un
estudiante que se inicia en el estudio de la fitopatologa. Los microscopios se desarrollaron a finales del
siglo XVII y hoy en da, continan siendo importantes para la identificacin de hongos y algunos otros
agentes causales de enfermedades en plantas. Aunque el estudio de los microscopios se les ha
enseado en sus cursos introductorios de las materias cientficas, frecuentemente los estudiantes no
aprenden como utilizarlos y cuidarlos adecuadamente. Es ms, en ciertos cursos se les indica que los
microscopios ya estn preparados e instalados en su sitio y que no se les recomienda que cambien
nada de lo ya establecido, fuera de efectuar el enfoque correspondiente. Esta publicacin les proveer
con informacin bsica e instrucciones en como preparar, usar y cuidar de microscopios, tcnicas
esenciales para estudiantes de Fitopatologa.
Figura 1. Partes de un Microscopio Compuesto. Haga clic en imagen para una visin ms detallada .

Figura 2. Partes de un Microscopio de Diseccin. Haga clic en imagen para una visin ms detallada.
Dos tipos de microscopios son usados comnmente en el curso introductorio de fitopatologa. Estos
microscopios son el microscopio compuesto (Figura #1) y el microscopio de diseccin (Figura #2). Este
ltimo es usado frecuentemente para la observacin de objetos ms grandes y generalmente presentan
magnificaciones menores a los 100X. La fuente de luz se ubica en la parte superior o puede ser
transmitida a travs de la platina (traslcida). Los microscopios compuestos son utilizados para la
observacin de especimenes ms pequeos, los cuales son colocados sobre portaobjetos y cubiertos
con un cubreobjetos. Los especimenes a observar deben dejar pasar la luz a travs de ellos, en cierta
medida, para que la luz llegue a los lentes del microscopio. La magnificacin comnmente encontrada
en los microscopios compuestos est entre los 10X a 1000X.
Componentes de esta prctica incluyen a:

PARTES DEL MICROSCOPIO.

COMO MOVER Y TRANSPORTAR LOS MICROSCOPIOS EN FORMA APROPIADA.
DETERMINACIN DE LA MAGNIFICACIN.
AJUSTE DE LAS PIEZAS OCULARES.
COLOCACIN Y ENFOQUE DE ESPECMENES EN UN PORTAOBJETOS.
ORIENTACIN DE LOS ESPECMENES EN UNA PLACA.

HAGA CLIC AQU PARA NOTAS PARA EL INSTRUCTOR.

MATERIALES:

Microscopio Compuesto.
 Microscopio de Diseccin.
Portaobjetos y Cubreobjetos.
Tijeras.
Botella de agua con gotero.
Aceite de Inmersin.
Letras e escritas en un tamao de letra #6 e impresas en papel blanco, luego se reduce a un 50%
sobre un acetato que puede ser cortado en letras e individuales para cada estudiante (tamao final
de la letra e es 0.6 x 0.45 mm)

PROCEDIMIENTO:
PARTES DEL MICROSCOPIO.
Se debe familiarizar con las distintas partes de los microscopios antes de utilizarlos, porque se
necesitar conocer en donde se ubican las mismas en los diferentes microscopios. Algunos de estos
componentes pueden ubicarse en sitios ligeramente diferentes dependiendo del modelo de microscopio
de que se trate. Tmese algunos minutos para estudiar las figuras 1 y 2 antes de proceder. Las
principales partes del microscopio compuesto y del de diseccin y sus usos se encuentran establecidas
en la Tabla 1. Anote las diferencias entre estos microscopios antes de continuar.

Pregunta: Qu componentes estn presentes en el microscopio compuesto que no estn

presentes en el microscopio de diseccin, tome como base las figuras 1 y 2?

Pregunta: Qu componentes estn presentes en el microscopio de diseccin que no estn

presentes en el microscopio compuesto?

Tabla 1. Principales componentes de los microscopios, descripcin general y usos

Componente Descripcin
Parte de metal o plstico sobre la cual descansa el resto de las partes
Base
del microscopio.

Columna en forma de C que se proyecta de la base y que sostiene

Brazo
a la platina y a los componentes pticos.

Plataforma plana unida a la parte inferior del brazo sobre la cual se

Platina
colocan los portaobjetos o muestras a observar.

Manija debajo de la abertura de la platina que consiste de un grupo

Cierre del Diafragma
de piezas de metal a manera de obturador que regula la cantidad de
o Condensador
luz que atraviesa al portaobjetos colocado en la platina.

No est presente en todos los microscopios colecta los rayos de

Condensador luz del iluminador y los enfoca incrementa la resolucin, aumenta
el contraste de la muestra.

Botn de ajuste del

Sube y baja el condensador.
condensador knob
 Tabla 1. Principales componentes de los microscopios, descripcin general y usos
Componente Descripcin
Parte cilndrica/vertical unida en la parte superior del brazo que
Cabezal
sostiene el sistema ptico.

Plato giratorio que sostiene los objetivos (lentes), unido a la parte

Revlver inferior del cabezal, puede drsele la vuelta para cambiar los lentes
(objetivos).

Ajuste del Botn grande que mueve el cabezal hacia arriba y abajo para
macromtrico observar la muestra en el enfoque macromtrico.

Botn pequeo que mueve el cabezal a distancias ms cortas, de

Ajuste del
manera ms lenta y es usado para observar a la muestra con un
micromtrico
enfoque ms ntido.

