Aprovechando al mximo la prueba de factor de potencia tip-up

bobinas individuales Corriente

tratadas con impreg-
Por Chase Fell nacin por presin y
Precision Coil and Rotor vaco (VPI) y bobinas
Birmingham, Alabama resin-rich, as como
Miembro del Comit de tambin a bobina- Prdidas de
Educacin Tcnica dos completamente ~ aislamiento Capacitancia
Voltaje del aislamiento
curados. La prueba C.A.
Nota del Editor: Un PDF de este art- de factor de poten-
culo en ingls y en espaol se encuentra cia tip-up no aplica
disponible en www.easa.com en la a pruebas en banco
Biblioteca de Recursos. de bobinas VPI sin
curar (verdes) o para
l l l l l
evaluar bobinados
completos pre-proc-
Un aislante ideal no permite el
esados VPI. Figura 1. Circuito del sistema de aislamiento.
flujo de la corriente de fuga. El factor
En los centros de
de potencia de un aislante se define
servicio, la prueba de factor de poten-
como el coseno del ngulo de fase
cia tip-up puede ser til para verificar ngulo del
entre el voltaje y la corriente. En un
la calidad de un sistema de bobinas factor de
aislante ideal, la corriente adelanta al
recin instalado, incluyendo la efi- disipacin
voltaje exactamente 90 grados y en este
cacia del proceso VPI. La prueba FP
sistema ideal el factor de potencia sera

tal
Corriente capacitiva
de los bobinados en servicio puede
cero. Los sistemas de aislamiento de las

te to
establecer una medida de referencia
bobinas de los motores y generadores
para el mantenimiento por anlisis de ngulo del

rien
elctricos tienen prdidas inherentes
tendencias. Esta prueba FP en servicio factor de
que causan el flujo de corrientes capaci-

