Roteiros de F429 - Corrente alternada e ptica

Gustavo S. Wiederhecker
baseado nos roteiros do Prof. Hugo L. Fragnito

Contribuies:
Antnio Costa
Mario Souza Machado
Vladimir Gaal

Campinas, SP
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1 Interfermetros 2

1 Interfermetros

(a) Foto area do LIGO em Hanford, WA, (b) Impresso artstica de

EUA. No LIGO, cada brao do interfermetro uma par de estrelas em
de Michelson possui 2 km de extenso. Den- rotao. Segundo a Te-
tro de cada brao situa-se um interfermetro de oria da Relatividade Ge-
Fabry-Perot. A luz percorre centenas de vezes ral, a rotao das estre-
cada um dos braos antes de se interferirem no las emana ondas gravitaci-
espelho divisor. onais responsveis por dis-
torcer o espao-tempo.

Figura 1: Detector de ondas gravitacionais LIGO - Laser Inteferometer

Gravitational-Wave Observatory . No dia 15 de setembro de 2015 uma verso atu-
alizada dos interfermetros do LIGO (Advanced LIGO) iniciou suas atividades com sensibi-
lidade para detectar ondas gravitacionais emitidas a 225 milhes de anos-luz de distncia.
Se voc est curioso sobre estas ondas gravitacionais, sugiro a palestra do astrofsico Kip
Thorne "Black Holes: a New Golden Age", ministrada em comemorao dos 70 anos de
outro eminente fsico, Sir Stephen Hawking. Um livro tcnico que aborda o assunto o
Classical Theory of Fields, Landau e Lifshitz. Imagens: http://www.ligo.org.

1.1 Introduo
A interferncia um fenmeno comumente observado quando trata-se de ondas, o caso
eletromagntico (ou ptico) apenas um exemplo. A inteferncia ptica ocorre quando duas
fontes de luz com uma diferena de fase bem definida se sobrepem espacialmente, esta sobre-
posio define uma padro de intensidade que oscila periodicamente no espao. A explcita
dependncia destas oscilaes com a diferena de fase entre as duas ondas torna a interfern-
cia uma poderosa ferramenta para se medir distncias. Para compreender quantitativamente
este fenmeno recorremos ao princpio da superposio, segundo o qual o campo eletromag-
ntico resultante em um dado ponto do espao a soma linear dos campos gerados por todas
as fontes eletromagnticas vizinhas, algumas bastante distantes. Em favor da simplicidade,
consideremos o campo total gerado por duas fontes de luz em um ponto de observao de

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1 Interfermetros 3

(a) (b)
y
Espelho xe Fonte de
mvel (EM)
luz z x xe
x

l1 y z

Fonte de
luz

l2

Anteparo
Divisor
Espelho Espelho
de feixe (DF)
Espelho Fixo (EF) mvel (EM)
Anteparo fixo (EF)

Figura 2: Diagrama e exemplos de duas importantes classes de interfermetros

pticos. (a,d) Esquema de um interfermetro de Michelson (a) e de Fabry-Perot (d). O
espelho EM est preso a um parafuso micromtrico e pode ter sua posio controlada com
preciso submicromtrica. (b,e) Intensidade ptica observada em um ponto do anteparo
quando varia-se a posio do espelho. Em (e), as diferentes curvas representam inteferme-
tros Fabry-Perot montados com espelhos de diferentes refletivdades R. (c,f,g) Distribuio
transversal de intensidade observada no anteparo quando o interfermetros esto alinhados.

