DESARROLLO DE UN SISTEMA PROTOTIPO DE MEDICIN Y ANLISIS DE DESCARGAS

PARCIALES GENERADAS EN LABORATORIO

JAIME ANTONIO VANEGAS IRIARTE

UNIVERSIDAD DEL VALLE

FACULTAD DE INGENIERA
ESCUELA DE INGENIERA ELCTRICA Y ELECTRNICA
SANTIAGO DE CALI
2016

DESARROLLO DE UN SISTEMA PROTOTIPO DE MEDICIN Y ANLISIS DE DESCARGAS

PARCIALES GENERADAS EN LABORATORIO

JAIME ANTONIO VANEGAS IRIARTE

Trabajo de grado presentado como requisito para optar al grado de

Magster en Ingeniera con nfasis en Ingeniera Elctrica

Director
Ing. JOS LUIS OSLINGER GUTIRREZ Ph D.
Asesor
Ing. FABIO ANDRS MUOZ MUOZ

UNIVERSIDAD DEL VALLE

FACULTAD DE INGENIERA
ESCUELA DE INGENIERA ELCTRICA Y ELECTRNICA
SANTIAGO DE CALI
2016

A mi madre, Alicia

RESUMEN
En la actualidad la medicin de Descargas Parciales (DP) constituye una herramienta eficaz para el
diagnstico de fallos de aislamiento en equipos elctricos. A travs de los aos se han desarrollado
y mejorado las tcnicas, los equipos y los sistemas de medicin de DP. Pero, la medicin de DP sigue
siendo un reto, pues se enfrentan dificultades como: las complejas caractersticas y propagacin de
las seales de DP, la eliminacin del ruido, la calibracin y las tcnicas de procesamiento para
reconocer y clasificar patrones de DP. En este trabajo, se implement un sistema de medicin y
adquisicin de DP (off-line), que mide en el rango de alta frecuencia (sistema no convencional),
donde los pulsos son detectados por un capacitor de acoplamiento de alta tensin y adquiridos por
una tarjeta de adquisicin de datos (NI 5133). Las seales de DP, fueron obtenidas mediante la
utilizacin de electrodos para generar descargas corona, superficiales e internas, se presenta
tambin la simulacin electroesttica en Mtodo de Elementos Finitos de los modelos de electrodos
diseados. Para el anlisis de la informacin, se desarroll una aplicacin software en LabVIEW, que
implementa en combinacin un umbral de voltaje (threshold) y un tiempo de adquisicin del pulso
para la obtencin del valor pico y ngulo de fase de los pulsos de DP, estos parmetros son volcados
en una matriz de 256x256 que permite obtener principalmente el diagrama de fase resuelta y el
grfico de anlisis de altura de pulsos. Adems, el programa permite visualizar las seales medidas
en un osciloscopio virtual en tiempo real, realiza el conteo del nmero de pulsos detectados, calcula
los parmetros y de la distribucin de Weibull, los parmetros y NQN, las magnitudes
mxima, mnima y promedio ( , , ) en volts y obtener la forma de onda de un pulso
de DP individual y su espectro en frecuencia.

CONTENIDO
RESUMEN ........................................................................................................................................................ 4
NDICE DE FIGURAS .................................................................................................................................... 7
NDICE DE TABLAS ...................................................................................................................................... 9
INTRODUCCIN ......................................................................................................................................... 10
OBJETIVOS .................................................................................................................................................. 11
CAPTULO 1 DESCARGAS PARCIALES ................................................................................................ 12
1.1

ORIGEN Y EVOLUCIN.............................................................................................. 12

1.2

CARACTERISTICAS DE LOS PULSOS DE DESCARGA PARCIAL ........................................ 14

1.3

TIPOS DE DESCARGAS PARCIALES ............................................................................. 16

1.3.1
1.3.2
1.3.3

1.4

DESCARGAS PARCIALES INTERNAS ............................................................................................. 16

DESCARGAS CORONA ................................................................................................................. 16
DESCARGAS PARCIALES SUPERFICIALES ..................................................................................... 17

MEDICIN DE DESCARGAS PARCIALES ...................................................................... 17

1.4.1 MTODOS DE DETECCIN .......................................................................................................... 17

1.4.1.1
Sensado de pulsos elctricos: capacitores de acoplamiento y transformadores de
corriente de alta frecuencia ................................................................................................................ 18
1.4.2 MTODOS DE MEDIDA CONVENCIONAL Y NO CONVENCIONAL ................................................ 19
1.4.3 CIRCUITO DE MEDIDA ................................................................................................................. 21
1.4.4 CARGA APARENTE Y CALIBRACIN ............................................................................................. 22

1.5

ANLISIS DE DESCARGAS PARCIALES ........................................................................ 24

1.5.1 ANLISIS DE ALTURA DE PULSOS ................................................................................................ 24

1.5.1.1
Magnitud pico de descargas parciales y cantidad numrica normalizada NQN ......... 25
1.5.2 DIAGRAMA DE FASE RESUELTA .................................................................................................. 26
1.5.3 DISTRIBUCIN DE WEIBULL ........................................................................................................ 28

1.6

CONCLUSIONES........................................................................................................ 30

1.7

REFERENCIAS ........................................................................................................... 31

CAPTULO 2 DISPOSITIVOS PARA GENERAR SEALES ARTIFCIALES DE DESCARGAS

PARCIALES .................................................................................................................................................. 34
2.1

ANLISIS ELECTROSTTICO EN MTODO DE ELEMENTOS FINITOS ............................. 35

2.1.1 MODELADO................................................................................................................................. 35
2.1.1.1
Descripcin de la geometra .............................................................................................. 35
2.1.1.2
Materiales .......................................................................................................................... 36
2.1.1.3
Mallaje ............................................................................................................................... 37
2.1.1.4
Condiciones de frontera .................................................................................................... 37
2.1.2 RESULTADOS ............................................................................................................................... 37
2.1.2.1
Modelo Punta-semiesfera ................................................................................................. 37
2.1.2.2
Modelo Barra-plano ........................................................................................................... 40
2.1.2.3
Modelo Planos paralelos.................................................................................................... 41

2.2

CONCLUSIONES........................................................................................................ 43

2.3

REFERENCIAS ........................................................................................................... 44

CAPTULO 3 SISTEMA DE MEDICIN Y ADQUISICIN DE DESCARGAS PARCIALES

IMPLEMENTADO ....................................................................................................................................... 46
5

3.1

CIRCUITO DE MEDICIN ........................................................................................... 46

3.2

MDULO DE ADQUISICIN ...................................................................................... 48

3.3

CONCLUSIONES........................................................................................................ 49

3.4

REFERENCIAS ........................................................................................................... 50

CAPTULO 4 APLICACIN SOFTWARE PARA EL ANLISIS DE DESCARGAS PARCIALES .. 51

4.1

ADQUISICIN........................................................................................................... 53

4.2

OBTENCIN DEL VOLTAJE PICO Y EL NGULO DE FASE .............................................. 55

4.2.1

UMBRAL Y TIEMPO DE ADQUISICIN DEL PULSO ...................................................................... 57

4.3
FORMA DE ONDA DE UN PULSO, PARMETROS DEL PULSO Y ESPECTRO EN
FRECUENCIA ....................................................................................................................... 59
4.4

DIAGRAMA DE FASE RESUELTA................................................................................. 60

4.5

CONTEO DE PULSOS ................................................................................................. 63

4.6

ANLISIS DE ALTURA DE PULSOS .............................................................................. 63

4.6.1

CLCULO DE LOS PARMETROS Y NQN............................................................................... 64

4.7

CLCULO DE LOS PARMETROS Y DE LA DISTRIBUCIN WEIBULL ....................... 64

4.8

OBTENCIN DE LAS MAGNITUDES DE LOS PULSOS DE DP.......................................... 65

4.9

INTERFAZ GRFICA DE USUARIO .............................................................................. 66

4.10

CONCLUSIONES........................................................................................................ 66

4.11

REFERENCIAS ........................................................................................................... 67

CAPTULO 5 PRUEBAS EN LABORATORIO ....................................................................................... 68

5.1

SPECTOS RELEVANTES DE LA MEDICIN ................................................................. 68

5.2

MEDICIONES PARA CADA OBJETO DE ENSAYO .......................................................... 71

5.2.1
5.2.2

DIAGRAMAS DE FASE RESUELTA Y ANLISIS DE ALTURA DE PULSOS......................................... 71

COMPARACIN DEL PARMETRO DE FORMA DE LA DISTRIBUCIN DE WEIBULL ................ 76

5.3

COMPARACIN DE LAS MEDICIONES CON EQUIPOS COMERCIALES ........................... 77

5.4

CONCLUSIONES........................................................................................................ 84

5.5

REFERENCIAS ........................................................................................................... 85

CONCLUSIONES GENERALES ................................................................................................................. 86

TRABAJOS FUTUROS ............................................................................................................................... 87
AGRADECIMIENTOS ................................................................................................................................. 88
ANEXOS
ANEXO A PLANOS ELECTRODOS ......................................................................................................... 89
ANEXO B CARACTERSTICAS TARJETAS DE ADQUISICIN DE DATOS .................................. 93
ANEXO C CORRECCIN DEL EFECTO DE LA IMPEDANCIA DE ENTRADA.............................. 95
ANEXO D MANUAL DE USUARIO DE LA APLICACIN MAPD ..................................................... 97
ANEXO E MEDICIONES CON EL EQUIPO PD SIMULATOR .......................................................... 106
6

NDICE DE FIGURAS
Figura 1.1 Diagrama esquemtico del evento de Descarga Parcial [5] ............................................................ 13
Figura 1.2 Voltaje y corriente en una cavidad donde se presentan descargas parciales [9] ............................ 14
Figura 1.3 Principales parmetros de un pulso de descarga parcial [12] ......................................................... 14
Figura 1.4 Pulsos de corriente de DP negativas en cavidades de un cable XPLE a) al inicio y b) 30min despus
.......................................................................................................................................................................... 15
Figura 1.5 Espectro en frecuencia de dos pulsos de diferente tiempo de subida (los anchos de los pulsos son
de dos veces ts) ................................................................................................................................................ 15
Figura 1.6 Curva de Paschen [21] ..................................................................................................................... 16
Figura 1.7 Delaminacin en barras de mquinas rotativas. [20] ...................................................................... 17
Figura 1.8 Barras con presencia de descargas corona [20] .............................................................................. 17
Figura 1.9 Respuesta en frecuencia de capacitores de acoplamiento de la marca HVPD (1 MHz a 50 MHz) .. 19
Figura 1.10 Respuesta en frecuencia de los sistemas de medida de descarga parcial [19] ............................. 20
Figura 1.11 Respuesta ante un pulso DP de un equipo de a) Banda ancha y b) Banda estrecha (Pulso superior:
entrada, Pulso inferior: salida, base de tiempo 4s/div) [16] .......................................................................... 21
Figura 1.12 Circuitos de medicin de descargas parciales a) directo y b) indirecto [16] ................................. 22
Figura 1.13 Circuito para el proceso de calibracin ......................................................................................... 23
Figura 1.14 Grfico PHA en un turbogenerador de 10.5MW. Resultados del equipo PDTrac de Iris Power [31]
.......................................................................................................................................................................... 24
Figura 1.15 Predominancia de los pulsos de DP en el grfico de altura de pulsos. a) Predominancia positiva, b)
Predominancia negativa y c) No predominancia. [20] ..................................................................................... 25
Figura 1.16 Variables a) y b) NQN [20] ...................................................................................................... 26
Figura 1.17 Obtencin del diagrama de fase resuelta [33] .............................................................................. 26
Figura 1.18 Diagrama de fase resuelta tpico para descargas parciales a) Corona, b) Superficiales e c) Internas
[35] ................................................................................................................................................................... 27
Figura 1.19 Diagrama de fase resuelta para el devanado de un generador elctrico con dao en las cabezas de
bobina. Resultado del equipo MICAMAXX plus de PDTech. [20] ..................................................................... 28
Figura 1.20 Comportamiento en el tiempo de los parmetros y para el envejecimiento de una barra
estatorica [39] .................................................................................................................................................. 29
Figura 1.21 Comparacin del parmetro obtenido para diferentes tipos de DP (generadas con electrodos).
.......................................................................................................................................................................... 30
Figura 1.22 Grficos de a) y b) para diferentes tipos de DP. [50] .............................................................. 30
Figura 2.1 Defectos fsicos simulados con modelos simples de dos electrodos a) cavidad plana en dielctrico
slido, ............................................................................................................................................................... 34
Figura 2.2 Modelo Punta-Semiesfera para descargas corona .......................................................................... 35
Figura 2.3 Modelo Barra-Plano para descargas parciales superficiales ........................................................... 36
Figura 2.4 Modelo Planos paralelos para descargas parciales internas ........................................................... 36
Figura 2.5 Mallaje de los modelos a) PuntaSemiesfera b) Barra-Plano y c) Planos paralelos ........................ 37
Figura 2.6 Distribucin de la intensidad de campo elctrico en el modelo Punta-Semiesfera ........................ 38
Figura 2.7 Ruptura del aire alrededor de la punta sobre una distancia d ........................................................ 38
Figura 2.8 Intensidad de campo elctrico a lo largo del eje desde el electrodo punta .................................... 39
Figura 2.9 Distribucin de la intensidad de campo elctrico en el modelo Barra-Plano.................................. 40
Figura 2.10 Distribucin de la intensidad de campo elctrico en el modelo Planos Paralelos ........................ 41
Figura 2.11 Comparacin de la distribucin de campo elctrico al tener el electrodo disco con (a) borde curvo
y (b) borde en punta ......................................................................................................................................... 42
Figura 2.12 Comparacin de la distribucin de campo elctrico al tener una inclusin (a) cilndrica y (b) esfrica
.......................................................................................................................................................................... 43
Figura 3.1 Circuito de medicin ........................................................................................................................ 47
Figura 3.2 Montaje del circuito de medicin en el laboratorio ........................................................................ 47
Figura 3.3 Capacitor de acoplamiento y cuadripolo ......................................................................................... 47
Figura 3.4 Diagrama esquemtico del cuadripolo [4]....................................................................................... 47
Figura 3.5 Respuesta en frecuencia de capacitores de acoplamiento (10kHz a 5MHz) ................................... 48

Figura 3.6 Tarjeta de adquisicin de datos NI 5133 ......................................................................................... 49

Figura 3.7 Respuesta en frecuencia de la tarjeta de adquisicin NI 5133 [22] ................................................ 49
Figura 4.1 Diagrama general del funcionamiento de la aplicacin .................................................................. 52
Figura 4.2 Diagrama del funcionamiento de la aplicacin ............................................................................... 52
Figura 4.3 Diagrama de bloques para la adquisicin y visualizacin de las seales ......................................... 53
Figura 4.4 Representacin de la adquisicin y procesamiento de las seales por paquetes. Seal azul (pulsos
de DP) y seal roja (seal de sincronismo) ....................................................................................................... 54
Figura 4.5 Deteccin del voltaje pico y su correspondiente ndice para un pulso de DP ................................. 55
Figura 4.6 Diagrama de bloques para la deteccin del voltaje pico y su ndice ............................................... 55
Figura 4.7 a) Seal de descargas parciales original y b) Seal elevada al cuadrado ......................................... 56
Figura 4.8 Determinacin del ngulo de fase de un pulso de DP ..................................................................... 57
Figura 4.9 Umbral (threshold) y tiempo de adquisicin del pulso .................................................................... 58
Figura 4.10 Diagrama de bloques para la implementacin de los parmetros de umbral y tiempo de adquisicin
del pulso ........................................................................................................................................................... 58
Figura 4.11 Funcionamiento de los parmetros de umbral y tiempo de adquisicin del pulso. ..................... 59
Figura 4.12 Matriz utilizada para la obtencin del diagrama de fase resuelta ................................................ 60
Figura 4.13 Utilizacin de la matriz para el conteo de pulsos .......................................................................... 62
Figura 4.14 Diagrama de bloques para los grficos del diagrama de fase resuelta ......................................... 62
Figura 4.15 Diagrama de fase resuelta obtenidos por el software MAPD a) 2D y b) 3D. Las mediciones
corresponden a pruebas con el equipo PD Simulator (vase Anexo D). .......................................................... 63
Figura 4.16 Grfico de altura de pulsos obtenido por el software MAPD. El grfico corresponde a los resultados
de la figura 4.15. ............................................................................................................................................... 64
Figura 4.17 Diagrama de bloques para el clculo de los parmetros de Weibull ............................................ 65
Figura 5.1 Pulso de DP detectado a 100MS/s: a) Forma de onda y b) Espectro en frecuencia ........................ 69
Figura 5.2 Pulso de DP detectado por el equipo PDCheck: a) Forma de onda y b) Espectro en frecuencia .... 69
Figura 5.3 Pulso de DP detectado a 20MS/s: a) Forma de onda y b) Espectro en frecuencia .......................... 70
Figura 5.4 Nivel de ruido .................................................................................................................................. 70
Figura 5.5 Electrodos punta-semiesfera: a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos .............................................. 72
Figura 5.6 Electrodos barra-plano: a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos ....................................................... 72
Figura 5.7 Electrodos planos paralelos: a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos ................................................ 72
Figura 5.8 Barra: a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos ................................................................................... 73
Figura 5.9 Parmetro ..................................................................................................................................... 75
Figura 5.10 Parmetro ............................................................................................................................... 75
Figura 5.11 Parmetro ............................................................................................................................ 75
Figura 5.12 Parmetro ............................................................................................................................... 75
Figura 5.13 Parmetro ........................................................................................................................ 75
Figura 5.14 Parmetro .................................................................................................................................. 75
Figura 5.15 Comparacin de la magnitud del parmetro ............................................................................. 76
Figura 5.16 Grfico de (+)/() Vs + ...................................................................................................... 76
Figura 5.17 Diagrama de fase resuelta electrodos punta-semiesfera (DP corona): a) MAPD, b) TECHIMP c) TMS6141 .................................................................................................................................................................. 78
Figura 5.18 Grfico de Altura de Pulsos electrodos punta-semiesfera (DP corona): a) MAPD y b) TMS-6141 78
Figura 5.19 Diagrama de fase resuelta electrodos barra-plano (DP superficiales): a) MAPD, b) TECHIMP c) TMS6141 y d) Medicin en el Osciloscopio escala 2ms/div, 1V/div (seal DP) ....................................................... 79
Figura 5.20 Grfico de Altura de Pulsos electrodos barra-plano (DP superficiales): a) MAPD y b) TMS-6141 79
Figura 5.21 Diagrama de fase resuelta electrodos planos paralelos (DP internas): a) MAPD, b) TECHIMP c) TMS6141 y d) Medicin en el Osciloscopio escala 2ms/div, 100mV/div (seal DP) ............................................... 80
Figura 5.22 Grfico de Altura de Pulsos electrodos planos paralelos (DP internas): a) MAPD y b) TMS-6141 80
Figura 5.23 Diagrama de fase resuelta para la bobina (DP internas): a) MAPD, b) TECHIMP c) TMS-6141 y d)
Medicin en el Osciloscopio escala 2ms/div, 200mV/div (seal DP) ............................................................... 81
Figura 5.24 Grfico de Altura de Pulsos para la barra (DP internas): a) MAPD y b) TMS-6141 ........................ 81
Figura 5.25 Comparacin entre los equipos de medicin de la magnitud del parmetro n ............................ 83
Figura 5.26 Comparacin entre los equipos de medicin de la magnitud del parmetro NQN ...................... 83
Figura 5.27 Error relativo con el equipo PDCheck del parmetro n ................................................................. 83

Figura 5.28 Error relativo con el equipo TMS-6141 del parmetro n ............................................................... 83
Figura 5.29 Error relativo con el equipo PDCheck del parmetro ................................................................ 83
Figura 5.30 Error relativo con el equipo PDCheck del parmetro ................................................................. 83
Figura 5.31 Error relativo con el equipo PDCheck del parmetro ...................................................... 84
Figura 6.1 Interfaz grfica de usuario Panel Principal .................................................................................... 101
Figura 6.2 Interfaz grfica de usuario Panel Principal .................................................................................... 102
Figura 6.3 Interfaz grfica de usuario Panel PRPD Pattern............................................................................. 103
Figura 6.4 Interfaz grfica de usuario Panel Parameters and PHA ................................................................. 104
Figura 6.5 Interfaz grfica de usuario Panel Help ........................................................................................... 105

NDICE DE TABLAS
Tabla 2-I Permitividades de los materiales utilizados en la simulacin por MEF [28][31] ............................. 36
Tabla 2-II Caractersticas de la malla para cada modelo .................................................................................. 37
Tabla 2-III Intensidad de Campo elctrico mxima con la variacin de r, R y V ............................................... 40
Tabla 2-IV Intensidad del campo elctrico con la variacin de la tensin aplicada ......................................... 41
Tabla 2-V Intensidad del campo elctrico promedio dentro de la inclusin .................................................... 42
Tabla 3-I Principales especificaciones de la tarjeta NI 5133 ............................................................................. 49
Tabla 5-I Tensin de ignicin y tensin de prueba para cada objeto de ensayo .............................................. 70
Tabla 5-II Descripcin de los parmetros medidos .......................................................................................... 71
Tabla 5-III Parmetros obtenidos para cada objeto de ensayo ........................................................................ 73
Tabla 5-IV Comparacin de parmetros con el equipo PDCheck ..................................................................... 82
Tabla 5-V Parmetros obtenidos con el equipo TMS-6141 .............................................................................. 82

INTRODUCCIN
El aislamiento elctrico es una de las fuentes ms importantes de fallas inesperadas en los equipos
elctricos. Segn una encuesta internacional realizada por el Prof. Sumereder de la Technische
Universitt Graz de Austria y publicada por el CIGRE y el IEEE, para una muestra de 1200 hidrogeneradores, se encontr que el 56% de las fallas se debieron a la falla del sistema de aislamiento
del devanado del inducido.
En la actualidad la tendencia en el diseo y manufactura de equipos elctricos de potencia es
incrementar la capacidad y el tamao de las unidades, lo que ha trado como requerimiento
principal, un fuerte incremento en los niveles de confiabilidad. La tecnologa actual para los
aislamientos de alta tensin requiere de modernos procedimientos de prueba. En este aspecto, se
est dando mayor importancia al desarrollo de herramientas para el mantenimiento predictivo. Por
lo que no existe duda de que la medicin y anlisis de Descargas Parciales (DP) es de gran
importancia debido a que este fenmeno puede considerarse como uno de los mejores indicadores
de fallas incipientes de degradacin del aislamiento, lo que proporciona una advertencia contra los
fallos de aislamiento que permite a los propietarios de los equipos planear y adoptar acciones antes
de que se produzca un fallo.
A travs de los aos se han desarrollado y mejorado las tcnicas, los equipos y los sistemas de
medicin de DP, pero la medicin y anlisis sigue siendo un reto. Los pulsos de DP presentan tiempos
de subida muy breves, generando con ello espectros de frecuencias que alcanzan los MHz. La forma
de la onda de DP vara considerablemente dependiendo de factores como el material dielctrico, el
objeto de prueba, el voltaje aplicado, la configuracin de la medicin, el tipo de DP (corona, interna
o superficial), etc. Adems, cuando el pulso se propaga por el objeto de prueba, desde la fuente de
la DP hasta el punto de medicin, sufre atenuaciones, reflexiones, resonancia y propagacin en
diferentes modos.
La penetracin de las tecnologas ms actuales en el pas es poca y en Colombia no existen equipos
de tecnologa nacional. Esto debido a que en lneas generales en Colombia existe un gran
desconocimiento del tema y los costos de instalar estos sistemas son muy elevados para la economa
Colombiana, falta una verdadera apropiacin de la tecnologa.
En este trabajo de investigacin se desarrolla un sistema prototipo que permite medir y analizar
pulsos de DP generadas artificialmente en laboratorio (off-line).
En el captulo 1 se abarca la teora de descargas parciales, en el captulo 2 se muestran los modelos
de electrodos utilizados para generar DP corona, interna y superficial, donde se realiza la simulacin
electroesttica en Mtodo de Elementos Finitos para conocer la distribucin del campo elctrico.
En el captulo 3 se describe el circuito de medicin implementado y el mdulo de adquisicin
utilizado, el cul mide en alta frecuencia y utiliza un capacitor de alta tensin y una tarjeta de
adquisicin de datos. En el captulo 4, se presenta el desarrollo de la aplicacin software para el
anlisis de las DP, que permite principalmente la obtencin del diagrama de fase resuelta y el grfico
de altura de pulsos (mediciones en volts) y finalmente en el captulo 5 se realizan las pruebas de
medicin con los objetos de ensayo y se comparan los resultados con equipos comerciales para su
validacin.

