UNIVERSIDAD DE CONCEPCION

FACULTAD DE CIENCIAS FISICAS Y MATEMATICAS

DEPARTAMENTO DE ESTADISTICA

Cartas de Control para Atributos

Prof. Francisco Pradenas P. 1


Se utilizan para controlar aspectos
cualitativos o atributos en un producto o
servicio.

Segn la caracterstica de calidad

observada, un producto puede
clasificarse como:
- conforme o no conforme
- bueno o defectuoso
- aceptado o rechazado
- aprobado o reprobado
- presente o ausente
- si o no 2
 TIPOS DE CARTAS DE CONTROL
PARA ATRIBUTOS

Carta-p: Para la fraccin defectuosa.

Carta-np: Para el nmero total de
unidades o temes defectuosos.

Carta-c: Para el nmero de defectos

por tem individual.

Carta-u: Para el promedio de defectos
por temes agrupados. 3
 CARTA DE CONTROL PARA LA FRACCION
DEFECTUOSA
Carta--p
Carta

Permite controlar la proporcin, fraccin o
porcentaje de unidades defectuosas en un
proceso o no conformidades en un servicio.

Esta basada en las distribuciones de
probabilidades Bernoulli y binomial, tal que
p=P(xito)=P(unidad defectuosa).

Se asume que p es constante, que las
muestras son independientes entre s y el
proceso o servicio se mantiene estable durante
el perodo de inspeccin.

Es eficiente cuando los tamaos de los
subgrupos son suficientemente grandes (>= 50). 4
 Carta--p
Carta

Si D es una variable aleatoria que
representa al nmero de xitos en
sucesivas repeticiones de un
experimento Bernoulli, entonces la
distribucin de probabilidades de D
es:
D ~ b(n,p)

5
 Carta--p
Carta

n: es el nmero de repeticiones del
experimento Bernoulli.

p: es la probabilidad de xito o la
probabilidad de un tem
defectuoso.
Se sabe que:

- E(D) = np

- V(D) = np(1-p)
6
 Carta--p
Carta

La fraccin defectuosa muestral
(caracterstica de calidad, p estimado) est
dada por: D
p=
n

La esperanza y varianza de la fraccin
defectuosa muestral estn dadas por:
D 1 1
E ( p ) = E = E ( D ) = np = p
n n n

p (1 p )
D
V ( p) = V =
1
V ( D) =
1
[np (1 p )] =
n n2 n
2 n
7
 LIMITES DE CONTROL 3-
3-SIGMA
Carta--p
Carta X : caracterstica de calidad

E ( p) = p D
X = p= LSC = E( X ) + k V ( X )
p(1 p ) n
V ( p) = LC = E(X )
n
p conocida
LIC = E( X ) k V ( X )

p (1 p )
LSC = p + 3
n
LC = p

p (1 p )
LIC = p 3
n 8
 LIMITES DE CONTROL 3-
3-SIGMA
Carta--p
Carta

p desconocida

Se toman m subgrupos de tamao n cada
uno, y se estima p en cada uno de ellos en la
forma:
D
p i = i ; i = 1,2,..., m
n

Enseguida, se calcula la fraccin defectuosa
promedio del proceso tal que:
m
pi
p = i =1
m 9
LIMITES DE CONTROL 3-
3-SIGMA
Carta--p
Carta

p es desconocida

10
 EJEMPLO 1
Una empresa fabricante de ampolletas
para proyectores data, mantiene un
nivel de produccin de
aproximadamente 500 unidades
diarias. Para probar su calidad, se
eligen aleatoriamente 50 ampolletas al
da de la lnea de produccin. En un
mes cualquiera, comprendiendo 26
das hbiles de trabajo, se obtuvieron
los siguientes resultados:
11
 EJEMPLO 1
Da i (subgrupo) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13
N de ampolletas
3 4 1 2 0 3 2 4 5 2 0 1 0
defectuosas
Fraccin defectuosa
0.06 0.08 0.02 0.04 0 0.06 0.04 0.08 0.1 0.04 0 0.02 0
estimada

Da i (subgrupo) 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26
N de ampolletas
1 3 4 2 5 1 0 3 0 3 2 2 1
defectuosas
Fraccin defectuosa
0.02 0.06 0.08 0.04 0.1 0.02 0 0.06 0 0.06 0.04 0.04 0.02
estimada

p es desconocida

12
 EJEMPLO 1

Qu conclusiones puede obtener de esta carta de control?

