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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

MINITAB 15 MDULO 6. CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO

6.1Cartas de control por variables: I-MR, Xmedia R


6.2Estudios de capacidad de equipos de medicin R&R
3.3Estudios de capacidad de procesos normales
6.4Estudios de capacidad de procesos no normales
6.5Cartas de control por atributos: p, np, c, u
6.6Estudios de capacidad de proceso por atributos
6.7Cartas de control especiales (EWMA, CuSum)
6.8Muestreo por atributos (AQL, AOQL, LTPD, Z1.4)
6.9 Aplicaciones

MDULO 6. CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO


Para la teora sobre el CEP ver archivo Cartas de Control.doc o el Curso de CEP

6.1 Cartas de control por variables: X media - R, I-MR, X media - S


Carta X - R

Carta de Medias Rangos, funciona mejor para subgrupos menores a 10.


Ejemplo: En una planta automotrz una flecha debe tener 600 mm 2 mm de longitud
sin embargo ha habido dificultades con dar esta dimensin con problemas de ensamble
que resultan en un alto porcentaje de retrabajo y desperdicio. Se dese monitorear esta
caracterstica con una carta X media - R durante un mes se colectan 100 mediciones
(20 muestras de 5 flechas cada una) de todas las flechas utilizadas en la planta de los dos
proveedores que las surten SUPP1 y SUPP2, primero se analiza al SUPP2.

Carta de Control X-R usando el archivo CAMSHAFT.MTW.

Stat > Control Charts > Variables Charts for Subgroups > Xbar-R.
Seleccionar All observations for a chart are in one column, seleccionar Supp2.
Existe otra alternativa Observations for a subgroup are in a row of columns
En Subgroup sizes, poner 5. Click OK.
Usar (Chart) Options si se desea algo de lo siguiente:
Parameters Para lmites de la media o rango en base a datos histricos
de la Mean y/o Standar Deviation
Estimate

Para omitir subrupos con los que el proceso sale de control


Omit the following subroup when est. parameters (2 14)
Method for estimating standar deviation seleccionar R bar

S limits

Para mostrar lmites en 2 y 3 (default) sigmas u en otra sigma


Display Control Limts at These multiples of std. Dev. (2 3)

Tests

Definir las pruebas estadsticas fuera de control a ser indicadas


1 point > 3 std. Dev. From center line
7 points in a row all increasing and all decreasing
7 points in a row on same side of center line

Stages

Para mostrar diferentes etapas de desempeo del proceso


Define stages (historical groups) with this variable xxx

Box Cox

Para transformar datos sin un comportamiento normal


Optimal Lamda

Display

Si se quiere condicionar el despliegue de subgrupos


Display all subgroups Display last xx subgroups

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Store

Para guardar los datos mostrados en la carta de control


Mean; Std Dev; Point Plotted; Center line; Control limits

En este caso:
Xbar-R Chart of Supp2
1

Sample Mean

UC L=602.474
602
_
_
X=600.23

600

598

LCL=597.986
2

10
Sample

12

14

16

18

20

UC L=8.225

Sample Range

8
6

_
R=3.890

4
2
0

LCL=0
2

10
Sample

12

14

16

18

20

TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:2,14
Se tiene los subgrupos 2 y 14 fuera de control y el proceso no es estable y normal
Eliminando estos subgrupos DE LOS CLCULOS se tiene:

Stat > Control Charts > Variables Charts for Subgroups > Xbar-R.
Seleccionar All observations for a chart are in one column, seleccionar Supp2.
En Subgroup sizes, poner 5.
En X bar R Options seleccionar Estimate Omit the following subgroups 2 14 sel. R bar (Recalcula limites)
En Data Options seleccionar Specify which rows to exclude row numbers 6:10 66:70 (quita puntos)
Click OK OK.
El proceso ahora est dentro de control
Xbar-R Chart of Supp2
UCL=602.247

Sample Mean

602
601

599
598
2

10
Sample

12

14

16

18

20

UCL=8.465

Sample Range

Se pueden eliminar
fsicamente los datos
de los puntos que
salen de control con
LCL=597.629
Delete Cells en Minitab
iniciando por los ltimos
y al final los primeros
_
_
X=599.938

600

6
_
R=4.003

4
2
0

LCL=0
2

10
Sample

12

14

16

18

20

Carta de Control X-R usando el archivo VITA_C. MTW que contiene pesos de comprimidos
tomando 5 muestras cada 15 minutos durante un periodo de 10 horas (200 datos).
Crearemos dos columnas adicionales: Una para la hora de toma de muestra y otra para el
nmero que identifique al operario de la mquina.

Calc > Make Patterned Data > Simple Set of Date / Time Values
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Hora de la primera y
ltima muestra
Incremento de 15 minutos
Repetir cada valor 5 veces para
cada muestra

Respecto al operario se asume que las primeras 25 muestras (125 datos) las toma el operario A y las
otras 15 (75 datos) el operario B
Habilitar comandos en la ventana de Sesin con Editor > Enable Commands
MTB > Set c3
DATA> 125 (1)
DATA> 75 (2)
DATA> end

En C3 poner
125 unos
75 doces
fin
. E Intro

Desabilitar ejecucin de comandos con Editor > Enable Commands


El nombre de la columna se pone a mano OPERARIO
Carta de control de medias usando archi VITA_C.MTW

Stat > Control Charts > Variables Charts for Subgroups > Xbar
Seleccionar All observations for a chart are in one column, seleccionar Peso
En Subgroup sizes, poner 5.
Seleccionar las opciones siguientes:
Scale > Time: marcar Stamp y poner como variable Hora
Xbar Options > Tests: Marcar Perform all tests for special causes
Xbar Options > Stages: Define stages: Operario
Click OK OK.
La carta obtenida es la siguiente:
Xbar Chart of Peso by Operario
3.30

2
UCL=3.2939

Sample Mean

3.28

_
_
X=3.2671

3.26
6

LCL=3.2402

3.24
3.22

3.20
1

8:00

9:00 10:00 11:00 12:00 13:00 14:00 15:00 16:00 17:00

Hora

Los patrones anormales detectados son:


TestResultsforXbarChartofPesobyOperario
TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:22,23
TEST5.2outof3pointsmorethan2standarddeviationsfromcenterline(on
onesideofCL).
TestFailedatpoints:23
TEST6.4outof5pointsmorethan1standarddeviationfromcenterline(on

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onesideofCL).
TestFailedatpoints:5
Carta de control de rangos usando archivVITA_C.MTW

Stat > Control Charts > Variables Charts for Subgroups > R
Seleccionar All observations for a chart are in one column, seleccionar Peso
En Subgroup sizes, poner 5.
OK
R Chart of Peso
UCL=0.1020

0.10

Sample Range

0.08

0.06
_
R=0.0483
0.04

0.02

0.00

LCL=0
4

12

16

20
24
Sample

28

32

36

40

Carta de control de Desviacin estndar S de archivo VITA_C.MTW

Stat > Control Charts > Variables Charts for Subgroups > S
Seleccionar All observations for a chart are in one column, seleccionar Peso
En Subgroup sizes, poner 5.
S Chart of Peso
OK
UCL=0.04073

0.04

Sample StDev

0.03

_
S=0.01950

0.02

0.01

0.00

LCL=0
4

Carta de control de lecturas individuales de archivo

12

16

20
24
Sample

28

32

36

40

CAMSHAFT.MTW

Utilizando los datos del archivo CAMSHAFT


Se copian o se carga el archivo Worksheet de Minitab CAMSHAFT.MTW

Stat > Control Charts > Variables Charts for Individuals > I-MR.
En Variables seleccionar SUPP1. Click OK

I-MR Chart of Supp1


1

La grfica obtenida es la siguiente:

UCL=601.176

I ndividual Value

601

600

_
X=599.548

599

598

LC L=597.920
1

10

20

30

40

50
60
Observation

70

80

90

100

Moving Range

2.4
1

UCL=2.000

1.8
1.2

__
MR=0.612

0.6
0.0

LC L=0
1

10

20

30

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40

50
60
Observation

70

80

90

100

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Varios puntos salen de control por lo que el proceso no es estable:


TestResultsforIChartofSupp1
TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:39,55,82
TestResultsforMRChartofSupp1
TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:34,56
Excluyendo los puntos PARA LOS CLCULOS que salen de control se tiene:

Stat > Control Charts > Variables Charts for Individuals > I-MR.
En Variables seleccionar SUPP1
En Data Options seleccionar Specify which rows to exclude
Seleccionar Row Numbers 34 39 55 56 82
Click OK OK.

I-MR Chart of Supp1

I ndividual Value

601

UCL=600.943

600

_
X=599.531

599

598

LCL=598.118
1

2.0

10

20

30

40

50
60
Observation

70

80

90

100

Moving Range

UCL=1.735
1.5
1.0
__
MR=0.531

0.5
0.0

LCL=0
1

10

20

30

40

50
60
Observation

70

80

90

100

Repitiendo la operacin anterior para los puntos 1, 21, 36 se tiene:


Seleccionar Row Numbers 1 21 36 34 39 55 56 82
Otra alternativa es
eliminar fsicamente los
UCL=600.822
puntos que salen de
control con la opcin
_
X=599.536 Delete Cells de Minitab

I ndividual Value

I-MR Chart of Supp1


600.5
600.0
599.5
599.0
598.5
1

LCL=598.251

10

20

30

40

50
60
Observation

70

80

90

100

Moving Range

1.6

UCL=1.579

1.2
0.8
__
MR=0.483

0.4
0.0

LCL=0
1

10

20

30

40

50
60
Observation

70

80

90

100

El proceso es bastante estable


Carta de lecturas individuales usando el archivo

CLORO.MTW

Ejemplo: En una industria qumica se toma una muestra cada 15 minutos y se mide
el pH y la concentracin de cloro de la solucin, los datos se muestran en el archivo
CLORO.MTW anexo de este mdulo.
Separando las muestras del ltimo da viernes se tiene:

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Data > Copy > Columns to Columns


Copy from columns Hora pH Cl
Nota: Nombrar las columnas C5, C6 y C7 con Hora V, pH V y Cl V respectivamente
Store copied Data in Columns In current worsheet in columns 'Hora V' 'pH V' 'Cl V'
Quitar seleccin de Name the columns containing the copied data
Seleccionar Subset the Data
Seleccionar Rows that Match Condition Fecha = DATE("08/11/2002")
funcin seleccionada Date (From text)
OK OK
Obteniendo la carta de control de lecturas individuales se tiene:

Stat > Control Charts > Variable charts for individuals > I-MR
Variable pH V
Scale > Time: Stamp 'Hora V' 'Cl V'
OK

I Chart of pH V
14
1

13

UCL=12.843

Individual Value

12

Uso de la funcin Stamp

11
10

_
X=9.128

9
8
7
6

LCL=5.413

5
Hora V
Cl V

6:45
21

7:30
21

8:15
20

9:00
19

9:45
20

10:30 11:15 12:00 12:45 13:30


18
19
18
20
20

Como hay un punto que se sale de control se puede omitir como sigue:

Stat > Control Charts > Variable charts for individuals > I-MR
Variable pH V
Scale > Time: Stamp 'Hora V' 'Cl V'
Data Options seleccionar Specify wich rows to exclude Row numbers 25
I Chart Options en S limits seleccionar These multiples of the standar deviation poner 1 2 3
OK
I Chart of pH V
13
+3SL=12.366

12

+2SL=11.244

Individual Value

11

+1SL=10.122

10
9

_
X=9

-1SL=7.878

Excluye el punto fuera de


control y muestra los
lmites de control a
una, dos y tres sigmas

-2SL=6.756

-3SL=5.634

5
Hora V
Cl V

6:45
21

7:30
21

8:15
20

9:00
19

9:45 10:30 11:15 12:00 12:45 13:30


20
18
19
18
20
20

Para mostrar el comportamiento por da, se usa Stages por Fecha en dos cartas para
mejor claridad (quitar todas las selecciones anteriores)

Stat > Control Charts > Variable charts for individual > I-MR
Variable pH Original
I Chart Options:
Define stages (historical group) within this variable Fecha
When to start a new value seleccionar With each new value
Display seleccionar Each Segment Contains 80 Subgroups
OK

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I Chart of pH by Fecha
04/11/2002

14

05/11/2002

06/11/2002

12

UCL=12.370

10

_
X=8.981

Individual Value

8
6

LCL=5.592

Hora V 6:15 8:00


Cl V 19
20

10:00 12:00 14:00


21
18
20

07/11/2002

14

08/11/2002
1

UCL=12.843

12

_
X=9.128

10
8
6

LCL=5.413

Hora V
Cl V

Carta deRangos Mviles usando el archi CLORO.MTW

Stat > Control charts > Variable chart for individuals > Moving range
Variable 'pH V'

Moving Range Chart of pH V


5
UCL=4.564

Moving Range

2
__
MR=1.397
1

LCL=0
3

12

15
18
21
Observation

24

27

30

Carta de control de valores individuales y rangos mviles usando arcCLORO.MTW

Stat > Control charts > Variable chart for individuals > I-MR
Variable 'pH V'

OK
I -MR Chart of pH V

14

I ndividual Value

UC L=12.843
12
10

_
X=9.128

8
6

LCL=5.413
3

12

15
18
Observation

21

24

27

30

UC L=4.564

Moving Range

4
3
2

__
MR=1.397

1
0

LCL=0
3

Carta de control X-S usando el archivo

12

15
18
Observation

21

24

27

30

CAMSHAFT.MTW

Se utilizan los datos del archivo CAMSHAFT.MTW anexo

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Se usa para monitorear proveedores o grupos de mquinas


funciona mejor con tamaos de muestra >= 10
Tomando los datos de SUPP2 se tiene:

Stat > Control Charts > Variables Charts for Subgroups > Xbar-S.
Seleccionar All observations for a chart are in one column, seleccionar Supp2.
Existe otra alternativa Observations for a subgroup are in a row of columns

En Subgroup sizes, poner 10. Click OK.

