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Este teorema es en extremo importante y til.

Se utiliza, por ejemplo, en las imgenes en movimiento, que consisten en una


secuencia de cuadros individuales, cada uno de los cuales representa una vista instantnea (es decir, una muestra en tiempo)
de una escena que cambia continuamente. Cuando estas muestras son vistas en una secuencia a una velocidad
suficientemente rpida, percibimos una representacin precisa de la escena original en movimiento continuo. Otro ejemplo
son las imgenes impresas, las cuales por lo general consisten de una fina malla de puntos, cada uno de ellos correspondiente
a una muestra de la imagen continua en el espacio que se representa en la impresin. Si las muestras estn lo suficientemente
cercanas unas a otras, la imagen parecer ser continua en el espacio, aunque al verla con una lupa su representacin en
trminos de muestras se hace evidente.

Gran parte de la importancia del teorema de muestreo reside en su papel de puente entre las seales continuas y las discretas.
Como veremos en este captulo, el hecho de que. bajo ciertas condiciones, una seal continua se pueda recuperar por
completo a partir de una secuencia de sus muestras, proporciona un mecanismo para representar una seal continua mediante
una seal discreta. En muchos contextos, el procesamiento de seales discretas es ms flexible y a menudo se prefiere al
procesamiento de seales continuas. Esto se debe en gran parte al impresionante desarrollo de la tecnologa digital en las
ltimas dcadas, lo cual da como resultado la disponibilidad de sistemas discretos de bajo costo, ligeros, programables y de
fcil reproduccin. As. el concepto de muestreo sugiere un mtodo en extremo atractivo y ampliamente empleado en la
tecnologa de sistemas discretos para construir sistemas continuos y procesar seales de este tipo: expo* tamos el muestreo
para convertir una seal continua a una seal discreta, procesar la seal discreta usando un sistema discreto, y despus,
convertirla de nuevo a una seal continua.

REPRESENTACIN DE UNA SEAL CONTINUA MEDIANTE SUS MUESTRAS:

EL TEOREMA DE MUESTREO

En general, no deberamos esperar que, en la ausencia de cualquier condicin o informacin adicionales,


una seal pudiera ser especificada unvocamente por una secuencia de muestras igualmente
espaciadas. Por ejemplo, en la figura 7.1 mostramos tres diferentes seales continuas, las cuales tienen
valores idnticos en mltiplos enteros de Tiesto es,
Claramente, hay un nmero infinito de seales que pueden generar un conjunto dado de
muestras. Sin embargo, como veremos ms adelante, si una seal es de banda limitada, es
decir, si su transformada de Fouricr es cero fuera de una banda finita de frecuencias, y si las
muestras son tomadas lo suficientemente cercanas unas de otras en relacin con la
frecuencia ms alta presente en la seal, entonces las muestras especifican unvocamente a
la seal y podemos reconstruirla perfectamente. Este resultado se conoce como el teorema
de muestreo, y es de gran importancia en la aplicacin prctica de los mtodos de anlisis de
seales y sistemas.

http://www.dicis.ugto.mx/profesores/ljavier/documentos/Lec01%20-%20Teorema%20de
%20Muestreo.pdf

si se conoce la mxima frecuencia de una determinada clase de seal, se puede


especificar la velocidad de muestreo necesaria para convertir las seales
analgicas en seales digitales. Si se supone que cualquier seal analgica se
puede representar como una suma de senoides de diferentes amplitudes,
frecuencias y fases, es decir

donde N indica el nmero de componentes de frecuencia. Todas las seales,


como las de voz video se prestan a dicha representacin en cualquier intervalo
de tiempo pequeo.

Normalmente, las amplitudes, fases y frecuencias varan lentamente de un


intervalo de tiempo al siguiente. Si se supone que la frecuencia de una
determinada seal no excede una frecuencia mxima conocida Fmax.

Por ejemplo, si Fmax = 3KHz, para seales de voz y Fmax = 5MHz para seales
de video, se puede ver que la mxima frecuencia puede variar ligeramente, y
para asegurar que Fmax no sobrepase determinado valor, la seal analgica es
pasada a travs de un filtro que atene fuertemente las componentes de
frecuencia por encima de Fmax. En la prctica, este filtrado se realiza antes del
muestreo. Se sabe que la frecuencia ms alta de una seal analgica que puede
reconstruirse sin ambigedad cuando la seal se muestrea a una velocidad de Fs
= 1/T es Fs /2. Cualquier frecuencia por encima de Fs/2 o por debajo de Fs/2
produce muestras que son idnticas a las correspondientes a las frecuencias
dentro del intervalo Fs /2 F Fs /2.

Para evitar las ambigedades, que resultan del aliasing, se debe seleccionar una
velocidad de muestreo lo suficientemente alta, esto es, se debe escoger a Fs /2
mayor que a Fmax. Por lo tanto para evitar el problema de aliasing, se selecciona
a Fs como Fs > 2F

Teorema: Si la frecuencia ms alta contenida en una seal analgica


xa(t) es Fmax = B y la seal se muestrea a una velocidad Fs > 2Fmax,
entonces xa(t) se puede recuperar totalmente de sus muestras
mediante la siguiente funcin de interpolacin:

As, xa(t) se puede expresar como

donde xa(n/Fs ) = xa(nT) = x(n). Cuando el muestreo de xa(t) se realiza a la tasa


mnima de muestreo Fs =2B, la formula de reconstruccin (1.15) se transforma
en
La tasa de muestreo dada por FN = 2B = 2Fmax, se denomina tasa de Nyquist.
La Figura 1.12 ilustra el proceso de un DAC ideal que usa esta funcin de
interpolacin

http://zaloamati.azc.uam.mx/bitstream/handle/11191/82/217840%20BAJ
O.pdf?sequence=1
https://www.uam.es/personal_pdi/ciencias/fchamizo/libreria/fich/APcava
n.pdf
http://www.naser.cl/sitio/Down_Papers/Manual%20Basico%20Telefonia
%20Tradicional.pdf
Bibliografa
Avils Cruz , Carlos y Rodrguez , Ezequiel. 2003. Analsis de Seales. Primera.
Mexico : s.n., 2003. 970-654-967-6.

Cabeza Galan, Antonio. 2000. Fundamentos Bsicos de las Telecomunicaiones.


Madrit : s.n., 2000.

Chamizo, Fernando . 2012-2013. uam.es. uam.es. [En lnea] 2012-2013. [Citado el:
11 de 04 de 2017.]
https://www.uam.es/personal_pdi/ciencias/fchamizo/libreria/fich/APcavan.pdf.

Morales Mendoza, Dr. Luis Javier . 2015. dicis.ugto.mx. [En lnea] 12 de 10 de


2015. [Citado el: 10 de 04 de 2017.]
http://www.dicis.ugto.mx/profesores/ljavier/documentos/Lec01%20-%20Teorema
%20de%20Muestreo.pdf.

Oppenheim, Alan y Willsky, Alan. 1997. Seales y Sistemas. [ed.] Pablo Eduardo
Roig Vsquez. [trad.] Ing. Gloria Mata Hernadez. Segunda. Mexico : s.n., 1997. pg.
514. 970-17-0116-X/0-13-814757-4.

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