um anteparo qualquer,
E(r, t) = E 1 (r, t) + E 2 (r, t), (1)
sendo que (r) denota a posio no anteparo. Note que as duas fontes supostas acima podem
ser independentes, ou simplesmente a reflexo especular de uma mesma fonte como o caso
nos interfermetros; veja o esquema ilustrado nas Fig. 2(a,d). As principais consequncias
da interferncia so notadas quando detectamos o campo eletromagntico em um dado ponto
de observao. A frequncia ptica to alta, /2 300 1012 Hz que no conseguimos
detectar a variao do campo eltrico diretamente, em contraste com a corrente alternada
que pode ser observada diretamente em osciloscpios. Nestas altas frequncias, entretanto,
a energia dos ftons to grande (> 1 eV) que eles podem ser absorvidos pelas transies
eletrnicas de um tomo, molcula ou material semicondutor. No olho humano os ftons so
absorvidos por molculas, j nos fotodetectores comerciais eles so absorvidos principalmente
por materiais semicondutores (Si,Ge,GaAs, etc). Portanto, o que observamos a olho nu (ou
em um fotodetector) a mdia temporal da intensidade do campo eletromagntico1 ,

hIi = |E|2 = E E = |E 1 (r, t)|2 + |E 2 (r, t)|2 + 2< (E 1 (r, t) E 2 (r, t)), (2)
| {z }
termo de interferncia

Interfermetros so instrumentos que exploram o termo de interferncia na eq. (2) para

diversas aplicaes, entre elas podemos destacar,
1
Nesta notao E1 e E2 representam a amplitude complexa dos campos eletromagnticos, anloga
representao de fasores.

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1 Interfermetros 4

Medidas de distncia de alta preciso. Por exemplo, variaes de comprimento da

orderm de 1021 m, 1 milionsimo do tamanho de um prton, j foram demonstradas
nos interfermetros do LIGO, mostrado na Fig. 1);

Medidas de preciso do comprimento de onda de fontes de luz e absoro de molculas;

Medidas de planicidade de superfcies.

Medidas de modos de vibrao de slidos.

1.2 Objetivos
Entender os princpios e aplicaes de interfermetros pticos e utiliz-los tanto para me-
dir deslocamentos nanomtricos como para desvendar o contedo espectral de uma lmpada
de vapor metlico. Duas classes importantes de interfermetros, Michelson e Fabry-Perot,
cujos diagramas esquemticos esto ilustrados na Fig. 2. Neste semestre investigaremos
apenas o interfermetro de Michelson.

1.3 Teoria sobre o interfermetro de Michelson

(a) 2.0 (b)

1.5
Transmisso

Coordenada y

1.0

0.5

0.0
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0
Coordenada z
x/

Figura 3: Transmitnica de um interfermetro de Michelson com luz monocrom-

tica. (a) Intensidade ptica observada em um ponto do anteparo quando varia-se a posio
do espelho. (b) Distribuio transversal de intensidade observada no anteparo quando o o
espelhos do interfermetro esto perfeitamente ortogonais.

No interfermetro de Michelson2 , ilustrado na Fig. 2(a), o feixe de luz divido e recombi-

nado utilizando um nico divisor de feixes. Portanto as duas fontes de luz que se interferem
2
Inventado por Albert Abraham Michelson e utilizado no famoso experimento de Michelson-Morley para
testar a existncia do ter. Visite a pgina do grupo de deteco de ondas gravitacionais da universidade de
Birmingham (http://www.gwoptics.org/processing/michelson01/) para ter uma experincia interativa
com o intefermetro de Michelson.

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1 Interfermetros 5

so oriundas dos reflexos nos espelhos EM e EF , logo o campo eltrico no anteparo ter
duas contribuies,

E 1 (r, t) = E1 exp[i(kx1 t)]e1 (3)

E 2 (r, t) = E2 exp[i(kx2 t)]e2 (4)