Xbar-S Chart of Supp2


1

Sample Mean

602

UCL=601.908

601
_
_
X=600.23

600

599
LCL=598.552
1

10

Sample StDev

Sample
3

UCL=2.952

_
S=1.720

1
LCL=0.488
1

10

Sample

Como hay un punto fuera de control, se excluyen los valores 61 a 70:


En Data Options seleccionar Specify which rows to exclude Rows 61:70.
Xbar-S Chart of Supp2

Sample Mean

602

UC L=601.735

601
_
_
X=600.042

600
599

LC L=598.349
598
1

10

Sample StDev

Sample
3

UC L=2.979

_
S=1.736

1
LC L=0.492
1

10

Sample

Mintab 15

Grficas Mltiples

... > Multiple Graphs > Multiple Variables


Se usa para controlar la posicin y escalas de cartas de control mltiples creadas en
el cuadro de dilogo de las cartas
Ejemplo: Se trata de comparar a dos proveedores de levas con cartas de rangos mviles en la I-MR:
1 File > Open worksheet CAMSHAFT.MTW.
2 Stat > Control Charts > Variables Charts for Individuals > Moving Range.
3 En Variables, seleccionar Supp1 Supp2.
4 Click Multiple Graphs. Enr Scales for Different Variables, seleccionar Same Y.
5 Click OK.

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Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Moving Range Chart of Supp1


7
6

Moving Range

5
4
3

1
1

UCL=2.000

__
MR=0.612

LCL=0
1

11

21

31

41
51
61
Observation

71

81

91

Moving Range Chart of Supp2


7

UCL=6.284

Moving Range

5
4
3
__
MR=1.923

2
1
0

LCL=0
1

11

21

31

41
51
61
Observation

71

81

91

En general el proveedor 2 tiene un mayor variabilidad que el proveedor 1.

6.2 Estudios del sistema de medicin R&R


Revisar la teora de estudios en sistemas de medicin en articulo en archivo R&R.doc anexo
En las mediciones se presentan dos tipos de errores:
Error por el equipo mismo se denomina error de repetibilidad
Se obtiene al repetir la misma medicin en el mismo ambiente de trabajo
y tambin por la misma persona, usando el mismo equipo.
Error de reproducibilidad
Causado por diferencias entre operadores al revisar las mediciones
Minitab ofrece varias alternativas de estudios a realizar:
1. Gage study - Tipo 1: Se usa para evaluar error de sesgo y repetibilidad previo a un estudio de R&R
2. Gage Run Chart: Anlisis grfico de los resultados como primeras conclusiones
3. Gage Linearity and Bias Study: es igual el error en todo el rango de magnitudes a medir?
4. Gage R&R Study (Crossed): Estudios de repetibilidad y reproducibilidad (R&R)
para estudios cruzados (ms comunes). Todos los operadores miden todas las piezas
varias veces, utilizados principlamente para caractersticas dimensionales.
5 Gage R&R Study (Nested): Estudios de repetibilidad y reproducibilidad (R&R). Para estudios
anidados (pruebas destructivas). Un operario mide varias piezas en lugar de una lo ms
parecidas posible (con variabilidad mnima) de forma que parezca una sola pieza.
En este caso cada operario mide solo una parte de las piezas.
6. Attribute agreement analysis: para estudios de R&R por atributos comparativos.

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7. Atribute Gage Study (Analytical Method): Estudios R&R para atributos


(caractersticas no medibles)
Diseos Cruzados (Crossed): Los operadores miden todas las piezas dos o tres veces
normalmente caractersticas dimensionales
Diseos anidados (Nested): Cada pieza es medida por un solo operador para el caso de
pruebas destructivas, debe medir varias piezas muy parecidas entre si
(normalmente piezas producidas en forma consecutiva) casi sin variabilidad.
Mintab 15
Estudio del Gage tipo 1 (Type 1 Gage Study)
Se usa para evaluar la capacidad del sistema de medicin, evalua el efecto combinado de sesgo y
repetibilidad con base en mediciones mltiples de una sola parte.
Este estudio debe hacerse previo a cualquier otro estudio de R&R, para determinar cuanta
variabilidad de la variacin del proceso se debe a la variacin del sistema de medicin.
Se requiere al menos 10 mediciones para este estudio, aunque se sugieren al menos 25 mediciones
para un estudio adecuado. Medir la parte con un equipo de referencia, idealmente el valor debe estar
cerca del centro de la tolerancia (o una de las especificaciones).
Ejemplo: se quiere evaluar el sistema de medicin para medir los dimetros externos de flechas,
y ver si es adecuado para la tolerancia de 0.05mm
Un operador mide una flecha de referencia con dimetro conocido de 12.305 mm 50 veces.
1

File > Open worksheet SHAFT.MTW.


Diameter
12.3057
12.3009
12.3037
12.2975
12.3056
12.3033
Etc.
2 Stat > Quality Tools > Gage Study > Type 1 Gage Study.
3 En Measurement data, poner Diameter.
4 En Reference, poner 12.305.
5 En Tolerance, seleccionar Upper spec - lower spec y poner 0.05. Click OK.
Type 1 Gage Study for Diameter
Reported by:
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:

0.05

Diameter

Run Chart of Diameter


12.310

Ref + 0.10 * Tol

12.305

Ref

12.300

Ref - 0.10 * Tol

12.295
1

11

Basic Statistics
Reference
12.305
Mean
12.30269
StDev
0.003631
6 * StDev (SV) 0.021783
Tolerance (Tol) 0.05

16

21

26
Observation

31

Bias
Bias
-0.00231
T
4.506892
PValue
0.000
(Test Bias = 0)

36

41

46

Capability
Cg
0.46
Cgk
0.25
% V ar(Repeatability)
43.57%
% V ar(Repeatability and Bias) 81.10%

El sesgo del sistema de medicin es de -0.00231, significativamente diferente de cero


(T = 4.5, p = 0.00). Muchas de las observaciones estn por debajo de 12.305.
Cg compara la tolerancia con la variacin en la medicin. Cgk compara la tolerancia

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contra la variacin de la medicin y el sesgo. Valores grandes de ambos indican que


la variacin del sistema de medicin comparada al rango de tolerancia. Referencia 1.33.
En este caso Cg = 0.46 y Cgk = 0.25, indicando que la variacin del sistema de medicin
es grande.
%Var (repetibilidad) se determina por Cg y %Var (repetibilidad y sesgo) determinado por Cgk.
Un valor pequeo de %Var indica una variacin pequea del sistema de medicin respecto
a la tolerancia. La referencia de los ndices de 1.33 corresponde a un % Var de 15%.
En este caso, % Var (repetibilidad) = 43.49% y %Var (repetibilidad y sesgo) = 81%, valores
mucho mayores a 15%, lo que sugiere que la variacin debida al sistema de medicin es
grande.
Los resultados anteriores indican que el sisema de medicin no puede medir partes
de manera consistente y exacta, por lo que debe ser mejorado.
Gage Run

Para los ejemplos se usa el archivo RR_Cruz.MTW anexo, contiene datos para la realizacin
de un estudio R&R en el que 3 operadores han medido 10 piezas distintas, 3 veces cada
una de manera aleatoria y sin saber cual estaban midiendo en cierto tiempo.

Anlisis grfico (Gage Run Chart):

Stat > Quality Tools > Gage Study > Gage Run Chart
Part Numbers - Pieza; Operators - Operario; Measurement data - Medicin
Trial Numbers - Orden (indica el orden en que se hicieron las mediciones).
Options - Permite poner ttulo al estudio
Gage Info: Para informacin adicional del estudio
Gage Run Chart of Medicion by Pieza, Operario
Reported by:
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:

5
16

12

Medicion

Mean

Operario
1
2
3

Las piezas son diferentes


ver pieza 2 y 3 versus la
8y9

8
6

10

16

12

Mean

Operario

El operario 2 tiene ms
variabilidad en sus
mediciones y adems
tiende a tener valores por
debajo de los otros 2

Panel variable: Pieza

Minitab 15

1. Llenado de columnas con datos con datos uniformes


Para crear una columna denominada ID que contiene los nmeros 1,2 3, 100, usar estos pasos:
1 Calc > Make Patterned Data > Simple Set of Numbers.
2 En Store patterned data in, teclear ID.
3 En From first value, teclear 1. En To last value, teclear 100. Click OK.

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

2. Llenado de columnas con datos arbitrarios


Para llenar una columna denominada PSI con los numeros 10, 10, 20, 20, 50, 50 seguir estos pasos:
AA
AA
1 Calc > Make Patterned Data > Arbitrary Set of Numbers.
AA
2 En Store patterned data in, poner PSI.
BB
3 En Arbitrary set of numbers, poner 10 20 50.
BB
4 En Number of times to list each value, type 2.
BB
5 En Number of times to list the sequence, type 3. Click OK.
AA
AA
3. Llenado de columnas con patrones de texto
AA
Calc > Make Patterned Data > Text Values
BB
Store patterned data in: Columna a llenar
BB
Text values (e.g., AA BB "C D"): Teclear el patrn base para el texto,
BB
Si en el texto se encuentra un espacio, encerrar entre comillas el texto.
Number of times to list each value: Indicar nmero de veces a repetir el texto en la secuencia..
Number of times to list the sequence: Nmero de veces a repetir la secuencia.
3. Llenado de datos en columna con fechas y horas
Para llenar una columna Enero con fechas 1/1/03, 1/2/03, ..., 1/31/03, seguir estos pasos:
1 Calc > Make Patterned Data > Simple Set of Date/Time Values.
2 En Store patterned data in, poner Enero.
3 En From first date/time, poner 1/1/2007. En To last date/time, poner 31/1/2007
4 Click OK
NOTA: Los formatos de fecha y tiempo se pueden cambiar en los Defaults de Windows.
4. Llenado de columnas con datos de fechas y hora arbitrarios
Para llenar la columna FECHAS con las fechas 8/26/96 "8/26/96 19:58" seguir estos pasos:
1 Calc > Make Patterned Data > Arbitrary Set of Date/Time Values
2 Date/Time values (e.g., 8/26/96 "8/26/96 19:58"): Enter the pattern of dates/times.
3 En Number of times to list each value, type 2.
4 En Number of times to list the sequence, type 3. Click OK.
Minitab 15

Generacin de una hoja de trabajo para captura de datos del estudio


Para el caso de un estudio con las mediciones de dimetros externos de electrodos,
se examinan 90 corridas de 15 partes, 3 operadores y 2 rplicas.

1 Stat > Quality Tools > Gage Study > Create Gage R&R Study Worksheet.
2 En Number of parts, poner 15.
3 En Number of operators, poner 3.
4 En Number of replicates, poner 2. Click OK.
5 En Options seleccionar Randomize run with operators
StdOrder
34
28
1
37
25
43
Etc.

RunOrder
1
2
3
4
5
6
Etc.

Parts
12
10
1
13
9
15
Etc.

Operators
1
1
1
1
1
1
Etc.

Cada operador mide las 15 partes de manera aleatoria, en rondas poesteriores se completan los
otros intentos
Estudio R&R (Crossed)

Stat > Quality Tools > Gage Study > Gage R&R Study (Crossed)
Part Numbers - Pieza; Operators - Operario; Measurement data - Medicin
Seleccionar Method of Anlisis - ANOVA
Options - Study variation 5.15 (99% nivel de conf.) Tolerance - 15 Tolerancia de las piezas
Gage Info: Para informacin adicional de identificacin del estudio

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Tabla de Anlisis de Varianza (ANOVA)


Tambin se hubiera obtenido con:

Stat > ANOVA > Two way Response:Medicin Row Factor:Pieza Column Factor:Operario
TwoWayANOVATableWithInteraction
SourceDFSSMSFP
Pieza9286.03331.78143Pieza significativa
Operario245.63522.81732Operario significativo
Pieza*Operario1817.2610.9589Interaccion no significativa
Repeatability6089.2171.4869
Total89438.145

TwoWayANOVATableWithoutInteraction
SourceDFSSMSFP
Pieza9286.03331.781423.28140.000
Operario245.63522.817316.71470.000
Repeatability78106.4781.3651
Total89438.145
Tabla de componentes de la Varianza (informativa)
Varianza
SourceVarComp(ofVarComp)
TotalGageR&R2.0801738.10
Repeatability1.3651025.00Varianza relevante debida al equipo
Reproducibility0.7150713.10Menor varianza debida al operador
Operario0.7150713.10
PartToPart3.3795961.90
TotalVariation5.45976100.00
Usada cuando el equipo es para control del proceso
Tabla de anlisis de la Variacin
Usada cuando el equipo es para liberar producto

raiz (Varianza)
SourceStdDev(SD)(5.15*SD)(%SV)(SV/Toler)
TotalGageR&R1.442287.427761.7349.52
Repeatability1.168386.017150.0040.11
Reproducibility0.845624.354936.1929.03
Operario0.845624.354936.1929.03
PartToPart1.838379.467678.6863.12
TotalVariation2.3366112.0336100.0080.22
El % de error total debe ser de cuando ms el
NumberofDistinctCategories=10% o hasta 30% si la caracterstica no es crtica.
En algunas industrias se toma 25% como aceptable
Este nmero debe ser de al
menos 4 indicando que el equipo discrimina las partes
Se tiene las siguientes variaciones:
Repetibilidad: Variacin debida al aparato o equipo de medicin
Reproducibilidad: Variacin introducida por los operarios

