Capacidade de Processos Prof.

Custodio

Aps verificar se um processo est sob controle estatstico ou no possvel

executar uma das anlises mais importante: a anlise de capabilidade do processo.
Contudo vale destacar que ela somente poder ser conduzida se o processo
estiver sob controle estatstico
O processo estar sob controle estatstico significa estar somente sob
influncias de causas comuns. Isto implica que os parmetros estimados para o
processo so confiveis uma vez que no existem causas especiais perturbando a
variao natural do processo. Ento, esses parmetros (mdia, frao de no-
conformidades, desvio padro, amplitude, etc.) podem ser utilizados com um grau
significante de confiana.
A capacidade de um processo demonstra, por meio de ndices numricos,
quanto um processo capaz de produzir um produto atendendo a dada
especificao (valor nominal tolerncia). De posse do ndice de capabilidade de
um processo possvel avaliar se ele ir satisfazer ou no as especificaes de uma
caracterstica da qualidade.
A anlise de capacidade feita comparando-se a voz do cliente, expressa pelas especificaes do
produto, e a voz do processo, expressa pelas estimativas do parmetro do processo. A Figura 1 ilustra de
forma simplificada esse relacionamento.

Figura 1 Representao esquemtica do ndice de Capacidade.

A especificao da caracterstica da qualidade feita por um valor nominal (VN) e
mais ou menos uma tolerncia aceitvel. Logo:
o limite superior especificado (LSE) =VN + tolerncia;
o limite inferior especificado (LIE) = VN - tolerncia; e
a tolerncia total = LSE - LIE.
O ndice de capabilidade de um processo calculado pela frmula:

onde o desvio padro do processo.

Caso seja desconhecido, faz-se necessrio estimar esse parmetro por meio de
uma amostragem significativa. Ento calculado o desvio padro amostral mdio (
S ) ou a amplitude amostral mdia ( R ) e, em seguida, estimado o desvio padro do
processo por:
R S

d 2 c4
Essa maneira de calcular o ndice de capabilidade de um processo mais apropriada
quando:
 mdia do processo real ou a estimativa dela ( ) est muito prxima ou coincide com o valor nominal
(VN); e
as tolerncias para mais ou para menos so iguais, ou seja, a especificao VN
tolerncia.
Segundo Bothe (1997), existe uma grande diversidade de ndices de capacidade habitualmente
empregados na indstria. Embora possuam diferentes frmulas de clculo, costumam ser derivados de
algum dos ndices apresentados a seguir:
1) ndice Cp
O ndice Cp definido como sendo a razo entre a tolerncia da especificao de engenharia pela
variao natural do processo, representada por 6 que, no caso de distribuio normal de probabilidade,
representa 99,73 % da rea sobre a curva:
TOL LSE LIE
Cp (1)
6 6
onde TOL a tolerncia de engenharia,LSE e LIE so os limites superior e inferior de especificao,
respectivamente e, o desvio padro populacional (ou do processo).
Neste ndice so apenas comparadas a variao permitida pela especificao (TOL) e a variao total
consumida pelo processo (6 ) e nenhuma considerao feita quanto centralizao do processo na
especificao. Da o porqu de ser chamado capacidade potencial de processo j que apenas avalia o que
possvel produzir se a sua mdia pode puder ser adequadamente ajustada. A obteno de um valor superior
a 1 para Cp indica um processo capaz. Neste ndice, o estimado:
R S
(2)
d 2 c4
onde R a amplitude amostral mdia e S o desvio padro amostral mdio, valores obtidos a
partir do grfico de controle utilizado para avaliao de longo prazo da disperso do processo. Tanto d 2
quanto c4 so fatores para a correo do vis das estimativas do desvio padro, determinados em funo do
tamanho da amostra, n.

2) ndice CR
Este ndice o inverso de Cp:
1 6
CR (3)
Cp LSE LIE
Algumas empresas preferem adotar este ao invs de Cp , j que h indicao de que a percentagem da
tolerncia de especificao de engenharia gasta (consumida) com a variao do processo. Valores
inferiores a 1 para CR indicam processos capazes.

3) ndice Cpk
Este similar a Cp mas busca avaliar tambm a centralizao do processo na especificao, de forma
que seja possvel determinar se h ou no gerao de produtos no conformes.
LSE LIE
C pk mn , (4)
3 3
com mn significando o menor dentre os dois ndices e a mdia populacional (ou do processo).
Quando comparados, C pk C p . A igualdade implica em um processo perfeitamente centralizado na
especificao. Descentralizaes geram penalizaes no valor de C pk, fazendo com que este diminua.
Valores superiores a 1 indicam processos capazes.
A estimao de feita do mesmo modo que em Cp.

