UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA CATARINA

Centro Tecnolgico
Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial

Metodologia de avaliao e de
gerenciamento da incerteza de sistemas de
medio de temperatura

Dissertao submetida Universidade Federal de Santa Catarina para

obteno do Grau de Mestre em Metrologia

Alexandre Moraes Barp

Florianpolis, Maro de 2000

Metodologia de avaliao e de
gerenciamento da incerteza de sistemas de
medio de temperatura
Alexandre Moraes Barp

Esta dissertao foi julgada adequada para obteno do ttulo de

Mestre em Metrologia
e aprovada na sua forma final pelo
Programa de Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial.

Prof. Carlos^Alberto Flesch, M: Eng.

Orientador

Prof. ArmandtTAlbertazzi Gonalves Jr., Dr Eng.

Coordenador do curso de mestrado em Metrologia Cientfica e Industrial

Banca Examinadora:

Prof Frank Hrebabetzky, Dr. Rer. Nat.

Pfof. Marco Antniopavaco, Ph.D.

rot. aulo Gth, Dr.

Aos meus pais

Ari Barp e
Neide Moraes Barp
Aos meus avs
Ado Antunes de Moraes (in Memorian) e
Virglio Barp (in Memorian)

Agradecimentos
A DEUS, o nosso mestre supremo que nos conduz ao caminho da evoluo, e a todos
aqueles que nos auxiliam indiretamente nesse percurso.

Ao LABMETRO e Fundao CERTI, que proporcionaram bom corpo docente e infraestrutura para que o trabalho pudesse ser desenvolvido.

CAPES, pela concesso da bolsa de mestrado.

Ao Professor Carlos Alberto Flesch, pela ajuda, pelo apoio, pela dedicao e pela amizade,
que sem essa, eu no chegaria ao resultado final obtido por este trabalho.

Aos meus pais, Ari e Neide, que sempre se esforaram ao mximo para me propiciar a
melhor formao possvel e todo o apoio necessrio, sem os quais, eu no chegaria onde estou.

Aos amigos da ps-graduao, pelas contribuies concedidas atravs de sugestes e

explicaes e pelo esprito de companheirismo. Em especial aos amigos que me auxiliaram
diretamente neste trabalho:
Alexandre da Costa Silva;
Analcia Vieira Fantin;
Andr Roberto de Sousa;
Carlos Aurlio Pezzotta;
Glaucio Andrey Maas;
Gustavo Donatelli;
Jacques Robert Heckmann;
Luiz Augusto Rodrigues Neroski;
Luiz Soares Jnior.

Rosana Magali, secretria do Labmetro, pela competncia no apoio de vrias atividades.

A todos que direta ou indiretamente contriburam para o sucesso deste trabalho.

SUMRIO
NDICE DE FIGURAS

IX

NDICE DE TABELAS

XI

LISTA DE ABREVIATURAS

XII

RESUMO

XIII

ABSTRACT

XIV

CAPTUL01

INTRODUO

1.1

Importncia da medio de temperatura

1.2

Confiabilidade metrolgica e medio de temperatura

1.3

Objetivos do trabalho

1.4

Estrutura de apresentao do trabalho

CAPTULO 2

ASPECTOS RELATIVOS GARANTIA DA CONFIABILIDADE METROLGICA EM

SISTEMAS DE MEDIO DE TEMPERATURA

2.1

Rastreabilidade da grandeza temperatura

2.2
Gerenciamento da incerteza em sistemas de medio de temperatura
2.2.1
Procedimento para gerenciamento de incerteza (PUMA)
2.2.2
Gerenciamento da incerteza paia melhoria da confiabilidade metrolgica
2.2.2.1
Projeto e desenvolvimento de sistemas de medio
2.2.2.2
Especificao e seleo de sistemas de medio
2.2.2.3
Avaliao quantitativa das incertezas para sistemas de medio
2.2.2.4
Acompanhamento contnuo de sistemas de medio
2.2.2.5
Avaliao formal da incerteza

9
10
11
13
14
15
15
16

2.3
Procedimento de avaliao da incerteza
2.3.1
Procedimento de avaliao da incerteza aplicado a sistemas de medio
2.3.1.1
Modelo do sistema de medio
2.3.1.2
Determinao da resposta nominal do sistema de medio
2.3.1.3
Identificao das fontes de incerteza
2.3.1.4
Quantificao das fontes de incerteza
2.3.1.5
Transformao em incerteza padro
2.3.1.6
Combinao de incertezas para determinao da incerteza padro
2.3.1.7
Determinao da incerteza expandida
2.3.1.8
Apresentao e documentao da avaliao da cadeia de medio
2.3.2
Modificaes propostas para realizao do procedimento de avaliao de incerteza dentro do
gerenciamento de incerteza

16
17
17
18
19
19
23
25
27
28
28

vi

CAPTULO 3

31

FONTES DE INCERTEZA EM SISTEMAS AUTOMATIZADOS DE MEDIO DE

TEMPERATURA

31

3.1
Transdutores de temperatura com contato
Termopar
3.1.1
Erro mximo admissvel do transdutor
3.1.1.1
3.1.1.2
Erro inerente ao polinmio de interpolao
3.1.1.3
Junta de referncia
3.1.1.4
Termopares parasitas
3.1.1.5
Fios e cabos de extenso ou de compensao
3.1 1.6
Deriva com o tempo, envelhecimento e histerese do termopar
3.1.1.7
Outros efeitos
Termorresistor
3.1.2
3.1.2.1
Erro mximo admissvel do termorresistor
3.1.2.2
Auto-aquecimento
3.1.2.3
Influncia do fio
3.1.2.4
Resistncia de isolao
3.1.2.5
Deriva com o tempo
3.1.2.6
Rudo
Tenses termoeltricas
3.1.2.7
Termistor
3.1.3
Intercambiabilidade ou erro mximo entre transdutores
3.1.3.1
3.1.3.2
Equao de ajuste de no linearidade
3.1.3.3
Auto-aquecimento
3.1.3.4
Deriva com o tempo
3.1.3.5
Rudo
3.1.4
Transdutores integrados de temperatura
Erro mximo admissvel
3.1.4.1
Repetitividade
3.1.4.2
3.1.4.3
Deriva com o tempo
3.1.4.4
Rudo
3.1.4.5
Rejeio da variao da fonte
3.1.4.6
Impedncia interna
3.1.4.7
Auto-aquecimento
Incertezas na interface entre transdutor e o meio de medio
3.1.5
Efeitos da instalao nos transdutores de temperatura
3.1.5.1
Dissipao de energia cintica e de calor por frico
3.1.5.2
Transiente e tempo de resposta dos transdutores de temperatura
3.1.5.3

32
33
34
35
36
36
37
38
38
39
41
41
42
42
43
44
44
44
45
47
48
48
48
48
50
51
51
51
52
52
52
54
54
55
56

3.2
Alimentao e Condicionamento de sinais
Componentes e circuitos de condicionamento
3.2.1
3.2.1.1
Resistor
3.2.1.2
Capacitor
3.2.1.3
Componentes semicondutores: diodos e transistores
Redes de resistivas de linearizao e condicionamento
3.2.1.4
Fontes de alimentao e de referncia
3.2.2
Erro mximo admissvel (tolerncia)
3.2.2.1
Estabilidade
3.2.2.2
Deriva com a temperatura
3.2.2.3
3.2.2.4
Rejeio variao da alimentao
3.2.2.5
Impedncia interna
3.2.2.6
Rudo
Amplificador
3.2.3
3.2.3.1
Variao do ganho
Tenso de offset
3.2.3.2
3.2.3.3
Corrente de bias e offset

57
57
57
60
60
61
61
61
62
62
63
64
64
64
64
65
65

vii
3.2.3.4
Razo de rejeio de modo comum
3.2.35
Rudo
3.2.3.6
Impedncia de entrada e sada
3.23.7
Razo de rejeio da fonte
3.2.4
Multiplexadores
3.2.4.1
Resistncia das chaves
3.2.4.2
Corrente de fuga
3.2.4.3
Tenso termoeltrica
3.2.4.4
Impedncia de entrada e sada
3.2.4.5
Isolao entre chaves (crosstalk)
3.2.5
Converso analgico-digital
3.2.5.1
Erro de quantizao do conversor
3.2.5.2
Erro de ganho
3.2.5.3
Erro de linearidade
3.2.5.4
Outras fontes de incerteza
3.2.6
Outras fontes importantes de incerteza em sistemas de medio
3.2.6.1
Cabos de ligao
3.2.6.2
Blindagem, aterramento e guarding
3.3
3.3.1
3.3.2

Processamento de Informaes
Arredondamento e truncamento
Algoritmo para determinao da temperatura

65
66
66
66
66
67
68
68
68
68
69
69
70
70
71
71
71
71
71
72
72

3.4
Instrumentos Compostos
3.4.1
Placas e sistemas de aquisio de sinais
3.4.2
Multmetros digitais
3.4.3
Termmetros digitais
3.4.4
Fontes de incerteza de instrumentos compostos
3.4.4.1
Erro mximo do instrumento, estabilidade ao longo do tempo e da temperatura ambiente
3.4.4.2
Resoluo
3.4.4.3
Impedncia de entrada
3.4.4.4
Rudo
3.4.4.5
Corrente de alimentao (paia medio de resistncias)

73
73
74
76
77
77
78
78
78
79

CAPTULO 4

80

SISTEMA DE AVALIAO DA INCERTEZA AUXILIADO POR COMPUTADOR

80

4.1

80

Caractersticas gerais do sistema

4.2
Programa para anlise de circuitos - PSpice
4.2.1
Origem do PSpice
4.2.2
O Sistema DesignLab
4.2.3
Adaptao do PSpice para anlise da incerteza de medio
4.2.4
Realizao da modelagem da cadeia de medio
4.2.5
Procedimentos de anlise de incerteza atravs do PSpice
4.2.5.1
Anlise de ponto de operao (Bias Point)
4.2.5.2
Anlise de corrente contnua (DC sweep)
4.2.5.3
Anlise atravs de simulao de Monte Cario
4.2.6
Formato dos modelos internos dos componentes
4.2.6.1
Termistor
4.2.6.2
Amplificador de instrumentao
4.2.6.3
Conversor analgico-digital

82
83
83
85
87
89
90
90
92
95
95
96
96

4.3
4.3.1
4.3.2
4.3.3

97
98
99
99

Avaliao da incerteza atravs de planilha de clculo

Planilha de identificao e descrio das incertezas
Planilhas de quantificao de incerteza
Planilha de balano de incerteza

viii
4.3.4
4.4

Planilhas de indicao grfica da incerteza

101

Discusso sobre o sistema de auxlio avaliao da incerteza

102

CAPTULO 5

105

APLICAO DA METODOLOGIA DE GERENCIAMENTO DA INCERTEZA

105

5.1

Identificao do problema

105

5.2

Requisitos metrolgicos e operacionais

107

5.3
5.3.1
5.3.2
5.3.3
5.3.4
5.3.5
5.3.6

Gerenciamento da incerteza aplicado ao projeto de sistemas de medio de temperatura

Especificaes do processo de medio
Projeto do sistema de medio
Avaliao da incerteza (iterao 1)
Identificao das principais fontes de incerteza e formas de melhorias
Avaliao da incerteza (iterao 2)
Reprojeto e avaliao da incerteza (iterao 3)

108
108
109
109
112
114
116

5.4
5.4.1
5.4.2

Avaliao quantitativa de incertezas em laboratrio

Avaliao do sistema de calibrao com banho de temperatura
Repetitividade do sistema de medio

117
117
118

5.5

Anlise do procedimento de gerenciamento de incerteza

119

CAPTULO 6

121

CONCLUSES E SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS

121

6.1

Concluses

121

6.2

Sugestes para trabalhos futuros

124

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS

126

ix

ndice de Figuras
Figura 1 .1 - Distribuio do mercado europeu de medio de temperatura (1995) [4]

Figura 2 .1 - Diferena entre as escalas ITS-90 e IPTS-68

Figura 2.2 - Cadeia de rastreabilidade para medio de temperatura

Figura 2.3 - Procedimento de Gerenciamento de Incerteza (PUMA / ISO 14253-2)

11

Figura 2.4 - Sistema de gerenciamento de incerteza para um processo de medio

12

Figura 2.5 - Etapas do procedimento de gerenciamento da incerteza em projeto

14

Figura 2.6 - Acompanhamento do sistema de medio

16

Figura 2.7 - Especificaes e sua relao com distribuies de fabricao

21

Figura 2.8 - Tipos de distribuies utilizadas em avaliao da incerteza

25

Figura 3 .1 - Cadeia tpica de medio de temperatura

31

Figura 3.2 - Circuito eltrico com fios de extenso de termopares

37

Figura 3.3 - Curva gerada pela incerteza do termistor para variaes em Ro e (3

46

Figura 3 .4 - Curva caracterstica de intercambiabilidade dos termistores

46

Figura 3.5 - Curva caractersticas de erro mximo para transdutores de circuito integrado

50

Figura 3 .6 - Grfico tpico do rudo de transdutores integrados de temperatura

51

Figura 3.7 - Modelo para avaliao do auto-aquecimento em transdutores integrados de

temperatura

53

Figura 3.8 - Gradiente de temperatura ao redor de um transdutor submerso em gua com

fluxo axial [81]

56

Figura 3.9 - Definio do mtodo da caixa para determinao da deriva com a temperatura

62

Figura 3 .1 0 - Definio do mtodo da borboleta para determinao da deriva com a

temperatura

63

Figura 3 .1 1 - Modelo de fontes de incerteza de uma chave multiplexadora

67

Figura 3 .1 2 - Topologia de uma placa de aquisio de dados

74

Figura 3 .1 3 - Diagrama interno de um multmetro digital

75

Figura 3 .1 4 - Diagrama esquemtico dos circuitos de medio

76

Figura 3 .1 5 - Circuito esquemtico de um medidor de temperatura

77

Figura 4 .1 - Seqncia de atividades para avaliao de incerteza de medio

82

Figura 4 . 2 - Estrutura e configurao do DesignLab

84

Figura 4.3 - Modelos disponveis para anlise de incerteza desenvolvidos neste trabalho

85

Figura 4.4 - Estrutura dos modelos propostos para anlise de incerteza

86

Figura 4.5 - Ambiente de desenvolvimento para simulao e suas funes bsicas

87

Figura 4.6 - Modelo de uma cadeia de medio com termorresistores

88

Figura 4.7 - Modelo simplificado de uma cadeia de medio com termopares

89

Figura 4.8 - Modelo para anlise de erro de linearidade residual em um circuito de

linearizao de termistores

89

Figura 4.9 - Janela de um exemplo de configurao para anlise DC no PSpice

91

Figura 4.10 - Curva de erro de linearidade residual no circuito de linearizao de termistores

da Figura 4.8 [Temperatura (C) x Erro de linearidade (C)]

91

Figura 4.11 - Janela de configurao exemplo para Anlise de Monte Cario no PSpice

93

Figura 4.12 - Curvas obtidas pela Anlise de Monte Cario de um parmetro na cadeia de
medio referente a Figura 4.10

94

Figura 4 .1 3 - Distribuio gerada para um valor de incerteza [erro de linearidade (mK)]

94

Figura 4 .1 4 - Modelo desenvolvido para um termistor

95

Figura 4 .1 5 - Modelo de um amplificador de instrumentao

96

Figura 4.16 - Modelo de um conversor analgico-digital (ADC)

97

Figura 4.17 - Circuito exemplo de medio de temperatura com termistor

97

Figura 4 .1 8 - Planilha de definio de incertezas

98

Figura 4 .1 9 - Planilha de balano de incertezas

100

Figura 4.20 - Grfico da avaliao da incerteza ao longo da faixa de medio

101

Figura 4.21 - Comparao entre fontes de incerteza

102

Figura 5 .1 - Sistema de medio de rendimento de bombas de alimentao de caldeiras

107

Figura 5.2 - Configurao da cadeia de medio utilizada

109

Figura 5.3 - Fontes de incerteza utilizadas para avaliao

110

Figura 5.4 - Balano de incerteza para obtido na avaliao

111

Figura 5.5 - Variao da incerteza expandida ao longo da faixa de medio

112

Figura 5.6 - Grfico comparativo das fontes de incerteza (iterao 1)

113

Figura 5.7 - Grfico comparativo das fontes de incerteza (iterao 2)

115

Figura 5.8 -Incerteza expandida ao longo da faixa de medio

115

Figura 5.9 - Sistema de medio de temperatura proposto aps iterao 3

116

Figura 5 .1 0 - Erro residual da calibrao

118

Figura 5 .1 1 - Resultado de um teste de repetitividade para o sistema de medio

119

xi

ndice de Tabelas
Tabela 2 .1 - Pontos fixos de temperatura da ITS-90

Tabela 2.2 - Listagem de fontes de incerteza

19

Tabela 3.1 - Comparao entre transdutores de temperatura com contato

33

Tabela 3.2 - Tipos e caracterstica dos termopares padronizados

34

Tabela 3.3 - Erro mximo admissvel na fabricao de termopares

35

Tabela 3.4 - Incertezas dos polinmios de interpolao para termopares

35

Tabela 3.5 - Incertezas na compensao de junta de referncia

36

Tabela 3.6 - Potencial termoeltrico de diferentes pares de materiais

37

Tabela 3.7 - Tolerncia dos fios de extenso de termopares

38

Tabela 3.8 - Caractersticas dos termorresistores utilizados comercialmente

40

Tabela 3.9 - Classes de tolerncia para termorresistores de platina

41

Tabela 3.10- Desvios encontrados em termorresistores de platina

43

Tabela 3.11- Parmetros tpicos de termistores

45

Tabela 3.12- Classes tpicas de tolerncias de fabricao de resistores

58

Tabela 3.13- Coeficientes de variao do valor nominal com a temperatura do resistor

59

Tabela 3.14- Erro mximo de um multmetro

77

Tabela 4.1 - Lista de fabricantes de simuladores

83

Lista de abreviaturas
ABM

Modelagem por Blocos

(Analog Behaviour Modeling)

ADC

Conversor Analgico-Digital
(Analog-to-Digital Converter)

ANSI

American National Standards Institute

ASME

American Society of Mechanical Engineering

CMRR

Razo de Rejeio de Modo Comum

(Common Mode Rejection Ratio)

IEC

International Electrotechnical Commission

IPTS-68

Escala Prtica Internacional de Temperatura 1968

(International Practical Temperature Scale 1968)

ISO-GUM

Guia para a Expresso da Incerteza de Medio

(Guide to the expression of Uncertainty in Measurement)

ITS-90

Escala Internacional de Temperatura 1990

(International Temperature Scale 1990)

PSRR

Razo de Rejeio de Variao da Fonte

(Power Supply Rejection Ratio)

PUMA

Procedimento para Gerenciamento da Incerteza

(Procedure Uncertainty Management)

SPRT

Termorresistor padro de platina

(Standard Platinum Resistance Temperature)

Resumo

Metodologia de avaliao e de gerenciamento da incerteza

de sistemas de medio de temperatura"
O Guia para a Expresso da Incerteza de Medio (ISO-GUM) um documento sem
precedentes que propem uma padronizao da forma de avaliao da incerteza, permitindo a
intercomparao entre diferentes resultados de medio. A aplicao desse guia exige do
metrologista um conhecimento aprofundado do sistema de medio. Isso necessrio pois o
mtodo exige que todas as fontes de incerteza sejam levantadas e tenham as suas influncias
avaliadas frente incerteza global. Esse requisito toma-se mais crtico quando sistemas
automatizados de medio so utilizados, pois exige do avaliador conhecimentos do processo de
medio, da transduo e das interaes existentes entre os diversos mdulos da instrumentao
eletrnica, levando a uma grande quantidade e diversidade de fontes de incerteza a serem
verificadas.
Considerando isso, o trabalho prope procedimentos para garantia da confiabilidade
metrolgica em processos de medio de temperatura. Para tal, ele se baseia no procedimento para
gerenciamento da incerteza de medio (Procedure Uncertainty Management - PUMA) do
relatrio tcnico ISO/TS 14253-2. Dentro das atividades inerentes ao gerenciamento, maior nfase
dada avaliao da incerteza em sistemas automatizados de medio. So apresentadas as
principais fontes de incerteza inerentes a transdutores de temperatura com contato e os mdulos
componentes do sistema de medio necessrios para automatizar a medio com tais transdutores.
Um ambiente para anlise da incerteza seguindo os requisitos do Guia para a Expresso da
Incerteza de Medio (ISO-GUM) foi desenvolvido com programas j consagrados. Foi utilizado o
programa Excel (Microsoft Co.) para auxiliar no clculo da incerteza e o programa Pspice
(MicroSim Co.) para quantificao das fontes de incerteza individuais.
Um estudo de caso foi realizado, utilizando o procedimento de gerenciamento da incerteza e
o ambiente proposto para auxlio anlise da incerteza, aplicado durante o desenvolvimento de um
sistema de medio de temperatura, mostrando a forte aplicabilidade deste mtodo para avaliar a
incerteza de sistemas automatizados de medio, contornando muito dos problemas que
desmotivam o uso do ISO-GUM em tais aplicaes complexas.

xiv

Abstract

Methodology for Management and Evaluation of

Uncertainty on Temperature Measurement Systems
The Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (ISO-GUM) is an
unprecedented document that proposes a standardized method to evaluate the uncertainty, allowing
the intercomparison among different measuring results. The application of this guide demands
from the metrologist a deep knowledge in measurement systems and the method demands that the
main sources of uncertainty has been appointed and its influences evaluated to determine the
expanded uncertainty. These requirements become critical in the analysis of automated
measurement systems, once they require more knowledge about the measurement process, the
interactions between several modules (electronic instrumentation) and the large amount of sources
of uncertainties that needs to be evaluated.
This work proposes a procedures to improve the metrological quality assurance in
temperature measurement systems. The Procedure Uncertainty Management (PUMA) from the
technical report ISO/TS 14253-2 is used to identify and to control the uncertainty, based on the
valuation of uncertainty in automated measurement systems, supported on the Guide to the
Expression of Uncertainty in Measurement (ISO-GUM). This work also presents the main sources
of uncertainty in contact temperature sensors and in its measurement circuit.
In the realization of the procedure this investigation proposes the use of computer programs
to aid in the realization of the procedure. A system prototype was created and analysed to quantify
the individual uncertainty sources and to calculate the budget of uncertainty. It was implemented in
Excel spreadsheet (Microsoft Co.) and in Pspice circuit analysis program (MicroSim Co.). A case
study was executed to test the methodology and applied during the development of a temperature
measurement system. The facility to achieve the budget of uncertainty using the procedure
uncertainty management and the proposed software prototype, show the strong application of this
method to evaluate the uncertainty of automated measurement systems, overcoming some
difficulties that does not motivate the use of the ISO-GUM in such complex applications.

1
CAPTULO 1

INTRODUO
1.1 IMPORTNCIA DA MEDIO DE TEMPERATURA
A medio de temperatura possui grande destaque na indstria, tendo influncia marcante em
grande quantidade de processos industriais. O mercado mundial das indstrias produtoras de
equipamento para medio de temperatura est avaliado em 1,3 bilho de dlares, com um
crescimento anual acima de 9% ao ano [1]. Esse crescimento marcado principalmente pela
industrializao de pases sub-desenvolvidos, pela reduo das barreiras comerciais e pelo avano
da tecnologia de sensores inteligentes [2], Na dcada de 90, em tomo de 60% dos parmetros
controlados estavam associados temperatura e na ordem de 15% dos transdutores em uso eram
destinados medio de temperatura, sendo que de 70% a 80% desse mercado dominado pelos
termopares e termorresistores [3].
Em 1995, o mercado europeu de produtos para a medio de temperatura apresentou o valor
de 500 milhes de dlares, sendo que desse montante, 35% do mercado estava sob o controle dos
termopares, 23% dos termorresistores e 2% dos termistores. Demais produtos com fatia
significativa do mercado foram: termmetros digitais (transdutor, unidade de tratamento de sinal e
mostrador) [17%]; pirmetros de radiao [13%] e transmissores de sinais de temperatura
(transdutor e unidade de tratamento de sinais) [ 10%], como mostrado na Figura 1.1 [4].

Transmissores de

temperatura
10%

Figura 1.1 - Distribuio do mercado europeu de medio de temperatura (1995) [4]

Atualmente, o mercado de medio de temperatura possui as seguintes tendncias: os
transdutores de temperatura baseados em circuitos integrados, denominados de transdutores

integrados de temperatura, esto recebendo a maior taxa de crescimento do setor, impulsionados

pelo desenvolvimento da indstria de computadores e de telecomunicaes; os termorresistores
industriais de filme metlico (platina), com menor custo, esto substituindo os termopares em
processos que exigem maior exatido; medies sem contato se tomam cada vez mais populares
em ambientes agressivos ao transdutor, possuindo forte crescimento de mercado; os termistores
tendem a atrair mais consumidores j que atualmente os materiais utilizados e os processos de
manufatura tomam as suas caractersticas metrolgicas e operacionais melhores, alm da reduo
do custo; a continuao do uso de termopares est fundamentada em fatores histricos e grande
disponibilidade de literatura, de normas e de oferta no mercado [2],
Em virtude dessas informaes, direcionou-se a pesquisa para os transdutores mais comuns
encontrados no mercado: termopar, termorresistor, termistor e transdutores integrados de
temperatura. Alm de serem bastante utilizados, so os transdutores comumente encontrados na
composio de sistemas modulares automatizados para medio de temperatura.

1.2 CONFIABILIDADE METROLGICA E MEDIO DE TEMPERA TURA

No contexto de competitividade pelo mercado mundial, empresas necessitam garantir a
qualidade de seus produtos, reduzir custos e buscar constantemente a melhoria de seus processos.
Ferramentas para melhoria da qualidade e da produtividade, como sistemas de gerenciamento da
qualidade ou controle automtico de processos, esto sendo aplicadas para garantir esses requisitos.
Entretanto para determinar se o produto est dentro das especificaes de qualidade necessrio
realizar medies dessas variveis. Em virtude disso, a metrologia tem crescido em importncia
nas mais diversas reas de conhecimento [5],
Por outro lado, sabe-se que todo sistema de medio possui imperfeies que o fazem
apresentar resultados que se desviam do valor verdadeiro do mensurando. O grau de
desconhecimento desse afastamento quantificado atravs do valor da incerteza de medio. A
importncia dela toma-se maior medida que a magnitude da incerteza aproxima-se da tolerncia
de processo. Nesses casos, o no conhecimento da incerteza pode levar a aes incorretas que
podem ter conseqncias desastrosas. Para se ter uma idia da necessidade de certas aplicaes, na
determinao de rendimento de bombas hidrulicas atravs do processo termodinmico necessitase a medio da diferena de temperatura do fluido na entrada e na sada da bomba com incertezas
que devem estar entre 1 mK e 50 mK, dependendo da aplicao [6],

Apesar de sua importncia, o procedimento de avaliao de incerteza exercido entre os

diversos setores no permitiam a intercomparao de resultados, devido falta de coerncia entre
as diversas metodologias. A preocupao de grandes organizaes, como o BIPM (International
Bureau of Weights and Measures) e a ISO (International Organization for Standardization),
com essa questo gerou um estudo sobre procedimentos de determinao da Incerteza de Medio.
Tais estudos culminaram com um documento-guia de recomendaes denominado Guia para a
Expresso da Incerteza de Medio (Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement ISO-GUM) [7], lanado em 1993 e que desde ento est sendo disseminado a nvel mundial.
Atravs dessa padronizao, sistemas consistentes de garantia da qualidade de medio podem ser
desenvolvidos, propiciando melhoria na confiabilidade metrolgica dos sistemas de medio.
Essa nova viso de determinao da incerteza faz com que processos de clculo anteriores,
plenamente aceitveis de acordo com antigos procedimentos, sejam considerados como
incompletos, uma vez que o nvel de exigncia tornou-se mais rigoroso e, em especial,
padronizado. Por outro lado, de acordo com as referncias [5,8] existe dificuldade de
implementao deste documento na indstria, em decorrncia da falta de formao metrolgica dos
recursos humanos, do carter generalista do ISO-GUM e da falta de uma metodologia mais
abrangente que defina aes prticas baseadas nas informaes levantada na anlise de incerteza
[5,9], Dessa forma, a sistematizao das informaes para aplicao do ISO-GUM em diferentes
reas toma-se necessria para sua disseminao.
Outra caracterstica encontrada na avaliao da incerteza em sistemas de medio de
temperatura a necessidade de quantificar uma grande quantidade de fontes de incerteza
provenientes dos componentes do sistema de medio, da ligao entre eles e das condies que
revestem o processo de medio.
A sistematizao das fontes de incerteza para auxiliar na avaliao do sistema de medio e
de prover algum mecanismo para facilitar a avaliao da incerteza so de grandes importncias
para a disseminao do ISO-GUM. Identificou-se que programas de computador podem ser
utilizados para essa tarefa. Nesse grupo pode-se apontar, a nvel de exemplo, o Uncertainty
Analyser da ISGMax Co. [10] e o GUM WorkBench da MetroData GmbH [11], que possibilitam
o relacionamento das fontes de incerteza e o desenvolvimento do balano de incerteza. Entretanto,
apesar de facilitar a utilizao da sistemtica proposta pelo ISO-GUM, no se tem conhecimento de
programas que permitam a avaliao de incerteza para sistemas de medio automatizados, onde:
usual que se tenha componentes obtidos de diferentes fabricantes; h necessidade de representao
de modelos eltricos para anlise; e h falta de padronizao nas especificaes. Em razo disso,

este trabalho prope e analisa a aplicao de um prottipo para avaliao da incerteza de sistemas
de medio de temperatura.

1.3 OBJETIVOS DO TRABALHO

O presente trabalho tem o objetivo de propor um procedimento para avaliao e
gerenciamento da incerteza, visando contribuir com a garantia da confiabilidade metrolgica em
sistemas de medio de temperatura.
Desdobrando esse objetivo geral, definiu-se os seguintes objetivos particulares:

determinao das principais fontes de incerteza que devem ser consideradas na avaliao
de um sistema de medio automatizada de temperatura;

sistematizao da anlise de incertezas na medio de temperatura com transdutores

eltricos, dentro do contexto do ISO-GUM;

desenvolvimento de mecanismos que facilitam a avaliao da incerteza de sistemas de

medio de temperatura;

desenvolvimento de uma metodologia para auxlio na garantia das caractersticas

metrolgicas de um sistema de medio de temperatura desde a concepo at sua
aplicao.

1.4 ESTRUTURA DE APRESENTAO DO TRABALHO

As informaes encontradas neste documento so apresentadas da seguinte forma:
O Captulo 2 aborda aspectos relacionados confiabilidade metrolgica na medio de
temperatura. O captulo inicia apresentando os aspectos gerais da grandeza temperatura, forma de
garantia da rastreabilidade e importncia da Escala Internacional de Temperatura (International
Temperature Scale - ITS-90). Aps apresentada a metodologia para gerenciamento da incerteza
na melhoria da garantia da qualidade metrolgica de sistemas de medio de temperatura. Em
linhas gerais, a proposta permite o uso da informao da avaliao da incerteza para garantia das
caractersticas metrolgicas desde a concepo, ou especificao, de um instrumento, at a sua
implantao. Em seguida apresentada a sistematizao do procedimento para avaliao da
incerteza com base no ISO-GUM.
O captulo 3 relaciona as fontes de incerteza encontradas em um sistema de medio de
temperatura. Inicialmente apresentada a topologia de uma cadeia de medio e so identificados
os blocos tpicos: transdutores, alimentao, circuitos de condicionamento, converso analgico-

digital e apresentao do valor de temperatura medida. Posteriormente so apontadas as

caractersticas gerais e as fontes de incerteza inerentes a cada componente. Algumas fontes de
incerteza decorrentes do ambiente de medio so relacionadas. So tambm expostas as
caractersticas e as fontes de incerteza em instrumentos compostos: placas de aquisio,
multmetros digitais e termmetros digitais.
O captulo 4 apresenta o prottipo de um programa para auxlio na anlise de incerteza de
medio. So descritas as caractersticas gerais do prottipo, que composto por dois programas: o
DesignLab - PSpice da MicroSim Co., utilizado para quantificar as fontes de incerteza atravs de
modelos para clculo de incerteza, e o Excel da Microsoft Co. utilizado para avaliar todas as
incertezas padro e combinar essas incertezas para a determinao da incerteza expandida.
O captulo 5 expe uma anlise de caso na aplicao do gerenciamento de incerteza no
desenvolvimento de um sistema de medio de temperatura. O estudo de caso, realizado em uma
empresa de instrumentao do Reino Unido, se deu em um processo de medio de rendimento de
bombas hidrulicas, onde a medio da grandeza temperatura com baixa incerteza
impressindvel.
No captulo 6, as concluses do trabalho so apresentadas, mostrando vantagens e
dificuldades do procedimento proposto. So tambm apresentadas propostas de trabalhos futuros
dentro do tema desta dissertao de mestrado.