Iluminador, Fuente
Controla la cantidad de luz que se transfiere a la muestra.
lumnica

Tubo de metal corto, removible que contiene lentes ubicados en la

Oculares
parte superior del tubo, generalmente de 10X -15X de aumento.

Ajuste usado para compensar la diferencia de observacin de los

Ajuste de Dioptra
ojos.

Tubos de metal pequeos, atornillados dentro del revlver que

Objetivos (lentes) incrementan el aumento de la muestra (a menudo se refieren slo
como objetivos).

Espejo Usado para reflejar la luz a travs de la muestra.

Eje giratorio del Usado para ajustar el espejo para que refleje la luz a travs de la
espejo muestra.

Tambin se les refiere como lentes suplementarios, pueden ser

Lentes auxiliares encontrados en microscopios de diseccin en la base de la cubierta
de los objetivos o cabezal.

COMO MOVER Y TRANSPORTAR LOS MICROSCOPIOS APROPIADAMENTE.

Los microscopios a menudo se almacenan en anaqueles cuando no se encuentran en uso. Para retirar
los microscopios de los anaqueles, coloque una mano alrededor del brazo y la otra mano debajo de la
base del microscopio. Siempre transporte en el laboratorio, de un sitio a otro, el microscopio en posicin
vertical y frontal. Transportar al microscopio en otra forma podr ocasionar que se caigan o desprendan
alguna de sus partes. Tenga cuidado de que el cordn elctrico no se encuentre enredado con el de otro
microscopio. Coloque el microscopio sobre una superficie limpia sobre el escritorio o mesa de
laboratorio.

Las fuentes de luz se requieren para la mayora de los microscopios. El cordn elctrico de la fuente
lumnica debe ser insertado en una salida elctrica adecuada. En algunos modelos de microscopios de
diseccin la fuente de luz es una unidad separada. Esta fuente de luz puede ser insertada en un espacio
que presenta el brazo para poder iluminar la muestra desde arriba, en direccin hacia la platina.
Alternativamente, la fuente de luz puede ser colocada cerca de la platina a nivel de la muestra o debajo
de la platina.

Pregunta: Nota alguna diferencia entre el microscopio compuesto asignado y el ilustrado en la

figura 1? Si es el caso, anote la localizacin diferente de las partes y si existen partes distintas a
las observadas en dicha figura.

Pregunta: Nota alguna diferencia entre el Microscopio de Diseccin asignado y el ilustrado en la

figura 2? Si es el caso, anote la localizacin diferente de las partes y si existen partes distintas a
las observadas en dicha figura.

DETERMINACIN DEL AUMENTO.

El aumento es una medida de la capacidad del microscopio de agrandar una imagen. La resolucin es
una medida de la capacidad del microscopio para separar los diferentes puntos de una imagen.
Determinar el aumento es vital cuando se comparan los tamaos de los diferentes objetos a observarse
con la ayuda de un microscopio. Anote el aumento de los lentes oculares y objetivos de su microscopio.
El aumento est impreso o grabado a un lado de los objetivos y oculares o en la parte superior en el
caso de los oculares. Este aumento se simboliza con un nmero seguido de una X (ejemplo, 15X) Los
microscopios de diseccin pueden presentar lentes adicionales (referidos tambin como lentes
auxiliares o suplementarios), en la base de la cubierta de los objetivos, para incrementar el tamao de la
observacin. Anote si su microscopio de diseccin presenta estos lentes auxiliares. Adems pueden
tener tambin un botn que aumenta la imagen al moverse. Note que este botn presenta una
numeracin indicando el aumento que se esta utilizando.

Algunos microscopios compuestos a menudo presentan objetivos que slo pueden ser utilizados con
aceite de inmersin. Estos objetivos se identifican por tener grabada la palabra oil (aceite, en ingls) en
un lado, cerca del nmero que indica el aumento del objetivo. Estos objetivos no pueden ser utilizados
sin el aceite de inmersin. Los otros objetivos no deben ser usados con aceite de inmersin ya que se
pueden daar si son inmersos en este aceite. El uso de lentes de inmersin es esencial cuando se
observan estructuras menores de 10 m de tamao. Por ejemplo, este aumento se requiere cuando se
requiere determinar la forma de una clula bacteriana. El aceite de inmersin no incrementa el aumento
de los lentes, pero mejora la resolucin y la nitidez de la imagen producida por dicho objetivo. Cuando la
luz pasa a travs de un material a otro, por ejemplo del vidrio al aire, la luz se refracta o distorsiona. La
luz de diferentes longitudes de onda se inclina a diferentes ngulos. Estas refracciones dan como
resultado una distorsin la cual se manifiesta ms a medida que el aumento del lente es mayor. Al
colocar una gota de aceite de inmersin, el cual tiene el mismo ndice de refraccin que el vidrio, entre el
objetivo de 100X y el portaobjetos (placa) se reduce significativamente la dispersin de la luz que
ocurrira sino se utiliza el aceite de inmersin. Por ello, se incrementa la resolucin de la imagen.
Para determinar el aumento de cualquier imagen se necesita multiplicar el aumento del ocular por el
aumento del objetivo. Si existen lentes auxiliares en un microscopio de diseccin, el aumento debe ser
multiplicado por el del ocular y el del objetivo. Es importante anotar los diferentes aumentos utilizados
para poder comparar el tamao relativo de las imgenes que se observen. En muchos casos se
requerir de usar uno o varios aumentos para observar todos los detalles de la muestra.

