Prticas com o Multmetro no teste de Componentes

Ant

Incio

Teste/anlise de alto-falante

Anlise do TRIAC

Medio e anlise de resistores

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pgs.

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O multmetro o instrumento mais empregado no teste e verificao de componentes

eletroeletrnicos. Neste artigo apresentamos algumas prticas para testar diversos tipos de
componentes e analisar os resultados obtidos, utilizando sempre esse aparelho.

Filipe Pereira filipe.as.pereira@gmail.com

Anlise e identificao dos terminais de um diodo com um
multmetro

Se o nodo e o ctodo do diodo esto identificados:

Selecionar atravs do comutador rotativo do multmetro a posio de anlise de junes

PN (figura 0);

Ligar as pontas de prova ao multmetro;

Ligar a ponta de prova vermelha do multmetro (+ da pilha interna) ao nodo (A) e a

ponta de prova preta (- da pilha interna) ao ctodo (K). No display dever aparecer um
certo valor da resistncia da juno PN;

Ligar a ponta de prova vermelha do multmetro (+ da pilha interna) ao ctodo (K) e a

ponta de prova preta (- da pilha interna) ao nodo (A). No display dever aparecer a
indicao de resistncia infinita;

O diodo sob teste est em bom estado.Veja o multmetro digital na figura 1.

F0. Posio de anlise de junes PN no multmetro.

F1. Multmetro Digital.

Se o nodo e o ctodo do diodo no esto identificados:

Selecionar atravs do comutador rotativo do multmetro a posio de anlise de junes

PN (figura 0);

Ligar as pontas de prova ao multmetro;

Ligar a ponta de prova vermelha do multmetro (+) a um dos terminais e a ponta de

prova preta (-) ao outro terminal.

Se no display aparecer um certo valor de resistncia, sinal que estamos polarizando

diretamente a juno PN. Logo o terminal do diodo que entrou em contato com a ponta de prova
vermelha o nodo (A) e o terminal que entrou em contato com a ponta de prova preta o
ctodo (K).

Se no display aparecer a indicao de resistncia infinita, sinal que estamos polarizando

inversamente a juno PN. Logo, o terminal do diodo que entrou em contato com a ponta de
prova vermelha o ctodo (K) e o terminal que entrou em contato com a ponta de prova preta
o nodo (A); O diodo sob teste est em bom estado. Observe a figura 2.
F2. Conceito terico sobre a polarizao de um diodo (Juno PN).

Anlise de tiristores com um multmetro

Para a comprovao de um tiristor ( repare nas figuras 3 e 4), pode-se utilizar a funo de
anlise de junes PN (figura 0) de um multmetro. Com as pontas de prova ligadas em
qualquer sentido, o componente no deve conduzir entre os seus terminais de nodo e ctodo,
indicando um valor de resistncia infinita.

F3. Exemplos de Tiristores.

F4. Estrutura interna de um Tiristor.

Se medirmos a resistncia entre o nodo e a gate, com as pontas de prova ligadas em qualquer
sentido, a resistncia medida deve tambm ser infinita.

Podemos fazer uma comprovao aproximada da gate, aplicando um teste idntico aos
terminais de gate e ctodo. Se aplicarmos uma polarizao direta (gate positiva e ctodo
negativo), a resistncia indicada pelo multmetro deve ser baixa. Se pelo contrrio polarizarmos
inversamente (gate negativa e ctodo positivo), a resistncia indicada pelo multmetro deve ser
alta.

Pode-se realizar um teste melhor, com o multmetro na funo de anlise de junes PN (figura
0), seguindo o processo descrito na figura 5. Primeiramente, ligar a ponta de prova positiva ao
nodo e a negativa ao ctodo. Colocar em curto-circuito por breves instantes o terminal de gate
com o nodo: dever obter-se uma leitura bastante baixa.
F5. Anlise de um Tiristor com o multmetro.

Ao deixar este curto-circuito, dever todavia obter-se uma leitura bastante baixa, uma vez que o
tiristor entrou em conduo, e a corrente dever ser suficiente para proporcionar a manuteno
deste estado (a corrente poder ser insuficiente para produzir o efeito de manuteno) .