10

OBJETIVOS

OBJETIVO GENERAL
Desarrollar un sistema prototipo de medicin y anlisis de pulsos elctricos de descargas parciales
generadas en laboratorio.

OBJETIVOS ESPECFICOS
Caracterizar y parametrizar las seales elctricas de descargas parciales en laboratorio.
Implementar un sistema de medicin y adquisicin de seales elctricas originadas por las
descargas parciales.
Desarrollar una aplicacin software que permita realizar la clasificacin de pulsos de descargas
parciales (Corona, Interna y Superficial).
Validar el sistema prototipo en condiciones de laboratorio

11

Captulo 1
Descargas Parciales
1 DESCARGAS PARCIALES
El aislamiento elctrico es una parte importante en todos los equipos elctricos de alta tensin. El
anlisis de falla revela que las fallas de aislamiento son la causa raz de ms del 60% de los daos en
los quipos de alta tensin [17]. Por lo tanto, es crucial asegurar que el aislamiento este en buena
condicin. La medicin de Descargas Parciales (DP) ha recibido una aceptacin global como una
herramienta efectiva de diagnstico, con la capacidad de evaluar y monitorear los sistemas de
aislamiento para su integridad durante la fabricacin y mientras esta en servicio.
Por definicin una descarga parcial es una descarga elctrica localizada que cortocircuita slo
parcialmente el aislamiento entre conductores y que puede ser o no, adyacente a un conductor [1].
Las descargas parciales se producen cuando concentraciones locales de campo elctrico en el
interior de aislamientos de tipo slido, lquido o gaseoso, o en la superficie de estos aislamientos,
producen rpidos impulsos de corriente como consecuencia del desarrollo de avalanchas
electrnicas e inicas. Las DP pueden ser una medida efectiva del estrs elctrico local al que est
sometido un material aislante, y su medida puede ser utilizada como una variable del estado del
sistema de aislamiento.
Las DP estn a menudo acompaadas de fenmenos secundarios como emisin de radiacin, calor,
sobrepresiones y reacciones qumicas, que degradan rpidamente los aislamientos polimricos.
La magnitud y duracin de las DP depende de las dimensiones de la inclusin, temperatura, presin
de la cavidad, tensin elctrica aplicada, retardo en la aparicin del electrn libre y las condiciones
y caractersticas del aislamiento. Estas variables hacen que el fenmeno de las DP sea de carcter
estocstico [2].
1.1

ORIGEN Y EVOLUCIN

Para asegurar la aparicin de descargas parciales en una cavidad, el campo elctrico en la cavidad
debe exceder la intensidad elctrica de ruptura del gas y debe haber electrones libres que inicien la
avalancha de electrones [3], [4]. Dado esto, el electrn se acelerar a travs de la cavidad,
interactuando con molculas neutras de gas. Si la energa del electrn acelerado es suficientemente
alta, ionizar cualquier molcula de gas que choque con ste, resultando en la liberacin de un
nuevo electrn, un ion positivo, calor y otros subproductos en la cavidad. Este proceso es llamado
ionizacin. El reciente electrn libre generado colisiona con otras molculas de gas en la cavidad y

Descargas Parciales

este proceso se repite. Ms electrones libres son generados, resultando en un incremento en el

nmero de electrones. La repeticin de la ionizacin del gas es llamada avalancha de electrones,
haciendo que las propiedades del gas pasen de una condicin no conductiva a una conductiva
durante un perodo de tiempo muy corto. [5]
El campo elctrico dentro de la cavidad es [5]:

Ecav f c EO Es

(1.1)

Donde es el campo elctrico en el material dielctrico slido, es el factor de modificacin del

campo elctrico que depende de la geometra de la cavidad y de la permitividad del material y
es el campo elctrico opuesto debido a la acumulacin de carga en la superficie de la cavidad como
lo muestra la Figura 1.1.

Figura 1.1 Diagrama esquemtico del evento de Descarga Parcial [5]

De esta manera en las imperfecciones de los aislantes de los equipos elctricos sometidos a una
tensin sinusoidal, pueden aparecer DP a partir de un nivel de tensin determinado denominado
tensin de ignicin, (ver Figura 1.2). Cuando la tensin disminuye por debajo de un valor
denominado tensin de extincin , desaparecen las condiciones para que sigan apareciendo
descargas. En el ciclo positivo, una vez se ha extinguido la DP, la tensin en la imperfeccin, ,
empieza nuevamente a subir mientras la tensin de alimentacin aplicada al sistema sigue
aumentando. El proceso se repite mientras haya suficiente pendiente en la onda de tensin para
superar los niveles de ignicin. En los ciclos negativos de tensin el mecanismo es anlogo,
originando pulsos de diferente polaridad [6]. En tensin alterna, la actividad de DP, tiene una
recurrencia en las zonas de mayor pendiente de la onda de tensin y en torno a los mximos o
mnimos dependiendo del tipo de DP.
La aparicin del electrn libre que provoca la avalancha de electrones puede ser debido a la
radiacin csmica o a la radiacin de fondo [7]. El tiempo requerido para que aparezca el electrn
libre, una vez alcanzada la intensidad elctrica de ruptura, es llamado tiempo de retraso estadstico
(del ingls Statistical time lag) [5], [8].

13

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Figura 1.2 Voltaje y corriente en una cavidad donde se presentan descargas parciales [9]

1.2

CARACTERISTICAS DE LOS PULSOS DE DESCARGA PARCIAL

Las descargas parciales aparecen en forma de rpidos pulsos del orden de unidades a decenas de ns
de tiempo de subida y centenas de ns a unidades de s de duracin. Con picos, que normalmente
se cuantifican en: mV cuando se utilizan capacitores de acoplamiento, mA (o mV) cuando se utilizan
transformadores de corriente de alta frecuencia, dB cuando se emplean analizadores de espectros
o sensores acsticos y pC cuando se realiza un proceso de calibracin del circuito de medida.
La seal de descarga parcial es irregular en ocurrencia, no peridica, de naturaleza transitoria y con
forma de pulsos exponenciales amortiguados o pulsos oscilatorios amortiguados [11]. Adems,
puesto que la forma de onda del pulso de DP depende de la dinmica interna, la evolucin del
defecto debido a los cambios qumicos, las carbonizaciones parciales, las distribuciones internas de
acumulacin espacial de cargas, la tensin aplicada, etc., hace que la forma de onda de los pulsos
resultante no sea una constante, sino que vara con el tiempo (ver Figura 1.4) y para cada tipo de
defecto [10]. Un desafo adicional es que los pulsos de DP estn frecuentemente embebidos en
ruido, dificultando su deteccin. La Figura 1.3 muestra los parmetros tpicos de un pulso de DP.

Figura 1.3 Principales parmetros de un pulso de descarga parcial [12]

Los principales parmetros de un pulso individual de DP son [13]:

14

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Voltaje pico ( ): es el nivel de voltaje mximo del pulso de DP (en terminales del circuito de
medida).
Tiempo de subida ( ): es el tiempo que tarda el pulso en ir desde el 10% hasta el 90% del voltaje
pico.
Tiempo de cada ( ): es el intervalo de tiempo que toma el pulso en caer desde el 90% hasta el
10% del voltaje pico (tpicamente varia de 3 a 10 veces el tiempo de subida).
Ancho del pulso (): se refiere al intervalo de tiempo entre el 50% de la magnitud mxima del
pulso.
Tiempo de ocurrencia ( ): es el tiempo medido entre la magnitud pico de la DP y el cruce por
cero positivo de la seal de alterna (seal de sincronismo).
ngulo de fase (): es la fase, en grados, en la que ocurre el voltaje pico de la DP con respecto
a la seal de sincronismo. El ngulo de fase u ocurrencia es = 360 ( /) donde es el
periodo de la seal de sincronismo.
Polaridad de la descarga ( ): hace referencia a si la magnitud pico del pulso de DP es positiva o
negativa.

Figura 1.4 Pulsos de corriente de DP negativas en cavidades de un cable XPLE a) al inicio y b) 30min despus
de aplicar la tensin de prueba [16]

La forma, el ancho y el tiempo de subida del pulso determinan el espectro de frecuencias. Cuanto
ms corto es el tiempo de subida del pulso, ms amplio es el espectro y menor es la magnitud en
baja frecuencia (Ver Figura 1.5) [14]. Los tiempos de subida del pulso de DP pueden variar desde
menos de 0,35ns a decenas de ns dependiendo de la naturaleza de la fuente de DP. Esto implica que
el ancho de banda de la seal puede variar de cientos a decenas de MHz. [15].

Figura 1.5 Espectro en frecuencia de dos pulsos de diferente tiempo de subida (los anchos
del pulso son de dos veces ) [14]

15

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Hay varias fuentes de interferencias externas que afectan la medicin de descargas parciales (ruido
elctrico), ya que a menudo se sobreponen a las seales de DP de pequea magnitud, haciendo
difcil su deteccin. Estas fuentes de interferencia incluyen: sistemas de comunicacin mvil y de
transmisin de radio (ruido sinusoidal continuo), chispas y disparo de tiristores resultando en pulsos
de corriente peridicos (ruido estocstico), conmutaciones y arcos (interferencias en forma de pulso
peridico y estocstico). Adems, el ruido trmico que puede ocurrir dentro del propio circuito de
deteccin, este ruido interno es bastante complejo y pude presentar las mismas caractersticas de
los pulsos de DP.
Una manera de mitigar la presencia de ruido es fijando un umbral (threshold) para ignorar las
seales inferiores al 10% de la amplitud mxima de DP. No obstante, este mtodo no es adecuado
para aplicaciones que requieren buena precisin, ya que un alto nivel de umbral ignora pulsos de
DP de pequea magnitud y, a su vez, un pequeo nivel detecta errneamente gran cantidad de
ruido como pulsos de DP. Existen diferentes mtodos de eliminacin de ruido (denoising), pero los
mejores resultados se han obtenido con los mtodos basados en Wavelet. [17].
1.3

TIPOS DE DESCARGAS PARCIALES

Las descargas parciales, en general, se pueden clasificar en tres tipos: interna, corona y superficial.
1.3.1

DESCARGAS PARCIALES INTERNAS

Las descargas internas ocurren en inclusiones de baja rigidez dielctrica, donde se concentra un alto
campo elctrico. Por ejemplo, grietas, cavidades o delaminaciones en dielctricos slidos, burbujas
en los aislantes lquidos, incrustaciones de partculas extraas, protuberancias metlicas, etc. La
Figura 1.7 muestra delaminaciones en barras de mquinas rotativas.
Su origen es debido al fuerte campo elctrico creado dentro de los defectos. Este estrs elctrico
puede variar de acuerdo a factores como, el tamao y forma de la cavidad en el dielctrico, la
ubicacin de la inclusin en el dielctrico y la presin del gas en la cavidad, ya que la tensin de
ignicin est en funcin de dicha variable. En la Figura 1.6 se observa como vara la tensin de
ruptura del gas en funcin de la presin y el espacio de los electrodos (curva de Paschen).

Figura 1.6 Curva de Paschen [21]

1.3.2

DESCARGAS CORONA

Son descargas causadas por la presencia de fuertes campos elctricos alrededor de puntas o bordes
metlicos sometidos a alta tensin que producen una ionizacin del gas que lo rodea, y que
16

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finalmente provocan una ruptura del aislante en esa zona. Estas descargas suelen ir acompaadas
de luz visible y ruido audible.
Las DP corona son comunes en los conductores de las lneas de alta tensin y se manifiesta en forma
de halo luminoso a su alrededor. Puesto que los conductores suelen ser de seccin circular, el halo
adopta una forma de corona, de ah el nombre del fenmeno [22]. La Figura 1.8 muestra el efecto
de DP corona en las barras de un generador elctrico de alta tensin.
1.3.3

DESCARGAS PARCIALES SUPERFICIALES

Las descargas parciales superficiales ocurren sobre la superficie de un aislamiento donde el campo
elctrico tangencial a la superficie es alto. Estas descargas pueden puentear la diferencia de
potencial entre la fuente de alta tensin y el electrodo de tierra a travs de grietas o caminos
contaminados sobre la superficie del aislamiento. Es muy comn encontrar este tipo de descargas
en los aislamientos elctricos entre espiras de mquinas elctricas, en cadenas de aisladores
contaminados, terminales de cables, etc.

Figura 1.7 Delaminacin en barras de mquinas

rotativas. [20]

1.4
1.4.1

Figura 1.8 Barras con presencia de descargas corona

[20]

MEDICIN DE DESCARGAS PARCIALES

MTODOS DE DETECCIN

La medida de descargas parciales ha ido evolucionando progresivamente desde los aos 50-60 hasta
la actualidad, dependiendo del estado de la tecnologa [10].
Las DP estn acompaadas por varias manifestaciones fsicas: pulsos elctricos, ondas
electromagnticas de RF (radiofrecuencia), pulsos acsticos, luz y reacciones qumicas. Estas
manifestaciones pueden ser medidas para detectar y cuantificar la actividad de DP [23]. Por lo que
existe medicin de DP por mtodos elctricos y no elctricos. Se pueden diferenciar los siguientes
mtodos no elctricos [1]:
Mtodo Qumico: aprovecha la informacin aportada por los gases que aparecen en el aceite
mineral del transformador para detectar DP o sobrecalentamientos. Las DP provocan cambios
en estos gases (etileno, acetileno, metano, hidrgeno, dixido de carbono y oxgeno en forma
de ozono) que se generan a mayor velocidad. La medida de estos cambios detecta la presencia
de las descargas. Una desventaja de este mtodo es la imposibilidad de entregar la ubicacin de
la descarga exacta, solo puede indicar una zona amplia.

17

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Mtodo Acstico: este mtodo detectan la actividad de descargas por medio de sensores que se
instalan en el tanque del transformador. Las descargas ocasionan ondas sonoras que se propagan
a travs del medio aislante. Miden la magnitud y entregan la ubicacin fsica de las fuentes de
las DP. Se realizan con micrfonos o transductores acsticos combinados con amplificadores y
osciloscopios.
Mtodo ptico: detecta la luz que producen los procesos de descarga parcial; ionizacin,
excitacin y recombinacin. Una desventaja es la variacin del espectro ptico, puesto que no
siempre es el mismo. El espectro depende de la intensidad de la descarga y de factores como la
temperatura y la presin del aislante.
En general, estos mtodos no son adecuados para la medicin cuantitativa de la DP, pero son
esencialmente utilizados para detectar y/o localizar las DP. [1]
Los mtodos elctricos estn basados en la deteccin de los pulsos de corriente de DP que circulan
por el circuito de medida, sus caractersticas se encuentran definidas en [1]. Para la medida elctrica
de DP, en general, se emplean dos tipos de acoplamientos diferentes: el acoplamiento por campo
elctrico (acoplamiento capacitivo) y el acoplamiento por campo magntico (acoplamiento
inductivo).
1.4.1.1 Sensado de pulsos elctricos: capacitores de acoplamiento y transformadores
de corriente de alta frecuencia
Debido a que una descarga parcial implica un flujo de electrones e iones a travs de una pequea
distancia en un perodo finito de tiempo, una pequea corriente fluye cada vez que se produce una
DP. La corriente total est determinada por el transporte de un determinado nmero de pC de carga.
El flujo de corriente crea un pulso de voltaje a travs de la impedancia del sistema de medicin. Uno
de los principales medios de deteccin de DP es medir el pequeo pulso de voltaje que acompaa
cada DP, o el pulso de corriente resultante. Estas cantidades se miden en circuitos alejados de la DP.
El pulso de tensin se puede detectar por medio de capacitores de alta tensin. El capacitor tiene
una alta impedancia a la frecuencia de la fuente de tensin, pero aparece como una baja impedancia
para los pulsos de tensin de alta frecuencia. Alternativamente, un transformador de corriente de
alta frecuencia (HFCT, High frequency current Transformer) se puede instalar en los terminales de
bajo voltaje (neutro o tierra) o en otros lugares adecuados para detectar los pulsos de corriente que
acompaan a las DP. La salida del capacitor o del transformador de corriente de alta frecuencia son
pulsos de tensin o de corriente, respectivamente, que se puede medir con un osciloscopio, un
analizador de espectro, un analizador de altura de pulsos, etc. [23]
En los HFCT se induce un voltaje en el circuito secundario (deteccin) como respuesta al cambio en
el flujo magntico causado por la corriente en el circuito primario (corriente de DP) [24]. El campo
magntico generado por el pulso de DP es medido por el transformador de corriente o por medio
de una bobina arrollada como circuito secundario alrededor del circuito primario; un ejemplo de
estas bobinas son las bobinas Rogowski.
La respuesta en la frecuencia de un capacitor es una funcin de los valores de capacitancia y de sus
circuitos asociados, cuando el capacitor termina directamente en una resistencia de 50 el punto a
-3dB (ancho de banda) es una funcin de la capacitancia de acoplamiento: 40MHz (80pF), 6.4MHz
(500pF), 320kHz (10nF) [23]. Los sensores deben estar libres de descargas parciales en el voltaje de
operacin, tener un valor de capacitancia y un factor de disipacin estable con la temperatura [26].
El valor de la capacitancia tiene implicaciones sobre la sensibilidad de la medida y sobre el valor
medido de la carga aparente. Comnmente, el valor de capacitancia se encuentra entre los pF y
18

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decenas de nF [10]. La sensibilidad del sistema de deteccin vara inversamente con la capacitancia
del objeto de prueba [7], [27]; mientras que lo hace directamente con la capacitancia del
condensador de acoplamiento [28]. La Figura 1.9 muestra la repuesta en frecuencia de sensores
capacitivos para la deteccin de DP en el devanado de mquinas rotativas de alta tensin.

Figura 1.9 Respuesta en frecuencia de capacitores de acoplamiento de la marca HVPD (1 MHz a 50 MHz)
utilizados para mquinas rotativas [18]

1.4.2

MTODOS DE MEDIDA CONVENCIONAL Y NO CONVENCIONAL

Bsicamente los mtodos convencionales son aquellos que se realizan de acuerdo a la norma IEC
60270, mientras que los no convencionales no tienen una norma. Los mtodos convencionales
realizan la evaluacin de la carga de los pulsos de DP basados en la llamada cuasi-integracin,
empleando filtros pasa-banda. El filtro pasa-banda es un elemento clave en este tipo de medidas,
que acta como un filtro en el sentido tradicional, filtrando el ruido recogido en las medidas, y por
otra parte acta como un pseudo-integrador. La relacin entre las frecuencias de corte de este filtro
y el espectro del pulso hacen que el filtro se comporte como un pseudo-integrador, de forma que
el valor pico del pulso de voltaje a la salida del filtro, es proporcional al rea del pulso a la entrada
de ste, y es por lo tanto una medida de la carga aparente del pulso de corriente de DP.
La medicin convencional implica que una parte del espectro de frecuencias de la seal de DP es
descartada, es decir, hay una prdida de informacin en la medida. Esta prdida de informacin
ocasiona un recorte de la carga aparente determinada, puesto que el teorema de Parseval indica
que la energa del pulso en el dominio del tiempo es igual a la energa del pulso en el dominio de la
frecuencia, si se pierde una proporcin de las frecuencias del pulso se est disminuyendo la
magnitud de la descarga [10].
El ancho de banda del filtro debe estar contenido dentro del espectro del pulso, tal y como se aprecia
en la Figura 1.10, el cual es sintonizado en un rango de frecuencia donde la amplitud del espectro
de frecuencia del pulso de DP es casi constante.