CAPTULO 2

ASPECTOS RELATIVOS GARANTIA DA CONFIABILIDADE

METROLGICA EM SISTEMAS DE MEDIO DE
TEMPERATURA
Genericamente, confiabilidade refere-se capacidade de um item (produto, processo ou
sistema) desempenhar uma funo requerida sob condies preestabelecidas em um perodo de
tempo definido. Em um sistema de medio, a confiabilidade metrolgica refere-se capacidade de
fornecer resultados de medies confiveis conforme condies de utilizao definidas [5], Em
ambiente industrial, diversos procedimentos deveriam ser aplicados para certificar o correto
funcionamento do sistema de medio, em especial nas medies das grandezas que mais
influenciam na qualidade do produto. objetivo deste captulo apresentar sistemas e metodologias
que auxiliam na garantia da confiabilidade metrolgica.
Assim inicialmente apresentada a definio da grandeza temperatura e a forma de garantir a
rastreabilidade da sua medio. Em seguida apresentado um modelo de gerenciamento de
incerteza para garantia da confiabilidade metrolgica, baseado no procedimento para
gerenciamento de incerteza (Procedure for Uncertainty in Measurement - PUMA) da ISO 142532 [12], Por fim feita uma reviso do procedimento para avaliao de incerteza apresentado pelo
Guia para a Expresso da Incerteza de Medio (Guide to the Expression of Uncertainty in
Measurement - ISO-GUM) [7], qual so adicionadas informaes complementares
particularmente importantes para a sistematizao da anlise de incertezas em sistemas de medio.

2.1 RASTREABILIDADE DA GRANDEZA TEMPERATURA

Apesar dos estudos acerca da grandeza temperatura serem bastante antigos, ela ainda no est
completamente entendida [13]. Diferente de outras grandezas fundamentais como massa, tempo e
comprimento, em que as unidades so fisicamente realizveis e independem das propriedades de
qualquer substncia, a grandeza temperatura baseada em um conjunto de condies encontradas
somente em sistemas tericos, como o gs ideal [14,15], A soluo encontrada para obter padres
de temperatura foi a utilizao de sistemas termodinmicos que se baseiam nas propriedades fsicas
dos materiais, realizando uma escala de temperatura bastante prxima da escala terica. Dessa
forma definida a Escala Internacional de Temperatura [16,17],

A primeira verso da escala internacional foi definida em 1927 e, aps diversas revises,
resultou na ltima escala vigente apresentada em 1990, denominada Escala Internacional de
Temperatura (International Temperature Scale - ITS-90) [16,18], Essa ltima reviso substituiu a
mais difundida escala no meio industrial, a Escala Prtica Internacional de Temperatura de 1968
(International Practical Temperature Scale 1968 - IPTS-68). Essa reviso foi necessria devido
grande quantidade de experincias realizadas em vrios laboratrios que demonstraram falta de
exatido nas determinaes prvias dos valores de temperatura padro em comparao com o valor
terico termodinmico [18].
A escala padro proposta pela ITS-90 constituda, em primeira instncia, por diversos
pontos de temperatura padro entre -268,15C a 1084,62C, obtidos durante o estado de equilbrio
gerado na transformao de fase de determinado material. Os pontos fixos so obtidos atravs de
dispositivos (clulas) que garantem as condies necessrias para gerar o ponto termodinmico
(evaporao, triplo, fuso ou solidificao) do material utilizado. A Tabela 2.1 relaciona as
temperaturas obtidas com os materiais e os estados definidos pela ITS-90 [16],
Tabela 2.1 - Pontos fixos de temperatura da ITS-90
Composto
Qumico

Estado (*)

hlio (He)
hidrognio [e-H2(#)]
hidrognio je-H2(#)]
hidrognio [e-H2(#)]
nenio (Ne)
oxignio (0 2)
argnio (Ar)
mercrio (Hg)
gua (H20 )
glio (Ga)
ndio (In)
estanho (Sn)
zinco (Zn)
alumnio (Al)
prata (Ag)
ouro (Au)

PV
PT
PV(&)
PV(&)
PT
PT
PT
PT
PT
PF
PS
PS
PS
PS
PS
PS
PS

^jobrej^Cu^

Temperatura
kelvin ( K )
^rau^Celsius^C^
-270,15 a -268,15
3a5
-259,3467
13,8033
-256,15
17
-252,85
20,3
-248,5939
24,5561
-218,7916
54,3584
83,8058
-189,3442
-38,8344
234,3156
273,16
0,01
302,9146
29,7646
156,5985
429,7485
505,078
231,928
419,527
692,677
933,473
660,323
1234,93
961,78
1064,18
1337,33
1357,77
1084,62

(*) PV: Ponto de Evaporao; PT: Ponto triplo; PF: Ponto de fuso; PS: Ponto de solidificao.
(#) e-H2indica hidrognio em equilbrio. (Vide ITS-90 [16]).
(&) os diferentes valores de hidrognio PV dependem do mtodo de obteno do estado

Em segunda instncia, termmetros especiais so utilizados para interpolao entre os pontos

fixos. Esses termmetros so: termorresistor padro de platina (Standard Platinum Resistance
Temperature - SPRT), como elemento interpolador entre o ponto triplo do hidrognio e o ponto de

solidificao da prata; os termmetros a presso de vapor (0,65 K a 3 K) e os termmetros de gs a

volume constante (3 K a 24,5561 K), para temperaturas abaixo do ponto triplo do hidrognio; a
equao da radiao de Planck com auxlio de corpos negros e pirmetros de radiao, para
temperaturas acima do ponto de solidificao da prata [19].
Para realizar a converso entre as escalas IPTS-68 e a ITS-90 foi determinado um polinmio,
cuja diferena entre as escalas apresentada na Figura 2.1. Mostra-se que a diferena entre escalas
para temperaturas abaixo de 1000C no ultrapassa a 0,4C e entre 0C e 200C, o erro inferior a
0,04C [16]. A converso entre as duas escalas pode ser realizada por uma tabela ou por um
polinmio apresentado na ITS-90 [16], Assim, deve-se levar em considerao a verso da escala
que serviu de base para a calibrao de um transdutor ou para elaborao de tabelas padronizadas
de converso para termopares.

Temperatura (C)

Figura 2.1 - Diferena entre as escalas ITS-90 e IPTS-68

A cadeia de rastreabilidade em temperatura ilustrada na Figura 2.2. A calibrao com
pontos fixos o mtodo que atinge a menor incerteza, sendo considerado o padro primrio de
temperatura. A incerteza da calibrao determinada em funo da presena de impurezas no
elemento qumico utilizado e das variaes encontradas na medio [20], Dentro da faixa de
24,5561 K a 1234,93 K, o SPRT utilizado como transdutor padro para calibrao por
comparao. Para ser considerado um SPRT, o termorresistor deve cumprir os requisitos descritos
pela ITS-90 [19], Os termorresistores padres se apresentam geralmente com resistncias nominais
de 0,25 Q; 2,5 Q e 25 Q, temperatura de referncia de 0C, e possuem pequenos erros em relao

 resposta ideal, em decorrncia da alta pureza e da montagem e encapsulamento que reduzem a

influncia por efeitos mecnicos [18], No INMETRO (Instituto Nacional de Metrologia,
Normalizao e Qualidade Industrial), uma publicao de 1994 apontou uma incerteza de 3 mK na
calibrao de SPRT [21],
Demais termmetros, na faixa de 24,5561 K a 1234,93 K, so calibrados por comparao
com os SPRT. A comparao realizada a uma temperatura de referncia estvel para calibrao
obtida por banhos com blocos equalizadores ou fluido circulante com temperatura controlada
[22,23], Nesse caso, alm das incertezas referentes ao transdutor padro e sistema de medio,
deve-se levar em considerao, principalmente, a estabilidade do banho e gradientes de
temperatura entre os transdutores (homogeneidade interna) [22,23],
Incerteza inicial do
padro

In certeza final da
C A L IB R A O

Figura 2.2 - Cadeia de rastreabilidade para medio de temperatura

2.2 GERENCIAMENTO DA INCERTEZA EM SISTEMAS DE MEDIO

DE TEMPERATURA
O gerenciamento de incerteza proposto por este trabalho uma metodologia de
especificao, controle metrolgico e aprimoramento de sistemas de medio baseado na
informao proveniente da anlise de incertezas.
baseado em um procedimento iterativo de identificao e reduo das principais fontes de
incerteza encontradas em um sistema de medio, at que a incerteza expandida atinja um valor
alvo desejado. O detalhamento alcanado na avaliao da incerteza de medio fornece subsdios

10
para a tomada de decises sobre as aes para garantir a confiabilidade metrolgica do processo de
medio.

2.2.1 Procedimento para gerenciamento de incerteza (PUMA)

O conceito de gerenciamento de incerteza foi introduzido atravs da norma ISO 14253-2,
sendo o procedimento especfico denominado PUMA (Procedure for Uncertainty Management)
[12], Esse procedimento foi desenvolvido para especificao de produtos geomtricos e visa
auxiliar no gerenciamento de instrumentos e na avaliao de incerteza para a norma ISO 14638
[24],
O PUMA, segundo a norma, inicia com a definio da tarefa de medio e a incerteza alvo
(Ut) e segue o roteiro (Figura 2.3):
a) escolher o princpio de medio;
b) definir o mtodo, procedimento e as condies de medio;
c) avaliar a incerteza padro das componentes, completando uma iterao;
d) comparar a incerteza expandida estimada ( U e ) com a incerteza alvo ( U t ):
d. 1) se U e aceitvel ( U e ^ U t) , ento o sistema de medio est conforme;
d.2) se Ue Ut , ento o sistema de medio e suas condies de medio so aceitveis, mas
alguns requisitos podem ser modificadas para reduzir custos. Uma nova iterao ir
determinar o Ue final;
d. 3) se Ue no aceitvel (Ue > Ut),

processo iterativo continua;

e) avaliar as fontes de incerteza, identificando as que mais contribuem para a incerteza resultante;
f) se Ue > Ut, modificar o sistema de medio ou aprimorar o conhecimento sobre as fontes de
incerteza, dando nfase nas predominantes;
g) realizar nova iterao para avaliao da incerteza;
h) quando as possibilidades de reduo da incerteza comeam a se tomar escassas, analisar
mudanas no mtodo, no procedimento ou nas condies de medio;
i) se mudanas no mtodo, procedimento ou condies no satisfazem a condio de aceitao,
mudanas no princpio devem ser consideradas. Iniciar novamente o projeto e a avaliao da
incerteza;
j)

se as mudanas no princpio no conseguiram reverter a situao, a tarefa de medio ou a

incerteza alvo devem ser revisadas. Iniciar o procedimento novamente;

k) se mudanas na tarefa de medio e na incerteza alvo no so possveis, no existe condies

de se atingir a incerteza alvo.

Figura 2.3 - Procedimento de Gerenciamento de Incerteza (PUMA / ISO 14253-2)

[obs: a numerao indicada os blocos utilizada no item 2.2.2.1 deste documento]

2.2.2 Gerenciamento da incerteza para melhoria da confiabilidade

metrolgica
Com base na filosofia proposta pelo PUMA, propem-se neste trabalho um procedimento de
gerenciamento de incerteza voltado para a garantia da confiabilidade metrolgica de sistemas de
medio de temperatura. Esse procedimento de gerenciamento da incerteza permite acompanhar as
caractersticas crticas do sistema de medio desde o projeto at a aplicao em campo. Assim
incertezas avaliadas separadamente so transportadas para outras avaliaes, tomando o
procedimento consistente. Essa situao expressa na Figura 2.4.

12

Figura 2.4 - Sistema de gerenciamento de incerteza para um processo de medio

O gerenciamento da incerteza utilizado durante a fase de projeto permite identificar as
principais fontes de incerteza do sistema de medio e, atravs de diversas aes, reduzir essas
fontes para nveis permitidos. Essas informaes devem fazer parte da documentao do
instrumento ou sistema de medio e permitir serem acessadas para avaliaes na composio do
balano para o processo de medio.
O balano de incertezas do processo de medio incorpora as avaliaes realizadas a priori
como, por exemplo, as informaes provenientes dos instrumentos, a avaliao dos efeitos da
instalao e aplicao e a incerteza do procedimento de medio. Tambm incorpora a anlise da
incerteza do processo, onde o avaliador pode especificar as calibraes necessrias tanto para
reduzir determinadas fontes de incerteza como para garantir a incerteza estimada. Uma vez que a
avaliao da incerteza atinge o valor exigido pela especificao, ento o sistema de medio
colocado em funcionamento e o acompanhamento das principais fontes de incerteza fornecem
indicaes de que o sistema de medio continua dentro das condies projetadas.
Esse procedimento pode ser subdividido nas seguintes fiines:
a) projeto e desenvolvimento de sistemas de medio baseados na incerteza de medio;
b) especificao e seleo de sistemas de medio;

13
c) qualificao de fontes de incerteza para o sistema de medio;
d) acompanhamento contnuo das fontes principais de incerteza;
e) avaliao formal da incerteza de medio.
A seguir sero apresentadas, com mais detalhes, as aplicaes do gerenciamento de incerteza
dentro do sistema de garantia da confiabilidade.
2.2.2.1 Projeto e desenvolvimento de sistemas de medio
A aplicao do gerenciamento de incerteza em projeto e desenvolvimento de sistemas de
medio, apresentado em [25,26], tem o objetivo de fazer com que o sistema, na sua forma final,
possua as caractersticas metrolgicas garantidas durante a fase de projeto.

uma avaliao

realizada a priori que deve ser conduzida em conjunto com o projetista, de forma a torn-la mais
eficaz.
O processo para projeto e desenvolvimento baseado na incerteza de medio composto por
quatro passos bsicos (Figura 2.5):
a) especificaes metrolgicas e operacionais: nesta etapa so definidas as caractersticas
do sistema de medio. Do ponto de vista metrolgico, os parmetros normalmente envolvidos so
a faixa de medio, o erro mximo admissvel e o tempo de resposta do instrumento [3,27],
Tambm so definidos o princpio, o mtodo, o procedimento e as condies de medio
[12,28,29], Com relao s caractersticas operacionais, Cook [30] apresenta um documento que
auxilia na determinao dos requisitos. O passo 1 (Figura 2.5) engloba as etapas 1 a 6 do PUMA
(Figura 2.3).
b)

projeto do sistema de medio: as caractersticas especificadas so desdobradas e

sintetizadas atravs do projeto do sistema de medio. O procedimento de sntese pode ser

realizado atravs das etapas bsicas de projeto de equipamentos eletrnicos [31], O passo 2 (Figura
2.5) evidenciado aqui no aparece no diagrama do PUMA (Figura 2.3).
c) avaliao de incerteza de medio: uma vez determinado o sistema de medio, uma
anlise da incerteza realizada e aponta quais so as principais fontes de incerteza. Esse passo 3
(Figura 2.5) equivale etapa 7 do PUMA (Figura 2.3). Se a incerteza expandida atingida, ento o
sistema de medio est de acordo com as caractersticas de projeto e se deve relatar a incerteza
atingida (passo 5 da Figura 2.5). Se a incerteza no for alcanada, deve-se verificar se modificaes
podem ser realizadas; caso no seja possvel realizar modificaes, o procedimento se encerra
relatando que a incerteza alvo no pode ser atingida (passo 6 da Figura 2.5); em caso haver

14
possibilidade de melhoria, uma nova iterao poderia ser aplicada para tentar reduzir a incerteza
(passo 4 da Figura 2.5).
d)

Reduo das maiores fontes de incerteza: atravs de uma avaliao das fontes de

incerteza individuais, as principais fontes so apontadas e iro determinar onde se deve atuar para
reduzir a incerteza final (incerteza padro combinada). O processo pode modificar o projeto,
construo ou especificaes de componentes do sistema de medio; modificar o princpio,
procedimentos, mtodos ou condies de medio; levar a uma avaliao mais detalhada da
incerteza de medio ou redefinir o valor da incerteza alvo. O critrio de mudana deve basear-se
na escolha de menor custo para o projeto. O passo 4 (Figura 2.5) equivale s etapas 8 a 11 do
PUMA (Figura 2.3).
O bom senso deve ser sempre utilizado pois, dependendo do custo ou das restries
operacionais, o projeto pode ser inviabilizado, mesmo atingindo a incerteza alvo.

Figura 2.5 - Etapas do procedimento de gerenciamento da incerteza em projeto

2.2.2.2 Especificao e seleo de sistemas de medio
O procedimento descrito para projeto e desenvolvimento de sistema de medio pode
tambm ser utilizado para realizar a especificao e seleo de mdulos de um sistema de medio
de temperatura. As principais diferenas so :

15
a) o projeto da cadeia de medio pode, na maioria da vezes, basear-se na composio da
cadeia com instrumentos compostos (fontes completas de corrente, multmetros, placas de
aquisio de dados, etc), em vez de circuitos eletrnicos baseados em componentes integrados;
b) a quantidade de informaes fornecidas pelos fabricantes menor e exige que a avaliao
deva ser mais criteriosa, necessitando estimar a falta de algumas fontes de incerteza no
especificadas nas caractersticas do equipamento;
c) a avaliao da incerteza para essa aplicao tende a ser mais rpida, devido a compactao
da informao disponvel.
2.2.2.3 Avaliao quantitativa das incertezas para sistemas de medio
A avaliao quantitativa consiste em confirmar ou determinar certos parmetros do sistema
de medio que possuam maior influncia no resultado da avaliao. Esse procedimento
realizado em laboratrio ou em campo atravs de ensaios especiais e confirma a avaliao da
incerteza atravs de medies.
A especificao dos parmetros que devem ser quantificados experimentalmente depende das
caractersticas que mais influenciam no balano de incerteza. Aqueles de maior influncia so
selecionados no intuito de verificar se o sistema de medio est dentro das especificaes.
Esse procedimento pode ser aplicado para a verificao de conformidade de instrumentos
atravs da calibrao, onde o erro mximo admissvel pelo balano de incerteza de um instrumento
comparado com o erro mximo avaliado proveniente da calibrao [5],
2.2.2.4 Acompanhamento contnuo de sistemas de medio
O acompanhamento consiste em verificar se as principais caractersticas (maiores incertezas)
esto dentro dos valores especificados para o ambiente de utilizao.
Neste caso, padres simples de temperatura (banho de gelo ou clulas portteis) ou medies
de outras grandezas de influncia (temperatura ambiente ou umidade) podem ser utilizados para
confirmar que o sistema ainda garante a incerteza de medio especificada. Cartas de controle
estatstico podem ser aplicadas para determinar as condies em que se encontram o instrumento
[5,32]. A Figura 2.6, apresenta um exemplo de acompanhamento da mdia e da incerteza ao longo
do tempo.

16
Limite Superior
de Controle v

Tempo

Legenda
Instrumento fora dos limites de controle (1) e (5)
Instrumento dentro dos limites, mas com probabilidade _ _ _ ^ jncerteza ^950/^
de estar fora de especificao (2)
I
Instrumento dentro dos limites (3) e (4)
Valor medido

Figura 2.6 - Acompanhamento do sistema de medio

As informaes obtidas com esse acompanhamento podem ser utilizadas para determinar: o
intervalo entre calibraes; a variao com o tempo; os limites das grandezas. A realimentao
dessas informaes pode ser utilizada para melhorar a confibilidade da avaliao da incerteza.
2.2.2.5 Avaliao forma/ da incerteza
A utilizao da metodologia proposta pode gerar um documento que formaliza o processo de
avaliao, deixando as informaes disponveis para anlises posteriores. Aplicando o
procedimento de gerenciamento da incerteza para esse fim, somente as iteraes relativas aos
blocos 9 a 11 da Figura 2.3 no so utilizados.

2.3 PROCEDIMENTO DE AVALIAO DA INCERTEZA

Um dos pontos mais importantes no processo de gerenciamento da incerteza a realizao da
avaliao da incerteza de medio. atravs dela que so identificadas as fontes de incerteza
crticas para a garantia de qualidade metrolgica. Entretanto, a falta de padronizao na realizao
da avaliao da incerteza leva a resultados que no permitem comparao ou mesmo transposio
para outros balanos de incerteza. Assim, a necessidade de um procedimento prontamente
implementado, facilmente compreendido e de aceitao geral para caracterizar a incerteza de
medio culminou na criao do Guia para a Expresso da Incerteza de Medio (Guide to the
Expression of Uncertainty in Measurement - ISO-GUM) [7], Esse guia foi lanado em 1993 e
resultado de um trabalho realizado por grandes organizaes como o BIPM (Bureau International

17
des Poundes et Mesures) e a ISO (International Organization for Standardization), tendo uma
penetrao mundial em vrios setores cientficos e industriais.
OISO-GUM tem a finalidade de estabelecer regras gerais para avaliar e expressar a incerteza
de medio que podem ser seguidas em vrios nveis de exatido e em vrios tipos de aplicaes
[7], Entretanto, por causa dessa caracterstica de generalidade, a sua aplicao dentro das diversas
reas necessita da realizao de um trabalho de compatibilizao para que seja possvel englobar as
particularidades de cada processo de medio. Nesse sentido, apresentado a seguir o
procedimento da anlise de incerteza voltado para sistemas de medio de temperatura,
acompanhado de recomendaes e esclarecimentos que auxiliam o desenvolvimento desse
procedimento.

2.3.1 Procedimento de avaliao da incerteza aplicado a sistemas de

medio
O procedimento proposto pelo trabalho para avaliao de sistemas de medio, baseado no
ISO-GUM [7], tem a seqncia de atividades abaixo:
1. desenvolver o modelo do sistema de medio;
2. identificar a resposta nominal do sistema de medio;
3. identificar as fontes que mais influenciam na estimativa da incerteza;
4. determinar a influncia causada por cada fonte de incerteza;

5. transformar o desvio em fonte de incerteza de avaliao tipo A ou B;

6. avaliar a incerteza combinada;
7. determinar a incerteza expandida;
8. relatar resultado da medio.
A seguir est detalhado cada um dos passos referentes avaliao da incerteza de medio.
2.3.1.1 Modelo do sistema de medio
O modelo obtido atravs do equacionamento dos blocos existentes na cadeia de medio
como um todo. A funo apresenta a seguinte forma:
y = f ( x i , x 2,x 3,...,x,T)
( 2.1 )

Onde:

y - resposta nominal da cadeia;

x]..xn - parmetros de influncia;
n - quantidade de fontes de influncia;

18
T - temperatura a ser medida.
As equaes so obtidas atravs de relaes termodinmicas e conduo de calor [33,34] e de
anlise de circuitos eletrnicos [31,35,36] para a modelagem do transdutor e da cadeia de medio,
respectivamente.
Geralmente, em cadeias de medio de temperatura, a maneira mais comumente utilizada
para model-la atravs de funes encadeadas, como apresentado na Equao ( 2.2 ) [37],

( 2-2 )
onde:

y - resposta nominal;
funes que relacionam entrada e sada;
T - temperatura a ser medida.

Dependendo do modelo utilizado, as funes podem ser:

a) equaes algbrica: que relacionam o sistema entre entrada e sada aps o sistema entrar
em equilbrio (regime permanente) [37,38]
b) equaes diferenciais: que representam a relao entrada e sada em relao ao tempo,
mostrando a dinmica do sistema. Em geral, as equaes so transformadas para o domnio da
freqncia atravs da transformada de Laplace, sendo ento denominadas funes de
transferncia [37,39],
A utilizao de um ou outro tipo de modelo definido pela dinmica do processo a ser
medido e da resposta do sistema de medio. Em geral a abordagem atravs de equaes algbricas
utilizada devido ao grande emprego das cadeias em medies estticas ou de dinmica lenta e
facilidade do desenvolvimento da anlise [40],
2.3.1.2 Determinao da resposta nominal do sistema de medio
Desenvolvido o modelo, o valor esperado da cadeia de medio para uma dada temperatura
determinado utilizando-se parmetros ideais ou que representem o sistema de medio.
Se esse procedimento for repetido para diferentes valores de temperatura, possvel se obter
uma estimativa da resposta da cadeia para uma faixa de medio de interesse e, posteriormente,
analisar a incerteza ao longo da faixa.
A definio da quantidade de pontos ao longo da faixa de medio foge dos objetivos deste
trabalho. Tal tarefa ficar a cargo do avaliador, tendo em mente que um balano de incerteza deve
ser realizado para cada ponto de medio avaliado.

19
2.3.1.3 Identificao das fontes de incerteza
A identificao das fontes de incerteza que devem ser consideradas na anlise do sistema de
medio uma tarefa bastante crtica. Uma fonte de incerteza expressiva no considerada pode
comprometer todo o processo de avaliao da incerteza. O ISO-GUM recomenda que para uma
primeira estimativa, onde no se possuem informaes sobre o processo a medir, que a maior
quantidade possvel de fontes sejam relacionadas e avaliadas e, somente aps conhecer o grau de
contribuio na incerteza completa, pode-se desprezar as incertezas menos significativas como
forma de simplificao em avaliaes futuras [7],
Uma forma sistematizada de listar as fontes de incerteza consiste em agrup-las de acordo
com os blocos funcionais da cadeia de medio, como mostrado na Tabela 2.2. O campo
comentrio reservado para documentar informaes adicionais relativas fonte de incerteza
como, por exemplo, a fonte de informao e as condies de contorno utilizadas.
Tabela 2.2 - Listagem de fontes de incerteza
Bloco
Transdutor

Mostrador

Erro mximo

Comentrio
Coeficiente auto-aquecim.: 10 mW/K
Corrente de teste: 1 mA
Obtido da norma IEC 751

Incremento Digital

Resoluo do mostrador: 1 mK

Fonte de incerteza
Auto-aquecimento

2.3.1.4 Quantificao das fontes de incerteza

Aps enumerar as fontes de incerteza, deve-se determinar qual a magnitude da incerteza. A
incerteza pode ser avaliada de trs formas:
a) Conhecimento a priori:
caracterizado por qualquer tipo de informao que se possa utilizar a respeito da medio.
Em geral, grande parte das informaes extradas provm dessa forma de informao. Dentre essas
formas deve-se destacar:

Folha de dados do fabricante (dato sheets):

Uma das principais fontes de informaes para avaliao de incerteza em sistemas de

medio encontra-se nos catlogos tcnicos dos fabricantes dos equipamentos (Data Sheets).
Geralmente apresentam informaes necessrias para caracterizar a melhor utilizao do

20
dispositivo e permitir a avaliao do resultado esperado. ttulo de contribuio para trabalhos
futuros, so descritos alguns termos tpicos da eletrnica encontrados em catlogos de fabricantes e
que frequentemente geram dvidas na sua interpretao [41]:
Valores tpicos e nominais: so valores utilizados para representar as caractersticas
de todo um grupo. Para express-la, fabricantes utilizam diferentes tipos de valores
resumidos. Os mais usados so: moda (ou pico), mdia e mediana. Quando a
distribuio que representa a grandeza centrada entre seus limites, esses valores so
praticamente coincidentes. Entretanto, se uma distribuio deslocada do centro
como mostrado na Figura 2.7, esses valores podem diferenciar-se consideravelmente.
Em geral, o valor de pico utilizado como dado apresentado no catlogo. A anlise da
folha de dados e o questionamento aos fabricantes so muitas vezes necessrios para
esclarecimento do tipo de informao fornecida.
Limites (mx/mn): so valores garantidos pelo fabricante dentro das condies de
teste especificadas. Geralmente so os nicos parmetros medidos durante a produo
e que servem de parmetros de aceitao para o usurio. Esses valores podem ser
determinados' atravs de medies realizadas em alguns pontos crticos da faixa ou
atravs de estimao por equaes ou correlaes j consagradas. Assim, a utilizao
de valores mximos e mnimos geralmente levam a fornecer as condies de pior caso
para o componente em anlise. Tambm pode-se notar que as distribuies podem
perder o carter de normalidade, devido excluso da populao de elementos que
ficam fora da faixa delimitada.
Garantido por projeto: o valor apresentado como Garantido por projeto provem
de anlises de robustez por pior caso sob condies extremas e so difceis de realizar.
Esse termo utilizado para caractersticas que so difceis de medir, como por
exemplo dependncia com temperatura ou caractersticas dinmicas. Os parmetros
com essa indicao so parmetos cujos valores apresentam grande confiabilidade.
Testado por amostragem: garantido atravs de amostragem. Nesse caso, a
confiabilidade se reduz mas, como prtica comum a rejeio do lote ou a realizao
de teste 100% se algum componente falhar, a probabilidade de no cumprir a
especificao e geralmente pequena e estatisticamente previsvel.

21
Pico
Mediana
Mdia

Valor mdio

Valor

lliisiii%^.

Figura 2.7 - Especificaes e sua relao com distribuies de fabricao

Infelizmente, nem todos os fabricantes tm a preocupao de apresentar uma folha de dados
com todas as informaes necessrias para a realizao de uma anlise completa de incerteza.
prtica comum a apresentao de valores tpicos para uma dada temperatura ambiente, mesmo que
as caractersticas possam se modificar consideravelmente ao longo da faixa de trabalho de
temperatura. Esse tipo de especificao pode propiciar uma modificao muito grande na avaliao
da incerteza. Dessa forma, se a anlise preliminar indicar uma grande influncia de um parmetro
inexistente ou no devidamente avaliado, somente o contato direto com o fabricante do dispositivo
ou um estudo mais detalhado empregando modelos tericos, experimentao ou, quando vivel,
simulao numrica pode assegurar a correta avaliao dessa fonte de incerteza.

Normas, artigos de congressos e revistas, relatrios tcnicos, livros:

So documentos que informam caractersticas importantes de certas partes do sistema de

medio ou do funcionamento conjunto. Eles podem delimitar faixas mximas de variao,
informar resultados tericos e experimentais sob condies diversas, apresentar procedimentos de
medio e anlises de processos similares, comparaes entre diversos equipamentos de diferentes
fabricantes, alm de outras informaes adicionais sobre funcionamento, construo e processo de
fabricao.
Assim, a verificao constante desses documentos faz com que muitas informaes possam
ser aproveitadas na anlise sem dispndio de tempo no estudo de determinada caracterstica.
Entretanto alguns cuidados devem ser tomados na sua utilizao, pois esses documentos so
escritos de acordo com o estado da arte de determinado momento e as informaes podem estar
desatualizadas. Assim, uma procura cuidadosa, visando estabelecer o estado da arte, sempre
desejvel.

22

Experincia do avaliador:

A experincia humana pode tambm ser considerada como uma fonte de informao valiosa.
A anlise baseada no conhecimento do avaliador, que possui anos de trabalho no setor, pode
apresentar uma melhor avaliao da incerteza do que a avaliao realizada por estudos em sistemas
similares ou em condies ideais. Entretanto, a utilizao dessas informaes deve estar embasada
em provas (atravs de dados levantados ou relatrios tcnicos) ou pelo menos de que haja
indicaes da sua veracidade.