Pregunta: Cul es el aumento de los oculares de su microscopio compuesto y de diseccin?

Microscopio compuesto: _______________
Microscopio de Diseccin: _______________

Pregunta: Cul es el aumento de los objetivos de su microscopio compuesto? ____________,

____________, ____________, ____________

Pregunta: Su microscopio compuesto tiene objetivo de inmersin? _______________

Pregunta: Cul es su aumento? ___________

Pregunta: Cul es el mximo aumento que puede obtener con su microscopio compuesto?
________________
Con el uso de aceite de inmersin? ____________
Sin el uso de aceite de inmersin? _____________

Pregunta: Su microscopio de diseccin tiene lentes auxiliares o suplementarios en la parte

inferior de la cobertura de sus objetivos, (Figura 3)? _______. Si es as, cul es el factor de
aumento? __________.

Figura 3. Localizacin de los lentes auxiliares (Cortesa de M. B. Riley)

Figura 4. Botn de aumento a un costado del microscopio de diseccin usado para incrementar/disminuir el aumento. (Cortesa
de M. B. Riley)

Pregunta: Cul es el aumento mnimo y mximo que se puede obtener, cuando se usa el ajuste
asociado a su botn de aumento (zoom) localizado a un costado de su microscopio de diseccin
(figura 4)?
Pregunta: Cul es el mximo aumento disponible cuando se utiliza su microscopio de
diseccin? Recuerde incluir el factor que representa los lentes auxiliares o suplementarios, si
estn presentes en su microscopio, y el mximo para el ajuste de aumento y oculares.

Figura 5a. Mtodos de ajuste del ancho de los oculares A: Botn entre los oculares, se mueve para ajustar el ancho.

Figura 5b. Simplemente se empuja o hala a los lados, en donde se sostiene los oculares para ajustar el ancho. (Cortesa de M. B.
Riley)
AJUSTE DE LAS PIEZAS OCULARES.
Se requieren de varios ajustes antes de observar a los especimenes. En microscopios bioculares (con
dos oculares) la distancia entre ellos se debe ajustar acorde a su distancia interpupilar y con ambos ojos
observar una sola imagen. Existen diferentes formas de ajustar la distancia, dependiendo del
microscopio que se este utilizando. En algunos microscopios existe un botn entre los oculares que
ajusta la distancia entre stos. (Figura 5A). Otros microscopios se ajustan moviendo los oculares (Figura
5B). Dicho ajuste es especfico para cada persona, por ello se requieren de ajuste mnimos cuando una
persona ha utilizado previamente el microscopio. Haga este ajuste previo a iniciar la observacin. Los
diferentes ajustes son necesarios para una mejor observacin y que no se presenten incomodidades y
fatiga de sus ojos al efectuar las observaciones pertinentes. Este procedimiento de ajuste se realiza una
vez se vaya a iniciar la observacin de la placa correspondiente.
COLOCACIN Y ENFOQUE DE ESPECMENES EN UN PORTAOBJETOS.
Lo primero que se debe considerar es la colocacin de la placa y el enfoque. Para proceder se obtiene
una letra "e" que se proveer al inicio. Despus de enfocar la letra "e", se iniciar la ilustracin respecto
al movimiento y orientacin del material a observar en la placa.

1. Corte alrededor de 0.5 centmetros alrededor de la letra "e".

2. Coloque una gota de agua sobre el portaobjetos y marque uno de los dos lados largos del
mismo.
3. Coloque la letra "e" sobre el portaobjetos de modo que la parte superior de la letra est en
direccin a la marca en el portaobjetos.
4. Con un cubreobjetos sostenido con los dedos por los bordes, coloque uno de los bordes
cercano a la letra "e" y suavemente deje caer el otro extremo del cubreobjetos sobre la letra "e",
de modo que le agua de la gota se disemine debajo del cubreobjetos. Seque cualquier exceso
de agua con papel toalla. La letra "e" debe de esta manera permanecer en posicin para ser
observada con su microscopio.
5. Asegrese de que su microcopio compuesto este en posicin de poder realizar una observacin
adecuada a travs de los oculares, segn sea necesario. Adems debe estar conectada la
fuente lumnica o si la luz est incorporada en el microscopio, el mismo este conectado y
encendido. Tenga cuidado de que el cordn elctrico est en una posicin que no interrumpa el
paso ni la observacin de otros.

Figura 6. Botn de ajuste del micromtrico utilizado para proporcionar un mayor acceso a la platina y el ajuste inicial de la
imagen. (Cortesa de M. B. Riley)

6. Levante el cabezal utilizando el tornillo macromtrico para iniciar la observacin (Figura 6). En
algunos casos la platina es la que se mueve y no el cabezal.

Figura 7. Rotacin del revlver para colocar en posicin al objetivo deseado. (Cortesa de M. B. Riley )

7. Rote el revlver para iniciar la observacin con el objetivo de menor aumento, usualmente 4x o
10x, segn sea el caso (Figura 7).
Figura 8. Perilla del condensador para ajustar el nivel de luz que pasa a travs de la muestra. (Cortesa de M. B. Riley)

8. Usando la manija de abertura del diafragma, abra el mismo a aproximadamente la mitad de su

capacidad de abertura. (Figura 8).

9. Coloque la placa sobre la platina con la marca en la placa a su lado opuesto. Coloque la letra
"e" directamente por encima del centro del condensador que se encuentra ubicado debajo de la
platina y que puede ser observado a travs de la abertura que presenta la platina.