19

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Figura 1.10 Respuesta en frecuencia de los sistemas de medida de descarga parcial [19]

Dependiendo del ancho de banda = 2 1 del filtro pasa-banda del equipo de medida, se
diferencia entre instrumentos de banda ancha e instrumentos de banda estrecha. [1]
Para instrumentos de medida de DP de banda ancha se debe cumplir con los siguientes valores de
ancho de banda recomendados segn IEC 60270 [1]:
Frecuencia lmite inferior:
Frecuencia lmite superior:
Ancho de banda:

30kHz 1 100kHz
2 500kHz
100kHz 400kHz

Para instrumentos de medida de DP de banda estrecha se debe cumplir con los siguientes valores
recomendados [1]:
Ancho de banda:
9kHz 30kHz
Frecuencia central:
50kHz 1MHz
La forma, duracin y valor pico del pulso de salida es determinado por la impedancia de
transferencia del sistema de medida. As, el pulso de salida puede ser completamente diferente al
pulso de entrada.
La respuesta de los equipos de DP, equipados con filtros pasa-banda, es una oscilacin amortiguada,
donde la duracin del pulso de salida es mucho mayor que la del pulso de entrada, esto se aprecia
en la Figura 1.11.
Para los sistemas de banda ancha se utiliza frecuentemente el primer pico para determinar la
magnitud y polaridad de la DP. Aunque se puede presentar que la magnitud de un segundo pico sea
mayor que la del primero, dificultando el reconocimiento correcto del valor de la carga y su
polaridad. Dicho reconocimiento ya depender del funcionamiento del equipo de medida utilizado.
En los equipos de medicin de banda estrecha la determinacin de la magnitud pico y la polaridad
de la DP se dificultan, ya que se presentan varios picos de la seal con diferente polaridad.
Generalmente la informacin de la polaridad es indeterminada y el mayor pico representa mejor la
medida de la carga.
Existe una necesidad de los mtodos no convencionales debido a que la respuesta en el tiempo de
los mtodos convencionales es muy larga. Esto puede producir solapamiento de las respuestas de
los pulsos, lo que por ejemplo, no es adecuado para la localizacin. [25]
Hoy en da, gracias a los modernos equipos disponibles, a los nuevos materiales y las nuevas
tecnologas electrnicas, es posible medir los pulsos de DP con mayor precisin, reproduciendo casi
totalmente la forma de onda de los pulsos. Este hecho permite emplear nuevas tcnicas
matemticas de anlisis de la carga, de identificacin de DP y de localizacin de pulsos. Todas estas
tcnicas modernas, que emplean sensores de gran ancho de banda y altas velocidades de muestreo
para digitalizar los pulsos de DP se incluyen en los llamados Mtodos no convencionales. [10]
20

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Figura 1.11 Respuesta ante un pulso DP de un equipo de a) Banda ancha y b) Banda estrecha (Pulso superior: entrada,
Pulso inferior: salida, base de tiempo 4s/div) [16]

Los mtodos no convencionales comprenden tres rangos de medida de frecuencia: alta frecuencia
(HF, High Frequency) de 3-30MHz, muy alta frecuencia (VHF, Very High Frequency) de 30-300MHz y
ultra alta frecuencia (UHF, Ultra High Frequency) de 300-3000MHz. La aplicabilidad de cada rango
depende del componente del sistema elctrico, para cables y mquinas rotativas se usa HF y VHF y
para transformadores o GIS, UHF [23]. En general, los mtodos no convencionales no siguen
estrictamente un circuito normalizado para el sistema de medida, por ejemplo, cuando se utilizan
tcnicas acsticas y de radiofrecuencia. [29]
La seleccin del ancho de banda ptimo debe hacerse con el propsito de obtener la mxima
relacin seal-ruido. Por lo tanto, se debe conocer el espectro de frecuencias de la seal de DP, para
con ello poder determinar el ancho de banda del sistema de medicin con el que la relacin sealruido sea mxima. La seleccin de un ancho de banda muy grande puede comprometer la relacin
seal-ruido [30], ya que el ruido se extiende por todas las componentes de frecuencia.
Las investigaciones de la influencia del ancho de banda de un sistema sobre la respuesta de los
pulsos de DP, muestran que las frecuencias de filtrado influyen sobre la longitud de tiempo de la
respuesta, la sensibilidad del sistema y la determinacin de la carga. [25]
1.4.3

CIRCUITO DE MEDIDA

Generalmente se emplean dos tipos de configuraciones para asegurar la medida de DP y su

reproducibilidad, que se diferencian en la disposicin de la impedancia de medida con respecto al
objeto de ensayo. En el circuito directo, Figura 1.12a, la impedancia de medida est en serie con el
objeto de ensayo, y en el indirecto, Figura 1.12b, en serie con el condensador de acoplamiento. Cada
una de las configuraciones ofrece una polaridad diferente a los pulsos generados por las DP. En la
configuracin directa, los pulsos tienen la misma polaridad que la onda de tensin aplicada,
mientras que en la indirecta, la polaridad es la opuesta.
La normativa permite la utilizacin de los dos circuitos, sin embargo, en el circuito directo la
impedancia de medida se conecta en serie con el objeto de ensayo y en caso de fallo del aislante,
queda expuesta a la tensin aplicada, lo que pone en riesgo a los equipos de medida y a las personas.
Por esta razn, el circuito ms recomendable y utilizado para garantizar la seguridad es el indirecto.
Los principales elementos de las configuraciones son:
Una fuente de alta tensin, formada por un transformador Tr libre de DP para evitar
interferencias o errores de interpretacin.
Una impedancia filtro Zn, que evita que las DP que se producen en el objeto de ensayo circulen
por el lazo de la fuente de alta tensin. Por otra parte, sirve de filtro ante posibles perturbaciones

21

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de la red, que a travs del transformador pueden pasar al circuito de medida, e igualmente
atena posibles pulsos de DP del transformador en el caso de que no est libre de DP
El objeto de prueba, cuyo comportamiento se aproxima a una capacitancia Ca.
Un condensador de acoplamiento Ck, que facilita el paso de los pulsos de corriente de alta
frecuencia.
El dispositivo de acoplamiento CD es una red de cuatro terminales activa o pasiva (cuadripolo) y
contiene la impedancia de medida Zm, que convierte los pulsos de DP en su entrada en pulsos de
voltaje a su salida. La conexin serie del capacitor de acoplamiento Ck con la impedancia de
medida Zm forma un filtro pasa alta. Algunos cuadripolos separan la seal DP de la de red
(sincronismo), entregndolas en diferentes canales.
Un cable de conexin.
Un instrumento de medida de DP, Mi.

Figura 1.12 Circuitos de medicin de descargas parciales a) directo y b) indirecto [16]

La corriente originada por la descarga circula hacia la rama capacitiva que ofrece un camino de baja
impedancia para seales de alta frecuencia, dado que la rama opuesta tiene una impedancia
inductiva que bloquea su paso. Esta rama capacitiva, compuesta por el condensador de
acoplamiento Ck y la impedancia de medida Zm, facilita la circulacin de la DP y acta como un
divisor de tensin protegiendo al sistema de medida. As, la combinacin del capacitor y la
impedancia de medida se comportan como un filtro, donde la frecuencia de corte inferior tiene que
ser sintonizada de manera que al menos la seal de frecuencia de la red y sus armnicos se filtran,
adems para medicin convencional debe abarcar los anchos de banda de los filtros IEC.
1.4.4

CARGA APARENTE Y CALIBRACIN

La medida de DP est basada en la deteccin de las pequeas corrientes que circulan por el circuito
de medida. Estas corrientes impulsionales son consecuencia del acoplamiento con el circuito de
medida de las avalanchas electrnicas que se producen en el seno del aislamiento.
Puesto que la magnitud de la carga que circula por el circuito de medida no es igual a la magnitud
de la carga asociada a la avalancha electrnica, es necesario definir el concepto de carga aparente.
La integracin del pulso de corriente se denomina carga aparente y se define como aquella carga
que inyectada instantneamente en bornes del objeto de prueba, dara la misma lectura en el
instrumento de medida que el propio pulso de corriente de la descarga parcial [1]. Habitualmente
la carga aparente se expresa en pC.
Debido a que la forma del pulso puede cambiar de un circuito de medida a otro, dependiendo de
los conductores, condensadores y dems elementos usados, la medida convencional contempla la
necesidad de relacionar el valor de tensin obtenido con la carga aparente producida por la DP
22

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mediante un proceso de calibracin. Este proceso se basa en una simulacin de transferencia de

carga interna entre la fuente de DP y los terminales del equipo bajo prueba por medio de un
calibrador externo, como se puede ver en la Figura 1.13. El calibrador se conecta en paralelo con el
objeto de prueba y con el divisor capacitivo formado por el condensador de acoplamiento Ck y la
impedancia de medida Zm.
El calibrador de DP es un generador de pulsos (ms especficamente una fuente de voltaje tipo step
o square) de amplitud , que emite una seal de calibracin constante de magnitud conocida a
travs de un pequeo capacitor . El valor de la seal de calibracin est dado por la ecuacin (1.2)

qo U o C o

(1.2)

Donde se requiere que la capacitancia del calibrador sea mucho menor a la del equipo bajo prueba
( ).

Figura 1.13 Circuito para el proceso de calibracin

El objetivo de la calibracin es la obtencin de la constante de calibracin del sistema de

medida, que relaciona el valor pico de la onda a la salida del sistema detector con el valor de carga
inyectado por el calibrador de DP. As, para determinar el valor de la carga del pulso, se mide el valor
pico de voltaje del pulso obtenido durante la prueba y se multiplica por la constante de calibracin,
como se muestra en la ecuacin (1.3):

q DP

qo
VDP K calVDP
Vo

(1.3)

donde:
: valor de carga de las DP ocurridas en el objeto durante la prueba [pC]
: magnitud del pulso de tensin a la salida del detector al inyectar el pulso calibrador [mV]
: magnitud del pulso de tensin de la DP medidas a la salida del detector durante la prueba [mV]
La constante de calibracin = / , se obtiene de la pendiente de la relacin pC/mVpico tras
inyectar varios pulsos de diferente magnitud con el calibrador.
La calibracin es uno de los procesos ms importantes para garantizar la correcta medicin, debe
realizarse antes de cada prueba y repetirse cuando se presenta algn cambio en el circuito o en el
objeto bajo prueba.

23

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1.5

ANLISIS DE DESCARGAS PARCIALES

El objetivo principal del anlisis de descargas parciales es verificar, por medio de la realizacin de
una prueba no destructiva, que el nivel de descargas que se representa en un equipo en particular
es seguro para su operacin y no representa un riesgo que pueda ocasionar una falla prematura.
La deteccin de los pulsos es el primer paso para el anlisis de la actividad de DP. Para identificar las
fuentes de la DP y los posibles defectos en el aislamiento se requiere extraer rasgos de los pulsos,
clasificarlos segn los patrones y clases existentes y evaluar finalmente el estado del aislamiento.
Las tcnicas de identificacin de descargas parciales son variadas, en [17] se puede encontrar un
resumen de stas. A continuacin se abordan algunas de las tcnicas utilizadas como lo son: el
grfico de altura de pulsos, el diagrama de fase resuelta y la aplicacin de la distribucin de Weibull.
1.5.1

ANLISIS DE ALTURA DE PULSOS

El grfico de anlisis de altura de pulsos (PHA, Pulse Height Analysis) registra el nmero de pulsos
por segundo (pps) en escala logartmica en funcin de la magnitud de las DP (mV o pC) en escala
lineal y de valores discretizados (ventanas de magnitud). La Figura 1.14 muestra la curva PHA para
un generador de 10.5MW.

Figura 1.14 Grfico PHA en un turbogenerador de 10.5MW. Resultados del equipo PDTrac de Iris Power [31]

Esta herramienta permite determinar la existencia de algn incremento en la magnitud o nmero

de DP presentes en el sistema aislante. El proceso de evaluacin se realiza a partir de la comparacin
de diferentes grficas obtenidas de mediciones hechas con el pasar del tiempo.
El grfico de altura de pulsos tambin brinda una idea general de la ubicacin de las DP en el sistema
aislante, sta ubicacin se realiza determinando qu polaridad de pulsos es la predominante. Como
se observa en la Figura 1.15, si las curvas son similares no habr predominancia y esto se puede
relacionar con la existencia de cavidades dentro del aislamiento principal, cuando los pulsos de
polaridad positiva predominan sobre los de polaridad negativa proporcionan un indicio de la
existencia de cavidades cercanas al ncleo del estator (tierra) y cuando los pulsos de polaridad
negativa predominan sobre las de polaridad positiva proporciona un indicio de que existen
cavidades cercanas a los conductores de cobre. [20]

24

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a)

b)

c)
Figura 1.15 Predominancia de los pulsos de DP en el grfico de altura de pulsos. a) Predominancia positiva, b)
Predominancia negativa y c) No predominancia. [20]

1.5.1.1 Magnitud pico de descargas parciales y cantidad numrica normalizada NQN

Las variables relacionadas al grfico de Altura de Pulsos o (largest repeatedly ocurring PD
magnitude) y NQN (Normalized Quantity Number) permiten interpretar de manera ms simple los
resultados.
La variable es la magnitud asociada a una repeticin de 10pps (ver Figura 1.16a). La cantidad
NQN es originalmente definida como el rea normalizada bajo una lnea recta aproximada del
conteo de pulsos en cada ventana de magnitud del anlisis de altura de pulsos (ver Figura 1.16b).
[23]. El clculo de NQN puede realizarse mediante la ecuacin (1.4) [23]

NQN

FS
GN

log10 PN
log P N 1
10 1 log10 Pi
2
i 2
2

(1.4)

donde:
: nmero de pulsos por segundo en la ventada de magnitud i
N: nmero de ventanas de magnitud
G: ganancia del detector de descargas parciales (aritmtico no decibeles)
FS: ventana de magnitud mxima en mV en unidades de ganancia

25

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a)
b)
Figura 1.16 Variables a) y b) NQN [20]

Otro mtodo propuesto para el clculo de NQN puede encontrarse en [32], donde se relaciona el
valor obtenido de NQN con una probable condicin del devanado de la mquina rotativa dado el
tipo de sistema de aislamiento.
1.5.2

DIAGRAMA DE FASE RESUELTA

La tcnica de anlisis de descargas parciales ms utilizada es el anlisis del diagrama de fase resuelta
o patrn PRPD (Phase-Resolved Partial Discharge), este anlisis permite identificar algunos de los
mecanismos de degradacin ms comunes, pues existe una fuerte relacin entre la forma del patrn
y el tipo de defecto que lo causa [20], [33]. En este diagrama, se grafica la magnitud de la DP en
pC o mV (eje y) contra su fase de ocurrencia en grados (eje x) donde se registra un cierto nmero
de ciclos de tensin sobre un nico ciclo de la seal de alterna. La fase de ocurrencia es discretizada
en ventanas en un rango de 0 a 360, ver Figura 1.17, tambin se agrega la cantidad de DP (, ),
que cuenta la descargas que tienen un mismo valor de magnitud y fase, este ltimo en el eje z
(diagrama 3D) o puede representarse con diferentes niveles de intensidad de color (diagrama 2D).

Figura 1.17 Obtencin del diagrama de fase resuelta [33]

Es muy importante ser capaz de distinguir el tipo de descarga, debido a que la nocividad de las DP
depende en gran medida de esto. De la interpretacin de estos patrones, se pueden concluir en la
mayora de casos si se trata de ruido, de una descarga parcial interna, de una descarga parcial
superficial o de una descarga corona.
El problema con el diagrama de fase resuelta es que es altamente dependiente del sistema de
medida y sus propiedades (linealidad del sensor, rango de medicin de pC, tensin aplicada) y de
las condiciones de medida (la cantidad de perturbaciones). Los patrones tambin cambian durante
el tiempo. Esto significa que hay mltiples patrones que describen el mismo tipo de defecto. La
situacin se vuelve an ms difcil cuando hay varios defectos que producen DP al mismo tiempo
[34].
26

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La Figura 1.18 muestra el diagrama de fase resulta tpico para los tres tipos de descargas parciales.
Las descargas corona, suelen ocurrir alrededor de los 270 (o 90) y ser de magnitud constante;
aparecen principalmente en un solo semiciclo, pero esto es debido a que la tensin de ignicin es
diferente para cada semiciclo de la seal de tensin, por lo que, si las tensiones son elevadas,
pueden aparecer pulsos espordicos en el semiciclo opuesto. Cuando la parte afilada o en punta
est conectada a alta tensin las primeras descargas toman lugar en el semiciclo negativo (DP
corona negativas) de la tensin de red, en el caso que la punta este a tierra las descargas aparecen
en el semiciclo positivo (DP corona positivas). La frecuencia de repeticin es fuertemente
dependiente del nivel de tensin. [34][36]
Las descargas parciales superficiales toman lugar en ambos semiciclos de la seal de alterna, con
fases de ocurrencia entre 0-90 y 180-270, el patrn de DP depende fuertemente de la geometra
de los electrodos. Es comn que la magnitud de las descargas sea diferente en cada semiciclo.
Las descargas parciales internas ocurren en los rangos de 330-90 y 150-270, la magnitud de las
descargas depende de la profundidad de la cavidad y puede ser de diferente magnitud entre los
semiciclos positivo y negativo dependiendo de la ubicacin de la cavidad. La repeticin depende del
rea de la cavidad. Tambin la forma de la cavidad tiene un efecto significante en el patrn. [34]
[36].

Figura 1.18 Diagrama de fase resuelta tpico para descargas parciales a) Corona, b) Superficiales e c) Internas [35]

En la Figura 1.19 se observa el despliegue tpico del devanado de un generador elctrico con
presencia de DP en las cabezas de bobina, debido a un mal diseo de la cinta gradiente o muy poco
espacio entre el devanado y el ncleo provocando que el fenmeno conocido como sparking
aparezca en la interfaz. [20]

27

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Figura 1.19 Diagrama de fase resuelta para el devanado de un generador elctrico con dao en las cabezas de bobina.
Resultado del equipo MICAMAXX plus de PDTech. [20]

1.5.3

DISTRIBUCIN DE WEIBULL

Es una distribucin de probabilidad acumulativa muy utilizada para modelar tiempos de vida en
ensayos de envejecimiento por esfuerzos elctricos. Permite modelar de forma segura una
probabilidad de tiempo hasta el fallo.
El anlisis de Weibull provee una descripcin matemtica del grfico de altura de pulsos. Asume que
la funcin de probabilidad de la curva de altura de pulsos para una nica fuente de DP puede ser
expresada por la funcin de Weibull de dos parmetros

F (q) 1 e

(1.5)

donde:
: Es la magnitud de las descargas parciales en mV o pC.
(): Es la probabilidad de tener una descarga con una amplitud igual o menor que .
: Es el parmetro estadstico de escala ( 0). Es la magnitud de descarga que han alcanzado el
63,2% de los pulsos (anlogo al significado de media de la distribucin normal). Su significado
estadstico pierde valor para valores de muy bajos.
: Es el parmetro de forma de la distribucin ( 0). Es una medida de la variabilidad de las
magnitudes de DP. Un valor pequeo de ( < 2) se asocia a una alta variabilidad, lo que explica
una existencia de gran diferencia entre la mnima magnitud de descarga y la mxima detectada en
el ensayo.
Para el caso de mltiples fuentes la distribucin de probabilidad es basada en la distribucin de
Weibull mixta. Los parmetros de Weibull se pueden calcular mediante el uso del criterio de mxima
verosimilitud (maximum likelihood method) o por regresin lineal de mnimos cuadrados (Least
square linear regression) aplicado a la ecuacin (1.6) escrita en forma logartmica

ln ln1 F (q) ln(q) ln( )

(1.6)

28

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Definiendo
en

y(q) ln ln1 F (q) , x(q) ln(q) y b ln( )

y (q) x(q) b

la ecuacin (1.6) se convierte

(1.7)

Que es una lnea recta en coordenadas (x (q), y (q)) con pendiente (grfico de Weibull). Y donde
el parmetro de escala es

(1.8)

Si se utiliza el mtodo de mnimos cuadrados se requiere de una estimacin para la probabilidad

acumulativa (). Existen varias posibilidades para el estimador de rango mediano (MR, media
rank), uno de los ms utilizados es [37]

F (q) MR

i 0.3
N 0.4

(1.9)

donde:
N: nmero total de descargas parciales
i: dato nmero 1, 2, 3,,N
Los parmetros de escala y de forma pueden ser correlacionados con la actividad de DP y
constituir una herramienta til para el diagnstico de aislamiento basado en la medicin de DP [38].
La Figura 1.20 muestra el comportamiento de los parmetros y en el tiempo para el
envejecimiento de una barra del estator de una mquina rotativa, el parmetro de escala
incrementa con el tiempo de envejecimiento, mientras que, el parmetro de forma decrece.

Figura 1.20 Comportamiento en el tiempo de los parmetros y para el envejecimiento de una barra estatorica [39]

Los parmetros y no varan significativamente con la tensin aplicada y permanecen invariantes

con la localizacin de la fuente de la DP en el sistema de aislamiento. [38], [39].
El parmetro de forma puede ser utilizado para identificar diferentes tipos de descarga parcial.
[39][42]. La Figura 1.21 muestra la comparacin del parmetro para diferentes tipos de DP.
En varias mediciones realizadas a diferentes equipos y objetos de alta tensin como en [40], [41],
[43][49] generalmente se obtiene que > > pero el valor de
tiene un amplio rango y suele suceder que sea inferior al valor de .