Qualquer informao disponvel deve ser considerada para auxiliar na avaliao da incerteza.

b) Experimentao:
Quando as informaes necessrias no esto disponveis, ou a anlise inicial indica uma
forte influncia de alguma fonte no perfeitamente quantificada, a experimentao pode ser
utilizada para melhorar sua caracterizao.
A experimentao consiste na obteno da informao da grandeza de influncia diretamente
atravs de medies com instrumentos ou atravs da utilizao de outros aparelhos e dispositivos
que viabilizem a medio indireta dentro da incerteza requerida.
Entretanto, a utilizao de experimentao implica, na maioria das vezes, dispndio de tempo
e recursos para realizar o projeto, montagem, execuo, anlise de problemas e avaliaes de
incertezas. Uma anlise criteriosa deve ser realizada para comprovar metrolgica e financeiramente
a necessidade do experimento.
Se esses requisitos forem cumpridos, a avaliao realizada atravs de experimentao pode
trazer informaes importantes para reduzir o valor avaliado da incerteza.

c) Simulao Numrica
A simulao numrica uma tcnica utilizada para conduo de experimentos em
computadores digitais, a qual envolve modelos matemticos e lgicos que descrevem o
comportamento de um sistema real [42,43],
Esse tipo de avaliao pode juntar as facilidades da anlise terica com a potencialidade dos
resultados obtidos com experimentao. O uso da simulao pode auxiliar na determinao de
incertezas representativas de difcil determinao experimental ou terica, como, por exemplo, na

23
estimao da incerteza causada pela insero de um transdutor em um tubo de proteo, ou na
avaliao da influncia de integrao de diversas resistncias com diferentes tolerncias cadeia de
medio.
Essa tcnica tambm possui suas restries de uso [43]:

definio incorreta do modelo matemtico do sistema a ser analisado: um modelo

com nvel de detalhes insuficientes ou que no expressem o sistema real podem levar a
uma avaliao incorreta;

erro numrico: a simulao realizada atravs de computadores apresentam limitaes

como a preciso numrica utilizada nos clculos do modelo e o algoritmo utilizado para
o clculo, que afetam os resultados do sistema;

erro no gerador de nmeros aleatrios: os nmeros aleatrios so utilizados em

simulao para representar uma varivel aleatria encontrada em sistemas reais.
Dependendo do algoritmo utilizado para gerao do nmero e da semente aplicada
(nmero arbitrrio utilizado para gerar a seqncia de nmeros aleatrios em
computador), os resultados podem apresentar tendncias que invalidam o critrio de
aleatoriedade e, consequentemente, a validade das concluses;

baixa quantidade de amostras: a simulao baseada na realizao de amostras e

anlises estatsticas. Portanto, problemas amostrais interferem no resultado de medio
e, se no levados em considerao, podem levar a erros de avaliao;

problemas do algoritmo de simulao: so provenientes de problemas no programa de

simulao (no relacionados ao modelo), consideraes indevidas no modelo ou falta de
conhecimento do sistema real. Uma anlise crtica dos resultados pode apontar o tipo de
problema e a experincia pode apontar a forma de contorn-lo.

2.3.1.5 Transformao em incerteza padro

Quantificada a fonte de influncia, deve-se determinar a forma de converso dessa em
incerteza padro para tomar possvel a combinao das influncias. Segundo [7], existe duas
maneiras de avaliar uma fonte de incerteza:
a)

incerteza de avaliao tipo A (estatstica): resultante da anlise estatstica de uma srie

de observaes. O valor da grandeza obtido atravs da mdia aritmtica do valor de medio (q) e
a incerteza correspondente determinada pelo desvio padro da mdia (s(q)). As equaes ( 2.3 ) e
(2.4 ), expem a forma de clculo, respectivamente [7],

24
1 n
9 = ~ Z Vk
n k=l

(2 .3 )

5 ()= S te )
4n

\ (-!) *=i
(2 .4 )

onde:

qk - valor da medies;
n - nmero de medies realizadas.

Os graus de liberdade so iguais a n-1, no caso em que as n observaes so consideradas

independentes.
Outros mtodos estatsticos tambm podem ser utilizados para realizar uma avaliao tipo A
como a anlise de varincia (ANOVA) ou regresso linear. Nesse caso, deve-se recorrer literatura
para determinar a forma de obteno da incerteza [44], No anexo G do ISO-GUM encontra-se um
exemplo deste tipo de avaliao.

b) incerteza de avaliao tipo B: resultante de outras formas de avaliao diferentes da

r

avaliao tipo A, contendo informaes baseadas em um julgamento cientfico. Utiliza-se todas as

informaes disponveis, as quais podem incluir:

dados de medies anteriores e especificaes de fabricantes;

dados provenientes de calibraes, normas e relatrios;

investigao terica de resposta da cadeia de medio;

conhecimento do comportamento e propriedades dos instrumentos;

demais informaes relevantes anlise.

As incertezas tipo B podem assumir vrias distribuies, como mostrada na ISO-3435 [45],
Entretanto, segundo o relatrio tcnico ISO 14253-2 [12], recomenda-se as seguintes distribuies:
a)

Normal: apresenta uma maior probabilidade de ocorrncia no centro da distribuio.

geralmente utilizada quando provm de dados de avaliaes anteriores como calibrao ou outras
avaliaes de incerteza. Se os limites de a so definidos para 95% de nvel de confiana, a
incerteza padro desta distribuio dada pela equao ( 2.5 ).

Triangular: utilizada quando a incerteza est limitada entre dois extremos e possui

b)

maior probabilidade de estar localizado no centro da distribuio. A equao ( 2.6 ) calcula a

incerteza padro da distribuio.
c) Retangular: utilizada quando se possui os limites extremos da variao da grandeza e
existe igual probabilidade de apresentar qualquer valor dentro dos limites. O clculo apresentado
pela equao (2.7 ).
d) U: este tipo de distribuio aplicada quando se supem que haja uma maior
concentrao de eventos nos limites da distribuio do que no centro. A equao (2.8) determina a
forma de clculo da incerteza padro para os limites a.

ux

a
2

(2.5)

Figura 2.8 - Tipos de distribuies utilizadas em avaliao da incerteza

2.3.1.6 Combinao de incertezas para determinao da incerteza padro
A incerteza padro combinada (uc) determinada a partir das incertezas individuais avaliada,
na sua forma mais abrangente, pela equao ( 2.9) [7]:

(2 .9 )
onde:

u(x) - incerteza individual da grandeza x,;

dy/xi - coeficiente de sensibilidade da grandeza x ;
r(Xi,Xj) ~ coeficiente de correlao (-1 < r(xhxj) < 1);
N - nmero de fontes de incerteza

26
Para aplicao dessa equao na anlise de sistemas de medio, deve-se realizar as seguintes
observaes para obteno dos coeficientes de sensibilidade e de correlao.
a) Coeficiente de sensibilidade:
Indica o grau de influncia que determinadas variveis tm na incerteza combinada. A
determinao por derivadas parciais pode trazer algumas complicaes para o clculo direto por
computadores. Uma forma de permitir o clculo consiste na utilizao de uma aproximao pelas
diferenas, mostrada na equao ( 2.10) [46]:
y

Ay _ y(xi +Axi ) - y ( x i )

xj

Axj

Axj

( 2 .1 0 )
Como u(xj) geralmente calculado como Ax;, a seguinte relao pode ser derivada:
Qy
-r ^ u (x i ) * y ( x l ,x 2,..,xi + u(xi ),..,x )-y (x l ,x 2,..,xh ..,xn )
Xj
( 2 .1 1 )
Esta aproximao vlida se a equao y(xI,x2,...,xn) for linear ou u(x) for bastante pequeno
se comparado com xt. Em alguns casos esse mtodo pode no ser considerado prximo o suficiente
para ser utilizado. Entretanto, o mtodo proporciona uma incerteza aceitvel para propsitos
prticos quando consideradas as aproximaes utilizadas para determinar o valor da incerteza [46],
b) Coeficiente de correlao:
O coeficiente de correlao ( r(xuxj) ) indica se a mudana em uma fonte de incerteza acarreta
mudana em outra fonte de incerteza [7], Ela pode ser calculada atravs da equao:
u(Xi, Xj )
r(Xj , X; ) = --------------u(x, ).u(Xj )
(2.12 )
e com u(Xj,Xj) definido como:

(2 .1 3 )
Essa avaliao do coeficiente de correlao somente pode ser obtida para avaliaes do tipo
A. No caso de avaliaes tipo B, os ndices de correlao devem ser baseados no conhecimento do
avaliador e arbitrados entre -1 e 1.

27
No caso de somente ser utilizado os valores de -1, 1 ou 0 para expressar incertezas de
correlao inversa, de correlao direta e no correlacionadas, respectivamente, a incerteza ser
determinada pela soma algbrica das incertezas correlacionadas e a soma quadrtica das fontes no
correlacionadas. Se as fontes de incerteza avaliadas no forem correlacionadas (r(xj,xj) zero), o
segundo termo da equao ( 2.9 ) desaparece e a incerteza combinada , ento, determinada pela
soma quadrtica das incertezas padro.
2.3.1.7 Determinao da incerteza expandida
A incerteza expandida representa o intervalo sobre o qual deve conter o valor da medio (y)
com um dado nvel de confiana. O valor da incerteza expandida (U) obtida atravs da equao:
U = k.uc(y)
(2.14)
O fator de abrangncia (k) depende dos graus de liberdade efetivos do balano de incerteza
(eff) e do nvel da confiana utilizado [7]. OISO-GUM prope a Equao (2.15 ) para determinar
os graus de liberdade efetivos, denominada frmula de Welch-Satterhwaite [7]:
=

( y

i=l
(2.15)
Definidos os graus de liberdade, utiliza-se o coeficiente de Student (t) com o nvel de
confiana calculado fazendo k = tp(ueff). O ISO-GUM apresenta os valores a serem utilizados para
os graus de liberdade efetivos [7],
No caso em que uma incerteza de avaliao tipo B no permite atribuir um grau de liberdade
elevado (t>, -

oo),

o que em outras palavras significa admitir a possibilidade de ocorrncia de

eventos fora do intervalo determinado pela distribuio e seu desvio padro atribudo, ento a
Equao ( 2.16 ) pode ser utilizada para estimar um grau de liberdade [7]:
Oi ~

1 U2(Xj)
2

- 2

[ * / ( * ; ) ]

1 Au(Xj)
2

-2

(*/)
( 2.16 )

onde:

cf2[w(jc,)]

- desvio padro da incerteza x,

Au(Xj)/ u(x,) - a incerteza relativa de u(x,).

28
A incerteza relativa de u(xt) determinada de maneira subjetiva, a partir das informaes
disponveis do processo de medio e da experincia prpria do avaliador [7],
2.3.1.8 Apresentao e documentao da avaliao da cadeia de medio
A apresentao do resultado de medio devem ter os seguintes requisitos [7]:

apresentar informaes suficientes para permitir que o resultado possa ser reavaliado se
uma nova informao ou um novo dado estiver disponvel;

prefervel apresentar informaes a mais do que a menos que o necessrio.

Para atingir os requisitos para garantia da confiabilidade no gerenciamento da incerteza em

grandezas crticas de um processo, propem-se que o relato da incerteza deva conter os seguintes
dados (em conjunto com a documentao proposta pelo gerenciamento de incerteza):

definio da tarefa de medio completa e da incerteza que deve ser atingida;

documentao do princpio de medio e do mtodo, procedimento e condies;

determinao da equao ou do modelo de incertezas que rege o sistema de medio;

relao das fontes de incerteza que sero avaliadas, de acordo com a Tabela 2.2;

relato da forma de anlise realizada em cada fonte de incerteza, definindo mtodo de

avaliao (tipo A ou B), limites e tipo de distribuio, correlaes e graus de liberdade;

clculo e documentao das incertezas combinada e expandida;

definio das fontes de incerteza que mais influenciam no processo de medio;

relato da incerteza final e dos procedimentos necessrios para garanti-la.

2.3.2 Modificaes propostas para realizao do procedimento de

avaliao de incerteza dentro do gerenciamento de incerteza
A avaliao de incerteza proposta para sistemas de medio, apresentada em sees
anteriores, baseada no procedimento descrito pelo ISO-GUM. Entretanto, a aplicao direta e
completa dessa metodologia pode trazer dificuldades prticas na aplicao, decorrentes da grande
quantidade de fontes de incerteza; da dificuldade de obteno das informaes para avaliao
correta da incerteza; e da necessidade de avaliar todas as fontes de incerteza ao longo da faixa de
medio. Por outro lado, se a avaliao de incerteza for realizada iterativamente, dentro do
procedimento de gerenciamento de incerteza, simplificaes considerveis podem ser adotadas nas
primeiras iteraes. Essas modificaes, em geral, aumentam a incerteza avaliada quando
comparada com aquela obtida pelo processo baseado no ISO-GUM, geralmente tornando a

29
primeira mais conservativa, mas bastante vlida nas primeiras iteraes do processo de avaliao

[ 12].
As simplificaes propostas so:

utilizar as incertezas de avaliao tipo B nas primeiras iteraes, assumindo-se que

informaes de fabricantes possuem graus de confiabilidade equiparveis as do tipo A;

utilizar estimativas de incerteza mais conservativas nas iteraes iniciais, como, por
exemplo, a no correo de erros sistemticos para reduzir os esforos necessrios.
Utilizar-se- a correo para reduzir a incerteza somente se a incerteza alvo no for
atingida;

fontes de incerteza correlacionadas so computadas somente com coeficientes de

correlao -1 ou 1;

o nmero de graus de liberdade efetivos considerado suficientemente grande para que a

incerteza expandida U95%seja calculada com um fator de abrangncia igual a 2.

Analisando essas modificaes, pode-se destacar as seguintes caracterstica do procedimento

para avaliao da incerteza dentro do procedimento para gerenciamento da incerteza:

transforma a avaliao da incerteza em um processo iterativo buscando atingir uma

incerteza alvo, ou incerteza desejada. Esta determina o ponto de parada do processo e
definida pela relao entre a tolerncia do processo e a incerteza do sistema de medio;

o procedimento de avaliao de incerteza define a magnitude das fontes de incerteza e

pela comparao, identifica-se as fontes que mais influenciam no balano de incerteza. A
identificao das fontes de incerteza mais significativas faz com que a tarefa de reduo
da incerteza seja direcionada e, atravs de poucas modificaes, possvel reduzir
consideravelmente a incerteza expandida;

diferente do ISO-GUM, o fato de permitir a utilizao da superestimao das incertezas,

leva a reduzir o tempo dedicado avaliao da incerteza e simplificar o processo de
clculo. Atravs de iteraes sucessivas, a incerteza calculada atravs do mtodo tende a
atingir o valor da incerteza calculada pelo procedimento do ISO-GUM;

Em alguns casos em que a quantidade de fontes de incerteza muito grande, pode-se agrupar
as fontes relacionadas para obteno de um valor representativo do grupo. Esse procedimento
toma-se muito importante quando sistemas compostos por diversos componentes ou instrumentos

30
so utilizados, pois pode-se realizar a avaliao de alguma parte de interesse e transp-la para a
avaliao completa do sistema de medio.

Neste captulo foram expostos aspectos que permitem a garantia da confiabilidade

metrolgica de sistemas de medio de temperatura. A calibrao e a rastreabilidade a padres
primrios permitem que o valor da medio possa ser referenciado Escala Internacional de
Temperatura (ITS-90). A utilizao do procedimento para gerenciamento da incerteza possibilita
que sistemas de medio de temperatura tenham as fontes de incerteza mais importantes
identificadas e controladas para garantir o valor da incerteza de medio. Para permitir o clculo da
incerteza foi apresentada uma reviso do Guia para a Expresso da Incerteza de Medio (ISOGUM) com informaes adicionais que permitem a anlise em sistema de medio de temperatura.
Nos captulos que se seguem ser abordado em mais detalhes o procedimento para avaliao
da incerteza de medio, relacionando as principais fontes de incerteza encontradas em sistemas
automatizados de medio de temperatura e apresentando formas de facilitar a implementao do
ISO-GUM atravs do uso de computador.

31

CAPTULO 3

FONTES DE INCERTEZA EM SISTEMAS AUTOMATIZADOS DE

MEDIO DE TEMPERATURA
Um sistema de medio de temperatura, segundo o VIM [47], o conjunto completo de
instrumentos de medio e outros equipamentos acoplados para executar uma medio especfica.
O termo cadeia de medio definido como a seqncia de elementos de um instrumento ou
sistema de medio, que constitui o trajeto do sinal de medio desde o estmulo at a resposta.
Quando um sistema ou cadeia de medio possui um acoplamento a um sistema computacional
(microprocessador ou microcontrolador), est aqui sendo denominado sistema automatizado de
medio.
Um sistema automatizado de medio pode ser composto fisicamente de diversas formas,
como, por exemplo, um transdutor ligado a um instrumento completo ou a composio de mdulos
de diversos fabricantes. Indiferente da forma de implementao, pode-se identificar os blocos
bsicos, ou mdulos, que compem a cadeia de medio num sistema eltrico de medio de
temperatura, como mostrado na Figura 3.1.

Interface
- Poo termomtrico
- Encapsulamento
- Proteo

Processamento
- Microcontrolador
- Microprocessador
Apresentao:
Alimentao,
- Programa
- Fonte corrente . Mostrador Digital
- Fonte tenso
\
Processamento
e apresentao

Ambiente
- Lquido
- Slido
- Gs

Transdutor
- Termorresistor
- Termistor
- Termopar
- Transdutor Integrado

Condicionamento
do sinal:
- Amplificao
- Filtragem
- Multiplexao

Converso AnalgicaDigital (ADC):

- Circuitos integrados
- Placa de aquisio
- Multmetro digital

Figura 3.1 - Cadeia tpica de medio de temperatura

32
O transdutor, instalado no meio a ser medido, submetido temperatura da substncia que
pode estar em um dos diversos estados da matria. Dependendo do meio, alguns acessrios so
utilizados para possibilitar a medio. O sinal gerado pelo transdutor condicionado para
possibilitar que o conversor possa digitalizar essa informao e transmitido para um sistema de
computao para ser processado e apresentado ao usurio. Um sistema de alimentao utilizado
para fornecer energia para os transdutores, quando passivos, permitindo a sua medio e compondo
assim o sistema de medio automatizado de temperatura.
Uma das principais etapas do procedimento de avaliao da incerteza a identificao das
fontes de influncia que atuam em um sistema de medio, j que a completa identificao das
principais fontes determinar o sucesso ou no da anlise. Entretanto, quando sistemas de medio
modulares so avaliados, alm das caractersticas individuais de cada bloco, as interrelaes e
condies de contorno devem ser levadas em considerao.
Assim, neste captulo so apresentadas as principais fontes de incerteza inerentes aos blocos
que compem o sistema de medio de temperatura, abordando os transdutores com contato
(termopar, termorresistor, termistor e circuitos integrados), os mdulos de tratamento de sinais e
alimentao e as fontes decorrentes do tratamento da informao. Tambm so estudados os
instrumentos compostos, como multmetros digitais, placas de aquisio e termmetros digitais e,
por fim, so apontadas algumas fontes de incerteza inerentes aplicao. No objetivo desse
trabalho ser exaustivo na determinao das fontes de incerteza, mas apenas apresentar formas de
auxiliar nessa identificao.

3.1 TRANSDUTORES DE TEMPERATURA COM CONTATO

Os transdutores de temperatura com contato mais encontrados em ambiente industrial so:
termopar, termorresistor, termistor e circuito integrado. A Tabela 3.1 apresenta as principais
caractersticas desses transdutores [48-53],

33
Tabela 3.1 - Comparao entre transdutores de tem peratura com contato
Caracterstica

termopar

Sensor

Junta de 2 metais

Sinal de medio

Tenso

Faixa de medio
Valor tpico de
referncia
Estabilidade
Excitao
Auto-aq uecimento
Tempo de resposta
(leo em
movimento)
Encapsulamento
Preo estimado
[encapsulado]
(USS)

Necessidades
Especiais

Tipo de Transdutor
termistor
termorresistor
de platina
Oxidos
Fio de
platina
metlicos
Resistncia
Resistncia

circuito
integrado
Semicondutor
(juno PN)
Tenso, corrente
ou sinal digital
(-55 a 150)C
Variado

(-270 a 1100)C
(-250 a 900)C (-100 a 300)C
1 kQ a 1 MQ
menor que 10 (J.V 100 O. a 2000 Q
a 25C
a 0C
a 25C
superior a 0,1 K
0,1 K
superior a 0,1 K
5,5 K
(1000 h a 600C) (1000 h a 600C) (1000 h a 125C) (1000 h a 125C)
No necessita
Necessita
Necessita
Necessita
No apresenta
Apresenta
Apresenta
Apresenta
Tpico: 1 s ;
Tpico: 1 s a 10 s; Alguns segundos
Tipicamente
alguns tipos mais vrios segundos
3 ms a 100 ms
so disponveis
rpidos
Tubo metlico,
Vidro, epoxy,
Vidro, epoxy,
Metal e plstico
grande variedade cermica, teflon, cermica, teflon,
disponvel
metal, etc
metal, etc
1 a 50
25 a 1000
1 a 30
2 a 10 (simples);
(dep. Especif);
10 a 350
100 (industrial)
(alta exatido)

Linearizao
Junta de
Compensao de
referncia ou fria
cabos

Os transdutores utilizados para a medio de temperatura possuem incertezas inerentes a

cada princpio de transduo utilizado. A seguir sero relacionados os transdutores de temperatura,
expondo o princpio de funcionamento, caractersticas gerais e as principais fontes de incerteza.

3.1.1 Termopar
Os termopares so transdutores criados a partir da juno de dois materiais dissimilares.
Quando ocorre uma diferena de temperatura entre as junes, uma tenso gerada e sua
magnitude depende da sensibilidade criada pelos materiais e da diferena de temperatura. Esse
fenmeno explicado pelas leis da termoeletricidade fundamentadas por Thomas Johann Seebeck
(1821), Jean Charles Althanase Peltier (1834) e Willian Thomson (1848-1854) e podem ser
estudadas com mais profundidade em [38,49,54-56],
A princpio, qualquer par de metais dissimilares podem ser utilizados como termopar. J
foram catalogados acima de 300 tipos de termopares [57], mas poucos so industrialmente

34
utilizados. A ANSI [55] possui apenas sete junes padronizadas e que so identificados por uma
letra (Tabela 3.2) [49,55],
Tabela 3.2 - Tipos e caracterstica dos termopares padronizados
Cd.
: ANSI
T
J
E
K
S
R
B

: Combiinao da liga
Fio negativo (-)
Fi positivo (+)
Constantan (cobre - nquel)
Cobre
Constantan
Ferro
Constantan
Cromei (nquel - cromo)
Alumel (alumnio-nquel)
Cromei
Platina
Platina/Rdio 0%
Platina
Platina/Rdio 13%
Platina/Rdio 6%
Platina/Rdio 30%

As respostas nominais dos termopares so apresentadas pelo NIST atravs da Monografia

175, dispostas na forma tabular em relao a 0C [58], Tambm apresentado o polinmio de
interpolao para uma faixa de temperatura, alm de outras informaes como a variao do
coeficiente de Seebeck com a temperatura [55], Os polinmios tm a seguinte forma:
N

T= X a/Vl
/=0
(3.1)
onde:

a ,: coeficiente do polinmio de ajuste

T : temperatura [C]
V : tenso obtida no termopar [mV]
N : grau do polinmio utilizado

As principais fontes de incerteza relativas aos termopares so apresentados a seguir.

3.1.1.1 Erro mximo admissvel do transdutor
Do ponto de vista de fabricao, o termopar um fio composto de diferentes metais (ligas),
que podem apresentar ligeiras diferenas durante a fabricao ou entre diferentes lotes, acarretando
desvios na resposta ideal do transdutor. Existe um certo valor permitido para esses desvios,
denominado pelo VIM de erro mximo admissvel e so definidos pela norma ANSI (Tabela 3.3)
[55], Geralmente so denominados pelo fabricante como tolerncias de fabricao.

35
Tabela 3.3 - Erro mximo admissvel na fabricao de termopares
Termopar

Faixa de utilizao
C)
-59 a 93
93 a 371
0 a 277
277 a 1260
0 a 316
316 a 817
0 a 277
277 a 1260
0 a 538
538 a 1482
871 a 1705

T
J
E
K
R, S
B

Erro mxirno admissvel

especial
convenciona 1
0,5C
1,0C
0,4 %
0,75 %
1,1C
2,2C
0,4 %
0,75 %
1,0C
1,7C
0,5 %
0,4 %
1,1C
2,2C
0,4 %
0,75 %
0,6C
1,5C
0,1 %
0,25 %
no determinado
0,5 %

A transformao dessa fonte em incerteza determinada pelo procedimento de converso

entre tenso de sada e temperatura. Se for utilizado o polinmio padronizado pela norma, a
incerteza avaliada como o prprio erro mximo admissvel do instrumento. Se for realizada uma
calibrao para determinao do polinmio de correo, a incerteza definida pela incerteza do
procedimento de calibrao e pelo erro de interpolao do polinmio.
3.1.1.2 Erro inerente ao polinmio de interpolao
Polinmios de converso entre tenso e temperatura geralmente apresentam um erro residual
determinado pela mxima diferena entre os valores tabelados e os valores obtidos pelo polinmio.
Esse valor depende do nmero de pontos empregados, da faixa de medio desejada e do grau do
polinmio utilizado.
Para os polinmios encontrados na monografia 175 [58], a incerteza de interpolao
apresentada na Tabela 3.4.
Tabela 3.4 - Incertezas dos polinmios de interpolao para termopares

"

:'v

T ':'V

-100C a 1000C

0C a 760C

0C a 1370C

0C a 1000C

0C a 1750C

-160C a 400C

0,5C

0,1C

0,7C

0,5C

1C

0,5C

Se a faixa de medio ou o grau do polinmio forem reduzidos, essa fonte de incerteza

depender do nmero de pontos utilizados e do grau do polinmio. Nesse caso, a incerteza pode ser
avaliada como o mximo desvio entre os valores padro tabelados [58] e os valores obtidos pelo
polinmio [55],

36
3.1.1.3 Junta de referncia
A junta de referncia, tambm conhecido como junta fria, consiste em um sistema que
corrige a tenso de sada do termopar, para expressar a temperatura absoluta medida pela juno.
Essa compensao pode ser realizada de diversas maneiras, apresentando diferentes nveis de
incerteza (Tabela 3.5). As incertezas relatadas apresentam somente a ordem de grandeza
normalmente obtida, exigindo uma avaliao mais rigorosa para o sistema utilizado.
Tabela 3.5 - Incertezas na compensao de junta de referncia
Junta de referncia
Ponto triplo da gua [16,55]
Banho de gelo (gua + gelo) [55,59]
Refrigerador termoeltrico [55,59]
Compensao eletrnica (ponte) [55,59]
Compensao eletrnica (com transdutores de
circuito integrado) [60]
Compensao eletrnica (circuito completo integrado)
[61]
Compensao por software [38,54]

Incerteza tpica
(C)
0,0001
0,001
0,1
1
0,5
2
0,2

3.1.1.4 Termopares parasitas

Qualquer juno entre distintos metais submetidos a diferentes temperaturas apresenta uma
tenso entre seus terminais, podendo existir em conectores, terminais de ligao, juno de fios e
bomes, entre outros [62], Assim, qualquer juno uma fonte de tenso que depende da
temperatura submetida e do tipo de material utilizado. Entretanto, se medies diferenciais forem
utilizadas, somente a diferena de temperatura provoca um erro que depende da tenso
termoeltrica dos materiais da juno. O valor da fonte de tenso causado pelo termopar parasita
(AEp) estimado atravs da Equao ( 3.2) [40]:
b,p = S A T [nV]
(3 .2 )
onde:

S: Sensibilidade (potencial termoeltrico) da juno [(J.V/K]

A T : Diferena de temperatura entre as junes [K]

Na Tabela 3.6 esto apresentados os potenciais termoeltricos de diferentes materiais

encontrados em conectores [62],

37
A diferena de temperatura esperada entre os fios que geram os termopares parasitas pode ser
medida ou avaliada. Uma forma de evitar esse problema atravs do uso de blocos equalizadores
que garantem pequenas variaes de temperatura entre junes.
Tabela 3.6 - Potencial termoeltrico de diferentes pares de materiais
Materiais
Cu-Cu
Cu-Ag
Cu-Au
Cu-Pb/Sn
Cu-Si
Cu-Kovar
Cu-CuO

Potencial fiaV/K
<0,2
0,3
0,3
( l a 3)
400
(40 a 75)
1400

3.1.1.5 Fios e cabos de extenso ou de compensao

Os fios e cabos de extenso e os de compensao so colocados entre os fios do termopar e a
junta de referncia e sao utilizados para reduzir o custo do sistema de medio, alm de melhorar
as caractersticas mecnicas e fsicas do fio. A Figura 3.2 ilustra o circuito bsico de termopares
com fios e cabos de extenso [49],

Fios de extenso

Junta de fria de
compensao

Figura 3.2 - Circuito eltrico com fios de extenso de termopares

Os fios de compensao e os de extenso podem influenciar de duas maneiras: na tolerncia
do fio e na criao de juntas parasitas influenciadas pela temperatura [49],
As tolerncias de fabricao dos fios de compensao ou de extenso so maiores que as
definidas para o termopar. Segundo a norma da ASME, as faixa de incerteza so as colocadas na
Tabela 3.7 [40],

38
Tabela 3.7 - Tolerncia dos fios de extenso de termopares
Termopar

Extenso

Faixa de trabalho

Erro mximo admissvel

K
J
E
T
R, S
B

KX
JX
EX
TX
SX
BX

0 a 200
0 a 200
0 a 200
-60 a 100
0 a 200
0 a 100

2,2
2,2
1,7
1,0
5,0
- 3,7 a 0,0

Essa incerteza afeta a sensibilidade do termopar e pode induzir erros to grandes quanto os
especificados pela tolerncia, se a temperatura da juno variar dentro da faixa determinada.
Aconselha-se a utilizao do valor de tolerncia como incerteza expandida da fonte, se a calibrao
da cadeia de medio no for realizada com os fios de compensao instalados e se existir
gradientes nas junes. Este tipo de problema pode ser evitado atravs de blocos equalizadores
colocados na juno.
3.1.1.6 Deriva com o tempo, envelhecimento e histerese do termopar

'

Termopares utilizados em ambientes de alta temperatura sofrem modificaes em sua curva

de calibrao devido contaminao do fio com materiais do ambiente, perda de constituintes da
liga ou interao entre fio, isolador e tubo de proteo. Essas mudanas dependem da pureza inicial
do material, do contaminante introduzido pelo ambiente, do tamanho do termoelemento, dos
materiais utilizados para proteo, do tempo e da temperatura. A sua quantificao no pode ser
obtida por regras simples, uma vez que a mesma variao pode ocorrer entre poucas horas de uso
ou aps meses [40].
A quantificao desse tipo de fonte de incerteza depende muito do conhecimento da
aplicao e dos termopares utilizados, sendo a influncia dessa fonte mais significativa a medida
que a temperatura aumenta. Uma possvel avaliao desse fator pode ser obtida atravs do
acompanhamento das curvas de calibrao ao longo do tempo em um determinado ponto (teste de
estabilidade) para cada termopar utilizado [3],
3.1.1.7 Outros efeitos
Os termopares apresentam outros fatores que no podem ser facilmente quantificados, mas
que influenciam fortemente na medio de temperatura. Por essa razo, esses fatores devem ser
evitados atravs de cuidados especiais. Aqui sero apenas citados e se deve recorrer literatura
para maiores informaes.

