SCHWEITZER ENGINEERING LABORATORIES, COMERCIAL LTDA.

Proteo de Banco de Capacitores de Alta Tenso

para Configuraes Simples e Complexas
Roy Moxley, Jeff Pope e Jordan Allen, Schweitzer Engineering Laboratories, Inc.

SumrioA operao econmica dos modernos sistemas de uma unidade inteira. Como ponto de referncia, os bancos de
potncia requer um suporte de tenso mais distribudo do que capacitores sem fusveis possuem uma construo unitria,
anteriormente. As caractersticas da gerao distribuda e da conforme mostrado na Fig. 1 [1].
carga mudaram, exigindo maior suporte de VAR em todo o
sistema de potncia. Os bancos de capacitores da subestao Dispositivo de Descarga Interna
consistem na forma mais econmica para adicionar VARs ao
Caixa
sistema. Devido aos harmnicos, sistemas de aterramento e
questes operacionais, existem diversos tipos de bancos de
capacitores. Os bancos de capacitores tambm constituem o
corao dos bancos de filtros necessrios para a aplicao de Elemento
dispositivos dos sistemas de corrente contnua de alta tenso
(High-Voltage Direct Current HVDC) e outros sistemas de Unidade de
transmisso CA flexveis (Flexible AC Transmission Systems Capacitores
FACTS). Esses bancos de filtros tambm so fornecidos com
diversos tipos de conexo.
Os rels microprocessados tm capacidade para fornecer uma
proteo sensvel para diversos tipos de bancos de capacitores. A
metodologia de proteo dependente da configurao do banco,
da localizao dos transformadores de instrumentos e dos
recursos do rel de proteo. Este artigo detalha os mtodos de Fig. 1. Unidade sem fusvel em um banco conectado em estrela
proteo aplicados a bancos no aterrados e aterrados
tradicionais, bem como a vrios bancos recentes com conexes Observe que numa construo sem fusveis, quando um
que esto longe de ser tradicionais. nico elemento falha, ele jumpeia (curto-circuita) as
Este artigo discute a aplicao, sensibilidade e velocidade dos unidades ligadas em paralelo com o mesmo, aumentando o
esquemas de proteo aplicados. As configuraes dos bancos estresse de tenso sobre as unidades em srie remanescentes.
estudadas incluem bancos tradicionais, bem como bancos com
filtros tipo-C, bancos aterrados capacitivamente e bancos duplo-
Um banco com fusveis internos possui fusveis em cada
H. Outras aplicaes alm da proteo, tal como a localizao de elemento individual, conforme mostrado na Fig. 2.
faltas do capacitor, tambm so discutidas para fornecer
Fusvel Limitador de Corrente
benefcios adicionais s equipes tcnicas da subestao.
Caixa

I. INTRODUO
Os bancos de capacitores so projetados com vrias
configuraes para atender s restries do projeto do sistema;
logo, o engenheiro de proteo tem que estar preparado para
proteger qualquer uma dessas configuraes. As entradas
disponveis para o rel so tenso e corrente, sendo a
localizao do transformador de instrumento determinada pela
configurao do banco. Este artigo descreve trs tipos de
bancos significativamente diferentes e usa simulao em
tempo real para avaliar a eficcia da proteo e a estabilidade
de cada aplicao. Os bancos estudados incluem ambos os
projetos de bancos sem fusveis e bancos com fusveis
internos. Os mesmos princpios se aplicam tanto a um banco
com fusveis externos como a um banco com fusveis internos.
Tipicamente, porm, os bancos de capacitores com fusveis
externos tm tenses e correntes de falha mais elevadas do que
os bancos sem fusveis ou bancos com fusveis internos
porque a queima de um fusvel externo provoca a perda de
Dispositivo
de Descarga
Unidade de
Capacitores
Fig. 2. Unidade com fusveis internos em um banco conectado em estrela
No caso de falha de um elemento em um banco com
fusveis internos, quando ocorre a queima do fusvel do
elemento defeituoso, o estresse de tenso aumenta nos
elementos restantes em paralelo com o elemento defeituoso.
O objetivo da proteo do banco consiste em, de forma
ideal, detectar falhas no fusvel ou elemento individual e
fornecer uma indicao suficientemente antecipada de