29

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Figura 1.21 Comparacin del parmetro obtenido para diferentes tipos de DP (generadas con electrodos).
S: superficiales, V1 y V2: internas (1.3mm y 2mm de dimetro), C60 y C90: corona usando puntas de radio 60m y
90m respectivamente. [41]

En [50] utilizaron los parmetros y para identificar diferentes tipos de DP como se observa en
la Figura 1.22. Se utilizaron cuatro prototipos de modelos hechos para producir cuatro tipos de DP
comunes en el devanado del estator, que incluyen DP normales en barras estndar (NM), descargas
internas (IV) causadas por cavidades de aire dentro de las capas de aislamiento, descargas en cabeza
de bobina (EW) causadas por destruccin de la cinta gradiente de la barra a la salida de la ranura, y
descargas de ranura (SL) causadas por abrasin de la capa semiconductora de las barras en la ranura.
De cinco a diez barras fueron utilizadas para producir cada tipo de actividad de DP. Se pueden
observar que tres clusters principales SL, EW y los otros aparecen en el grfico de , y las DP
normales pueden ser separadas de las internas por la suma + y . En el grfico de son
separados los clusters de SL y EW.

a)
b)
Figura 1.22 Grficos de a) y b) para diferentes tipos de DP. [50]

1.6

CONCLUSIONES

Las descargas parciales son un fenmeno de carcter estocstico, que varan con muchos
factores como: temperatura, dimensiones y presin de la cavidad, tensin elctrica aplicada,
condiciones y caractersticas del aislamiento, el tiempo etc.

30

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Para asegurar la aparicin de DP en una cavidad, el campo elctrico en la cavidad debe exceder
la intensidad elctrica de ruptura del gas y debe haber electrones libres que inicien la avalancha
de electrones.
El tiempo de subida del pulso de DP determina el ancho del espectro en frecuencia. Los tiempos
de subida pueden variar desde unidades a decenas de ns, lo que implica que el ancho de banda
de la seal puede variar de cientos a decenas de MHz, aunque el ancho de banda est limitado
fuertemente por el equipo de medida.
Las DP estn acompaadas por varias manifestaciones fsicas, que permiten detectar su
actividad; se diferencian dos mtodos de deteccin, los mtodos elctricos y los mtodos no
elctricos, stos ltimos miden los pulsos elctricos (voltaje o corriente resultante) producidos
por las DP, donde se emplean capacitores de alta tensin o transformadores de corriente de alta
frecuencia.
Los mtodos convencionales y no convencionales se diferencian principalmente por el ancho de
banda de la medida. Los mtodos convencionales se emplean de acuerdo a la norma IEC 60270,
con anchos de banda de hasta 400kHz mientras los no convencionales miden en el rango de
3MHz a 3GHz.
El grfico de altura de pulsos permite determinar la existencia de algn incremento en la
magnitud o nmero de DP. El proceso de evaluacin se realiza a partir de la comparacin de
diferentes grficas obtenidas de mediciones hechas con el pasar del tiempo. El grfico tambin
brinda una idea general de la ubicacin de las DP internas en el sistema aislante, sta ubicacin
se realiza determinando qu polaridad de pulsos es la predominante. Las variables relacionadas
al grfico de altura de pulsos y NQN permiten en un solo nmero simplificar la informacin
obtenida en el grfico. El valor de NQN se puede calcular por norma IEEE 1434.
El diagrama de fase resuelta es utilizado para identificar el tipo de descarga parcial, dependiendo
de la forma del patrn, y de la magnitud y ngulo de fase de los pulsos detectados. El diagrama
de fase resuelta es altamente dependiente del sistema de medida y sus propiedades (linealidad
del sensor, rango de medicin de pC, tensin aplicada) y de las condiciones de medida (la
cantidad de perturbaciones). Los patrones tambin cambian durante el tiempo. Esto significa
que hay mltiples patrones que describen el mismo tipo de defecto.
Los parmetros de escala y de forma son una herramienta til para el estudio de la actividad
de DP. El parmetro de forma es una medida de la variabilidad de las magnitudes de los pulsos
de DP y puede ser utilizado para identificar el tipo de descarga parcial, generalmente se obtiene
que > > pero el valor de tiene un amplio rango y
puede ser inferior al valor de .
1.7
[1]
[2]
[3]

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33

Captulo 2
Dispositivos para Generar Seales Artifciales de
Descargas Parciales
2

DISPOSITIVOS PARA GENERAR SEALES ARTIFCIALES DE DESCARGAS PARCIALES

Con el fin de generar diferentes tipos de descargas parciales en laboratorio (Off-line) y estudiar su
clasificacin, en [1] y [2] se plantean dos categoras que agrupan las formas de obtener estas seales,
estas son:
Defectos estndar: Son modelos simples de dos electrodos, que representan la forma fsica de
posibles defectos en dielctricos, algunos ejemplos son mostrados en la Figura 2.1.
Modelos industriales: En este caso los defectos artificiales son introducidos en equipos elctricos
(o partes de equipos) de alto voltaje, por ejemplo, insercin de partculas artificiales en sistemas
de aislamiento de gas, perforacin de cavidades en cables, aisladores recubiertos de solucin
salina, bobinas de alta tensin envejecidas etc. Estos defectos creados artificialmente se acercan
a los casos reales en la industria.

Figura 2.1 Defectos fsicos simulados con modelos simples de dos electrodos a) cavidad plana en dielctrico slido,
b) descargas superficiales, c) Corona, d) treeing y d) partes flotantes

Basados en los sistemas de defectos estndar mostrados en la Figura 2.1, se plantean tres modelos
de electrodos para generar descargas parciales:
Modelo Punta-Semiesfera, para descargas corona
Modelo Barra-Plano, para descargas superficiales
Modelo Planos paralelos, para descargas internas en dielctrico solido
En este captulo se presenta la simulacin electroesttica de los modelos de electrodos con la cual
se pretende conocer la distribucin y magnitud de la intensidad de campo elctrico, verificando las

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

condiciones que permiten obtener descargas parciales e identificar aspectos relevantes que se
pueden tener en cuenta en su diseo, tambin se comparan algunos clculos tericos del campo
elctrico con los obtenidos en la simulacin.
2.1

ANLISIS ELECTROSTTICO EN MTODO DE ELEMENTOS FINITOS

A continuacin se realiza la simulacin por medio del Mtodo de Elementos Finitos (MEF) utilizando
el mdulo de electroesttica del software COMSOL Multiphysics.
2.1.1

MODELADO

2.1.1.1 Descripcin de la geometra

Las Figuras 2.2, 2.3 y 2.4 muestran las geometras de los tres modelos simulados junto a una imagen
del modelo finalmente construido, slo fue modelada la mitad de la seccin transversal, dado que
se us un modelo axialmente simtrico en dos dimensiones.
El modelo Punta-Semiesfera, Figura 2.2, est comprendido por un electrodo en forma de punta cuyo
radio de la punta es de 0.6mm y una semiesfera hueca de 25mm de radio. El electrodo punta est a
una distancia de 10mm desde el plano de la semiesfera. El modelo punta-semiesfera es propuesto
como una fuente conocida de DP para estudios en aislamientos elctricos, pues genera descargas
corona tipo Trichel de amplitud muy constante y alta repetitividad [3][7].
El modelo Barra-Plano, Figura 2.3, est compuesto por un electrodo en forma de barra y otro en
forma de disco entre los cuales hay un material dielctrico (lmina de acrlico). Modelos como este
son empleados para el estudio de las DP superficiales [8][14].
El modelo Planos paralelos, Figura 2.4, consiste de dos electrodos en forma de disco que estn
sumergidos en aceite mineral, entre los discos hay material dielctrico (papel) de 3.5mm de espesor.
En el centro del material hay una inclusin cilndrica de aire de altura 1mm y radio 0.595mm.
Modelos similares han sido utilizados para el estudio de DP internas [7], [14][27].
Todos los electrodos son de material conductor, los modelos barra-plano y punta-semiesfera, a
diferencia del modelo planos paralelos, estn en un entorno de aire.

Figura 2.2 Modelo Punta-Semiesfera para descargas corona

35

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

Figura 2.3 Modelo Barra-Plano para descargas parciales superficiales

Figura 2.4 Modelo Planos paralelos para descargas parciales internas

2.1.1.2 Materiales
La Tabla 2-I resume los materiales utilizados y las permitividades relativas asignadas. Tambin se
agregan las intensidades de ruptura de los materiales.
Tabla 2-I Permitividades de los materiales utilizados en la simulacin por MEF [28][31]

Permitividad Intensidad de ruptura

Relativa
dielctrica [kV/mm]
Aire
1.0005
31
Acrlico
3.5
30
Papel Nomex
2.7
34
Aceite mineral
2.2
15
Conductor
1
Material

A temperatura ambiente, en 1 atm de presin y baja humedad

36

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

2.1.1.3 Mallaje
En la Tabla 2-II se presentan las principales caractersticas de la malla de los modelos simulados.
Tabla 2-II Caractersticas de la malla para cada modelo

Tipo de malla
Nmero de elementos

Modelo Puntasemiesfera
Triangular
1049

Modelo
Barra-Plano
Triangular
1758

Modelo Planos
paralelos
Triangular
42382

18.4mm

16.8mm

10.1mm

0.0825mm

0.075mm

0.045mm

Mximo tamao de
los elementos
Mnimo tamao de los
elementos

La Figura 2.5 muestra el mallaje para cada modelo.

Figura 2.5 Mallaje de los modelos a) PuntaSemiesfera b) Barra-Plano y c) Planos paralelos

2.1.1.4 Condiciones de frontera

Como frontera se utilizaron en cada modelo geometras rectangulares con condiciones de carga
cero.
Para cada modelo PuntaSemiesfera, Barra-Plano y Planos paralelos; el electrodo de punta, el de
barra y el electrodo disco superior, respectivamente, fueron asignados como terminal donde se
aplica una tensin del orden de kV, mientras que los electrodos opuestos en cada modelo fueron
asignados a tierra (0V).
2.1.2

RESULTADOS

2.1.2.1 Modelo Punta-semiesfera

El voltaje aplicado al electrodo de punta es 4kV y el electrodo semiesfrico est a tierra. La Figura
2.6 muestra la distribucin de campo elctrico en el modelo, donde se observa como el campo
elctrico se concentra en la periferia de la punta, alcanzando un valor mximo de 3.40kV/mm y
decayendo a medida que se aleja de la punta.

37

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

Figura 2.6 Distribucin de la intensidad de campo elctrico en el modelo Punta-Semiesfera

La regin alrededor de la punta en donde se alcanza la intensidad dielctrica de ruptura del gas, es
llamada regin de ionizacin [32]. Al aparecer un electrn libre en esta regin se inicia el proceso
de ionizacin por colisin [33].
Los electrodos pueden ser aproximados como dos esferas concntricas de radio (de la punta) y
(de la semiesfera). El aire alrededor de la punta romper sobre una distancia (regin de
ionizacin), como se ilustra en la Figura 2.7, si el voltaje a travs de esta distancia d excede el voltaje
de ruptura Vb dado por la curva de Paschen. Para el caso se puede demostrar que la relacin
entre el voltaje de inicio o ignicin (donde aparecen las primeras descargas) Vi y el voltaje de
ruptura Vb del aire alrededor de la punta es [34]:

Vi 1 Vb
d

(2.1)

El radio de la semiesfera tendr poco efecto en el voltaje de inicio, por lo que no se incluye en la
ecuacin (2.1).

Figura 2.7 Ruptura del aire alrededor de la punta sobre una distancia d

La intensidad de campo elctrico a lo largo del eje entre los electrodos puede ser aproximado por
[12]:

38

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

2V
1
E ( )

2
4s
ln 2 r
s
r
Donde

(2.2)

es la distancia desde la punta, V la tensin aplicada, es la distancia entre los electrodos

y es el radio de la punta. Cuando la distancia

mxima [35][36]:

E max

0 , se obtiene la intensidad de campo elctrico

2V
4s
ln r
r

(2.3)

Reemplazando = 4kV, = 10mm y = 0.6mm en la ecuacin (2.2) se obtiene

E ( )

1.905
2 0.6

[kV/mm]

(2.4)

10

Y cuando =0, se tiene una intensidad de campo mxima Emax 3.17kV/mm, valor cercano a los
3.40kV/mm obtenidos en la simulacin. Este valor es superior a la intensidad de ruptura dielctrica
del aire de 3kV/mm lo que sugiere que la descarga puede presentarse.
La Figura 2.8 muestra la comparacin, entre los resultados de la simulacin y los calculados por la
ecuacin 2.4, de la intensidad de campo elctrico a lo largo del eje entre los electrodos. Como se
observa los resultados son similares obteniendo un campo elctrico que cae exponencialmente a
medida que se aleja de la punta [37].
La Tabla 2-III muestra la intensidad de campo elctrico mxima obtenida en la simulacin cuando
se varan algunos parmetros importantes en el modelo.

Figura 2.8 Intensidad de campo elctrico a lo largo del eje desde el electrodo punta

39

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

Tabla 2-III Intensidad de Campo elctrico mxima con la variacin de r, R y V

Parmetro
Variado

Intensidad de Campo

elctrico mxima E max

[kV/mm]
Radio de la punta
0.3
5.72
r [mm]
0.6
3.40
V=4kV, R=25mm
1.2
2.04
Radio de la semiesfera 12.5
3.12
R [mm]
25
3.40
r=0.6mm, V=4kV
50
3.26
Voltaje aplicado
3
2.55
V [kV]
3.5
3.00
r=0.6mm, R=25mm
4
3.40
Se puede ver que a medida que el radio de la punta es menor el campo elctrico aumenta y que la
variacin del campo con el radio de la semiesfera es muy poca, resultado esperado segn la ecuacin
(2.3). Tambin se observa que para magnitudes de tensin mayores a 3.5kV, se supera la intensidad
de ruptura del aire de 3kV/mm alrededor de la punta (regin de ionizacin), condicin necesaria
para que se presenten las primeras descargas parciales. La segunda condicin, como ya se ha
mencionado, es la aparicin del electrn libre, que inicia la avalancha de electrones, en promedio
cerca de ocho electrones son producidos en cada centmetro cbico de aire por segundo, que puede
ser debido a la radiacin csmica o la radiacin de fondo [33], [38]. El tiempo requerido para que
aparezca el electrn libre, una vez alcanzada la intensidad elctrica de ruptura, es llamado tiempo
estadstico [39].
2.1.2.2 Modelo Barra-plano
El electrodo de barra est sometido a una tensin de 3kV y el electrodo disco a tierra. La Figura 2.9
muestra la distribucin de campo elctrico en el modelo. Se observa que la mayor concentracin de
campo elctrico se da en la zona entre el borde de la barra y el material dielctrico (lamina de
acrlico), llegando a un valor mximo de 3.57kV/mm. Dado que este valor es superior a la intensidad
de ruptura del aire de 3kV/mm, pueden ocurrir descargas parciales superficiales.

Figura 2.9 Distribucin de la intensidad de campo elctrico en el modelo Barra-Plano

40

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

Tambin se encontr que el radio de la barra no influye significativamente en la magnitud del campo
elctrico y que la intensidad de ruptura del aire de 3kV/mm se alcanza a partir de aproximadamente
2.5kV, como se muestra en la Tabla 2-IV.
Tabla 2-IV Intensidad del campo elctrico con la variacin de la tensin aplicada

Intensidad de Campo
Voltaje aplicado elctrico mxima E
max
[kV]
[kV/mm]
2.5
2.98
3
3.57
3.5
4.17
2.1.2.3 Modelo Planos paralelos
En este modelo el electrodo superior est sometido a una tensin de 10kV y el inferior a tierra. La
Figura 2.10 muestra la distribucin de campo elctrico en el modelo. Se puede apreciar que el
campo elctrico es uniforme a lo largo del material dielctrico (papel) entre los electrodos
manteniendo una magnitud de 2.76kV/mm, magnitud que no representa ningn problema para la
capacidad de campo de ruptura del material (ver Tabla 2-I). La mayor concentracin de campo se
da dentro de la inclusin alcanzando valores de 4.35kV/mm.
Se observan tambin concentraciones igualmente altas, de hasta 4.16kV/mm, en la frontera entre
el borde de los electrodos y el material dielctrico, pero como el entorno es aceite mineral que
suelen tener intensidades dielctricas de ruptura del orden de 15kV/mm no se darn descargas
superficiales, de aqu la necesidad de que los electrodos estn inmersos en un material de alta
permitividad. En la simulacin se comprob que si stos estn en entorno de aire, se alcanzan
intensidades de 10.48kV/mm en la frontera borde-dielctrico, lo cual es 2.4 veces mayor que la
intensidad de campo mxima dentro de la inclusin y se dara lugar a DP superficiales. De forma
similar, y como lo muestra la Figura 2.11, si el borde de los electrodos termina en punta, las
concentraciones de campo son altas alcanzando valores de 11.90kV/mm.

Figura 2.10 Distribucin de la intensidad de campo elctrico en el modelo Planos Paralelos

41

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

Figura 2.11 Comparacin de la distribucin de campo elctrico al tener el electrodo disco con (a) borde curvo y (b)
borde en punta

La distribucin de campo elctrico dentro de la inclusin no es uniforme, se define entonces la

magnitud , como el promedio entre la intensidad elctrica mnima y la mxima. En la Tabla
2-V se relaciona el voltaje aplicado a los electrodos y la intensidad de campo promedio dentro de la
inclusin, se observa que la intensidad de ruptura del aire se supera aproximadamente a partir de
8.5kV.
Tabla 2-V Intensidad del campo elctrico promedio dentro de la inclusin
cilndrica con la variacin de la tensin aplicada

Voltaje aplicado Intensidad de Campo Elctrico

[kV]
E prom [kV/mm]
8
8.5
9
9.5
10

2.97
3.03
3.35
3.53
3.72

Ahora se estudia el campo elctrico cuando la inclusin es esfrica y de igual radio a la cilndrica. En
la Figura 2.12 se compara la distribucin de campo entre la inclusin cilndrica (altura 1mm y radio
0.595mm) y una esfrica de radio 0.595mm, para igual tensin 10kV. En la inclusin esfrica el
campo es uniforme con un valor de 3.42kV/mm, un poco menor que para la inclusin cilndrica
( = 3.72kV/mm).
El campo elctrico dentro de una cavidad esfrica est definida como [40]:

E cav

3 r
E die
1 2 r

(2.5)

donde:
: intensidad de campo elctrico en el material dielctrico slido
: permitividad relativa del material
Para este caso se tiene una magnitud = 2.76kV/mm y la permitividad relativa asignada al papel
es 2.7, as, utilizando la ecuacin (2.5) se obtiene que el campo elctrico dentro de la cavidad es
=3.49kV/mm, similar al obtenido en la simulacin.
42

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

Figura 2.12 Comparacin de la distribucin de campo elctrico al tener una inclusin (a) cilndrica y (b) esfrica

Los electrodos finalmente construidos se hicieron en bronce fosforoso, fijados a cajas de acrlico.
Para obtener la inclusin en el modelo planos paralelos, se utilizaron 14 lminas de papel NOMEX
de 0.25mm de espesor apiladas en configuracin 5-4-5, es decir, que las 4 lminas del centro fueron
perforadas con broca de 3/64, las lminas son comprimidas por la presin del electrodo superior.
Los planos de diseo se muestran en el anexo B.
2.2

CONCLUSIONES

En el modelo Punta-semiesfera (descargas corona), el campo elctrico se concentra alrededor

de la curvatura de la punta, alcanzando altas magnitudes que superan la intensidad de ruptura
del aire (a partir de 3.5kV). La magnitud del campo elctrico depende en gran medida del radio
de la punta, a medida que el radio de la punta es menor el campo elctrico aumenta; en contraste
el radio de la semiesfera tiene poca influencia. A medida que se recorre la distancia por el eje
desde la punta el campo elctrico cae exponencialmente, el resultado terico es similar al
simulado.
En el modelo Barra-plano (DP superficiales) la mayor concentracin de campo elctrico se da
entre el borde de la barra y el material dielctrico. La intensidad de ruptura del aire de 3kV/mm
se alcanza a partir de aproximadamente 2.5kV. El radio de la barra no influye significativamente
en la magnitud del campo elctrico.
Para el modelo planos paralelos (DP internas) se evidencia que la mayor concentracin de campo
elctrico sucede en la inclusin de aire, la intensidad de ruptura del aire se supera
aproximadamente a partir de 8.5kV. Se observ tambin que es necesario tener los electrodos
sumergidos en aceite mineral y que stos se han de bordes curvos, de lo contrario apareceran
intensidades de campo, entre el borde del electrodo y el material dielctrico, mayores (ms del
doble) a las obtenidas en la inclusin de aire, lo que propicia la aparicin de DP superficiales.
Cuando la inclusin es esfrica el campo en el interior es uniforme, el clculo del campo elctrico
terico y simulado es similar.
Las altas concentraciones de campo elctrico en cada modelo alcanzan fcilmente la intensidad
de ruptura del aire, condicin apropiada para que sucedan descargas parciales, teniendo en

43

Dispositivos para generar seales artificiales de DP

cuenta que la segunda condicin es que exista un electrn libre que inicie la avalancha de
electrones.
2.3

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45

Captulo 3
Sistema de Medicin y Adquisicin de Descargas
Parciales Implementado
3

SISTEMA DE MEDICIN Y ADQUISICIN DE DESCARGAS PARCIALES IMPLEMENTADO

En este captulo se presenta el circuito de medicin implementado, las seales sern medidas por
deteccin elctrica utilizando un capacitor de acoplamiento y su cuadripolo. Las caractersticas ms
importantes de cada elemento del circuito de medicin son abordadas, asimismo se muestran las
especificaciones del mdulo de adquisicin utilizado.
3.1

CIRCUITO DE MEDICIN

Se defini para este proyecto que se utilizar el circuito de medicin indirecto, los pulsos elctricos
de la seal de DP son medidos por medio de un acoplamiento capacitivo y la adquisicin de la
informacin se realiza por medio de la tarjeta de adquisicin de datos NI 5133.
La tensin de prueba se obtiene de un transformador de potencia GENERAL ELECTRIC de 62.7kVA y
relacin 480V/65.3kV junto con la implementacin de un regulador de induccin que permite variar
la tensin, estos equipos estn implementados en el Laboratorio de Ensayo de Bobinas de la
Universidad del Valle desarrollado por el grupo de investigacin CONVERGIA [1], [2].
Las figuras 3.1 y 3.2 muestran el diagrama esquemtico del circuito de medicin y su montaje en el
laboratorio, respectivamente.
El capacitor utilizado en el proyecto de referencia Techimp TCE17.5 tiene una capacitancia de
1000pF y voltaje nominal de 17.5kV. El capacitor se conecta al cuadripolo de referencia Techimp PQ
ste contiene la impedancia de medida que facilita la circulacin de la DP y acta como un divisor
de tensin protegiendo al sistema de medida, la seal de alterna es atenuada con una relacin de
1:1000. La Figura 3.3 muestra el capacitor y cuadripolo utilizados. El cuadripolo posee adems un
filtro pasa alto y uno paso bajo para separar las seales de DP de la de sincronismo, el diagrama
esquemtico del cuadripolo se observa en la Figura 3.4.
En las pruebas de validacin realizadas en el proyecto tambin se utiliz este capacitor con el equipo
PDCheck (tecnologa de Techimp). Adems, se utiliz el equipo TMS-6141 con el capacitor de
referencia PDC17.5-1000 de 1000pF, 17.5V y relacin 1:1500 (tecnologa de Sparks Instuments),
este capacitor incorpora el cuadripolo con un diseo especial de impedancia de medida que permite
transmitir las seales de DP y de sincronismo en un mismo cable al equipo.

