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CAPITOLO 3 Struttura cristallina e amorfa dei materiali

ESERCIZI CON SOLUZIONE SVOLTA

Problemi di conoscenza e comprensione

3.1
(a) una disposizione regolare, 3D di atomi o ioni nello spazio, (b) una disposizione tridimensionale di punti
ciascuno dei quali ha lo stesso ambiente geometrico, (c) un punto della disposizione in un reticolo
cristallino, (d) unit adeguata, la pi piccola e ripetitiva di un reticolo cristallino, (e) un gruppo di atomi che
sono organizzati uno rispetto allaltro e sono associati con un unto reticolare, (f) dimensioni di lunghezza o
angoli che caratterizzano la geometria di una cella unitaria.

3.2 Cubica semplice, cubica a corpo centrato, cubica a facce centrate, tetragonale semplice,
tetragonale a corpo centrato, ortorombica semplice, ortorombica a base centrata, ortorombica a corpo
centrato, ortorombica a facce centrate, romboedrico semplice, esagonale semplice, monoclina semplice,
monoclina a base centrata e triclinica semplice.

3.3 Gli indici di Miller sono innanzitutto determinati identificando le intercette frazionali che il piano ha
con gli assi cristallografici x, y e z della cella unitaria cubica. In seguito, tutte le frazioni devono essere
eliminate cos da ottenere il gruppo di numeri interi pi piccolo. La notazione generale utilizzata per
indicare questi indici (hkl), dove h, k e l corrispondono rispettivamente agli assi x, y e z.

3.4 (hkil)

3.5 (a) non ha piani densamente impaccati; (b) piani {111}; (c) piani (0001)

3.6 Un metallo viene considerato poliformo se pu esistere in pi di una forma cristallina sotto
differenti condizioni di temperatura e di pressione.

3.7 Figura 3.22 del testo

3.8 Radiazione K: originata dalla caduta dal secondo (n = 2) al primo livello (n = 1). Radiazione K:
originata dalla caduta dal terzo (n = 3) al primo livello (n = 1).

3.9 Linterferenza distruttiva avviene quando i pattern donda di un raggio X, riflesso da un cristallo,
sono fuori fase. Al contrario, quando i pattern donda che lasciano un piano di cristallo sono in fase, avviene
linterferenza costruttiva e il raggio rinforzato.
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Problemi di applicazioni e analisi

3.10 R = 0.144 nm

3.11

3.12

(a) per i reciproci (b) per i reciproci (c) per i reciproci


sono: x=1, y=-1, z=-1 sono: x=1, y=, z=- sono: x=1, y=-, z=-1

(d) per i reciproci (e) per i reciproci (f) per i reciproci


sono: x=, y=1, z=-1/3 sono: x=1/3, y=-, z=1 sono: x=1/3, y=, z=-

(g) per i reciproci (h) per i reciproci (i) per i reciproci


sono: x=, y=, z=-1 sono: x=-, y=1, z=- sono: x=-, y=1/3, z=

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(j) per i reciproci (k) per i reciproci (l) per i reciproci
sono: x=1, y=1/3, z=-1/3 sono: x=1/3, y=-1, z= sono: x=-1/3, y=1/3, z=-1

3.13

(a) (1,0,0), (1,0,1), (b) (1,0,0), (1,0,1), (c) (1,0,0), (0,0,1),


(1,1,0), (1,1,1), (0,1,0), (0,1,1), (0,1,0), (,0, ),
(1, ,) (,,0), (,,1) (,,0), (0, , )

3.14

3.15

3.16

3.17 (a) 3.29 106 mm; (b) 2.33 106 mm; (c) 3.80 106 mm

3.18 - 3.55%

3.19 Riferendosi alla Fig. 3.28c del testo, perch questi raggi siano in fase, il raggio 2 deve percorrere
una distanza addizionale pari a MP + PN. Questa lunghezza aggiuntiva deve essere un numero intero di
lunghezza donda .
n= MP + PN dove n = 1, 2, 3
Inoltre, le distanze MP e PN devono equivalere a dhklsin, dove dhkl lo spazio interplanare del cristallo
richiesto per linterferenza costruttiva.
MP = dhklsin e PN = dhklsin
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Sostituendo,
n = 2dhklsin Legge di Bragg

3.20 d220 = 0.1442 nm; = 0.154 nm

Problemi di sintesi e di valutazione

3.21 (a) no, (b) no, (c) no, (d) no. A T > 912C: (a) s, (b) no, (c) s, (d) s

3.22 (a) s, (b) no, (c) s, (d) s

Problemi di sintesi e di valutazione

3.23 In figura 2.18a, Cs+ e I- saranno in continuo contatto lungo la diagonale del cubo. La cella unitaria
contiene 1 ione I- e 1 ione Cs+.
Dalla figura,
Quindi,
a = 0.445 nm

FCA = 0.708 che leggermente pi alto di 68% dei metalli CCC.

rCs+

2rI-

rCs+

3 a

3.24 Dal momento che i raggi sono significativamente diversi, RFe = 0.124 nm e RW = 0.141 nm, anche le
costanti reticolari saranno diverse:

; aW sar maggiore di aFe

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Sia il numeratore sia il denominatore aumentano per il tungsteno, mantenendo lo stesso rapporto.

3.25 (8 1 0)
Z

0.125

0.25
z

Y
0.125
0.25

3.26 (1 3 3)
Z

1 Y

2/3

3
2/3

3.27
a1 = -1 h = -1

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a2 = 1 k=1

c= l=0

h + k = -i i = -(h + k)

i = -(-1 + 1) = 0

( 1 0 0)

a3

a2

a1

3.28

a1 = 1 h=1

a2 = 1 k=1

c = 0.5 l=2

i = -(h + k) = -(1 +1) = -2


a) il piano (1 1 2)
b) -0.5

3.29 Grafite, diamante, buckyball, buck tube, fuliggine.

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C

0.5

a3

1 a2
a1 1
intercetta a3 -0.5

3.30 S, questo potrebbe rappresentare un problema. Quando la temperatura si abbassa o quando il


substrato si raffredda, i due materiali (silicio e nitruro di alluminio) si contrarranno in modo diverso. Questo
potrebbe causare cricche nel substrato dovute a sforzi termici residui.

3.31

(a) Il materiale amorfo o vetroso.

(b) Misurare densit propriet magnetiche, propriet elettriche, resistenza meccanica e spettrometria (per
determinare come fatto).

3.32 Ci sono fattori che inibiscono la formazione di una disposizione ordinata periodica di atomi o di
molecole in alcuni materiali a causa della formazione di strutture amorfe. Nei polimeri, il fattore principale
lesistenza di legami secondari tra le molecole che non permettono un posizionamento stretto e parallelo
delle molecole in tutto il materiale. Nei vetri ceramici, anche una modesta velocit di raffreddamento
fermer la progressione della cristallizzazione e il vetro diventer amorfo.

3.33 I metalli, come i vetri ceramici, cristallizzano (formano una struttura cristallina) da uno stato fuso
molto velocemente. Per terminare il processo di rapida cristallizzazione, si dovrebbero applicare delle
velocit di raffreddamento estremamente veloci per congelare gli atomi nel loro stato disordinato mentre
nello stato fuso.

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