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problemas dentro do banco de capacitores para evitar um elementos 60 so baseados em corrente. Os elementos do rel
colapso em cascata quando houver falha de vrios elementos foram ajustados conforme recomendado pelo fabricante, com
individuais. temporizaes do alarme para falhas de nvel baixo e operao
Para todos os bancos estudados, assumido que a proteo com velocidade mais alta para falhas graves.
de sobrecorrente fornecida no lado da linha do banco para
dar trip em caso de uma falta fase-fase ou fase-terra. O
objetivo da proteo do banco de capacitores dar alarme no
I
caso de falha de um nmero mnimo determinado de
elementos ou unidades e dar trip para um nmero maior
determinado de falhas. Obviamente, desejvel detectar
qualquer falha do elemento.
V
II. ANLISE DE FALHAS DO ELEMENTO E UNIDADE
A. Banco em Dupla- Estrela

Digitals
O primeiro banco a ser analisado um banco conectado em
dupla-estrela padro com uma unidade de aterramento,
conforme mostrado na Fig. 3. Os nmeros fornecidos so a Fig. 4. Banco em dupla-estrela, falha de um elemento
capacitncia de cada poro do banco em microfaradays. Este
banco especificado com 2 MVAR, 69 kV.

1.117 1.117 1.117 1.117 1.117 1.117

1.117 1.117 1.117 1.117 1.117 1.117

V
IA

TC2 IA 0.001 TP2

650.845 650.845
Digitals

Fig. 3. Banco de capacitores aterrado conectado em dupla-estrela

Nesta configurao, comum usar apenas o balano de Fig. 5. Banco em dupla-estrela, falha de dois elementos
corrente para fornecer a proteo do banco. Estamos
interessados em ver a comparao da sensibilidade entre o
elemento diferencial de tenso e a proteo de balano de
corrente. A tenso diferencial derivada do transformador de I
potencial (TP) TP2 e do TP do lado de alta (no mostrado). O
balano de corrente medido no transformador de corrente
(TC) TC2. O TC1 (no mostrado) usado para proteo de
sobrecorrente do banco. V
Convertendo para valores de reatncia, a reatncia total
acima do ponto da estrela j4.799 ohms. A reatncia abaixo
do ponto da estrela j4.076 ohms. O TP2 usa a tenso
Digitals

desenvolvida atravs da reatncia abaixo do ponto da estrela

como uma entrada. Isso se torna um problema de sensibilidade
significativo quando consideramos que cada banco de Fig. 6. Banco em dupla-estrela, falha de trs elementos
capacitores tem vrias sees em srie e que queremos
Observe que na Fig. 4, a corrente diferencial aumenta no
detectar a falha de apenas uma seo em srie.
instante da falha, enquanto a tenso diferencial permanece no
As Figuras 4, 5 e 6 mostram as correntes e tenses para as
nvel de 0.5 a 2.5 V com muito rudo. Nenhum dos elementos
falhas de um, dois e trs elementos em srie. Nessas figuras, a
de tenso tem uma operao estvel. Para falha de dois
corrente diferencial circulando no TC2 mostrada no trao
elementos (Fig. 5), o sinal de tenso ainda tem uma relao
superior. A tenso diferencial, a diferena entre o TP2 e o TP
sinal-rudo muito baixa com um sinal de rudo de
do lado de alta, mostrada no trao inferior. As atuaes
aproximadamente 2 V antes e aps a falta, e com uma tenso
(pickups) dos elementos do rel so mostradas na parte
diferencial pouco abaixo de 5 V aps a falha do elemento. No
inferior. Os elementos 87 so baseados em tenso e os

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entanto, pode ser razoavelmente observado que a tenso sobe

junto com a corrente. Neste caso, o elemento 87HG1D (tenso
temporizada) opera essencialmente ao mesmo tempo ou at

0.0145

0.0145

0.0145
150
150

150
mesmo um pouco antes do elemento de corrente 60X12T.
Quando ocorre a falha do terceiro elemento (Fig. 6), podemos
483.311 483.311 483.311
ver que o sinal de tenso forte e estvel, tendo quase a