Sistema de medicin y adquisicin

Figura 3.1 Circuito de medicin

Figura 3.2 Montaje del circuito de medicin en el laboratorio

Figura 3.3 Capacitor de acoplamiento y

cuadripolo

Figura 3.4 Diagrama esquemtico del cuadripolo [4]

La Figura 3.5 muestra la respuesta en frecuencia de los capacitores, tambin se ha adicionado un

capacitor de la marca Power diagnostix. Se puede apreciar que las frecuencias de corte inferior
(valor para el cual se alcanza la relacin Vout/Vin = 0.7) son 60kHz, 130kHz y 430kHz, para Sparks
Instrumets, Power diagnostix y Techimp respectivamente. Las ganancias de los capacitores (donde
47

Sistema de medicin y adquisicin

la respuesta es ms plana) se encuentran entren 0.8 y 0.9, y para frecuencias mayores a 4MHz las
seales se amplifica.

Figura 3.5 Respuesta en frecuencia de capacitores de acoplamiento (10kHz a 5MHz)

3.2

MDULO DE ADQUISICIN

Para el sistema de adquisicin se defini utilizar un sistema basado en una tarjeta de adquisicin de
datos, en estos la computadora con software programable controla la operacin del dispositivo de
adquisicin. Esta configuracin, aprovecha la potencia del procesamiento, el almacenamiento, la
productividad, la visualizacin y las habilidades de conectividad de las computadoras estndar,
donde el dispositivo de adquisicin se reserva slo para digitalizar las seales analgicas que vayan
emitiendo los sensores del sistema.
Teniendo en cuenta el tipo de seal que se va a medir se defini que se utilizar la tarjeta NI 5133
de National Instruments (NI) que se muestra en la Figura 3.6. En otros trabajos para el anlisis de
DP se han utilizado tarjetas similares [14][21]. Las principales especificaciones de la tarjeta se
pueden observar en la Tabla 3-I y en la Figura 3.7 se muestra su respuesta en frecuencia. En el anexo
B amplia informacin sobre las caractersticas de las tarjetas de adquisicin.
La tarjeta tiene una frecuencia de muestreo mxima de 100MS/s con una ancho de banda de
50MHz, pero hay que sealar que en la pruebas se adquiri slo a una frecuencia de muestreo de
20MS/s, lo que sera un ancho de banda mximo de 10MHz, esto se ampla en el captulo 5.
La tarjeta tiene dos canales, el primero ser utilizado para la seal de sincronismo y el segundo para
la seal de DP, es energizada por el mismo puerto USB 2.0 que adquiere los datos la cual la hace
ideal para aplicaciones porttiles y de laboratorio. La conexin del sensor a la tarjeta se hace por
medio de cable coaxial RG59/U de 50 con terminales tipo BNC. Dado que la tarjeta tiene un lmite
de voltaje de entrada de 40Vpp, o 14.14Vrms, esto representa, dada la relacin de atenuacin 1:1000,
una tensin mxima de prueba de 14.14kV.
Una de las ventajas de National Instruments es su facilidad de comunicacin hardware-software, ya
que todos sus equipos se integran con el software de desarrollo LabVIEW, el corazn de la
plataforma de diseo de National Instruments.
El computador utilizado con la tarjeta tiene un procesador Intel Core i7 de 3.4GHz, memoria RAM
de 8GB, 64bits y disco duro de 500GB.
Dado que la tarjeta de adquisicin utilizada (NI 5133) tiene nicamente impedancia de entrada de
1M en paralelo con una capacitancia de 15pF, se acoplo a su entrada una resistencia de 50, para
obtener un acoplamiento de impedancias adecuado que evite reflexiones de los pulsos de descarga
parcial, en el Anexo C se ampla esta informacin.

48

Sistema de medicin y adquisicin

Figura 3.6 Tarjeta de adquisicin de datos NI 5133

Tabla 3-I Principales especificaciones de la tarjeta NI 5133

Canales (muestreo
simultneo)
Frecuencia de muestreo

2 (ms un canal de
disparo externo)
100MS/s

Resolucin

8 bits

Ancho de banda

50MHz

Rango de entrada

40mVpp 40Vpp

Impedancia de entrada

1M

Conexin

USB 2.0

Alimentacin

USB 2.0

Memoria

32MB

Dimensiones

18.493.3810.29 cm

Figura 3.7 Respuesta en frecuencia de la tarjeta de adquisicin NI 5133 [22]

3.3

CONCLUSIONES

El sistema de medicin y adquisicin implementado es no convencional cuyas mediciones fueron

realizadas en el rango de alta frecuencia (HF, High Frequency). Se utiliza un circuito de medicin
indirecto donde los pulsos son detectados por un capacitor de acoplamiento de 1000pF y 17.5V, el
cul incorpora un cuadripolo que permite la separacin de las seales de alta frecuencia de la de
sincronismo, esta ltima es atenuada con una relacin de 1:1000. El capacitor utilizado tiene una
frecuencia de corte inferior de 430kHz y una ganancia de 0.9. Las seales son adquiridas por la
tarjeta de adquisicin de datos NI 5133 a una razn de muestreo de 20MS/s, para un ancho de
49

Sistema de medicin y adquisicin

banda mximo de 10MHz. En la entrada de la tarjeta se realiz un acople de impedancias a 50 para

evitar reflexiones de las seales de alta frecuencia. La tensin mxima de prueba es de 14.14kV.
3.4
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50

Captulo 4
Aplicacin Software para el Anlisis de Descargas
Parciales
4

APLICACIN SOFTWARE PARA EL ANLISIS DE DESCARGAS PARCIALES

En este captulo se presenta el desarrollo de una aplicacin software para el anlisis de descargas
parciales. La aplicacin nombrada MAPD (por sus siglas en ingls Measurement and Analysis of
Partial Discharges) fue desarrollada en la plataforma LabVIEW (versin 13.0f2 64-bit), la aplicacin
permite:

Controlar la tarjeta de adquisicin de datos

Visualizar las seales medidas a modo de osciloscopio en tiempo real (osciloscopio virtual)
Visualizar la forma de onda de un pulso individual de DP
Medir los parmetros de un pulso y la magnitud de la tensin aplicada al objeto de prueba
Obtener el espectro de frecuencias de un pulso
Conteo del nmero de pulsos detectados
Obtener el diagrama de fase resuelta (2D y 3D)
Visualizar el grfico de Altura de Pulsos
Calcular los parmetros y de la distribucin de Weibull
Calcular los parmetros y NQN
Calcular las magnitudes mxima, mnima y promedio de los pulsos detectados
Guardar los grficos y seales adquiridas (formato de imagen .JPEG y Excel .xlsx.)

Las mediciones de los pulsos de DP se dan en volts. Las seales son mostradas en tiempo real en el
osciloscopio virtual y una vez el usuario configure los parmetros de adquisicin puede procesar la
informacin y obtener los resultados. Los parmetros de adquisicin son: Valor de referencia (rango
de magnitud en el que estn las seales de DP), umbral (o threshold), tiempo de adquisicin de las
seales y tiempo de adquisicin del pulso.
Para entender el funcionamiento del programa desde el cdigo de programacin se presentan a
continuacin los diagramas de la Figura 4.1 y Figura 4.2 que sern estudiados a lo largo del captulo.

Aplicacin software para el anlisis de DP

Figura 4.1 Diagrama general del funcionamiento de la aplicacin

Figura 4.2 Diagrama del funcionamiento de la aplicacin

52

Aplicacin software para el anlisis de DP

4.1 ADQUISICIN
El bloque controlador NI Scope Express permite visualizar las seales adquiridas y a la vez conectarse
directamente con otros bloques de programacin para realizar el procesamiento digital de las
seales. Este bloque es un vi (virtual instrument) predefinido de LabVIEW que contiene varios vis
que permiten controlar diferentes parmetros de la tarjeta. El cdigo de programacin (o diagrama
de bloques) para la adquisicin y visualizacin de las seales se muestra en la Figura 4.3.

Figura 4.3 Diagrama de bloques para la adquisicin y visualizacin de las seales

A la salida del bloque NIScope se obtendrn los vectores de datos que contienen los valores de
magnitud de la seal adquirida para cada canal, el tamao del vector es el nmero de muestras de
la seal. Cada elemento del vector es asociado a un nmero de ndice, el primer elemento ser el
ndice nmero cero, el segundo el ndice nmero uno y as sucesivamente. El nmero de muestras
se asocia con el tiempo mediante la variable dt que es el intervalo de tiempo que hay entre ndices
(o entre muestras). En la mayor parte del cdigo de programacin de la aplicacin desarrollada las
seales no son tratadas en tiempo sino en muestras.
Los principales parmetros que se configuraron en el controlador NI Scope son:

Frecuencia de muestreo
Nmero de muestras
Rango vertical canal 1 (seal DP)
Rango vertical canal 0 = 40Vpp
Fuente del trigger = Canal 0 (seal de sincronismo)
Tipo de trigger = flanco de subida

El canal 0 fue configurado para la seal sinusoidal de entrada (seal de red 60Hz) conocida
normalmente como seal de sincronismo y el canal 1 para los pulsos de descargas parciales, ambas
seales son adquiridas a la misma razn de muestreo.
La frecuencia de muestreo en MS/s y el tiempo de adquisicin de las seales en segundos
son definidos por el usuario, stos se relacionan con el nmero de muestras segn la ecuacin
(4.1):

N m t f mues

(4.1)

Aplicacin software para el anlisis de DP

Hay que tener presente que las seales son adquiridas en su totalidad, esto permite que se han
visualizadas a modo de osciloscopio, aunque se tiene una elevada cantidad de muestras, que
LabVIEW almacena y debe procesar durante el anlisis de la informacin. Esto normalmente satura
la memoria RAM del computador, para ello la aplicacin desarrollada realiza la adquisicin y
procesamiento en paquetes, como lo representa la Figura 4.4.

Figura 4.4 Representacin de la adquisicin y procesamiento de las seales por paquetes. Seal azul (pulsos de DP) y
seal roja (seal de sincronismo)

El nmero de paquetes depende del nmero de muestras como lo muestra la ecuacin (4.2):

No. paquetes

Nm
m

(4.2)

donde:
m = nmero mximo de muestras para cada paquete.
El valor de m fue definido en 5MS. Este valor fue determinado mediante pruebas del uso de la
memoria en la aplicacin, si el valor es muy grande puede ser ms lento el procesamiento y llegar a
saturar la memoria RAM del computador y si es muy pequeo la informacin adquirida por paquete
puede ser muy pequea y algunos vis no funcionaran bien.
El rango vertical (o valor de referencia) en volts es el Vpp mximo en el que se encuentran las
seales que se estn midiendo, ste es tambin el valor de referencia para obtener el diagrama de
fase resuelta donde se utiliza una matriz y se hace necesario definir un valor mximo de voltaje
como referencia (ver seccin 4.4).
El valor del rango vertical determina la resolucin de la medida, como lo expresa la ecuacin (4.3):
=

256

(4.3)

Teniendo en cuenta que la tarjeta NI5133 es de 8 bits, y as 28 = 256 niveles de voltaje discretos.
Si se selecciona una magnitud de rango vertical por debajo del Vpp de la seal de entrada, la tarjeta
medir mal, obtenindose valores inferiores a los verdaderos.
El rango vertical del canal 0 (seal de sincronismo) se predefini en 40Vpp, esto corresponde al
voltaje mximo de entrada de la tarjeta. Para el rango vertical del canal 1 (pulsos de DP) es necesario
especificar el valor segn la magnitud de las descargas que se presenten.

54

Aplicacin software para el anlisis de DP

La tensin de la seal de sincronismo o tensin aplicada al objeto de prueba es multiplicada

por la relacin de transformacin del circuito de medicin para obtener la magnitud en el lado de
alta tensin, por lo que el usuario debe especificar dicha relacin.
4.2 OBTENCIN DEL VOLTAJE PICO Y EL NGULO DE FASE
La aplicacin desarrollada identifica el voltaje pico de cada pulso y su correspondiente ngulo de
fase con respecto a la seal de sincronismo. El vi encargado de la deteccin de la magnitud pico
es el Waveform peak detection, que tambin entrega el ndice (o nmero de muestra) donde ocurre
dicho valor pico para posteriormente obtener el ngulo de fase. Este bloque primero identifica todos
los valores pico (positivos y negativos) de un pulso, luego los compara en valor absoluto y obtiene
el mayor de ellos, la Figura 4.5 ilustra la deteccin de un pulso y en la Figura 4.6 se observa el cdigo
de programacin implementado.

Figura 4.5 Deteccin del voltaje pico y su correspondiente ndice para un pulso de DP

Figura 4.6 Diagrama de bloques para la deteccin del voltaje pico y su ndice

Una forma de mitigar la presencia de ruido de fondo (o ruido blanco) y facilitar la identificacin del
voltaje pico es elevar la seal a una potencia n [1]. Por lo que, la seal de DP es elevada al cuadrado,
el resultado se puede observar en la Figura 4.7. Dado que los pulsos de DP son de mayor magnitud
que el ruido de fondo, al elevarlo al cuadrado dichas seales se diferencian an ms, facilitando la
deteccin de los pulsos de DP. Hay que mencionar que cuando se elevan al cuadrado los pulsos, se
sigue conservando su polaridad original con la utilizacin de un vi que mantiene su signo; tambin
tras la deteccin del valor pico, se obtiene la raz cuadrada para obtener la magnitud original.
55

Aplicacin software para el anlisis de DP

a)
b)
Figura 4.7 a) Seal de descargas parciales original y b) Seal elevada al cuadrado

El ngulo de fase en grados para cada pulso se obtiene mediante la ecuacin (4.4):

i ( I i Z i )

360
Tm

(4.4)

donde:
: vector de ngulos de fase
: vector de ndices de los de los pulsos de dp
: vector de ndices de los cruces por ceros positivos de la seal de sincronismo
: perodo de la seal de sincronismo en nmero de muestras
La diferencia ( ) es el ndice del pulso de DP relativo a un periodo de la seal de sincronismo.
El periodo en nmero de muestras se obtiene de la ecuacin (4.5):

Tm

T
dt

(4.5)

donde:
: perodo de la seal de sincronismo en ms
: intervalo de tiempo entre ndices (o entre muestras)
El depender de la frecuencia de muestreo con la que se est adquiriendo y del tiempo de
adquisicin.
Como ejemplo, se tienen las seales adquiridas de la Figura 4.8 donde se observa una seal
sinusoidal que tiene un perodo = 1000 muestras (en el tiempo 16.667ms), el ndice donde se
da el valor pico del pulso p6 es 6 = 2896 y el cruce por cero positivo del tercer ciclo es 2 = 2000,
por lo tanto el ngulo de fase de dicho pulso ser:

6 (2896 2000)

360
322.6
1000

56

Aplicacin software para el anlisis de DP

Figura 4.8 Determinacin del ngulo de fase de un pulso de DP

Dado que la seal de sincronismo es muestreada a la misma razn que la seal de DP, se diezma,
facilitando la deteccin de los cruces por cero positivos (o en flanco de subida). El diezmado reduce
el nmero de muestras de la seal segn la ecuacin (4.6):

Nd

Nm
Fd

(4.6)

donde:
: nmero de muestras de la seal diezmada
: nmero de muestras seal original
: factor de diezmado
A la seal diezmada se le detectan los cruces por cero positivos, y despus estos son multiplicados
por el factor de diezmado para as obtener los cruces de la seal original que son los que se utilizan.
El diezmado se realiza en funcin del periodo utilizando la ecuacin (4.7):

Fd

Tm
500

(4.7)

As se garantiza que la seal diezmada no tenga ms de 500 muestras por perodo y para 500
no se realiza el diezmado.
4.2.1 UMBRAL Y TIEMPO DE ADQUISICIN DEL PULSO
Con el fin de detectar adecuadamente el voltaje pico (y ngulo de fase) de los pulsos de DP, durante
el procesamiento de las seales se utilizan en combinacin dos parmetros ajustables que son: un
nivel de voltaje o umbral (threshold) y un tiempo de adquisicin para cada pulso ( ) que son
similares a los conceptos de discriminador de bajo nivel (Low Level Discriminator, LLD) y de tiempo
muerto (dead time) [2], [3].
El umbral permite la seleccin de una amplitud (positiva y negativa) mnima por encima de la cual
la seal ser procesada, de esta manera se mitiga la presencia de ruido de fondo. No obstante, un
nivel de umbral alto puede ignorar pulsos de DP de pequea magnitud y un nivel de umbral bajo
puede detectar errneamente gran cantidad de ruido como pulsos de DP.
Dado el carcter oscilatorio de los pulsos, es necesario tener un tiempo dentro del cual cada pulso
sea procesado y evitar varias detecciones para un mismo pulso. Este tiempo de adquisicin del pulso
es activado cada vez que la seal supere el umbral. Un tiempo de adquisicin muy corto puede
57

Aplicacin software para el anlisis de DP

causar mltiples detecciones de un mismo pulso, mientras que un tiempo muy largo provoca la
prdida de pulsos. La seleccin del valor del tiempo de adquisicin est en relacin con la duracin
del pulso que se mide. La Figura 4.9 muestra los conceptos de umbral y tiempo de adquisicin
descritos y la Figura 4.11 ilustra su funcionamiento para la deteccin de los pulsos.
En el cdigo de programacin se utiliz el vi Get waveform subset que utiliza el umbral y el tiempo
de adquisicin para obtener la ventana de adquisicin del pulso, que es un subconjunto de datos
que contienen la forma de onda de un pulso, ya que el bloque recorta la seal de DP desde el
momento en que es superado el umbral hasta terminado el tiempo de adquisicin y esto lo hace
para cada pulso. Luego, el subconjunto de datos llega al bloque Waveform Peak detection, ya antes
descrito, que se encarga de detectar la magnitud pico y su correspondiente ndice (ngulo de fase).
La Figura 4.10 muestra el diagrama de bloques donde se implementan los vis descritos.

Figura 4.9 Umbral (threshold) y tiempo de adquisicin del pulso

Figura 4.10 Diagrama de bloques para la implementacin de los parmetros de umbral y tiempo de adquisicin del
pulso

58

Aplicacin software para el anlisis de DP

Figura 4.11 Funcionamiento de los parmetros de umbral y tiempo de adquisicin del pulso.
(Rojo: Seal de DP, Azul: Tiempo de adquisicin, Negro: Umbral y Verde: Pico detectado).

4.3 FORMA DE ONDA DE UN PULSO, PARMETROS DEL PULSO Y ESPECTRO EN

FRECUENCIA
Dado el umbral y el tiempo de adquisicin del pulso, la aplicacin permite visualizar la forma de
onda de un pulso de DP, medir los parmetros de magnitud y tiempo del pulso y obtener su espectro
en frecuencia. Tambin esta propiedad ayuda al usuario a determinar si el tiempo de adquisicin
del pulso que est especificando es muy corto o muy largo.
Esta opcin detecta el instante de tiempo del primer pulso que super 1.5 veces el umbral,
nombrado tiempo . Los tiempos mnimo y mximo para obtener el grfico estn en
funcin del tiempo de adquisicin del pulso como lo expresan las ecuaciones (4.8) y (4.9).
= 0.2
= 1.2

(4.8)
(4.9)

Con estas variables se crea una ventana de adquisicin del pulso que va desde el tiempo , desde
donde se recorta el vector de seal de DP, y cuya duracin de la ventana es el tiempo . As se
obtiene un subconjunto de datos, que obtiene la forma de onda completa de una pulso de DP.
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Aplicacin software para el anlisis de DP

Las magnitudes pico mximo, pico mnimo y pico-pico son obtenidas utilizando el vi Array max &
min. Mediante la utilizacin de dos cursores en la pantalla (C0 y C1) se pueden medir diferencias de
voltaje ( = | 1 |) y de tiempo ( = | 1 |) con esto se puede determinar por
ejemplo parmetros como el tiempo de subida o el ancho del pulso. Para obtener el espectro en
frecuencia, se aplica a la seal la Transformada Rpida de Fourier (FFT) mediante el vi Spectral
measurements.
4.4 DIAGRAMA DE FASE RESUELTA
Para realizar el conteo de pulsos de descargas parciales, representados por una magnitud pico y su
correspondiente ngulo de fase, se utiliz una matriz de 256x256 como lo ilustra la Figura 4.12. Las
filas de la matriz representan las magnitudes discretas de valor pico de los pulsos, desde el valor de
referencia hasta + . Las columnas representan los valores discretos de ngulos de fase
desde 0 a 360.