Se uma das pontas de prova se desligar e voltar novamente a ligar, o tiristor dever bloquear
(no conduz), obtendo-se novamente uma leitura de elevada resistncia.

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Teste/anlise de um alto-falante com um multmetro

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Veja, agora, a ilustrao apresentada na figura 6. Com um multmetro pode-se medir a

resistncia da bobina e, em certos casos, provocar o movimento do cone do alto-falante. Se
utilizar um multmetro analgico, dever selecionar a escala x1, colocando uma ponta de prova
fixa num dos terminais do alto-falante e com a outra ponta de prova raspa-se no outro terminal.
O ponteiro dever deslocar-se sobre a escala (indicando o valor da resistncia da bobina) e deve
ouvir-se um pequeno rudo produzido pelo movimento do cone do alto-falante.
F6. Anlise de um alto-falante com um multmetro.

Se utilizar um multmetro digital, ele indicar a resistncia da bobina, mas o alto-falante no

produzir rudo.

Se o ponteiro do multmetro analgico no mexer (R = ), o alto-falante est aberto. Observe a

figura 7. Se o ponteiro do multmetro analgico for a zero e no sair rudo, o alto-falante est
em curto. Figura 8.
F7. Alto-falante bom.

F8. Alto-falante ruim.

Este teste no 100% confivel. s vezes a bobina do alto-falante est boa, mas ele est com
outro tipo de defeito como, por exemplo, o cone rasgado, o entreferro da bobina mvel sujo, etc.

Anlise de um MOSFET de enriquecimento com um

multmetro

Evitar tocar com as mos nos terminais dos FET j que todos eles, mas especialmente os de
tecnologia MOS, so sensveis a cargas eltricas estticas que podem danificar
permanentemente a sua estrutura interna.

Como verificar com um multmetro se um MOSFET de

enriquecimento est em bom estado?

Vamos utilizar como exemplo o tipo BS170. que um NMOS de enriquecimento

(Enhancement). Veja a figura 9.
F9. MOSFET BS170.

Colocar o comutador rotativo do multmetro na posio de anlise de junes PN

(figura 0);

Como o MOSFET de enriquecimento no tem o canal formado, a resistncia indicada

entre o Dreno (D) e a Fonte (S) deve ser infinita, seja qual for a polaridade aplicada
(exceto na situao de existir um diodo de proteo interno que fique polarizado
diretamente - fonte positiva em relao ao dreno); Figura 10.

Colocar a ponta de prova positiva (vermelha) na gate (G) e a ponta de prova negativa
(preta) na fonte (S), o que ir induzir a criao do canal N entre o dreno e a fonte;

Agora, seja qual for a polaridade aplicada pelas pontas de prova aos terminais de dreno
e de fonte, verificamos que passou a haver conduo entre eles e uma certa resistncia
que depende da dopagem do material semicondutor que forma o canal.
F10. Smbolo do MOSFET com diodo de proteo.

Observao: Para um PMOS de enriquecimento (Enhancement) os procedimentos so

idnticos, tendo-se s que trocar a polaridade das pontas de prova.

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Anlise do TRIAC com um multmetro

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Para comprovao de um TRIAC pode-se utilizar a funo de anlise de junes PN (figura 0)

de um multmetro. De maneira semelhante ao tiristor, uma comprovao de resistncia entre os
terminais MT1 (ou T1) e MT2 (ou T2) dever indicar uma resistncia infinita (juno PN
inversamente polarizada), independentemente da polaridade das pontas de prova. Atente para a
figura 11.
F11. TRIAC.

Se medirmos a resistncia entre o terminal MT1 e a gate (G), com as pontas de prova ligadas em
qualquer sentido, a resistncia medida dever indicar um valor baixo (juno PN diretamente
polarizada). Repare na figura 12.

F12. Smbolo eletrnico do TRIAC.

Empregando o mesmo procedimento de ensaio de disparo/manuteno para o tiristor, o
resultado deve ser exatamente igual com o TRIAC. Colocando as pontas de prova do multmetro
nos terminais MT1 e MT2 e curto-circuitando por breves instantes o terminal de gate com o
terminal MT2 (independentemente da polaridade), dever obter-se uma leitura bastante baixa
(provocou-se o disparo do TRIAC). Ao deixar este curto-circuito, poder obter-se ainda uma
leitura bastante baixa, j que o TRIAC entrou em conduo (isto se a corrente for suficiente para
proporcionar a manuteno do estado de conduo). Figura 13. Se uma das pontas de prova se
desligar e voltar novamente a ligar, o TRIAC dever bloquear (no conduz), obtendo-se
novamente uma leitura de elevada resistncia.