Parte a parte: Variacin entre las partes real


Variacin total: Combinacin de las anteriores
Ventana de grficas

Error R&R
<10% crtica
<30% no crtica

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Gage R&R (ANOVA) for Medicion


Reported by:
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:
Components of Variation

Medicion by Pieza

Percent

80

18

% Contribution
%StudyVar
% Tolerance

12

40

6
Gage R&R

Repeat

Reprod

Part-to-Part

R Chart by Operario
Sample Range

10

UCL=5.257

18

_
R=2.042

12

Operario 2 tiene una


Media ms baja

4
2
0

LCL=0

2
Operario

Xbar Chart by Operario


1

10.0

15.0
UCL=13.383
__
X=11.293

Average

12.5

Operario * Pieza I nteraction

15.0
Sample Mean

5
6
Pieza

Medicion by Operario

Operario
1
2
3

12.5
10.0

LCL=9.204
1

5 6
Pieza

10

Si no hay interaccin
significativa, estas
lneas son paralelas

Carta de rangos: Muestra al operario 2 con mayor variabilidad que los dems
pero aun as estan dentro de control, de otra forma debera repetir las mediciones
Cartas de Medias: Debe tener al menos el 50% de sus puntos fuera de control para
indicar que el sistema de medicin discrimina las diferentes partes adecuadamente
Ejemplo de estudio R&R (Crossed) usando el archivo de Minitab Gageaiag.Mtw

File > Open worksheet > Gageaiag (en carpeta DATA)


Realizar el estudio R&R de acuerdo a lo siguiente:

Stat > Quality Tools > Gage Study > Gage R&R Study (crossed)
Seleccionar columnas de parts, operators y measurement data
Seleccionar Method of Analysis ANOVA
En gage info introducir la informacin general del equipo y del estudio
En options introducir lo siguiente:
Study variation
5.15 (estndar industrial, corresp. al 99% de NC)
Process Tolerance
2
a) si hay dos especs. inferior y superior, introducir el rango
b) si solo hay una espec. superior introducirla en Upper spec
c) si solo hay una espec. inferior introducirla en Lower spec.
OK
Los resultados son los siguientes:
TwoWayANOVATableWithInteraction
SourceDFSSMSFP
Part92.058710.22874539.71780.000
Operator20.048000.0240004.16720.033
Part*Operator180.103670.005759La interaccin si es
Repeatability300.038750.001292
significativa, el operador
Total592.24913
tiene interaccin con las
partes
GageR&R
%Contribution
SourceVarComp(ofVarComp)
TotalGageR&R0.004437510.67
Repeatability0.00129173.10
Reproducibility0.00314587.56
Operator0.00091202.19
Operator*Part0.00223385.37
PartToPart0.037164489.33
TotalVariation0.0416019100.00

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Debe ser menor al 10% (AIAG)


o menores al 25% (otras industrias)
StudyVar%StudyVar%Tolerance
SourceStdDev(SD)(5.15*SD)(%SV)(SV/Toler)
TotalGageR&R0.0666150.3430632.6617.15
Repeatability0.0359400.1850917.629.25
Reproducibility0.0560880.2888527.5014.44
Operator0.0302000.1555314.817.78
Operator*Part0.0472630.2434023.1712.17
PartToPart0.1927810.9928294.5249.64
TotalVariation0.2039651.05042100.0052.52
Es adecuado mnimo 4

NumberofDistinctCategories=4
Gage R&R (ANOVA) for Response
Reported by :
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:
Components of Variation

Response by Part

Percent

100

% Contribution

1.00

%Study Var
% Tolerance

50

0.75
0.50

Gage R&R

Repeat

Reprod

Part-to-Part

Sample Range

10

Response by Operator

3
UCL=0.1252

0.10

1.00
0.75

0.05

_
R=0.0383

0.00

LCL=0

0.50
1

2
Operator

Xbar Chart by Operator


1

1.00
_
UCL=0.8796
_
X=0.8075

0.75

Operator * Part I nteraction

LCL=0.7354

0.50

Average

Sample Mean

6
Part

R Chart by Operator

1.00

Operator

0.75

2
3

0.50
1

5
6
Part

La carta R esta dentro de control

10

Si hay interaccin entre


operadores y partes,
debe revisarse el mtodo
de medicin

La carta de medias tiene ms del 50% de puntos fuera de control, lo que es adecuado
Minitab 15

Con el archivo GAGE2.MTW


Se miden tres partes represntando el rango esperado de variacin. Tres operadores miden las tres
partes, tres veces cada parte, de manera aleatoria.

1 File > Open worksheet GAGE2.MTW.


Part
3
3
3
3
3
3
3
3
3
2
2
2
2
2
2
2
2
2
1
1
1
1
1
1

Operator
3
3
3
2
2
2
1
1
1
3
3
3
2
2
2
1
1
1
3
3
3
2
2
2

Response
413.75
268.75
420.00
426.25
471.25
432.50
368.75
270.00
398.75
386.25
478.75
436.25
406.25
531.25
435.00
408.75
608.75
443.75
383.75
373.75
446.25
388.75
157.50
456.25

Trial
3
2
1
3
2
1
3
2
1
3
2
1
3
2
1
3
2
1
3
2
1
3
2
1

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

1
1
1

2
3
4
5
6
7

1
1
1

405.00
273.75
476.25

P. Reyes / Nov. 2007

3
2
1

Stat > Quality Tools > Gage Study > Gage R&R Study (Crossed).
En Part numbers, seleccionar Part.
En Operators, seleccionar Operator.
En Measurement data, seleccionar Response.
En Method of Analysis, seleccionar ANOVA
Click OK.

Resultsfor:Gage2.MTW
GageR&RStudyANOVAMethod
TwoWayANOVATableWithInteraction
SourceDFSSMSFP
Part23899019495.22.906500.166
Operator2529264.30.039400.962
Part*Operator4268306707.40.9Si el P value de la interaccin es mayor a
Repeatability181338737437.4
0.25 se hace otra corrida de ANOVA sin
Total26200222
interaccin.
Alphatoremoveinteractionterm=0.25
TwoWayANOVATableWithoutInteraction
SourceDFSSMSFP
Part23899019495.22.668870.092
Operator2529264.30.036180.965
Repeatability221607037304.7
Total26200222
GageR&R
%Contribution
%Contribution
SourceVarComp(ofVarComp)
TotalGageR&R7304.6784.36
Porcentaje de contribucin a la varianza
Repeatability7304.6784.36
total observada por el R&R es del 84.36%
Reproducibility0.000.00
Operator0.000.00
PartToPart1354.5015.64
Porcentaje de contribucin por la varianza
TotalVariation8659.17100.00
de las partes 15.64%
StudyVar%StudyVar
SourceStdDev(SD)(6*SD)(%SV)
TotalGageR&R85.4673512.80491.85
El error total R&R de 91.85% es
Repeatability85.4673512.80491.85
inadecuado para el sistema de medicin
Reproducibility0.00000.0000.00
Operator0.00000.0000.00
PartToPart36.8036220.82139.55
TotalVariation93.0547558.328100.00
Una categora de 1 quiere decir que no
NumberofDistinctCategories=1
puede distinguir diferencia entre partes
Gage R&R (ANOVA) for Response
Reported by:
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:
Components of Variation

Response by Part

100

% Contribution

600

Percent

% Study Var

400

50

200
0

Gage R&R

Repeat

Reprod

Part-to-Part

R Chart by Operator
Sample Range

400

3
UCL=376.5

200

_
R=146.3

600
400
200

LCL=0

Xbar Chart by Operator


1

400

_
X=406.2

Operator

Average

500

2
Operator

Operator * Part I nteraction

UCL=555.8

Sample Mean

2
Part

Response by Operator

450

2
3

400
350

300
LCL=256.5

2
Part

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Mintab V15

LCL=0

2
3
Mdulo1 6. Control
Estadstico
del Proceso
Operator

Xbar Chart by Operator


1

Operator * Part I nteraction


Operator

Average

Sample Mean

UCL=555.8
500
_
X=406.2

400

450

2
3

400
350

300
LCL=256.5

2
Part

CartaXinadecuada,solohayvariacinaleatoria
Estudio R&R (Nested) para pruebas destructivas
Se usa el archivo RR_ANID.MTW con datos de medicin de 12 piezas realizadas
por 3 operarios. Las piezas se subdividieron en 3 grupos de 4 unidades y cada operario
midi 3 veces la pieza de un grupo, en orden aleatorio y sin saber que pieza estaba midiendo
Se trata de un diseo anidado ya que cada operador solo mide una parte de las piezas.

Stat > Quality Tools > Gage Study > Gage R&R Study (Nested)
Seleccionar columnas de part or batch numbers, operators y measurement data
En gage info introducir la informacin general del equipo y del estudio
En options introducir lo siguiente:
Study variation 5.15
Process Tolerance 10
Errores mayores a lo permitido
OK
StudyVar%StudyVar%Tolerance
SourceStdDev(SD)(5.15*SD)(%SV)(SV/Toler)
TotalGageR&R1.373177.0718197.9270.72
Repeatability1.135295.8467680.9558.47
Reproducibility0.772463.9781855.0839.78
PartToPart0.284751.4664420.3014.66
TotalVariation1.402387.22225100.0072.22
Variacin de partes muy
pequea vesus la de
operario y equipo, el
sistema de medicin
no es adecuado

Number of Distinct Categories = 1


Gage R&R (Nested) for Medicion
Reported by:
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:
Components of Variation

Medicion By Pieza ( Operario )

Percent

100

24

% Contribution
% Study Var
% Tolerance

22

50

20
0

Gage R&R

Repeat

Reprod

Pieza
Operario

Part-to-Part

Sample Range

10 11 12
C

UCL=5.170

24

4
2

_
R=2.008

LCL=0

A
Sample Mean

Medicion by Operario

22
20

Xbar Chart by Operario

Mintab 15

3
A

R Chart by Operario
A

B
Operario

24

UCL=24.196

22

_
_
X=22.142

20

LCL=20.087

En este ejemplo, tres operadores cada uno mide cinco partes, para un total de 30 mediciones.
Cada parte es nica a cada operador; nunca miden dos operadores la misma parte. Se decide realizar
un estudio R&R (anidado) para determinar cuanta variacin de la observada en el proceso se debe a
la variacin del sistema de medicin.
Part
1
1
2
2
3
3
4
4
5
5

Operator
Steve
Steve
Steve
Steve
Steve
Steve
Steve
Steve
Steve
Steve

Response
15.4257
16.8677
15.5018
15.1628
15.7251
12.8191
15.1429
13.8563
14.1119
16.5675

Part
8
9
9
10
10
11
11
12
12
13

Operator
Billie
Billie
Billie
Billie
Billie
Nathan
Nathan
Nathan
Nathan
Nathan

Response
14.325
15.1448
14.5478
16.3736
17.5779
14.0156
16.0597
14.7948
14.8448
14.2155

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

6
6
7
7
8
1
2
3
4
5
6
7

Billie
Billie
Billie
Billie
Billie

13.1025
15.5494
13.8316
14.2388
16.8403

13
14
14
15
15

Nathan
Nathan
Nathan
Nathan
Nathan

13.7057
16.4566
16.2174
15.0697
16.3231

File > Open worksheet GAGENEST.MTW.


Stat > Quality Tools > Gage Study > Gage R&R Study (Nested).
En Part or batch numbers, poner Part.
En Operators, poner Operator.
En Measurement data, poner Response.
Click Options. En Process tolerance, seleccionar Upper spec - Lower spec, poner 10.
Click OK en cada cuadro de dilogo.

Resultsfor:Gagenest.MTW

GageR&RStudyNestedANOVA

GageR&R(Nested)forResponse
SourceDFSSMSFP
Operator20.01420.007080.003850.996
Part(Operator)1222.05521.837941.425490.255
Repeatability1519.34001.28933
Total2941.4094
GageR&R
%Contribution
SourceVarComp(ofVarComp)
TotalGageR&R1.2893382.46Error de R&R muy alto
Repeatability1.2893382.46
Reproducibility0.000000.00
PartToPart0.2743017.54
TotalVariation1.56364100.00
Processtolerance=10
StudyVar%StudyVar%Tolerance
SourceStdDev(SD)(6*SD)(%SV)(SV/Toler)
TotalGageR&R1.135496.8129390. El error de R&R es muy
Repeatability1.135496.8129390. alto
Reproducibility0.000000.000000.000.00
PartToPart0.523743.1424341.8831.42
TotalVariation1.250457.50273100.0075.03
NumberofDistinctCategories=1
Gage R&R (Nested) for Response
Reported by:
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:
Components of Variation

Response By Part ( Operator )

Percent

100

18

% Contribution
% Study Var

16

% Tolerance

50
14
0

Gage R&R

Repeat

Reprod

Part
Operator

Part-to-Part

8 9 10
Billie

R Chart by Operator
Sample Range

Billie

Nathan

Steve

UCL=4.290

3 4
Steve

18
16

_
R=1.313

LCL=0

14
Billie

Xbar Chart by Operator


18

Sample Mean

11 12 13 14 15
Nathan

Response by Operator

16

Billie

Nathan

Nathan
Operator

Steve

Steve
UCL=17.617
_
_
X=15.147

14
LCL=12.678

El sistema no distingue diferencias entre las partes

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

P. Reyes / Nov. 2007

Estudios de linealidad
La linealidad se refiere a los diferentes % de error durante todo el recorrido de la escala
Se usa el archivo GAGELIN.MTW anexo
En este archivo se muestran las mediciones hechas con el patrn (Master) y
con el sistema en estudio (Response), en distintos niveles de la escala
Se puede obtener una ecuacin de
regresin de la dif. De Resp. - Master vs
Master Stat>Regression>Fitted line plot
Fitted Line Plot
Dif = 0.7367 - 0.1317 Master
S
R-Sq
R-Sq(adj)