Os termos ao final das equaes representam as amplitudes (E1,2 ) e as polarizaes dos cam-
pos (e1,2 ). No nosso experimento uma excelente aproximao assumir que as polarizaes
so idnticas3 , e1,2 p
= e. O divisor de feixe (DF ) utilizado tambm simtrico (50%) e
portanto E1,2 = E0 / (2), sendo que E0 a amplitude do campo eletromagntico da fonte.
Os argumentos das exponenciais complexas das Eqs. 3,4 so os mais importantes no nosso
estudo e representam a fase da onda eletromagntica; = 2/T a frequncia temporal da
onda; T o perodo temporal da onda. Analogamente, k = 2/ denominado o nmero
de onda e representa a frequncia espacial da onda, sendo o perodo espacial da onda (ou
comprimento de onda). Os termos x1 e x2 levam em considerao as diferentes distncias
percorridas pelo feixe de luz aps incidir no divisor de feixe (DF ), portanto, x1 = 2l1 e
x2 = 2l2 , conforme indica a figura Fig. 2(a). A intensidade no anteparo, analogamente
equao 2, ser dada por

I(x) E E = |E|2 (1 + < (exp(i2kx)) , (5)

sendo que x = (l1 l2 ) a diferena de distncia entre os dois caminhos ortogonais do

interfermetro. A Eq. 5 define a transmitncia do interfermetro de Michelson (TM ) e pode
ser escrita na forma,
hIi
TM = 1 + cos(2kx), (6)
I0

sendo que I0 E02 a intensidade do feixe de entrada. O comportamento da funo 1 +

cos(2kx) mostrado na Fig. 3. Note que o perodo desta funo ser = 2/(2k) =
/2, isto significa que ao deslocar o espelho mvel por uma distncia de /2, o
padro de interferncia se deslocar por uma franja completa. Se utilizarmos
um laser vermelho ( 633 nm), seremos capazes de identificar com preciso
deslocamentos da ordem de x 315 109 m ! Outro aspecto importante que
esta variao espacial da intensidade, como funo da posio do EM , ser observada para
qualquer ponto transversal do anteparo (veja Fig. 3(b)). Note que a oscilao transversal
do padro de interferncia, mostrado na figura 3(b), est relacionado simetria circular dos
feixe de luz. A padro de interferncia s ter o forma mostrada na 3(b) quando os os feixes
de luz forem perfeitamente colineares, ou seja, os espelhos e a direo do feixe de entrada
estejam perfeitamente alinhados.
3
Neste experimento no se utiliza nenhum componente capaz de "girar"a polarizao dos campos. Como
ambos feixes originam-se de uma nica fonte razovel assumir que possuem a mesma polarizao.

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1.3.1 Fontes de luz bicromticas

Lmpadas espectroscpicas funcionam com o princpio de descarga em gs, no qual uma
alta tenso entre dois eletrodos ionizam uma atmosfera de gs nobre (argnio, xennio, hlio,
etc.) ou vapor metlico (sdio, mercrio, cdmio, etc.). O gs ionizado forma um plasma
com uma alta densidade de eltrons livres que, ao serem acelerados pelo campo eltrico dos
eletrodos, colidem com tomos do gs e excitam nveis de energia mais elevados. Ao decair
para o estado fundamental, estes tomos emitem luz visvel com comprimento de onda (ou
frequncia) bem definido.

Energia

3p3/2

3p1/2

3s1/2

Figura 4: Nveis de energia do Sdio. A quebra de degenerescncia dos nveis 3p, indu-
zida pelo acoplamento spin-rbita no tomo de sdio, responsvel pelo dubleto amarelo.

