¿Quieres Ser Un Buen Técnico en Electrónica - No Dejes de Ver Esta Guía - Reparación de Electrónica Industrial

26/5/2017 Quieres ser un buen tcnico en electrnica?
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electrnica? No dejes de ver esta LOS MEJORES POST
gua Cmo usar un medidor ESR -

Cmo checar/testear
capacitor...
Testeo de componentes.
Un estudio completo de la siguiente gua te ayudar a ser un maestro en las siguientes reas:
Testeo de diodos,SCRS Y Triacs
Testeo de BJTs, JFET y MOSTETS
Amplicadores operacionales
Cmo usar un multmetro para testear componentes
Bueno antes de meternos allote quiero hacer saber una regla de oro que me ha llevado al
xito en mis reparaciones. "LOS CIRCUITOS DE EJEMPLO"Todo parte de pensar de que esta
tarjeta ha sido diseada por unoo un equipo de ingenieros para llevar a cabo X tipo de
funciones en la mquina. Dicho esto, sabrs que los diseadores al igual que los tcnicos
reparadores utilizan las hojas de datos "Datasheet" de los componentes para saber si estos Cmo identificar los
les van a servir en el procesado de seales que ellos buscan, en esa misma bsqueda es componentes SMD - Ebook de
donde ellos tambin se valen y se apoyan en loscircuitosde ejemplo expresados en los referenc...
datasheet.
Cmo testear un
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Estos mismos circuitos nos pueden servir a nosotros cuando no tenemos esquemas ni
informacin sobre la tarjeta, que lamentablemente es el 97% de los casos. Siempre S el primero de tus amigos en indicar
acabamos lidiando con la tpica situacin de una tarjeta con una nota atada con un cordn que le gusta esto.
que pone "no funciona".
Esto me ha servido mucho, particularmente para detectar todos aquellos componentes

discretos de alrededor de transistores, opto acopladores, amplicadores operacionales etc. Thesergioscorner
10 horas
Si an, no eres muy experto y vas a ojear la siguiente gua de como testear, mi consejo es que http://www.thesergioscorner.com/
intentes entender bien los circuitos que testees, comprende lo que estas midiendo, haz /como-reparar-una-fuente-d
pequeas reingenieras inversas, te llevar tiempo la primera vez, pero las dems, para m ha
sido como "montar en bici", con suerte casi todo es repetitivo o los siguientes casos
lospuedes interpretar mucho ms rpido.
Testeando diodos:
Cmo comprobar el C.
El diodo es un dispositivo semiconductor, el cual conduce corriente tan solo en una Comprobacin y chequeo del circ
direccin. En otras palabras, el diodo muestra una muy baja resistencia cuando es polarizado THESERGIOSCORNER.COM
directamente (A-K) y una resistencia muy alta cuando es polarizado inversamente (K-A).
Como ya sabemos, un hmetro aplica un voltaje conocido desde su fuente interna (Bateras)
5 Comentar 4
para medir resistencia. Tericamente este voltaje puede alcanzar entre 1.5 y 3 V. El diodo
requiere un voltaje de 0.7v mnimo para ser polarizado. Por lo tanto, si el cable positivo de
hmetro est conectado al nodo (A) y el negativo al Ctodo (K) el diodo ser directamente
polarizado. En este caso el hmetro leer una resistencia muy baja. Si le damos la vuelta a
las sondas, llevando el negativo al nodo (A) y el positivo a ctodo (K) el diodo es
inversamente polarizado, entonces el hmetro deber medir una resistencia muy alta.
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Por lo que cualquier hmetro puede ser utilizado para testear un diodo.
605.20
La mayora de los multmetros digitales DDM tiene un modo de prueba de diodo, que est
marcada en el selector normalmente con smbolo pequeo caracterstico de un diodo. Aadir a la cesta
Cuando el diode test-mode es seleccionado, este proporciona suciente voltaje interno al
test del diodo en ambas direcciones. La sonda positiva del DMM (Color Rojo) conectada al
nodo (A) y la sonda negativa (Color negro) conectada al ctodo (K).
Si el diodo est en buenas condiciones el multmetro deber mostrar un valor de entre 0.5 y
0.9 v (tpicamente 0.7v).
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Una vez revisado este valor, le damos la vuelta a las sondas, y en este caso el diodo aparecer Ahorra 6.68
como un circuito abierto en el multmetro.
Aadir a la cesta
Un diodo defectuoso aparece en ambas direcciones ya sea como un cortocircuito o un
circuito abierto. En el caso del circuito abierto, el fallo ms comn, ya que este suele ser
causado por un dao en la unin PN del componente debido a un sobrecalentamiento, estos
diodos presentan una impedancia muy alta tanto si es polarizado directamente como
inversamente polarizado. Por otro lado, en el caso de corto circuito, el multmetro leer 0v en
ambas direcciones. A veces, un diodo no presenta un corto circuito complejo (0v), por lo que
aqu se comportar como una resistencia, en este caso el multmetro medir la misma
resistencia en ambos sentidos.
Como mencion, anteriormente si diode test-mode no est disponible en nuestro