TCC1

TCA1
TCB1
IC1 TPC1 IB1 TPB1 IA1 TPA1
mesma qualidade de sinal que o sinal da corrente. IC1 0.001 IB1 0.001 IA1 0.001
483.311 483.311 483.311
Estvamos preocupados com o rudo observado no circuito
da tenso diferencial. Olhando para a tenso do lado de alta e
para a tenso diferencial (Fig. 7), podemos ver o problema. A 21.911 21.911 21.911
magnitude do elemento diferencial praticamente a mesma TPC2 TPB2 TPA2
IC2 0.001 IB2 0.001 IA2 0.001
antes e aps a falha de um nico elemento (no Ciclo 30), 21.911 21.911 21.911
variando at 2 V em funo da baixa relao sinal-rudo do
circuito. A tenso primria, ao mesmo tempo, de 40 kV pico
a pico. Mesmo considerando a escala dos circuitos do TP, a Fig. 8. Banco duplo-H com resistor e reator de sintonia
tenso diferencial gerada pela falha de um simples elemento
do banco em estrela to pequena se comparada com a tenso Este banco utiliza capacitores com fusveis internos,
primria que no possvel que seja efetuada uma deteco significando que a falha de um elemento remove apenas o
significativa de uma falha num nico elemento por um elemento com defeito e no todos os elementos em paralelo,
elemento de tenso. Somos de opinio que o mesmo problema como no caso de um banco sem fusveis (o elemento
tem alta probabilidade de ocorrer numa subestao real. defeituoso jumpeia todos os elementos em paralelo). Isso
significa que falhas de elementos individuais so muito mais
difceis de serem detectadas. O objetivo da proteo era operar
para uma falha de 1% dos elementos e dar trip no elemento
defeituoso, o que resultaria em um aumento de tenso nos
elementos saudveis, excedendo 110% da tenso nominal do
elemento. O usurio declarou que a proteo preferida era
uma baseada na medio diferencial de tenso comparando a
tenso intermediria em cada seo H com a tenso da barra
primria. A medio do balano de corrente usando TCs
conectados entre os ramais foi disponibilizada como proteo
de retaguarda caso a proteo de tenso no tivesse
sensibilidade suficiente. A proteo de falha do banco
Fig. 7. Banco em dupla-estrela, tenso primria e tenso diferencial antes e primria inclua sobrecorrente direcional de sequncia-
aps a falha de um nico elemento negativa e sobretenso do banco, bem como a proteo
baseada em corrente e tenso para detectar falhas de
B. Banco Duplo- H
elementos e unidades, como mostrado nas Figuras 9, 10 e 11.
O segundo banco estudado foi instalado para correo do O primeiro teste consistiu em simular a falha de um
fator de potncia em uma rea onde havia preocupaes com a elemento na parte principal do banco e verificar se ela poderia
elevada tenso de quinto harmnico causada pela ser detectada. A parte principal do banco identificada como
sobreexcitao dos transformadores da subestao. Neste caso, a parte apenas com capacitncia, sem nenhum componente
foram adicionados um resistor e um reator de sintonia para resistivo ou indutivo. A Fig. 9 mostra os elementos de tenso e
proteger o banco durante esta condio, conforme mostrado na corrente resultantes do defeito.
Fig. 8.

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Na Fig. 10, pode-se observar que o sinal de corrente (trao

superior) muito mais estvel do que o sinal de tenso (trao
inferior). O aumento da tenso um pouco mais rpido do que
I
o aumento da corrente, mas com a temporizao do alarme
normal de 5 a 10 segundos, isso no significativo.
Finalmente, investigamos a falha de uma unidade
completa. A Fig. 11 mostra os resultados, exibindo a corrente
V de desbalano gerada no trao superior e a tenso diferencial
no trao inferior.
Digitals