39
a) Interferncias em termopares
O termopar, quando utilizado em ambiente industrial, pode estar bastante afastado da unidade
de tratamento de sinal. Portanto rudos e interferncias eletromagnticas ao longo do fio de
extenso fazem com que o sinal seja contaminado, podendo causar erros elevados na medio
(acima de 10C). A utilizao de filtros, malhas de aterramento e blindagem auxiliam na reduo
dos efeitos dessas fontes [49,62,63]
b) Correntes de fuga no term opar em alta tem peratura
Alguns termopares possuem encapsulamento com isoladores minerais (MgO,

A I2O 3,

etc)

para isolamento eltrico e ambiental. Esses isoladores apresentam um decrscimo da resistncia de

isolamento com o aumento da temperatura. Quando essa resistncia atinge valores bastante baixos,
existe o aumento da conduo entre fios dos termopares e a criao de termopares virtuais nessas
junes. Os erros resultantes podem atingir valores elevados dependendo da temperatura da juno.
Os valores de temperatura crtico para essas condies dependem das propriedades do isolador e da
dimenso dos fios do termopar, que definem as caractersticas eltricas [40].
Este efeito reduzido atravs do uso de isoladores com boas caractersticas em alta
temperatura, uso de fios de maior dimetro ou pela minimizao do contato entre termopar e
isolador atravs de pastas trmicas, tomando esse erro geralmente desprezvel [40],

3.1.2 Termorresistor
Alguns materiais modificam sua resistncia eltrica, de acordo com a variao de
temperatura existente no meio. Essas modificaes dependem de fatores como o tipo de material
utilizado, forma, ambiente, entre outros. Nos metais, o valor da resistncia diretamente
proporcional temperatura, com uma notvel estabilidade [49], Atravs desse princpio, descoberto
em 1821 por Sir Humphrey Davy, se iniciou o desenvolvimento de uma linha de transdutores de
temperatura denominados termorresistores ou RTD (Resistance Temperature Detectors) [49],
Os termorresistores podem apresentar as seguintes caractersticas:
a) aplicao e formato do transdutor: define o formato do transdutor, minimizando erros
introduzidos na conexo com o meio ambiente. Existem diversos formatos que permitem
a medio de temperatura ambiente, a de fluidos, a de superfcie, etc [49];
b) resistncia de referncia (Ro): refere-se resistncia apresentada quando o
termorresistor submetido a uma temperatura de referncia. Pode-se apresentar entre

0,25 Q e 2500 Q. O mais comum o termorresistor de platina com resistncia de 100 Q a

0C, tambm conhecido com Pt 100 [22,64],
c) sensibilidade nominal (a): compreende a variao de resistncia encontrada entre 0C e
100C; e depende do grau de pureza do transdutor. No mercado existem dois valores
padronizados pela ANSI (0,3902 %/K) ou pela IEC (0,3850 %/K) [56].
d) processo de fabricao: refere-se forma de construo do termorresistor. Pode ser
obtido atravs de fio de platina encapsulado [22] ou atravs de filme metlico depositado
sobre um substrato [64],
Industrialmente so poucos os materiais metlicos utilizados como termorresistores. Dentre
eles destacam-se a platina, o nquel e o cobre. Os principais dados esto resumidos na Tabela 3.8.
Os demais materiais ainda esto em fase de pesquisa. Por causa da sua grande estabilidade, a
platina o termorresistor prefervel para medies de temperatura, sendo o material quase sempre
utilizado [3],
Tabela 3.8 - Caractersticas dos termorresistores utilizados comercialmente
Material

Ro***
[2]

p*
a **
[%/K]
[[iQ/cm]

Platina

10,6

0,385
ou
0,392

0,25; 2,5; 25; 50;

100; 500; 1000;
2000 (0C)

Nquel

6,844

0,681

Cobre

1,673

0,43

50; 100; 120

(0C)
10 (20C)

Faixa de
medio
tpica
-200C a
850C
-80C a
320C
-200C a
260C

Observaes

Maior estabilidade e ampla faixa. Pode

ser contaminado em altas temperaturas.
o mais popular entre os
termorresistores. Custo mais elevado.
Maior no linearidade e deriva mais
elevada. Menor preo de venda.
Maior tamanho, baixo custo, utilizado
em indstrias de mquinas eltricas

* p - Resistividade do material a 20C

** a - Sensibilidade do termorresistor entre 0C e 100C.
*** Ro - Resistncia de referncia a determinada temperatura.
A resistncia do termorresistor est relacionada com a temperatura segundo a equao [54]:
R(T) = R0(l + j t a i .Ti )
2=1

(3 .3 )
onde:

ar coeficiente do polinmio de ajuste [0/C]

T : temperatura [C]
Ro : resistncia temperatura de referncia (geralmente 0C)[1]

41
N : grau do polinmio utilizado.
As principais fontes de incerteza em termorresistores so descritas a seguir.
3.1.2.1 Erro mximo admissvel do termorresistor
Como no termopar, o termorresistor apresenta valores que definem os erros mximos
admissveis entre os valores nominais do transdutor aps fabricao. Esses desvios so definidos
por norma ou pelo fabricante do componente. A norma IEC 751 [65] define duas classes: A e B. Os
fabricantes tambm propem extenses destas classes [56,64,66], permitindo abranger outras
faixas de medio. Essas classes so apresentadas Tabela 3.9.
Tabela 3.9 - Classes de tolerncia para termorresistores de platina
Referncia
Descrio
Faixa d medio
IEC
Classe A
-200C a 650C
IEC
Classe B
-200C a 850C
Fabricante
1/3 Classe B
0C a 200C
Fabricante
2 Classe B
0C a 200C
Fabricante
-200C a 850C
0,5
(*) A tolerncia apresentada em funo da temperatura (T)

Tolerncia*
(0,15 + 0,002.T)
(0,30 + 0,005.T)
(0,10+ 0,005.T)
(0,60 + 0,005.T)
(0,50 + 0,008.T)

Da mesma forma que nos termopares, a avaliao da incerteza depende do procedimento

utilizado e segue as recomendaes da seo 3.1.1.1.
3.1.2.2 Auto-aquecimento
O termorresistor necessita ser excitado para que se possa determinar o valor da sua
resistncia. Esse procedimento, geralmente realizado atravs da passagem de corrente pelo
termorresistor, faz com que o transdutor se aquea (efeito Joule), causando um erro no valor da
temperatura [33,49], O aumento da temperatura depende da capacidade de dissipao do
transdutor, relacionando-se com a corrente de acordo com a equao ( 3.4 ).

(3 .4 )
onde:

8 - coeficiente de dissipao do transdutor (auto-aquecimento) (W/K).

R - resistncia do termorresistor para a temperatura a ser medida (Q)
/ - corrente de teste utilizada para excitar o termorresistor (A)

42
0

coeficiente de auto-aquecimento depende do contato trmico existente entre o

termorresistor, material utilizado para proteo e o meio em que o transdutor ser empregado (tipo
de fluido e velocidade). Fabricantes apresentam os coeficientes de acordo com uma determinada
condio (gua em movimento ou ar) e para uma determinada aplicao.
3.1.2.3 Influncia do fio
Por causa da baixa sensibilidade do termorresistor, a variao da resistncia dos fios de
ligao pode provocar erros considerveis no valor de temperatura [56], A influncia modelada
como resistncias equivalentes em srie com o transdutor.
Esta resistncia dependente do dimetro do fio, do comprimento e da temperatura a ele
exposta. A equao ( 3.5 ) determina o valor das resistncias equivalentes dos fios (RJ):
Rf (T) = p ^ [ l+ a .( T - T 0)]
(3 .S )
onde:

p - resistividade do fio [Q.m]

L - comprimento do fio [m]
A - sesso transversal do fio [m2]
a - coeficiente de temperatura do termorresistor [(Q/Q)/K]
To - variao de temperatura em relao a 20C [C]

O erro causado pelo fio depende do tipo de circuito utilizado para medir. Para exemplificar, a
utilizao de medio direta de um termorresistor com 2 fios de cobre de 10 m de comprimento,
com 0,22 mm2 de sesso transversal e com a temperatura variando entre -20C a 60C, pode causar
uma variao de resistncia do fio que representa um erro de aproximadamente 5C (a= 4,3. O^/K)
[40].
A avaliao dessa incerteza depende de uma anlise do circuito completo utilizado para
realizar o condicionamento do sinal.
3.1.2.4 Resistncia de isolao
Dependendo do tipo de material de isolao utilizado para proteger o termorresistor, pode
haver um decrscimo de sua resistncia equivalente devido ao aumento da temperatura, causando
uma diminuio na resistncia medida. Essa influncia pode ser modelada como uma resistncia
colocada em paralelo com a resistncia do termorresistor.

43
Para o caso de termorresistores de platina (R/ffT=0,385 Q/K) isolados com xido de
mangans, em baixas temperaturas a resistncia de isolamento atinge valores superiores a 100 M2,
ocasionando erros inferiores a 0,002C. Entretanto, quando a temperatura atinge valores prximos
de 600C, a resistncia se reduz para 100 kO e o erro pode atingir o valor de 25C [40],
O valor da resistncia de isolamento informado em catlogos de alguns fabricantes ou pode
ser medido atravs de megmetros [62],
3.1.2.5 Deriva com o tempo
De modo geral, o termorresistor o transdutor de temperatura com melhor estabilidade a
longo prazo. A deriva com o tempo ocorre devido ao tipo de fabricao e s condies do ambiente
de utilizao e so de natureza qumica e fsica [3],
As modificaes fsicas ocorrem devido ao processo de fabricao, a choques mecnicos e
trmicos, expanso trmica do fio de platina e a vibraes durante o processo de medio. Essas
influncias podem ser reduzidas atravs de instalao e manejo adequado [3],
As modificaes qumicas ocorrem devido s reaes envolvendo a platina e as impurezas
existentes no material, da proteo ou do substrato. Essas influncias comeam a ter importncia
em temperaturas mais elevadas (superiores a 500C) [3],
A Tabela 3.10 exemplifica a diversidade de valores de desvio encontrados em caractersticas
de resposta. Entretanto pode-se notar que quanto maior a temperatura, maior o desvio. Tambm
identifica-se que os termorresistores com encapsulamento de vidro ou tipo filme tm uma
estabilidade menor que o termorresistor industrial (fio enrolado com tubo protetor) [3],
Tabela 3.10 - Desvios encontrados em termorresistores de platina
Tipo
industrial
industrial
industrial
industrial
filme
vidro

Tempo
1 ano
6000 horas
1000 horas
10 ciclos
10 ciclos
10 ciclos

Temperaturas
540C
850C
(-20 a 250)C
(20 a 600)C
(-20 a 600)C
(-196 a 300)C

Deriva
0,25 K
1K
< 0,02 K
< 0,05 K
0,3 K
0,1 K

A avaliao dessa fonte de incerteza deve ser realizada nas condies de uso e medindo os
desvios encontrados ao longo da vida til do transdutor.

44
3.1.2.6 Rudo
Os termorresistores, por serem resistncias, so afetados tambm pelo rudo trmico. O rudo
trmico, conhecido tambm como rudo Johnson, causado pela agitao (movimento aleatrio)
dos eltrons em decorrncia da temperatura. A equao ( 3.6) relaciona as principais variveis que
influenciam a tenso gerada pelo fenmeno [37]:

Vt = yjAkRT/Sf
(3 .6 )
onde:

k = 1,38 x 10'23 [J/K] a constante de Boltzmann;

R [2] o valor da resistncia;
T [K] o valor da temperatura;
A/-[Hz] a banda de freqncia.

Devido relao linear entre a potncia do rudo e sua banda de freqncia, o rudo trmico
tambm chamado de rudo branco. Atravs da equao ( 3 .6 ) pode-se concluir que quanto maior a
resistncia, maior a quantidade de rudo gerado pelo termorresistor e que diminuindo a banda de
freqncia do resistor (atravs de filtros), reduz-se o rudo aplicado ao sistema.
3.1.2.7 Tenses termoeltricas
Da mesma forma que nos termopares (seo 3.1.1.4), as tenses termoeltricas parasitas
modificam o sinal representante da temperatura medida. Alm dos conectores normais existentes
no circuito de medio, a ligao de fios de platina do termorresistor com fios de cobre no circuito
de medio podem interferir no resultado de medio, dependendo do circuito utilizado.

3.1.3 Termistor
Os termistores so resistores sensveis temperatura compostos por misturas de xidos de
nquel, mangans e outros metais, e sinterizados a temperaturas acima de 1000C [67], Os
termistores podem ser classificados em duas categorias: termistores com coeficientes de
temperatura positivos (PTC) e termistores com coeficientes de temperatura negativos (NTC).
Quase que exclusivamente os NTC so utilizados para termometria [3,40,67],
A caracterstica de resposta de um termistor NTC individual definida pela proporo entre
ln(R) e l / T e pode ser aproximado pela Equao ( 3.7) [40,68]:

onde:

To - temperatura de referncia [K]

Ro

- resistncia a temperatura To [Q]

P - coeficiente do termistor [K]

Existe uma grande diversidade de tipos de termistores encontrados no mercado. A Tabela
3.11 expem as variaes dos parmetros obtidos pelos processos de fabricao do termistor.
Tabela 3.11 - Parmetros tpicos de termistores
Condies
-100C a 300C (-200C a 600C especial)
valores entre 0,5 Q a 10 MQ
2000 K a 5500 K
at 125C (300C em regime)
disco (disk, washer, rod) e
bolha (beat/ probe, foil)
* Superposio de faixas de medio de diferente tipos de termistores
Parmetros
Faixa de medio total*
Resistncia a 25C (Ro)
Coeficiente P
Temperatura mxima
Tipos

As incertezas relacionadas aos termistores so discutidas abaixo.

3.1.3.1 Intercambiabilidade ou erro mximo entre transdutores
Os termistores apresentam uma alta no linearidade com grande dependncia dos parmetros
do processo de fabricao que dificultam acordos em relao a um padro que possibilite a
determinao de um erro mximo na troca de um componente (intercambiabilidade). Portanto no
existem normas aplicveis, tal como ocorre com termopares e termorresistores.
Assim, cada fabricante tem empregado formas prprias para apresentar o erro mximo
admissvel ou tambm chamado intercambiabilidade. As duas formas mais comumente utilizadas
so: desvios nos coeficientes de componente e incerteza na resistncia e temperatura.
Quando apresentado a variao dos coeficientes, os parmetros de referncia da Equao
( 3.7 ) pela resistncia de referncia

(R o)

dentro de uma banda de variao

e Ap. Na Figura 3.3 apresentada a banda de incerteza e as

Ro

e pelo coeficiente do termistor (P), so apresentados

equaes para este tipo de especificao [68],

46

Temperatura (C)

Figura 3.3 - Curva gerada pela incerteza do termistor para variaes em Ro e P

Quando utilizado o formato de desvio mximo, a apresentao da incerteza realizada por
um grfico que relaciona temperatura e resistncia. A Figura 3 .4 apresenta a forma do grfico [49],

-100

-50

50

100

150

200

Temperatura (C)

Figura 3.4 - Curva caracterstica de intercambiabilidade dos termistores

Al

Essas incertezas so relativas ao lote de componentes sem a realizao de calibrao. Se uma

calibrao for realizada para determinao dos parmetros de cada componente, deve-se utilizar a
equao que melhor expresse a resposta real do termistor. Esse procedimento tratado a seguir.
3.1.3.2 Equao de ajuste de no linearidade
A equao ( 3.7 ) uma aproximao da resposta encontrada experimentalmente. Comparada
com transdutores reais, essa aproximao apresenta desvios de 0,01 K para uma faixa de medio
de 10 K e 0,3 K para 50 K [68],
Uma melhor aproximao pode ser realizada atravs das equaes ( 3 . 8 ) e ( 3 . 9 ) [68]:
j = A0 + A i.In(i?) + 2 ,[ln(i?)]2 + ...+4,.|n(*)]"
(3.8)
1W
^ + - +
v J = 2?0u +
j + % + j-3
rpn
(3 .9 )
onde:

T - temperatura (K)
R - resistncia do termistor (Q)
Ao,.., A q B o,.., B- constantes de ajuste de curva

As constantes de ajuste de curva so obtidas atravs da curva de regresso de n pontos de

temperatura e resistncia [44],
Esse procedimento pode levar a um dispndio grande de tempo e recursos. Steinhart-Hart
determinaram que desprezando o termo de segunda ordem e de ordem superior terceira, pode-se
representar o componente, para a faixa de -2C a 30C, com erros devidos a simplificao
inferiores a 0,001C [68]. Assim a equao (3.8 ) representada pela Equao (3.10):
- = a + 6.1n(tf) + c[ln(i?)]3
T

>
( 3.10 )

onde: a, b, c - so constantes a serem determinadas

As constantes so determinadas pela seleo de trs pontos de resistncia e temperatura do
termistor e resoluo de trs equaes simultaneamente [3].
Se uma faixa de medio maior necessria, o termo de segunda ordem deve ser adicionado.
Pode-se ento chegar a um rro devido equao de ajuste, da ordem de 0,0015C para a faixa de
0C a 100C [67,68],

48
3.1.3.3 Auto-aquecimento
O erro causado por auto-aquecimento possui as mesmas caractersticas do auto-aquecimento
para termorresistores (seo 3.1.2.2). Entretanto, os termistores so mais susceptveis a erros por
auto-aquecimento, devido a sua pequena massa e sua grande resistncia a baixas temperaturas. Os
parmetros tpicos de resistncia trmica encontrados em termistores so de 1 mW/K em ar e 8
mW/K para leo [69].
A forma de evitar ou reduzir essa influncia est na utilizao de correntes de excitao de
menor valor ou no uso de correntes que so ativas somente quando realizada a medio (corrente
pulsada) [38], Entretanto, a implementao desse artifcio pode apresentar outros problemas, como
a estabilidade da tenso de referncia, por exemplo. Uma anlise mais detalhada faz-se necessria
nesse caso.
3.1.3.4 Deriva com o tempo
Os termistores apresentam uma variao maior que os termorresistores devido degradao
do contato entre o material semicondutor e os fios de ligao, e tambm devido a prpria variao
do material do termistor. A causa da primeira variao negativa e inconstante, ocorrendo devido a
contaminao, difuso, diferentes coeficientes de expanso trmica e micro-fraturas. A segunda
variao constante em todas as temperaturas e resultante da variao no processo de conduo
do xido e da instabilidade cristalogrfica, que tendem a alterar a sensibilidade (3) do termistor. O
encapsulamento e o tipo de termistor tambm influenciam a estabilidade, sendo os de tipo bolha
mais estveis que o tipo disco [3],
Como no termorresistor, a estabilidade de difcil determinao prvia e deve ser avaliada
com experimentao e acompanhamento ao longo do tempo no local de medio.
3.1.3.5 Rudo
Como nos termorresistores, os rudos tambm afetam os termistores. Entretanto, devido a sua
alta resistncia em baixas temperaturas, sua influncia ainda maior e pode atingir valores
considerveis. A sua quantificao segue o modelo apresentado na seo 3.1.2.6.

3.1.4 Transdutores integrados de temperatura

A utilizao de componentes integrados como transdutores de temperatura surgiu como uma
aplicao proposta pelas indstrias de circuitos eletrnicos integrados. Os transdutores integrados
de temperatura so baseados no fato da tenso de uma juno semicondutora ser dependente da

49
temperatura. Essas junes podem ser realizadas atravs de um diodo [70] ou transistor com suas
caractersticas otimizadas [71],
Em circuitos integrados, a tenso base-emissor (VBe) utilizada para relacionar a
dependncia da variao da tenso com a temperatura [72], Essa caracterstica obtida atravs da
medio direta da tenso Vbe ou atravs da diferena entre duas tenses Pbe decorrentes de dois
transistores com diferentes densidades de corrente. Essa configurao conhecida como resposta
proporcional temperatura absoluta (proportional to absolute temperature- PTAT) [67,72].
Os transdutores integrados de temperatura podem apresentar as seguintes caractersticas [73]:
a) Faixa de medio: os limites encontrados para os transdutores integrados variam de -55
C a 150C.
b) Escalas de temperatura: inicialmente a escala kelvin era utilizada devido a converso
direta da tenso encontrada no transdutor. Entretanto, devido necessidade da indstria
de medir em outras escalas e da facilidade de incorporar circuitos adicionais,
caractersticas de resposta apresentada em relao a graus Celsius e graus Farenheit
podem ser encontrados.
c) Sensibilidade: o valor de sensibilidade mais comum de 10 mV/K, 10 mV/F e 1 ^lA/K.
Entretanto, existem os componentes ADT 43 [74] que apresenta sensibilidade de 20
mV/K e o TMP 37 [74], de 70 mV/K. Alguns modelos como LM134-3 e LM334 [52]
permitem que o usurio defina a sensibilidade atravs de resistores externos.
d) Grandeza de sada: os transdutores podem apresentar sada em forma de corrente e
tenso proporcional temperatura. Em circuitos mais modernos, a temperatura pode ser
codificada em sinal digital de freqncia proporcional temperatura (modelo TMP 03/04
da Analog Devices [74]) ou em uma palavra digital (modelo LM 75 da National
Semiconductors [52]). Essas verses facilitam a interface com microcontroladores e
microprocessadores.
e) Encapsulamento: Os transdutores de temperatura possuem o mesmo formato dos
circuitos integrados. Essa diversidade de transdutores facilita a sua incorporao em
placas de circuito impresso. Os encapsulamentos mais comuns so [52,60]: TO-92
(transistor de baixa potncia), TO-52 (encapsulamento metlico), TO-46 (transistor de
potncia), SO-8 (chip comum de 4 terminais), SOT-23 (montagem de superfcie de 8
terminais).

A resposta nominal dos transdutores de sada em tenso (Vs) dada pela equao (3.11):

50
Vs = a.T + V0

( 3.11 )
onde:

a - sensibilidade do transdutor [mV/K]

T - temperatura do transdutor [K]
Vo - correo de escala [mV]

As principais fontes de incerteza dos transdutores integrados so tratadas a seguir.

3.1.4.1 Erro mximo admissvel
Tal como nos termistores, os transdutores integrados de temperatura no apresentam
padronizao em relao definio do erro mximo admissvel para componentes. Cada
fabricante define seus limites e formas de apresentao, geralmente variando de componente para
componente, mas seguindo o formato apresentado pela Figura 3.5. As curvas de erro mximo
encontram-se dentro das envoltrias definidas por um valor mnimo de tolerncia a 25C (de menor
incerteza) e pelos valores de incerteza nos extremos da faixa de medio. Em alguns componentes
so fornecidos somente os erros mximos para toda a faixa de medio [52,74].

-5 0 -2 5

25

50

75 100 125 150

Temperatura (C)

Figura 3.5 - Curva caractersticas de erro mximo para transdutores de circuito integrado
Existem circuitos adicionais que permitem a correo de 1 ou 2 pontos ao longo da faixa de
medio, ajustando a caracterstica de resposta para o transdutor [60], Nesses casos, o valor de
incerteza pode ser reduzido, de acordo com a incerteza do ajuste. Essa avaliao depende da
incerteza do padro de ajuste, da variao dos componentes do circuito e da incerteza residual da
curva.

3.1.4.2 Repetitividade
Alguns transdutores apresentam em seus catlogos um valor chamado de repetitividade,
definido como o mximo desvio encontrado a 25C, aps a realizao de ciclos de temperatura
entre os extremos da faixa de medio (geralmente 100C) [60],
Se a temperatura a ser medida pode variar at o final da faixa, propem-se essa informao
pode ser utilizada como fonte de incerteza, que indica o mximo desvio esperado pela componente.
Em casos especiais, uma avaliao experimental pode informar uma melhor avaliao para as
condies que o transdutor ser submetido.
3.1.4.3 Deriva com o tempo
A deriva com o tempo uma diferena no valor inicial de medio aps o transdutor ser
submetido a uma temperatura fixa (geralmente acima do meio ambiente) por um tempo
determinado. Essas variaes ocorrem devido a modificaes na estrutura do silcio, contaminao
com o encapsulamento, modificaes na estrutura do fio de ligao, entre outras alteraes [67],
Alguns fabricantes apresentam o desvio em relao a 1000 horas em seus catlogos para o
transdutor submetido temperatura mxima admitida [60], Dessa forma acredita-se determinar o
mximo desvio do componente nesse perodo de tempo.
3.1.4.4 Rudo
Como todo componente eletrnico, os circuitos integrados geram rudos internos no
componente, compostos por rudo trmico, rudo flicker e rudo semicondutor. Essas
componentes so agrupadas e resumidas por um grfico de densidade de rudo (Figura 3.6) [75],

Frequncia (Hz)

Figura 3.6 - Grfico tpico do rudo de transdutores integrados de temperatura

52
A quantificao dessa fonte depende da banda de freqncia definida por filtros e do
diagrama de densidade espectral.

valor de tenso de rudo

(E n )

pode ser determinado atravs da

equao [75]:

E n ( / h ~ f L ) ~ enJ fcE -k 1

+h

~ /l

J l

(3.12)
Onde:

e [V] - tenso de rudo branco em uma banda de 1 Hz;

fcE [Hz] - freqncia de corte do rudo de tenso;
fn [Hz] - limite de freqncia superior;
f i [Hz] - limite de freqncia inferior.

O valor obtido pela equao ( 3.12 ) representa o valor mdio quadrtico do sinal de rudo.
Para transformar em incerteza padro, o sinal pode ser aproximado para uma distribuio normal
com desvio padro de E n .
3.1.4.5 Rejeio da variao da fonte
Os transdutores integrados de temperatura so componentes eletrnicos que necessitam de
uma tenso de alimentao. Variaes nessa fonte podem causar mudanas nos valores de
medio, que dependem do circuito de estabilizao implementado internamente no transdutor.
indicado nos catlogos como razo de rejeio de variao da fonte (Power Supply Rejection
Ratio - PSRR). Esse valor depende da mxima variao encontrada na tenso e do valor de
PSRR. A forma de avaliao e modelagem desta fonte de incerteza apresentada na seo 3.2.2.4.
3.1.4.6 Impedncia interna
Os transdutores integrados de temperatura podem ser tratados como fontes dependentes de
temperatura. Como toda fonte real, imperfeies interferem no sinal representante da temperatura.
Essa avaliao realizada atravs da aplicao do teorema de Thevenin aos terminais de entrada do
transdutor, resultando em um modelo composto por uma fonte de tenso em srie com uma
impedncia, ou uma fonte de corrente em paralelo com um impedncia. Atravs da anlise de
circuitos, determina-se a correspondente parcela da incerteza [36,76],
3.1.4.7 Auto-aquecimento
Devido necessidade de alimentao, os transdutores integrados de temperatura possuem
gerao de calor interno, criando um efeito que aumenta o valor da medio. Esse efeito chamado
de auto-aquecimento e seu valor pode ser estimado atravs do modelo apresentado na Figura 3.7.

53
Tj

JC

Tc

ec&

Legenda:
T j- Temperatura da juno
Tc - Temperatura da encapsulamento
Pd - Potncia gerada pelo transdutor
T A- Temperatura do ambiente
Cch - Capacitncia trmica da juno
Cc - Capacitncia trmica da encapsulamento
0jc- Resistncia trmica entre juno e encapsulamento
Oca- Resistncia trmica entre encapsulamento e ambiente

Figura 3.7 - Modelo para avaliao do auto-aquecimento em transdutores integrados de

temperatura
O modelo representa a dissipao do calor gerada na juno para o meio ambiente, em
relao ao auto-aquecimento e ao tempo de resposta do transdutor. Os pontos T j e Tc representam a
temperatura da juno e do encapsulamento do transdutor integrado de temperatura,
respectivamente. A fonte Ta representa a temperatura que o transdutor est submetido e a fonte de
corrente Pd representa a potncia dissipada pelo transdutor [60], O coeficiente

jc

a resistncia

trmica existente entre a juno e o encapsulamento e depende basicamente do tipo de material

utilizado para encapsular o componente. O coeficiente ca a resistncia trmica existente entre o
encapsulamento e o ambiente, que depende das condies que o transdutor est submetido. Os
coeficientes C ch e Cc representam a inrcia trmica da juno e do encapsulamento e definem a
constante de tempo de resposta do transdutor. Atravs da anlise do circuito da Figura 3.7, pode-se
determinar a diferena entre o meio de medio (T a) e a temperatura sentida pela juno (Tj) e
estimar a incerteza criada pelo auto-aquecimento [60],
Alguns fabricantes apresentam os coeficientes 0jc e ca somados para diferentes tipos de
meios, como leo em movimento ou ar parado, facilitando a anlise [60], Entretanto, em virtude da
no linearidade dos parmetros do circuito e da dependncia com a temperatura ambiente, esse
valor pode diferenciar-se consideravelmente do valor real. Em outros meios de medio, deve-se
determinar as caractersticas por estimao ou experimentao.

54

3.1.5 Incertezas na interface entre transdutor e o meio de medio

Devido s diferentes caractersticas e propriedades encontradas no processo de transferncia
de calor e massa em cada aplicao, a grandeza temperatura pode apresentar valores que no
condizem com a temperatura desejada, por causa da interface entre o transdutor e o meio de
medio. Essas incertezas podem atingir valores consideravelmente altos frente a outras fontes de
incerteza, mesmo levando em considerao os cuidados necessrios para evit-las. Dessa forma,
um estudo do processo de medio e anlise baseada nas leis de transferncia de calor e massa fazse necessrio para as vrias aplicaes.
Neste trabalho, esse tema ser apenas tratado superficialmente. Uma anlise criteriosa de
transmisso de calor e massa deve ser realizada, caso a caso, para avaliar as influncias das trocas
trmicas e determinar valores de correo, se necessrio. Entretanto, para auxiliar no processo de
anlise desses efeitos em sistemas de medio de temperatura, foram identificadas certas literaturas
que so relacionadas aqui.
Assim, dentre as literaturas pesquisadas destacam-se os seguintes fenmenos:

efeitos da instalao nos transdutores;

dissipao de energia cintica e calor por frico;

transiente e resposta de temperatura;

A seguir sero expostas algumas das principais caractersticas dessas fontes.

3.1.5.1 Efeitos da instalao nos transdutores de temperatura
Quando colocado no ambiente de medio, o transdutor interage com o meio atravs de
efeitos complexos de transferncia de calor. No caso de fluidos, a temperatura determinada pelo
balano entre o calor trocado por conveco entre fluido e transdutor e o calor trocado por radiao
para o fluido e ambiente e por conduo nos tubos de proteo e suporte. A anlise desse efeito
deveria ser realizada para determinar a forma de transmisso e a distribuio de calor ao longo da
haste e dos acessrios e sistemas de instalao, de forma a possibilitar a quantificao do erro da
medio. Existem anlises algbricas simplificadas que podem ser utilizadas para obteno do erro
devido troca de calor com o ambiente, sob a forma de radiao, conveco e conduo [33],
Tambm pode-se utilizar anlise de elementos finitos para obteno de uma melhor estimao da
incerteza [34], Sua determinao com baixo grau de incerteza bastante complexa e depende
muito das propriedades fsicas do fluido, da velocidade do fluido e do material utilizado para
construo do transdutor, entre outras caractersticas [34,77],

55
No caso de medio de temperatura de superfcie, a influncia de transmisso de calor por
radiao e conveco deve ser estuda em conjunto com a conduo para determinar essa influncia.
Nesse caso, existem estudos de carter experimental [78][79] que determinam o erro de contato e
formas de minimizar a sua influncia. Em instalao de termopares, a referncia [78] determina o
efeito de transmisso de calor em diversas formas de instalao e apresenta um coeficiente que
relaciona a perda de calor com o ambiente (coeficiente Z). Um trabalho apresentado por [79]
discute sobre a medio de temperatura em superfcies transparentes e quantifica o erro causado
por diferentes materiais translcidos, indicando a necessidade de estudos especficos para
quantificao da influncia em diferentes materiais.
3.1.5.2 Dissipao de energia cintica e de calor por frico
Um transdutor, quando colocado em fluidos em movimento, perceber um valor de
temperatura maior que o valor do ambiente, devido a propriedades e caractersticas termodinmicas
do fluido. O efeito pode ser calculado atravs de um coeficiente que representa o aumento de
temperatura sentido pelo transdutor quando imerso, denominado Fator de Recuperao (Recovery
Factor). Ele depende da velocidade e das caractersticas do fluido (quantificadas atravs do
nmero de Prandtl) e tambm depende do formato do sensor. O equacionamento e a explicao
desse efeito so apresentados em [33] e em [80],
Esse tipo de efeito tambm foi estudado atravs de simulao numrica de elementos finitos,
como mostrado em [81], Nessa anlise, tambm foi levado em considerao a variao do formato
do sensor e a variao da temperatura de medio. A Figura 3.8 apresenta o resultado de uma
anlise desse tipo. Esse exemplo trata-se de um transdutor de forma circular colocado
transversalmente ao vetor de velocidade, apresentado na figura da esquerda para a direita. Pode-se
verificar que ocorre um aquecimento maior na lateral do tubo, devido ao atrito entre o fluido e a
iterao com a camada limite. O efeito do aquecimento no tubo determinado pela mdia das
temperaturas ao redor do transdutor, que tratado como uma parede adiabtica. As condies da
anlise so apresentadas no canto superior da figura.