1.0

0.239540
71.4%
70.9%

Dif

0.5

Amplitud de la
variabilidad del proceso

0.0

-0.5

-1.0
1

5
6
Master

10

Gage Linearity and Bias Study for Response


Reported by :
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:

Predictor
Constant
Slope

Regression
95% CI

1.0

Data
Avg Bias

S
Linearity

0.23954
1.86889

Bias

0.5

0.0

Reference
Av erage
2
4
6
8
10

Gage Linearity
Coef SECoef
0.73667 0.07252
-0.13167 0.01093
R-Sq
% Linearity

Gage Bias
Bias % Bias
-0.053333
0.4
0.491667
3.5
0.125000
0.9
0.025000
0.2
-0.291667
2.1
-0.616667
4.3

P
0.000
0.000

Ecuacin

71.4%
13.2

P
0.040
0.000
0.293
0.688
0.000
0.000

Datos de promedios

-0.5

-1.0
2

6
Reference Value

10

Percent

Percent of Process Variation


10
5
0

Linearity

Bias

La ecuacin de regresin es Diferencia = 0.7367 - 0.1317 Master


Linealidad = Pendiente * Ancho de variacin del proceso = 0.1317*14.1941 = 1.8689
% De linealidad = Pendiente de la recta * 100 = 0.1317*100 = 13.17% del rango de
magnitudes a medir
Sesgo (Bias) = Promedio de diferencias entre el valor real y el valor patrn
% De sesgo = |Sesgo| / Ancho del proceso * 100 = (-0.053/14.1941)*100 = 0.3757
El sesgo introducido por el sistema de medida es aprox. del 0.4% de la
variacin total
Minitab 15
Anlisis de concordancia por atributos
Se usa para evaluar la concordancia de calificaciones nominales u ordinales dadas por diversos
evaluadores. Las mediciones son evaluaciones subjetivas dadas por las personas ms que
mediciones directas. Por ejemplo:
- Evaluacin de desempeo de automoviles
- Clasificacin de calidad de fibras como "buena" o "mala"
- Evaluacin del color del vino, su aroma, y sabor en una escala del 1 al 10.

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

En estas situaciones, las caractersticas de calidad son difciles de definir y evaluar. Para obtener
clasificaciones significativas, se utiliza ms de un evaluador para clasificar la medicin de la respuesta.
Si los evaluadores concuerdan, existe la posibilidad de que las calificaciones sean exactas. Si no
hay acuerdo, la utilidad de las calificaciones es limitada.
Por ejemplo: Una institucin evaluadora est capacitando a cinco nuevos evaluadores de la parte
escrita de una prueba. La habilidad de los evaluadores para calificar la prueba y que sea consistente
con estndares debe evaluarse. Cada evaluador califica quince reactivos en una escala de cinco puntos
(-2, -1, 0, 1, 2)

File > Open Worksheet ESSAY.MTW.

Appraiser
Simpson
Montgomery
Holmes
Duncan
Hayes
Simpson
Montgomery
Holmes
Duncan
Etc.
2
3
4
5
6
7

Sample
1
1
1
1
1
2
2
2
2
Etc.

Rating
2
2
2
1
2
-1
-1
-1
-2
Etc.

Attribute
2
2
2
2
2
-1
-1
-1
-1
Etc.

Stat > Quality Tools > Attribute Agreement Analysis.


En Attribute column, seleccionar Rating.
En Samples, seleccionar Sample.
En Appraisers, seleccionar Appraiser.
En Known standard/attribute, seleccionar Attribute.
Seleccionar Categories of the attribute data are ordered y click OK.

Los resultados son los siguientes:


Resultsfor:Essay.MTW

AttributeAgreementAnalysisforRating

EachAppraiservsStandard
AssessmentAgreement
Appraiser#Inspected#MatchedPercent95%CI
Duncan15853.33(26.59,78.73)
Hayes151386.67(59.54,98.34)
Holmes1515100.00(81.90,100.00)
Montgomery1515100.00(81.90,100.00)
Simpson151493.33(68.05,99.83)
#Matched:Appraiser'sassessmentacrosstrialsagreeswiththeknownstandard.
Fleiss'KappaStatistics
AppraiserResponseKappaSEKappaZP(vs>0)
Duncan20.583330.2581992.259240.0119
10.166670.2581990.645500.2593
00.440990.2581991.707960.0438
10.440990.2581991.707960.0438
20.423080.2581991.638570.0507
Overall0.411760.1309243.145080.0008
Hayes20.629630.2581992.438550.0074
10.813660.2581993.151310.0008
01.000000.2581993.872980.0001
10.760000.2581992.943470.0016
20.813660.2581993.151310.0008
Overall0.829550.1341646.183070.0000
Holmes21.000000.2581993.872980.0001
11.000000.2581993.872980.0001
01.000000.2581993.872980.0001
11.000000.2581993.872980.0001
21.000000.2581993.872980.0001

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Overall1.000000.1313057.615840.0000
Montgomery21.000000.2581993.872980.0001
11.000000.2581993.872980.0001
01.000000.2581993.872980.0001
11.000000.2581993.872980.0001
21.000000.2581993.872980.0001
Overall1.000000.1313057.615840.0000
Simpson21.000000.2581993.872980.0001
11.000000.2581993.872980.0001
00.813660.2581993.151310.0008
10.813660.2581993.151310.0008
21.000000.2581993.872980.0001
Overall0.915970.1309246.996190.0000
Kendall'sCorrelationCoefficient
AppraiserCoefSECoefZP
Duncan0.875060.1924504.497440.0000
Hayes0.948710.1924504.880160.0000
Holmes1.000000.1924505.146670.0000
Montgomery1.000000.1924505.146670.0000
Simpson0.966290.1924504.971510.0000
BetweenAppraisers
AssessmentAgreement
#Inspected#MatchedPercent95%CI
15640.00(16.34,67.71)
#Matched:Allappraisers'assessmentsagreewitheachother.
Fleiss'KappaStatistics
ResponseKappaSEKappaZP(vs>0)
20.6803980.08164978.33310.0000
10.6027540.08164977.38220.0000
00.7076020.08164978.66630.0000
10.6424790.08164977.86870.0000
20.7365340.08164979.02070.0000
Overall0.6729650.041233116.32100.0000
Kendall'sCoefficientofConcordance
CoefChiSqDFP
0.96631767.6422140.0000
AllAppraisersvsStandard
AssessmentAgreement
#Inspected#MatchedPercent95%CI
15640.00(16.34,67.71)
#Matched:Allappraisers'assessmentsagreewiththeknownstandard.
Fleiss'KappaStatistics
ResponseKappaSEKappaZP(vs>0)
20.8425930.1154707.29710.0000
10.7960660.1154706.89410.0000
00.8509320.1154707.36930.0000
10.8029320.1154706.95360.0000
20.8473480.1154707.33830.0000
Overall0.8314550.05891114.11360.0000
Kendall'sCorrelationCoefficient
CoefSECoefZP
0.9580120.086066311.10900.0000
NOTE*Singletrialwithineachappraiser.Nopercentageofassessment
agreementwithinappraiserisplotted.

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Date of study:
Reported by:
Name of product:
Misc:

Assessment Agreement

Appraiser vs Standard
100

95.0% CI
Percent

Percent

80

60

40

20

0
Duncan

Hayes

Holmes
Appraiser

Montgomery

Simpson

Se muestran tres tablas de concordancia: Cada evaluador contra el Estndar, entre evaluadores, y
todos los evaluadores contra el estndar. Se incluyen las estadsticas de Kappa y Kendall en cada una.
En general los estadsticos sugieren un buen acuerdo. El coeficiente de Kendall entre evaluadores es
0.966317 (p=0.0000). El coeficiente de Kendall para todos los evaluadores contra el estndar es
0.958012 (p=0.0000).
La tabla de cada evaluador contra el estndar indica que Duncan y Hayes tienen baja concordancia
contra el estndar, Holmes y Montgomery concordaron en 15 de 15.
La grfica de evaluadores contra el estndar proporciona una vista de la tabla de concordancias de
cada uno de los evaluadores contra el estndar.
Con base en esto, Duncan, Hayes y Simpson requieren capaciacin adicional.
Minitab 15
Estudio de sistemas de medicin por atributos (mtodo analtico)
Los estudios de gages por atributos calculan la cantidad de sesgo y repetibilidad de un sistema
de medicin cuando la respuesta es una variable binaria por atributos. Para obtener una buena
estimacin del sesgo y la repetibilidad, se deben seguir las reglas para seleccionar las partes con
valores de referencia conocidos. El valor de referencia es la medicin continua conocida y correcta
asociada con cada parte.
Por ejemplo: un fabricante quiere medir el sesgo y la repetibilidad de un sistema de medicin por
atributos. El sistema tiene un lmitge inferior de tolerancia de -0.020 y un lmite superior de tolerancia
de 0.020.
El fabricante mide 10 partes, con valores de referencia en intervalos desde -0.050 a -0.005, a travs
del gage 20 veces.
1

File > Open worksheet AUTOGAGE.MTW.

Partnumber Reference Acceptances


1
-0.050
0
2
-0.045
1
3
-0.040
2
4
-0.035
5
5
-0.030
8
6
-0.025
12
7
-0.020
17
8
-0.015
20
9
-0.010
20
10
-0.005
20
2
3
4

Stat > Quality Tools > Gage Study > Attribute Gage Study (Analytic Method).
En Part numbers, seleccionar Part number.
En Reference values, seleccionar Reference.

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5
6

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Click Summarized counts y seleccionar Acceptances. En Number of trials, poner 20.


Click Lower limit and poner -0.020. Click OK.

Los resultados son los siguientes:

Attribute Gage Study (Analytic Method) for Acceptances


Reported by :
Tolerance:
Misc:

Gage name:
Date of study:

Bias:
Pre-adjusted Repeatability:
Repeatability:

99

0.0097955
0.0494705
0.0458060

95

AI A G Test of Bias = 0 vs not = 0


T DF
P-Value
6.70123 19 0.0000021

50

Probability of Acceptance

Percent of Acceptance

Fitted Line: 3.10279 + 104.136 * Reference


R - sq for Fitted Line:
0.969376
80

20

-0.05

-0.04

-0.03

-0.02

-0.01

Reference Value of Measured Part

L Limit
1.0

0.5

0.0
-0.050

-0.025

0.000

Reference Value of Measured Part

El sesgo del sistema de medicin es 0.0097955, y la repetibilidad ajustada es 0.0458060.


La prueba del sesgo indica que es significativamente diferente de cero (t = 6.70123, df=19, p=0.00)
lo anterior sugiere que hay sesgo presente en el sistema de medicin por atributos.

6.3 Estudios de capacidad de procesos para variables normales


Capacidad de procesos en base a carta X media - R
Para la teora revisar el artculo Capacidad de proceso.doc anexo
Se usa el archivo de datos VITA_C.MTW de pesos de comprimidos anexo.
La capacidad del proceso es la capacidad que tiene para cumplir especificaciones una
vez que muestra estabilidad o esta dentro de control estadstico.

Stat > Quality Tools > Capability Anlisis > Normal


Seleccionar R bar

Especificaciones
Boundary se usa cuando
es imposible tener piezas
fuera de este lmite
Los resultados se muestran a continuacin:
Sigma = R medio / d2 (constante)
El proceso debe estar en control

Variabilidad dentro de subgrupos (Within)


Variabilidad global (Overall)

Sigma = Desv. Estandar / c4 (cte.)


