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ELECTRN AUGER

La emisin electrnica Auger es un fenmeno fsico en el cual la


desaparicin de un electrn interno de un tomo causa la emisin de un
segundo electrn. El segundo electrn emitido es llamado electrn Auger.

Historia
La emisin Auger fue descubierta en 1920 por Lise Meitner, fsica de
nacionalidad austraca, que lo report en 1923 en la revista Zeitschrift fr
Physik. Subsecuentemente Pierre Victor Auger, fsico francs, tambin
descubre el proceso que reporta en la revista Radium en 1925. La mayor
influencia de la segunda revista dio como consecuencia que Auger sea el
nombre dado al fenmeno.

El efecto Auger
El efecto Auger es un fenmeno fsico en el que el llenado de una vacante
del centro de la capa de un tomo se acompaa de la emisin de un electrn
del mismo tomo. Cuando se retira un electrn de ncleo, dejando una
vacante, un electrn desde un nivel de energa superior puede caer en la
vacante, lo que resulta en una liberacin de energa. Aunque a veces esta
energa se libera en forma de un fotn emitido, la energa tambin se puede
transferir a otro electrn, que se expulsa desde el tomo. Este segundo
electrn expulsado se llama electrones Auger, despus de uno de sus
descubridores, Pierre Victor Auger.
Despus de la eyeccin de la energa cintica del electrn Auger
corresponde a la diferencia entre la energa de la transicin electrnica
inicial y la energa de ionizacin de la capa de electrones desde el que se
expulsa el electrn Auger. Estos niveles de energa dependen del tipo de
tomo y el entorno qumico en el que se encuentra el tomo. Espectroscopia
de electrones Auger consiste en la emisin de electrones Auger mediante el
bombardeo de una muestra con rayos X o electrones energticos ya sea y
mide la intensidad de electrones Auger como una funcin de la energa de
electrones Auger. El espectro resultante se puede utilizar para determinar la
identidad de los tomos emisores y alguna informacin sobre su entorno.
Sinfn de recombinacin es un efecto Auger similar que se produce en los
semiconductores. Un agujero de electrn y electrn puede recombinar
renunciar a su energa de un electrn en la banda de conduccin, el aumento
de su energa. El efecto inverso se conoce como ionizacin por impacto.

Descubrimiento
El proceso de emisin Auger fue descubierto en 1922 por Lise Meitner, un
fsico austraco-sueco, como un efecto secundario en su bsqueda
competitiva de los electrones beta nucleares con el fsico britnico Charles
Drummond Ellis. El fsico francs Pierre Victor Auger tambin se descubri en

1923 en el anlisis de una nube de Wilson experimento cmara y se convirti


en la pieza central de su trabajo de doctorado. De alta energa de rayos X se
aplicaron para ionizar las partculas de gas y observar los electrones
fotoelctricos. Observacin de pistas de electrones independientes de la
frecuencia del fotn incidente sugiri un mecanismo de ionizacin de
electrones que fue causado por una conversin interna de la energa de una
transicin sin radiacin. La investigacin adicional y el trabajo terico
mostraron que el efecto era un efecto sin radiacin ms que un efecto de
conversin interna mediante el uso de la mecnica cuntica elementales y la
tasa de transicin y los clculos de probabilidad de transicin.