I
Fig. 9. Banco duplo-H, falha de um nico elemento

Na Fig. 9, o trao superior representa a medio da corrente

e o trao do meio representa a medio da tenso. Os traos
inferiores mostram os pickups dos elementos do rel digital.
Embora tenha havido um aumento da tenso diferencial, a V

variao de 25 mV na magnitude apenas um pouco maior do

que o rudo. O elemento de corrente, variando de 0 a 0.2 A,
fornece um sinal muito melhor.
A falha de dois elementos, como esperado, mostra uma
duplicao dos sinais operacionais, sem um aumento do rudo Fig. 11. Banco duplo-H com falha da unidade
na medio da tenso (Fig. 10).
Neste caso, o elemento de tenso tem um sinal de operao
forte e slido, com um aumento de tempo quase exatamente
igual ao do elemento de corrente.
I
C. Banco com Filtro Tipo-C
A ltima proteo de banco testada foi um banco com filtro
tipo-C. Neste caso, a construo muito semelhante ao banco
duplo-H da Fig. 8, com diferentes resistores selecionados para
V
a resposta de frequncia desejada. O circuito sintonizado de
forma que a corrente fundamental possa fluir atravs dos
capacitores enquanto as correntes harmnicas fluem atravs
dos resistores. Parte da proteo era efetuada atravs de
elementos de corrente nos resistores para proteger contra
Fig. 10. Banco duplo-H, falha em dois elementos sobreaquecimento. Esta proteo era parte da proteo geral
do banco, mas no foi includa em nossos testes porque ela
depende totalmente das tenses harmnicas presentes no local
do banco (Fig. 12). Este banco um banco sem fusveis, logo
a falha de um nico elemento tem como resultado o jumper
de todos os elementos em paralelo com o elemento defeituoso.
A proteo do banco real no usava proteo diferencial de
tenso nas fileiras do meio (mid strings), mas apenas a
proteo de balano de corrente. Simulamos TPs das mid
strings para analisar seu desempenho em comparao com a
proteo baseada em corrente.

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5.018 5.018 5.018

TC3B IC1 0.001 TC2B IB1 0.001 TC1B IA1 0.001

5.018 IC1 5.018 5.018 IB1 5.018 5.018 IA1 5.018

28.85 28.85 28.85

360

360
360

360

360

360
TC3C IC2 0.001 TC2C IB2 0.001 TC1C IA2 0.001
IC2 IB2 IA2
IXC5

IXC4

IXC5

IXC4
IXC5

115.401 115.401 IXC4 115.401 115.401 115.401 115.401

TP3 TP2 TP1

IC3

IA3
IB3
0.06098

0.06098

0.06098
Fig. 12. Modelo do banco com filtro tipo-C (os nmeros se referem aos valores de capacitores individuais aplicados nos testes de falha)

A proteo tem que detectar falhas na parte principal do
banco (grfico superior da Fig. 13) ou na parte de sintonia do
banco (grfico inferior da Fig. 13).
I
V melhor e numa caracterstica de operao mais estvel.
I com fusveis internos ou sem fusveis no fornece esta
V A localizao do elemento defeituoso indicada nas duas
Fig. 13. Banco de filtro tipo-C, falha de um nico elemento na parte
principal (grfico superior) e na parte de sintonia (grfico inferior) do banco
Como nos outros exemplos de bancos, h
significativamente mais rudo na medio do diferencial de
tenso do que no desbalano de corrente. No caso de uma
falha do elemento na parte de sintonia do banco, o elemento
de tenso tem um pouco mais de rudo do que para uma falha
na parte principal, mas ainda fornece boa sensibilidade e
retaguarda razovel para a proteo baseada na corrente.
Como esperado, a falha de dois elementos fornece valores de
medio duas vezes maior do que a falha de um elemento, sem
aumento do rudo, resultando numa relao sinal-rudo muito
D. Localizao do Elemento Defeituoso
Em um banco com fusveis externos, simples encontrar a
unidade do capacitor com defeito. O fusvel com mola atua
indicando quando ocorre uma falha, requerendo apenas uma
inspeo visual para encontrar o fusvel defeituoso. Um banco
indicao. Os capacitores modernos, totalmente com filme,
no estufam (devido formao de gases internamente)
quando ocorre uma falha. A pergunta ento : "Como
encontrar a unidade com defeito quando ocorrer um alarme?"
etapas seguintes:
A identificao da fase fornecida em cada um dos
bancos trifsicos nesses exemplos. Se for utilizado um
sistema de balano de neutro, ento no h nenhuma
identificao. Os elementos de proteo individual,
por fase, so os preferidos.