multmetro podemos usar el hmetro, midiendo impedancia en ambos sentidos.
Ponemos nuestro multmetros en Ohm. Cuando polarizo el diodo directamente el

multmetro leer de unos pocos cientos a unos miles ohmios. La resistencia de un diodo
normalmente no excede los 100 ohm, pero el voltaje interno del muchos multmetros es
relativamente bajo en el rango de ohm y no es suciente para polarizar completamente la
25 MHz, 100 MSa/s
unin PN. Por esta razn el valor que muestra es ms alto. Cuando el diodo es polarizado
inversamente, el multmetro suele indicar fuera de rango OL porque la resistencia del Osciloscopio digital USB
diodo en este caso es muy alta y no puede ser medida por el multmetro. Lo valores de tipo Lapiz - Pequeo pero
medida de resistencia son relevantes, lo que es importante, es asegurarse de que hay una poderoso
diferencia grande en la lecturas cuando el diodo es directamente polarizado e inversamente
polarizado. De hecho esto es lo ms importante a destacar ya que este indica que un diodo 118.50
esta funcionado propiamente.
Aprender todo estos y muchos ms componentes y consejos tiles Aadir a la cesta
sobre reparacin con el siguiente libro sobre reparacin electrnica
Testeando SRC
El SCR es un diodo con una puerta de activacin adicional. Los SRC pueden ser conducidos
tan solo si estn polarizados directamente y se les aplica un pulso a la Gate o puerta de
activacin. Por esto, el SRC puede ser testeado de una manera similar a la del diodo,
mediante el uso de nuestro multmetro en Diode test-mode o con un hmetro.
ESR70 - Comprobador
automtico de
condensadores (In-
La sonda positiva se conecta al nodo y la negativa al ctodo de nuestro SRC. El multmetro
circuit & out circuit)
deber mostrar una resistencia muy alta. Hacemos un puente o jumper para activar
nuestro SCR mediante el la puerta Gate. Sin desconectar las sondas, tan solo puenteamos era 120.00
entre la sonda positiva y la puerta, entonces el multmetro deber mostrar un gran descenso 92.60
de la resistencia. Ahorra 27.40
Cuando el puente entre nodo y puerta es desconectado el SRC tal vez siga conduciendo o
Manual de uso ESR
tal vez no.
Sin gua
Eso depende de las propiedades de ambos, tanto las

del SRC como las del multmetro. Si la corriente de Aadir a la cesta
retencin del SRC es pequea, el hmetro podra ser
capaz de suministrar suciente corriente como para
mantenerlo encendido. Sin embargo, si la corriente
de retencin del SRC es alta, este se apagar tras la
desconexin del puente.
Algunos SRC de alta potencia pueden que tengan
una resistencia interna conectada entre el ctodo y
la puerta, para prevenir que el SRC se active debido
a pequeas interferencias que puedan surgir. Un
tcnico de mantenimiento que no es consciente de
la existencia de esta resistencia puede llegar a
diagnosticar errneamente como siendo un SRC con fugas entre ctodo y puerta. El valor de
esta resistencia se puede medir con un hmetro durante la prueba.
Testenando TRIACs:
El Triac es bsicamente un par SRC conectados en paralelo y en direccin opuesta, por lo que
el proceso de testeo es esencialmente el mismo que el del SRC. La sonda positiva es
conectada al MT2 y la negativa a MT1. Cuando la puerta est abierta el hmetro debe indicar
una resistencia innita. Entonces de manera similar al testeo del SRC, puenteamos entre
nodo y puerta observando as que se cumpla un gran descenso de la resistencia medida.
Esto nos indica que al menos uno de los SRC funciona.
Ahora le damos al vuelta a las sonda con respecto a nodo y 1 - 30 V/0 - 5 A - DC