13
 EJEMPLO 1

Qu conclusiones puede obtener

de esta curva caracterstica de
operacin?

14
 CARTA DE CONTROL PARA LA FRACCION
DEFECTUOSA
Tamaos de los Subgrupos es Variable

 La inspeccin puede ser al 100%, por lo

que los tamaos de los subgrupos pueden
ser diferentes entre s.

 Pueden haber condiciones de calidad

especiales en algn perodo.

 Los costos de inspeccin pueden ser

variables. 15
 POSIBLES SOLUCIONES
a) Lmites de Control para cada Muestra

ni es el tamao del subgrupo i.

p es la fraccin defectuosa del proceso (que

ser estimada por la fraccin defectuosa
muestral, si es desconocida). 16
a) Lmites de Control para cada Muestra

Ejemplo 2

Una empresa armadora de

computadores, chequea al 100%
su produccin determinando el
nmero de PCs
PCs que presentan
fallas en su sistema operativo. Se
dispone de los siguientes datos
particulares:
17
a) Lmites de Control para cada Muestra
Ejemplo 2

18
a) Lmites de Control para cada Muestra
Ejemplo 2
p es desconocida

19
b) Lmites de Control basados en Tamaos
Muestrales Promedio

Si los tamaos de los subgrupos son variables,
pero no difieren significativamente entre s, se
puede utilizar un tamao muestral promedio
para calcular los lmites de control.

En tal caso, se obtendrn lmites de control fijos.

Si p es desconocida, se estima
por la fraccin defectuosa
muestral. 20
b) Lmites de Control basados en Tamaos
Muestrales Promedio
(caso anterior, ejemplo 2)

21
EJEMPLO 2

22
 c) Lmites de Control Extremos

Se utilizan en tamaos de subgrupos

altamente variables.

Por lo anterior, no es conveniente considerar el

tamao muestral promedio para calcular los
lmites de control.

En casos como estos, los lmites de control se

calculan tomando el menor y mayor tamao
muestral de los subgrupos.

23
 c) Lmites de Control Extremos
(caso anterior, ejemplo 2)

nmin = 145 (da 5)

nmax = 291 (da 11)

p (1 p )
LSC = p + 3
n

LC = p

p (1 p )
LIC = p 3
n
24
 d) Cartas de Control Estandarizadas

Estas cartas son tiles en procesos cuyos tamaos
muestrales cambian de manera permanente.

Pueden ser una solucin ante cualquiera duda o
sospecha acerca de los tamaos de los subgrupos.

Cada punto en la carta de control es una proporcin

estandarizada (media = 0, varianza = 1).

En este caso, la caracterstica de calidad es:

Los lmites de control son:

LIC=-3 ; LC=0 , LSC=3
25
CARTA DE CONTROL PARA EL NUMERO TOTAL DE
UNIDADES DEFECTUOSAS
Carta--np
Carta

Permite controlar el nmero de unidades
defectuosas en un proceso.

El nmero de unidades defectuosas est
dado por el producto np.

Los lmites de control se obtienen a partir
de la carta-p.

Es eficiente cuando los tamaos de los

subgrupos no son suficientemente
grandes (< 50).
26
 Carta-np
Carta-
Lmites de Control 3-
3-Sigma

27
 Carta--np
Carta
(del ejemplo de ampolletas para proyector data)

28
 Carta--np
Carta
(del ejemplo de ampolletas para proyector data)

Qu conclusiones puede obtener de esta carta de control?

29
CARTA DE CONTROL PARA EL NUMERO DE DEFECTOS
POR ITEM INDIVIDUAL
Carta--c
Carta

Permite controlar el nmero de

defectos por unidad, que puede
corresponder a un producto o tem
especfico.

Est basada en la distribucin de

probabilidades Poisson.

30
CARTA DE CONTROL PARA EL NUMERO DE DEFECTOS
POR ITEM INDIVIDUAL
Carta--c
Carta

Si X representa el nmero de defectos

por unidad, entonces X~Poisson(c),
donde c es el promedio de defectos
por unidad de control.