El proceso de emisin
Cuando un electrn es arrancado de una de las capas internas de un tomo,
dejando una vacante o hueco, un electrn de un nivel de energa externo
puede caer en esta vacante, resultando en un exceso de energa. Este
exceso de energa es frecuentemente liberada por la emisin de un fotn
(fluorescencia de rayos X), aunque tambin puede ser transferida a otro
electrn, el cual es emitido del tomo. La energa del electrn Auger
corresponde a la diferencia entre la energa de la transicin electrnica
primaria y la energa de ionizacin para la capa de la cual el electrn Auger
fue emitido. Esos niveles electrnicos dependen del tipo de tomo y del
ambiente qumico en el cual se encontraba el tomo.
SENSIBILIDAD A LA SUPERFICIE
El electrn Auger se mueve por el slido y pronto pierde su energa al chocar
con los dems electrones que s se mantienen ligados a sus tomos. Si el
electrn ha sido producido cerca de la superficie puede escapar con una
prdida de energa pequea o nula y ser detectado por un espectrmetro
que mida su energa. Son entonces dos los efectos que hacen que los
electrones Auger lleven informacin principalmente de los tomos de la
superficie: en primer lugar es ms fcil que salgan a la superficie los
electrones Auger producidos cerca de ella y, en segundo, los electrones
sonda no penetran mucho debido a las fuertes interacciones que tienen con
los electrones del medio.

Espectroscopia electrnica Auger


La espectroscopia de electrones Auger es una tcnica analtica usada en la ciencia
de superficies y en la ciencia de materiales. Se basa en el proceso emisin Auger
por medio del bombardeo de una muestra con rayos X o electrones energticos en
el rango de 2-50 keV.

Proceso
En esta espectroscopia se mide la intensidad o nmero de cuentas como
funcin de la energa cintica de los electrones emitidos de la superficie de
la muestra, algunos de los cuales son los caractersticos electrones Auger.
Tpicamente los electrones Auger son emitidos a energas menores a 1000
eV, y en este rango de energas los electrones solo pueden provenir de las
primeras capas superficiales; Por lo tanto la tcnica Auger es altamente
sensible a la composicin qumica de la superficie. Por lo anterior, la
espectroscopia Auger es considerada como una espectroscopia superficial, al
igual que XPS.
El proceso Auger ocurre con mayor probabilidad en elementos ligeros,
comparativamente a los elementos pesados. Como consecuencia, la
espectroscopia Auger tiene mayor sensibilidad a los elementos menos
pesados. En la prctica es posible detectar desde litio, Z=3 hasta uranio,
Z=92, aunque con tcnicas especiales tambin es posible detectar
elementos trasuranicos. El espectro consistente en una serie de picos
puede ser usado para determinar o identificar los tomos presentes en la
muestra y su ambiente qumico.
Inicialmente la espectroscopia Auger era usada exclusivamente con fines de
investigacin, especialmente en gases. Es en la dcadas de los 60 s y 70 s,
con el advenimiento de instrumentos que alcanzaban rangos de ultra alto
vaco que la tcnica tiene un despegue en cuanto al nmero de usuarios
dado que hizo posible el anlisis de slidos. En la poca actual, con el
desarrollo de instrumentos compactos y bombas turbomoleculares la tcnica
ha llegado a la industria, siendo posible encontrar espectroscopios Auger en
lneas de control de calidad de la industria electrnica y de semiconductores.
Esta espectroscopia ha sido sin duda una de las herramientas que dio origen
a lo que hoy se conoce como nanotecnologa.
En caso de usarse como fuente de excitacin electrones rastreados sobre la
superficie se le denomina espectroscopia SAM, sigla en Ingls de Scanning
Auger Spectroscopy. Adems, una tcnica de vaciado de las capas
atmicas externas es usada normalmente junto con la espectroscopia Auger.
El proceso se basa en el bombardeo por iones de un tomo inerte,
usualmente Argn que tiene la capacidad de quitar las ltimas capas
atmicas. Por este medio es posible hacer el estudio de la composicin de
los materiales como funcin de la profundidad.

