1 Definir retculo cristalino, celda unitaria y energa reticular.

Retculo Cristalino:Es la forma que adquiere la distribucin en el

espacio de los iones que constituyen la materia, ejemplo la Halita (sal
Gema), tiene red cbica. As hay una variedad de redes cristalinas:
Cbica de cuerpo centrado, cbica de cara centrada, Hexagonal
compacta, Hexagonal de cuerpo centrado, Hexagonal de cara
centrada, Tetragonal de cara y cuerpo centrado, Trigonal de cuerpo
centrado, Triclnica y Monoclnica.
Celda unitaria:Se define como celda unitaria, la porcin ms simple
de la estructura cristalina que al repetirse mediante traslacin
reproduce todo el cristal. Todos los materiales cristalinos adoptan
una distribucin regular de tomos o iones en el espacio. Se trata de
un arreglo espacial de tomos que se repite en el espacio
tridimensional definiendo la estructura del cristal. Se caracteriza
por tres vectores que definen las tres direcciones independientes
del sistema de coordenadas de la celda.
Energa reticular:La energa reticular o energa de red es la energa
requerida para separar completamente un mol de un compuesto inico
en sus iones gaseosos. En otras palabras, es la energa que se
obtendra de la formacin de un compuesto inico a partir de sus
iones gaseosos. Muestra la estabilidad de la red cristalina.
7.1 Describir los diferentes sistemas cristalinos y las celdas que los
constituyen.
Sistema

cristalino

cubico:El sistema cristalino cbico, tambin

llamado isomtrico,

es

uno

de

cristalinos existentes

en cristalografa.

los
Es

comn

siete sistemas
en

muchos

minerales, como por ejemplo en la pirita o la galena. Se caracteriza

porque la celda unidad de la red cristalina tiene la forma geomtrica
de cubo, ya que tiene los tres ngulos rectos y las tres aristas de la
celda iguales. La caracterstica que lo distingue de los otros seis
sistemas cristalinos es la presencia de 4 ejes de simetra ternarios.

 Sistema cristalino tetragonal:El sistema cristalino tetragonal es uno

de los siete sistemas cristalinos existentes en cristalografa.
Ejemplos de minerales con este sistema son la calcopirita o la
pirolusita. Se caracteriza porque la celda unidad de la red cristalina
podramos formarla a partir de un cubo que estirsemos en una de sus
direcciones, de forma que quedara un prisma de base cuadrada, con
una celda unidad con los tres ngulos rectos, siendo dos de las aristas
de la celda iguales y la tercera distinta a ellas. La caracterstica que
lo distingue de los otros seis sistemas cristalinos es la presencia de
un solo eje de simetra cuaternario, que puede ser binario.

Sistema cristalino ortorrmbico:El sistema cristalino ortorrmbico,

es uno de los siete sistemas cristalinos existentes en cristalografa.
Muchos minerales cristalizan en este tipo de red, como por ejemplo el
olivino o el topacio. Se caracteriza porque la celda unidad de la red
cristalina tiene la forma geomtrica con los tres ngulos rectos,
mientras que las tres aristas de dicha celda unidad tienen todas
longitudes diferentes.
Sistema cristalino monoclnico:En cristalografa, una red monoclnica
es un sistema cristalino que consta de un eje binario, un plano
perpendicular a ste y un centro de inversin. La denotacin de la red
monoclnica es 2/m.
Sistema

cristalino

triclnico:En

cristalografa,

un

sistema

cristalogrfico triclnico es uno de los 7 Sistemas cristalinos. Un

sistema cristalogrfico est descrito por tres vectores base. En el
sistema triclnico, el cristal est descrito por vectores de longitud
desigual, tal como en el sistema ortorrmbico. Adems, ninguno de
ellos es ortogonal con algn otro.
Sistema cristalino hexagonal:En cristalografa y cristaloqumica, el
sistema cristalino hexagonal es uno de los siete sistemas cristalinos.
Tiene la misma simetra que un prisma regular con una base
hexagonal; hay slo una red de Bravais hexagonal. Por ejemplo, el

grafito cristaliza bajo esta forma. Aparte este sistema tiene dos
ejes iguales y uno desigual.