Se sabe que:
E(X) = c ; V(X) = c

31
 Lmites de Control 3-
3-Sigma
Carta--c
Carta
(c conocido)
conocido)
E(X) = c ; V(X) = c

LSC = c + 3 c X : caracterstica de calidad

LSC = E( X ) + k V ( X )
LC = c LC = E(X )

LIC = E( X ) k V ( X )
LIC = c 3 c
32
 Lmites de Control 3-
3-Sigma
Carta--c
Carta
(c desconocido)
desconocido)
m
ci
c = i =1 ; ci es el nmero de defectos en unidad i
m

LSC = c + 3 c
LC = c

LIC = c 3 c 33
 Ejemplo 3
Un alumno se prepara para rendir la PSU y semanalmente
resuelve un facsmil de matemticas. Al corregir sus
respuestas, cuenta el nmero de respuestas incorrectas y el
nmero total de errores cometidos. Los resultados son los
siguientes:

Facsmil Semana i 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
N de respuestas
incorrectas 5 7 8 3 0 4 5 6 8 2
N total de errores 5 8 10 6 0 4 5 9 9 5

Facsmil Semana i 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
N de respuestas
incorrectas 7 3 4 2 5 1 4 4 0 4
N total de errores 11 6 5 2 5 3 6 7 0 9 34
 Ejemplo 3
Carta-c para el nmero de respuestas incorrectas por
facsmil:

Qu se puede
concluir de esta
carta de control?

35
 Ejemplo 3
Carta-c para el nmero de errores por facsmil:

Qu se puede
concluir de esta
carta de control?

36
CARTA DE CONTROL PARA EL PROMEDIO DE
DEFECTOS POR ITEMES AGRUPADOS
Carta--u
Carta

En una carta-c, la unidad de

inspeccin es indivisible o nica.

En el caso de una carta-u, la unidad

de inspeccin constituye una unidad
fsica mayor (un grupo, un lote, una
caja, un paquete, etc.).

37
 CARTA DE CONTROL PARA EL PROMEDIO DE
DEFECTOS POR ITEMES AGRUPADOS
Carta--u
Carta

En la carta-u se considera el promedio de

defectos por unidad de inspeccin, que se
denota por u.

Si X es el nmero total de defectos y k es el

nmero de unidades del grupo a inspeccionar,
entonces u = X/k
X/k.

u es una variable aleatoria que tiene

distribucin de probabilidades Poisson.

38
 CARTA DE CONTROL PARA EL PROMEDIO DE
DEFECTOS POR ITEMES AGRUPADOS
Carta--u
Carta

Si X~Poisson(c), entonces:
E(X) = c ; V(X) = c

Si u~Poisson, entonces:

39
 Lmites de Control 3-
3-Sigma
Carta--u
Carta

m
ci ci: es el nmero total de defectos en grupo i.
u = i =1
m
ki ki: es el nmero total de temes inspeccionados en grupo i.
i =1 40
 Carta--u
Carta

En esta carta-u, se representan los

puntos ui = ci / ki para cada grupo i.

Como los puntos ui estn basados

en tamaos muestrales diferentes,
los lmites de control varan de un
grupo a otro.

41
 Carta--u
Carta
Por lo anterior, hay 2 alternativas de
solucin (idnticas a las ya vistas
anteriormente):

usar lmites de control variables.

usar tamao muestral promedio.

42
 Carta--u
Carta
Ejemplo 4
Un inspector de calidad examina las manchas producidas por el
constante uso de un detergente en la limpieza de alfombras para
pisos. Elige al azar 15 hogares en donde utilizan este detergente,
obteniendo los siguientes datos:
Superficie Total Superficie Inspeccionada (ki) N de Manchas N de Manchas por
2 2
Hogar N (m ) (m ) (ci) Superficie Inspeccionada
ui = ci / ki
1 80 20 10 0,50
2 90 30 12 0,40
3 70 15 6 0,40
4 70 15 8 0,53
5 90 30 9 0,30
6 100 40 10 0,25
7 70 15 5 0,33
8 110 45 9 0,20
9 70 15 12 0,80
10 80 20 8 0,40
11 100 40 7 0,18
12 110 45 10 0,22
13 90 30 12 0,40
14 80 20 9 0,45
15 70 15 5 0,33 43
Carta--u
Carta
Ejemplo 4

44
 Carta--u
Carta
Ejemplo 4

Si usamos la opcin de lmites de control variables

para la carta-u, tenemos los siguientes lmites para el
grupo i:

u
LSC = u + 3
k

LC = u
u
LIC = u 3
k

45
Carta--u
Carta
Ejemplo 4
Superficie Inspeccionada (ki)
2
(m )

20
30
15
15
30
40
15
45
15
20
40
45
30
20
15

46
Carta--u
Carta
Ejemplo 4
Superficie Inspeccionada (ki)
2
(m )

20
30
15
15
30
40
15
45
15
20
40
45
30
20
15

47
Carta--u
Carta
Ejemplo 4

48