F13. Anlise de um TRIAC com um multmetro.

Observao: A corrente (IT) poder ser insuficiente para produzir o efeito de manuteno (IT
< IH).

Medio e anlise de capacitores com um multmetro

Olhe, agora, para a figura 14.

F14. Entrada do multmetro para colocao do capacitor.

Se dispusermos de um capacmetro ou de um multmetro

digital com escala de capacitncias:

Se conhecermos o valor da capacitncia (atravs do cdigo de cores ou do cdigo alfanumrico),

deveremos selecionar o campo de medida imediatamente acima desse valor.

Se no dispomos de um capacmetro ou de um multmetro com escala de capacitncias:

Selecionar o campo de medida de resistncias;

Ligar as pontas de prova do multmetro aos terminais do capacitor. Respeitar a

polaridade do capacitor se for eletroltico (de alumnio ou de tntalo); Figura 15;

Se a resistncia do capacitor sob teste der 0 , o capacitor est em curto-circuito;

Se a resistncia do capacitor sob teste der (infinito), o capacitor est em bom estado
(j que est sendo medida a resistncia do dieltrico).
F15. Anlise de um capacitor com um multmetro.

Para observar a carga do capacitor:

Ao ligar inicialmente o multmetro (como ohmmetro) muito provvel que se obtenha uma
leitura baixa (da resistncia) carga do capacitor corrente elevada, mas a resistncia
rapidamente subir at um nvel muito elevado (quando a tenso no capacitor = tenso na fonte
I = 0 logo R = ). O tempo que o capacitor demora em carregar-se por completo depende:

Da escala de resistncia empregada (se a escala R elevada I fraca T de carga

grande);

Do valor da capacidade do capacitor (C T carga ).

Se o capacitor tem:

C (centenas de nF ou menos), no importa a escala que se utiliza pois R = . Na

realidade pode no existir um perodo aprecivel de carga no caso dos capacitores de
baixa capacitncia.

C empregar uma escala de baixa resistncia, para que o tempo de carga seja pequeno.

Medio e anlise de resistores fora do circuito com um

multmetro
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Com um multmetro analgico: Se conhece o valor da resistncia (atravs do cdigo de

cores ou do cdigo alfanumrico) dever selecionar o campo de medida imediatamente acima
desse valor:

Selecionar o campo de medida de resistncias;

Ligar as pontas de prova ao multmetro

Curto-circuitar as pontas de prova e ajustar o zero (Sempre que mudar de campo de

medida ter que ajustar o zero);

Se a resistncia sob teste der valor 0 , o resistor est em curto-circuito ou o campo de

medida selecionado muito superior ao valor da resistncia a medir;

Se a resistncia sob teste der (infinito), o resistor est em aberto ou o campo de

medida selecionado muito inferior ao valor da resistncia a medir.

Com um multmetro digital: Se conhece o valor da resistncia (atravs do cdigo de cores

ou do cdigo alfanumrico), dever selecionar o campo de medida imediatamente acima desse
valor:

Selecionar o campo de medida de resistncias;

Ligar as pontas de prova ao multmetro;

Se a resistncia sob teste der 0 , o resistor est em curto-circuito ou o campo de

medida selecionado muito superior ao valor da resistncia a medir;

Se a resistncia sob teste der (infinito), o resistor est em aberto ou o campo de

medida selecionado muito inferior ao valor da resistncia a medir.

Cuidados complementares

Quando se pretender medir resistores de elevado valor (aproximadamente 1 M ou mais), no

se deve tocar com as mos nos terminais do componente, uma vez que colocaremos a resistncia
eltrica prpria do nosso corpo (que elevada) em paralelo com a resistncia que est sendo
medida, o que falsear o resultado da medio.

Medio e anlise de resistores no circuito, com um

multmetro

Desligar o circuito: No utilizar o multmetro para medir resistores que se encontram

inseridos num circuito sob tenso. Se tiver que medir resistores que fazem parte de um circuito,
necessrio antes, desligar o circuito.