56

Gradiente de temperatura - Transversal

.oooo
YOr)
0.00070
0.00060
0.00050
O.OOKO

0.00030

0.00020
0.00010

0.60000
0.0004

-0,0)02

.3000

OOM2

C,0C4

0 ; 0

Figura 3.8 - Gradiente de temperatura ao redor de um transdutor submerso em gua com

fluxo axial [81]
3.1.5.3 Transiente e tempo de resposta dos transdutores de temperatura
Um transdutor, quando submetido a uma mudana de temperatura, ter um tempo de reao
para essa mudana que depender de suas caractersticas fsicas, dos materiais utilizados, da
montagem, alm do formato da mudana da temperatura. A diferena entre a temperatura medida e
a temperatura do meio, causada por essa diferena de resposta, considerada um erro no sinal de
medio. Se a medio realizada aps o perodo transitrio, ento esse erro pode ser desprezado.
Entretanto, existem casos onde essa avaliao deve ser realizada, de forma a determinar o perodo
de tempo mnimo para que o sistema atinja um determinado nvel de erro. Para uma resposta
brusca de temperatura (um degrau, por exemplo). Pode-se utilizar a teoria de sinais e sistemas para
avaliao da resposta do sistema de medio.
A anlise do tempo de resposta dos transdutores apresentada atravs de anlise dinmica de
transferncia de calor, de catlogo de fabricante ou pode ser realizada atravs de experimentao.
No caso de uso de anlise terica, a avaliao pode ser realizada com base em equaes
diferenciais no lineares. A dificuldade est na determinao dos coeficientes utilizados nas
equaes, que podem no expressar corretamente o material utilizado [33,40], Os dados
apresentados pelos fabricantes dependem da caracterstica do meio e das condies de testes

57
realizadas. Na grande parte, apresentado o tempo de resposta em leo em movimento e em ar
[49], No caso de experimentao, existem ensaios j estabelecidos em norma para avaliao do
tempo de resposta em banhos [65], e muitas vezes os ensaios so realizados em campo para melhor
avaliar o tempo de resposta do transdutor [33,40],

3.2 ALIMENTAO E CONDICIONAMENTO DE SINAIS

Nesta seo esto discutidas as fontes de incerteza que incorrem nos componentes auxiliares
responsveis pela alimentao e o condicionamento do sinal do transdutor.

3.2.1 Componentes e circuitos de condicionamento

Os circuitos de condicionamento so redes com componentes eletro-eletrnicos que realizam
funes de linearizao, zeragem, filtragem, entre outros. Exemplo de estruturas dessa natureza so
a ponte de Wheatstone, divisores de tenso, circuitos de linearizao com amplificadores
operacionais, compensao de ganho e zero com resistores [38,54,82],
A anlise desse tipo de configurao realizada atravs das teorias de circuitos eltricos e
eletrnicos, levando em considerao que os componentes utilizados para realizao de circuitos
eletro-eletrnicos possuem variaes em relao s suas caractersticas nominais. Assim, nesta
seo as principais caractersticas de variao so apontadas, de acordo com o componente
utilizado.
3.2.1.1 Resistor
O resistor utilizado na maioria dos circuitos eletrnicos, e os principais parmetros
utilizados para especificao so valor nominal, classe de tolerncia, mxima tenso de uso e
mxima dissipao de potncia. Existem os seguintes tipos: resistor fio metlico, resistor de filme
metlico fino, resistor de filme metlico e resistor integrado. Em [36] apresentado cada tipo de
resistor e suas vantagens e desvantagens.
Resistores fixos so componentes que idealmente apresentam o valor de resistncia constante
com o tempo e com o ambiente. Entretanto modificaes so observadas com o tempo, aumento da
temperatura, umidade, freqncia, tenso de trabalho, entre outros. De acordo com essas
caractersticas, que expressam a estabilidade do componente, define-se a incerteza associada ao
valor da resistncia.
A seguir so tratados os principais parmetros que afetam a incerteza do resistor: a tolerncia
dinmica, coeficiente de temperatura e o rudo associado.

58
a) Classe de tolerncia e tolerncia dinmica:
A classe de tolerncia ou tolerncia de produo (8p) indica a mxima variao encontrada no
resistor aps fabricao. E apresentada em percentual do valor nominal e classificado em trs
classes, como mostrado na Tabela 3.12 [36],
Tabela 3.12 - Classes tpicas de tolerncias de fabricao de resistores

20 %, 10 %, 5 %; 2 %; 1 %
5 %; 2 %; 1 %; 0,5 %; 0,25 %; 0,1 %
1%; 0,5 %; 0,25 %; 0,1 %; 0,05 %;
0,025 %; 0,01 %
* terminologia da rea eltrica
Resistores comuns
Resistores estveis
Resistores de preciso

Entretanto os resistores tm sua resistncia modificada de acordo com a temperatura, a

umidade e o envelhecimento, apresentando uma variao maior que o valor de tolerncia de
produo especificado. Para avaliar essa variao, Stanislaw Nowak (e outros) propuseram o uso
das chamadas tolerncias dinmicas, calculada como a soma da tolerncia de fabricao ao
resultado de testes de experimentao de longa durao (10000 horas) a condies crticas de calor
e umidade. O clculo da tolerncia dinmica apresentado em maiores detalhes em [36],

b) Coeficiente de temperatura da resistncia (TCR)

O coeficiente de temperatura da resistncia (TCR) expressa a variao da resistncia em
relao variao de temperatura. estimado por:

TCR =

1 rt

- r0

Ro t - t 0
(3 .1 3 )
Como recomendado em [36] baseado na IEC Publ. 115, 1982, os limites de TCR para as
diferentes classes de qualidade disponveis dos resistores so mostrados na Tabela 3.13.

59
Tabela 3.13 - Coeficientes de variao do valor nominal com a tem peratura do resistor
Resistores de prciso
TCR
ppifl/JY
(uo/n)/K
|(HQ/Q)/K1
1
25
250
2500
-800 a +2500
20
100
15
50
1000
-400 a -1000
10
25
5
15
500
Deve-se observar que dependendo do tipo de resistor utilizado, a relao entre temperatura e
Resistores comuns
TCR
ppm/K

Resistores estveis
.. ^ ;
v":'.'. V' :
ppm/jv

resistncia pode ter diferentes comportamentos. Os resistores de fio e filme metlico fino so
constantes ou com coeficiente positivos de temperatura. Os resistores de carbono so negativos ou
constantes com a temperatura, enquanto os resistores de filme metlico de ruthenium tm uma
resposta parablica [36], Quando essa fonte de incerteza torna-se significativa, um maior nmero
de informao deve ser utilizado para avaliar a dependncia com a temperatura.

c) Rudo
O rudo encontrado em resistores provocado por duas componentes [36]: rudo trmico e o
rudo de corrente.
O rudo trmico possui a mesma forma de tratamento apresentada na seo 3.1.2.6 .
O rudo de corrente, conhecido tambm como rudo estrutural ou rudo flicker ocorre nos
resistores quando submetidos a uma tenso contnua. A corrente contnua possui flutuaes
decorrente do movimento dos eltrons em meio descontnuo e depende da estrutura do elemento
resistor (meio de conduo) e da tenso aplicada sobre ele [37], O rudo flicker afeta os resistores
de filme metlico fino, de carbono e resistor de filme, mas no influencia os resistores de fio
metlico, devido a estrutura cristalina do metal [36], A densidade do rudo (Vims) determinada da
seguinte forma:
ViRMS _ c f - y y a

(3.14)
onde:

c uma constante que depende do resistor;

y varia entre 0,98 a 1,2; se esse valor assume y = 1, o rudo chamado l/f;
a varia entre 1 e 2 e depende da estrutura do resistor;

60
V [V] tenso aplicada sobre o resistor;
/[H z] a freqncia a ser avaliada;
A f [Hz] a banda de freqncia.

A tenso total apresentada pelo resistor pode ser calculada como a soma algbrica do rudo
trmico e do rudo de corrente [36], Entretanto, como a probabilidade de haver soma muito baixa,
pode-se avaliar como a mdia quadrtica entre as duas componentes, sendo um valor mais provvel
do rudo [83],
3.2.1.2 Capacitor
O capacitor utilizado em circuitos de medio para reduzir rudos existentes em
componentes e circuitos, compensao, regulao e estabilizao de tenses, dentre outras funes.
Devido a necessidade de utilizar componentes de grande estabilidade, somente capacitores fixos
tipo classe 1 (estveis com o tempo e temperatura) deveriam ser utilizados para as tarefas acima
[36].
a) Tolerncia
De maneira similar aos resistores, os capacitores tambm apresentam tolerncia de fabricao
e desvio ao longo do tempo, definindo o conceito de tolerncia dinmica. As tolerncias de
produo dos capacitores so 0,25 %, +0,5 %, 1 %, 2 %, 5 %, 10 % e 20 %. Segundo [36],
a estabilidade mxima permitida por esses componentes aps teste de 3%.
b) Coeficiente de temperatura do capacitor (TCC)
O coeficiente de temperatura varia de acordo com o tipo de construo, a capacitncia e as
dimenses do capacitor. Esse valor apresentado pelo fabricante, de acordo com cada tipo de
capacitor.
c) Resistncia de isolamento
Os capacitores possuem, apesar de bastante elevada, uma resistncia entre seus terminais,
gerando as correntes de fuga que modificam valores do circuito. A sua influncia pode ser
modelada como uma resistncia em paralelo com a sua capacitncia.
3.2.1.3 Componentes semicondutores: diodos e transistores
Em geral, quando regras bsicas de projeto so empregadas, esses componentes tm sua
interferncia no funcionamento da cadeia de medio minimizada. Entretanto, quando isso no

61
levado em considerao, ou mesmo quando o projeto no consegue reduzir sua interferncia a
nveis aceitveis, um estudo detalhado dessa influncia deve ser realizado. Preliminarmente podese apontar os seguintes modelos utilizados para modelagem de componentes semicondutores: Ia, 2a
e 3a aproximaes de modelo de diodo [84,85], modelo de Boyle e plos/zeros para transistor de
juno bipolar (BJT) [86,87], modelo do Spice para transistores FET e MOSFET [88].
Estes componentes podem apresentar no idealidades como correntes de fuga, no
linearidades na caracterstica de resposta, rudos, desvio de tenses, exigindo um estudo mais
cuidadoso de sua influncia no circuito. Para maiores informaes, deve-se consultar [84,85,89],
3.2.1.4 Redes de resistvas de linearizao e condicionamento
As redes resistivas so utilizadas para linearizar e condicionar o sinal de sada para posterior
amplificao e aquisio do sistema de medio. Para circuitos de temperatura, as seguintes
configuraes so facilmente encontradas para medio de temperatura: a) Resistores srie e
paralelo [40], b) Ponte de Wheatstone [49], c) 2, 3 e 4 fios (Conexo Kelvin) [49], d) conversor de
temperatura/freqncia [90,91], e) Circuito de diferenas (Anderson Loop) [92].
A anlise desses circuitos pode ser realizada atravs da avaliao individual de cada
componente encontrado na cadeia ou pela anlise de todos os elementos em conjunto,
determinando as perdas por deplexo em resistncias, tolerncia, variao da temperatura e rudo.
Dependendo da forma que o circuito projetado, somente a anlise global deve ser realizada,
especialmente quando existem grandezas correlacionadas.

3.2.2 Fontes de alimentao e de referncia

Uma fonte empregada para excitar os transdutores ou servir de referncia de tenso para
circuitos amplificadores e conversores analgicos e digitais. As fontes podem ser de tenso ou de
corrente. As de tenso so mais comuns, devido maior facilidade de obteno de tenses estveis
do que de correntes. Esse componente possui as seguintes fontes de incerteza:
3.2.2.1 Erro mximo admissvel (tolerncia)
O erro mximo admissvel ou tolerncia segundo a nomenclatura de fabricao,
considerado como a mxima variao encontrada no valor nominal de uma fonte de excitao entre
diferentes componentes. Esse desvio decorrente de variaes apresentadas na processo de
fabricao da fonte e apresenta-se sob a forma de porcentagem (%) ou banda () [93],

62
3.2.2.2 Estabilidade
Essa fonte de incerteza causada por modificaes no valor nominal em decorrncia do
envelhecimento do componente. tambm apresentada como variao do componente com o
tempo. A variao depende do modo de uso, das condies do processo de fabricao e do
ambiente, entre outros. Geralmente o fabricante fornece a variao mdia encontrada em testes de
longa durao (normalmente 1000 h) do componente a uma determinada temperatura
(normalmente 25C). Por outro lado, essa especificao no representa um aumento acumulativo
em um dispositivo comum. Assim, alguns fabricantes propem a estimao da variao esperada
do componente, dividindo o desvio pela raiz quadrada do intervalo de interesse [94],
Essa estimativa pode ser grosseira e, em casos onde essa fonte de incerteza seja importante,
uma avaliao experimental talvez se faa necessria.
3.2.2.3 Deriva com a temperatura
A temperatura tem influncia direta no valor do componente, podendo assumir diferentes
valores ao longo da faixa de temperatura especificada e variar de componente para componente.
Para ser possvel apresentar essa influncia, comum fabricantes apresentarem essa caracterstica
de duas formas: Mtodo da Caixa e Mtodo do Borboleta.
a) Mtodo da Caixa (Box Method): a variao da temperatura determinada pela
inclinao da diagonal de uma caixa delimitada pela faixa de temperatura e pelo valor
mximo e mnimo encontrados nesse intervalo. A Figura 3.9.a) ilustra a obteno desse
valor. Entretanto, devido grande variabilidade dos componentes, alguns fabricantes
ainda fornecem um valor mdio obtido de uma anlise estatstica, como mostrado na
Figura 3.9 b) [93],

Su

W4

503

454

Dis trlb J o cle t rs

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63
2

3*3

10 15 2D 25 30 35 40 45 50 55 60 S

Temperatura (C)

Deriva trmica (ppmTC)

a)

b)

Figura 3.9 - Definio do mtodo da caixa para determinao da deriva com a tem peratura

63
b) Mtodo da Borboleta (Butterfly Method): determina a variao da temperatura atravs
da estipulao de 3 (ou mais) pontos de medio, geralmente a 25C e nos extremos da
faixa de temperatura. Dependendo da forma de clculo utilizada, esse mtodo pode ser
considerado o Mtodo da Borboleta Verdadeiro ou Mtodo da Borboleta Modificado
[95], A Figura 3.10 ilustra os dois mtodos.

Mtodo Verdadeiro:
AEos < Eosh ou Eosl .
AT
TH-TR
TL-TR

Mtodo Modificado:
AEos = |Eosh | + 1Eosl |
AT
T H -TL

Legenda:
TR - Temperatura de referncia
TH - Temperatura mxima
TL - Tempertaura mnima
AEos/AT - Mximo coeficiente
da deriva trmica permitida
Eosh - Deriva trmica do
componente a temperatura TH
Eosl - Deriva trmica do
componente a temperatura TL

Figura 3.10 - Definio do mtodo da borboleta para determinao da deriva com a

temperatura
Atravs do coeficiente de temperatura , ento, possvel estimar a variao da fonte atravs
da faixa de temperatura a que o componente ser submetido. Entretanto essa estimativa pode ser
bastante conservativa se a faixa de temperatura pequena, uma vez que a variao maior nos
extremos da faixa [96],
3.2.2.4 Rejeio variao da alimentao
Variaes da tenso de alimentao da fonte causadas pelo processo de retificao podem
acarretar oscilaes na sada, geralmente de 120 Hz. Entretanto, as fontes geralmente possuem
circuitos que auxiliam a rejeio dessas variaes [75],
A rejeio a variao da alimentao (Power Source Rejection Ratio - PSRR) geralmente
apresentada nas especificaes atravs da seguinte equao:

PSRR = 20 log

F/

AF,o
( 3.15)

Para avaliar essa fonte de incerteza, necessrio determinar a mxima variao que poder
ser encontrada na alimentao da fonte (AV/) e utilizar a equao:

Essa fonte de incerteza aqui modelada como a influncia de uma fonte de tenso de valor
igual a AVo em srie com a tenso especificada pelo componente. No caso de fontes de corrente
real, o modelo pode ser representado como fonte de corrente ideal em paralelo.
3.2.2.5 Impedncia interna
A impedncia interna da fonte de excitao modelada como uma resistncia em srie com a
fonte de tenso ou em paralelo para uma fonte de corrente. A quantificao dessa influncia
determinada pela perda por deplexo existente entre a impedncia interna e a impedncia
equivalente dos terminais de sada da fonte [76,85],
3.2.2..6 Rudo
Em fontes de excitao, o rudo criado pelos componentes internos existentes, como
resistores e semicondutores. Esta fonte de incerteza determinada da mesma maneira apresentada
na seo 3.1.4.4.

3.2.3 Amplificador
A amplificao utilizada para aumentar a energia do sinal a ser medido. Existem diversas
tecnologias utilizadas para composio de um amplificador e os seguintes tipos de amplificadores
so os mais conhecidos: amplificador implementado com amplificador operacional; amplificador
de instrumentao; amplificador chopper stabilized [85],
As fontes de incerteza decorrentes do amplificador tratadas a seguir so baseadas na premissa
que as principais regras de projeto foram levadas em considerao. Dessa forma, problemas como
saturao do amplificador no so tratados.
3.2.3.1 Variao do ganho
Dependendo do tipo de amplificador utilizado, o valor do ganho pode ser definido
internamente ou determinado externamente por resistores. A forma de clculo do ganho pode ser
encontrado em diversas literaturas [84,85,89].

65
O ganho pode sofrer variaes em relao ao seu valor nominal e em relao variao da
temperatura. O seu valor determinado por anlise de especificaes em catlogo do fabricante,
atravs de anlise de circuitos na configurao de amplificao ou atravs de calibrao [97],
3.2.3.2 Tenso de offset
A tenso de offset o resultado do desbalanceamento existente nos amplificadores
diferenciais do estgio de entrada [36], Essa tenso pode ser modelada como uma fonte de tenso
em srie com o sinal de entrada e a sua incerteza proveniente dessa interao [95],
Deve ser destacado que, em alguns amplificadores, essa especificao dividida em duas
partes: uma parte referente entrada e outra sada. Essa condio ocorre devido dependncia de
alguns amplificadores com o ganho [97], Em geral, os amplificadores chaveados (chopper
amplifier) possuem o menor valor de tenso de offset [85],
3.2.3.3 Corrente de bias e offset
Correntes de bias so correntes que fluem nos terminais de entrada do amplificador, e que
quando passam em fontes de impedncia geram tenses que interferem no sinal de medio, da
mesma forma que uma tenso de modo comum de pequena amplitude. Essa fonte de incerteza
geralmente pequena em componentes com boa razo de rejeio de modo comum. Entretanto, se
existe um desbalanceamento nas resistncias da entrada inversora e no inversora, a influncia ser
dada pela corrente de bias multiplicada pela diferena de impedncias [95,97],
Por outro lado existe a corrente de offset, que a diferena encontrada entre as duas correntes
de bias. Essa diferena gera uma tenso de amplitude definida pela corrente de offset multiplicada
pela impedncia de entrada. A corrente de offset utilizada geralmente, em lugar das correntes de
bias, na modelagem de circuitos que podem ser considerados balanceados [97],
3.2.3.4 Razo de rejeio de modo comum
A tenso de modo comum (Vcm) definida como a mdia entre as tenses dos dois terminais
de entrada. Ao aplicar essa tenso na entrada de um amplificador diferencial real, aparecer na
sada do amplificador uma tenso proporcional a Vcm adicionada tenso de entrada. A capacidade
de rejeio do amplificador denominada razo de rejeio de modo comum (Common Mode
Rejection Ratio - CMRR) e apresentada em decibel (dB). O clculo do valor de variao de
tenso da sada (AVcm) do amplificador pode ser determinado atravs da equao:

onde: G - Ganho do amplificador

Essa influncia pode ser quantificada atravs da determinao da tenso de modo comum e
do valor de CMRR. Entretanto, deve-se chamar a ateno para o decrscimo do valor de CMRR
com o aumento da freqncia de entrada. Assim, certas freqncias como, por exemplo, 60 Hz
podem ter influncias considerveis no sinal de sada, devido reduo do CMRR com o aumento
da frequncia. Uma anlise para as freqncias mais elevadas deve ser realizada.
3.2.3. Rudo
O rudo em amplificadores tratado da mesma forma que apresentada na seo 3.1.4.4.
3.2.3.6 Impedncia de entrada e sada
Em relao s impedncias equivalentes, um amplificador pode ser modelado de acordo com
o teorema de Thevenin aplicado s entradas do amplificador [84], A influncia dessa fonte
determinada pela interao entre as impedncias do amplificador e as impedncias dos blocos
anteriores e subsequentes. A anlise de circuitos baseada na lei de Ohm e malhas pode ser utilizada
para determinar a sua influncia [84,98],
3.2.3.7 Razo de rejeio da fonte
Como apresentado na seo 3.2.2.4, a variao da fonte de alimentao influencia no valor de
sada do amplificador, sob a forma de oscilaes de baixa freqncia. A forma de clculo e os
comentrios apresentados para fontes de excitao so tambm vlidos para amplificadores.

3.2.4 Multiplexadores
O multiplexador tem a funo de permitir que sinais analgicos possam ser transmitidos por
um nico canal, atravs de chaveamento de diversas entradas. Este tipo de caracterstica ocorre
quando uma grande quantidade de sinais de medio necessitam ser convertidos por um nico
conversor digital.
Existem dois tipos usuais de chaves: o rel e a chave semicondutora [99],
O rel um componente eletromecnico que, uma vez excitado por uma corrente eltrica em
seu ncleo, fecha (ou abre) seus contatos. So mais lentos, devido inrcia mecnica prpria de

67
sua construo, mas possuem a vantagem de ter baixa resistncia de contato, pequena corrente de
fuga e no sofre influncia da tenso de modo comum. Dentre os rels destacam-se para essa
funo os rels eletromecnicos, reed switch e o reed switch com mercrio [99],
As chaves semicondutoras, ou rels de estado slido, so compostas por componentes
semicondutores e, da mesma forma que os rels, fecham (ou abrem) os contatos de acordo com um
sinal de comando. Por ser um componente integrado, ele ocupa pouco espao em placa, so
silenciosos, no possuem problemas de desgaste e possuem um tempo de acionamento pequeno.
Alguns componentes podem apresentar uma considervel corrente de fuga, gerando erros nos
sinais de medio [99],
O modelo desse componente pode ser visualizado na Figura 3.11 [99-101],

c<

Legenda:
Rin e Rout - Resistncia de entrada e sada
Ron e Roff- Resistncia de chave ligada e desligada
Voffset - Tenso de offset da chave

Cin e Cout - Capacitncia de entrada e sada

C - Capacitncia de chave
Ifiiga - Corrente de fuga

Figura 3.11 - Modelo de fontes de incerteza de uma chave multiplexadora

As fontes de incerteza para esses componentes so mostradas a seguir.

3.2.4.1 Resistncia das chaves
De acordo com o modelo mostrado na Figura 3.11, a chave possui uma baixa resistncia
quando fechada e uma alta resistncia quando aberta. Essa caracterstica proporciona perdas gerada
pelo produto da corrente e a resistncia da chave, causando um erro no sinal de medio.

68
Esse valor de resistncia mais pronunciado em rels semicondutores, onde a resistncia
pode atingir valores superiores 200 Q e varia com a tenso e com a forma de alimentao. [91], As
resistncias de contato tambm variam em relao ao valor de resistncia entre chaves, sendo essa
informao utilizada quando for realizada a medio diferencial [99],
3.2.4.2 Corrente de fuga
As chaves multiplexadoras apresentam correntes, gerada por circuitos internos, que
interferem no sistema de medio. Atravs da anlise de circuitos aplicada ao modelo apresentado
na Figura 3.11 em conjunto com os circuitos de entrada e sada, pode-se determinar a influncia
dessa fonte de incerteza. A corrente de fuga pode ter grande influncia quando interage com
resistncias externas altas [91],
3.2A.3 Tenso termoeltrca
Se analisado somente o componente, esse efeito encontrado somente em rels mecnicos.
Entretanto, no caso de placas ou cartes, tanto as baseadas em rels mecnicos como
semicondutores apresentam tenses termoeltricas. As tenses termoeltricas ocorrem devido
juno de diferentes metais na construo das chaves. A interferncia consiste em adicionar uma
tenso que depende da variao da temperatura da juno. Essa fonte de incerteza pode ser avaliada
pelo procedimento descrito na seo 3 .1.1.4, ou atravs de experimentao [99],
3.2.4.4 mpedncia de entrada e sada
As chaves apresentam tambm impedncias equivalentes relativas ao canal de entrada e sada
e so apresentadas na Figura 3.11. Essa forma de influncia tratada da mesma maneira que
exposta na seo 3.2.2.5.
3.2.4.5 Isolao entre chaves (crosstalk)
Devido ao processo de chaveamento e construo interna do componente, um canal de
medio pode afetar outros canais. Esse efeito denominado isolao entre chaves ou crosstalk e
determinado atravs da equao [99]:
Ktest
Crosstalk

10

20
( 3.18)

onde:

Vtest [V] - a tenso aplicada em um canal qualquer;

AVo [V] - a tenso existente no canal em virtude da aplicao da tenso Vtest',

69
Crosstalk [dB] - Capacidade de isolao (crosstalk do canal)
Atravs desse valor pode-se estimar a incerteza inserida pelo crosstalk.

3.2.5 Converso analgico-digital

Os conversores analgico-digitais so responsveis por transformar os sinais de temperatura
em valores que permitam o processamento em sistemas digitais. Existe uma grande quantidade de
tecnologias e topologias de conversores. Entretanto, trs tipos, se destacam sobre os demais para a
medio:

conversores de aproximao sucessivas;

integrador (dual slope);

delta-sigma.

O conversor de integrao superior em linearidade, exatido e resoluo, mas apresenta

baixa velocidade de converso. Os conversores de aproximao possuem vantagem de possuir
maior velocidade de converso. E, quando deseja-se aliar baixa incerteza com alta velocidade de
medio, os conversores delta-sigma so os mais indicados, tomado-se bastante utilizados nos
ltimos anos.
A seguir sero tratados as principais fontes de incerteza inerentes de conversores analgicodigitais.
3.2.5.1 Erro de quantizao do conversor
O erro de quantizao refere-se ao mximo desvio encontrado em um conversor entre o sinal
analgico e o sinal digital obtido na sada. A curva de erro geralmente apresenta a forma de um
dente de serra, com amplitude igual a +LSB (Least Significative Bit - bit menos significativo). O
valor de LSB determinado pela resoluo do conversor [91].
A resoluo o menor valor de tenso que pode ser digitalizado pelo conversor. Esse valor
pode ser apresentado sob a forma de nmero de bits ou dgitos.
O nmero de bits relaciona a resoluo (incremento digital) com a faixa de operao
(analgica) atravs da equao ( 3.19):

( 3.19)
onde:

ID - Incremento digital do conversor

FO - Faixa de operao [V]

70
n - Nmero de bits
Por exemplo, um conversor de 12 bits possui uma resoluo de 1/4096 da faixa de operao
[102],
O nmero de dgitos representa o nmero de algarismos significativos que podem ser
determinados pelo conversor. Devido a mecanismos internos, o conversor pode apresentar ainda
um dgito extra que pode assumir o valor de 0 ou 1, denominado meio dgito. Assim, um
conversor de 4lA dgitos pode mostrar valores entre 19999. Nesse caso, a resoluo definida
tambm pelo valor da escala utilizada [62],
3.2.5.2 Erro de ganho
O ganho de um conversor analgico-digital o coeficiente angular da caracterstica de
resposta do conversor. O erro de ganho a diferena encontrada no valor nominal do coeficiente
angular da caracterstica de resposta do transdutor.
Essa incerteza pode ser apresentada de duas formas: uma atravs da determinao do mximo
desvio encontrado no coeficiente angular, geralmente apresentado sob a forma de porcentagem do
valor medido, outra pelo erro mximo encontrado em toda a faixa de trabalho, que geralmente est
situado no final da faixa, quando compensado o offset [91].
Por outro lado, alguns conversores apresentam ganho que depende de uma tenso de
referncia, utilizada para determinar a escala do conversor. Nesse caso a incerteza causada pelo
erro de ganho definida pela diferena causada pela tenso de referncia na caracterstica de
resposta.
3.2.5.3 Erro de linearidade
O erro de linearidade considerado a mxima diferena entre a caracterstica de resposta do
transdutor e uma reta ideal. Ele apresentado de diversas formas, sendo que a mais encontrada a
especificao pela mxima diferena da curva ideal obtida por mnimos quadrados com zero fixo
ou mnimos quadrados da resposta do conversor. Uma anlise da folha de dados pode indicar a
forma de avaliao dessa incerteza [38],
O fabricante tambm pode apresentar essa informao dividida em outros coeficientes como
a no-linearidade diferencial, que a medida de quo uniforme os passos da resposta do conversor
se apresentam, ou a no-linearidade integral, que determina o mximo entre o centro do degrau
ideal em relao ao degrau do conversor. Nesse caso, deve-se separar e identificar o coeficiente
que mais expressa esse tipo de incerteza [91],

71
3.2.5.4 Outras fontes de incerteza
Como no amplificador (seo 3.2.3), os conversores analgicos/digitais tambm so
influenciados pela tenses e correntes de offset, deriva com a temperatura, deriva ao longo do
tempo, rudo, rejeio a variao da alimentao (PSRR). As formas de tratamento so os mesmos
apresentados na seo 3.2.3.

3.2.6 Outras fontes importantes de incerteza em sistemas de medio

3.2.6.1 Cabos de ligao
Os cabos utilizados para medio de temperatura podem apresentar influncia na medio,
dependendo das distncia entre o transdutor e a unidade de tratamento de sinal. Em geral, o modelo
dos cabos representado por uma resistncia em srie que varia de acordo com a distncia do cabo,
a rea da sesso transversal do fio e tipo de fio. Em sistemas onde a freqncia toma-se mais
elevada (acima de 1 kHz), circuitos compostos por resistncia e capacitncia tomam o sistema
melhor modelado. Para maiores informaes consultar [62,98,103],
3.2.6.2 Blindagem, aterramento e guarding
Problemas de blindagem, aterramento e guarding fazem com que o sinal de medio se
modifique de forma bastante difcil de quantificar devido grande dependncia das caractersticas,
do local de medio e instalao. Nesse caso, cuidados devem sr tomados para minimizar a
influncia dessas fontes de incerteza, tomando-a desprezvel. Apesar de ser de grande importncia,
no tratado nesse trabalho, devido ao fato da quantificao a priori dessa fonte de incerteza ser
bastante difcil e depender muito da montagem do sistema de medio. Pode-se obter maiores
informaes em [63,104].