No importa si el proceso est
fuera de control estadstico

Process Capability of Peso


LSL

USL
Within
Overall

Process Data
LSL
3.08750
Target
*
USL
3.41250
Sample Mean
3.24312
SampleN
200
StDev(Within)
0.02136
StDev(O verall) 0.02917

Potential (Within) Capability


Cp
2.54
CPL
2.43
CPU
2.64
Cpk
2.43
CCpk 2.54

Cp y Cpk a partir de
Std. Dev. Within

Overall Capability
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

3.10

3.15

3.20

3.25

3.30

3.35

3.40

1.86
1.78
1.94
1.78
*

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso


LSL

P. Reyes / Nov. 2007

USL
Within
Overall

Process Data
LSL
3.08750
Target
*
USL
3.41250
Sample Mean
3.24312
SampleN
200
StDev(Within)
0.02136
StDev(O verall) 0.02917

Potential (Within) Capability


Cp
2.54
CPL
2.43
CPU
2.64
Cpk
2.43
CCpk 2.54
Overall Capability
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

1.86
1.78
1.94
1.78
*

Pp y Ppk a partir de
Std. Dev. Overall

Tanto el Cpk como Ppk


deben ser mayores a
O bserved Performance
Exp. Within Performance
Exp. O verall Performance
uno para que el proceso
PPM<LSL 0.00
PPM<LSL 0.00
PPM<LSL 0.05
PPM>USL 0.00
PPM>USL 0.00
PPM>USL 0.00
sea capz, de otra
PPMTotal
0.00
PPMTotal
0.00
PPMTotal
0.05
forma deben investigarse
las causas especiales
Partes por milln fuera observadas, en base a Std. Dev. Within, en base a Std. Dev. Overall
3.10

3.15

3.20

3.25

3.30

3.35

3.40

Visualizacin de las variaciones:


Con una grfica Scatterplot se tiene:
Subgrupo

2
4
5
6
12
13
14
15
6
7
8
10
C4 = 4(n - 1) / (4n - 3)

Scatterplot of Medidas vs Subgrupo

1
1
1
1
2
2
2
2
3
3
3
3

20

15

Medidas

Medidas

10

0
1.0

1.5

Var 1=2.92
Desv. Std. Overall = raiz (17.91) = 4.23
Se aplica una constante de correccin
C4 que en este caso es 0.9776

2.0
Subgrupo

Var 2=1.67

2.5

Var 3 = 2.92

Var Within = Promedio de Var 1, Var 2 y Var 3 = 2.5


Desv. Std. Within = raiz (2.5) = 1.58

Capacidad de procesos en base a carta I-MR


Ejemplo: Se mide el porcentaje de humedad en muestras tomadas cada 15 minutos de
alimentos para perros, su especificacin es del 6 al 15%
Los valores obtenidos son los indicados en el archivo HUMEDAD.MTW anexo:

Stat > Quality Tools > Capability Anlisis > Normal


Seleccionar Single Column %Humedad Subgroup size 1
Lower Spec 6 Upper spec 12

Estimate seleccionar R bar


OK
Process Capability of % Humedad
LSL

USL
Within
Overall

Process Data
LSL
6.00000
Target
*
USL
12.00000
Sample Mean
10.85938
SampleN
32
StDev(Within)
1.16392
StDev(Overall) 1.43526

Potential (Within) Capability


Cp
0.86
CPL 1.39
CPU 0.33
Cpk
0.33
CCpk 0.86
Overall Capability
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

6.4
Observed Performance
PPM<LSL
0.00
PPM>USL 156250.00
PPMTotal
156250.00

8.0

Exp. Within Performance


PPM<LSL
14.90
PPM>USL 163546.85
PPMTotal 163561.75

9.6

11.2

3.0

El Cpk es menor a 1
el proceso no es
capaz para cumplir
con especificaciones

0.70
1.13
0.26
0.26
*

12.8

Exp. Overall Performance


PPM<LSL
354.96
PPM>USL 213388.49
PPMTotal 213743.45

El proceso no tiene una capacidad suficiente de Cpk >1

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Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

P. Reyes / Nov. 2007

Opcin Six Pack para una informacin resumida:

Stat > Quality Tools > Capability Sixpack > Normal


Seleccionar Single Column %Humedad Subgroup size 1
Lower Spec 6 Upper spec 12

Estimate sel. R bar

Process Capability Sixpack of % Humedad

OK

I Chart

Capability Histogram

I ndividual Value

15

UCL=14.351

12

_
X=10.859

9
3

LCL=7.368
12

15

18

21

24

27

30

8.0

Moving Range

Moving Range Chart


UCL=4.290

9.6

12.8

__
MR=1.313

LCL=0
3

12

15

18

21

24

27

30

10

Last 25 Observations

Values

11.2

Normal Prob Plot


AD: 0.315, P: 0.527

12

14

Capability Plot
Within
StDev 1.16392
Cp
0.86
Cpk
0.33
CCpk
0.86

12
10
8

Within

Overall

Overall
StDev 1.43526
Pp
0.70
Ppk
0.26
Cpm
*

Specs

10

15

20
Observation

25

30

Identificando posibles causas con una grfica de serie de tiempo se tiene:


Trend Analysis Plot for % Humedad

Stat > Time series > Trend Analysis


Variables %Humedad
seleccionar Linear
OK

Variable
Actual
Fits

13

AccuracyMeasures
MAPE
8.53237
MAD
0.88705
MSD
1.31670

%Humedad

12
11
10
9

Se observa que el %
ha ido aumentando con
el tiempo por alguna
razn a lo largo del da
Minitab 15

LinearTrendModel
Yt = 9.42198 + 0.0871151* t
14

8
7
3

12

15
18
Index

21

24

27

30

Capacidad de proceso considerando la variabilidad dentro y entre subgrupos


Cuando la variabilidad dentro de los subgrupos puede ser significativa, es mejor utilizar esta opcin
Por ejemplo si toman 3 muestras de 25 rollos consecutivos y se mide el espesor de su recubrimiento.
que debe ser de 50 +- 3 mm para cumplir especificaciones:
1
2
3
4

File > Open worksheet BWCAPA.MTW.


Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Between/Within.
En Single column, seleccionar Coating. En Subgroup size, seleccionar Roll.
En Lower spec, poner 47. En Upper spec, poner 53. Click OK
Between/ Within Capability of Coating
LSL

USL

Process Data
LSL
47
Target
*
USL
53
Sample Mean
49.8829
Sample N
75
StDev(Between) 0.685488
StDev(Within)
0.40608
StDev(B/W)
0.79674
StDev(O verall)
0.838488

B/W
Overall
B/W Capability
Cp
1.26
CPL 1.21
CPU 1.30
Cpk 1.21
Overall Capability
Pp
PPL
PPU
Ppk
Cpm

47
O bserved Performance
PPM < LSL 0.00
PPM > USL 0.00
PPM Total
0.00

48

Exp. B/W Performance


PPM < LSL 148.20
PPM > USL 45.72
PPM Total
193.92

49

50

51

52

1.19
1.15
1.24
1.15
*

53

Exp. Overall Performance


PPM < LSL 292.72
PPM > USL 100.61
PPM Total
393.34

Pgina 25 de 47

Mintab V15

Cpm
*
Mdulo 6. Control Estadstico
del Proceso

47
O bserved Performance
PPM < LSL 0.00
PPM > USL 0.00
PPM Total
0.00

48

Exp. B/W Performance


PPM < LSL 148.20
PPM > USL 45.72
PPM Total
193.92

49

50

51

52

P. Reyes / Nov. 2007

53

Exp. Overall Performance


PPM < LSL 292.72
PPM > USL 100.61
PPM Total
393.34

El Cpk es de 1.21 indicando que el proceso es justamente capaz pero puede ser mejorado.
El total de PPM es de 193.4 indicando que todava se puede mejorar el proceso.
Capacidad de proceso para mltiples variables (normal)
Por ejemplo se quiere evaluar el espesor durante la maana y tarde. Se miden 5 muestras de 10 cajas
producidas en cada turno. El espesor debe estar entre 10.44 y 10.96 mm.
1
2
3
4
5
6

File > Open worksheet MCAPA.MTW.


Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Multiple Variable (Normal).
En Variables, seleccionar Thickness. En Subgroup sizes, poner 5.
Seleccionar By variables, y Shift.
En Lower spec, poner 10.44. En Upper spec, poner 10.96.
Click OK.

ProcessCapabilityofThicknessbyShift
ProcessData
ShiftLSLTargetUSLSampleMeanSampleNStDev(Within)
110.44*10.9610.8948500.0234052
210.44*10.9610.8892500.0234052
ShiftStDev(Overall)
Capability Histograms of Thickness by Shift
10.0218753
Shift = 1
LSL
USL
20.0225732
10.0
Within
Within
Overall
Potential(Within)Capability Cp 3.703 7.5
Overall
CPL 6.477
ShiftCpCPLCPUCpk
5.0
Pp
3.962
CPU 0.929
PPL
6.930
Cpk 0.929
13.7036.4770.9290.929
2.5
PPU 0.994
23.7036.3971.0081.008
Ppk
0.994
0.0
10.495 10.565 10.635 10.705 10.775 10.845 10.915
Cpm
*
OverallCapability
Shift = 2
ShiftPpPPLPPUPpkCpm LSL
USL
Within
Within
13.9626.9300.9940.994*
10.0
Overall
Cp
3.703
23.8396.6331.0451.045*
7.5
Overall
CPL 6.397
Pp
3.839
CPU 1.008
5.0
ObservedPerformance
PPL
6.633
Cpk 1.008
PPU 1.045
ShiftPPM<LSLPPM>USLPPMTotal2.5
Ppk
1.045
0.0
10.000.000.00
10.495 10.565 10.635 10.705 10.775 10.845 10.915
Cpm
*
20.000.000.00
Probability Plots of Thickness by Shift
Exp.WithinPerformance
Shift = 1
ShiftPPM<LSLPPM>USLPPMTotal
Normal - 95% CI, AD: 0.527, P: 0.171
10.002670.582670.58
99
90
20.001243.301243.30
50
Exp.OverallPerformance
10
ShiftPPM<LSLPPM>USLPPMTotal
1
10.82
10.84
10.86
10.88
10.90
10.92
10.94
10.96
10.001438.771438.77
20.00855.01855.01
Shift = 2
Normal - 95% CI, AD: 0.556, P: 0.144

99

Los Cpks y Ppks no cumplen con


la referencia de la industria de 1.33

90
50
10
1

10.82

10.84

10.86

10.88

10.90

10.92

10.94

10.96

6.4 Estudios de capacidad de procesos para variables no normales


Minitab 15

Cuando los datos no son normales, se pueden intentar transformar con:

Transformacin de Box Cox (para datos agrupados en subgrupos de tamao n >1 y con valor positivo)
Identifica la potencia lamda a la que hay que elevar los datos para que sigan una distribucin normal.
Ejemplo: Se mide la torcedura que tienen los ladrillos en un horno, los datos se encuentran
en el archivo TILES.MTW anexo. Se miden 10 ladrillos diarios por 10 das.

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Histogram of Warping
14
12

Frequency

10
8
6
4
2
0

4
Warping

Se observa una distribucin no normal


Haciendo una prueba de normalidad con:

Stat > Basic statistics > Normality test


Variable Warping
Anderson Darling
Se obtiene un valor P de 0.01 indicando que los datos no son normales.
Ahora se transforman los datos por el mtodo de Box Cox:
1
2
3

File > Open worksheet TILES.MTW.


Seleccionar Stat > Control Charts > Box-Cox Transformation.
En Single column, seleccionar Warping. En Subgroup size, poner 10. Click OK.
Box-Cox Plot of Warping
Lower CL

40

Upper CL
Lambda
(using 95.0% confidence)

StDev

30

Estimate

0.43

Lower CL
Upper CL

0.20
0.65

Rounded Value

0.50

20

10

Limit

0
-2

-1

1
2
Lambda

Por tanto el exponente al que hay que elevar los datos es 0.5 o sacar raz cuadrada.
Haciendo el anlisis conisderando esta transformacin de datos se tiene:

1 Stat > Quality tools > Capability analysis > Normal


2 Single column - Warping Subgroup size - 10 Lower spec 0 Upper Spec 8
3 Seleccionar Box-Cox power transformation (W = Y**Lambda). Choose Lambda = 0.5 (raz cuadrada).
Process Capability of Warping
Using Box-Cox Transformation With Lambda = 0.5
LSL*

USL*

transformed data

Process Data
LSL
0
Target
*
USL
8
Sample Mean
2.92307
Sample N
100
StDev(Within)
1.75687
StDev(O verall) 1.78597

Within
Overall

Cpk = 0.76 el proceso


no es capaz de cumplir
especificaciones, est por
debajo de la referencia
Overall Capability
de 1.33.
Pp
0.88

Potential (Within) Capability


Cp
0.89
CPL 1.03
CPU 0.76
Cpk 0.76

After Transformation
LSL*
Target*
USL*
Sample Mean*
StDev(Within)*
StDev(O verall)*

0
*
2.82843
1.62374
0.52794
0.537984

PPL 1.01
PPU 0.75
Ppk 0.75
Cpm
*

0.0
Observed Performance
PPM < LSL
0.00
PPM > USL 20000.00
PPM Total 20000.00

0.4

0.8

Exp. Within Performance


PPM < LSL* 1050.35
PPM > USL* 11248.77
PPM Total
12299.11

1.2

1.6

2.0

Exp. O verall Performance


PPM < LSL*
1271.42
PPM > USL* 12569.47
PPM Total
13840.90

2.4

2.8

Ppk es igual a 0.75


el proceso dista mucho
de estar por debajo de la
referencia de 1.33

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15 LSL*

Target*
USL*
Sample Mean*
StDev(Within)*
StDev(O verall)*

Pp
0.88
Mdulo 6. Control Estadstico
del Proceso
PPL 1.01

0
*
2.82843
1.62374
0.52794
0.537984

PPU 0.75
Ppk 0.75
Cpm
*

0.0
Observed Performance
PPM < LSL
0.00
PPM > USL 20000.00
PPM Total 20000.00

0.4

0.8

Exp. Within Performance


PPM < LSL* 1050.35
PPM > USL* 11248.77
PPM Total
12299.11

1.2

1.6

2.0

2.4

2.8

Exp. O verall Performance


PPM < LSL*
1271.42
PPM > USL* 12569.47
PPM Total
13840.90

Transformacin de Jonhson (aplicable a datos individuales) alternativa de Box Cox


Para datos no normales, esta transformacin selecciona una funcin de tres familias
de distribuciones de una variable, que son fcilmente transformadas a una distribucin normal.
Las distribuciones son Sb, Sl y Su, donde B, L y U se refieren a la variable que se acota,
lognormal y no acotada. Minitab muestra los valores P para las distribuciones original y transformada
para comparacin. No siempre se encuentra la funcin ptima.
Para el ejemplo de los ladrillos:
1 File > Open worksheet TILES.MTW. Graph > Histogram > Simple Variable = Warping
2 Seleccionar Stat > Quality Tools > Johnson Transformation.
3 En Data are arranged as, seleccionar Single column; seleccionar Warping.
4 En Store transformed data in, seleccionar Single column; seleccionar C2.
5 Click Options.
Graph > Histogram > Simple Variable =C2
6 En P-Value to select best fit, poner 0.05. Click OK en cada cuadro de dilogo.
J ohnson Transformation for Warping
99.9