Figura 4.12 Matriz utilizada para la obtencin del diagrama de fase resuelta

La resolucin de magnitud (filas) y ngulo (columnas), estn dados por las ecuaciones (4.10) y (4.11):

Re s mag

Re sang

Vref

(4.10)

128

360
1.40625
256

(4.11)

Hay que recordar que el valor de referencia en volts, se selecciona dependiendo de la magnitud
mxima de las descargas que se estn presentando.
Junto con la matriz se crean los vectores de magnitud y ngulo (ejes y para la
grfica del diagrama de fase resuelta), que contienen los valores discretizados que representan cada
fila y columna, estos vectores se obtienen con las ecuaciones (4.12) y (4.13):
=
=
= [1.406, 2.812, 4.218, ,360]

(4.12)
(4.13)

60

Aplicacin software para el anlisis de DP

Donde = 1,2,3, . . . ,128 y = 1,2,3, ,256.

La matriz es tratada separadamente en submatrices de 128x256, la primera de magnitudes positivas
(0 a + ) y la segunda de magnitudes negativas (0 a ), tras procesar cada submatriz estas
son unidas para tener la matriz general de 256x256.
Una vez se tienen los vectores de magnitud y ngulo , que contienen los voltajes pico y sus
correspondientes ngulos de fase, stos se discretizan al correspondiente ndice de fila y
columna de la matriz, teniendo en cuenta que la primera fila o columna corresponde al ndice
cero, la ltima columna (256) corresponde al ndice 255 y la ltima fila (128) corresponde al ndice
127. Los ndices son calculados con las ecuaciones (4.14) y (4.15):
=

255
360

(4.14)

127

(4.15)

Como base se utiliza una matriz de ceros de 128x256 y mediante un ciclo for se busca la
coordenada ( , ) en la matriz y se suma uno, como lo expresa la ecuacin (4.16):
( , ) = ( , ) + 1

(4.16)

Para ilustrar el funcionamiento de la matriz se presenta un ejemplo a continuacin. Dado un pulso

de magnitud = 986mV, ngulo de fase = 5 y considerando un valor de referencia =
1, se tiene que
255
= 5
= 3.54 4
360
= 0.986

127
= 125.22 125
1

La coordenada (4, 125) es ubicada en la matriz y se suma uno al elemento que ya est all.
(4, 125) = (4, 125) + 1 = 0 + 1 = 1
Los vectores que contienen los valores discretos de magnitud y ngulo, segn las ecuaciones (4.12)
y (4.13), seran:
Vector magnitudes = [1, 0.9921,0, -0.9921, -1]
Vector ngulos = [1.4, 2.8,, 357.2, 360]
Si de nuevo un pulso se encuentra en la misma coordenada, la magnitud en dicha coordenada
aumentara a dos.
La Figura 4.13 muestra la ubicacin del pulso en la submatriz y posteriormente en la matriz
completa. Cada elemento de la matriz representa un punto en la grfica, la magnitud del elemento
se asocia con una escala de colores.

61

Aplicacin software para el anlisis de DP

Figura 4.13 Utilizacin de la matriz para el conteo de pulsos

La seal sinusoidal que se presenta en el grfico de fase resuelta tambin es obtenida utilizando la
matriz. La seal se obtiene de forma simulada evaluando el vector de ngulos en la funcin
f(x)=sin(x) y se aplica el mismo procedimiento que para los pulsos de DP. La matriz seno consiste de
una serie de unos (puntos) que dibujan la forma sinusoidal como lo muestra la Figura 4.13. Esta es
una matriz constante que se suma a la matriz de DP al momento de graficar, dicha suma slo se
hace para efecto grficos y no influye en ningn clculo.
Las grficas del diagrama de fase resuelta 2D y 3D se realizaron con los vis 3D Stem plot y 3D Surface
plot respectivamente, estos bloques tienen como variables de entrada la matriz (eje z), el vector de
magnitudes (eje y) y el vector de ngulos (eje x), como se observa en la Figura 4.14. Finalmente, en
la Figura 4.15 se ilustra un diagrama de fase resuelta obtenido por el software MAPD.

Figura 4.14 Diagrama de bloques para los grficos del diagrama de fase resuelta

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Aplicacin software para el anlisis de DP

Figura 4.15 Diagrama de fase resuelta obtenidos por el software MAPD a) 2D y b) 3D. Las mediciones corresponden a
pruebas con el equipo PD Simulator (vase Anexo D).

4.5 CONTEO DE PULSOS

Dada la matriz de DP, el conteo de pulsos se realiza sumando los elementos de la matriz. Tambin
se obtienen submatrices para realizar el conteo de partes de la matriz principal, con esto se
obtuvieron las variables:

: Nmero total de pulsos

+: Nmero de pulsos positivos
: Nmero de pulsos negativos
+: Nmero de pulsos por semiciclo positivo
: Nmero de pulsos por semiciclo negativo
: Nmero total de pulsos por segundo
+: Nmero de pulsos positivos por segundo
: Nmero de pulsos negativos por segundo

Las cantidades y totales y por polaridad de pulsos, se calculan con el conjunto de ecuaciones
(4.17) y (4.18) [4].
= .

+= .

, = .
+

, +=
, =

(4.17)
(4.18)

Donde es el tiempo de adquisicin de las seales.

Para la aplicacin los pulsos de polaridad positiva, son aquellos de la submatriz inferior (de
magnitudes negativas) que, dado el circuito de medicin indirecto, se presenta en su mayora en el
semiciclo positivo, y los pulsos de polaridad negativa, son aquellos de la submatriz superior (de
magnitudes positivas) que se presentan en su mayora en el semiciclo negativo.
4.6 ANLISIS DE ALTURA DE PULSOS
Basados en la matriz de DP ya obtenida, sta es separada segn su polaridad de magnitud resultando
dos submatrices de 128x256. En las submatrices se suman los elementos que componen cada vector
63

Aplicacin software para el anlisis de DP

fila, quedando un vector columna de 128 elementos (128 ventanas de magnitud), cada valor es
dividido entre el tiempo de adquisicin total de las seales para obtener as la unidad pulsos por
segundo (). El vector de magnitud (eje ) que contiene los valores discretizados que
representan cada fila es obtenido con la ecuacin (4.12). Estos vectores son finalmente graficados
como pps Vs magnitud (Grfico PHA, Pulse Height Analysis), cuyo eje est en escala logartmica, y
se realiza una aproximacin exponencial. La Figura 4.16 muestra un grfico PHA obtenido por el
software MAPD.

Figura 4.16 Grfico de altura de pulsos obtenido por el software MAPD. El grfico corresponde a los resultados de la
figura 4.15.

4.6.1

CLCULO DE LOS PARMETROS Y NQN

Dada la ecuacin de la aproximacin exponencial de los datos del grfico de altura de pulsos, de la
forma:
() = + ,
donde:
(): nmero de pulsos por segundo (pps)
: magnitud de los pulsos
a, b y c: factores constantes
Se despeja la variable , obtenindose
=

()
)

ln (

(4.19)

Ahora el valor de se calcula tras evaluar la ecuacin (4.19) en = 10.

El valor de NQN se consigue utilizando la ecuacin (1.4) descrita en la seccin 1.5.1.1 [5]. Donde el
nmero de ventanas de magnitud es N=128, la ganancia del detector de descargas parciales es
considerado G=1 y la ventana de magnitud mxima es = (voltaje de referencia).
4.7 CLCULO DE LOS PARMETROS Y DE LA DISTRIBUCIN WEIBULL
Para calcular los parmetros de forma y escala , se utiliza el vector que contiene los valores
pico detectados de los pulsos de DP. El vector es previamente dividido segn la polaridad de
magnitud para realizar el anlisis de DP positivas y negativas y obtener as +, , +y .
64

Aplicacin software para el anlisis de DP

Para el clculo de los parmetros se realizan los siguientes pasos:

Paso 1. Organizar los datos de menor a mayor.
Paso 2. Calcular el estimador de Rango Mediano . Como estimador ser utilizado:

F (q) MR

i 0.3
N 0.4

Paso 3. Realizar los clculos de ln( ln(1 )) y ln ().

Paso 4. Obtener el grfico de Weibull ln( ln(1 )) Vs ln (). Linealizar los datos por regresin
de mnimos cuadrados y deducir la ecuacin de la recta.
Finalmente, dada la recta de la forma () = + , s los parmetros de escala y de forma sern

=y =.
En la Figura 4.17 se puede observar el cdigo de programacin.

Figura 4.17 Diagrama de bloques para el clculo de los parmetros de Weibull

4.8 OBTENCIN DE LAS MAGNITUDES DE LOS PULSOS DE DP

Las siguientes magnitudes de los pulsos detectados son calculadas en Volts:
: magnitud mxima de las DP
: magnitud promedio de las DP
: magnitud mnima de las DP
Para esto se utiliza el vector que contiene las magnitudes pico de cada pulso de DP detectado y
las ecuaciones (4.20), (4.21) y (4.22):
= max( )

(4.20)

1
=

(4.21)

= min( )

(4.22)

=1

Donde es el nmero total de pulsos detectados. El clculo se hace para cada polaridad de pulsos,
separando el vector previamente.
65

Aplicacin software para el anlisis de DP

4.9 INTERFAZ GRFICA DE USUARIO

El panel frontal (Front Panel) de la aplicacin, es la interfaz con la que interacta el usuario para el
manejo de la aplicacin MAPD. En el anexo D se presenta una descripcin detalla de la interfaz de
usuario.
4.10 CONCLUSIONES
El software de anlisis de descargas parciales desarrollado MAPD permite visualizar las seales
medidas en un osciloscopio virtual en tiempo real, una vez el usuario configure los parmetros
de adquisicin, se puede obtener el diagrama de fase resuelta y el grfico de altura de pulsos.
Adems, el programa realiza el conteo del nmero de pulsos detectados, calcula los parmetros
y de la distribucin de Weibull, los parmetros y NQN y las magnitudes mxima, mnima
y promedio. Tambin, se puede obtener la forma de onda de un pulso de DP individual y su
espectro en frecuencia.
Para la correcta obtencin del valor pico y ngulo de fase de los pulsos de DP, se implement un
umbral de voltaje (threshold) y un tiempo de adquisicin del pulso para crear una ventana de
adquisicin para cada pulso que contiene su forma de onda. El mayor valor pico (positivo o
negativo) fue el seleccionado para representar la DP. El ngulo de fase, es calculado tras obtener
el ndice donde ocurre el valor pico y los cruces por cero (en flaco de subida) de la seal de
sincronismo.
La seal de DP es elevada al cuadrado para mitigar la presencia de ruido de fondo y facilitar la
deteccin del valor pico y su correspondiente ngulo de fase.
Los parmetros de escala y forma de la distribucin de Weibull y las magnitudes mxima,
mnima y promedio ( , , ) son obtenidos del vector que contiene los voltajes pico
de los pulsos de DP detectados, ste es previamente separado segn su polaridad.
Para obtener el diagrama de fase resuelta y el grfico de anlisis de altura de pulsos se utiliz
una matriz de 256x256, donde las filas representan las magnitudes discretas de valor pico de los
pulsos, desde el valor de referencia hasta + y las columnas representan los valores
discretos de ngulos de fase desde 0 a 360. La resolucin de la matriz es en voltaje /128 y
en ngulo 1.40625. Cada elemento de la matriz representa el nmero de pulsos detectados de
magnitud y ngulo de fase ( , ). Para la obtencin del grfico de altura de pulsos los
elementos de los vectores fila de la matriz son sumados, quedando un vector de magnitudes de
128 ventanas para cada polaridad. Para tener la repeticin de pulsos los elementos son divididos
entre el tiempo de adquisicin de las seales.
El conteo de pulsos (cantidad de pulsos, pulsos por segundo y pulsos por ciclo) se realiza
sumando los elementos de la matriz, o submatrices para obtener la cantidad de pulsos por
polaridad.

66

Aplicacin software para el anlisis de DP

4.11 REFERENCIAS
[1]

[2]
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[5]

T. Shahsavarian and S. M. Shahrtash, Online partial discharge signal conditioning for qn

representation under noisy condition in cable systems, IET Sci. Meas. Technol., vol. 9, no. 1, pp. 2027,
2015.
A. Contin and G. C. Montanari, Comparing Pulse-Height and Pulse-Shape Analysis of Partial Discharge
Signals, Conf. Electr. Insul. Dielectr. Phenom., pp. 526529, 1997.
Power Diagnostix ICMSystem Users Manual. p. 183, 2002.
IEC, IEC 60270 High-voltage test techniques: Partial discharge measurements. 2000.
IEEE, IEEE Std Guide for the Measurement of Partial Discharges in AC Electric Machinery. 2014.

67

Captulo 5
Pruebas en Laboratorio
5 PRUEBAS EN LABORATORIO
En este captulo se presentan los resultados de medicin y anlisis de descargas parciales llevados
a cabo en el laboratorio de Ensayo de Bobinas de la Universidad del Valle con el sistema de
adquisicin implementado y el software desarrollado MAPD (Measurement and Analysis of Partial
Discharges).
Para el proyecto fueron diseados y construidos modelos de electrodos para generar descargas
corona, superficiales e internas; tambin se midieron descargas corona y superficiales utilizando el
equipo comercial PD Simulator, ste incorpora un transformador elevador, electrodos para generar
diferentes tipos de DP y filtros para acondicionar las seales de salida (vase Anexo E). Adems,
como un objeto de ensayo industrial se utiliz una barra del devanado de un generador de
100MVA/13.8kV como fuente de descargas parciales internas.
Para cada objeto de prueba se obtuvieron los diagramas de fase resuelta y el grfico de altura de
pulsos, as como las cantidades asociadas de nmero de pulsos detectados, parmetros de la
distribucin de Weibull, parmetros de altura de pulsos y las magnitudes de las DP. Los resultados
son estudiados con el fin de identificar y comprobar el tipo de fuente de descarga parcial, para esto
tambin se incluye el anlisis del parmetro de forma .
Finalmente, los resultados son comparados con los equipos comerciales PDCheck y TMS-6141 y con
mediciones realizadas con un osciloscopio.
5.1

SPECTOS RELEVANTES DE LA MEDICIN

Los aspectos tenidos en cuenta en las mediciones se resumen a continuacin:

El sistema desarrollado corresponde a un sistema de medicin no convencional, porque se
medir con un gran ancho de banda. La tarjeta utilizada tiene una frecuencia de muestreo
mxima de 100MS/s, pero no es necesario adquirir los pulsos a esta razn de muestreo, dado
que el contenido de frecuencias del pulso, que se est obteniendo con el sistema de medicin,
es mucho menor que dicha tasa de muestreo. Por lo tanto, la adquisicin de seales se realiz a
una tasa de muestreo menor con el propsito de lograr una mejor relacin seal-ruido.
Adicionalmente, se tiene un menor nmero de muestras, lo que implica un menor tiempo de
procesamiento.
La Figura 5.1 muestra la forma de onda de un pulso de DP y su espectro en frecuencia detectado
para una tasa de adquisicin de 100MS/s, los resultados son comparados con los obtenidos por

Pruebas en Laboratorio

el equipo PDCheck en la Figura 5.2. El pulso proviene del electrodo punta-semiesfera, se

comprob que el contenido de frecuencia de los dems objetos de ensayo se encuentra dentro
del rango. Se puede deducir que la energa del pulso est contenida principalmente antes de los
25MHz, aunque se diferencian dos rangos de frecuencia donde el primero va hasta
aproximadamente 10MHz. Se determin que es suficiente adquirir con una frecuencia de
muestreo de 20MS/s, con esto se estara abarcando pulsos con un contenido de frecuencia de
hasta 10MHz. En la Figura 5.3 se observa el pulso medido a la razn de muestreo de 20MS/s.

Figura 5.1 Pulso de DP detectado a 100MS/s: a) Forma de onda y b) Espectro en frecuencia

Figura 5.2 Pulso de DP detectado por el equipo PDCheck: a) Forma de onda y b) Espectro en frecuencia

69

Pruebas en Laboratorio

Figura 5.3 Pulso de DP detectado a 20MS/s: a) Forma de onda y b) Espectro en frecuencia

Los pulsos de DP tienen una duracin de aproximadamente 2s, por lo que se estableci un
tiempo de adquisicin del pulso de 5s, este parmetro se mantuvo en todas las mediciones.
En la Figura 5.4 se muestra el ruido de fondo presente en las mediciones de laboratorio, ste
normalmente tiene una amplitud de 75mV, sin embargo es comn que el ruido vari en el
tiempo. En las mediciones el umbral o threshold fue establecido como mnimo en 80mV, aunque
segn la magnitud observada en pantalla se estableci un nivel adecuado en cada adquisicin.

Figura 5.4 Nivel de ruido

En cada medicin el voltaje fue incrementado gradualmente hasta alcanzar la tensin aplicada
. sta fue definida en relacin a la tensin de ignicin o (donde aparecen las primeras
descargas) como = 1.5 . La Tabla 5-I muestra las magnitudes de tensin obtenidas.
Tabla 5-I Tensin de ignicin y tensin de prueba para cada objeto de ensayo

Objeto de
PuntaBarra- Planos
Bobina
ensayo
Semiesfera Plano Paralelos
[kV]
4.3
4.1
8
6.1
[kV]
6.45
6.15
12
9.15

70

Pruebas en Laboratorio

Las seales producidas por los electrodos suelen ser inestables en los primeros minutos y pueden
ser alteradas por factores como las condiciones atmosfricas, la oxidacin y la suciedad. De
hecho, en el electrodo punta-semiesfera es comn que despus de un prolongado tiempo de
prueba se produzca ozono y cambie as la magnitud de las descargas presentadas. Los datos
fueron adquiridos y procesados despus de un tiempo mnimo de 15min, perodo despus del
cul las seales se vuelven ms estables.
Se realizaron mediciones previas teniendo nicamente conectado el transformador de alta
tensin al capacitor de acoplamiento con lo que se verific que no se presentaran descargas en
ste hasta la tensin nominal del capacitor de 17.5kV.
5.2

MEDICIONES PARA CADA OBJETO DE ENSAYO

Los objetos de ensayo utilizados fueron los descritos en el captulo 2, donde para cada modelo
puntasemiesfera, barra-plano y planos paralelos: el electrodo de punta, el de barra y el electrodo
disco superior, respectivamente, fueron conectados a alta tensin, mientras que los electrodos
opuestos fueron conectados a tierra. Como objeto de ensayo industrial se utiliz una barra del
devanado de un generador de 100MVA/13.8kV (aislamiento principal de epoxi/mica). En la Tabla
5-II se resume la descripcin de los parmetros medidos.
Tabla 5-II Descripcin de los parmetros medidos

Variable

+,

+,

+,
+ y
+ y
+ ,
+,
+,
+,
+,
5.2.1

Descripcin
Tensin aplicada al objeto de prueba en kV
Tiempo de adquisicin en segundos
Nmero total de pulsos detectados
Nmero de pulsos detectados para cada polaridad
Nmero total de pulsos por segundo (pps)
Nmero de pulsos por segundo para cada polaridad
Nmero total de pulsos por ciclo
Numero de pulsos por semiciclo
Parmetro de forma de la distribucin de Weibull
para cada polaridad
Parmetro de escala de la distribucin de Weibull
para cada polaridad en mV
Cantidad numrica normalizada del Anlisis de Altura de
Pulsos para cada polaridad en mV
Magnitud de pulsos asociada a una repeticin de
10pps para cada polaridad en mV
Magnitud mxima de pulsos detectados para cada polaridad en mV
Magnitud promedio de pulsos detectados para cada polaridad en mV
Magnitud mnima de pulsos detectados para cada polaridad en mV

DIAGRAMAS DE FASE RESUELTA Y ANLISIS DE ALTURA DE PULSOS

En las figuras 5.5 a 5.8 se muestran los diagramas de fase resuelta y los grficos de altura de pulsos
obtenidos para cada objeto de ensayo y en la Tabla 5-III se resumen los parmetros obtenidos.