7.2 Describir la estructura de los slidos en trminos

del

empaquetamiento compacto.
Una manera de describir las estructuras cristalinas asume que todos los
tomos de una estructura cristalina estn en los sitios de una estructura
correspondiente a un empaquetamiento compacto o en sitios intersticiales
bien definidos. Las estructuras de muchos cristales se pueden describir en
trminos del empaquetamiento compacto de esferas que representan a los
tomos o iones.
7.3 Definir la eficiencia del empaquetamiento. Cite algunos ejemplos
de cristales con estructura de empaquetamiento compacto.
Si consideramos a los tomos o iones como esferas rgidas, podemos pensar
que estos se apilan de tal modo que adoptan una configuracin de energa.
Esta configuracin depende del tamao de los tomos y, cuando se trata de
compuestos binarios o ternarios, de la carga sobre cada tomo o ion.
Haciendo la analoga entre tomos o iones y esferas rgidas. La eficiencia
del empaquetamiento se calcula a partir de consideraciones geomtricas:
Eficiencia de empaquetamiento = n esferas en celda unida x v esfera
Donde n esferas en celda unidad es el nmero de esferas que hay en una
celda unidad, v esfera es el volumen de cada esfera y v celda unidad es el
volumen de la celda unidad.
2 Describir el fenmeno de difraccin de rayos X.
El fenmeno de la difraccin de rayos X consiste bsicamente en un proceso
de interferencias constructivas de ondas de rayos X que se produce en
determinadas direcciones de espacio. Significa que las ondas tienen que
estar en fase, lo que ocurre cuando su diferencia de trayectoria es cero o
un mltiplo entero de longitudes de onda.

8.1 Definir interferencia destructiva y constructiva.

Interferencia destructiva: Se hace referencia a una superposicin de
dos o ms ondas de frecuencia idntica o similar que, al interferirse
crean un nuevo patrn de ondas de menor intensidad (amplitud) en un
punto llamado nodo. Tras dicho punto, las ondas siguen siendo como
eran antes de interferirse, aunque esta vez alejndose del nodo. En el
caso ms extremo, dos ondas de igual frecuencia y amplitud en
contrafase (desfasadas 180), que se interfieren, se anulan totalmente
por un instante. De igual manera, vuelven a ser las mismas despus de
traspasar el nodo, aunque esta vez alejndose del mismo.

Interferencia constructiva: Se hace referencia a una superposicin de

dos o ms ondas de frecuencia diferentes, al interferirse crean un
nuevo patrn de ondas de mayor intensidad (amplitud) cuya cspide es
el antinodo; tras este punto, vuelven a ser las mismas ondas de antes.
8.2 Describir como se determina la estructura de un cristal por
difraccin de rayos X.
Los rayos X son difractados por los electrones que rodean los tomos por
ser su longitud de onda del mismo orden de magnitud que el radio atmico.
El haz de rayos X emergente tras esta interaccin contiene informacin
sobre la posicin y tipo de tomos encontrados en su camino. Los cristales,
gracias a su estructura peridica, dispersan elsticamente los haces de
rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por interferencia
constructiva, originando un patrn de difraccin. Existen varios tipos de
detectores especiales para observar y medir la intensidad y posicin de los
rayos X difractados, y su anlisis posterior por medios matemticos
permite obtener una representacin a escala atmica de los tomos y
molculas del material estudiado.

8.3 Tipos de imperfecciones en los slidos y sus efectos sobre algunas

de sus propiedades.
Todos los materiales slidos contienen gran cantidad de imperfecciones o
desviaciones

de

la

perfeccin

cristalina.

Los

diferentes

tipos

de

imperfecciones se clasifican basndose en su geometra y tamao. Muchas

de las propiedades de los materiales son muy sensibles al desvo de las
imperfecciones cristalinas. Esta influencia no siempre es negativa, sino que
algunas

caractersticas

especficas

se

consiguen

deliberadamente

introduciendo cantidades controladas de defectos particulares.

La clasificacin de los defectos cristalinos es la siguiente:
Defectos de punto: Asociados con una o dos posiciones atmicas, como
las vacantes (ausencia de un tomo en un punto del reticulado
cristalino), los tomos auto-intersticiales (tomos de disolvente que
ocupan posiciones intersticiales) y los tomos de impurezas.
Defectos de lnea: defectos unidimensionales como las dislocaciones.
Defectos bidimensionales: lmites entre dos regiones con diferentes
estructuras cristalinas o diferentes orientaciones cristalogrficas,
como los contornos de grano, las interfaces, las superficies libres, los
lmites de macla y los defectos de apilado.
Defectos volumtricos: defectos tridimensionales como los poros, las
grietas o las inclusiones.
La mayora de los defectos y de los elementos estructurales ms
importantes de los materiales son de dimensiones microscpicas y su
observacin slo es posible con la ayuda de un microscopio.