Figura 9. Botn para subir y bajar el condensador. (Cortesa de M. B. Riley)

10. Utilizando el botn respectivo, levante el condensador, hasta que la punta del mismo se
encuentre a una distancia de la placa de aproximadamente el grosor de una lmina de papel
toalla. (Figura 9).

Figura 10. Botn del ajuste del micromtrico usado para obtener el enfoque mximo. (Cortesa de M. B. Riley)

11. Rote el tornillo micromtrico a una posicin aproximada de su punto medio. (Figura 10).

12. Rote el tornillo macromtrico hasta que la placa casi toque el objetivo. Asegrese de observar
desde lado del microscopio mientras alcanza la distancia de observacin. No se recomienda
forzar el objetivo dentro de la placa ya que la rompera o ms importante an se daara el
objetivo.

13. Utilizando su ojo y ocular derecho, suavemente mueve el tornillo macromtrico hasta que este
enfocada la letra e. Ajuste su visin hasta observar el mejor enfoque posible.

14. Luego use el tornillo micromtrico hasta obtener la imagen ms ntida posible. (Figura 10). Si
ms de un apersona est utilizando el microscopio, cada una de ellas necesitar de efectuar
este ajuste en su visin.
 15. Sin mover el enfoque efectuado con el ojo derecho, observe la letra e con el ojo y ocular
izquierdo. Use el ajuste de dioptra moviendo en sentido contrario a las manecillas del reloj, del
ojo izquierdo hasta que se observe fuera de foco la letra e. Posterior a ello, mueve el ajuste de
dioptra en sentido de las manecillas del reloj hasta que se obtenga un enfoque ntido. Este
ajuste reducir el agotamiento del ojo.

16. Ahora se proceder a efectuar las observaciones de su espcimen

ORIENTACIN DE LOS ESPECMENES EN UNA PLACA.

El efectuar dibujos lo ms preciso posible de sus observaciones es extremadamente importante. Estos
dibujos sern de mayor importancia, especialmente cuando se estn haciendo comparaciones de
dibujos efectuados en diferentes perodos. Sera adecuado trazar un crculo que representa su rea de
observacin al microscopio y luego aada un rayado tenue dentro del crculo que le sirva de gua (lugar
y tamao), anote el aumento que se est utilizando al momento de efectuar sus dibujos.

Indicacin: Dibuje lo que observa. Observe la parte superior de la letra e vista desde el
microscopio.

Pregunta: Cmo es la posicin de la parte superior de la letra e, si se le compara con la

observacin efectuada cuando no se est utilizando el microscopio? Son diferentes? Es sto
importante?

Pregunta: Si se necesita observar hacia el lado izquierdo de la muestra, hacia que direccin se
necesita mover la placa? _______________________

Pregunta: Si se necesita observar la parte superior de su muestra, hacia que direccin necesita
mover la placa? ________________________

Pregunta: Por qu lo anterior es importante? _________________________

17. Para incrementar el aumento se procede como sigue: Asegrese de que su muestra est
enfocada correctamente con el objetivo de ms bajo poder utilizado en un momento dado.

18. Mientras observa el objetivo, asegrese de que su movimiento no toque la placa y se deslice
adecuadamente, mueve el revlver al siguiente objetivo de superior aumento y que est en la
posicin correcta sobre la muestra. La mayora de los microscopios tienen posiciones en donde
el objetivo, si est colocado adecuadamente, hace un ruido seco o chasquido. Si la luz no se
observa o el crculo de luz no est centrado, coloque el revlver en la posicin correcta.

19. Use el tornillo micromtrico para que sea ntida su observacin. No debiera tener que utilizar el
tornillo macromtrico, si el enfoque anterior fue el adecuado.

20. Si se necesita incrementar los aumentos se repiten los pasos 17 a 19.

Figura 11. Adicin de aceite de inmersin previo al cambio al lente de inmersin. Observe que el revlver se encuentra a media
distancia entre los objetivos, siendo el lente de inmersin uno de ellos. (Cortesa de M. B. Riley)

21. Si se necesita usar aceite de inmersin, se requiere usar una gota del mismo en la placa, en el
sito que se desea observar. (Aceite mineral u otros aceites no deben ser utilizados). Al mover el
revlver hacia la posicin del objetivo de inmersin, detngase a media distancia entre el
objetivo anterior y el de inmersin. (Figure 11).

22. Aada la gota de aceite de inmersin sobre el centro de la placa en observacin.

23. Mueve el revlver de manera que el objetivo de inmersin est directamente sobre la placa. La
gota de aceite de inmersin debe formar un puente entre el objetivo y la placa.

24. Use el tornillo micromtrico para observar una imagen ntida de su muestra.

25. Tal vez se requiera de ajustar el condensador, incrementando o disminuyendo la cantidad de

luz que proviene del condensador utilizando la manija del diafragma. (Figura 8).

26. Nota importante: Asegrese de que los otros objetivos no se impregnen de aceite de inmersin,
ya que se pueden daar.

27. Cuando termine la observacin con el lente de inmersin, levante el cabezal o baje la platina,
segn sea el caso de acuerdo a su microscopio, limpie de inmediato el objetivo del aceite
adherido y remueva la placa con el aceite. Limpie el aceite de las placas si se van a volver a
utilizar o si son placas permanentes de laboratorio. Los objetivos se pueden limpiar con papel
de lente u agua destilada. Solamente use papel de lente para limpiar los objetivos ya que otros
materiales como, papel toalla, toallitas, otros, pueden daarlos.