tivas y resistivas (Ver Figura 1). Para
estos aislamientos, el factor de potencia
no puede ser cero.
El factor de potencia tip-up (FP)
se utiliza comnmente para medir
la calidad de las bobinas nuevas y
devanados fabricados para motores
y generadores de C.A. de 6 kV o ten-
siones superiores. En los sistemas de
aislamiento modernos de los devana-
dos estatricos, el factor de potencia
y el factor de disipacin dielctrica
son casi los mismos (Ver Figura 2).
La prueba de FP tip-up puede ser til
para verificar la calidad del proceso
de fabricacin del bobinado, el com-
portamiento del material aislante, la
consolidacin de los conductores, la
uniformidad del encintado del muro
aislante y la condicin del curado de
la resina. Una vez el sistema de ais-
lamiento alcance el voltaje de inicio
de efecto corona (CIV), la descarga
parcial (DP) cortocircuitar efecti-
vamente algo de la capacitancia del
aislamiento y el factor de potencia
aumentar. La prueba FP aplica a
puede identificar potencialmente el
envejecimiento del muro aislante, ya
que la capacitancia entre el conductor
de cobre y el ncleo del estator, gen-
eralmente se reduce a medida que se
presenta separacin de las cintas (de-
laminacin) y/o burbujas de aire en el
aislamiento (voids), entre las bobinas y
el ncleo. La separacin de las cintas de
aislamiento normalmente aparece o se
acelera por el envejecimiento trmico o
mecnico del bobinado. La separacin
de las cintas y/o las burbujas de aire
en el aislamiento pueden ocasionar
descargas parciales y el fallo prematuro
del sistema de aislamiento.
Prueba de las bobinas
Para esta prueba se requiere una
fuente de alimentacin de C.A. junto
con un instrumento de medicin de fac-
tor de potencia / factor de disipacin.
Para simular la ranura del ncleo y
proporcionar un contacto efectivo
del recubrimiento semiconductor en
ranura, se debe configurar a lo largo
de la parte recta de la bobina un plano
de tierra con una lmina o con ac-
Cor
potencia
Corriente Voltaje
de prdida
Figura 2. Factor de potencia y factor de
disipacin.
cesorios metlicos. Es posible que sea
necesario proteger la cinta corona en
los extremos de la seccin de ranura
para mitigar tip-up errneos debidos
a los efectos no-lineales del gradiente.
Proteja el gradiente enrollando firme-
mente una lmina o cobre desnudo
alrededor de la bobina. La proteccin
se puede realizar con mtodos dife-
rentes (consulte la IEEE 286-2000). Las
conexiones de prueba deben ser firmes
y seguras, incluyendo la puesta a tierra.
Todos los conductores en paralelo
deben estar conectados entre s. Por lo
general, la prueba de las bobinas in-
dividuales es realizada a temperatura
ambiente.
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Aprovechando al mximo la prueba de factor de potencia tip-up
Continuacin de la Pgina 1
Bobinados completos
Despus del proceso VPI y el cu-
rado, realice la prueba FP de forma
individual a cada fase, con las otras
fases aterrizadas de forma segura a
la carcasa del estator. Las tcnicas de
proteccin de los materiales corona no
son viables en los bobinados comple-
tos, por lo que los resultados no se
pueden comparar con los obtenidos en
la prueba de las bobinas individuales
del mismo sistema.
Procedimientos
Al aplicar el voltaje de prueba ini-
cial, el factor de potencia se ve afectado
por prdidas dielctricas y DPs no uni-
formes. Antes de dar inicio a la prueba
FP tip-up, los procedimientos de en-
sayo comnmente aceptados incluyen
realizar algn acondicionamiento del
circuito. Someta la bobina o el bobi-
nado a un voltaje superior a la tensin
de funcionamiento para estabilizar el
sistema antes comenzar con la prueba.
Figura 3. Factor de potencia tip-up.
Electrical Apparatus Service Association, Inc. Copyright 2017
Baje el voltaje a cero para asegurarse
que todas las DPs se han extinguido
antes de realizar la prueba FP.
Se debe medir el factor de poten-
cia versus el voltaje en un amplio
rango. La tensin de prueba ms baja
debe estar muy por debajo del nivel
de voltaje de inicio de efecto corona
(CIV). Por lo general, el voltaje ms
bajo para la prueba FP tip-up es casi el
25% del voltaje lnea-tierra. Por debajo
del CIV, las prdidas del aislamiento
no se ven afectadas por una descarga
parcial, por lo que el valor del factor de
potencia al voltaje de prueba ms bajo
puede mostrar prdidas inherentes al
aislamiento, la calidad del contacto
semiconductor, humedad y el grado
de curado.
La tensin de prueba ms alta
generalmente es igual o ligeramente
mayor al voltaje fase-tierra de func-
ionamiento (VLL x .58). Generalmente,
el nmero de pasos de voltaje se elije
para obtener los datos suficientes y
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poder graficar el factor de potencia
vs el voltaje aplicado. Eleve el voltaje,
mantngalo hasta que se estabilice
y registre los valores de factor de
potencia, voltaje y capacitancia del
elemento.
A medida que el voltaje de prueba
aumenta por arriba del CIV, la ca-
pacitancia disminuye y el factor de
potencia aumenta (Ver Figura 3).
Entonces, el factor de potencia tip-
up o factor de disipacin se calcula
restando las mediciones realizadas
entre dos voltajes de prueba. La exac-
titud de la prueba depende de varios
factores que incluyen, el equipo de
pruebas, la temperatura, la humedad
relativa, las capacitancias parsitas,
las conexiones de la prueba y los
efectos de las cintas corona.
Tipup = FP alto voltaje FP bajo voltaje
Criterio de aceptacin
Las prcticas de la industria varan,
pero los sistemas de aislamiento epoxi-
mica a menudo tienen un
criterio de aceptacin del
0.5% - 1.0% del mximo FP
tip-up, cuando se prueban
al 25% y al 100% del voltaje
lnea-tierra. Cuando el tip-
up est fuera del criterio de
aceptacin, algunas veces el
curado adicional del sistema
mejora los resultados. Los
materiales y los diseos de
las bobinas varan, por lo que
es mejor que el fabricante y
el comprador se pongan de
acuerdo con el protocolo de
pruebas y con el criterio de
aceptacin. l
Referencias:
IEC 60034-27-3-2015
IEEE 286-2000
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