N
100
AD
1.028
P-Value 0.010

99

Percent

90
50
10
1

Select a Transformation

P-Value for AD test

Probability Plot for Original Data

0.6
0.8
0.6
0.4
0.2
Ref P

0.0
0.2

0.1
-5

0.8
Z Value
(P-Value = 0.005 means <= 0.005)

10

0.4

0.6

1.0

1.2

Probability Plot for Transformed Data

99.9

N
100
AD
0.231
P-Value 0.799

99

Percent

90
50

P-Value for Best F it: 0.798895


Z for Best F it: 0.6
Best Transformation Type: SB
Transformation function equals
0.882908 + 0.987049 * Ln( ( X + 0.132606 ) / ( 9.31101 - X ) )

10
1
0.1

-2

Los datos originales no siguen una distribucin normal: AD = 1.028, P = 0.01


Los datos transformados indican que siguen una distribucin normal: AD = 02310, P = 0.799
La grfica de dispersin de P vs Z indica que sobre el rango de 0.25 a 1.25 la funcin que mejor
ajusta es la de Z = 0.6.
La funcin de transformacin es: Y = 0.882908 + 0.987049*ln((X+0.132606)/(9.31101-X))
Identificacin de la funcin que mejor ajuste los datos, previo a la capacidad de datos no normales:
Se puede seleccionar o identificar una funcion de entre 14 tipos parametricos:
Por ejemplo para el caso de los ladrillos:
1 File > Open worksheet TILES.MTW.
2 Stat > Quality Tools > Individual Distribution Identification.
3 En Data are arranged as, seleccionar Single column, seleccionar Warping.
4 Seleccionar Use all distributions. Click OK.
DistributionIDPlotforWarping
DescriptiveStatistics
NN*MeanStDevMedianMinimumMaximumSkewnessKurtosis
10002.923071.785972.607260.281868.090640.7077250.135236
BoxCoxtransformation:Lambda=0.5
Johnsontransformationfunction:
0.882908+0.987049*Ln((X+0.132606)/(9.31101X))
GoodnessofFitTest
DistributionADPLRTP
Normal1.0280.010

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

BoxCoxTransformation0.3010.574
Lognormal1.477<0.005
3ParameterLognormal0.523*0.007
Exponential5.982<0.003
2ParameterExponential3.892<0.0100Cuando varias distribuciones ajustan
Weibull0.248>0.250
los datos, hacer lo siguiente:
3ParameterWeibull0.3590.4670Seleccionar la distribucion con el valor
SmallestExtremeValue3.410<0.010
mas alto de P, o que se ha usado antes
LargestExtremeValue0.5040.213
con este tipo de datos o la que de la
Gamma0.4890.238
capacidad de proceso mas conservadora.
3ParameterGamma0.547*0.763
Logistic0.879Prueba P de mxima verosimilitud (ML R) para comparar si
Loglogistic1.239<0.005
con dos parmetros se
3ParameterLoglogistic0.692*0.085
obtiene lo mismo que con
JohnsonTransformation0.2310.799
tres parmetros para
diversas distribuciones
MLEstimatesofDistributionParameters
DistributionLocationShapeScaleThreshold
Normal*2.923071.78597
BoxCoxTransformation*1.623740.53798
Lognormal*0.844290.74444
3ParameterLognormal1.378770.418431.40015
Exponential2.92307
2ParameterExponential2.667880.25518
Weibull1.6936Esta distribucin ajusta mejor a los datos
3ParameterWeibull1.504912.99693 por maxima verosimilitud
SmallestExtremeValue3.864131.99241
LargestExtremeValue2.095751.41965
Gamma2.342801.24768
3ParameterGamma2.127681.332080.08883
Logistic2.795901.01616
Loglogistic0.909690.42168
3ParameterLoglogistic1.304330.269971.09399
JohnsonTransformation*0.011200.99495
*Scale:AdjustedMLestimate
Probability Plot for Warping
2-Parameter Exponential - 95% CI

99.9

99.9

90

90

50

50
Percent

Percent

Exponential - 95% CI

10
1
0.1

0.001

0.010

0.100

1.000

10.000 100.000

Weibull - 95% CI

0.010 0.100 1.000 10.000


Warping - Threshold
3-Parameter Weibull - 95% CI

99.9

99.9

90

90

50

50
Percent

Percent

2-Parameter Exponential
AD = 3.892
P-V alue < 0.010

Warping

10
1
0.1
0.01

Exponential
AD = 5.982
P-V alue < 0.003

10

0.1
0.001

Goodness of Fit Test

Weibull
AD = 0.248
P-V alue > 0.250
3-Parameter Weibull
AD = 0.359
P-V alue = 0.467

10
1

0.10

1.00
Warping

10.00

0.1

0.1

1.0
10.0
Warping - Threshold

Por lo anterior se seleccionar la Distribucin de Weibull de dos parmetros para el

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

P. Reyes / Nov. 2007

anlisis de capacidad con datos no normales


Mtodo de Weibull - Se aplica para distribuciones sesgadas a la derecha (es aplicable a otras distribuciones)
1 File > Open worksheet TILES.MTW.
2 Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Nonnormal.
3 En Data are arranged as, seleccionar Single column, seleccionar Warping.
4 En Fit data with, seleccionar Distribution, seleccionar Weibull.
5 En Upper spec, poner 8. Click OK.
Se pueden utilizar otras distribuciones que mejor ajusten
Process Capability of Warping
Calculations Based on Weibull Distribution Model
LB

USL

Process Data
LB
0.00000
Target
*
USL
8.00000
Sample Mean 2.92307
SampleN
100
Shape
1.69368
Scale
3.27812

O verall Capability
Pp
*
PPL
*
PPU
0.73
Ppk
0.73

Ppk es igual a 0.73


el proceso dista mucho
de estar por debajo de la
referencia de 1.33

Exp. Overall Performance


PPM<LB
*
PPM>USL 10764.5
PPMTotal
10764.5

Observed Performance
PPM<LB
0
PPM>USL 20000
PPMTotal 20000

0.0

1.5

3.0

4.5

6.0

7.5

Capacidad de proceso para variables mltiples no normales


Por ejemplo se trata de evaluar dos mquinas para empacar comida congelada
con peso de 31 +- 4 onzas. Se seleccionan 50 muestras de 50 paquetes de cada mquina y se pesan:

0.1

LCL=0.0255

Binomial Plot

15
10

Average Total I nspection


Average Total Inspection

Average Total I nspection

Cumulative Sum

Average Total I nspection

Generalized
Variance
Tsquared
Proportion

90 10
7.5
0.8

DPU

Generalized
Variance
% Defective

0
75
20
0.050
3
6
9
12 15 18 21 24 27 30
1.2
50
1.2 0 Observed10
UCL=13.61
100 3.5547
Defectives
Sample
201.5
_
0.045
0.8
0.8
7.5
104 3.5547
-2.5
7
P=0.222
15
Cumulative 1
% Defective
0.2
10 Dist of % Defective
10
5.0
120
3
4
0.6 15 50
25
100
15000000
0.6
UCL=2.900
50 10
UCL=5.68
Tar
LCL=-3.82
ProcessCapabilityofWeightbyMachine
0.045
Summary
_ Stats
24.0
5.0
5.0
10.0
0.8
n sample size
0.040
_
20
LCL=0.0457
(using 95.0% confidence)
-5.0
10
6815
U=3.15
0 P=0.03812 UCL=94.20
1
22.5
50.0
151.0
% Defective:
19.29
0 7.522 0 24_
k critical distance
2.5
2 32 6 94 12 615 18 8 21 2410 27 30
12
14 0.016
18
200.0
22.5
UCL=13.61
Distribution:LargestExtremeValue
15
30
90
0.1 100
Lower C I :
17.25
25
8
0.6
21.00.6
Upper C I :
_3630010 Median=1.36
10
1 30Sample
010
10
00
150520 Defectives
45015
600 20
0.6
5
Observed
U=9.87
0.035
0.040
Sample
26
28
32
121.45
5.0 34
2.5
Target:
0.00
0 6
ProcessData
19.5
P=0.03867
I ncoming Lot Percent Defective
0.0
__
1
PP M Def:
192857
_
0.0
LCL=0
Incoming
Lot
0
Defectives
Per
Million
10000000
UCL=87.3
10
_
Incoming
Lot
Percent
Defective
2.5
_ 26.75
16 80
Lower C I :
172495
UCL=15.61
28.25
29.75
31.25
0
18.0
1
4
7
10
13
16
19
22
25
28
31
NP=5.28
10
4
__
Cumulative
%
Defective
Dist
of
%
Defective
60.5
10 4 8 12 16 20 24 28 32Machine
Upper C I :
X=0.442
0.0
2.5
5.0
80
=5214517
2
0.030
36 40
MachineLSLTargetUSLSampleMeanSampleNLocationScale
X=0.442
0.6
0.0
Process
Z:
0.8674
Sample
0.0
010TI15
ACI,
verage
Total
nspection
0 200
5(A
)Total
Curve
20 _
25 NP=5.39
30 35
5
10
15
20
25
30
00.035
0 I P:
400
600
Tar
Lower
CI :
0.7908
12
Observed
Largest
Extreme
Value
- 95%
AD:
> 0.250
Average
I nspection
(ATI
) Curve
Summary
Stats 0.341,
Sample
50.4
Sample
_ I nspection
Average
Total
(ATI
)Defects
Curve
Machine
=2
4
Upper C I :
0.9444
0.4
3
70
C=69.24
127*3530.57665029.94091.12097
0.4
I ncoming
Lot Defectives
Per Million
5000 confidence)
(using 95.0%
99
0
Target=0
C=63.4
30.0
16
0.025
4
_
LSL UCL=19.71
208 60
5000
-1
50.0
Target=0
5000000 Cumulative DPU
R=7.38
LCL=0.02308
0.030
% Defective: 0 22.20 2200
2-2.5
Dist of DPU
12
227*3530.36865029.79411.04393
27.5 605
Lower CI :
20.12
12
2
I nspection
A T I 16
) Curve
9040.020
2Average
4
6T otal
8LCL=0.30
10
12 (14
18 20 22
24
150
-2
Upper CI :
24.39
LCL=-2.017
1700 Stats
0.4
2
9Tar
Summary
OverallCapability
1
-10
40
0.2
LCL=39.5
0.2
4
16
-5.0
Sam
ple
3
6
9
12
15 Target:
18 3000
21
24
27
30
25.0
0.00
| S|
=1711331
8
00.025
Target=0
3000
-0.5
50
118
LCL=-5.68
5000.2
3
9
12
15Sam
21
24
27
30
16
LCL=0
95.0%
confidence)1
ple
PPM Def: (using
222000
1200
LCL=0.02292
6
MachinePpPPLPPUPpk
10 00
2200
-3
1 1 20
1
LCL=0
Median=1.36
0 4 6 6 8 8 1010Sample
LCL=0
22.5
10
4
12
14
16
18
22 4 24
24
LCL=44.28
:
201196
12 Lower
14 CI
16
18
20 22
22
0 2 222 with
66 sample
88 10
12
14
18
1 4
Mean
Def:
116
12LCL=0
4unequal
10
14
16
18
2020
22 3.1500
2424
Tests performed
sizes12
20
Sample
0
0.020
0.1 340
Upper1000
CI13
:
243898
10.841.330.660.66
3
Sample
3 unequal
5 sample
7 sizes
9 Sample
11
15 CI700
17 2.6240
19
Sam
ple
Tests
Lower
1700
20.0
5performed
-4 111 with
7
35
5648
63
70
LCL=-0.978
1 14
2 21
3
428
5 31
6 Z:42
7
849
9:1000
100 34
11
12
-1.0
0.0
6
12
18
24
30
36
42
54
60
27
28
29
30
32
33
35
36 | S| =4.22
Process
0.7655
0.0
3
6
9
12
15
18
21
24
27
30
14
35
42 Upper
49
563.7505
63 2060
7040 50 60
Sample
0.2
6
12 20 21
1825 28
24
30
36
42
54
CI200
: 48
0 10
70
0.0 1511 7
10 4 15
30 Sample
20.901.350.740.74
Lower
CI :
0.6938 22
16
19
25 22
2824 30 31
Sample
8 0
Sample
2
4Sample67 8 10 10 13Sample
12
14
16
18
20
Sample
Sample
Mean
3.1500
1200DPU:
Upper
CI
:
0.8374
26.75 LCL=0 28.25
29.75
31.25
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
24
0
0
150
300
450
600
Sam
ple
0
10
20
0
10
0
150
20
300
450
600
2
Sample
ObservedPerformance
Lower
CI
:
2.6240
0
5
10
15
20
0 25 Lot5Defectives
10
20
Lot Defectives
Lot Percent
1
4
7Defective
10Per Million
13 Sample
16
19 Lot Percent
22 Defective
28 4
31
Per Million 15
0.0

USL

Overall
Pp
0.84
PPL 1.33
PPU 0.66
Ppk 0.66

Expected Defects

_
P=0.1929

AO Q (Defectives Per Million)

Sample Count T
Per
Unit
squared
Sample Mean

% Defective Count
Sample
Per Unit
Sample
Range
Proportion
Probability
of
Acceptance
Proportion
Sample
Count
Cumulative
SumProportion
Sample
Count
Sam
ple
Count
Probability
of
Acceptance
Probability
Sample
of
Acceptance
Count
Cumulative
Sum
MEWMA
Cum
ulative
Sum
Probability
of
Acceptance
EWMA
Moving
Average

0.2

AOQ (Percent Defective)

UC L=0.3602

Expected Defectives
Expected Defectives

P Char t

0.3

AOQ (Defectives Per Million)


AOQ (Percent Defective)