28. Cada vez que se requiera de remover una placa, siempre levante el cabezal o baje la platina,
para posteriormente remover la placa observada. Para evitar que de manera descuidada se
dae el objetivo al rozarlo con la placa.

Pregunta: Nota las diferencias en la observacin de la letra e a medida que va pasa a un

aumento superior o diferente? _________________________

USO DEL MICROSCOPIO DE DISECCIN:

Existen varias diferencias entre un microscopio compuesto y un microscopio de diseccin (algunas
veces se le denomina estereo microscopio, debido a que es como dos juegos de microscopios para
enfocar en un punto, proveyendo una observacin tridimensional o vista estereoscpica del espcimen).
Generalmente la mayora de los microscopios de diseccin no poseen un botn de ajuste micromtrico.
La fuente de luz (iluminador) puede estar separada del microscopio y puede ser colocada en el brazo,
debajo de la platina o a nivel de la platina. Se le harn recomendaciones especficas para el tipo de
microscopio que se maneja en el laboratorio. Muchos microscopios de diseccin no tienen objetivos
separados para incrementar el aumento, pero tienen un botn de aumento (zoom) que puede aumentar
o disminuir dicho aumento. Nota: Algunos microscopios de diseccin tienen adems lentes auxiliares o
suplementarios en la parte inferior de la cubierta de los objetivos o del cabezal. Si estos lentes se
encuentran presentes deben ser incluidos en la determinacin del aumento.

Las muestras son colocadas sobre la platina y se les mueve a mano. La luz puede ser transmitida a
travs de la placa, ajustando el espejo debajo de la muestra o la muestra puede observarse con luz
proveniente de la parte superior. Use los pasos que se indican a continuacin, ignorando a aquellos que
no aplican para su microscopio.
Figura 12. Microscopio de diseccin con la fuente de luz posicionada de manera tal que es transmitida hacia arriba desde la parte
inferior a travs de la muestra. A Eje giratorio del espejo usado para ajustar el ngulo del espejo para reflejar la luz. (Cortesa
de M. B. Riley)
Para observar la letra e es mejor usar la luz proveniente de la parte inferior de la muestra .

1. Corte alrededor de 0.5 centmetros alrededor de la letra "e".

2. Coloque una gota de agua sobre el portaobjetos y marque uno de los dos lados largos del
mismo.
3. Coloque la letra "e" sobre el portaobjetos de modo que la parte superior de la letra est en
direccin a la marca en el portaobjetos.
4. Con un cubreobjetos sostenido con los dedos por los bordes, coloque uno de los bordes
cercano a la letra "e" y suavemente deje caer el otro extremo del cubreobjetos sobre la letra "e",
de modo que le agua de la gota se disemine debajo del cubreobjetos. Seque cualquier exceso
de agua con papel toalla. La letra "e" debe de esta manera permanecer en posicin para ser
observado con su microscopio.
5. Coloque la placa con la letra e sobre la platina con la parte superior de la letra del lado
opuesto al suyo, la marca en la placa tambin debe estar colocada en el sentido contrario al
suyo.
6. Ajuste el eje giratorio del espejo para que la luz se transmita a travs de la muestra, luego
utilice el botn de enfoque para la observacin adecuada de la letra e.
7. Dibuje la orientacin de la letra "e" dentro del crculo.

Pregunta: Existe alguna diferencia entre lo que se observ anteriormente con el microscopio
compuesto? Si es as, cul/es son las diferencias? __________________________

8. determine el aumento de su muestra usando la frmula siguiente:

Aumento Total = Ocular X Lente Auxiliar X Graduacin en el Botn de Ajuste de Aumento (zoom).
________ = ________ X ________ X __________

9. Cuando se mueve la muestra de derecha a izquierda o de arriba hacia abajo y viceversa, en

que direccin se mueve la imagen observada a travs del microscopio de diseccin?
________________

Pregunta: Es esta observacin distinta o igual a la observacin registrada con el microscopio

compuesto?

Pregunta: Cundo utilizara la fuente de luz que provenga de la parte superior del microscopio?
Y, Cul es la ventaja de esta posicin? ________________________

Despus de que ha terminado esta prctica, recuerde el almacenamiento adecuado de su microscopio

dentro del anaquel o mueble. Asegrese de que los objetivos estn limpios y que se hayan removido de
la platina la placa en observacin. Apague la fuente lumnica. Desconecte el cordn elctrico y enrllelo
adecuadamente. Remueva la fuente de luz asociada a los microscopios de diseccin. Coloque todos los
microscopios y luces dentro de los lugares de almacenamiento adecuados. Se le pueden proveer otras
instrucciones segn sea la necesidad.