Um exemplo interessante o caso da lmpada de sdio (utilizada tambm nos postes de

iluminao pblica) que emite luz amarela mas como uma sutileza: so dois comprimentos
de onda bastante prximos, indistinguveis a olho n. A origem deste comportamento est
associada a existncia de dois nveis de energia muito prximos do estado excitado do Na,
o nvel (3p1/2 e 3p3/2 )4 , mostrados na fig. 4. Em razo do eltron desemparelhado no nvel
3s do Na, o momento magntico de spin deste estado no nulo, o que o permite interagir
com o campo magntico gerado pelo movimento orbital do eltron atravs do fenmeno
denominado acoplamento spin-rbita [Walker et al., 2008]. O resultado prtico que a luz
emitida pelo Na no to pura quanto parece, na verdade ela composta de dois amarelos
ligeiramente distintos. Os interfermetros permitem-nos observar esta sutileza quntica do
Na.
A separao de energia entre os nveis pode ser estimada calculando a energia desta
interao,
E = gmB B, (7)
sendo que mB = 9, 27 1024 J/T o magneton de Bohr, que representa o momento
magntico associado orbita eletrnica, g 2 o fator de Land do eltron, e B a
densidade de fluxo magntico. A relao entre a separao de energia e a separao entre os
4
Esta notao para nveis de energia (3p1/2 ) indica que o o nmero quntico principal 3, o nmero
quntico orbital (associado ao momento angular orbital L) 2 (s = 1, p = 2, d = 3, ...), e o nmero semi-
inteiro (1/2) a projeo do momento angular total (L + S) na direo do campo magntico.

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comprimentos de onda da luz pode ser deduzido lembrando que a energia do fton dada
por E = h = hc/, sendo que h a constante de Planck. Tomando o diferencial da energia
dos ftons obtemos,
E = (E/), (8)
portanto pode-se calcular a densidade de fluxo magntico experimentada pelo eltron no
ncleo tomo de sdio atravs da relao.
hc
|B| = . (9)
gmB 2

1.3.2 Resposta do intefermetro de Michelson luz bicromtica

Para entender a resposta do interfermetro quando excitado por uma fonte de luz bicro-
mtica, como a do Na, basta considerarmos a intensidade total emitida por estas duas cores
nas expresses e 6. Como a excitao dos nveis 3p1/2 e 3p3/2 devido corrente eltrica,
este processo totalmente incoerente e a intensidade resultante uma soma das intensidade
de cada transio5 . No caso do Michelson temos (eq. 6),
hIi
= TM1 + TM2 = 2 + cos(2k1 x) + cos(2k2 x). (10)
I0
Se definirmos a soma e a diferena entre os nmeros de onda na forma,
 
k1 + k2 1 1
k = + , (11)
2 1 2
 
1 1
k k1 k2 = 2 , (12)
1 2
fcil mostrar que a intensidade pode ser escrita na seguinte forma,

cos(kx) . (13)
 
TM C = 2 1 + cos(2kx)

Como a diferena entre os comprimentos de onda muito pequena, fazemos 1,2 = /2,
neste caso k 2/
e k 2/ .
2

Note que a funo cos(2kx) cos (kx) aparece na equao 13. A importncia da mesma
que ela define a escala de variao espacial mais lenta da franja do interfermetro. Na
Figura 5 o comportamento da funo dada pela equao 13 em traos azuis translucidos. As
curvas em verde e vermelho representam as funes individuais, dadas pelas equaes 6. Na
cor cinza evidenciada a funo 1 cos (kx) cujo meio-perodo dado por,

2

= = (14)
k 2

5
Caso existisse alguma relao de fase bem definida entre a emisso das diferentes transies, teramos
que somar os campos eltricos e a intensidade iria exibir termos de interferncia entre as diferentes emisses.

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TM
1
Intensidade

TM
2

TM +TM
1 2

2(1+cos(2kx))
-
-6 -4 -2 0 2 4 6
Posio do espelho mvel (x)

Figura 5: Interferncia com luz bicromtica. (a) Padro de interferncia observado no

= 1 e = 0.1. O meio-perodo
interfermetro de Michelson. Neste grfico foram usados
de oscilao lenta indicado por .

Conclui-se portanto que ao transladarmos o espelho por uma distncia equivalente a um

perodo completo de oscilaes das franjas , poderemos calcular a separao espectral dos
nveis de energia do Na. Substituindo a eq. (14) na eq. (9) obtemos,

hc
|B| = . (15)
2gmB

Note que corresponde ao deslocamento do espelho, ainda necessrio converter este des-
locamento para a leitura do parafuso micromtrico, usando a relao xe = f xp .