Componentes em paralelo com o resistor a medir: A medio de resistores num circuito

pode ser problemtica, j que frequentemente podem existir outros (resistores, indutores,
transformadores, semicondutores) em paralelo com o que se quer medir.

Para combater o problema das resistncias em paralelo deve-se desligar um dos terminais da
resistor a medir.

Juno PN em paralelo com o resistor a medir: A maioria dos aparelhos de medida de

resistncias funciona com uma tenso de teste que superior tenso de polarizao direta de
uma juno PN de silcio (0,6 - 1 V) ou de germnio (0,2 - 0,4 V). Qualquer juno PN
polarizada diretamente que esteja em paralelo com a resistncia a medir pode colocar em
derivao a referida resistncia da juno PN e fornecer uma leitura baixa. Veja a figura 16.

F16. Medio da Juno PN em paralelo com o resistor a medir.

Um semicondutor polarizado inversamente (atravs das pontas de prova) ficar com uma
resistncia muito elevada e obtm-se assim uma leitura correta.

Anlise de um JFET com um multmetro

Como verificar com um multmetro se um JFET est em bom estado. Atente, agora, para a
ilustrao dada na figura 17. Vamos utilizar como exemplo o 2N3819, que um JFET canal N.

F17. Estrutura interna de um JFET.

Colocar o comutador rotativo do multmetro na posio de anlise de junes PN

(figura 0);

Colocar a ponta de prova positiva (vermelha) na gate (G) e a ponta de prova negativa
(preta) no dreno (D) e na fonte (S). O multmetro deve indicar uma certa resistncia
(juno PN canal/gate diretamente polarizada); Figura 18.

Colocar o comutador rotativo do multmetro na posio de medio de resistncias;

 Colocar as pontas de prova com qualquer polaridade entre o dreno (D) e a fonte (S). O
multmetro deve indicar uma certa resistncia (que corresponde resistncia do
material semicondutor do canal N, que pode estar mais ou menos dopado).

F18. Vista de cima de um JFET canal N.

Observao: Se medir a resistncia do canal e, depois de polarizar inversamente a juno PN

canal/gate, tornar a medi-la, poder verificar que a resistncia do canal aumentou (isto devido
ao fato da polarizao inversa da juno PN ter estreitado o canal devido ao aumento da zona de
depleo). Para um JFET canal P os procedimentos so idnticos, tendo-se s que trocar as
polaridades das pontas de prova.

Identificao com um multmetro dos terminais e polaridade

de um transistor bipolar

Colocar o comutador rotativo do multmetro na posio de anlise de junes PN (figura 0).

Apenas para estas identificaes podemos considerar o transistor como dois diodos em
oposio. Figura 19.A
F19.A : Transistores NPN e PNP como dois diodos em oposio.

F19.B :Teste de fugas de um transistor.

Procedimentos

Os procedimentos sero apresentados a seguir:

Identificao da base

Devemos encontrar um par de terminais em que, medindo a resistncia num e noutro sentido,
esta seja muito elevada. Estamos em presena do emissor e do coletor (entre C e E, diodos em
oposio R ). Por excluso de partes, o outro terminal a base;

Transistor PNP ou NPN?

Coloque a ponta de prova + ou no terminal da base e a outra ponta de prova num dos outros
terminais.

+ na base = se R pequeno, temos polarizao direta da juno = o transistor NPN.

+ na base = se R grande, temos polarizao inversa da juno = o transistor PNP.

 - na base = se R pequeno, temos polarizao direta da juno = o transistor PNP.

- na base = se R grande, temos polarizao inversa da juno = o transistor NPN;

Identificar o Emissor e o Coletor

Entre o terminal de base e qualquer um dos outros terminais medimos a resistncia (no
transistor NPN - positivo na base, no PNP - negativo na base). A resistncia entre a base e o
coletor sensivelmente menor que a resistncia entre a base e o emissor.

Teste de fugas

A corrente de fuga de um transistor de silcio inferior a 1 A, no entanto, num transistor de

germnio a corrente de fuga j significativa. Repare na figura 19.B.

* Matria originalmente publicada na revista Eletrnica Total; Ano:24 N 157; Mai / Jun
2013