REFERENCIA TIL Y COMPLEMENTARIA:

http://www.microscopyu.com - Este es el sitio de la red (pgina web ) para los microscopios marca Nikon
contiene artculos relevantes y tutoriales (en ingls), al igual que imgenes de microscopios. Tambin
incluye el desarrollo tcnico relacionado a nuevas tcnicas de microscopia y microscopios.

http://www.apsnet.org/edcenter/intropp/LabExercises/Pages/Microscopio.aspx

ndice de refraccin y Relieve

El ndice de refraccin (n) de un medio se define como el valor de la velocidad
de la luz en el vaco (c) dividido entre la velocidad de transmisin de la luz en ese
medio.
n = c / Vmedio.
Por tanto, cuanto mayor sea el ndice de refraccin de un medio menor ser la
velocidad de la luz al atravesarlo. Los valores ms comunes, de ndices de
refraccin en los minerales, estn entre 1.5 y 2.0 .
En una lmina delgada no podemos hacer medidas cuantitativas del ndice de
refraccin pero podemos estimarlo estudiando el relieve. El relieve (o
refringencia) es una propiedad que se define como la intensidad de la sombra en
el borde de un grano (en las fracturas y planos de exfoliacin). Esta sombra (ver
figura), se produce como efecto de cambios en la direccin de la luz en el
contacto entre dos medios (minerales) de diferente ndice de refraccin, debido a
que los medios de mayor ndice se comportan como lentes convergentes.

El relieve lo describimos bajo, medio, alto, muy alto etc. (en algunos casos bajo
negativo o medio negativo).
Granos xenomorfos de fluorita rosada, mostrando un relieve medio negativo, debido a su bajo
ndice de refraccin (IR= 1.43). Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 1.4

Relieve bajo negativo en un grano azulado de sodalita (IR= 1.48) que contrasta ligeramente
con los minerales de su entorno de mayor ndice de refraccin (feldespatos). Luz polarizada
plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 1.6
Relieve muy bajo positivo, en el cuarzo (IR= 1.54-1.55) los lmites de grano son casi
imperceptibles. Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 2.8

Relieve medio (positivo), en la biotita (IR= 1.6-1.7) los lmites de grano se aprecian con
claridad. Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 2.5
Relieve medio, en la turmalina tipo chorlo (IR= 1.64-1.67) los lmites de grano se aprecian con
claridad. Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 3.4

Relieve alto en varios cristales de granate (IR= 1.7-1.8). Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 6
Relieve muy alto en titanita (IR= 1.9-2.0). Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 1.2

Relieve extremo en rutilo (IR= 2.6-2.9). Luz polarizada plana.

Lado mayor de la imagen (mm)= 1.6
Pleocrosmo de relieve. En la calcita del ejemplo el relieve vara desde un relieve medio
negativo a un relieve alto positivo, lo que de aprecia al girar la muestra en el microscopio. Es
caracterstico de los carbonatos. Luz polarizada plana.
Lado mayor de la imagen (mm)= 2.3

Volver al ndice

Reproducir pase

La lnea de Becke nos permite comparar los ndices de refraccin de dos

minerales en contacto. Esta lnea que se produce por acumulacin de luz, al
desenfocar la muestra por encima del mineral (al alejar el objetivo de la lmina), y
se desplazar hacia el grano de mayor ndice de refraccin. Este efecto es
debido a que el mineral se comporta como una lente convergente cuando su
ndice de refraccin es mayor que el del medio que le rodea y como una lente
divergente en el caso contrario (ver figura). Para ver esta lnea es necesario
utilizar un objetivo de aumento mediano (10X) o grande (40X) y una iluminacin
algo menos intensa que la normal (cerrando parcialmente el diafragma), de esta
forma se aumenta el contraste en los lmites de grano.

Ejemplos de minerales con diferente relieve, ordenados de menor a mayor ndice de refraccin.
Aunque en la mayor parte de los casos el relieve es directamente proporcional al
ndice de refraccin, podemos tener relieves negativos, bajos o moderados, en el
caso de minerales con ndices de refraccin muy bajos.
En casos excepcionales (carbonatos) se da un pleocrosmo de relieve, o lo que
es lo mismo, un cambio en el relieve al girar la muestra.
Comportamiento de la lnea de Becke en un mineral sumergido en una gota de
aceite de inmersin. En A la lnea de Becke entra hacia el mineral (al enfocar en
el plano), ya que presenta mayor ndice de refraccin que el aceite; en B, la lnea
de Becke sale hacia el aceite (con mayor ndice de refraccin que el mineral).
http://www.ehu.eus/mineralogiaoptica/Atlas_de_Mineralogia_Optica/Propiedades_Opticas/Paginas/Indice_de_refraccion_
y_Relieve.html

ndice de refraccin ( n )

Un rayo de luz por lo general se inclina cuando pasa de una sustancia a otra, el fenmeno es conocido
como refraccin. El ndice de refraccin n de un material se expresa por la relacin entre velocidad de la
luz en aire (V) y su velocidad en el medio ms denso (v), es decir n= V/v (el ndice de refraccin del
aire se toma como 1). Esto quiere decir que el ndice de refraccin es igual al inverso de la velocidad n=
1/v . La relacin precisa entre la relacin de los senos de los ngulos de incidencia y de refraccin de la
luz viene dada por la ley de Snell, la cual establece que para los dos mismos medios la relacin seno i y
seno r es constante.

Fenmeno de refraccin

Se puede mostrar simplemente que el ndice de refraccin de una sustancia es igual a la relacin entre la
velocidad de la luz en el aire y en la sustancia. En otras palabras, el alto ndice de refraccin de una
sustancia, y el bajo de la luz es el paso a travs de l.
El ndice de refraccin de los minerales comunes es de 1.43 a 3.22.

Los minerales isotrpicos pueden dar un solo valor del ndice de refraccin. Los minerales anisotrpicos,
sin embargo, presentan el fenmeno de doble refraccin.