71

Pruebas en Laboratorio

a)
b)
Figura 5.5 Electrodos punta-semiesfera: a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos

a)
b)
Figura 5.6 Electrodos barra-plano: a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos

a)
b)
Figura 5.7 Electrodos planos paralelos: a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos

72

Pruebas en Laboratorio

a)

b)
Figura 5.8 Barra: a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos

Tabla 5-III Parmetros obtenidos para cada objeto de ensayo

Objeto de
ensayo
[kV]
[s]

[mV]
+ [mV]
[mV]
+ [mV]
[mV]
+ [mV]
[mV]
+ [mV]
[mV]
+ [mV]
[mV]
+ [mV]

PuntaBarraPlanos
Bobina
semiesfera plano paralelos
6.35
6.12
12.54
9.25
2
25
30
7
Cantidad de pulsos
5916
9586
7208
19194
5425
4179
3910
10154
491
5407
3298
9040
2958
383.4
240.3
2742
2712.5
167.2
130.3
1450.6
245.5
216.3
109.9
1291.4
49.3
6.39
4
45.70
1.42
4.16
1.76
21.53
47.88
2.23
2.24
24.17
Parmetros de Weibull
7.01
3.55
6.01
3.35
1.46
2.39
5.93
3.23
146.13
1080
133.04
201.95
197.48
1290
131.57
202.59
Parmetros Altura de pulsos
240.1
-564.28
35.85
342.48
38.88
-868.45
36.09
325.98
412.22
664.1
83.48
335.37
117.11
773.98
89.91
319.27
Magnitud de los pulsos
222.9
3510
208.07
564.89
544.69
4460
198.74
567.25
134.81
972.67
123.39
181.07
169.95
1150
122.18
181.35
83.55
572.28
87.76
100.39
80.56
552.32
88.98
101.6
73

Pruebas en Laboratorio

El patrn en fase resuelta de la Figura 5.5 es tpico de descargas corona, stas se estn presentando
slo en el semiciclo negativo alrededor de los 270 con algunos pocos pulsos espordicos en el
semiciclo positivo. En el grfico de altura de pulsos, se observa que los pulsos negativos presentan
un comportamiento curvo con una alta repeticin y los positivos no tienen un comportamiento muy
definido.
Los resultados de la Figura 5.6 son los esperados para una fuente de descargas superficiales. Los
pulsos tienen fases de ocurrencia entre 0-90 y 190-270, son de gran magnitud y baja repeticin y
existe una predominancia de los pulsos positivos.
El patrn de la Figura 5.7 corresponde a una fuente de descargas internas. Las descargas ocurren
entre 350-90 y 175-280 (descargas ms concentradas en las regiones de mayor pendiente del
voltaje aplicado), se observa simetra entre ambas polaridades, por lo que no hay predominancia de
pulsos y las DP se encuentran en el centro del aislamiento.
Los resultados de la Figura 5.8 son tpicos de descargas parciales internas. Las descargas ocurren
entre 0-100 y 180-290 y se observa una alta simetra. En el grfico de altura de pulsos el
comportamiento tiene tendencia rectilnea y no hay predominancia de pulsos, es decir que las DP
se encuentran en el centro del aislamiento principal.
En las figuras 5.9 a 5.14, se compararn los parmetros medidos para cada fuente de DP.
Los parmetros y muestran la cantidad de pulsos que se presentan por segundo y por ciclo, la
mayor repeticin de pulsos se da en el electrodo punta-semiesfera (corona) y en la bobina
(internas). Adems, se aprecia la comparacin de la repeticin para cada polaridad de descarga.
El parmetro representa la relacin entre repeticin de pulsos y su magnitud, ste es mayor
para los electrodos barra-plano, que aunque su repeticin es baja, la magnitud de los pulsos es muy
alta. Valores de negativos son debido a la baja repeticin de pulsos, en el grfico se dibuj el
valor absoluto.
Los parmetros , y miden la magnitud de los pulsos de DP, las mayores descargas se
dieron el electrodo barra-plano y las menores en planos paralelos.
Todos estos parmetros son tiles para diagnosticar un equipo al comparar las mediciones con el
tiempo. Al parmetro se le ha presentado especial atencin y se trata en la siguiente seccin.

74

Pruebas en Laboratorio

Figura 5.9 Parmetro

Figura 5.10 Parmetro

Figura 5.11 Parmetro

Figura 5.12 Parmetro

Figura 5.13 Parmetro

Figura 5.14 Parmetro

75

Pruebas en Laboratorio

5.2.2

COMPARACIN DEL PARMETRO DE FORMA DE LA DISTRIBUCIN DE

WEIBULL

El parmetro es una medida de la variabilidad de la magnitud de los pulsos de DP, entre menor
sea el valor de mayor diferencia existe entre la mnima y mxima magnitud de pulsos detectados.
En la figura 9 se compara la magnitud del parmetro para cada fuente de descarga parcial y en la
figura 14 se realiz el grfico de (+)/() Vs + utilizado para identificar diferentes tipos de DP
en devanados del estator de mquinas rotativas [1]. En los grficos se incluyeron los resultados de
dos mediciones adicionales con los electrodos punta-plano para descargas corona y barra-plano
para DP superficiales del equipo PD Simulator (ver anexo E).

Figura 5.15 Comparacin de la magnitud del parmetro

Figura 5.16 Grfico de (+)/() Vs +

En general, para las descargas corona se presentan los mayores valores de (menor dispersin
estadstica) y para las DP superficiales los menores valores de (alta dispersin estadstica), se
puede decir en trminos generales que > > , aunque se observa
que:
El + del objeto barra-plano (DP superficiales) es levemente superior a los de la bobina (DP
internas).
El de los electrodos planos paralelos (DP internas) es muy cercano al de los objetos de ensayo
para descargas corona.
El + del objeto punta-semiesfera (DP corona) es muy pequeo, aunque esto es debido a que
slo se presentaron algunos pulsos espordicos.
Las magnitudes de obtenidos para cada tipo de fuente de DP no tienen rangos de diferencia que
los separe claramente, lo que dificulta su clasificacin. As, el parmetro puede dar una idea del
tipo de DP que se mide, pero no es una herramienta que identifique claramente el tipo de DP.
En el grfico de la Figura 16 se ha ubicado el parmetro + en el eje x, aunque se consider para
la DP corona dejar donde se presentan la mayora de pulsos ( para el caso punta-semiesfera),
en el eje y se agrega la relacin +/ , se observa una separacin de los tipos de DP.

76

Pruebas en Laboratorio

5.3

COMPARACIN DE LAS MEDICIONES CON EQUIPOS COMERCIALES

Las mediciones realizadas con el sistema MAPD fueron comparadas con los equipos comerciales
PDCheck desarrollado por la empresa Techimp y TMS-6141 de la compaa Sparks Instruments.
El equipo PDCheck tiene una frecuencia de muestreo de 100MS/s y ancho de banda de 16kHz30MHz, utiliza procesamiento estadstico, mapas de Tiempo-Frecuencia, lgica fuzzy y tcnicas de
inteligencia artificial para el anlisis de las DP.
El equipo TMS-6141 trabaja con un ancho de banda por filtros seleccionables, filtro pasa-bajo de
40KHz-5MHz y filtro paso-alto de 800kHz-300MHz, cuenta con una pantalla tctil LCD 5.7" para
configurar el equipo y mostrar los resultados. Con este equipo se utiliz un capacitor de la misma
marca, ya descrito en el captulo 3 y ya que los resultados son slo presentados en coulombs, no se
realizan comparaciones en magnitud.
Tambin, como medida adicional, se utiliz un osciloscopio (RIGOL MSO2302A 300MHz-2Gsa/s) que
se configur con un lmite de ancho de banda de 20MHz y con la funcin Persistime activada en
cinco segundos la cual permite acumular en pantalla las seales adquiridas durante ese tiempo.
Las adquisiciones se realizaron de manera que el nmero de pulsos total fuera similar entre los
sistemas aunque esto no fue siempre posible, igualmente con un similar nivel de trigger. Los
patrones obtenidos con el PDCheck fueron previamente filtrados para eliminar ruido.
En las figuras 5.17, 5.19, 5.21 y 5.23 se muestran los diagramas de fase resuelta obtenidos con
MAPD, el PDCheck y el TMS-6141 al igual que la adquisicin realizada con el osciloscopio. En la
figuras 5.18, 5.20, 5.22 y 5.24 se comparan los resultados de los grficos de altura de pulsos con
MAPD y con el equipo TMS-6141.
Los parmetros obtenidos se resumen y comparan en las Tabla 5-IV y 5-V.

77

Pruebas en Laboratorio

a)

b)

c)
d)
Figura 5.17 Diagrama de fase resuelta electrodos punta-semiesfera (DP corona): a) MAPD, b) TECHIMP c) TMS-6141
y d) Medicin en el osciloscopio (escala seal DP 200mV/div, 2ms/div)

a)
b)
Figura 5.18 Grfico de Altura de Pulsos electrodos punta-semiesfera (DP corona): a) MAPD y b) TMS-6141

78

Pruebas en Laboratorio

a)

b)

c)
d)
Figura 5.19 Diagrama de fase resuelta electrodos barra-plano (DP superficiales): a) MAPD, b) TECHIMP c) TMS-6141
y d) Medicin en el Osciloscopio escala 2ms/div, 1V/div (seal DP)

a)
b)
Figura 5.20 Grfico de Altura de Pulsos electrodos barra-plano (DP superficiales): a) MAPD y b) TMS-6141

79

Pruebas en Laboratorio

a)

b)

c)
d)
Figura 5.21 Diagrama de fase resuelta electrodos planos paralelos (DP internas): a) MAPD, b) TECHIMP c) TMS-6141
y d) Medicin en el Osciloscopio escala 2ms/div, 100mV/div (seal DP)

a)
b)
Figura 5.22 Grfico de Altura de Pulsos electrodos planos paralelos (DP internas): a) MAPD y b) TMS-6141

80

Pruebas en Laboratorio

a)

b)

c)
d)
Figura 5.23 Diagrama de fase resuelta para la bobina (DP internas): a) MAPD, b) TECHIMP c) TMS-6141 y d)
Medicin en el Osciloscopio escala 2ms/div, 200mV/div (seal DP)

a)
b)
Figura 5.24 Grfico de Altura de Pulsos para la barra (DP internas): a) MAPD y b) TMS-6141

81

Pruebas en Laboratorio

Tabla 5-IV Comparacin de parmetros con el equipo PDCheck

Objeto
prueba
Equipo
[kV]
[s]

+

+

+

+

+

+

Punta-semiesfera
(Corona)
MAPD
PDCheck
6.35
6.4
2
2.32
5916
5471
491
0
5425
5471
2958
2359.1
245.5
0
2712.5
2359.1
49.3
39.31
4.09
0
45.21
39.31
1.46
0
7.01
7.27
197.48
0
146.13
136
38.88
0
240.1
171
544.69
0
222.9
191
169.95
0
134.81
130
80.56
0
83.55
86

Barra-plano
(Superficiales)
MAPD PDCheck
6.12
6.2
19
16.56
9586
10077
5407
6262
4179
3718
504.53 662.57
284.58 378.08
219.95 224.48
8.41
10
4.74
6.30
3.66
3.74
2.39
2.62
3.55
3.27
1290
1309
1080
1125
-868.4
-658
-564.2
-74
4460
3875
3510
3031
1150
1774
972.67
1033
552.32
562
572.28
594

Planos paralelos
(Internas)
MAPD PDCheck
12.54
12.81
30
32.69
7208
9425
3298
4129
3910
5296
240.3
288.27
109.9
126.29
130.3
161.98
4
4.8
1.83
2.1
2.17
2.7
5.93
5.02
6.01
5.35
131.57
101
133.04
100
36.09
11
35.85
10
198.74
169
208.07
173
122.18
95
123.39
94
88.98
63
87.76
66

Bobina
(Internas)
MAPD PDCheck
9.25
9
11
13.5
19194
19082
9040
9500
10154
9551
1744.9 1410.78
821.82 703.50
923.1
707.28
29.08
23.52
13.7
11.73
15.38
11.79
3.23
3.14
3.35
3.17
202.59
238
201.95
232
325.98
186
342.48
158
567.25
613
564.89
638
181.35
217
181.07
213
101.6
131
100.39
138

Tabla 5-V Parmetros obtenidos con el equipo TMS-6141

Objeto de
prueba
[kV]
[s]

Punta-semiesfera
(Corona)
6.54
5
21083
304
20779
4216.6
60.8
4155.8

Barra-plano
(Superficiales)
6
16
9437
4892
4545
589.81
305.75
284.06

Planos paralelos
(Internas)
13
15
13255
2553
10702
883.67
170.2
713.47

Bobina
(Internas)
9.1
6
20279
10081
10198
3379.83
1680.17
1699.67

Las figuras 5.25 a 5.31 ilustran la comparacin entre equipos de algunos parmetros, donde se
observan algunas tendencias y el error relativo, tomado como valor verdadero el de los equipos
comerciales.

82

Pruebas en Laboratorio

Figura 5.25 Comparacin entre los equipos de medicin

de la magnitud del parmetro n

Figura 5.26 Comparacin entre los equipos de medicin

de la magnitud del parmetro NQN

Figura 5.27 Error relativo con el equipo PDCheck del

parmetro n

Figura 5.28 Error relativo con el equipo TMS-6141 del

parmetro n

Figura 5.29 Error relativo con el equipo PDCheck del

parmetro

Figura 5.30 Error relativo con el equipo PDCheck del

parmetro

83

Pruebas en Laboratorio

Figura 5.31 Error relativo con el equipo PDCheck del parmetro

Se observa que los patrones en fase resuelta y los grficos de altura de pulsos son similares entre
los sistemas de medicin. Al comparar con el equipo PDCheck, se tiene que los parmetros en ambos
sistemas conservan la misma tendencia, las magnitudes son similares aunque algunas diferencias
considerables se presentan en los parmetros de magnitud, en general los errores son menores del
35%. Los valores de NQN difieren entre ambos sistemas pero se conservan tendencias similares para
cada objeto de ensayo. Las diferencias en magnitud puede deberse a que la ganancia del equipo
PDCheck es diferente. Tambin, el tiempo con el que se adquiere cada pulso en cada sistema
(deadtime en el PDCheck) puede influir en el conteo de pulsos.
Con el equipo TMS-6141 se observan grandes diferencias en la repeticin de pulsos, aunque en
general la tendencia es similar. Adems, entre los mismos equipos comerciales las diferencias son
tambin notables. No se puede decir mucho de la cantidad de pulsos por polaridad detectados
porque con el TMS-6141 no se adquiri una cantidad total de pulsos similar. La diferencia puede ser
debida a que se utiliz un capacitor diferente, y adems ste equipo trabaja con anchos de banda
seleccionables, donde se puede especificar la frecuencia de corte inferior y superior, lo que hace
que el ancho de banda del sistema sea muy diferente.
5.4

CONCLUSIONES

La forma, ngulo de fase y magnitud de los diagramas de fase resuelta obtenidos por el sistema
desarrollado MAPD sugieren que el objeto de ensayo punta-semiesfera es una fuente de
descargas corona, el barra-plano de DP superficiales y los objetos planos paralelos y bobina son
fuente de DP internas, cumpliendo con los resultados esperados.
En el grfico de altura de pulsos determin que para los objetos planos paralelos y la barra no se
present predominancia de pulsos, es decir que las descargas se presentan en el centro del
aislamiento principal.
En el conteo de pulsos, la mayor repeticin de pulsos de DP (parmetros y ) se presenta en
los electrodos punta-semiesfera (descargas corona).
Las descargas de mayor magnitud se dieron en los electrodos barra-plano (DP superficiales), esto
se ve reflejado en los parmetros , , , .
La mayor relacin entre repeticin y magnitud de las descargas (parmetros y ) ocurre
para los electrodos barra-plano (DP superficiales).

84

Pruebas en Laboratorio

Para los electrodos punta-semiesfera y punta-plano (PD Simulator), fuentes de descargas corona,
se presentan los mayores valores de (menor dispersin estadstica) y para los electrodos barraplano (construidos y del PD Simulator), fuentes de DP superficiales, se dan los menores valores
de (alta dispersin estadstica), resultados esperados. Los resultados en trminos generales
muestran que > > , el parmetro puede brindar una idea del
tipo de DP que se mide. Aunque, las magnitudes de pueden ser cercanas entre diferentes
fuentes de DP, lo que dificulta la identificacin.
Los patrones en fase resuelta y el grfico de anlisis de altura de pulsos son similares a los
obtenidos con los equipos comerciales. Los parmetros son similares o presentan tendencia
similar. Las diferencias de los resultados obtenidos pueden ser atribuidas a algunos aspectos
como: las mediciones no fueron realizadas en simultneo, los anchos de banda con la que
adquieren los sistemas de medicin son diferentes y ms con el equipo TMS-6141 donde se
utiliz un capacitor diferente y las frecuencias de corte son seleccionables, la ganancia del equipo
PDCheck.
5.5

REFERENCIAS

[1]

Y. Han and Y. H. Song, Using Improved Self-Organizing Map for Partial Discharge Diagnosis of Large
Turbogenerators, IEEE Trans. Energy Convers., vol. 18, no. 3, pp. 392399, 2003.

85

CONCLUSIONES GENERALES
La simulacin electrosttica de los modelos de electrodos evidencia principalmente que en el
modelo punta-semiesfera (descargas corona) el campo elctrico se concentra en la periferia de la
punta, para el modelo barra-plano (DP superficiales) sucede entre el borde de la barra y el material
dielctrico y para el modelo planos paralelos (DP internas) la mayor concentracin de campo
elctrico se presenta en la inclusin de aire. Las altas concentraciones de campo elctrico en cada
modelo alcanzan fcilmente la intensidad de ruptura del aire, condicin apropiada para que sucedan
descargas parciales, teniendo en cuenta que la segunda condicin es que exista un electrn libre
que inicie la avalancha de electrones.
El sistema de medicin y adquisicin implementado mide en el rango de alta frecuencia (sistema no
convencional), utiliza un circuito de medicin indirecto donde los pulsos son detectados por un
capacitor de acoplamiento de alta tensin y adquiridos por una tarjeta de adquisicin de datos (NI
5133). El capacitor utilizado tiene una frecuencia de corte inferior de 430kHz y una ganancia de 0.9.
La tarjeta de adquisicin trabaja a una razn de muestreo de 20MS/s, con un ancho de banda de
10MHz.
El software de anlisis de descargas parciales desarrollado MAPD permite visualizar las seales
medidas en un osciloscopio virtual en tiempo real, una vez el usuario configure los parmetros de
adquisicin, se puede obtener el diagrama de fase resuelta y el grfico de altura de pulsos. Adems,
el programa realiza el conteo del nmero de pulsos detectados, calcula los parmetros y de la
distribucin de Weibull, los parmetros y NQN y las magnitudes mxima, mnima y promedio
( , , , ). Tambin, se puede obtener la forma de onda de un pulso de DP individual y
su espectro en frecuencia. Las mediciones se realizan en volts.
Para la correcta obtencin del valor pico y ngulo de fase de los pulsos de DP, se implement un
umbral de voltaje (threshold) y un tiempo de adquisicin del pulso, con lo cual se crea una ventana
de adquisicin para cada pulso que contiene su forma de onda. El mayor valor pico (positivo o
negativo) fue el seleccionado para representar la DP. El ngulo de fase, es calculado tras obtener el
ndice donde ocurre el valor pico y los cruces por cero (en flaco de subida) de la seal de sincronismo.
El diagrama de fase resuelta y el grfico de anlisis de altura de pulsos son obtenidos basados en
una matriz de 256x256, donde las filas representan el voltaje pico de los pulsos, desde el valor de
referencia hasta + y las columnas los ngulos de fase desde 0 a 360. La resolucin de
la matriz es en voltaje /128 y en ngulo 1.40625. Cada elemento de la matriz representa el
nmero de pulsos detectados de magnitud y ngulo de fase ( , ).
La forma, ngulo de fase y magnitud de los diagramas de fase resuelta obtenidos por el sistema
desarrollado MAPD sugieren que el objeto de ensayo punta-semiesfera es una fuente de descargas
corona, el barra-plano de DP superficiales y los objetos planos paralelos y bobina son fuente de DP
internas, resultados esperados. El diagrama de fase resuelta permite la clasificacin de las DP.
Los resultados para los seis objetos de ensayo probados muestran que, en general, >
> , el parmetro puede brindar una idea del tipo de DP que se mide.
Aunque, las magnitudes de pueden ser cercanas entre diferentes fuentes de DP, lo que dificulta
la identificacin.
Los patrones en fase resuelta y el grfico de anlisis de altura de pulsos son similares a los obtenidos
con los equipos comerciales y los parmetros fueron en general similares en magnitud o conservan
la misma tendencia, los resultados validan el desempeo del sistema propuesto.

TRABAJOS FUTUROS

Mejorar la respuesta del sistema, trabajando en la optimizacin del cdigo de programacin y

en la adquisicin de la informacin, este ltimo utilizando un nivel de trigger (threshold)
implementado desde la tarjeta de adquisicin, as la informacin que finalmente se digitaliza
ser mucho menor, permitiendo que el procesamiento de la informacin se ha ms rpido.

Estudiar los mtodos de evaluacin de la carga de los pulsos de descargas parciales y aplicar
una metodologa adecuada que obtener la medida en pC y realizar la calibracin.

Aplicar tcnicas de eliminacin del ruido

Estudiar y aplicar mtodos o herramientas para la clasificacin de descargas parciales como:

parmetros estadsticos, mapas de tiempo-frecuencia, redes neuronales, lgica fuzzy etc.

Realizar mediciones con fuentes de descargas parciales combinadas.

Implementar la medicin trifsica en el sistema.

87

AGRADECIMIENTOS
La aventura de la investigacin inici con la oportunidad que me brind el grupo de investigacin en
Conversin de Energa CONVERGA, a travs del profesor Jos Luis Oslinger, de trabajar en el tema
de diagnstico de mquinas elctricas rotativas. Los proyectos desarrollados, equipos e
infraestructura de que dispone el grupo permitieron la realizacin de este trabajo.
A Fabio Muoz, asesor del proyecto, compaero y amigo por sus valiosos aportes y consejos, a l mis
ms sentidos agradecimientos.
Al profesor Jos Luis Oslinger, director del proyecto, por su orientacin, gestin y valiosos
conocimientos que permitieron el desarrollo de este proyecto.
Al profesor Jairo Palacios, por su ayuda en el diseo y construccin de los electrodos y por su
inagotable buena disposicin y optimismo.
A Luis Carlos Castro por su ayuda en la gestin de equipos y recursos, y manejo del Laboratorio de
Ensayo de Bobinas.
A Ian Carlo Guzmn por sus aportes en el desarrollo de la investigacin.
A Julio Ramrez por su gestin para la utilizacin de algunos equipos.
Al profesor Harold Daz y a mis compaeros del posgrado, por su contribucin en mi aprendizaje.
A la Universidad del Valle y a COLCIENCIAS, por proveer recursos para esta investigacin y por mi
financiacin como estudiante e investigador.
A mi familia, por su apoyo y acompaamiento.