1.4 Preparao
1. Assuma = 633 nm e grafique simultaneamente as transmitncias do interfermetro de
Michelson, dadas pelas eqs. 5 e 13 como funo da posio do espelho. Tente entender
como os parmetros fsicos (comprimento de onda das linhas do dubleto, comprimento
de onda central do dubleto, etc) afetam as curvas.
2. Revise o captulos 35 e 40 do volume 4 do livro Fundamentos da Fsica [Walker et al., 2008].

1.5 Material
Lasers de He-Ne (HeNe = 632, 82 0, 05), Lmpada de sdio.
Lmina difusora de luz.
Objetivas de microscpio para expanso do feixe do laser.

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1.6 Roteiro
Antes de prosseguir importante ressaltar aspectos de segurana pessoal,
assim como dos equipamentos utilizados. Tome sempre os cuidados abaixo durante o
experimento,

nunca aponte o feixe de luz laser na direo de um colega;

nunca olhe diretamente para a luz do laser ou qualquer reflexo da mesma;

todos os membros do grupo devem tirar relgios, anis e pulseiras que possam refletir
luz;

manuseie com muito cuidado os componentes, lmpadas, lasers, prismas, etc. Em

muitos casos eles custam vrios milhares de reais e merecem ser tratados com zelo.

Em resumo este experimento ser desenvolvido em quatro etapas que so detalhadas

abaixo,

1. Alinhamento dos interfermetros, seo 1.7.

2. Medidas de deslocamento e calibrao, seo 1.8.

3. Medida do comprimento de onda de uma lmpada de Sdio (Na), seo 1.9.

4. Medida do dubleto da lmpada de Na, seo 1.10.

1.7 Alinhamento dos interfermetros

(a) (b)
Feixe incidente Parafuso
Micromtrico EM
Polia

EF Parafuso da
DF EM Parafusos de ocular
alinhamento
Reflexo
espria

EF Ocular
Parafuso Feixe incidente
Parafusos de Micromtrico
alinhamento

Figura 6: Vista superior dos interfermetros disponveis no LF22. (a) Interfer-

metro de Michelson (b) Interfermetro de Fabry-Perot. Em ambos os casos, as linhas
vermelhas indicam a trajetria do fexe de luz aps o alinhamento do interfermetro.

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Para que os belos aspectos do interferncia ptica possam ser apreciados necessrio que
o interfermetro seja alinhado. Entende-se por alinhamento a condio na qual os feixes
pticos, refletidos nos diferentes caminhos do interfermetro, se sobrepem no anteparo. A
maneira mais rpida de obter esta condio incidir o laser diretamente (sem nenhuma
lente ao longo do caminho) sobre o intefermetro e observar as imagens formadas na parede.
Tipicamente observa-se diversas imagens e preciso entender a origem de cada uma delas
antes de prosseguir com o alinhamento. Cada intefermetro, Michelson, ou Fabry-Perot,
possui suas peculiaridades, abaixo destacamos pontos relevantes de cada um deles,

Michelson

(a) (b) (c)

EM EM EM

Bloqueio
opaco EF EF
EF

Laser Laser Laser

Lente
Bloqueio
LC LC Expansora LC
opaco
Reflexo Reflexo
espria espria
Anteparo Anteparo Anteparo

Figura 7: Sequncia de alinhamento do Michelson. (a) Bloqueie o feixe que atinge

o espelho fixo, gire e reposicione a base do interfermetro de forma a ter o feixe do laser
ortogonal ao feixe que sai em direo ao anteparo. Preste ateno polia do motor que
deve ficar tensionada ao final desta etapa. (b) Bloqueie o feixe que atinge o espelho fixo,
ajuste os parafusos laterais do espelho fixo e faa com que o feixe refletido coincida com
feixe refletido pelo espelho mvel (desbloqueie o feixe para verificar que ambos esto se
sobrepondo). Note que a lmina compensadora (LC) sempre produz uma reflexo espria
do feixe que retorna do espelho fixo.