Doble refraccin

Si un pequeo clivaje romboidal de una calcita pticamente clara se coloca sobre un pequeo punto dos
imgenes de ese punto se ven. Las dos imgenes representan los dos rayos polarizados separados
producidos por la calcita anisotrpica. El hecho de que dos imgenes se puedan ver, demuestra que cada
rayo representa un ndice de refraccin diferente (y tambin una diferente velocidad de la luz). Este
fenmeno es conocido como doble refraccin, y es caracterstico de todos los minerales anisotrpicos.
Aunque el ndice de refraccin de la calcita muy fuerte. Para los minerales anisotrpicos este ndice
varia continuamente dependiendo de la direccin de la vibracin de la luz dentro del cristal.

Minerales Isotrpicos y anisotrpicos

Todas las sustancias transparentes pueden dividirse en dos grupos: istropos y anistropos. Todos los
minerales excepto aquellos que pertenecen al sistema cubico son anisotrpicos (aunque algunos
minerales anisotrpicos pueden en la prctica parecen ser isotrpicos.

Los minerales cbicos no polarizan la luz que pasa a travs de ellos y no varan direccionalmente en su
efecto sobre la luz. Los minerales cbicos son por lo tanto llamados isotrpicos. El vidrio y las
sustancias amorfas son llamadas tambin isotrpicas. En estas substancias la luz se mueve en todas
direcciones con la misma velocidad, y cada sustancia istropa tiene un solo ndice de refraccin.

La isotropa refleja directamente el alto grado de regularidad en la estructura atmica de los minerales
cbicos. En las sustancias anisotrpicas, que comprenden todos los cristales, excepto los del sistema
isomtrico, la velocidad de la luz vara con la direccin cristalogrfica y por lo tanto existe un intervalo
de ndices de refraccin.

Microscopio polarizante

El microscopio polarizante se emplea para examinar los minerales transparentes. ste se diferencia del
usado por los bilogos, patlogos y otros cientficos, en que est equipado con una platina giratoria y
diversos aparatos que permiten el estudio de objetos en luz polarizada. Es empleado para:

- Examinar tanto granos minerales, fragmentos y pequeos cristales, como secciones delgadas de
minerales, rocas y otros cristales.

- Determinar las propiedades pticas de los cristales individuales o agregados.

- Interpretar las texturas y relaciones varias de las sustancias naturales o artificiales, tal como
aparecen en las secciones delgadas.

El sistema de lentes del microscopio polarizante es muy parecido al sistema de lentes de los
microscopios compuestos corrientes, pero contiene varias modificaciones que incrementan su utilidad en
el trabajo con los minerales. Las caractersticas ms distintivas son los dispositivos polarizante y
analizador, situados respectivamente debajo y encima de la platina; as como la platina rotativa, los
lentes Amici-Nertrand y varios accesorios tales como la lmina de mica, la lmina de yeso, la cua de
cuarzo y el compensador.
 Para el estudio de los minerales en el microscopio polarizante se utiliza, indistintamente, luz polarizada
plana y luz con los planos de polarizacin cruzados. Para el examen entre planos cruzados, por ejemplo,
se intercalan en el eje ptico placas polarizantes.

Diferentes modelos de Microscopios Petrogrficos (SGM)

Propiedades pticas de los minerales

Los minerales pticamente pueden dividirse en tres grupos:

Isotrpicos: Los minerales amorfos y la mayora de los minerales isomtricos.

Uniaxiales: Minerales tetragonales y hexagonales.

Biaxiales: Minerales ortorrmbicos, monoclnicos y triclnicos.

Como la simetra de los minerales disminuye, los minerales pticamente ms complejos y se

caracterizan un nmero creciente de constantes pticas medibles. Por lo tanto tericamente es fcil
identificar minerales biaxiales que los isotrpicos. Porque la red tiene algunas caractersticas pticas que
lo diferencia unos de otros. Sin embargo, en la prctica los minerales uniaxiales generalmente son los
ms fciles, siendo de complejidad intermedia, y en menor nmero que los biaxiales.

Para todos los grupos de minerales se observan las siguientes propiedades y/o caractersticas:
Forma, contorno

Tamao
 Clivaje, fractura

Maclas, zoneamiento

Inclusiones, intercrecimientos, alteraciones

Para los minerales opacos las siguientes propiedades y/o caractersticas pueden ser observadas
Transparencia de bordes delgados a lo largo de fracturas.

Color y lustre en luz reflejada.

Estras superficiales o amolduras sobre secciones delgadas de minerales opacos.

Propiedades adicionales para minerales isotrpicos que pueden indicarse son

Color

ndice de refraccin (n)

Para minerales uniaxiales

Color y pleocrosmo

ndice de refraccin y birrefringencia

Signo ptico (+) o (-)

Carcter de elongacin o direccin de clivaje

Para minerales biaxiales

Color y pleocrosmo.

ndices de refraccin ( ) y birrefringencia.

Tamao de 2V y dispersin de ejes pticos.

Orientacin (relacin de direcciones pticas, ( ) a las direcciones cristalogrficas, a, b, c.

o
Carcter ptico o signo, (+) o (-).
 Tipo de extincin y tamao de ngulos de extincin (excepto en minerales ortorrmbicos).

Carcter de elongacin y clivaje, posicin del plano ptico.

En las secciones delgadas en donde no es posible determinar el ndice de refraccin, los ndices son
comparados con el ndice del blsamo de Canad (n = ca.1.54). Si es inferior, puede decirse que el
relieve es negativo, y si es superior es positivo.