Gracias!
Jaime

88

Anexos

6 ANEXOS
Anexo A
Planos electrodos
ANEXO A
PLANOS ELECTRODOS
A continuacin se muestran los modelos 3D y los planos de diseo de los electrodos utilizados para
generar descargas parciales.

a)

b)

c)
Figura A.1 Modelos 3D de los electrodos a) Barra-plano, b) Planos paralelos y c) Punta-semiesfera

89

Anexos

90

Anexos

91

Anexos

92

Anexos

Anexo B
Caractersticas de las Tarjetas de Adquisicin de
Datos
ANEXO B

CARACTERSTICAS TARJETAS DE ADQUISICIN DE DATOS

Las mejoras recientes en las Tarjetas de Adquisicin de Datos (TAD) han sido formidables, con
velocidades de muestreo de hasta unidades de GS/s y la introduccin de interfaces de comunicacin
como la PCI (Peripheral Component Interconnect) permitiendo la caracterizacin de seales muy
rpidas y la transferencia efectiva de informacin a la memoria RAM del computador.
Como elemento central de la TAD est el Convertidor Anlogo-Digital (ADC). Un ADC es un chip que
proporciona una representacin digital de una seal analgica en un instante de tiempo. En la
prctica, las seales analgicas varan continuamente con el tiempo y un ADC realiza "muestras"
peridicas de la seal a una razn predefinida. Estas muestras son transferidas a un PC a travs de
un bus de datos, donde la seal original es reconstruida desde las muestras en software.
Como caractersticas ms relevantes de las TAD estn: nmero de canales analgicos, velocidad de
muestreo, resolucin, rango de entrada e interfaz de comunicacin. A continuacin se describe cada
una de estas caractersticas:
Nmero de canales analgicos: Es el nmero de canales de entrada disponibles de la tarjeta. Es
necesario conocer el nmero de variables que se va a considerar, por lo que esta caracterstica es
crtica para el diseo de la instalacin. Existen dos modelos para la captura de las seales de entrada,
en primer lugar sera utilizar un nico ADC compartido entre varias entradas o utilizar convertidores
independientes en cada entrada analgica. Para el primer caso, se resuelve mediante el uso de un
multiplexor que seleccionar la entrada que corresponda. El otro caso se soluciona a travs de un
muestro simultneo.
Velocidad de muestreo: Es uno de los factores ms crticos a la hora de seleccionar un modelo de
TAD. Se define como la velocidad mxima con que el hardware de adquisicin realiza la toma de
muestras, siendo justo lo inverso al tiempo de adquisicin. Cuanto mayor sea la velocidad de
muestreo mejor representacin se obtendr de la seal analgica, en cualquier caso la velocidad de
muestreo debe ser siempre, como mnimo, mayor que el doble de la frecuencia de la seal que se
requiere muestrear (Teorema de Nyquist):

f muestreo 2 f seal
Si la tarjeta no es de muestreo simultneo, es decir, utiliza un nico ADC, entonces la velocidad de
muestreo se dividir por cada canal.
93

Anexos

El ancho de banda de un sistema de medicin est definido como aquella frecuencia donde la
respuesta del sistema causa una amplitud de salida con una cada del 70.7% (-3dB) como lo indica
la Figura B.1. Si las seales de inters tienen tiempos de subida muy pequeos, para una correcta
especificacin del equipo la ecuacin B.1 relaciona el tiempo de subida y el ancho de banda:

: Tiempo de subida en ns
: Ancho de banda en MHz

350

(B.1)

Resolucin: Viene dada por el nmero de bits del ADC que se utilizan para representar cada
muestra, a mayor nmero de bits del ADC la tarjeta ser capaz de detectar variaciones menores en
la seal. El nmero de distintos niveles en que se divide la seal a convertir viene dada por 2 ,
siendo la longitud de palabra del conversor (nmero de bits). Por ejemplo, un ADC de 8 bits tendr
28 = 256 niveles de voltaje discretos, suponiendo una seal de entrada de 400mV se obtiene una
resolucin de 400mV/256 = 1.56mV. As, el cambio ms pequeo que se desea detectar en la
seal medida determina la resolucin que es requerida por el dispositivo de adquisicin.
Rango de entrada: Indica los lmites de tensin de entrada de la tarjeta. Existen dos configuraciones:

Unipolares: donde slo pueden tener niveles de tensin positiva, por ejemplo: 0 a 10 V
Bipolares: permiten las dos polaridades, por ejemplo: -10 a 10 V

Interfaz de comunicacin: O bus de datos se refiere a la forma de comunicarse con el computador.

La TAD se conecta a la PC a travs de una ranura o puerto para pasar instrucciones y datos medidos.
Hay varios tipos de buses y cada uno de ellos ofrece diferentes ventajas para diferentes tipos de
aplicaciones. Todos los buses de la PC tienen un lmite de la cantidad de datos que pueden ser
transferidos en un cierto periodo de tiempo, esto se conoce como el ancho de banda del bus y
generalmente es especificado en MB/s. Otro parmetro a tener en cuenta es la latencia, la cual
describe la cantidad de tiempo que toma el bus para que el dispositivo de adquisicin responda a
un comando remoto, la Figura B.2 relaciona estos parmetros.

Figura B.2. Interfaces de comunicacin

La oferta actual de TAD presente en el mercado es muy amplia. Algunas de las compaas dedicadas
a nivel mundial a fabricar estos dispositivos son: National Instruments, Measurement Computing,
Advantech, Agilent Technologies, Nutaq Scientific, Xilinx y Texas Instruments.
94

Anexos

Anexo C
Correccin del Efecto de la Impedancia de Entrada
ANEXO C CORRECCIN DEL EFECTO DE LA IMPEDANCIA DE ENTRADA

Los equipos de medicin como osciloscopios y tarjetas de adquisicin tienen una impedancia de
entrada que es usualmente definida como la resistencia y capacitancia efectiva vista en la entrada
del equipo, esta es modelada como un circuito RC en paralelo. El acoplamiento entre la impedancia
de entrada de la tarjeta y la impedancia de la fuente (circuito que se mide) influencian sobre la
medida de la seal. La Figura C.1 muestra la comparacin al medir en el osciloscopio con una
impedancia de entrada de 1M y con una de 50, el pulso proviene de un calibrador de descargas
parciales que se inyect en el capacitor de acoplamiento. Se observa que al medir con una
impedancia de 1M el pulso se amplifica y se vuelve ms oscilatorio.

Figura C.1 Comparacin medicin de un pulso con impedancia de entrada de 50 y 1M

La Figura C.2 representa el circuito de acople de impedancias, la tensin medida en la entrada est
definida por la ecuacin (C.1).

Figura C.2 Acoplamiento de impedancias

95

Anexos

(C.1)

donde:
: voltaje de entrada
: voltaje de la fuente
: impedancia de entrada
: impedancia de la fuente
Los equipos de propsito general utilizan impedancias de entrada mucho mayores a la impedancia
de la fuente , de esta manera segn la ecuacin (3.1) .
Para seales de alta frecuencia como los pulsos de DP, el cambio de medio de una baja impedancia
a un alta (impedancia mismatch) produce reflexiones de la seal, influyendo en la amplitud y fase
de la misma. Con el fin de evitar esto, la impedancia de la fuente y de entrada deben ser iguales
(impedancia matching) y correspondientes a la impedancia caracterstica del cable de transmisin,
que es comnmente cable coaxial de 50, as se obtiene la mxima trasferencia de potencia del
pulso de DP y una representacin ms fidedigna de la forma de onda. Aunque debe notarse que la
amplitud de la seal ahora ser = 0.5 .
Con el fin de obtener una impedancia de entrada de 50 en la tarjeta de adquisicin, se implement
un conector T donde en una de sus entradas se conecta un terminal BNC macho que contiene una
resistencia de 50. En la Figura C.3 se observa el acople implementado y en la Figura C.4 el circuito
de acoplamiento de impedancias.

Figura C.3 Implementacin del acoplamiento a 50

Figura C.4 Circuito de acoplamiento de impedancias a

50

De esta manera la resistencia de acoplamiento = 50 en paralelo con el circuito RC de entrada

de la tarjeta modifica su impedancia de entrada a 50. Aunque hay que tener presente que dada la
capacitancia a medida que la seal que se mide es de mayor frecuencia (por encima de
aproximadamente 20MHz) empezar a reducir la impedancia de entrada. As, por ejemplo, para una
seal de 20MHz la impedancia de entrada sera 45 y la tensin = 0.47 .

96

Anexos

Anexo C
Manual de usuario de la aplicacin MAPD

ANEXO D MANUAL DE USUARIO DE LA APLICACIN MAPD

A continuacin se presenta un breve manual de usuario de la aplicacin desarrollada MAPD
(Measurement and Analysis of Partial Discharges).
1.

Para correr la aplicacin presione el botn run. Asegrese de que las seales estn llegando a
la tarjeta de adquisicin, y tenga presente que en el canal 0 debe medirse la seal de
sincronismo mientras que en el canal 1 la seal de DP.

2.

Seleccione la relacin de transformacin del capacitor de acoplamiento para realizar

correctamente la media de tensin aplicada al objeto. La medida puede observarse en el campo
Vrms HV [kV].

3.

Manipule las perillas de control de escala de voltaje y tiempo para observar adecuadamente
las seales en pantalla (grficos Signals y PD Signal denoising), tambin puede editar estos
valores en los campos Edit. Especifique el valor apropiado del factor de atenuacin de la seal
de sincronismo en el campo Attenuate power signal. En la casilla Display power signal puede
dejar de visualizar la seal de sincronismo en el grfico. Con la perilla position puede mover las
seales a lo largo del eje .

4.

El usuario puede utilizar las paletas Graph palette (parte inferior derecha de los grficos) para
realizar diferentes tipos de zoom al grfico, mover la seal a lo largo del eje o y habilitar el
movimiento de los cursores cuando el grfico los tiene.

5.

Especifique el rango de medicin de voltaje de los pulsos Voltage Range (PD) [V]. Este rango
debe ser mayor a la magnitud pico mxima de los pulsos que se estn presentando. De lo
contrario, la seal ser recortada hasta el valor especificado y se estara midiendo mal.

6.

Especifique el tiempo de adquisicin de las seales y la frecuencia de muestreo en los campos

Time [s] y Sample Rate [Samples/s]. En el indicador Number of Cycles puede observarse el
nmero de ciclos correspondientes que se van a procesar.

7.

Determine el tiempo de adquisicin del pulso Pulse acquisition time [s] y el umbral de voltaje
Threshold [V]. Lo recomendable es que el tiempo debe abarcar la duracin de un pulso y el
umbral debe ser superior al ruido de fondo. El umbral de voltaje se puede observar en los
grficos como dos lneas horizontales simtricas.

97

Anexos

8.

Utilice las opciones del panel PD pulse waveform, que muestra en pantalla la adquisicin de
una seal dependiendo de los parmetros de tiempo de adquisicin del pulso y umbral
ingresados, la adquisicin de la seal se activa con el botn Acquire waveform. Esta opcin
puede ser til para determinar si el tiempo de adquisicin del pulso que est especificando es
muy corto o muy largo. Mediante los cursores se pueden medir parmetros de voltaje y tiempo
del pulso, los cuales se pueden mover directamente en la pantalla o utilizando la opcin move,
la diferencia de las posiciones de los cursores en el eje y eje lo muestran los indicadores
y . Con la opcin Bring to center (click derecho sobre la paleta cursors) se puede traer los
cursores al centro de la pantalla.

9.

Las mediciones de voltaje del pulso de DP en el panel Basic Measurement correspondientes a

voltaje pico-pico Vpp, voltaje pico mximo Vpmax y voltaje pico mnimo Vpmin son magnitudes
obtenidas de la seal adquirida en el grfico PD pulse waveform tras pulsar el botn Acquire
waveform.

10. El panel Spectrum frequency PD Pulse muestra el espectro en frecuencia de la seal adquirida
en el grfico PD pulse waveform tras pulsar el botn Acquire waveform.
11. Una vez establecidos los parmetros para el procesamiento se debe pulsar el botn process. La
barra de progreso se va llenando para ir indicando al usuario cunto tiempo puede tardar la
aplicacin en procesar la informacin, una vez la barra est llena aparecer un mensaje
indicando que el procesamiento se ha completado.
12. Los resultados del diagrama de fase resuelta pueden ser vistos en el panel PRPD Pattern y los
resultados de Anlisis de altura de pulsos, parmetros de Weibull, magnitudes de DP y conteo
de pulsos en el panel Parameters and PHA.
13. Los botones Save data y Save image permiten guardar la informacin de los grficos en formato
Excel .xlsx y una imagen del grfico en formato .JPEG respectivamente.
A continuacin aparecen de forma numerada cada uno de los campos de la interfaz grfica. La
interfaz utiliza notacin del Sistema Internacional (SI), por lo que el usuario debe utilizar las letras
del SI para ingresar los datos (u, m, k, M).
Panel Principal
1. Boton run: botn para ejecutar la aplicacin.
2. Time [s]: tiempo de adquisicin de las seales en segundos. El valor mnimo permitido es 50ms
y el mximo 60s.
3. Sample Rate [Samples/s]: frecuencia de muestreo con la que se adquieren ambas seales en
muestras por segundo. El valor mximo es 100MS/s.
4. Voltage Range (PD) [V]: rango de voltaje para medicin de descargas parciales en Volts. Se
selecciona dependiendo de la magnitud mxima de las descargas que se estn presentando. ste
determina la resolucin de la medida y el valor de referencia para la obtencin del diagrama de
fase resuelta.
5. Number of cycles: nmero de ciclos adquiridos de la seal de sincronismo.
6. Relation Capacitor: relacin de transformacin del capacitor de acoplamiento utilizado, la
relacin es utilizada para determinar la tensin aplicada (numeral 7). Se puede seleccionar entre
tres opciones: 1:500 (7kV), 1:1000 (14kV) y 1:1500 (21kV). La tensin indicada se refiere a un
lmite de seguridad para el mdulo de adquisicin.
7. Vrms en HV [kV]: medicin de la tensin aplicada al objeto de prueba o tensin en el lado de alta
(HV, High Voltage) del capacitor de acoplamiento.
98

Anexos

8. Mediciones de voltaje de un pulso DP: muestra las mediciones de voltaje pico-pico Vpp, voltaje
pico mximo Vpmax y voltaje pico mnimo Vpmin de un pulso. El pulso se adquiere cuando el
usuario activa la opcin Acquire waveform (numeral 31) y se puede visualizar en el Grfico PD
pulse waveform (numeral 26).
9. Calibration: la opcin de calibracin no est disponible al usuario, est pensada para mejoras
futuras de la aplicacin.
10. Botn Process: una vez estn seleccionados los parmetros para el procesamiento, el usuario
debe activar esta opcin para procesar las seales y obtener los resultados.
11. Barra de progreso: el procesamiento de las seales puede tardar de segundos a varios minutos
dependiendo de la cantidad de informacin. La barra se va llenando para ir indicando al usuario
cuando tiempo puede tardar la aplicacin en procesar la informacin, una vez la barra est llena
aparecer un mensaje indicando al usuario que el procesamiento se ha completado.
12. Pulse acquisition time [s]: tiempo de adquisicin del pulso de DP, crea una ventana de tiempo
dentro de la cual se debe adquirir un pulso, facilitando la deteccin del valor pico. El tiempo est
normalmente en el orden de .
13. Thershold [V]: Umbral, permite la seleccin de una amplitud de voltaje (positivo y negativo)
mnimo por encima del cul la seal de DP ser procesada. El nivel de voltaje se puede observar
en los grficos como dos lneas horizontales simtricas y est en el orden de mV.
14. Botn Stop: botn de parada. La aplicacin se detiene una vez se active.
15. Grfico Signals: visualiza la seal de sincronismo y los pulsos que se estn midiendo.
16. Botones Save data: permiten guardar la informacin de los grficos en formato excel (.xlsx).
17. Botones Save image: permiten guardar una imagen del grfico en formato .JPEG.
18. Paletas Graph palette: permite realizar diferentes tipos de zoom al grfico, mover la seal a lo
largo del eje o y habilitar el movimiento de los cursores cuando el grfico los tiene.
19. Perilla Y Scale [V]: perilla de control de la escala de voltaje del grfico Signals, tambin se tiene
para el grfico PD Signal denoising.
20. Botones Edit: para editar los valores de escala de voltaje y tiempo del grfico signals en lugar de
usar las perillas de control que tienen valores limitantes.
21. Perilla X Scale [s]: perilla de control de la escala de tiempo de los grficos Signals y PD Signal
denoising.
22. Perilla Position: permite mover las seales a lo largo del eje x visualizadas en el grfico Signals.
23. Display power Signal: permite visualizar o no la seal de sincronismo en el grfico Signals.
24. Attenuate power signal: factor de atenuacin para la seal de sincronismo. La seal es dividida
entre dicho factor, con esto se puede colocar la seal de sincronismo a una escala ms adecuada
con la seal de DP.
25. Grfico PD Signal denoising: muestra la seal de sincronismo y los pulsos que se estn midiendo,
esta ltima elevada al cuadrado.
26. Grfico PD pulse waveform: dependiendo de los parmetros de umbral y tiempo de adquisicin
del pulso que el usuario haya especificado, se crea una ventana de tiempo donde se puede
visualizar un pulso individual de DP.
27.Paleta Cursors: muestra las posiciones (, ) correspondientes a los valores de (tiempo, voltaje)
de los cursores C0 y C1. Con la opcin Bring to center (click derecho sobre la paleta cursors) se
puede traer los cursores al centro de la pantalla.
28. Botn move: permite mover los cursores mediante el uso de flechas.
29. Indicador : muestra la diferencia de las posiciones de los cursores C0 y C1 correspondientes
a una diferencia de tiempo ( = | 1 |).
30. Indicador : muestra la diferencia de las posiciones de los cursores C0 y C1 correspondientes
a una diferencia de voltaje ( = | 1 |).
99

Anexos

31. Botn Acquire waveform: permite procesar la seal de DP para obtener el grfico PD pulse
waveform (numeral 26).
32. Grfico Spectrum frecuency PD pulse: Muestra la transformada rpita de Fourier de la seal
adquirida y visualizada en el grfico PD pulse waveform (numeral 19).
Panel PRPD Pattern
33. Phase Resolved Partial Discharge Pattern: diagrama de fase resuelta.
34. Phase Resolved Partial Discharge Pattern 3D: diagrama de fase resuelta 3D.
35. Save matrix: duarda la matriz del diagrama de fase resuelta en formato excel (.xlsx)
Panel Parameters and PHA
36. Parmetros de Weibull: muestra los valores obtenidos de los parmetros de forma + y
y de escala + y , correspondientes a pulsos de polaridad positiva y negativa.
37. (Normalized Quantity Number): cantidad numrica normalizada, muestra el valor
obtenido de + y de los pulsos de polaridad positiva y negativa.
38. (largest repeatedly ocurring PD magnitude): magnitud pico, muestra el valor obtenido de
+ y de los pulsos de polaridad positiva y negativa.
39. Magnitud de los pulsos de DP: valor en volts de la magnitud mxima , promedio y
minima de los pulsos detectados.
40. Nmero de pulsos: cantidad de pulsos detectados total , positivos + y negativos .
41. Repeticin de pulsos: cantidad de descargas parciales por segundo total , positivos + y
negativos , medido en pulsos por segundo (pps).
42. Cantidad de pulsos por ciclo: cantidad de descargas parciales por ciclo , por semiciclo
positivo + y por semiciclo negativo .
43. Grfico PHA (Pulse Height Analysis): Muestra el grfico de anlisis de altura de pulsos donde se
registra el nmero de pulsos por segundo (pps) en escala logartmica en funcin de la magnitud
de las DP. Se obtienen las curvas para cada polaridad de pulsos.
La aplicacin tiene lmites para los valores ingresados que evitan que el usuario ingrese magnitudes
muy pequeas o muy grandes que generen error. Tambin cuenta con una serie de mensajes en
ventanas emergentes para informar al usuario de una tarea completada, una condicin anormal o
una precaucin, algunos de los mensajes se dan por ejemplo: Cuando la aplicacin ha terminado de
procesar los datos, cuando la tensin aplicada al objeto de prueba se acerca peligrosamente al lmite
de tensin de la tarjeta y cuando no est llegando la seal a la tarjeta, entre otros. Adems, el
usuario cuenta con un panel Help, donde se muestran instrucciones bsicas para el manejo del
programa.

100

Anexos

Figura 6.1 Interfaz grfica de usuario Panel Principal

101

Anexos

Figura 6.2 Interfaz grfica de usuario Panel Principal

102

Anexos

Figura 6.3 Interfaz grfica de usuario Panel PRPD Pattern

103

Anexos

Figura 6.4 Interfaz grfica de usuario Panel Parameters and PHA

104

Anexos

Figura 6.5 Interfaz grfica de usuario Panel Help

105

Anexo D
Mediciones con el Equipo PD Simulator
ANEXO E MEDICIONES CON EL EQUIPO PD SIMULATOR
El equipo PD simulator fabricado por la compaa DIMRUS (Figura D.1), incorpora un transformador
y electrodos para generar diferentes tipos de descargas parciales, entregando las seales filtradas y
acondicionadas para ser medidas directamente desde su salida tipo BNC.

Figura D.1 Equipo PD Simulator

Los electrodos punta-plano y barra-plano, fueron utilizados como fuentes de descargas corona y
superficiales, los resultados se muestran en las figuras D.1 y D.2, y la tabla D-1.

b)
a)
Figura D.1 Electrodos punta-semiesfera (PD Simulator): a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos

106

b)
a)
Figura D.2 Electrodos barra-plano (PD Simulator): a) Fase resuelta y b) Altura de pulsos
Tabla D-I Parmetros obtenidos con electrodos del PD Simulator

Punta-plano Barra-plano
(corona)
(superficiales)
[kV]
5.5
5.5
[s]
30
10
Cantidad de pulsos
8981
3795

8981
2969
+
0
826

299.4
253

299.4
197.9
+
0
55.1

4.99
6.32

4.99
4.95
+
0
1.38

Parmetros de Weibull
6.3
2.8
+

1.37

+ [mV]
23.59
34.06
[mV]
71.37
Parmetros de Altura de pulsos
+ [mV]
24.57
15.6
[mV]
-27.32
26.22
+ [mV]
32.46
[mV]
26.38
Magnitud de pulsos

+ [mV]
[mV]
+ [mV]
[mV]
+ [mV]
[mV]

42.61
21.38
16.38
-

209.81
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64.43
29.75
21.32
21.3
107