1. posicione o laser na horizontal e oriente seu feixe paralelamente s laterais da mesa

de trabalho, garante que a altura do feixe compatvel com abertura de entrada do
interfermetro;
2. ajuste a base do interfermetro, conforme a Fig. 8(a);
3. ajuste os parafusos laterais de espelho fixo, conforme a Fig. 8(b);
4. verifique que os feixes oriundos dos dois espelhos, EM e EF , incidem sobre o mesmo
ponto no anteparo. Neste momento j possvel notar que ocorre interferncia no
anteparo;

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1 Interfermetros 11

5. adicione a lente que ir expandir o feixe e permitir a melhor visualizao da interfe-

rncia, conforme a Fig. 8(c);
6. faa um ajuste fino nos parafusos laterais do espelho fixo e otimize a figura de interfe-
rncia, voc dever visualizar figuras de interferncia similares6 s mostradas na figura
7;
7. Se voc vai usar o contador automtico de franjas, garante que a largura das franjas
seja comparvel com a o orifcio de entrada do contador.

(a) (b) (c)

Figura 8: Figuras tpicas observadas no interfermetro de Michelson. (a) Alinha-

mento colinear perfeito (b) Espelho fixo ligeiramente desalinhado. (c) Espelho fixo com
desalinhamento considervel. Note que qualquer uma das condies acima suficiente para
realizar o experimento, o importante que seja possvel contar a alternncia das franjas
quando o espelho mvel se desloca.

1.8 Medida de deslocamento do espelho

Nesta etapa o objetivo usar o interfermetro para determinar o deslocamento do espelho
mvel. Isto ser possvel pois conhecemos com preciso o comprimento de onda do laser de
HeNe (HeNe = 632, 82 0, 05 nm). Usaremos as franjas observadas no anteparo como nossa
rgua. Da equao 6 e seus respectivos grficos, mostrados nas figuras 3, sabemos que o
deslocamento do espelho (xe ) pode ser contado em termos do nmero de franjas deslocadas
(N ), ou seja,
HeNe
xe = N . (16)
2

Se considerarmos o erro na contagem de franjas de N = 1/2, conclumos que a preciso

absoluta da nossa medida ser xe 160 nm, um nmero dificilmente tangvel com outras
6
A condio mostrada na Fig. 8(a) indica que o alinhamento est perfeito. Entretanto, interessante sair
ligeiramente desta condio para contar as franjas, por exemplo, a condio mostrada na Fig. 8(b) facilita
a contagem das franjas

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1 Interfermetros 12

tcnicas de medida. Podemos utilizar esta medida associada obtida da escala do parafuso
micromtrico que aciona o espelho mvel para determinar o fator de reduo da alavanca
responsvel por suavizar o movimento do espelho mvel EM . Se denotarmos este fator por
f , podemos escrever xe = f xp sendo que xp o deslocamento do parafuso micromtrico.
Utilizando a Eq. 16 obtemos a relao desejada,

HeNe
f =N . (17)
2xp

importante medir f com alta preciso pois as demais medidas do experimento dependero
de f , o limite ltimo para nossa medida dado pela preciso do comprimento de onda
do laser (/ 0, 008%). A preciso absoluta do parafuso micromtrico xp 5m,
portanto se desejarmos um erro relativo comparvel ao do laser, deveramos deslocar o
parafuso por xp xp /0, 008% 62, 5 mm. Como o valor de f 0, 2, a Eq. 17 implicaria
que tal preciso requer a contagem de N 4 104 franjas. Este nmero impraticvel com
a tcnica de contagem manual utilizada neste experimento e teremos que nos satisfazer com
uma preciso menor. Um nmero de franjas razovel de se contar N 500, implicando
em uma preciso relativa N/N 0, 1% e xp = N /(2f ) 790m, portanto a preciso
relativa no deslocamento do espelho ser xp /xp 1, 3%. Note que xp /xp passa ser o fator
dominante no erro da medida de f , portanto importante ler a escala do parafuso
micromtrico com bastante ateno.