ctodo. De nuevo si la puerta est abierta, el multmetro deber displayar resistencia innita Fuente de alimentacin
o fuera de rango. Puenteando desde MT2 con la puerta deberemos ver como la resistencia conmutada para
medida desciende generosamente, lo que nos est indicando un correcto funcionamiento
laboratorio
del segundo par de SRC, fcil, sencillo y para toda la familia.
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Aadir a la cesta
Testeando transistoresBJT
Los BJT son dispositivos que consisten en tres capas de material semiconductor y que
pueden ser NPN o PNP. Por lo tanto cada transistor puede ser representado como una
combinacin de dos diodos. El equivalente de un transistor NPN aparecer con referencia a
la base como los ctodos de ambos diodos conectados. Si el transistor es un PNP, el
equivalente ser con respecto a la base de ambos diodos conectados por los nodos. En
ambos ejemplos los dos terminales sobrantes de los diodos representaran el colector y
emisor. Ambas uniones PN del transistor se testean por separado como si fueran dos diodos
independientes. Si ambos diodos no presentan falla entonces el transistor funciona
correctamente.
La funcin Diode test-mode de nuestro multmetro puede ser utilizada para testear
transistores. Por ej, supongamos que tenemos un transistor tipo PNP para testear. La sonda
negativa la conectamos a la base del transistor y la sonda positiva al emisor y luego al
colector. De esta manera las uniones PN sern directamente polarizadas.
El multmetro deber leer entre 0.5v y
0.9 en ambos casos. Cuando la sonda
positiva es conectada a la base del
transistor en vede la negra y
repetimos el proceso, los diodos sern
inversamente polarizados y el
multmetro deber leer resistencia
muy alta en ambos casos. El
procedimiento para testear un
transistor NPN es idntico, pero
empezando por testear los diodos con
la sonda positiva en la base.
Si el multmetro no tiene diode test-mode el transistor puede testearse con el hmetro. La

ejecucin es similar a la descrita previamente. Pero es importante enfatizar de nuevo, que la
lectura de unos pocos cientos a unos pocos miles de ohmios de la polarizacin directa no
necesariamente indica un transistor con falla. Es ms bien una seal de que la fuente de
alimentacin de nuestro multmetro no es suciente como para polarizar directamente la
unin PN. La indicacin de fuera de rango para la polarizacin inversa del mismo transistor
indica claramente que el dispositivo esta funcionando correctamente. Lo importante aqu es
la diferencia entre los valores medidos y no su valor numrico como tal.
Qu puede pasar con un transistor en falla?
Un transistor con falla presentar en las uniones PN aproximadamente la misma resistencia

en ambas direcciones. De la misma manera que los diodos, la uniones PN de un transistor
fallado mostrarn una resistencia muy alta en ambas direcciones (Un circuito abierto
interno), o cero resistencia en ambas direcciones (corto circuito interno). Algunas veces una
unin PN daada muestra una ligera resistencia, que es igual en ambos sentidos. Por
ejemplo. El multmetro mide en ambas direcciones 1.2v en vez de el correcto 0.7v. En este
caso el transistor es defectuoso y tiene que ser reemplazado.
La mayora de multmetros son capaces de medir la ganancia en corriente de los transistores

bDC. Los tres terminales del transistor son conectados a un socket especial marcado como E,
B y C respectivamente. Entonces un valor conocido IB es aplicado al transistor y el IC
respectiva es medida. Como ya sabes, el ratio de IC/IB es igual a bDC. A pesar de que este es
un mtodo muy rpido y conveniente para comprobar un transistor, uno debe ser
consciente de que algunos multmetros miden el valor BDC con una precisin muy baja. Las
especicaciones del multmetro han de ser comprobadas antes de conar en el valor medido
de la ganancia de corriente. Algunos multmetros tienen la caracterstica til de chequear la
BDC dentro del circuito, aqu no hay necesidad de desconectar el transistor bajo sospecha
del resto del circuito y se puede comprobar directamente en la PCB.

