Documenti di Didattica
Documenti di Professioni
Documenti di Cultura
Historia
La emisin Auger fue descubierta en 1920 por Lise Meitner, fsica de
nacionalidad austraca, que lo report en 1923 en la revista Zeitschrift fr
Physik. Subsecuentemente Pierre Victor Auger, fsico francs, tambin
descubre el proceso que reporta en la revista Radium en 1925. La mayor
influencia de la segunda revista dio como consecuencia que Auger sea el
nombre dado al fenmeno.
El efecto Auger
El efecto Auger es un fenmeno fsico en el que el llenado de una vacante
del centro de la capa de un tomo se acompaa de la emisin de un electrn
del mismo tomo. Cuando se retira un electrn de ncleo, dejando una
vacante, un electrn desde un nivel de energa superior puede caer en la
vacante, lo que resulta en una liberacin de energa. Aunque a veces esta
energa se libera en forma de un fotn emitido, la energa tambin se puede
transferir a otro electrn, que se expulsa desde el tomo. Este segundo
electrn expulsado se llama electrones Auger, despus de uno de sus
descubridores, Pierre Victor Auger.
Despus de la eyeccin de la energa cintica del electrn Auger
corresponde a la diferencia entre la energa de la transicin electrnica
inicial y la energa de ionizacin de la capa de electrones desde el que se
expulsa el electrn Auger. Estos niveles de energa dependen del tipo de
tomo y el entorno qumico en el que se encuentra el tomo. Espectroscopia
de electrones Auger consiste en la emisin de electrones Auger mediante el
bombardeo de una muestra con rayos X o electrones energticos ya sea y
mide la intensidad de electrones Auger como una funcin de la energa de
electrones Auger. El espectro resultante se puede utilizar para determinar la
identidad de los tomos emisores y alguna informacin sobre su entorno.
Sinfn de recombinacin es un efecto Auger similar que se produce en los
semiconductores. Un agujero de electrn y electrn puede recombinar
renunciar a su energa de un electrn en la banda de conduccin, el aumento
de su energa. El efecto inverso se conoce como ionizacin por impacto.
Descubrimiento
El proceso de emisin Auger fue descubierto en 1922 por Lise Meitner, un
fsico austraco-sueco, como un efecto secundario en su bsqueda
competitiva de los electrones beta nucleares con el fsico britnico Charles
Drummond Ellis. El fsico francs Pierre Victor Auger tambin se descubri en
El proceso de emisin
Cuando un electrn es arrancado de una de las capas internas de un tomo,
dejando una vacante o hueco, un electrn de un nivel de energa externo
puede caer en esta vacante, resultando en un exceso de energa. Este
exceso de energa es frecuentemente liberada por la emisin de un fotn
(fluorescencia de rayos X), aunque tambin puede ser transferida a otro
electrn, el cual es emitido del tomo. La energa del electrn Auger
corresponde a la diferencia entre la energa de la transicin electrnica
primaria y la energa de ionizacin para la capa de la cual el electrn Auger
fue emitido. Esos niveles electrnicos dependen del tipo de tomo y del
ambiente qumico en el cual se encontraba el tomo.
SENSIBILIDAD A LA SUPERFICIE
El electrn Auger se mueve por el slido y pronto pierde su energa al chocar
con los dems electrones que s se mantienen ligados a sus tomos. Si el
electrn ha sido producido cerca de la superficie puede escapar con una
prdida de energa pequea o nula y ser detectado por un espectrmetro
que mida su energa. Son entonces dos los efectos que hacen que los
electrones Auger lleven informacin principalmente de los tomos de la
superficie: en primer lugar es ms fcil que salgan a la superficie los
electrones Auger producidos cerca de ella y, en segundo, los electrones
sonda no penetran mucho debido a las fuertes interacciones que tienen con
los electrones del medio.
Proceso
En esta espectroscopia se mide la intensidad o nmero de cuentas como
funcin de la energa cintica de los electrones emitidos de la superficie de
la muestra, algunos de los cuales son los caractersticos electrones Auger.