1 File > Open worksheet MNCAPA.MTW.


2 Seleccionar Stat > Quality Tools > Capability Analysis > Multiple Variable (Nonnormal).
3 En Variables, seleccionar Weight.
BinCharacteristic
omial
Process
Capab
ility
Analysis
Descontentos
A
verage Outgoing
Quality
( A OQ) Outgoing
Curve
4AO
Seleccionar
BY
variables
seleccionar
Machine.
Probability
Plots
Weight
byof
Machine
Pa
Average
Quality
(AOQ)
Curve
Operating
Curve
Xbar-R
Chart
of AtoBDist
Average
Outgoing
(AOQ)
Curve
P(OC)
Chart
of
Defectuosos
Vm
ask
ChartQuality
of
AtoBDist
Operating
Characteristic
(OC)
Curve
Binomial
Process
Capability
Analysis
of Descontentos
0.03
C
Chart
of
Visitas
Operating
Generalized
Characteristic
Variance
(OC)
Curve
Chart
ofChart
HeartRate,
...,
Weight
NP
Chart
of
Defectuosos
U Chart
of
Numero
manchas
NP
Chart
of
Defectuosos
Vmask
Chart
of
AtoBDist
AOQL=1.55%
Tsquared
Chart
of
Stay,
Satisfaction
Tsquared-Generalized
Variance
of Stay,
Satisfaction
P
Chart
of
Defectuosos
Curva
OC
Capability
Histograms of Weight by Machine
EWMA
Chart
of=
AtoBDist
A verage
Quality
(AOQ)
n Curve
c
CUSUM
Chart
of
AtoBDist
Poisson
Capability
Analysis
of
Num.
defectos
Operating
Characteristic
(OC)
Curve
C
Chart
Visitas
4Q5.0En
Fit
data
1
with,
seleccionar
Distribution
yOutgoing
seleccionar
Largest
extreme
value.
1
Machine
1 of
UCL=4.70
Vmask
Chart
ofof
AtoBDist
2.4
Average
Chart
AtoBDist
100
P Chart Moving
Binomial
Plot
Multivariate
EWMA
Chart
of
Weight,
Length
2.4
1.0
p
160
25
52
0
0.055
40
14
1.0
Largest
Extreme Value - 95% CI, AD: 0.335, P: > 0.250
1.0
con
UCL=20920973
n
k Machine = 1
0.055
1 poner
UCL=0.05316
1 U Chart
12
120
52 2Poisson Plot
UCL=11.98
5 20
EIn
Lower
spec,
27.
En
Upper
100
spec,
poner
35.
1
UCL=0.05441
2.5 25
2.0
9
5
10.0
0.6
1.8 p
99
LSL
1.020000000
75
20
1.8 30
50 3.5547
UCL=8.634
_
UCL=1.861
UCL=19.44
_
0.050
20
UCL=8.474
n =
sample
size
n
=
89,
c
2
UCL=12.16
140
6 150.00.4
Click
OK.
20
X=0.44
75 3.5547
12
84
10.0
7.5
110
6 c acceptance number
UCL=0.3983
20
30

700CI :
Upper
3.7505
Lot Percent Defective
Sample
Lot Percent Defective
MachinePPM<LSLPPM>USLPPMTotal
Min DPU:
0.0000
Sam
ple
0.0
1 Size = 104, Critical Distance = 3.55750
200
0
10.000.000.00
Max
DPU:
6.0000
Sample Size = 52, Acceptance Number = 2
0 1
2 3
10
20
30
40
Targ DPU:
0.0000
0
200 Sample
400
600
20.000.000.00
0
200
400
600
Lot Defectiv es Per Million
Lot Defectives Per Million
Exp.OverallPerformance
MachinePPM<LSLPPM>USLPPMTotal
11.0310904.0210905.06
20.496803.716804.19

Pgina 30 de 47

32.75

34.25

USL

Overall
Pp
0.90
PPL 1.35
PPU 0.74
Ppk 0.74

32.75

34.25

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Tambin en este caso los Ppks no cumplen con el criterio de al menos 1.33.

6.5 Cartas de control por atributos


Para la teora ver articulo sobre Cartas de Control.doc y el Curso de CEP
Se usan estas cartas para cuando las caractersticas se juzgan como pasa o no pasa
Carta P de proporcin o fraccin de unidades defectuosas, no conformes o defectivas
Ejemplo: El archivo MOTORES.MTW contiene datos de motores pequeos producidos
y los que al final del proceso han resultado defectuosos, correspondientes a 6 semanas.
Carta de control p usando el archivo MOTORES.MTW

Stat > Control Charts > Attrutes chart > P


Variables Defectuosos
Subgroup sizes Produccin
OK

Se tienen lmites de
control variables por
ser el tamao de muestra
variable

TestResultsforPChartofDefectuosos
TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:3,26
Aproximando el tamao de muestra a su promedio se tiene n = 1350

Stat > Control Charts > Attrutes chart > P


Variables Defectuosos
Subgroup sizes 1350
OK

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Carta de control NP para el nmero de defectuosos o no conformes


Ejemplo: El archivo CATETER.MTW contiene datos de cateters defectuosos encontrados
al inspeccionar muestras de 100 piezas cada hora observando la calidad de la soldadura.

Carta de Control np usando el archivo CATETER.MTW

Stat > Control Charts > Attributes chart > NP


Variables Defectuosos
Subgroup sizes 100
OK

TestResultsforNPChartofDefectuosos
TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:18

La causa aparente del punto fuera de control en la carta es un lote defectivo de materia prima
por lo que es razonable no considerarlo y recalcular los lmites de control

Stat > Control Charts > Attributes chart > NP


Variables Defectuosos
Subgroup sizes 100
NP Chart Options Estimate Omit the following subgroups when estimating parameters 18
Data Options seleccionar Especify which rows to exclude seleccionar Row numbers 18
OK

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Carta de control C para defectos por unidad de inspeccin constante


Ejemplo: Se usa el archivo VISITAS_WEB.MTW el cual se encuentra anexo y describe
el nmero de visitas recibidas en una pgina Web durante octubre y noviembre 2002
indicando tambin la fecha y da de la semana
Carta de control C usando el archivo VISITAS_WEB.MTW

Stat > Control Charts > Attributes chart > C


Variables Visitas
OK

TestResultsforCChartofVisitas
TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:5,6,10,11,22,26,33,37,40,41,54,55
El punto del da 10 representa un pico debido a un anuncio especial anunciando la pgina
los otros puntos que salen de control se presentan los fines de semana.
Para eliminar los puntos correspondientes a sbados y domingos usar el botn Data Options
para recalcular los lmites de control de nuevo:

Stat > Control Charts > Attributes chart > C


Variables Visitas
Data Options
C Chart OptionsData Options

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

P. Reyes / Nov. 2007

Omitir los puntos 10 y 11


en el reclculo de lmites

Excludingrowswhere'Diasemana'="S"or'Diasemana'="D"orFecha=DATE("10/10/2002")
18rowsexcluded
Minitab 15

Leave gaps for excluded points: Seleccionar para dejar un espacio en la grfica
para los puntos excluidos

Carta de control U para el nmero de defectos por unidad de inspeccin variable


Ejemplo: Se utiliza el archivo TEJIDO.MTW anexo
Contiene el nmero de manchas de cada tela y su superficie corresp. en metros cuadrados
Carta de Control U usando el archivo TEJIDO.MTW

Stat > Control Charts > Attributes chart > U


Variables Numero Manchas
Subgroup size Superficie
OK

Los lmites de control


son variables debido a
que el tamao de muestra
es variable

El proceso est en control estadstico

6.6 Estudios de capacidad por atributos


Estudio de capacidad para variables que siguen una distribucin binomial (fraccin defectiva)

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Ejemplo: Se usa el archivo BANCO.MTW anexo que contiene por diferentes agencias
bancarias, el nmero de clientes no satisfechos de entrevistas a 50 en cada una.

Stat > Quality tools > Capability Analysis > Binomial


Defectives Descontentos
Sample size seleccionar Constant size 50
Target 0
OK
TestResultsforPChartofDescontentos
TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:6,13,28
3 puntos fuera de control

Puntos fuera de control

Meta 0 defectuosos
La grfica acumulativa debe
acabar estabilizandose cerca

Intervalos de confianza y ppm de defectuosos

del valor medio para indicar


que el tamao de muestra

La Z del proceso es 0.75 que es muy baja,

es representativo

debe mejorarse

Seleccionando la carta de control P y con Editor > Brush y Editor > Set ID variables a Agencia
se identifican las agencias 112 y 212 como las que ms influyen en las quejas.
Colocando asteriscos en los datos de estas agencias se tiene:
Asi el porcentaje de clientes insatisfechos por agencia se encuentra
entre el 18 al 22% para un nivel de confianza del 95%.
Es importante identificar las causas asignables que distinguen a las agencias.

TEST1.Onepointmorethan3.00standarddeviationsfromcenterline.
TestFailedatpoints:28
Estudio de capacidad para variables que siguen una distribucin de Poisson (nmero de defectos)

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Se usa como ejemplo el archivo PINTADO_HORNO.MTW anexo el cual contiene


detectados en 40 piezas consecutivas.

Stat > Quality tools > Capability Analysis > poisson


Defects Nmero de defectos
Constant size 1
Target 0
OK
El proceso es estable en torno a 3 defectos por unidad.

El nmero de muestras es suficiente

Los valores siguen una distribucin


de Poisson

6.7 Cartas de control especiales (EWMA y CuSum)


Grfica de Sumas acumuladas ( CuSum )
Se usa para registrar al centro del proceso.Se corre en tndem (una tras otra)
Es ms sensible que la grfica X al movimiento de los pequeos cambios sostenidos
en el centro del proceso.
Es ms sensible que la grfica X al movimiento de separacin gradual del centro del proceso.
Es menos sensible que la grfica X al desplazamiento grande e nico del centro del proceso.
Se puede aplicar a las Xs o a las Xs individuales
Sus parmetros clsicos son h = 4; k = 0.5
Son ms eficientes que las cartas de Shewhart para detectar pequeos corrimientos en la
media del proceso (2 sigmas o menos)
Para crear la carta Cusum se colectan m subgrupos de muestras, cada una de tamao n y
se calcula la media de cada muestra Xi-media. Despus se determina Sm o Sm como sigue:

Ejemplo: Variaciones de una flecha respecto a una lnea de referencia, los datos se
encuentran en el archivo CRANKSH.MTW anexo.

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Carta X media - Rango

Stat > Control Charts > Variables Charts for Subgroups > Xbar
En Subgroup sizes, poner 5.
OK

No se observa que el
proceso tenga corrimiento
o est fuera de control

Carta de Sumas acumuladas con Lmites Superior e inferior

Stat > Control Charts > Time Weighted Charts > Cusum
En Subgroup sizes, poner 5. Target 0.0
OK

Los puntos 4-10 estan


fuera de lmite superior
de control, el proceso
est fuera de control
Se tienen corridas por
arriba del lmite superior
de control, no visibles en
la carta X-R anterior

TestResultsforCUSUMChartofAtoBDist
TEST.Onepointbeyondcontrollimits.
TestFailedatpoints:4,5,6,7,8,9,10
Carta de Sumas acumuladas con Mascara en V
La carta de control CuSum se obtiene graficando los valores de Sm o Sm como funcin de m.
Si el proceso permanece centrado, la carta tender hacia el valor de la media 0
Si el proceso se corre gradualmente hacia arriba o hacia abajo, ser indicado en la carta.
Su sensibilidad est determinada por los parmetros k y h.
Una forma de identificar si el proceso sale de control es con una mascara en V cuyo origen
se coloca en el ltimo punto de suma acumulada determinado y observando que ninguno de
los puntos anteriores se salga, de otra forma tomar accin

Stat > Control Charts > Time Weighted Charts > Cusum
En Subgroup sizes, poner 5. Target 0.0
en Cusum Options: Seleccionar two sided V mask Center on subgroup 6 o 8

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

OK

Indica situacin fuera


de control en el punto
de medicin actual

Carta EWMA de promedios mviles ponderados exponencialmente


Monitorea un proceso promediando los datos de tal forma que les da cada vez menos
peso conforme son removidos en el tiempo. Tiene sensibilidad simlar a la de la Cusum
Es ms sensible que la carta X al movimiento de separacin gradual de la media del proceso.

Stat
> Control
Charts > Time
Weighted
Charts
> EWMA
Seleccionar
All observations
for a chart
are in one
column,
seleccionar AtoBDist
En Subgroup sizes, poner 5. Weight of EWMA 0.2
OK
Puntos fuera de control

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P. Reyes / Nov. 2007

Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

TestResultsforEWMAChartofAtoBDist
TEST.Onepointbeyondcontrollimits.
TestFailedatpoints:5,6
Carta de promedios mviles
Tiene una sensibilidad intermedia entre las cartas X-R y la Cusum y EWMA
Stat
> Control
> Time Weighted
Moving
average
Seleccionar
AllCharts
observations
for a chartCharts
are in >
one
column,
seleccionar AtoBDist
En Subgroup sizes, poner 5. Lenght of MA 3
OK

TEST.Onepointbeyondcontrollimits.
TestFailedatpoints:5,6
Minitab 15

Fuera de control el punto 6

Cartas de control multivariadas


Se utilizan para el control simultaneo de varias caractersticas de un producto, una condicin
es que haya una dependencia o correlacin entre estas variables:

Carta T2

Es una versin multivariada de la carta de Individuales y la carta de medias Xbarra


En un hospital se encuestan a cinco clientes diarios sobre su satisfaccion y estancia en el hospital.
Dado que ambas estn correlacionadas, se usa una carta de control multivariada.
La satisfaccin se mide del 1 al 7 y la estancia en das.
1
2
3

File > Open worksheet HOSPITAL.MTW.


Stat > Control Charts > Multivariate Charts > Tsquared.
En Variables, seleccionar Stay Satisfaction.

