El Grfico de Control X , R : Ejemplo 1:

Los anillos para pistones de un motor de automvil se producen mediante un

proceso de fundicin. Quiere establecerse el control estadstico del dimetro
interior de los anillos fabricados con este proceso utilizando cartas X y R. Se
toman 25 muestras, cada una de tamao 5, cuando se considera que el proceso
est bajo control con intervalos de una hora entre cada muestra. Construya el
grfico de control antes mencionado para este caso. Mediciones del dimetro
interior (mm) de anillos fundidos para pistones.

Conclusin: de el grfico X-R resultan: podemos decir que no existen puntosfuera

de los lmites de control por lo tanto el proceso est bajo control.

Grfica Xbarra-S de C1, ..., C5

Media de la muestra

LCS=74.01450
74.01
_
_
X=74.00126

74.00

73.99

LCI=73.98801
1

11

13

15

17

19

21

23

25

Muestra

Desv.Est. de la muestra

0.020

LCS=0.01938

0.015
_
S=0.00928

0.010
0.005
0.000

LCI=0
1

11

13

15

17

19

21

23

25

Muestra

Ejemplo 2: Grfico X-R

La siguiente informacin muestra los datos correspondientes al dimetro externo
de la barra 6H-621-BP35 que se ensambla en un elevador. Las muestras se
tomaron de 5 en 5 cada hora. Con esta informacin construir un grfico de control
X y R. Qu puede concluirse acerca del proceso, del que se tomaron las piezas
de este estudio? Tabla de datos: Dimetro externo para pieza de elevador.

Grfica Xbarra-R de C1, ..., C5

Media de la muestra

37.5

LCS=36.67

35.0

__
X=33.32

32.5
30.0

LCI=29.97

1
1

11

13

15

17

19

Muestra

Rango de la muestra

16

LCS=12.26

12
8

_
R=5.8

4
0

LCI=0
1

11

13

15

17

19

Muestra

Conclusin: Como puede observarse en este grfico el proceso se encuentra

fuera de control ya que los puntos 6,8, 9, 11 y 19 estn fuera de los limites de
control (3) ,por lo cual tenemos que analizar las causas de porque estos puntos
estn fuera de control y recalcular los nuevos lmites excluyendo los puntos ya
mencionados.

Grfica Xbarra-R de C1, ..., C5

Media de la muestra

37.5

LCS=36.10
35.0

__
X=33.21

32.5

LCI=30.33

30.0

1
1

11

13

15

17

19

Muestra

Rango de la muestra

16

12

LCS=10.57

_
R=5

4
0

LCI=0
1

11

13

15

17

19

Muestra

Subgrupos omitidos de los clculos: 6, 8, 9, 11, 19

Conclusin: despus de recalcular los nuevos lmites se puede observar que

siguen apareciendo puntos fuera de control por lo cual podemos decir que el
proceso ya se encuentra bajo control.

GRFICO DE CONTROL PARA MEDICIONES INDIVIDUALES

La viscosidad de una pintura tapaporo para aviones es una caracterstica de
calidad importante. El producto se elabora por lotes y debido a que la produccin
de cada lote se lleva varias horas, la velocidad de produccin es demasiado lenta
para permitir tamaos de la muestra mayores que uno. Establecer una carta de
control para mediciones individuales para este caso.

Grfica I-MR de C1
LCS=34.802
Valor individual

34.5
34.0
_
X=33.523

33.5
33.0
32.5

LCI=32.245
1

10

11

12

13

14

15

Observacin

Rango mvil

1.6

LCS=1.571

1.2
0.8
__
MR=0.481

0.4
0.0

LCI=0
1

10

11

12

13

14

15

Observacin

Conclusiones: no hay puntos fuera de los limites fuera por lo tanto podemos
seguir con el siguiente anlisis.

Ejercicio:
Los anillos para pistones de un motor de automvil se producen mediante un
proceso de fundicin. Quiere establecerse el control estadstico del dimetro
interior de los anillos fabricados con este proceso utilizando cartas X y R. Se
toman 25 muestras, cada una de tamao 5, cuando se considera que el proceso
est bajo control con intervalos de una hora entre cada muestra. Construya el
grfico de control antes mencionado para este caso. Mediciones del dimetro
interior (mm) de anillos fundidos para pistones.

Informe del Capability Sixpack del proceso para C1, ..., C5

Media de la muestra

Grfica Xbarra

Histograma de capacidad
LCS=74.01443

73.99

LES

General
Dentro de
Especificaciones
LEI
73.98
Objetivo 74.00
LES
74.02

LCI=73.98808
3

11

13

15

17

19

21

23

25

Grfica R
Rango de la muestra

Objetivo

__
X=74.00126

74.00

Grfica de prob. Normal

AD: 0.204, P: 0.872

LCS=0.04829
0.04
_
R=0.02284

0.02

0.00

LCI=0
1

11

13

15

17

19

21

23

25

ltimos 25 subgrupos

73.98

74.00

74.02

74.04

Grfica de capacidad
Dentro
Desv.Est. 0.009871
Cp
0.68
Cpk
0.63
PPM
44433.84

74.02

Valores

LEI

74.01

74.00

General

Dentro de

73.98

General
Desv.Est. 0.01015
Pp
0.66
Ppk
0.62
Cpm
0.65
PPM
50610.07

Especificaciones

10

15

20

25

Muestra

Conclusin: en las grficas anteriores se puede observar que no existen puntos

fuera de control, sin embargo, el proceso no satisface las necesidades especficas
por lo cual no puede realizar ni 1 pieza con las especificaciones requeridas

Anlisis de capacidad Diametro interno

LEI

Objetivo

LES

Procesar datos
LEI
73.98
Objetivo
74
LES
74.02
Media de la muestra 74.0013
Nmero de muestra 125
Desv.Est. (General)
0.0101337
Desv.Est. (Dentro)
0.00987101

General
Dentro de
Capacidad general
Pp
0.66
PPL 0.70
PPU 0.62
Ppk 0.62
Cpm 0.65
Capacidad (dentro de)
Cp
0.68
CPL 0.72
CPU 0.63
Cpk 0.63

73.97 73.98 73.99 74.00 74.01 74.02 74.03

PPM < LEI

PPM > LES
PPM Total

Observado
8000.00
24000.00
32000.00

Rendimiento
Esperado Largo
plazo Esperado Dentro de
17972.26
15644.58
32180.65
28789.26
50152.91
44433.84

Conclusin: en el siguiente grfico en el que se puede ver que los valores de los
ndices de capacidad son los mismos a los que se lleg con la secuencia anterior.
La informacin que muestra este grfico son los PPMs en los tres recuadros de la
parte inferior de la figura, en donde los del recuadro dos son los que coincidirn
(ms o menos por la cuestin de la precisin del software) con los resultados que
se obtengan en el aula, porque usa el mismo mtodo para calcular la desviacin
estndar (Xbar o Sbar). Tambin por estos valores del os PPMs tan elevados se
refuerza la conclusin de que el proceso no puede elaborar las piezas con las
especificaciones requeridas por lo cual se tiene que analizar las especificaciones
tan estrictas que posee y ver si todas estas son necesarias para analizar si se
pueden eliminar algunas.