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Os elementos de tenso fornecem a indicao se o
elemento defeituoso est acima ou abaixo do ponto de
medio. Considere o grfico de tenso mostrado na
Fig. 13, 0.1 V, e o da Fig. 10, +0.05 V. Isso identifica
se a falha est acima ou abaixo do ponto de conexo
do TP.
Em um banco duplo-H, com TPs e TCs em cada perna, o
nmero de unidades a serem verificadas para um alarme ser
to pequeno quanto 1/24 do nmero total de unidades de
capacitores. Isso pode poupar horas ou dias de testes,
dependendo do tamanho do banco.
III. FATORES COMPLICADORES
As simulaes efetuadas usaram bancos com capacitores
equilibrados em cada perna. Esta uma condio baseada no
melhor caso, e os fatores do mundo real tm que ser
considerados durante a avaliao e ajuste dos rels de
proteo. Tudo aquilo que causar uma condio de desbalano
transitrio ou em regime deve ser considerado. Os rels de
proteo modernos fornecem, normalmente, uma lgica de
compensao avanada para anular qualquer desequilbrio
permanente visando maximizar a sensibilidade dos elementos
de desbalano de corrente e diferencial de tenso.
A. Tolerncias de Fabricao
As normas reconhecem que as tolerncias de fabricao
podem levar a uma variao na capacitncia entre unidades
individuais com os mesmos valores nominais [2]. Para atender
s normas, a classificao tem que estar entre menos 0 e mais
10%. Os fabricantes de bancos de capacitores colocam,
geralmente, unidades num banco para limitar o desbalano a
menos de 0.5% [3]. Desequilbrios em regime deste porte
podem ser zerados em um sistema de balano de corrente ou
tenso atravs do ajuste da compensao quando for
conhecido (ou presumido) que todos os elementos ou unidades
esto saudveis. Observe que isso deve ser feito sempre que
uma unidade for trocada porque a unidade de substituio
pode ou no ter a mesma capacitncia que a unidade
substituda.
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B. Impacto da Irradiao Solar
Um caso especial de desequilbrio causado por diferenas
na capacitncia da unidade provocado pelo sol brilhante
atingindo um lado de um banco de capacitores e no o outro,
como mostrado na Fig. 14. Neste caso, vemos o sol brilhante
atingindo o lado direito do banco, enquanto o lado esquerdo
fica na sombra.
Fig. 14. Banco de capacitores com sol no lado direito
A mudana na capacitncia provocada pelo aquecimento
solar pode vir de trs causas diferentes:
O filme dieltrico (normalmente polipropileno) altera
com a temperatura.
Alteraes do fluido dieltrico (leo mineral ou outro
fluido) com a temperatura.
O aquecimento do fluido dieltrico causa expanso,
permeando melhor o filme.
O aquecimento solar varia de acordo com a localizao,
orientao do banco e outros fatores, tais como o vento ou
equipamentos prximos. Um estudo mostrou uma variao de
10C simplesmente a partir do fundo de um cubculo externo
at o topo em um dia ensolarado [4]. Foram observadas
operaes de rels nos bancos de capacitores quando o sol
nascente atinge um dos lados, causando o aquecimento.
A maneira tradicional de compensar o aquecimento
desigual e o desequilbrio que isso provoca consiste em
aumentar os ajustes de pickup. Abordar com preciso as
alteraes transitrias na capacitncia exige mais sofisticao
do que a compensao para uma diferena fixa entre as fileiras
(strings) do banco. Uma entrada de temperatura, ou duas
entradas, pode ser levada at o rel para alterar os grupos de
ajustes ou aumentar os valores de pickup. O rel usa o valor da
temperatura, ou a diferena de temperatura, para modificar os
valores de pickup. Uma simples medio de temperatura
acima de um valor limite pode ser usada para elevar os valores
de pickup. Se forem fornecidas vrias temperaturas, os ajustes
podem ser alterados dinamicamente para compensar a
mudana na capacitncia de um lado do banco. Uma lgica
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pode ser implementada dentro do rel de proteo do capacitor [4] F. Gutierrez, R. Moxley, D. Kopczynski, and D. Holmes, Relays in the
Hot Box, proceedings of the 32nd Annual Western Protective Relay
para combinar as entradas de temperatura com valores de
Conference, Spokane, WA, outubro de 2005.
alarme, bloqueando os alarmes se o desbalano variar