Cuidado!!En ocasiones el transistor como tal no est daado, sino que el fallo puede ser
debido a que su circuitera externa no est operando correctamente. Por ejemplo, una
soldadora fra en la base del transistor que asla el contacto de la base del resto del circuito,
por lo que la tensin de polarizacin del transistor es de 0V, que har que el transistor este
en corte. Al comprobar un transistor como este desde el lado de los componentes de la PCB,
puede parecer estar funcionando correctamente.
Sin embargo, no hay seal a la salida.
Consejo: Haz los clculos en papel jndote en circuito tpico y haciendo una pequea
reingeniera inversa de ese transistor y los componentes de alrededor. Una vez puestos lo
nmeros sobre elpapel, deberas medir los mismos en el circuito. De esta manera
conseguirs comprender bien que estas midiendo y podrs determinar un anlisis ms
lgico de las posibles causas de la falla. El tema de investigar las causas de la falla es tan
importante como el proceso de bsqueda de fallos en s, aunque ya estemos tirando
cohetes al descubrir los componentes fallados, analizar las posibles causas nos pueden
conducir a ms fallas y en el mejor de los casos a reconocer sntomas similares en el futuro.
Hablar ms a fondo de esto en el articulo de estragetia de "Troubleshooting PCB" estrategia
de solucion de problemas.
Testeando amplicadores operacionales:
Los amplicadores operacionales son complejos y sosticados dispositivos que estn sujetos
a muchos fallos internos mientras se encuentran funcionando. Sin embargo, un amplicador
operacional como tal no puede ser testeado.
Si hubiera algn problema interno, no es posible detectarlo y repararlo.
Por lo tanto si el amplicador no funciona la nica opcin es reemplazarlo.
Por lo general hay tan solo unos pocos componentes externos a los amplicadores
operaciones. Un circuito tpico consiste en una resistencia de entrada, una resistencia de
feedback y un potencimetro para la compensacin del voltaje oset.
Si el circuito funciona mal, los componentes de

alrededor son los que tienen que ser testeados
primero. Puede haber soldaduras fras, o
componentes quemados o fuera de rango. Si no
es ninguna de las anteriores, tenemos que
chequear los contactos del mismo amplicador
operacional. Es posible que alguno de ellos este
daado. Finalmente, si todo lo dems parece
estar en buen funcionamiento, pero el circuito
sigue sin funcionar, podemos asumir que el
amplicador operacional: Esta daado. Es este
caso el amplicador es reemplazado tal y como
reemplazaras una resistencia, un transistor o
cualquier otro componente. Algunos fallo tpicos de amplicadores operacionales:
Voltaje de alimentacin: Esta es una de las primeras cosas que se deben ser
comprobadas (como en el caso de testea cualquier otro circuito). Un correcto voltaje de
alimentacin y tierra tiene que estar presentes. Debe recordarse que el nivel de voltaje de
alimentacin es bastante crtico para los CI.
Resistencia de feedback abierta: este fallo se traduce en un importante recorte de
voltaje a la salida, ya que el amplicado funciona a su mxima ganancia de voltaje (por ej.
El circuito para como esta como un amplicador en bucle abierto)
Cortocircuito de la resistencia de feedback: En este caso, la salida tiene que ser de la
misma que la entrada de la seal.
Entrada de circuito abierta: Es el caso de un amplicador inversor, no hay seal a la
salida, ya que no hay seal a la entrada. En el caso de un amplicador no inversor, la
ganancia es igual a 1 y la salida de voltaje sigue exactamente lo que haya a la entrada. En
otras palabras el amplicador actuar como un seguidor de voltaje.
Potencimetro mal ajustado: es fallo te traduce en tan solo el pico positivo o negativo
en la tensin salida.
Testeando FETs & MOSFET
Estos amigos son mucho ms complicados que los compaeros BJT, por eso aunque os dejo
aqu explicado lo bsico, ms adelante har un articulo con tcnicas para diagnsticar estos
transistores dentro y fuera del circuito.
Antes de testear un FET, es necesario saber si el transistor es un JFET o un MOSFET. A partir

de ah se tiene vericar si es de canal N o canal P. JFETs pueden ser testeados con un
hmetro ordinario.
Aparecer en el hmetro como dos

diodos conectados en serie entre el
drenador y el surtidor, la polaridad de
los diodos est invertida. El terminal de
la puerta es tomado desde el punto
medio entre ellos. En el caso de uno de
tipo canal-N, la puerta est conectada a
los nodos de ambos diodos. Si el
transistor es de tipo canal-P, la puerta
est conectada a los ctodos de ambos
diodos. La capa de aislamiento de SiO2
aparecer en el hmetro como una resistencia conectada ente el drenador y el surtidor en
paralelo a ambos diodos.
Por lo tanto los JFETs se pueden testear usando un hmetro testeando las uniones PN ente la
puerta y drenador por un lado y por otro la puerta y el surtidor. Si el JFET est en buenas
condiciones ambas uniones PN se comportarn de manera como un diodo normal,
mostrando una muy alta resistencia en una direccin y muy baja en la otra. Luego se mide la
resistencia entre drenador y surtidor, esta nos debe dar un cierto valor de resistencia que
depender de las caractersticas del JFET.
En el mejor de los casos la medicin de un MOSFET con un hmetro es una tarea muy difcil.
Esto es as porque una capa muy na de metal-oxido separa la unin de la puerta con el
canal. Esta propiedad de los MOSFET asegura una impedancia de entrada muy alta en el
dispositivo, pero lo hace vulnerable a daos permanentes incluso cuando se producen
pequeas tensiones estticas en los terminales del transistor.
De hecho un MOSFET puede ser daado