3.3 PROCESSAMENTO DE INFORMAES

No caso de sistemas automatizados, aps a converso analgica-digital, o sinal transferido
para o computador e posteriormente convertido e mostrado para o usurio atravs das diversas
formas de apresentao.
Durante a transferncia da informao, o sinal de medio no possui incertezas associadas e
somente ocorrero modificaes em caso de corrupo causada por rudos ou problemas similares,
dificultado uma quantificao dessa incerteza. Esse tipo de problema est fora do escopo do
trabalho, mas informaes extras podem ser encontradas em [105],

72
Por outro lado, no tratamento da informao e na apresentao no computador, identificamse algumas fontes de incerteza que afetam o resultado de medio. Nessa seo so tratadas as duas
principais formas de incerteza encontradas no processamento de informao: arredondamento e
truncamento e ajuste para determinao da temperatura.

3.3.1 Arredondamento e truncamento

O arredondamento e o truncamento so operaes realizadas no valor de medio, de forma a
possibilitar a representao de um valor de medio em um sistema com preciso numrica
limitada. A diferena entre as duas tcnicas encontra-se no ponto de transio entre dois estados,
sendo o arredondamento posicionado na metade do valor do bit menos significativo e o
truncamento no final do bit menos significativo [106],
Em geral, devido ao grande nmero de casas decimais disponveis em computadores, essa
fonte de incerteza na maioria da vezes desprezvel, quando garantido que o programa no possui
erros causados pela realizao de operaes sob resoluo limitada [106], Assim, em alguns
sistemas microcontrolados de 8 bits, pode-se haver perda considervel de informao. Nesse caso
uma anlise mais detalhada deve ser realizada para quantificar a sua influncia.

3.3.2 Algoritmo para determinao da temperatura

Para apresentar o valor da temperatura medida, algoritmos internos so utilizados para
realizao da converso entre o valor digital e o valor em temperatura. Alguns algoritmos foram
identificados para a realizao da converso de temperatura:
a) interpolao: consiste na utilizao de uma tabela composta de diversos pontos ao longo
da faixa de medio e, atravs de um polinmio ajustado entre pontos, determinar valores
intermedirios da temperatura medida [106];
b) equao de converso: consiste na utilizao de uma funo para converter o valor
digital em temperatura. A equao determinada de acordo com a caracterstica do componente a
ser linearizado, podendo assumir polinmios de n-sima ordem [107], raiz quadradas [56] ou
funes exponenciais e logartmicas [108], Os coeficientes so geralmente determinados por
valores de tabelas, de literaturas ou por regresso utilizando mnimos quadrados;
c) outras tcnicas particulares: existem outras formas de realizar a converso para
temperatura, baseadas em procedimentos que podem misturar as tcnicas acima. Um exemplo
apresentado pela Hewlett Packard (HP) e implementado no HP 3054 [49], consistem em utilizar

73
valores tabulados padronizados e realizar interpolao com um polinmio de 3a ordem entre 3
pontos da tabela.
A avaliao dessa fonte de incerteza pode ser realizada pela seguinte forma: determina-se a
resposta ideal do sistema de medio atravs da anlise do sistema de medio com o polinmio
linearizador mais completo e, atravs da utilizao do algoritmo a ser avaliado, determina-se a
mxima diferena entre os polinmios.

3.4 INSTRUMENTOS COMPOSTOS

Para facilitar a implementao de sistemas de medio de temperatura, diversos fabricantes
desenvolveram equipamentos que renem as diversas funes dos componentes tratados nas sees
3.2 e 3.3. Esses instrumentos so agrupados em 3 grandes grupos com caractersticas comuns:
placas

de aquisio,

multmetros digitais e mostradores

de temperatura (conhecidos

comercialmente como termmetros digitais).

Para os trs instrumentos aqui denominados compostos, a avaliao das fontes de incerteza
realizada de maneira similar. Assim, a seguir esto apresentadas conjuntamente as principais
caractersticas desses instrumentos para auxiliar na avaliao da incerteza.

3.4.1 Placas e sistemas de aquisio de sinais

So sistemas integrados de aquisio de sinais para computadores. Possuem internamente
circuitos de compensao, referncia e tratamento de sinal que melhoram a qualidade das
medies. Em geral permitem uma comunicao mais rpida com o computador, por estarem
ligados diretamente ao barramento [91]. Podem ser encontrados como placas de aquisio de
sinais, conectadas diretamente no soquete interno do computador [109], ou como um sistema
modular de aquisio, composto de placas que conectam-se a um barramento de instrumentao
padronizado como o VXI [109,110] ou o PXI [109]) que se comunica com o computador atravs
das interfaces RS-232 ou GPIB.
As placas de aquisio permitem a aquisio de diversos sinais analgicos, algumas
chegando a 32 canais (multiplexados). Tambm incorporam outros blocos importantes para a
aquisio e controle de processos como contadores e temporizadores, entradas e sadas digitais e
conversores digital-analgicos [109,110],
As placas de aquisio podem ter diferentes tipos de conversores analgico-digitais. Os mais
comuns so: aproximao sucessiva, dupla rampa, delta-sigma [109,110], A taxa mxima de

74
aquisio e a resoluo requerida pela aplicao determinam o tipo de placa a ser utilizada. A
Figura 3.12 ilustra a topologia comumente encontrada em placas de aquisio.
Algumas placas de aquisio so otimizadas para a medio com transdutores de
temperatura, com escala prpria para a medio com termopares com circuitos de junta de
referncia incorporada, medio de resistncia a 2 e 4 fios para termorresistores ou termistores
[109,110].

Figura 3.12 - Topologia de uma placa de aquisio de dados

3.4.2 Multmetros digitais

Os multmetros digitais, ou tambm conhecidos como DMM (Digital Multimeter), so
usados na indstria como aparelhos universais para medio de diversas grandezas eltricas, tais
como tenso, corrente ou resistncia. Para a termometria, os multmetros digitais podem ser
utilizados para aquisio e apresentao do valor de medio, sendo considerados os mdulos
converso analgica-digital [38,69],
Embora vrios modelos apresentem o valor da temperatura na grandeza medida,
(tenso/resistncia) em alguns modelos, o valor de medio pode ser convertido para temperatura
atravs de polinmios padres existentes internamente no prprio aparelho. O algoritmo de
converso pode diferenciar de modelo para modelo.

75
Os multmetros digitais apresentam a seguinte topologia interna (Figura 3.14):

circuito de Medio: onde realizada a aquisio do sinal. E isolado das demais partes do
equipamento para evitar rudo e interferncia provenientes dos circuitos digitais;

circuito de controle: monitora e determina o princpio de funcionamento do equipamento.

Tambm possui um sistema operacional interno que permite modificar filtro, tempo de
aquisio, resoluo, escala, entre outras funes;

mostrador: apresenta o sinal de sada de forma visual;

interface com o computador: realiza a comunicao com o computador. As interfaces

utilizadas so geralmente baseadas na interface serial RS-232 [94] e pela interface
paralela GPIB (IEEE 488) [110].

Sinal de
medio

Isolamento
eletro-magntico
Circuitos de
Medio

8888.88
Mostrador

Circuitos de Controle
Interface com o computador

IEEE-488

RS-232
Computador

Figura 3.13 - Diagrama interno de um multmetro digital

O esquema bsico dos circuitos de medio mostrada na Figura 3.14. A grandeza a ser
medida (tenso, corrente ou resistncia) aplicada na entrada entre os terminais Hl e LO. Se for
realizada medio de corrente, a chave AMP fechada permitindo converter o sinal em tenso. De
acordo com o tipo de medio de corrente alternada, contnua ou resistncia, as chaves so
colocadas na posio AC, DC e OHM, respectivamente. O sinal convertido para tenso para
poder ser medido com o conversor analgico-digital e, depois, o sinal digitalizado passado para o
circuito de controle.

76

OHM - Resistncia

Figura 3.14 - Diagrama esquemtico dos circuitos de medio

Os multmetros possuem circuitos de correo que reduzem as imperfeies existentes nos
componentes utilizados, minimizando a influncia de fatores externos ao instrumento, como
temperatura e interferncias, alm de corrigir derivas internas com sistemas conhecidos como
auto-calibrao, que zeram a entrada do instrumento antes de cada medio e, atravs de
compensao interna, zeram a sada do instrumento [94,110],

3.4.3 Termmetros digitais

So equipamento dedicados especialmente para medio de temperatura, que incorporam
toda a cadeia de medio, com exceo do transdutor. Possuem funes diversas que auxiliam a
medio de temperatura, realizando correes que reduzem sobremaneira os principais efeitos
causados pelas incertezas em medio de temperatura, alm de permitirem, em alguns casos, a
medio de diferentes tipos de transdutores como termistor ou termopar, ou ento a medio de
vrios transdutores simultaneamente [49], Alguns instrumentos apresentam circuitos internos e
diferentes tcnicas de medio que reduzem consideravelmente a influncia das principais fontes
de incerteza em cadeias de medio de temperatura, como junta de referncia melhorada, auto-zero
para reduo da influncia de offset, corrente de alimentao chaveada para minimizar os efeitos
do auto-aquecimento, polinmios de converso para transdutores especficos, entre outros [23,49].
A Figura 3.15 apresenta um circuito esquemtico de um termmetro comercial.

77

Figura 3.15 - Circuito esquemtico de um medidor de temperatura

3.4.4 Fontes de incerteza de instrumentos compostos

3.4.4.1 Erro mximo do instrumento, estabilidade ao longo do tempo e da
temperatura ambiente
A informao de incerteza de instrumentos compostos geralmente apresentada na forma
tabular, como mostrado na Tabela 3.14. Nela esto contidas as informaes de erro mximo para
diferentes temperaturas e perodos de tempo de utilizao aps a calibrao.
Tabela 3.14 - Erro mximo de um multmetro

Escala

Tempo aps calibrao e faixa de tempei atura de trabalho (*)

24 horas
90 dias
1 ano
23C 5C
23C 1C
23C5C
0,0050 + 0,0035
0,0030 + 0,0030
0,0040 + 0,0035
0,0040 + 0,0007
0,0020 + 0,0006
0,0030 + 0,0007
0,0035 + 0,0005
0,0020 + 0,0005
0,0015 + 0,0004
0,0045 + 0,0006
0,0035 + 0,0006
0,0020 + 0,0006
0,0035 + 0,0010
0,0045 + 0,0010
0,0020 + 0,0006

100 mV
1V
10 V
100 V
1000 V
(*) Formato da apresentao: (% da leitura + % da escala), 95% de grau de confiana

O erro mximo do instrumento uma informao fornecida pelo fabricante, que representa o
maior erro que se espera que seja encontrado no instrumento, com uma dada probabilidade e sob
condies especficas de utilizao. E apresentado na forma (% da leitura + % da escala). A
probabilidade inerente nem sempre fornecida. Para uma medida de 200 mV, por exemplo, de um
transdutor integrado de temperatura, o multmetro pode medir com a escala de 1 V e o erro mximo

78
para at 90 dias aps calibrao e com temperatura ambiente variando entre 18C e 28C (200 x
0,0030 % + 1000 x 0,0007 %) = + (0,006+0,007) = 0,013 mV.
Deve-se cuidar para o fato de que esses valores so obtidos em relao a uma determinada
condio de referncia, geralmente com resistncia de entrada balanceada e com filtragem de sinal.
No caso da aplicao estar em condies no previstas na tabela, o fabricante no garante os
valores mximos de incerteza do instrumento e, nesse caso, uma avaliao particular atravs
experimentao deve ser realizada. Alguns fabricantes j apresentam informaes adicionais como
o valor da variao com a temperatura, permitindo avaliao dessa fonte de incerteza [109,110],
3.4.4.2 Resoluo
A resoluo em instrumentos compostos depende do nmero de dgitos ou nmero de bits,
que indicam a mnima representao possvel para o valor medido. A quantificao dessa fonte de
incerteza segue os padres definidos na seo 3.2.5.1.
3.4.4.3 Impedncia de entrada
O estgio de entrada do conversor analgico-digital modelado como uma impedncia
equivalente de entrada composta por um capacitor em paralelo com um resistor [110]. Na grande
maioria das aplicaes em medio de temperatura, por se ter sinais de baixa freqncia, o
capacitor pode ser desprezado.
O fabricante geralmente apresenta o valor de resistncia sob a forma de um valor mnimo (10
MO , por exemplo) ou atravs de um valor central com determinada tolerncia (10 M ) 10% ). A
influncia dessa fonte obtida atravs de anlise da interao dessa impedncia com o circuito de
medio.
3.4.4.4 Rudo
A influncia de rudo definida por grficos que apresentam a variao existente entre a
amplitude do rudo e a constante de integrao utilizada para realizar a medio, denominada
NPLC (Number of Power Line Cycles) e define a taxa de aquisio do equipamento em funo
da freqncia de oscilao da rede eltrica [110], Alguns fabricantes tambm apresentam o rudo
em conjunto com o erro de quantizao (resoluo) para uma medio ou para mdia de medies
[109].

79
3.4.4.5 Corrente de alimentao (para medio de resistncias)
A corrente de alimentao, tambm chamada de corrente de teste pelos fabricantes,
utilizada para realizar a medio de resistncia (termorresistncias e termistores) e influencia no
valor do auto-aquecimento do transdutor. A forma de avaliao segue o procedimento descrito na
seo 3.1.2.2.

Atravs das informaes apresentadas nesse captulo, torna-se possvel determinar quais so
as fontes de incerteza que possuem influncia no resultado de medio de um sistema de medio
de temperatura. Entretanto, essa no uma reviso definitiva sobre todas as fontes existentes
encontradas em um sistema de medio e, por ventura, outras fontes devem ser anexadas a esta
relao. Entretanto, esse trabalho pode servir de base para uma primeira avaliao do sistema de
medio.

80

CAPTULO 4

SISTEMA DE AVALIAO DA INCERTEZA AUXILIADO POR

COMPUTADOR
Unindo o procedimento de avaliao de incerteza (Captulo 2) com a anlise das principais
fontes de incerteza (Captulo 3) possvel realizar a avaliao da incerteza de forma sistemtica.
Entretanto, a implementao pode ser bastante trabalhosa e difcil. Isso se deve grande
quantidade e diversidade de fontes de incerteza, ao grande volume de clculos necessrios para
quantificao dessas fontes e aos necessrios conhecimentos especializados em metrologia e
instrumentao, incluindo anlise de circuitos eletrnicos. Isso pode se constituir numa grande
barreira para aplicao do ISO-GUM nesses casos. De forma a minimizar esse problema, estudouse a aplicao de programas de computador para auxiliar nessa tarefa.
Neste captulo apresentada uma proposta de sistema de avaliao de incerteza atravs da
juno de dois programas encontrados no mercado: PSpice (MicroSim Co.) e Excel (Microsoft
Co ). So apresentadas e discutidas as particularidades e so feitas as adaptaes necessrias para a
utilizao de cada programa na composio de um prottipo. Ao final so analisadas e sugeridas
modificaes para a transformao desse prottipo em um sistema integrado para avaliao de
incerteza.

4.1 CARACTERSTICAS GERAIS DO SISTEMA

Um sistema de avaliao de incerteza auxiliado por computador deve possibilitar o clculo da
incerteza seguindo o procedimento recomendado pelo ISO-GUM. Neste trabalho foi desenvolvido
um prottipo que permite a modelagem de uma cadeia de medio de temperatura e possibilita a
avaliao da incerteza para um ponto ou para uma faixa de temperatura. Foi implementado a partir
de dois programas individuais: o programa DesignLab para auxlio na quantificao das fontes de
incerteza e o programa Excel, utilizado para gerenciamento e avaliao da incerteza de medio.
Alguns resultados gerados pelo prottipo foram organizados e apresentados de forma a facilitar a
sua utilizao em um sistema de gerenciamento de incerteza.
O prottipo desenvolvido apresenta as seguintes caractersticas:

permite a sistematizao das fontes de incerteza a serem avaliadas;

possui os modelos dos principais componentes existentes em uma cadeia de medio;

quantifica as fontes de incerteza;

81

avalia a incerteza padro e a expandida ;

apresenta uma planilha de clculo para uma determinada temperatura;

apresenta grficos de incerteza padro para uma dada temperatura e ao longo de uma
faixa de medio especfica.

Com a incorporao do programa de auxlio ao procedimento de avaliao, o roteiro para a

avaliao de incerteza realizado da seguinte forma:
1) identificao dos mdulos que fazem parte da cadeia de medio;
2) identificao das fontes de incerteza, quantificao em dados brutos e preparao da
planilha de clculo;
3) modelagem da cadeia atravs de um programa de simulao de circuitos eletrnicos;
4) quantificao, em unidade de temperatura, da influncia de cada fonte de incerteza na
cadeia e exportao dos resultados para a planilha de clculo;
5) determinao da forma de avaliao e distribuio para cada fonte de incerteza;
6) avaliao da incerteza final e, em caso de no atingir a incerteza desejada, avaliao das
principais fontes de incerteza que devem ser reduzidas;
Atravs da Figura 4.1 ilustrado o procedimento de avaliao de incerteza descrito acima.

82
Identificar componentes
e fontes de incerteza
da cadeia de medio

Construo do
modelo de
incerteza

-PSpice

Figura 4.1 - Seqncia de atividades para avaliao de incerteza de medio

4.2 PROGRAMA PARA ANLISE DE CIRCUITOS - PSPICE

No procedimento de anlise da incerteza, existe a necessidade de quantificar a influncia das
fontes de incerteza no sistema de medio. Como cadeias automatizadas so compostas em grande
parte por mdulos, foi analisada a possibilidade de utilizao de programas para anlise de
circuitos eletrnicos para a modelagem de sistemas de medio.
Para realizar a quantificao da incerteza, neste trabalho foi utilizado o programa de
simulao de circuitos eletrnicos - Spice, de grande popularidade na rea de anlise de circuitos.
Dentro dos programas de simulao, o ambiente DesignLab, com seu programa de simulao
denominado PSpice, foi utilizado em virtude da disponibilidade, das suas boas potencialidades e
da grande fatia de mercado que possui.

83

4.2.1 Origem do PSpice

O Spice (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) comeou a ser
desenvolvido na dcada de 70 pelo departamento de Engenharia Eltrica da Universidade da
Califrnia em Berkeley e prosseguiu seu desenvolvimento at 1981, resultando no Spice2 [111].
Apesar de ser um sistema de domnio pblico, a Universidade de Berkeley no fornece um
sistema comercial de fcil utilizao nem suporte a usurios, abrindo um mercado em potencial.
Assim, diversos sistemas foram criados para desenvolvimento e anlise de circuitos utilizando uma
interface integrada para o usurio. A Tabela 4.1 mostra os principais fabricantes encontrados no
mercado que se baseiam no Spice [111,112],
Tabela 4.1 - Lista de fabricantes de simuladores
Fabricante
Contec Microelectronics
Deutsch Research
Electrical Engineering Software
Intusoft
Meta-Software
MicroSim Corporation
Spectrum Software

Simulador
ContecSpice
TurboSpice
Precise
IsSpice
Hspice
Pspice
Micro-Cap

Dentre os programas acima, o programa PSspice da MicroSim merece destaque. Em 1995, o

software PSpice da MicroSim Corporation possua 17000 cpias comercializadas, sendo o lder de
cpias no mercado [111]. O contnuo melhoramento da interface levou ao desenvolvimento da
verso 8 que permite o desenvolvimento completo de toda a documentao para circuitos
eletrnicos. Atualmente, a empresa fundiu-se com a OrCad Corporation, transformando-se no lder
em plataformas de desenvolvimento de circuitos eletrnicos em ambiente PC. Em virtude de
disponibilidade, neste trabalho foi utilizado o programa PSpice do sistema DesignLab, verso 7.1.

4.2.2 O Sistema DesignLab

O sistema MicroSim DesignLab um programa integrado para desenvolvimento e anlise de
circuitos eletrnicos analgicos e digitais [113], O pacote composto por diversos mdulos:

MicroSim Schematics: para fazer a representao grfica de circuitos (diagrama

esquemtico) e receber as informaes necessrias para a realizao de simulaes pelo
PSpice.

MicroSim Pspice A/D: para realizao da anlise e simulao dos circuitos.

84

MicroSim Probe: responsvel pela apresentao de resultados.

MicroSim PCBoards: dedicado ao projeto de placas de circuito impresso.

A Figura 4.2 mostra o fluxo de dados existente no processo de desenvolvimento de um

circuito eletrnico. O software Schematics a principal interface de desenvolvimento. Atravs
dela, as informaes dos circuitos so preparadas e organizadas para o desenvolvimento do circuito
esquemtico, da lista de materiais e para a simulao. A simulao realizada pelo programa
Pspice, gravando o resultado em um arquivo de sada da simulao. Atravs do programa Probe
possvel traar grficos para analise do funcionamento do circuito, alm de possibilitar o psprocessamento e exportao para outros programas. Uma vez completa a anlise, a placa de
circuito impresso pode ser desenvolvida atravs do programa PCBoards. Mais informaes podem
ser obtidas em [114],
MicroSim
PCBoards,

Disposio
da pinagem

Arquivo de
sada da simulao

Figura 4.2 - Estrutura e configurao do DesignLab

4.2.3 Adaptao do PSpice para anlise da incerteza de medio

Durante as fases iniciais da pesquisa, verificou-se a necessidade da criao de modelos
especiais para a anlise de incertezas. Os modelos encontrados nas atuais bibliotecas so muito
especficos para cada componente e so de difcil utilizao para a anlise de incerteza, uma vez
que nem todos os parmetros necessrios esto disponveis.
Assim, dentro deste trabalho os modelos dos principais componentes foram desenvolvidos.
Esses modelos fazem parte de uma biblioteca denominada Modelos2.slb, mostrada na Figura 4.3.

Lbi^iy Biowsei

Part Name: JDC01

Description:
Part

i.DCOi
ampopOl

swrtehOI
smtch02
RTD01
ternis
temr2
ampop_g
PtIOO
TCK
TCJ

JTCK
rtd02
teim&S
IC590

Library
7400 slb
74AC.sfb
74ACT.slb
74ALS.sb
74S.*fo
74F.slb
74H.slb
74HCslb
74HCT.S*
74L.db
74LS.slb
74S slb

Zl

OK
Cancel

--..-

Figura 4.3 - Modelos disponveis para anlise de incerteza desenvolvidos neste trabalho
A biblioteca composta pelos seguintes componentes: termopares tipo J (TCJ) e K (TCK);
junta de compensao tipo K (JTCK); chave aberta (switchOl) e fechada (switch02); amplificador
de instrumentao (ampopOl) e com modelo de Monte Cario (ampop_g); termistores com
diferentes equaes de no-linearidade (termis, termis2, termis3); circuito integrado de temperatura
(IC590); termorresistor com diferentes nveis de modelagens (ptlOO, rtdOl, rtd02); conversor
analgico-digital (ADCOl).
Os modelos criados seguem a tendncia de programao em linguagem grfica, encontrados
em muitos programas comerciais (Labview, Arena). O DesignLab no implementa diretamente
esse tipo de estrutura para sua biblioteca de modelos, mas permite a criao de sub-circuitos que
foram adaptados para representar os modelos para clculo de incerteza. Optou-se por essa forma de

86
representao, devido facilidade de iterao entre usurio e programa. Ele composto de trs
partes: o smbolo, a estrutura interna e as propriedades.
O smbolo a representao grfica de um modelo, o qual o usurio utiliza para compor a
cadeia de medio para anlise da incerteza. Cada smbolo possui internamente uma estrutura que
define a forma de funcionamento, denominada estrutura interna. Ela composta por
componentes bsicos do PSpice, tais como componentes eletrnicos discretos e funes de
transferncia. O funcionamento do bloco modificado por variveis internas denominadas
propriedades. Atravs delas os modelos podem ser ajustados de acordo com as informaes
encontradas, por exemplo, nas folhas de dados. Essa estrutura apresentada na Figura 4.4.

Smbolo

Propriedades______
CARACTERSTICAS_________
Resistncia interna
0.20 ohm
Rudo
0.01 mV
Incerteza na calibrao 0.14 C

Estrutura Interna

Figura 4.4 - Estrutura dos modelos propostos para anlise de incerteza

Com essa forma de organizao do modelo, o avaliador conecta os smbolos formando a
cadeia de medio, sem a necessidade de saber exatamente como est disposta a estrutura interna, e
a influncia das fontes de incerteza no componente definida atravs de parmetros passados
atravs das propriedades.

87

4.2.4 Realizao da modelagem da cadeia de medio

A primeira etapa na avaliao da cadeia de medio a sua modelagem. Esse procedimento
consiste em identificar as partes que compem a cadeia de medio real e, por similaridade,
construir o modelo da cadeia utilizando os blocos existentes no PSpice.
O procedimento para montagem da cadeia de medio consiste em:
1 . identificar os mdulos que compem a cadeia de medio;
2 . identificar os modelos dos blocos na biblioteca interna e colocar os componentes sobre a

rea de trabalho. No caso de no existir o componente, blocos bsicos podem ser

utilizados para modelar a cadeia;
3. ligar os componentes da cadeia atravs de fios de conexo;
4. colocar e ligar os blocos adicionais (fontes de alimentao, temperatura medida)
necessrios somente para a simulao;
5. configurar os parmetros para a realizao da simulao;
6 . simular e analisar resultados.

A Figura 4.5 apresenta a interface do programa e seus principais comandos (botes)

utilizados na anlise. Os nmeros entre parnteses indicam a seqncia de utilizao dos botes
durante a construo da cadeia.
Il* Schematics - [ <new1 > p.1
Fite

cft

Draw

Dbg! B

avigate

Him

]
View

Options

Analysis

.1 ! i l i

N m .

0 | w 51 |DC

i!

Jools

(1) selecionar
componente

Window

Help

L,

% M \S K

(4)simular
(executar Pspice)

(5)criar sub-blocos
(2)ligar componentes

Markers

(6)editar
smbolos

(3)configurar
simulao

jl l

5.11. 2.61

;; f Cmd: get New

Figura 4.5 - Ambiente de desenvolvimento para simulao e suas funes bsicas

Para ilustrar a forma que os modelos podem assumir para o usurio, trs exemplos so
expostos a seguir. Esses circuitos mostram que os modelos podem ter diferentes graus de
complexidade, dependendo do objetivo da simulao e do nmero de fontes de incerteza

88
considerados. Cabe destacar que cada smbolo apresentado traz consigo a estrutura mostrada na
Figura 4.4
A Figura 4.6 expe uma cadeia para medio absoluta e diferencial de temperatura com
termorresistores de platina. A cadeia composta de uma fonte de corrente constante, um conjunto
de amplificadores, chaves de multiplexao e um conversor analgico/digital. Nesse caso o modelo
possui uma grande quantidade de fontes de incerteza modeladas. Isso se aplica, por exemplo, nos
casos em que h necessidade de medio com grande exatido.
A Figura 4.7 apresenta o modelo de uma cadeia com um termopar tipo K, uma junta de
referncia e um multmetro ligado na sada da cadeia (representado pela sua resistncia de entrada).
Nesse modelo no foram consideradas diversas fontes de incerteza. o caso, por exemplo, em que
estudos prvios demonstram que outros fatores no contribuem significativamente para a incerteza.
A Figura 4.8 apresenta um circuito para linearizao de termistores, modelado somente para
a anlise dos efeitos da no-linearidade gerada pela variao das resistncia devido s tolerncias
de fabricao.

Figura 4.6 - Modelo de uma cadeia de medio com termorresistores

89
TCK3
425 .9 E -0 6

Figura 4.7 - Modelo simplificado de uma cadeia de medio com termopares

fifVfV.INI )-0.143?11V-O.COOSi M T 4 )

-T

ir
k

Figura 4.8 Modelo para anlise de erro de linearidade residual em um circuito de

linearizao de termistores

4.2.5 Procedimentos de anlise de incerteza atravs do PSpice

Uma vez definido o modelo da cadeia de medio, necessita-se especificar certos
procedimentos para obteno da influncia de cada fonte de incerteza.
O primeiro passo consiste em definir a temperatura a qual est submetido o transdutor. Como
o sistema de simulao utilizado foi desenvolvido para circuitos eletrnicos, a temperatura do
transdutor simulada atravs de uma fonte de tenso. O valor da fonte de tenso define a
temperatura que o transdutor est submetido. Utiliza-se a escala Celsius.
O segundo passo consiste em modificar o valor de uma das propriedades dos modelos para
avaliar sua influncia. Atravs da comparao entre a resposta da cadeia de medio sem a

90
influncia de fontes de incerteza com a resposta influenciada, pode-se quantificar sua incerteza,
como exposto na seo 2.3.1.3 - Identificao das fontes de incerteza. Realizados esses passos, o
modelo pode ser simulado e a influncia quantificada.
A simulao para circuitos eletrnicos realizada atravs de mtodos numricos e determina
os valores de tenses e correntes existentes em todo o circuito. No PSpice, existem diversas formas
de anlise que podem auxiliar na avaliao. A seguir sero descritas as formas de anlise do PSpice
utilizadas nesse sistema.
4.2.5.1 Anlise de ponto de operao (Bias Point)
A anlise de ponto de operao (Bias point) consiste em determinar os valores das tenses
e correntes existentes em uma cadeia de medio.
Essa operao, apesar de sua simplicidade, utiliza tcnicas complexas de clculo numrico
com matrizes e pode, em alguns casos, no convergir ou apresentar erros. Nesse casos, um estudo
mais cuidadoso de anlise matemtica e anlise de circuitos aplicado, visando contornar ou evitar
esses problemas [31],
4.2.5.2 Anlise de corrente contnua (DC sweep)
A anlise de corrente contnua (DC sweep) ou anlise DC consiste na realizao da
anlise de ponto de operao para diversos valores definidos dentro de uma faixa delimitada. Esse
procedimento, denominado em ambientes de simulao de circuitos eletrnicos de varredura,
definida por um valor de incio, um de final e o passo necessrio para realizar a medio. A anlise
de corrente contnua tambm pode ser utilizada para avaliar o efeito da variao de outros
parmetros, como por exemplo da temperatura ambiente do sistema de medio.
Dentro da avaliao de incerteza proposta, a anlise DC permite obter, de uma s vez, o
valor esperado da cadeia de medio para pontos ao longo da faixa de medio. Entretanto, essa
anlise tambm possui as mesmas limitaes impostas pela anlise de ponto de operao (Bias
Point) e cuidados devem ser tomados para evitar erros de simulao. A Figura 4.9 mostra a tela de
configurao.
Como resultado deste tipo de simulao, uma curva gerada, representando a resposta da
cadeia de medio sob a influncia da fonte de incerteza para toda a faixa de medio desejada. A
Figura 4.10 mostra uma de curva de erro de linearidade obtida por anlise DC para o circuito de
termistores apresentado na Figura 4.8. A curva de linearidade aqui representa a diferena entre a
resposta obtida pelo circuito e uma reta ideal.

91
DC Sweep

; Swept Vat. Typ

foliage Sourc
O Jemper ature

Name:

Mcde

C urent Source
C< Model Parameter
C Global Parameter

garsm. Mame, [~*

-Sweep typ e-

j Liner
O Octave
O Dcade
I O Value Lt

Nested Sweep..