1.9 Determinando o comprimento de onda de uma fonte desconhe-

cida
Nesta etapa o objetivo usar o interfermetro calibrado para determinar o comprimento
de onda de uma lmpada de vapor de Sdio (Na) de baixa presso. Nesta lmpada os tomos
de sdio (nmero atmico Na = 11) so excitados do estado fundamental (nvel 1s) para um
estado excitado (nvel 3p) e decaem emitindo a cor amarela, correspondente diferena
de energia entre estes dois estados eletrnicos. Esta natureza quntica da luz emitida lhe
confere um alto grau de monocromatismo. Para encontrar este comprimento de onda usando
os interfermetros escrevemos a Eq. 17 na forma,

2f xp
Na = . (18)
N

O procedimento de medida o mesmo utilizado para calibrar o interfermetro, entretanto

utilizaremos a lmpada de Na como fonte de luz. Novamente importante questionar a
preciso da medida. Se conhecemos f com preciso de f /f 1, 3%, queremos garantir
que mediremos um nmero suficiente de franjas para no aumentar significativamente esta
impreciso, se medirmos o mesmo nmero de franjas medidos durante a calibrao, a preciso
na leitura do parafuso ser tambm xp /xp 1, 3% e portanto podemos esperar uma preciso
de Na /Na 3%. Dois cuidados devem ser tomados durante esta medida,

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1 Interfermetros 13

1. coloque a lmina difusora entre a lmpada e a abertura de entrada do interfermetro,

repare na diferena e reflita sobre o papel da lmina difusora;
2. olhe diretamente para a sada de luz do interfermetro, no possvel ver as franjas na
parede;
3. procure uma posio do parafuso na qual a visibilidade seja boa, estas acontecem
imediatamente aps uma regio de baixa visibilidade (exploraremos a seguir a causa
desta oscilao de visibilidade) .

1.10 Determinando a separao de frequncia do dubleto do Sdio.

Nesta etapa iremos explorar o comportamento dos interfermetros luz bicromtica.
1. Analisaremos o dubleto da lmpada de sdio (Na), medindo a separao espectral das
linhas.
2. Determinaremos a densidade de fluxo magntico percebido pelos eltrons da camada
3p do Na.
Vocs devem ter notado durante a etapa anterior que o interfermetro de Michelson
apresenta uma mudana na visibilidade das franjas de interferncia quando o espelho mvel
era deslocado. Esta mudana de visibilidade ocorre devido ao batimento entre as duas
emisses amarelas da lmpada de Na, como mostrado na fig. 5. Para visualizar estas franjas,
1. coloque a lmina difusora entre a lmpada e a abertura de entrada do interfermetro,
repare na diferena e reflita sobre o papel da lmina difusora.
2. gire o parafuso micromtrico rapidamente, entre duas e trs rotaes, pausando breve-
mente a cada 200-300 m;
3. ao identificar uma regio de visibilidade nula, anote a posio do micrmetro e volte a
girar o parafuso at encontrar a prxima posio;
4. note que a distncia percorrida pelo espelho entre sucessivas regies de visibilidade
nula , aproximadamente, a mesma.

1.11 Para o relatrio

1. Mostre os resultados e os erros propagados de todas as etapas do experimento.
2. Compare o valor obtido para a lmpada de Na com o valor nominal ( 589 nm).
Justifique, levando em conta os erros propagadas em cada etapa, possveis fontes de
discrepncia. A propagao de erros forneceu um desvio padro suficiente para justi-
ficar a discrepncia do valor mdio?
3. Calcule o valor do campo magntico no tomo de sdio, calcule os erros, compare com
valores de referncia.

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BIBLIOGRAFIA 14

Bibliografia

[Walker et al., 2008] Walker, J., Halliday, D., and Resnick, R. (2008). Fundamentals of
physics. Wiley, Hoboken, NJ, 8th ed. edition.

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