cuando lo tocamos con los dedos. Por esta
razn, los MOSFETs viene en paquetes que
proporcionan un conexin elctrica entre
todos los terminales para prevenir la
acumulacin de electricidad esttica.
MOSFETs pueden ser testeados

cuidadosamente con un hmetro de bajo
voltaje, congurado al mayor rango de
resistencia. N-MOSFET que funcionen
correctamente presentan
una cierta continuidad
entre el surtidor y el
drenador. Sin embargo no
debera haber ninguna
resistencia entre la puerta
y el drenador y la puerta y
el surtidor. P-MOSFET que
estn funcionando
correctamente no
muestran continuidad
entre ninguno de sus terminales.
Solucion de problemas en JFET polarizados:
No es una prctica recomendable desoldar un transistor FET para testarlo. Despus de una
inspeccin visual buscando componentes daados o malas soldaduras, lo voltajes en el
drenador y en el surtidor tiene que ser medidos con respecto a tierra. Un sntoma de fallo
tpico es el voltaje en el drenador, el cual es casi igual que el voltaje de alimentacin. Esta
condicin ocurre cuando la corriente del drenador es cero y por lo cual no hay cada de
voltaje a travs de la resistencia de drenador RD, los siguientes fallos pueden ser la causa:
Soldadura fra en RS (Resistencia del Surtidor aparece como un circuito abierto)
RS est daada o fuera de su rango
Soldadura fra en RD (Resistencia del Drenador aparece como un circuito abierto)
RD est daada o fuera de su rango
Soldadura fra en el terminal del surtidor
Soldadura fra en el terminal del drenador
Circuito abierto interno en el JFET entre el surtidor y la puerta
Otro sntoma tpico de fallo es un voltaje mucho menor del normal en el drenador. Esta
condicin ocurre cuando la corriente del drenador es ms alta de lo normal, en este caso la
cada de voltaje a travs de la RD resistencia es mayor. Los siguientes fallos pueden provocar
que esto suceda:
Soldadura fra en RG (La resistencia de la puerta aparece como un circuito abierto)
RG est daada o fuera de rango
Soldadura fra en el terminal de la puerta
Un circuito abierto interno en el JFET en el terminal de la puerta
Algunas de las fallas son muy difciles de solucionar. Un buen ejemplo es una puerta abierta
internamente en un D-MOSFET polarizado. Despus de que este fallo ocurra, la tensin de la
puerta el drenador sigue siendo la misma 0v. Por esta razn la corriente del drenador no
cambia su valor y la polarizacin parece estar correcta. En general el testeo de FETs es una
tarea mucho ms difcil y requiere de ms habilidades y experiencia que al testear BJTs.
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En resumen:
La mayora de los multmetros proporcionan funciones especiales para testear diodos y BJTs.
Sin embargo si tales funciones no estn disponibles, muchos componentes electrnicos
pueden ser testeados con un hmetro ordinario. Si un diodo esta en buenas condiciones, las
lectura del hmetro deben cambiar dealta a baja y viceversa cada vez que la sondas se
cambian entre nodo y ctodo. Los SRCs son testeados de forma similar, la nica diferencia
es un puente entre la puerta y nodo para activar el SRC. Cuando un SRC es activado, su
resistencia cae signicativamente de alta a baja. Los TRIACs son testeados como los SCR pero
en ambas direcciones. (ej. Las sondas son puestas al revs y el test es repetido). BJTs son
tratado como 2 diodos y cada uno de ellos es comprobado independientemente. FETs son
ms difciles de testear, hay que tener especial cuidado de no ocasionar descargas
electroestticas en ellos cuando son testeados. Los transistores JFET pueden ser
representados como 2 diodos conectados en serie con una resistencia adicional en paralelo
a ellos. Ambos diodos son testeados de forma independiente. Tambin se mide el valor de la
resistencia. Para encontrar fallos en transistores polarizados, en un principio, se calcula las
tensiones aproximadas en cada uno de los terminales del transistor y entonces medimos los
voltajes. Cualquier desviacin de los valores calculados son analizados lgicamente, lo cual
conduce esencialmente a encontrar
34 y corregir el problema. Los amplicadores operacionales
no pueden ser testeados comoLike los otros dispositivos, sino que todos los componentes
externos y soldaduras tienen que ser chequeados y si el circuito sigue sin operar
correctamente el AP es reemplazado.
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