End Vlue:

[o
ftr

Increment:

j.01

Start Value:

%-etem

j* J_"'
,[ Cancel |

Figura 4.9 - Janela de um exemplo de configurao para anlise DC no PSpice

Figura 4.10 - Curva de erro de linearidade residual no circuito de linearizao de termistores

da Figura 4.8 [Temperatura (C) x Erro de linearidade (C)]

92
4.2.5.3 Anlise atravs de simulao de Monte Cario
A simulao de Monte Cario uma tcnica utilizada para modelagem de um fenmeno
probabilstico que no muda com o tempo [43], Basicamente, o processo consiste em gerar
nmeros aleatrios ou, no caso de computadores, pseudo-aleatrios, que aplicados a uma funo de
probabilidade, criam uma varivel aleatria. Essa distribuio aplicada ao modelo, gerando uma
resposta que representa essa iterao entre essas distribuies e o modelo. So geralmente
realizadas diversas repeties e a resposta obtida por anlise estatstica [115],
No programa PSpice, a simulao de Monte Cario permite variar algumas caractersticas
(tenso, corrente, parmetro de componente) de acordo com uma distribuio de probabilidade:
normal, retangular ou definida pelo usurio.
Dentro da anlise de incertezas, a simulao de Monte Cario permite simular o efeito de uma
fonte de incerteza com os modelos das cadeias de medio. Esse tipo de anlise toma-se mais
importante quando as fontes de incerteza tomam-se relativamente grandes e os modelos so
considerados no-lineares ou existem iteraes entre variveis correlacionadas ou funes
complexas [43],
Para utilizar a anlise de Monte Cario, o avaliador necessita:
a) definir a varivel que ser analisada,
b) determinar suas caractersticas (mdia, desvio padro, distribuio, nmero de amostras);
c) definir os parmetros necessrios para simulao;
d) realizar a avaliao estatstica do resultado e extrair a informao desejada.
Alguns parmetros caractersticos so importantes para a realizao da avaliao de Monte
Cario:
a) Nmero de execues (MC Runs): define a quantidade de nmeros (rplicas) que
sero geradas de acordo com a distribuio. No PSpice, esse valor limitado a 400
repeties, devido a problemas internos de implementao.
b) Tipo de Anlise (Analysis Type): O PSpice permite a realizao de simulao de
Monte Cario em trs tipos: anlise de corrente contnua (DC), anlise no domnio da
freqncia (AC) e anlise no domnio do tempo (Transient). O PSpice considera que
uma anlise completa realizada para cada nmero aleatrio. Neste trabalho, somente a
anlise DC apresentada. Para as demais anlises, consultar [114]. A varivel de sada
(Output var) indica o ponto que representa o sinal de sada da cadeia de medio e
representado por um rtulo (V(saida)).

93
c) Semente (Seed): um valor arbitrado que influencia na gerao da seqncia de
nmeros pseudo-aleatrios no computador. Diferentes nmeros levam a diferentes
resultados de sada. Esse parmetro deve ser mudado sempre que uma repetio da
simulao seja gerada para realizao de anlise estatstica mais avanada.
AnSlsralSetup
Enabled

r.
r
p
p

C Sweep...
Lad Bias Point..
Sav Bias Point..
DC Sweep..
! Monte Cario/Wors* Cse..
ias Point Detail
Digital Setup...

Enabled

TT"
j

r i n -1 C-

41

-1 .c-

Options...

r Monle Cailu

ot

fl0** 1

WosI Cose

Analysis-

j^astCasg ( Mont Calo MC Runs: |10

'-IT'Analysis typer f*. AC ( fccC Ifansient

ftndion

<*YMAX r

Range Lttl
-MC Options7 Output----- 0 None

ff.AJ
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I O Every*
i

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Mix

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OutputVa: | V ( s a W a ) j

-----r-v - MIN

!Range Hi: I
r let
Saed

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Vrfrie

RISE G FALL

: Rie/F J
r WCas Options *----------* I"*1
. 3utpi.i* AS

H i list

;Vaiy - -----------rrrr-->
! f>j De C*

Soth :

?Direction -

<VKi r L0

OK I

Cancel

IDevices

Figura 4.11 - Janela de configurao exemplo para Anlise de Monte Cario no PSpice
Para demais informaes a respeito de outros parmetros consultar [114],
Um resultado da simulao de Monte Cario obtido atravs MicroSim Probe mostrada na
Figura 4.12. Ela representa a variao da curva de linearidade do circuito mostrado na Figura 4.8
em relao s tolerncias de fabricao de resistores fixos para 400 repeties. Cada linha
representa uma anlise de corrente contnua, com os valores de resistncia variando de acordo com
uma distribuio retangular de limites definidos pelas suas tolerncias. Como resultado dessa
anlise, determinou-se o mximo desvio encontrado nas curvas de erro de linearidade em cadeias
de linearizao de termistores.
Atravs do Probe (programa de apresentao de resultados do DesignLab) possvel realizar
anlise estatstica das curvas. Utilizando a mxima diferena entre a curva ideal e a curva calculada
ao longo da faixa de medio como critrio de avaliao estatstica, obtm-se a curva mostrada na
Figura 4.13. Como resultado a caracterstica de resposta do circuito possui um erro mximo ao
longo da faixa de medio em relao reta ideal obtida por mnimos quadrados apresentou 46,2
mK em mdia, e com uma variao de 6,5 mK (um desvio padro).

94

Figura 4.12 - Curvas obtidas pela Anlise de Monte Cario de um parmetro na cadeia de
medio referente a Figura 4.10
[aJ QIb Eda X1

Tflda jtfmdowtjrfrj

cslslal jtlualel ^ K la lq .1

ml

-Igl Xl
H a s lv ld l

at

45
sen
Max(U(salda))
see
n sanples
n d iv is io n s 12
- B.B4231
nean

sig na
r d n iw in
1Bth t i l e

- 0.06651713
0.0338732
- 0.9377546

ra d ia n
90th t i l e
n axinun

- B.M6196B
- 0.0557248
S. 45185

Figura 4.13 - Distribuio gerada para um valor de incerteza [erro de linearidade (mK)]

95

4.2.6 Formato dos modelos internos dos componentes

Nesta seo esto descritos alguns modelos de componentes criados para auxiliar na anlise
de incerteza. Esses modelos fazem parte da biblioteca modelo2.slb e so relatados na
documentao do sistema de suporte ao prottipo desenvolvido [116].Devido grande quantidade de construes existentes, a modelagem completa dos mdulos
pode ser bastante difcil. Assim, para realizar a anlise do sistema de medio, somente os
parmetros necessrios para a avaliao de incerteza foram modelados, no utilizando o modelo
operacional (geralmente encontrado em modelos de fabricantes para PSpice). Esses componentes
foram selecionados para serem tratados neste documento para demonstrar algumas particularidades
encontradas na modelagem.
4.2.6.1 Termistor
O termistor um componente no linear, definido pela Equao ( 3.9 ). O modelo
implementado contempla essa no-linearidade e os parmetros do termistor so passados para o
modelo atravs de variveis (@A0,..,@A3). Dessa forma, parmetros determinados em calibrao
podem ser utilizados e a caracterstica de resposta construda atravs de blocos bsicos
denominados ABM (Analogue Behavioral Modeling), que reproduzem funes matemticas. Os
dois blocos localizados na sada do modelo (H2 e E2), realizam a funo de transformar o sinal de
tenso em um valor de resistncia dependente da temperatura (visto dos terminais do transdutor). A
rede RC simula a dinmica do transdutor localizada na entrada do bloco, aproximada para uma
funo de primeira ordem. A Figura 4.14 ilustra o modelo formado com blocos bsicos
encontrados no PSpice.

Figura 4.14 - Modelo desenvolvido para um termistor

96
4.2.6.2 Amplificador de instrumentao

O modelo do amplificador de instrumentao foi baseado no modelo clssico encontrado na

literatura [85,89], O modelo composto de uma fonte de tenso dependente (El), que amplifica a
tenso submetida resistncia de entrada (Rl). As resistncias de modo comum (R3 e R4) so
tambm modeladas. A resistncia de sada do amplificador modelada por R2. Erros causados por
modo comum so simulados atravs da fonte dependente (E2) e do bloco ABM. Erros causados por
tenses de offset so representados por uma fonte de tenso (VI). Tambm so modeladas as
fontes de corrente de bias (II, 12) e de offset (13) existentes na entrada do amplificador. O ganho do
amplificador simulado pela fonte dependente (El) e as variaes de ganho so obtidas atravs da
mudana do valor nominal. No foram modeladas as caractersticas dinmicas do componente
devido, geralmente, a sua baixa influncia frente dinmica dos transdutores de temperatura ou
mesmo do mensurando.

Figura 4.15 - Modelo de um amplificador de instrumentao

4.2.6.3 Conversor analgico-digital
Nesse modelo podem ser encontrados os parmetros relativos s entradas analgicas do
componente: tenso de offset (VI), corrente de offset (II) e resistncia de entrada (Rl). O ganho do
conversor determinado pela fonte dependente (El). Para modelar a relao entre o valores de
entrada do conversor e a influncia da fonte de referncia, um bloco ABM foi utilizado. No
representado nesse modelo a saturao do conversor e tambm a resoluo, devido a dificuldades
de criao com blocos bsicos do PSpice. Entretanto, a resoluo (bem como outras fontes de
incerteza baseadas nela) foram simuladas na planilha de clculo (Excel) em que feito o

97
processamento conjunto das fontes de incerteza. Isso foi feito atravs de funes de truncamento
ou arredondamento.

4.3 AVALIAO
CLCULO

DA

INCERTEZA

ATRAVS

DE

PLANILHA

DE

O sistema desenvolvido baseado na implementao de um conjunto de planilhas que

dividem sistematicamente os clculos necessrios para avaliao da incerteza. Os resultados da
anlise so apresentados na forma numrica e na forma grfica, facilitando anlises posteriores.
Neste trabalho foi utilizado o software Excel V.5.0.
A seguir sero descritas as fUnes das planilhas utilizadas para auxlio na anlise de
incerteza. Para tomar mais ilustrativo, as telas de resultados apresentadas nessa seo so obtidas
da anlise realizada para o sistema de medio com termistor apresentado na Figura 4.17.

Figura 4.17 - Circuito exemplo de medio de temperatura com termistor

98

4.3.1 Planilha de identificao e descrio das incertezas

Nessa planilha, o avaliador insere e organiza as fontes de incerteza. As informaes nela
contida identificam as fontes de incerteza (tal como tratado na seo 2.3.1.3 - Identificao das
fontes de incerteza) e so transplantadas para outras planilhas automaticamente.
Microsoft Excel - Calculo_Teimistoi.xls

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=
Wil frrirrnrTTTrtJ

Descrio das fontes de incerteza

Bloco
6 1

...

Fonte de incerteza

Software
Polinom Aiust
r \ 1
Preciso do reslstor
' 'j 2
Filtro
Ruido do reslstor
~ 1 3
Ruido nos fios
1 * Trandutor
Interoambiabflidade
1T1 5
Impedancia dos Fios
121 S
Estab. a lonqo prazo
*3 1 7
Ruido
T4 8
Auto aauecimento
BI 9
16 I 10 Amplificador
Voff set Temp.
Corrente de Offset
~?1 11
Erro de oanho
1 12
Vof fset Inicial
19 ! 13
Impedancia
20 I 14
CMRR
'211 15
PSRR
22 I 18
Ruido
23 I 17
G NL
' 24 ! 18
Estab. a lonqo prazo
'231 19
Fonte de tenso
26 i 20 Fonte de corr.
Resistencia
'271 21
Voffset 741
29 22
Impedancia 741
29 1 23
CMRR 741
3 j 24
Corrente de bias
31 25
Ruido Resistor
321 26
Temperat
53 27
ErroQuant
ADC
34 28
No Linearidade
35 1 29
Corrente de bias Amplif.
3 30
Erro de aanho
"3 V 31
Offset
38 32
Incerteza Relativa
' 39 33
CMRRADC
40 34

Cdiqo

DescrieSo 1Comentrio

Rei

Poiinomio
Rtoi filt
Ruido filt
Rfios
Intercamb.
Imped fios
Lonqterm
Ruido transd
SelfHT
Voff Temp
Ibias
GainA
VoffA
ImpedA
CMRRA
PSRRA
NoiseVA
G..NLA
LonotermA
Fonte Tenso
Rf
Voff 741
Imo 741
CMRR 741
Ibias
Ruido Resist.
TempC
Quant
NL
ibiasADC
GainADC
Voff ADC
RelatADC
CMRRADC

1<T= A0A1*inR).A2nnfRr3
ixd e 1.5kohm= 15 ohm
B= 16.66 H 1 35-C
B= 16.66 Hzf 35C
Erro do transdutor 0.2'C)ma
97.8 ohmflim 150 cm
0.01aC estimado f 2 anos]
B= 16.66 Hz-> Vimas = 46 nV
1mWfl<
Gain = 2510.45 uVJC
2nA
Ganhofmaxl = 0.4167v. => aanho = 25.1042
Vofffma*l=54 uV
Rin= 10E10ohmsRout=10ohms
CMRR=115dB
Vs=50 mV e PSRR=3.4 uVV
0.4 uV pico-a-pico
0.0005 V. de 12 V saturacao estimada)
0.22 uV i ms =>2 anos
0.05 V pico-a-pico
100 Rohm => 10 X
6 mV fmaxl
2MOhm
90 dB
80 nA
100kohm=> 35*C
No analisado
0.3 LSB
1 LSB
100 pA
0.02 Y. da leitura rnaxima (10 VI
1 mV
1.5 LSB
70 dB

3a.
1V.
20,61 nV
0.14 nV
0,2*C
0.07 ohm
0.01-C
0.46 nV
0.02 mV
9uV
2nA
0.4167J
54 uV
10E10
115dB
68 uV
0.4 uV
60 uV
528 uV
0.05 V
lOkohm
6 mV
2Mohm
90 dB
80 nA
168.34 nV
NA
0.73 mV
2,44 mV
100 pA
2 mV
1 mV
3.6 mV
3.1 mV

ii

43

JK_
48.

Figura 4.18 - Planilha de definio de incertezas

99

4.3.2 Planilhas de quantificao de incerteza

O clculo de incerteza realizado atravs de um conjunto de 5 planilhas. Essas planilhas
possuem as seguintes funes:
a) Transferncia dos dados: os valores resultantes do programa de simulao so
transferidos para a planilha e armazenados1. Representam a sada da cadeia de medio e
podem ser sinais de tenses ou correntes, ou sinais digitais equivalentes.
b) converso para temperatura: atravs da equao representativa da cadeia de medio
utilizada para converter os sinais digitais, o valor de temperatura equivalente
determinado atravs de simulao do software de aquisio. Esse procedimento tambm
utilizado para simular a incerteza inserida pela curva de regresso do software.
c) determinao dos valores de incerteza: atravs da subtrao da resposta idealizada para
a cadeia e a resposta obtida pela simulao, a incerteza para cada fonte de incerteza
calculada.
d) transformao em incerteza padro: de acordo com o tipo de distribuio utilizada, a
incerteza de cada fonte transformada em incerteza padro e, a partir do nmero de
graus de liberdade adotado, a incerteza expandida tambm determinada.

4.3.3 Planilha de balano de incerteza

A planilha de balano de incerteza apresentada na Figura 4.19. Essa planilha apresenta o
valor da incerteza padro combinada e da incerteza expandida, para um determinado valor de
temperatura. Os campos bloco, Fonte de Incert e Quantif (unid) so valores importados da
planilha de identificao de incerteza. O campo Quantif (K) obtido dos clculos executados
pelo programa de simulao. Os campos Distrib e Graus Libert so definidos nesta planilha e
automaticamente calculam o valor da incerteza padro para cada fonte de incerteza, baseados nos
resultados obtidos da simulao do PSpice e das planilhas de quantificao de incerteza. So
apresentados como resultado a incerteza padro, graus de liberdade efetivo e a incerteza expandida
para uma temperatura especificada.

1Nesse prottipo, a transferncia realizada atravs da passagem da tabela resultante da simulao existente no
MicroSim Probe para a rea de transferncia e depois para a planilha. Esse procedimento executado pelo comando de
Copiar quando a curva est selecionada e aps pelo comando de Colar no campo de destino da planilha.

1-lDlx

X Microsoft Excel - Calculo_Teimistoi.xls

Q

Arquivo Editar

Exibir Inserir

Formatar

Ferramentas Dados

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VTi

-, 10 V

lis

Janela Ajuda

zl II il 'S9
* A. -

% flo *4'

f-

H6

JL

Balano de Incerteza

METRO
riEnwErsus
6

Bloco

Fonte Incert.

Software
7
Filtro
8
9
Trandutot
10
~iV
i
i !
14
S
'16 Amplificador
" 17
18
l

' i
2
23
4'
'25
26 Fonte de corr.
tr

29
31
3?
'ST
34
35

ADC

-M
'37
38
3
40
41
42

Polinomio
Rtol filt
Ruido filt
Rfios
Intercamb.
lmped_fios
Lonqterm
Ruido tr-ansd
SelfHT
Voff Temp
Ibias
GainA
VoffA
ImpedA
CMRRA
PSRRA
NoiseVA
Q NLA
LonqtermA
Fonte Tenso
Rf
Voff 7*1
Imp 741
CMRR 741
Ibias
Ruido Resist.
TempC
Quant
NL
ibiasADC
GainAOC
VoffADC
RelatADC
CMRRADC

Quantif.
funitl

3a.
0.01
20,61 nV
0.14 nV
0,2C
0.07 ohm
0.01C
0.46 nV
0.02 mW
9uV
2nA
0.41675
54 uV
10E10
115 dB
68 uV
0.4 uV
60 uV
5.28 uV
0.05 V
lOkohm
6 mV
2Mohm
30 dB
80 nA
168.34 nV
NA
0.73 mV
2.44 mV
100 pA
2 mV
1mV
3.6 mV
3.1mV

Quantif.

Distrib.

(K]
0.011668263
0.000000000
0.000070987
0.000000000
0.200202747
0.023148894
0.010010737
0.000000000
0.020020733
0.029789189
0.0 t 1395245
0.153164710
0.179158121
0.000003944
0.744981005
0.225773699
0.000228734
0.199127160
0.017475515
0.366224277
0.366876215
0.044238308
0.000000000
0.001167360
0.058998290
0.000003944
0.000007887
0.000007887
0.000007887
0.000007887
0.000007887
0.132611864
0.480047042
0.412933074

R
R
N
R
N
R
R
N
U
R
R
R
R
R
R
R
N
R
R
R
R
R
R
R
R
R
R
R
R
R
R
U
N
R
: Total

B a la n o / Balanc Graf /

'

Incert. Rad. 1 Graus de lib.

inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
Inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf
inf

0.0067

0.0000
0.0000
0.0000
0.1001
0.0134
0.0058
0.0000
0.0142
0.0172
0.0066
0.0884
0.1034
0.0000
0.4301
0.1304
0.0001
0.1150
0.0101
0.2114
0.2118
0.0255
0.0000
0.0007
0.0341
0.0000
0.0000
0.0000
0.0000
0.0000
0.0000
0.0938
0.2400
0.2384
0.6844

\
*
...

_-i

U= 1.37 C

k= 2.00

43
Prontn

115

________Temperatura =

Incert faixa / Trnsfi| v |

n ... ..................

'^ t

siiimp

Figura 4.19 - Planilha de balano de incertezas

A,

101

4.3.4 Planilhas de indicao grfica da incerteza

As planilhas de indicao grfica so utilizadas para a anlise posterior do processo de
avaliao. Existem 2 planilhas voltadas a essa tarefa:
a) Incerteza ao longo da faixa de medio: esse grfico indica a incerteza expandida
encontrada ao longo da faixa de medio. E tambm apresentada a curva de erro de
linearidade, que auxilia na determinao da melhor curva de ajuste utilizada no programa
do computador.

Avaliao da incerteza ao longo da

Temperatura (C)
Figura 4.20 Grfico da avaliao da incerteza ao longo da faixa de medio
b) Comparao entre fontes de incerteza: este grfico apresenta, em forma de barras, as
fontes de incerteza que mais contribuem para a incerteza global. Assim, em rpida
anlise, possvel definir sobre quais fontes de incerteza se deve atuar para se reduzir a
incerteza combinada.

102

Comparao entre fontes de incerteza

0.5
0.45

0.4
O 0.35
2 0.3
T3
<0
Q. 0.25

o
o

(0

V 0.2
-c 0.15
o
o
0.1

ri

* RI

1:

0.05
0

RI

.ri Wo
I F
F *=1
o O O cr
c
<OD
2 S3
o
1r.
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i
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%8
1 2
I i
* S

Fontes de incerteza
Figura 4.21 - Comparao entre fontes de incerteza

4.4 DISCUSSO SOBRE O SISTEMA DE AUXLIO AVALIAO DA

INCERTEZA
O sistema integrado de auxlio avaliao de incerteza mostrou-se vivel e operacional.
Embora a utilizao do sistema necessite de conhecimentos de instrumentao e metrologia, no
exige conhecimento muito especializados nas diversas reas, tomando-a acessvel a profissionais
de vrios nveis encontrados na indstria. A automao da quantificao das incertezas individuais
e do clculo da incerteza expandida permite uma reduo considervel do tempo de avaliao.
Essa metodologia mostra-se importante principalmente quando existe a necessidade de
avaliao da composio de diversos mdulos independentes. Nesse caso as informaes relativas,
no somente aos blocos componentes, mas tambm s iteraes existentes, resultam em um
nmero muito grande de fontes de incerteza a serem analisadas, tomando o clculo manual
bastante trabalhoso, seno impraticvel.
Do ponto de vista dos mdulos, a estrutura dos blocos criada (smbolo, estrutura interna e
propriedades) facilita a construo das cadeias de medio de temperatura. Atravs das

103
propriedades as informaes apresentadas pelo catlogo do fabricantes so passadas para o modelo,
evitando a necessidade de clculos adicionais.
Por outro lado, durante o desenvolvimento dos modelos de simulao, pde-se constatar que
algumas configuraes de modelos geram erros no ncleo do PSpice. O caso ocorreu durante a
tentativa de realizao do modelo de uma fonte de corrente integrada com tolerncia do valor
nominal bastante pequena para ser usada na anlise de Monte Cario. Os valores apresentados
mostravam bandas largas sem a ocorrncia de eventos durante a gerao dos nmeros aleatrios,
distorcendo a distribuio e inviabilizando o uso desse modelo. Esse erro possivelmente causado
por problemas de preciso numrica e, por no ser possvel acessar o cdigo do programa de
simulao, esse erro no pode ser corrigido. Dessa forma, a validao do modelo e a delimitao de
uso de grande importncia para sua utilizao posterior.
Para facilitar a implementao da metodologia, o sistema foi realizado com programas que
podem facilmente ser encontrados no mercado, como a planilha de clculo Excel. No caso do
programa de simulao PSpice, para cadeias de medio de pequenas dimenses, o programa de
demonstrao pode ser utilizado com os modelos empregados, sem perda de funcionalidade.
Entretanto, outros programas de simulao como Proteus (Labcenter Electronics Ltd.) ou
Workbench (Interactive Image Technologies Ltd.) podem tambm ser utilizados tal como
apresentado neste captulo. Em alguns casos, programas de simulao no voltados para a rea de
circuitos integrados, como os sistema de clculo MathCad (Mathsoft, Inc.) ou MatLab (Mathworks,
Inc.) ou at mesmo sistemas de programao como LabVIEW (National Instruments Co.), podem
ser utilizados na fase de quantificao. A opo entre os diferentes programas encontra-se na maior
ou menor facilidade de construo dos modelos e de realizao da simulao.
Apesar de facilitar o clculo da incerteza, o sistema integrado de auxlio utiliza dois
programas que no permitem uma integrao direta. A forma utilizada para integrao do prottipo
foi realizada manualmente atravs de comandos de copiar e colar. Para melhorar essa caracterstica
pode-se utilizar um programa que converta o arquivo de sada do PSpice, de formato interno
prprio, para o formato que possa ser lido pela planilha. Essa implementao no pde ser
realizada devido a dificuldade de obteno do formato de sada do arquivo e da falta de tempo para
implementao do programa.
A utilizao dos programas de simulao de circuitos integrados possibilitou, atravs da
anlise de corrente contnua (CDC), a determinao da incerteza da cadeia em toda a faixa de
medio, tomando mais rpido o processo de anlise. Entretanto, os recursos apresentados neste
trabalho no esgotam as possibilidades de uso do sistema de simulao do DesignLab. Existem

104
ainda outras formas de anlise que apresentam informaes importantes avaliao de incerteza. O
sistema permite ainda a utilizao da anlise no domnio da freqncia (AC) e a anlise no
domnio do tempo (Transient), que podem auxiliar na determinao das influncias das
caractersticas dinmicas da cadeia. O programa tambm permite a avaliao da variao de
temperatura ambiente e a anlise de rudos, sendo essa ltima com algumas restries.
Uma dificuldade operacional encontrada no uso do sistema est na quantificao das fontes
de incerteza. A avaliao consiste em trocar os valores ideais das incertezas dos componentes e
realizar, atravs da anlise individual de cada fonte de incerteza, a estimativa da incerteza da cadeia
como um todo. Assim para n fontes de incerteza, so necessrias n+1 simulaes e com 2 n trocas
de valores, tomando muito fcil a realizao de enganos tais como a avaliao sob influncia de
duas fontes. Uma proposta para diminuir a quantidade de fontes de incerteza a serem avaliadas
consiste na utilizao de tcnicas de Taguchi para determinao das fontes de maior influncia nos
modelos de simulao e, posteriormente, serem quantificadas somente as fontes com maior
influncia no resultado final [117],
O sistema de auxlio para avaliao de incerteza em sistemas de medio, apesar de
demonstrar viabilidade, possui problemas devido ao carter de prottipo do programa. Os modelos
criados necessitam a validao para diferentes situaes, alm da necessidade de implementao de
outros blocos, como por exemplo, para diferentes termopares. Em alguns casos, como a avaliao
dos efeitos da temperatura ambiente, existem dificuldades na implementao de todos os seus
efeitos dentro de uma cadeia de medio. Anlises desse tipo exigem um conhecimento mais
aprofundado do avaliador para saber como proceder na anlise e tambm abre espao para
pesquisas futuras nessa rea.
Frente a essas concluses, toma-se possvel visualizar uma proposta de como um sistema
integrado de avaliao de incerteza em sistemas de medio deveria funcionar. A primeira
necessidade est na integrao das planilhas com os simuladores, de forma a facilitar a realizao
da anlise. A determinao das fontes de incerteza poderia ser auxiliada pelo computador, de
acordo com a composio da cadeia de medio. Assim, o programa montaria o balano das
principais fontes de incerteza automaticamente, necessitando somente a incluso de fontes no
previstas na cadeia ou das fontes decorrentes do mensurando. Outra possibilidade de melhoria pode
ser alcanada atravs da troca automtica das propriedades do modelo, entre o valor ideal e o real.
Dessa forma, a avaliao seria bastante facilitada, tendo um alto grau de automao.

105

CAPTULO 5

APLICAO DA METODOLOGIA DE GERENCIAMENTO DA

INCERTEZA
A metodologia de gerenciamento da incerteza com auxlio do computador foi proposta com o
objetivo facilitar a implementao de sistemas para a garantia da confiabilidade metrolgica, alm
de reduzir esforos na realizao da avaliao da incerteza. Para avaliar os resultados dessa
implementao, foi realizado um estudo de caso aplicado ao desenvolvimento de um sistema de
medio de temperatura para determinao de rendimento de bombas hidrulicas.

desenvolvimento da anlise e as concluses so apresentadas neste captulo.

Esse estudo de caso foi realizado na empresa Advanced Energy Monitoring Systems Ltd.
(AEMS Ltd.) situada no Reino Unido, durante o perodo de Abril a Outubro de 1999.
Resguardando o sigilo das informaes de segredo intelectual, a abordagem neste captulo
voltada mais ao emprego da metodologia do que nos circuitos envolvidos. Em virtude disso, os
circuitos so apenas apresentados esquematicamente a nvel de mdulos.

5.1 IDENTIFICAO DO PROBLEMA

Bombas hidrulicas so utilizadas em uma grande quantidade de processos industriais. Em
sua vida til, 95% dos recursos envolvidos com bombas hidrulicas so custos com energia
eltrica, 4% so custos de manuteno e 1% so de aquisio. Assim, a determinao e a
monitorao do rendimento da bomba so importantes para indicar se o seu ponto de operao est
prximo do ponto de rendimento mximo, de forma a reduzir esses custos [118],
Segundo a ISO 5198, existem dois mtodos de determinao de rendimento: o convencional
e o termodinmico [6], Ambos possuem vantagens e desvantagens que so discutidas em [119], A
utilizao do mtodo termodinmico possui como principal vantagem no necessitar de muitas
modificaes na instalao para realizar a medio, tomando-o muito conveniente para testes em
campo [6 ],
Utilizando o processo termodinmico, o rendimento da bomba determinado atravs da
medio das seguintes informaes: temperatura e presso da entrada e da sada da bomba,
caractersticas fsicas da bomba e propriedades do fluido [6 ], Analisando a influncia de cada
grandeza a ser medida no clculo do rendimento, verifica-se que somente atravs da medio de
pequena magnitude e com baixa incerteza (na ordem de milikelvin) da diferena entre as

106
temperaturas de entrada e sada da bomba, torna-se possvel a utilizao prtica desse mtodo.
Assim, a garantia da incerteza de medio dessa grandeza de grande importncia para que o
mtodo apresente resultados confiveis.
A equao que utilizada para determinao do rendimento (r|) dada por [6]:
Vm(P2 ~ P i ) + - 2 Ul +g(z2 ~ z i)
^

~
a(P 2-P l)+ C p( 2 ~ i )+

-----------
+ g(z2 - Z j)
(5.1)

onde:
Vm : Volume especfico (m3/ kg);
Pu P2 '- Presso de entrada e sada, respectivamente ( P a );
Ui, Uf. Velocidade de entrada e sada, respectivamente (m/s);
zj, Z2 : Altura de elevao de entrada e sada, respectivamente ( m );
~- Coeficiente isotrmico mdio ( m3/kg);
Cp - Calor especfico a presso constante ( J.kg^.K'1);
;, 2 - Temperatura de entrada e sada do lquido ( C ).

Do ponto de vista da confiabilidade metrolgica, neste caso especfico, existem pelo menos
duas razes para avaliar a incerteza: a primeira relativa norma ISO 5198, que define limites
admissveis de incerteza na determinao do rendimento para que um teste seja vlido; a segunda
em relao necessidade do mercado na determinao e comprovao da incerteza da medio.
Nesse sentido, o procedimento de gerenciamento de incerteza pode ser utilizado para controlar e
indicar as especificaes dos diversos componentes que interferem no desempenho metrolgico de
sistemas de medio para determinao de rendimento de bombas.
Para ser possvel testar a metodologia proposta, ela foi aplicada no desenvolvimento de um
sistema de medio de rendimento para um sistema de bombeamento de gua para alimentao de
caldeiras em usinas termoeltricas. O sistema de bombeamento em questo composto por duas
bombas (bomba de baixa presso, ou booster, e de alta presso) que trabalham com presses da
ordem de 200 bar, e com temperaturas superiores a 120C.

107

5.2 REQUISITOS METROLGICOS E OPERACIONAIS

Para realizar a medio de rendimento de bombas hidrulicas, a configurao mostrada na
Figura 5.1 pode ser empregada. Esse sistema permite a determinao de rendimento do booster
atravs da medio da presso e da temperatura dos pontos 1 e 2 ; o rendimento da bomba de alta
presso pode ser determinada atravs dos pontos 2 e 3, e o rendimento do sistema em conjunto,
atravs de medies nos pontos 1 e 3. Utilizando-se o fato de ser possvel a fcil modificao dos
pontos de medio, o sistema pode ser composto por duas cadeias de medio de temperatura, duas
cadeias de medio de presso e um sistema de medio de potncia eltrica. Para a realizao do
clculo, necessita-se ainda a medio de outras variveis, como cotas e dimetros das canalizao,
mas que no requerem medio contnua durante o teste.

Dimetro d o :
; tubo e cotas
dos pontos de
medio
Grandezas medidas
no ensaio

Rendimento do
motor e do
acionamento

Potncia
eltrica e
mecnica

Razo de
transmisso e
rendimento da
transmisso

Grandezas
determinadas antes
do ensaio
Eixo
Canalizao

Figura 5.1 - Sistema de medio de rendimento de bombas de alimentao de caldeiras

Na aplicao da metodologia para esse sistema, verificou-se que a quantidade de fontes de
incerteza necessrias para a avaliao da incerteza do rendimento muito grande, tornando
complexa a avaliao direta. Nesse caso, optou-se por realizar a seguinte metodologia: avaliar a
incerteza do rendimento, estabelecendo incertezas mximas para cada cadeia de medio (incerteza
alvo) e, aps, aplicar a metodologia de gerenciamento de incerteza para cada grandeza a ser medida
e projetar e desenvolver o sistema de medio para alcanar esse valor. No caso de no alcanar a

108
incerteza alvo, a incerteza avaliada propagada para avaliao de rendimento, tomando o sistema
consistente e, se for o caso, revendo o valor da incerteza alvo.
No caso especial desse tipo de sistema de bombeamento, o equipamento bsico, denominado
Yatesmeter (AEMS Ltd.) [120], no pde ser utilizado em razo da temperatura do fluido
(150C) ser superior ao limite mximo de temperatura de medio, pois baseado em transdutores
integrados de temperatura (faixa de medio mxima de 100C). Nesse caso, um novo sistema de
medio de temperatura necessitou ser desenvolvido, possibilitando a aplicao da metodologia.
Ser exposto a seguir o procedimento realizao do desenvolvimento do sistema de medio
de temperatura absoluta.

