INGENIERIA ELECTRONICA

EN EL ITT

TOPICOS
DE CIENCIAS DE INGENIERIA II

PRACTICA No.12

Reporte pr
actica 1: Test de TTL 74LS12.

Dr. MIGUEL AURELIO DUARTE-VILLASENOR

, Profesor

`
Luis TOLENTINO JERONIMO , Estudiante

1.

Descripci
on

En el siguiente documento se presenta el desarrollo de

pr`
actica n`
umero uno que consiste en la realizaci`on de
un test de un chip de la familia de los TTL 74LS12
(NAND3) utilizando labview y la tarjeta de adquisici`on
de datos DAQ-6211 .
2.

Fig. 2

Tabla de verdad de la compuerta NAND3.

Diagrama de bloques.

Mediante el siguiente diagrama de bloques se explicar`a

de lo que consiste la pr`
actica, desde la programacion
en Labview se envian datos a la salida de la DAQ este
con peso de 3 bits, estos datos se envian a las entradas
decada una de las compuertas logicas del circuito integrado 74LS12 el cual la respuesta de las salidas de las
compuertas es leida por la DAQ, esta informacion se
compara con la tabla de verdad figura 2 descrita en el
codigo de ser correcto la prueba continua de no ser asi
se detendra la prueba. figura 1.

Fig. 1

Configuraci`
on del circuito integrado 74LS12.

figura 4 se muestra la tabla de verdad desde Laview,

donde mediante un SubVi se programa un case el cual
va determinando los pesos binarios y la respuesta de
una compuerta NAND3.

Diagrama de bloques .

A continuaci
on se muestra la tabla de verdad del
la compuerta y la configuraci
on del circuito integrado
74LS12.
3.

Fig. 3

Fig. 4 SubVi desde labview, con ello se esta teniendo como

respuesta la salida de la compuerta y el peso binario para el bus
de datos.

Desarrollo

Basandonos en la tabla de verdad de la compuerta

NAND3 figura 2 usaremos esta informaci`
on para producir el bus de datos que estar`
a enviandose al puerto
de salida de la DAQ. Como podemos observar en la

Ingeniera Electr
onica en el ITT

En la siguiente etapa de pr`actica consiste en el uso

del SubVi figura 4 para el desarrollo de la etapa de
control, la cual lleva como principio envio/lectura de
datos, configuraci`on de puertos digitales de la DAQ6211 entrada/salida, en la figura 5 se muestra el VI
utilizado con todas sus componentes,


REPORTE PRACTICA
1: TEST DE TTL 74LS12.

Fig. 5

Este es el programa final para el test.

Como se puede observar en la figura 5 se muestra

el control de toda la prueba de testing donde el VI de
DAQ Assistant 2 son los datos que se envian a salida
(el peso binario) estos se envian en forma de un arreglo,
la VI de DAQ Assistant 1 lee la respuesta de las 3
compuertas NAND3 del circuito integrado 74LS12, esta
se lee como otro arreglo de bits (3 Bits) este arreglo
es separado por componente, los componentes de cada
NAND3 se pasan a una AND lo cual si alguno de los 3
falla el circuito integrado no pasar`
a la prueba de test,
esta salida de la multiplicaci`
on de las respuestas de las 3
compuertas NAND3 se compara con la respuesta de la
compuerta NAND3 implementada en el SubVi, cuando
la respuesta sea diferente esta detendra todo el programa por medio de un led indicando de color rojo que
se detecto un error y en verde cuando cumpla la comparaci`
on, esto se muestra en el panel frontal figura 6.

Fig. 6 Front panel del test en esta se muestra introduce el

n`
umero de iteraciones de prueba y se muestra el peso binario
que va corriendo.

En la figura 7 Se muestra la respuesta del testing

cuando presenta un error, se detiene todo el proceso de
tets.
4.

Comentarios

Durante el desarrollo de la pr`

actica fue importante revisar bien el control de los datos, puesto que no tome
en cuenta en una primera revision las lineas de error y
eso me provoco proeblemas al momento de correr el programa, otra complicaci`
on que se present`
o fue que el circuito integrado que se adquirio no servia, el cual me retraso en el desarrollo de la pr`
actica, ante esta situacion

Fig. 7
ceso.

Front panel detectando el error se detiene todo el pro-

decidi programar una tarjeta llamada arduino para que

se comportar`a como un circuito integrado 74LS12.