En Subgroup sizes, poner Departure, then click OK.


Departure

Stay

1/01/01

Satisfaction TestResultsforTsquaredChartofStay,Satisfaction
PointVariablePValue
5

1/01/01

6.5

GreaterThanUCL18Stay0.0010

1/01/01

5.2

Satisfaction0.0002

1/01/01

19Satisfaction0.0000

1/01/01

1/02/01
Etc.

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Se observa que el da 18 ambas variables salieron de control, pero el da 19 solo se afect la


satisfaccin, por lo que se debe investigar la causa.

Carta T2 y varianza generalizada


Esta carta es la carta multivariada equivalente de la I-MR, X-R, y X-S al monitorear al mismo tiempo
las medias y las varianzas de varias variables del proceso correlacionadas.
Paraelcasodelhospital:
1

File > Open worksheet HOSPITAL.MTW.

Stat > Control Charts > Multivariate Charts > Tsquared-Generalized Variance.

En Variables, seleccionar Stay Satisfaction.

En Subgroup sizes, poner Departure, then click OK.

TestResultsforTsquaredChartofStay,Satisfaction
PointVariablePValue
GreaterThanUCL18Stay0.0010
Satisfaction0.0002
19Satisfaction0.0000

Se muestran situaciones anormales los das 18 y 19 en los valores medios


de satisfaccin y estancia; la variabilidad conjunta de estancia y satisfaccin
se mantiene en control durante los 30 das del mes
Carta de varianza generalizada - sirve para monitorear la varianza conjunta de varias variables

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Se miden el pulso, presin sanguinea y peso de 5 pacientes cada semana durante tres meses.
Se trata de investigar si se mantiene en control la variabilidad conjunta de las tres variables:
1

File > Open worksheet HEARTHDRUG.MTW.

Stat > Control Charts > Multivariate Charts > Generalized Variance.

En Variables, seleccionar HeartRate Systolic Diastolic Weight.

En Subgroup sizes, poner Week,

Click Labels. En Title, teclear Generalized Variance Chart for Effects of Heart Drug.

Click OK en cada cuadro de dalogo.

No hay puntos fuera de control, indicando que la variabilidad conjunta de los signos
de las cinco personas est en control
Carta MEWMA para monitoreo simultaneo de varias variables correlacionadas
Por ejemplo en un secador por aspersin, para controlar el tamao de partcula, se puede
monitorear la temperatura de alimnetacin y la temperatura en la cmara.
Por ejemplo un fabricante de juguetes quiere monitorear el peso en gramos y la longitud en cms.
de un juguete. Se colectan 4 muestras cada da por 20 das. Como estas variables
estan correlacionadas, se quiere detectar pequeos corrimientos en estas variables.
1

File > Open worksheet TOYS.MTW.

Seleccionar Stat > Control Charts > Multivariate Charts > Multivariate EWMA.

En Variables, seleccionar Weight Length.

En Subgroup sizes, seleccionar Day. Click OK.

El proceso se muestra en control.

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

6.8 Muestreo por atributos


Para la teora ver el documento Muestreo de Aceptacin.Doc anexo
Clculo de la probabilidad de aceptacin -Curva caracterstica de operacin (OC)
La probabilidad deaceptar lotes con una cierta fraccin defectiva p
en base a un tamao de muestra n utilizando la distribucin Binomial es:
Excel

=distr.binom(x, n, p, 1) con x=Defectuosos aceptados,


n -muestra, p -fraccin defectiva

Minitab

Calc > Probability distributions > Binomial


seleccionar Cumulative Probability
Poner en Trials n Prob. Success p
En Input constant x (para cada una de las p's)

Pa =

p
0.005
0.010
0.020
0.030
0.040
0.050
0.060
0.070
0.080
0.090
0.100
0.110
0.120

0.98969
0.93969
0.73658
0.49848
0.30416
0.17208
0.09187
0.04682
0.02296
0.01089
0.00501
0.00225
0.00098

Fraccin def. en lote - p

Por ejemplo si el lote tiene un 2% de defectivo y se toman muestras de


n = 89, aceptando hasta con c = x = 2 defectivos, se aceptan 74 lotes
de cada 100 lotes que enve el proveedor con esta fraccin defectiva
Clculo del nivel de calidad promedio de salida (AOQ) en inspeccin rectificadora
La inspeccin rectificadora se refiere a que los lotes que son
rechazados al aplicar el plan de muestreo se reingresan al cliente
una vez que se seleccionan al 100%, reduciendo la fraccin def. total.
La fraccin defectiva que se ingresa al almancn AOQ una vez que
se aplica el plan de muestreo n = 89, c = 2 es:

p
0.005
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07

Pa
0.98969
0.93969
0.73658
0.49848
0.30416
0.17208
0.09187
0.04682

AOQ = Pa . P

0.00495
0.00940
0.01473
0.01495
0.01217
0.00860
0.00551
0.00328

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Mintab V15

0.08

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

0.02296

0.00184

Por ejemplo si el lote tiene un 2% de defectivo y se toman muestras de


n = 89, aceptando hasta con c = x = 2 defectivos aceptables
Lo anterior est plasmado en tablas de muestreo de aceptacin por
atributos indicadas en el artculo de Muestreo de Aceptacin.Doc
Minitab 15

Muestreo simple por atributos


Permite crear un plan de aceptacin por atributos o comparar varios planes de muestreo especificados

a) Crear un plan de muestreo para determinar el tamao de muestra y hacer una decisin sobre si
aceptar o rechazar el lote, con base en el nmero de defectivos o nmero de defectos encontrados
en la muestra.
b) Comparar varios planes de muestreo para determinar el efectos de variar el tamao de muestra o
el nmero de aceptacin.
Por ejemplo: un proveedor enva un lote de 5000 productos con varios defectivos. Se implementa un
plan de muestreo de modo que se acepte o rechace el lote completo. Se acuerda un AQL del 1.5% y
RQL de 10%.
Caso a)

1 Stat > Quality Tools > Acceptance Sampling by Attributes.


2 Create a sampling plan.
3 En Measurement type, seleccionar Go / no go (defective).
4 En Units for quality levels, seleccionar Percent defective.
5 En Acceptable quality level (AQL), poner 1.5. En Rejectable quality level (RQL or LTPD), poner 10.
6 EIn Producer's risk (Alpha), poner 0.05. En Consumer's risk (Beta), poner 0.10.
7 En Lot size, poner 5000.
8 Click OK.
AcceptanceSamplingbyAttributes
Measurementtype:Go/nogo
Lotqualityinpercentdefective
Lotsize:5000
Usebinomialdistributiontocalculateprobabilityofacceptance
AcceptableQualityLevel(AQL)1.5
Producer'sRisk(Alpha)0.05
RejectableQualityLevel(RQLorLTPD)10
Consumer'sRisk(Beta)0.1
GeneratedPlan(s)
SampleSize52
Plan de muestreo
AcceptanceNumber2
Acceptlotifdefectiveitemsin52sampled<=2;Otherwisereject.
PercentProbabilityProbability
DefectiveAcceptingRejectingAOQATI
1.50.9570.0431.420266.2
10.00.0970.9030.9564521.9

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Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Averageoutgoingqualitylimit(AOQL)=2.603at4.300percentdefective.

Caso b

Asumiendo que ya se implement un plan con n = 52 c = 2, AQL = 1.5%, LTPD = 10%.


Comparar este plan con uno en n = 52, c = 0.
1 Stat > Quality Tools > Acceptance Sampling by Attributes.
2 Compare user defined sampling plans
3 En Measurement type, seleccionar Go / no go (defective).
4 En Units for quality levels, seleccionar Percent defective.
5 En Acceptable quality level (AQL), poner 1.5. En Rejectable quality level (RQL or LTPD), poner 10.
6 EI Sampe sizes, poner 52. En Cacceptance numbers, poner 0 2.
7 En Lot size, poner 5000.
8 Click OK.
Los resultados son los siguientes:
AcceptanceSamplingbyAttributes
Measurementtype:Go/nogo
Lotqualityinpercentdefective
Lotsize:5000
Usebinomialdistributiontocalculateprobabilityofacceptance
AcceptableQualityLevel(AQL)1.5
RejectableQualityLevel(RQLorLTPD)10
CompareUserDefinedPlan(s)
SampleAcceptancePercentProbabilityProbability
Size(n)Number(c)DefectiveAcceptingRejectingAOQATI
5201.50.4560.5440.6762745.2
52010.00.0040.9960.0414979.3
5221.50.9570.0431.420266.2
52210.00.0970.9030.9564521.9
SampleAcceptanceAtPercent
Size(n)Number(c)AOQLDefective
5200.6931.887
5222.6034.300
Acceptlotifdefectiveitemsinnsampled<=c;Otherwisereject.

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Para cero defectos solo hay una probabilidad de aceptar de 45.6% lotes con un AQL de 1.5% defectivo
en vez de una probabilidad de acepacin del 95% cuando el criterio es aceptar hasta con dos defectos.
Minitab 15

Muestreo simple por variables


Permite crear un plan de aceptacin por variables o comparar varios planes de muestreo especificados

a) Crear un plan de muestreo para determinar el tamalo de muestra y hacer una decisin sobre si
aceptar o rechazar el lote, con base en las mediciones.
b) Comparar varios planes de muestreo para determinar el efectos de variar el tamao de muestra o
distancia crtica
Caso a)

Por ejemplo: un proveedor enva un lote de 2500 tubos de 2". Se implementa un plan de muestreo
para verificar el espesor de la pared. El lmite inferior es de 0.09". Se acuerda un AQL de 100 ppm
RQL de 300 ppm o defectos por milln.
1 Stat > Quality Tools > Acceptance Sampling by Variables
2 Create a sampling plan.
3 En Units for quality levels, seleccionar Defectives per million
4 En Acceptable quality level (AQL), enter 100.
En Rejectable quality level (RQL or LTPD), poner 300
5 En Producer's risk (Alpha), poner 0.05. En Consumer's risk (Beta), poner 0.10.
6 En Lower spec, poner 0.09
7 En Historical standard deviation, poner 0.025.
8 En Lot size, poner 5000.
9 Click OK.
El plan generado es el siguiente:
AcceptanceSamplingbyVariablesCreate/Compare
Lotqualityindefectivespermillion
LowerSpecificationLimit(LSL)0.09
HistoricalStandardDeviation0.025
LotSize2500
AcceptableQualityLevel(AQL)100
Producer'sRisk(Alpha)0.05
RejectableQualityLevel(RQLorLTPD)300
Consumer'sRisk(Beta)0.1
GeneratedPlan(s)
Plan de muestreo generado
SampleSize104
CriticalDistance(kValue)3.55750
Z.LSL=(meanlowerspec)/historicalstandarddeviation
AcceptlotifZ.LSL>=k;otherwisereject.
DefectivesProbabilityProbability
PerMillionAcceptingRejectingAOQATI
1000.9500.05091.1223.2
3000.1000.90028.62261.4

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Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

Averageoutgoingqualitylimit(AOQL)=104.6at140.0defectivespermillion.

Caso b)

Por ejemplo: un proveedor enva un lote de 2500 tubos de 2". Se implementa un plan de muestreo
para verificar el espesor de la pared. El lmite inferior es de 0.09". Se acuerda un AQL de 100 ppm
RQL de 300 ppm defectos por milln. Se quieren comparar los planes de muestreo con 50 75 100 104
1 Stat > Quality Tools > Acceptance Sampling by Variables > Create / Compare
2 Compare user defined sampling plans
3 En Units for quality levels, seleccionar Defectives per million
4 En Acceptable quality level (AQL), enter 100.
En Rejectable quality level (RQL or LTPD), poner 300
5 En Sample sizes, poner 50 75 100 104. En Critical distance (k values), poner 3.55750.
6 En Lower spec, poner 0.09
7 En Historical standard deviation, poner 0.025.
8 En Lot size, poner 5000.
9 Click OK.
Los resultados son los siguientes:
AcceptanceSamplingbyVariablesCreate/Compare
Lotqualityindefectivespermillion
LowerSpecificationLimit(LSL)0.09
HistoricalStandardDeviation0.025
LotSize2500
AcceptableQualityLevel(AQL)100
RejectableQualityLevel(RQLorLTPD)300
CompareUserDefinedPlan(s)
SampleCriticalDefectivesProbabilityProbability
Size(n)Distance(k)PerMillionAcceptingRejectingAOQATI
503.55471000.8770.12386.0350.5
503.55473000.1920.80856.52029.5
753.55471000.9230.07789.5262.6
753.55473000.1430.85741.72152.7
1003.55471000.9500.05091.2220.4
1003.55473000.1090.89131.42237.9
1043.55471000.9530.04791.3216.4
1043.55473000.1050.89530.12249.1
SampleCriticalAtDefectives
SizeDistance(k)AOQLPerMillion

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Mintab V15

Mdulo 6. Control Estadstico del Proceso

503.554797.9149.9
753.5547102.1143.4
1003.5547105.3141.6
1043.5547105.8141.5
Z.LSL=(meanlowerspec)/historicalstandarddeviation
AcceptlotifZ.LSL>=k;otherwisereject.

Se decide que un tamao de muestra de 50 no protege lo suficiente, ya que se tiene un 18.7% de


probabilidad de aceptar un lote con un RQL de 300 ppm, lo cual es demasiado alto. Tambin se
tiene un riesgo del 12.7% de rechazar un lote con 100 ppm, lo cual no es adecuado para el productor.
Por lo que se selecciona un tamao de muestra de 75 o ms dependiendo de la experiencia que se
vaya teniendo.

6.9 Aplicaciones
Realizar los ejercicios del Mdulo 5 incluidos en el archivo CursoTallerMinitabEjercicios

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