5.3 GERENCIAMENTO DA INCERTEZA APUCADO AO PROJETO DE

SISTEMAS DE MEDIO DE TEMPERATURA
O procedimento aplicado possui os seguintes passos:

especificao do processo de medio;

projeto do sistema de medio;

avaliao da incerteza (iterao 1 ) e reduo das incertezas mais elevadas;

avaliao de incerteza (iterao 2 ) e reduo das incertezas mais elevadas;

avaliao de incerteza (iterao 3).

A descrio dos detalhes da implementao apresentada a seguir.

5.3.1 Especificaes do processo de medio

O processo de medio tem inicialmente as seguintes especificaes:
Tarefa: medio de temperatura absoluta em gua, na faixa de 0C a 250C .
Incerteza alvo (expandida): 0,1C (95%) - valor obtido da norma ISO 5198.
Princpio de medio: variao da resistncia de um fio de platina quando submetido
variao de temperatura.
Mtodo de medio: termorresistncia de platina de 1000 O a 0C.
Procedimento de medio: colocar o transdutor diretamente em contato com o fluido,
esperar a estabilizao e realizar a leitura atravs do sistema.
Condies de medio: temperatura ambiente variando entre 10C e 45C.

109

5.3.2 Projeto do sistema de medio

Seguindo uma metodologia de projeto de cadeias eletrnicas [31], obteve-se uma primeira
proposta de circuito de medio. Esquematicamente, a topologia do circuito mostrada na Figura
4.6.

Figura 5.2 - Configurao da cadeia de medio utilizada

Para compor o sistema de medio, o sinal adquirido por um sistema microprocessado que
converte o sinal de sada da cadeia de medio (V) em um valor de temperatura (T), atravs de uma
curva de ajuste linear definida por:
T = Al V + A0 [C]
(5.2)
Onde: Ao e Ai so constantes obtidas, por regresso linear, atravs de calibrao.

5.3.3 Avaliao da incerteza (iterao 1)

A Figura 5.2 representa o modelo utilizado nas simulaes do PSpice para a avaliao da
incerteza.
Utilizando o sistema de avaliao de incerteza, relacionou-se as fontes de incerteza referentes
ao sistema de medio, mostrado na Figura 5.3, e o balano de incerteza mostrado na Figura 5.4.

110

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36
37
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39
40

Descrio das fontes de incerteza

m etro

ri/:w rj-ctB

Mdulo

11
12
13

14

15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34

Cdiqo

PolAil
Polinmio de aiuste
Aquec. Viscosidade
Viscosidade
Dinamica
Resposta Dinmica
Transcal
Transferncia de oator
Ucaiib
Incerteza da calibraco
TermoT
Efeito termoeletrico
Estab. a longo pra20
Estabilidade
Ruido
RuidoT
Auto aquecimento
AutoaqT
Impedinciafo
ImpedT
Resistncia de isolao IsolaoT
Ganho
GanhoA
Amplificador
Tenso de off set
VoffA
Impedncia
ImpedA
CMRRA
Modo comum
PSRRA
Rejeio da fonte
RuidoA
Ruido
Mo linearidade qanho
G NLA
Offset com temperat.
VoffDA
Tolerncia
ToIS
Fonte de corr.
Ruido
RuidoS
Variao com tempo
TempcoS
Impedncia
ImpS
Resist. chave lioada
RonC
Chave
Corrente de fuqa
IfugaC
Crosstalk
CrossC
Temperatura
TempC
Erro de quantizao
Quant
ADC
No-linearid. diferencial
NLD
NU
Erro Rollover
GanhoADC
Ganho
VoffADC
Offset
Ruido
Ruido
TempADC
Temperatura

Descrico 1 Comentrio

Ref

Polinmio de primeira ordem

No analisado no momento
No analisado no momento
No analisado no momento
0.150.002.T1C
Liq. cobretestanho [3 uV"C e 1*C diferena)
0.01*C estimado 2 anos]
raiz4.k.T.R.Bl => 260*C 1 1976.5 ohm i 10 kHz
10 mVK
2 m com 0,1 ohmfm
Desprezvel f abaixo de 300'C]
Gain(max]s 0.15X:> qain= 10.015
Vofffman] = 10 uV
Rin= 100 Mohm Rout = 10 ohm
CMRR=90dB
Vs=0,01V e PSRR= 105 dB= 177828= 56 nV
1.9 uV pico-a-pico
40ppm = 10.0004
lOOnV/KemlO-C
0.5%
1nA pico-a-pico
25ppmem 10'C
20 Mohm
100 ohm
100 ohm and Ima = 4 uA
No analisado
No analisado
1LSB
0.01 ISB
1LSB
Tolerncia da tenso referncia
2uW C -5'C
15 uV
No analisado

la.

41
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P ro n to

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Fonte de incerteza

Software
2 Instalacao
3
4
5 Transdutor
6
7
8
9

10

i_

1 L ,,. L

T T - .

1
0.15*0.002.T ... \1
3uV . 1
0.01'C J :
2,412 uV j :
10 mW(K
0.2 ohm
0.15
10 uV
100 Mohm
90 dB
105 dB
2uV
40* 10
1uV
*
0.55
i
InA
25*10'K 11
20 Mohm
100 ohm
4uA
-

1 LSB
0.01 LSB
1 LSB
0.05V.
10 uV
15 uV
-

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Figura 5.3 - Fontes de incerteza utilizadas para avaliao

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1 Software
2 Instalacao
3
4
5 Transdutor
6
7
8
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10
11
12 Amplificador
13
14
15
16
17
18
13
20 Fonte de corr.
21
22
23
24
Chave
25
26
27
28
ADC
29
30
31
32
33
34

42

Fonte Incert.

Quantif.
funitl

PolAil
Viscosidade
inamica
Transcal
Ucalib
TermoT
Estabilidade
RuidoT
AutoaqT
ImpedT
IsolaoT
GanhoA
VoffA
ImpedA
CMRRA
PSRRA
RuidoA
Q NLA
VoffOA
ToiS
RuidoS
TemocoS
ImpS
RonC
IfuqaC
CiossC
TempC
Quant
NLD
NU
GanhoAOC
VoffADC
Rudo
TempAOC

la.
.
.

0.15.0.002.T
3uV
0,0 fC
2.412 uV
10mW/K
0,2 ohm
.

0,155
10 uV
tOOMohm
90 dB
105 dB
2uV
40x10-6
1uV
0.5V.
InA
25 it 10-6/K
20Mohm
100 ohm
4 uA
.
.

1 LSB
0.01 LSB
1LSB
0.05J
10 uV
15 uV
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Distrib.

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R
R
R
R
R
R
R
R
R
N
R
Totl

0.9179
0.0000
0.0000
0.0000
0.0780
0.0046
0.0060
0.0032
0.0007
0.0000
0.0000
0.2305
0.0154
0.0015
0.0729
0.0001
0.0027
0.0062
0.0015
0.7682
0.0013
0.0384
0.0154
0.0000
0.0615
0.0000
0.0000
0.0000
0X1000
0.0000
0.0768
0.0019
0.0020
0.0000
1.7343

inf
inf
inf
inf
inf
inf
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inf
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inf
inf
inf
inf
inf
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inf
inf
inf
inf

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3.47

1.589926300
0.000000000
0.000000000
0.000000000
0.156010865
0.007978567
0.010395527
0.006419238
0.001039553
0.000000000
0.000000000
0.399188221
0.026612548
0.002650859
0.126227682
0.000155933
0.005327707
0.010655415
0.002650859
1.330627404
0.002650859
0.066531370
0.026612548
0.000000000
0.106554148
0.000000000
0.000000000
0.000000000
0.000000000
0.000000000
0.132984774
0.002650859
0.004002278
0.000000000

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------------------------------------------------

k= 2.00

43
...

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Balano de Incerteza
____ ___ ___ 'Temperatura =

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......... - - -

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Incert faixa , 1 <

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J-.

Drnntn

Figura 5.4 - Balano de incerteza para obtido na avaliao

Avaliando todas as fontes de incerteza consideradas, obteve-se um diagrama de incerteza ao

longo da faixa de medio, mostrado na Figura 5.5.

112

Avaliao da incerteza ao longo da

faixa de medio

Temperatura (C)
Figura 5.5 - Variao da incerteza expandida ao longo da faixa de medio
Obteve-se com essa avaliao uma incerteza inicial de 3,5C para 0C, que bem superior
incerteza expandida alvo (0,1C).

5.3.4 Identificao das principais fontes de incerteza e formas de

melhorias
Analisando as fontes de incerteza verificou-se que as fontes que mais predominaram foram:
polinmio de ajuste (do software); tolerncia da corrente de excitao; ganho do amplificador;
razo de rejeio de modo comum do amplificador; ganho do conversor analgico-digital;
tolerncia do termorresistor; correntes de fuga das chaves.
A Figura 5.6 apresenta o grfico com as fontes de incerteza mais importantes.

113

Comparao entre fontes de incerteza

1

0.9 -H
O

O
o

1
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07

06

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1
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Fontes de incerteza
Figura 5.6 - Grfico comparativo das fontes de incerteza (iterao 1)
Uma proposta de curva de regresso que melhor ajusta a no linearidade do transdutor est
apresentada na Equao ( 5.3 ), que conduz a erros bastante baixos (inferiores a 1 mK) dentro da
faixa de medio especificada.
T = A 3X 3 + A ^ X 1 + A j X + A 0 [C]
(5.3)
onde: A3, A2, Ai, Ao so constantes obtidas da curva de ajuste por regresso nos pontos de
calibrao.
A fonte de corrente especificada inicialmente um circuito integrado disponvel no mercado
(REF200). Como no se atingiu o resultado esperado, uma fonte de corrente com componentes
discretos foi implementada (fonte de tenso de referncia e resistor de alta estabilidade e tolerncia
de 0 .02 %), atingindo uma melhor performance que o circuito integrado.
Analisando a folha de dados do amplificador utilizado, verifica-se que o valor do erro de
ganho de 0,15% utilizado para avaliao foi especificado para uma faixa de trabalho de
temperatura muito mais ampla (-40C a 70C). Antes de realizada a Ia iterao no se tem idia da
ordem de grandeza da influncia de cada componente de incerteza. Em funo disso, a Ia iterao

114
da foi realizada empregando valores mximos especificados para cada componente (recomendao
apresentada na seo 2.3.2), uma nova avaliao mais criteriosa foi realizada e verificou-se que
para a faixa de temperatura de trabalho delimitada, o valor tpico especificado a 0,0 1 % e com
mximo de 0,075%. Na reavaliao utilizou-se o valor de 0,075%. Para o caso da razo de rejeio
de modo comum, o mesmo procedimento foi realizado e mudou-se de 85 dB para 90 dB.
No caso do ganho do conversor analgico-digital, determinou-se que a principal fonte de erro
foi proveniente da tolerncia dos resistores utilizados para composio da tenso de referncia.
Resistores com tolerncias menores foram utilizadas para reduzir essas incertezas.
O transdutor especificado inicialmente (termorresistor classe B, segundo [65]) necessita ser
substitudo por um de menor erro mximo admissvel (classe A [65]), que resulta em um
instrumento mais prximo da caracterstica de resposta ideal. Esse tambm deve ser calibrado e
ajustado individualmente para poder ser utilizado. Com esse procedimento supem-se obter
incertezas relativas determinao do polinmio no maiores que 0.05C.
As chaves apresentaram correntes de fuga de 4 uA para esta configurao. Chaves com
correntes de fuga de 0,5 nA foram especificadas.

5.3.5 Avaliao da incerteza (iterao 2)

Reavaliando a incerteza, levando em considerao as alteraes propostas em 5.3.4.,
alcanado o resultado mostrado na Figura 5.7.
Nessa iterao, a incerteza expandida avaliada mxima ao longo da faixa de medio(A)
atingiu o valor aproximado de 0,65C, que ainda superior incerteza alvo de 0,1C; portanto o
circuito deve ser modificado para atingir essa especificao.

115

Comparao entre fontes de incerteza

0 ,1 2

o 0,08
o
cs
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J
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C
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Fontes de incerteza
Figura 5.7 - Grfico comparativo das fontes de incerteza (iterao 2)

Figura 5.8 -Incerteza expandida ao longo da faixa de medio

116

5.3.6 Reprojeto e avaliao da incerteza (iterao 3)

A cadeia de medio foi ento reprojetada devido aos limites encontrados no circuito anterior
e, principalmente, por no atingir os requisitos necessrios para a medio da diferena de
temperatura. O diagrama esquemtico apresentado na Figura 5.9. Foi incorporado nesse projeto
um novo sistema de amplificao que mede a diferena entre as duas termorresistncias,
independente da medio de temperatura absoluta, evitando o desbalanceamento

dos

amplificadores existentes no circuito anterior. Fontes de corrente bidirecionais e intercambiveis

foram incorporadas para minimizar as variaes causadas por fontes termoeltricas entre o
transdutor e o amplificador (de grande influncia na medio diferencial).

Legenda:
1. Fonte de corrente bidirecional
2. Termorresistncias (Rtl eRt2)
3. Amplificador de instrumentao
4. Amplificador diferencial de
instrumentao
5. Chaves semicondutoras
6 . Conversar analgico-digital

Figura 5.9 - Sistema de medio de temperatura proposto aps iterao 3

Realizando os passos descritos nas sesses anteriores, o clculo da incerteza desse sistema de
medio apresentou como principais fontes de incerteza o ganho do amplificador, a tolerncia da
fonte de corrente e a resoluo do conversor analgico-digital. Devido grande dificuldade de
obteno de fontes de corrente com grande exatido, o sistema de medio necessita de ajuste da
fonte de corrente com auxlio da calibrao utilizando resistores padro. Tambm atravs do uso de
um segundo resistor padro pode-se ajustar o ganho do sistema de medio. A incerteza expandida
nessa configurao foi avaliada em 0,06C, atingindo os requisitos metrolgicos propostos.

117

5.4 AVALIAO QUANTITATIVA DE INCERTEZAS EM LABORATRIO

Um prottipo foi construdo para avaliar as caractersticas da cadeia de medio projetada e,
a partir da informao da avaliao da incerteza, foram realizados experimentos para comprovar o
desempenho metrolgico do sistema de medio.
Foram realizados dois experimentos: calibrao do instrumento e repetitividade das
medies.

5.4.1 Avaliao do sistema de calibrao com banho de temperatura

Esse experimento consistiu em avaliar se a especificao de incerteza de calibrao de 0,05C
poderia ser alcanada com as instalaes encontradas internamente na empresa.
O sistema de calibrao utilizado pela empresa composto por um banho de calibrao DBT
Thermostats da HETO - Lab Equipament [121] que possui as seguintes caractersticas ( citadas
somente as mais importantes):
Resoluo :

0,1 C ( para medio no equipamento)

Estabilidade da temperatura:

0,001C

Transdutor:

termorresistor 100 Q a 0C

O valor verdadeiro convencional determinado atravs de um termmetro d quartzo

Heraeus [122], colocado junto aos transdutores. Suas caractersticas so:
Marca:

QuaDIOO

Erro mximo:

0,1 C na faixa -20C a 130 C

Resoluo:

0,02C (-50C a 199.99C) ou 0,1C (200C a 350C)

A curva de erros da calibrao mostrada na Figura 5.10. Ela expressa a diferena entre o
valor das temperaturas obtidas pelo sistema de medio e o valor obtido pelo termmetro a quartzo
e no ultrapassou ao valor de 0,05C.

118
0.050 i--------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------

0.040 ----------- ------------------------------------------------------------------------------------------------------

0.030 ------------------------------------------------------------------------------------------------- ----------------_

0.020

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-0.030 ----------------------------------------------- ---------------------------------------------------------------------0.040 ------------------- ---------------------------------------------------------------- ------------------------------

-0.050 -I------------------------------------------ ------------------------------------------------------------------------Temperatura de referncia (C)

Figura 5.10 - Erro residual da calibrao

Apesar dos resultados obtidos pela calibrao mostrarem-se dentro da faixa de 0,05C,
identificou-se que essa instalao no permitia a garantia da incerteza requerida devido a incerteza
do transdutor padro, que somente o erro mximo j igual incerteza alvo. Nesse caso, um novo
sistema de calibrao de temperatura foi especificado, baseado em um banho com controle digital,
uma clula de ponto triplo de temperatura de gua e um termorresistor padro com indicao
prpria de medio, alm de outros acessrios. Para esse sistema de calibrao pretende-se atingir
um valor de incerteza expandida inferior a 0,01C. A confirmao experimental desse resultado
depende da compra dos novos equipamentos, o que no pde ser realizado antes da concluso deste
trabalho.

5.4.2 Repetitividade do sistema de medio

O ensaio de repetitividade se consistiu em colocar o transdutor em um banho de temperatura
estvel e determinar a mxima variao encontrada nas medies em um determinado intervalo de
tempo. Atravs desse procedimento, fontes de incerteza como rudo, interferncia, erro de
quantizao, entre outros efeitos aleatrios podem ser avaliadas.

119
A Figura 5.11 apresenta o resultado do teste, demonstrando que a maior fonte de incerteza
que influencia a repetitividade do sistema de medio, para temperatura de 30,78C (temperatura
do termmetro padro), o erro de quantizao do sistema de medio, devido ao formato
caracterstico da sada (oscilao entre dois valores definidos). Portanto nesse experimento em
laboratrio, a incerteza decorrente da repetitividade (rudo, erro de quantizao e variao do
mensurando) apresenta um resultado adequado.

30.795

30.790

hI

t.

_ r

30.785

30.780

|
0
o

30.775

30.770

**
2

30.765

30.760
30.755
30.750
11:05:17

14 1 l+A

...............1

1--------- 1--------- 1--------- 1--------- r

11:06:43 11:08:10 11:09:36 11:11:02

11:12:29

11:13:55 11:15:22 11:16:48 11:18:14

11:19:41

Tempo (hora:minuto:segundo)

Figura 5.11 - Resultado de um teste de repetitividade para o sistema de medio

5.5 ANLISE DO
INCERTEZA

PROCEDIMENTO

DE

GERENCIAMENTO

DE

A aplicao do procedimento durante o projeto e o desenvolvimento do sistema de medio

indicou ao avaliador as fontes de incerteza mais crticas para a determinao da incerteza,
apresentando os parmetros de projeto que deveriam ser estudados com mais detalhes ou
componentes que deveriam ser modificados.
A utilizao do prottipo de auxlio avaliao da incerteza mostrou-se bastante til,
permitindo uma avaliao mais rpida da incerteza e sem a necessidade da realizao de diversos

120

clculos adicionais. Entretanto, necessita-se treinamento para utilizao do programa de simulao

e da documentao prpria para essa tarefa.
A realizao da anlise da incerteza em todas as fases do desenvolvimento do sistema de
medio, desde o projeto at a aplicao em campo, faz com que o balano final de incerteza
expresse, de maneira coerente, o valor da incerteza esperada da medio, como desejado em um
sistema confivel metrologicamente.
Durante a fase de implementao, a utilizao do procedimento de gerenciamento de
incerteza gera organizacionamente na empresa um processo contnuo de estudo dos sistemas de
medio existentes. Esse estudo faz com que ocorra um conhecimento melhor de seus processos de
medio, levando determinao das necessidades internas em instrumentao e sua confiabilidade
metrolgica. Tambm auxilia o treinamento da mo-de-obra da empresa, de grande importncia na
garantia de processos de medio.
Em relao experincia de implantao de um sistema para melhoria da confiabilidade
metrolgica nessa empresa, verificou-se que a falta de cultura metrolgica tomou-se um problema
para sua implementao. Palestras foram necessrias para apresentar conceitos e a filosofia do ISOGUM, bem como outras informaes relevantes da rea metrolgica. Para ser possvel introduzir o
procedimento de avaliao da incerteza, certas simplificaes foram realizadas, como reduo no
nmero de fontes de incerteza consideradas para avaliao e adoo de modelos simplificados,
para posteriormente inserir outros aspectos necessrios para uma avaliao mais completa. Nesse
ponto, a utilizao do prottipo de auxlio avaliao da incerteza facilita a implementao do
guia, uma vez que os clculos para avaliao da incerteza esto embutidos nas planilhas, alm de
permitir com facilidade o tratamento de modelos mais completos.
De forma a garantir que as especificaes metrolgicas pudessem ser alcanadas para a
aplicao apresentada, outros aspectos relativos incerteza da instalao, ao procedimento de
medio, repetitividade e calibrao devem ser avaliados e, preferencialmente, no local de
medio. Em virtude da complexidade desse tipo de avaliao, os estudos de avaliao no
puderam ser concludos para serem apresentados neste documento. Foram identificados como
fontes de incerteza necessrias para avaliao em campo: gradiente de temperatura no interior do
poo termomtrico, perda de energia por radiao, efeito do aquecimento por atrito do fluido com o
transdutor, erro causado pela resposta dinmica da cadeia de medio, em especial do transdutor. A
avaliao dessas fontes ir fornecer a incerteza para a medio de temperatura e, em conjunto com
a avaliao dos outros sistemas de medio, ser possvel definir a incerteza de medio do
rendimento da bomba hidrulica.

121
CAPTULO 6

CONCLUSES E SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS

6.1 CONCLUSES
O presente trabalho teve como objetivo propor um procedimento para avaliao e
gerenciamento da incerteza, visando contribuir para a garantia da confiabilidade metrolgica de
sistemas de medio de temperatura.
O procedimento de gerenciamento da incerteza foi adaptado do Procedure Uncertainty
Management (PUMA) do relatrio tcnico ISO/TS 14253-2 para sistemas de medio de
temperatura. O procedimento proposto permite a identificao das principais fontes de incerteza
facilitando a definio das aes necessrias para controlar as incertezas desde a fase de projeto at
a aplicao em campo, visando garantir o valor final da incerteza de medio.
O procedimento para avaliao da incerteza de medio foi baseado no Guia para a
Expresso da Incerteza de Medio (ISO-GUM). Foi apresentada uma reviso do procedimento,
com contribuies especficas para sua aplicao em sistemas de medio de temperatura. Foram
tambm relacionadas as principais fontes de incerteza inerentes a sistemas automatizados de
medio de temperatura.
Com o intuito de reduzir o esforo na avaliao da incerteza, estudou-se a utilizao de
programas de computador para auxiliar na anlise da incerteza. Foi desenvolvido um prottipo de
um sistema para avaliao de incerteza, composto por dois programas existentes no mercado: o
Excel (Microsoft Co.) e o PSpice (MicroSim Co.). As caractersticas desse sistema e os resultados
da sua avaliao atravs de um estudo de caso foram apresentados.

A seguir so apresentadas concluses deste trabalho, agrupadas de acordo com a afinidade.

a) Avaliao de incerteza:
A respeito do procedimento de avaliao de incerteza apresentado neste documento pode-se
ressaltar:

o ISO-GUM, fortemente baseado em conceitos estatsticos, um documento sem

precedentes quanto padronizao do procedimento de avaliao de incertezas. Por outro

122
lado, devido sua redao de carter cientfico, a sua aplicao a atividades industriais
encontra dificuldades, em especial devido falta de formao metrolgica dos
envolvidos;

necessidade de avaliao de sistemas automatizados de medio de temperatura,

composto por diversos mdulos separados, resulta em um nmero maior de fontes de

incerteza para serem quantificadas, dificultando sobremaneira a anlise para avaliao da
incerteza;

o modelo para avaliao de sistemas automatizados de medio de temperatura cresce

significativamente em complexidade, a medida que nveis menores de incerteza so
necessrios;

a falta de padronizao nas especificaes e parmetros dos mdulos utilizados na anlise

de incerteza entre diversos fabricantes dificulta a implementao do procedimento.
Somente atravs da anlise detalhada das especificaes fornecidas e de sua adequao
ao modelo adotado pode-se chegar a uma correta avaliao da incerteza.

b) Procedimento de gerenciamento de incerteza:

Com relao ao procedimento para gerenciamento de incerteza foram relacionadas as
seguintes as concluses relativas ao procedimento apresentado e anlise de caso:

a aplicao do gerenciamento da incerteza, nas diversas fases de projeto e

desenvolvimento, permite melhorar a garantia das especificaes metrolgicas do sistema
de medio;

a avaliao da incerteza da forma proposta toma-se mais rpida que a realizada seguindo
exclusivamente o ISO-GUM, devido ao fato de permitir a concentrao de esforos
somente nas fontes de incerteza de maior influncia;

o procedimento proposto usa avaliaes baseadas em anlises de pior caso; no entanto

possvel utiliz-lo para realizar a avaliao segundo o ISO-GUM, bastando refinar as
avaliaes de cada fonte de incerteza utilizando estimativas mais realistas, segundo o
conhecimento disponvel;

o agrupamento de fontes de incerteza por mdulos, da forma adotada no procedimento,

sistematiza o trabalho de avaliao da incerteza, especialmente quando essas so
representativas de um sistema de medio ou mdulo;

123

o conceito da incerteza alvo utilizado para especificar a incerteza mxima do sistema de

medio e, principalmente dos subsistemas, auxilia nas estimativas iniciais da avaliao
da incerteza. Atravs da relao entre incerteza alvo e incerteza avaliada pode-se detectar
as fontes de incerteza crticas do processo de medio;

a aplicao do gerenciamento de incerteza durante o projeto faz com que as

caractersticas metrolgicas, e as aes para garantir essas caractersticas, sejam
determinadas a priori, o que facilita a elaborao de procedimentos relativos garantia da
qualidade;

o procedimento de gerenciamento da incerteza pode ser tambm possivelmente utilizado

em sistemas de medio de outros mensurandos. A implementao somente necessita do
modelo das fontes de incerteza do transdutor e do ambiente de medio.

c) Sistema para a avaliao de incerteza auxiliado por computador:

Entre as concluses do sistema de auxlio avaliao da incerteza, destacam-se:

o sistema mostrou-se importante principalmente para a avaliao da composio de

diversos mdulos independentes, uma vez que o clculo manual torna-se muito
trabalhoso, seno impraticvel;

as facilidades apresentadas pelo sistema fornecem informaes importantes para

avaliao e tomada de deciso relativa garantia da qualidade dos processos de
medio, como a relao das fontes de incerteza a serem avaliadas, o clculo da
incerteza ao longo do tempo e os grficos comparativos de fontes de incerteza;

a implementao do prottipo foi realizada com programas que podem facilmente ser
encontrados no mercado. Outros programas de simulao como Proteus (Labcenter
Electronics Ltd.) ou Workbench (Interactive Image Technologies Ltd.) tambm podem
ser utilizados, porm necessitando do desenvolvimento da representao dos modelos
dos mdulos dos sistemas de medio. Em alguns casos, programas de simulao no
voltados para a rea de circuitos eletrnicos, como o sistema de clculo MathCad
(Mathsoft, Inc.), ou o MatLab (Mathworks, Inc.). Sistemas de programao como
LabVIEW (National Instruments Co.) tambm podem ser utilizados na fase de
quantificao, sendo que a dificuldade encontra-se na representao dos modelos e nas
rotinas de clculos numricos para simulao.

124

o prottipo do sistema de auxlio avaliao de incerteza em sistemas de medio,

desenvolvido dentro deste trabalho, apesar de demonstrar sua viabilidade, precisa
evoluir muito para se transformar em um produto comercializvel. Os modelos criados
necessitam validao para diferentes situaes e outros modelos necessitam ser
implementados, como, por exemplo, para abranger outros tipos de termopares. Em
alguns casos, existem dificuldades para implementao do modelo de simulao de
todas as fontes conhecidas de incerteza, como por exemplo, para a avaliao dos efeitos
da temperatura ambiente sobre o processo de medio.

Com relao ao trabalho como um todo, pode-se concluir que os objetivos propostos foram
plenamente atingidos. Um passo a mais for dado para que a garantia da confiabilidade metrolgica
possa ser alcanada dentro de processos de medio de temperatura.

6.2 SUGESTES PARA TRABALHOS FUTUROS

Foram identificadas as seguintes oportunidades relativas ao desenvolvimento de futuros
trabalhos:
a) sistematizao da informao sobre sistemas de medio de temperatura: em geral, a
avaliao da incerteza deve ser realizada para um grande nmero de fontes de incerteza,
tomando essa tarefa bastante trabalhosa. Com o objetivo de reduzir a quantidade de
clculos envolvidos, um estudo prvio poderia ser realizado para determinar as
configuraes bsicas encontradas em sistemas de medio automatizado de temperatura
e identificar, para avaliaes de incerteza futuras, as fontes de incerteza que mais
influenciam em cada configurao;
b) avaliao de incerteza decorrente da instalao e do ambiente de medio: estudos
mis aprofundados na determinao e sistematizao das incertezas associadas
instalao e ao ambiente de medio permitiro uma melhor avaliao da incerteza
durante o projeto de sistemas de medio. Tambm propem-se que sejam realizados
estudos visando a aplicao de programas de simulao baseados em tcnicas numricas,
tais como elementos finitos, na quantificao dessas fontes;
c) expanso do trabalho para outras tcnicas de medio de temperatura: esse trabalho
foi dedicado ao estudo dos transdutores de temperatura com contato mais comumente
encontrados no mercado: termopar, termistor, termorresistor e transdutores integrados de

125
temperatura. Existem tambm outras tecnologias para medio de temperatura, como os
transdutores a quartzo, medidores sem contato, como infra-vermelho, que poderiam ser
acrescidas gama de sistemas de medio de temperatura abrangidos pela metodologia.
Para tanto necessita-se determinar as fontes de incerteza de cada sistema de medio e os
modelos de incertezas para quantificao;
d) expanso do trabalho para outras grandezas: a metodologia para gerenciamento de
incerteza pode ser aplicada em sistemas de medio automatizada de outras grandezas,
como presso e vazo. Para implementar a metodologia deve-se realizar a identificao
das principais fontes de incerteza envolvidas com o transdutor e da sua modelagem para
quantificao das incertezas;
e) melhoria dos modelos de simulao para avaliao da incerteza: os modelos
apresentados necessitam de melhorias e de validaes em diferentes condies de uso.
Novos blocos, que permitam a anlise do sistema de medio mais facilmente, tambm
poderiam ser desenvolvidos e validados;
f) ampliao das potencialidades para avaliao de incerteza com simulao:

no

foram incorporados nos modelos apresentados os aspectos relativos dinmica do

sistema de medio. A incorporao dessa caracterstica aos modelos implementados, em
conjunto com a anlise dinmica (recursos de anlise freqncial-AC analysis e anlise
temporal- transient analysis do PSpice), permite a quantificao dessas fontes no
prprio sistema desenvolvido dentro deste trabalho;
g) desenvolvimento de um sistema integrado de avaliao de incerteza: o sistema
apresentado pode ser ampliado para o desenvolvimento de um programa comercial, com
funcionalidades no normalmente encontradas entre os sistemas atualmente disponveis
no mercado. O programa comercial deveria incorporar* em um nico sistema: uma
interface que permita a construo do sistema de medio a partir de blocos bsicos;
configurar os dados para simulao; montar o balano de incerteza; e, avaliar a incerteza
do sistema de medio automaticamente. O sistema tambm poderia gerar a
documentao da anlise de incerteza, na forma de procedimento diretamente integrvel a
sistemas de garantia da qualidade.

126

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