lentamente. O desafio da deteco de alteraes transitrias na VI. BIOGRAFIAS
impedncia do banco de capacitor consiste em ter capacidade
Roy Moxley recebeu seu B.S. em Engenharia Eltrica da University of
para distinguir com segurana entre uma falha real dentro do Colorado. Ele ingressou na Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. (SEL)
banco de capacitor e as condies transitrias descritas em 2000 como gerente de marketing de produtos de sistemas de transmisso.
anteriormente. A lgica do rel pode distinguir entre Atualmente, ele gerente de marketing de todos os produtos de proteo.
autor e apresentou diversos papers em seminrios de rels de proteo e
mudanas sbitas devido a falhas de elementos e mudanas concessionrias de energia eltrica. Antes de ingressar na SEL, ele trabalhou
graduais devido a variaes de temperatura ou mesmo na General Electric Company como engenheiro de aplicao de rels,
envelhecimento da unidade. engenheiro de aplicao de campo nas reas de transmisso e distribuio
(T&D), e gerente de contas da T&D. engenheiro profissional registrado no
Uma possvel desvantagem de qualquer uma dessas estado da Pensilvnia e membro do IEEE e CIGRE. Ele detm uma patente na
possibilidades que, dependendo da construo do banco, rea de medies de rea ampla.
falhas podem comear pequenas, com um elemento falhando,
seguidas de outra falha e outra falha. Experincias podem Jeff Pope engenheiro de produtos snior do grupo de produtos de
transmisso da Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Jeff membro da
fornecer a melhor indicao para um determinado local.
IEEE Power Engineering Society e trabalha nas reas de comissionamento,
controle, proteo, monitoramento e automao de dispositivos do sistema de
IV. CONCLUSO potncia h 20 anos. Jeff recebeu seu BSEET em 1986 do DeVry Institute of
Technology e seu Masters of Engineering da University of Wisconsin-
As diversas variaes no projeto de um banco de capacitores Madison em 2005.
significam que no existe uma soluo nica para proteo
do banco. Os conceitos bsicos da proteo de curto-circuito Jordan Allen recebeu seu A.A.S. em Electronics Engineering Technology e
e deteco de falha do elemento permanecem inalterados, B.S. em Computer Engineering da Brigham Young University, Idaho. Jordan
membro do IEEE e est, atualmente, na Schweitzer Engineering
independentemente do projeto do banco. Reconhecemos que Laboratories, Inc. elaborando seu trabalho para obter o Masters of
os diferentes tipos de proteo so teis para diferentes Engineering em Engenharia Eltrica na University of Idaho.
condies. As lies aprendidas com esses testes de falha em
bancos de capacitores complexos incluem o seguinte:
A falha de at mesmo um nico elemento pode ser
geralmente detectada por elementos de proteo de
tenso ou corrente, mesmo em bancos com fusveis
internos. A deteco confivel de falhas do elemento
em bancos muito grandes pode requerer mais falhas
porque a relao sinal-rudo pode impedir a deteco
confivel de falhas de elementos individuais.
As medies de corrente so geralmente mais
sensveis do que as medies de tenso para o
desbalano do banco de capacitor. As medies de
corrente de nvel baixo apresentam menos rudo do
que as medies de tenso de nvel baixo.
Os elementos de proteo baseados na tenso so to
rpidos ou mais rpidos do que os elementos baseados
em corrente, tornando-os adequados para proteo
contra uma falha catastrfica.
Para atender necessidade de uma proteo completa,
a tenso, corrente, capacidade de entradas adicionais e
lgicas flexveis devem ser avaliadas e aplicadas.

V. REFERNCIAS
[1] M. Dhillon and D. Tziouvaras, Protection of Fuseless Capacitor Banks
Using Digital Relays, proceedings of the 26th Annual Western
Protective Relay Conference, Spokane, WA, outubro de 1999.
[2] IEEE Standard for Shunt Power Capacitors, IEEE 18-2002.
[3] E. Price and R. Wolsey, String Current Unbalance Protection and
Faulted String Identification for Grounded-Wye Fuseless Capacitor
Banks, proceedings of the 65th Annual Georgia Tech Protective Apresentado previamente na 2012 Texas A&M
Relaying Conference, Atlanta, GA, maio de 2011. Conference for Protective Relay Engineers.

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