Dos vistas del proceso Auger. (a) ilustra secuencialmente los pasos implicados en la
desexcitacin Auger. Un electrn incidente (o fotones) crea un agujero central en el
nivel 1s. Un electrn desde el nivel 2s rellena el agujero 1s y la energa de
transicin se imparte a un electrn 2p que se emite. El estado atmico final as
tiene dos orificios, uno en el orbital 2s y el otro en el orbital 2p. (b) ilustra el mismo
proceso utilizando la notacin espectroscpica,

Electrn Auger
Cuando un tomo pierde un electrn de sus niveles ms internos, cercanos al
ncleo, debido por ejemplo a la accin de un bombardeo mediantes rayos X,
otro electrn, de un nivel superior, pasa a ocupar el lugar del primer
electrn. La energa sobrante se puede emitir en forma de fotn, o
directamente se pierde un segundo electrn, perteneciente a las capas

exteriores de dicho tomo. Este es el denominado efecto Auger. El electrn


emitido como consecuencia de la prdida del primer electrn, es llamado
electrn Auger.

Este fenmeno fue descrito por primera vez por una mujer, Lise Meitner,
fsica austraca, en el ao 1920. Ms tarde, un fsico francs llamado Pierre V.
Auger public la descripcin de este fenmeno en la revista Radium, en el
ao 1925, y el fenmeno se conoci desde entonces con el nombre de este
cientfico.
En la figura de arriba, observamos el fenmeno de emisin Auger. En a), un
electrn K es quitado de su lugar mediante rayos X. En b), un electrn L pasa
a ocupar el lugar vaco y mientras que un segundo electrn L es emitido
fuera del tomo.
La energa cintica del electrn Auger est dada por la siguiente ecuacin,
que depende de los niveles de energa que intervienen en el fenmeno:

En donde

E1 es la energa del tomo en el momento en que pierde un electrn de un


nivel inferior y ese lugar est aun vaco.

E2 es la energa correspondiente al nivel de energa del segundo electrn,


que pasar a ocupar el lugar libre.

E3 es la energa que posee electrn que ser expulsado, es decir, el electrn


Auger.

E WF Es la energa que se necesita para que el electrn sea emitido fuera del
tomo.

Ms tarde, el efecto Auger fue aplicado en el estudio de la composicin


qumica de sustancias desconocidas. Como las transferencias de electrones
que dan lugar al electrn Auger ocurren en niveles de energa bien
conocidos, la energa que tiene el electrn Auger emitido nos puede aportar
informacin sobre los niveles de energa del tomo en cuestin. Los tomos
de elementos diferentes, tienen niveles energticos caractersticos, de modo
que el electrn Auger emitido por estos tomos (gracias a un bombardeo con
rayos X o con electrones), nos aporta informacin sobre dichos niveles de
energa, y sobre las caractersticas de dicho tomo, pudiendo de esta
manera identificar su naturaleza y el entrono qumico en el cual se
encuentra.
El electrn Auger emitido aporta informacin principalmente de la superficie
del tomo estudiado, ya que es mucho ms probable que el electrn Auger
haya sido emitido cerca de la superficie, ya que de este modo puede escapar
del tomo con una pequea prdida de energa. Adems, el bombardeo con
electrones no puede penetrar en las capas ms internas del tomo, debido a
las interacciones con los electrones pertenecientes al mismo.
El fenmeno Auger se observa mayormente en elementos de poco peso
atmico, desde el litio hasta el uranio. De este modo, la espectroscopa
Auger resulta una tcnica ms sensible para estos elementos, aunque se han
desarrollado tecnologas que permiten la aplicacin de esta tcnica en
elementos ms pesados que el uranio.

Conclusiones

En el efecto Auger se observa en los elementos de poco peso atmico,


desde el litio hasta el uranio.
Electron auger es cuando un tomo pierde un electrn de sus niveles ms
internos, cercanos al ncleo.
Es una tcnica espectroscpica sensible a la superficie usada para el anlisis
elemental .

Bibliografia
Soto, G; Daz J A; de la Cruz W. (2003). Copper nitride films produced by
reactive pulsed laser deposition. Materials Letters 57 (26-27). pp 4130-4133.

Soto, G; de la Cruz W; Farias MH (2004). XPS, AES, and EELS


characterization of nitrogen-containing thin films. Journal of Electron
Spectroscopy and Related Phenomena 135 (1). pp 27-39.

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