4) ndice Zmn
definido como:
LSE LIE
Z mn mn , (5)
3 3
ou
Z mn 3C pk
Ou seja, uma maneira diferente de calcular C pk, empregando-se a idia da distribuio normal reduzida
(z). Valores superiores a 3 so necessrios para que o processo seja considerado capaz.
5) ndice Cpm
Quando o melhor valor para a mdia de um processo ( ) no o valor nominal (N) da especificao
de engenharia, suposto como sendo (LSE+LIE)/2, o ndice C pk conduz a resultados enganosos, j que
diminui toda vez em que N. O ndice Cpm busca corrigir esta distoro,estabelecendo T como melhor
valor para a mdia ao invs de N:
TOL LSE LIE
C pm (6)
6 6 2 (u T ) 2
Assim, o ndice penaliza o processo quando este no tiver sua mdia posicionada sobre o valor alvo
(T). A expresso no denominador, dentro da raiz, tambm conhecida como erro quadrtico mdio
(EQM). Valores superiores a 1 implicam em processo capaz.

6) ndice Cpmk
Este ndice uma extenso natural de Cpk, substituindo-se o de seu denominador pela raiz quadrada
do erro quadrtico mdio (EQM), matematicamente:

LSE LIE
C pmk mn , (7)
3 2 ( T ) 2 3 2 ( T ) 2

Quando se obtm C pmk 1 , isto indicao de que o processo capaz.

7) Interpretao da Capacidade do processo

Pode-se interpretar, graficamente, a capacidade de um processo sobrepondo o histograma de uma
amostragem representativa do processo contra os limites de tolerncia especificados. A figura 1 ilustra
isto.

Figura 1 Anlise da capacidade do processo atravs de histograma

Como se pode notar, na Figura 1, o processo do exemplo no capaz, pois existem valores abaixo e
acima dos limites superior e inferior de especificao, respectivamente.
Entretanto, esse procedimento no muito aconselhvel porque a estimativa do desvio padro do
processo mais confivel que somente a disperso representada pelo histograma.
Uma outra forma de se analisar a capacidade de um processo por meio de seu ndice de capacidade
(Cp ou Cpk). O Cp ou Cpk calculado para o processo deve ser classificado segundo os critrios do quadro 1.
 Quadro 1 Interpretao do ndice de capacidade do processo
Dessa forma, possvel por meio de um ndice rapidamente saber se um processo est apto (e quo
apto uma vez que os nveis A e B produzem nveis de qualidade diferentes) a produzir ou prestar um
servio. Naturalmente que bom lembrar que esse ndice somente ter valor se o processo estiver sob
controle estatstico. Por isso, cuidado com os clculos do C p ou Cpk antes da determinao, construo e
verificao dos grficos de controle para emisso do parecer de estabilidade estatstica do processo.
A anlise de capacidade de processo parte fundamental do processo de melhoria da qualidade uma
vez que ele pode direcionar os esforos de melhoria. Alm disso, a anlise de capacidade pode ser
utilizada para:
a) predizer quo bem um processo pode atender s exigncias do cliente;
b) auxiliar ou mesmo guiar engenheiros a escolherem de um processo de produo;
c) auxiliar no estabelecimento da freqncia de amostragem do processo;
d) especificar as necessidades de desempenho de um equipamento;
e) auxiliar na seleo de fornecedores;
f) auxiliar no projeto de tolerncias; e
g) guiar o processo de reduo da variao dos processos.
Uma vez que o processo tem um ndice de capacidade que atende s exigncias naquele momento,
ento, os grficos de controle podero ser utilizados como uma ferramenta poderosa para controlar a
qualidade dos processos.

Aplicao:
Os dados abaixo so relativos ao dimetro interno de uma pea. No processo de produo desta pea a cada turno
retirado uma amostra de 6 peas para medir o dimetro. A tabela a seguir mostra a medida dimetro para 7 amostras
de um determinado turno.

Amostra X1 X2 X3 X4 X5 X6 X S R
1 35,73 36,23 36,25 35,30 36 36,09
2 35,75 35,48 35,27 36 ,0 36,14 35,91
3 35,87 36,20 35,48 36,17 36,12 35,49
4 36,0 36,09 35,75 35,48 36,17 35,77
5 36,25 36,17 36,12 35,73 35,29 36,14
6 35,27 35,73 36,0 36,14 35,91 36,22
7 35,75 35,48 36,17 36,12 35,73 36,17
X = S = R=
a) Encontre os limites de controle para os grficos: X , R e S
b) Sabendo que a especificao de engenharia 36 0,28 mm, determine os ndices Cp, CR, Cpk , Cpm e Cpmk.