Tpicamente los electrones Auger son emitidos a energas menores a 1000
eV, y en este rango de energas los electrones solo pueden provenir de las
primeras capas superficiales; Por lo tanto la tcnica Auger es altamente
sensible a la composicin qumica de la superficie. Por lo anterior, la
espectroscopia Auger es considerada como una espectroscopia superficial, al
igual que XPS.
El proceso Auger ocurre con mayor probabilidad en elementos ligeros,
comparativamente a los elementos pesados. Como consecuencia, la
espectroscopia Auger tiene mayor sensibilidad a los elementos menos
pesados. En la prctica es posible detectar desde litio, Z=3 hasta uranio,
Z=92, aunque con tcnicas especiales tambin es posible detectar
elementos trasuranicos. El espectro consistente en una serie de picos
puede ser usado para determinar o identificar los tomos presentes en la
muestra y su ambiente qumico.
Inicialmente la espectroscopia Auger era usada exclusivamente con fines de
investigacin, especialmente en gases. Es en la dcadas de los 60 s y 70 s,
con el advenimiento de instrumentos que alcanzaban rangos de ultra alto
vaco que la tcnica tiene un despegue en cuanto al nmero de usuarios
dado que hizo posible el anlisis de slidos. En la poca actual, con el
desarrollo de instrumentos compactos y bombas turbomoleculares la tcnica
ha llegado a la industria, siendo posible encontrar espectroscopios Auger en
lneas de control de calidad de la industria electrnica y de semiconductores.
Esta espectroscopia ha sido sin duda una de las herramientas que dio origen
a lo que hoy se conoce como nanotecnologa.
En caso de usarse como fuente de excitacin electrones rastreados sobre la
superficie se le denomina espectroscopia SAM, sigla en Ingls de Scanning
Auger Spectroscopy. Adems, una tcnica de vaciado de las capas
atmicas externas es usada normalmente junto con la espectroscopia Auger.
El proceso se basa en el bombardeo por iones de un tomo inerte,
usualmente Argn que tiene la capacidad de quitar las ltimas capas
atmicas. Por este medio es posible hacer el estudio de la composicin de
los materiales como funcin de la profundidad.
Dos vistas del proceso Auger. (a) ilustra secuencialmente los pasos implicados en la
desexcitacin Auger. Un electrn incidente (o fotones) crea un agujero central en el
nivel 1s. Un electrn desde el nivel 2s rellena el agujero 1s y la energa de
transicin se imparte a un electrn 2p que se emite. El estado atmico final as
tiene dos orificios, uno en el orbital 2s y el otro en el orbital 2p. (b) ilustra el mismo
proceso utilizando la notacin espectroscpica,
Electrn Auger
Cuando un tomo pierde un electrn de sus niveles ms internos, cercanos al
ncleo, debido por ejemplo a la accin de un bombardeo mediantes rayos X,
otro electrn, de un nivel superior, pasa a ocupar el lugar del primer
electrn. La energa sobrante se puede emitir en forma de fotn, o
directamente se pierde un segundo electrn, perteneciente a las capas
Este fenmeno fue descrito por primera vez por una mujer, Lise Meitner,
fsica austraca, en el ao 1920. Ms tarde, un fsico francs llamado Pierre V.
Auger public la descripcin de este fenmeno en la revista Radium, en el
ao 1925, y el fenmeno se conoci desde entonces con el nombre de este
cientfico.
En la figura de arriba, observamos el fenmeno de emisin Auger. En a), un
electrn K es quitado de su lugar mediante rayos X. En b), un electrn L pasa
a ocupar el lugar vaco y mientras que un segundo electrn L es emitido
fuera del tomo.
La energa cintica del electrn Auger est dada por la siguiente ecuacin,
que depende de los niveles de energa que intervienen en el fenmeno:
En donde
E WF Es la energa que se necesita para que el electrn sea emitido fuera del
tomo.
Conclusiones
Bibliografia
Soto, G; Daz J A; de la Cruz W. (2003). Copper nitride films produced by
reactive pulsed laser deposition. Materials Letters 57 (26-27). pp 4130-4133.