Para saber ms:

http://edafologia.ugr.es/optmine/intro/microsc.htm
http://www.fing.uach.mx/licenciaturas/IG/Apuntes/2011/10/24/Mineralogia_Optica_2aParte2011.pdf
http://tarentatuy.files.wordpress.com/2011/08/manual-optica-mineral-parte-i-kjk.pdf
http://www.ugr.es/~velilla/atlas_mineral.html

Bibliografa:

Kerr, Paul F., Mineralogia ptica, Tercera edicin, 1965.

Cornelis, Klein, Manual de mineraloga, cuarta edicin, basado en la obra de J.D. Dana, 2001.
Shelley, David. Manual of optical mineralogy. 1975.
Heinrich, E. Microscopic identification minerals. 1965.
http://portalweb.sgm.gob.mx/museo/minerales/mineralogia-optica

Estimacin del valor del ndice de

refraccin

Las diferencias entre los ndices de los minerales y los del medio que los rodea se
traduce en diversos grados de relieve, definindose trminos como relieve bajo,
moderado, alto, muy alto y extremo. Cuando se conoce el valor del ndice de
refraccin del medio de inclusin, el grado de relieve sirve para cuantificar el
valor absoluto del ndice de refraccin del mineral.

Pulsando sobre las siguiente lneas activas aparecen imgenes de granos con
distintos grados de relieve y con los valores de sus ndices de refraccin dentro
de los mrgenes que se indican (todos los granos estn includos en Blsamo de
Canada n=1,54 y se asume que todos ellos tienen "n" mayor que el del medio).

1,50 - 1,60

1,60 - 1,70
1,70 - 1,80

1,80 - 1,90

1,90 - 2,00

> 2,00

todos

En las escenas anteriores se han mostrado granos cuyos ndices varian en una
dcima. Sin embargo, el valor del ndice puede ser precisado con una mayor
exactitud para valores muy prximos al del medio.

A continuacin mostramos como cambia el relieve, en la regin de n=1,54 a

n=1,68, para ndices que difieren slo en dos centsimas.

n = 1,54

n = 1,56

n = 1,58
http://edafologia.ugr.es/optmine/ppl/releval.htm

pendientedemigracion.ucm.es/info/investig/Optica/Optica_3.ppt

pendientedemigracion.ucm.es/info/investig/Optica/Optica_1.ppt
Relieve

Puede decirse que es el contorno del cristal o

mineral. Se expresa en funcin de su menor o
mayor pronunciacin como relieve bajo,
moderado, alto o muy alto. Es funcin del
ndice de refraccin ya que el relieve
manifiesta la diferencia entre los ndices de
refraccin del cristal o mineral y el medio en el
que se encuentra. A mayor diferencia entre los
ndices de refraccin, mayor relieve; mientras
que cuanto menor es la diferencia, menor es el
relieve. En la Tabla 16.2 se muestra la
clasificacin del relieve en funcin del ndice
de refraccin.

ndice de
ejemplo
relieve refraccin
yeso (1.52 -

bajo 1.50 a 1.58 1.53)

calcita (1.658 -
1.486)

moderado 1.58 - 1.67

corindn (1.76 -
alto 1 67 - 1,76
1.77)
muy alto > l.76 circn (1.90 - 2.00)
 Tabla 16.2.- Relieve de algunos minerales en
funcin de su ndice de refraccin

Cambio de relieve

En cristales o minerales anistropos con una

birrefringencia pronunciada, como los
carbonatos, es fcil observar cambio de
relieve al girar el cristal. Dicho relieve ser
ms pronunciado cuando la direccin del
cristal o mineral con la que est asociada el
ndice de refraccin que muestra la mayor
diferencia con el ndice de refraccin del medio
que le rodea coincide con la direccin de
vibracin del polarizador. Cuando la direccin
situada a 90 respecto de la anterior coincide
con la direccin de vibracin del polarizador, el
relieve ser menos pronunciado porque la
diferencia entre el ndice de refraccin
asociado a dicha direccin y el del medio que
rodea al cristal o mineral es menor.

El cambio de relieve indica anisotropa.

http://ocw.uniovi.es/pluginfile.php/4552/mod_resource/content/41/microscopio/procedimientos/html/relieve.html

https://es.scribd.com/doc/212041293/Informe-de-Optica-Joel
Nicoles paralelos
 Fig. 38 Desplazamiento de la Lnea de Becke
Si la platina se baja y la lnea se desplaza hacia
fuera del mineral, significa entonces que el ndice
del Blsamo es mayor al del mineral.
https://prezi.com/spxegn0oxg7d/microscopia-optica-de-minerales/

Colores de interferencia

Grises de primer orden en los feldespatos alcalinos y

plagioclasas pobres en calcio y grises y amarillos en plagioclasas
ricas en calcio.

OBJETIVOS:

Reconocimiento de microscopio ptico.

Ver si los minerales son bien cristalizados o amorfos.

Reconocimiento de los minerales que tienen exfoliacin perfecta, o extensin oblicua.

Reconocer cuales son los minerales de alto relieve, y bajo relieve.

Ver cul es su color de interferencia de cada mineral.

Procedimiento de la seccin delgada; el cortado de la muestra, desbastado, y el pulido, y otros.

Variacin (aproximada) del relieve con el ndice de refraccin, a valores de n muy

bajos el relieve es negativo (muy bajo, bajo o medio).