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Ricardo L Vicente4
silvionu@gmail.com
carlosachaves@yahoo.com.br
azevedo@unitau.br
ricardo.vicente@usherbrooke.ca
Este artigo discute a implantao e aplicao do Controle Estatistico do Processo em uma industria de
produtos em Bulk Molding Compouding ou simplesmente BMC . Na empresa em questo foram aplicadas
todos os tipos de cartas de controle o que torna interessante este trabalho. Apresenta-se uma reviso
bibliografica sucinta sendo a metodologia, os resultados e a experincia agregada os pontos fortes da
pesquisa. Nos cases, destacam-se as cartas de atributos. O artigo expe tambm uma analise de MSA
focando um estudo de R&R. Usou-se softwares como o Wincep da VTB e o Minitab para agilizar os
calculos.
P a l a v r a s C h a v e : CEP; Variabilidade; Cpk.
1. INTRODUO
Por volta de 1920, o Dr. Walter Shewart desenvolveu cartas de controle, tambm
conhecidas como grficos de controle. So instrumentos do Controle Estatstico do Processo
ou CEP, os quais indicam a condio do processo. Atravs de cartas, pode-se verificar, a
qualquer momento, se um processo est sob controle, alm de detectar fatores que levaro o
processo ao estado de fora de controle. DINIZ (2001).
1.1 TEOREMA DO LIMITE CENTRAL
Ao se recolher uma amostra de dimenso n de uma populao muito grande X, com
valor mdio e desvio padro . Se a dimenso da amostra for suficientemente grande
(n30), a distribuio de amostragem da mdia pode ser aproximada por uma distribuio
Normal com valor mdio e desvio padro / n . Mesmo se os valores individuais no forem
distribudos normalmente, a distribuio das medias tender a ter uma distribuio normal,
quanto maior o tamanho de amostra, n tendendo ao infinito, maior ser esta tendncia. Se as
distribuies dos valores individuais forem muito diferentes da Normal, basta n = 4 ou 5 para
se obter uma boa aproximao. Se as distribuies dos valores individuais forem radicalmente
diferentes da Normal, ento ser necessrio n = 15 ou mais para se obter uma boa
aproximao pela Normal. REIS, BARBETA E BORNIA (2004). OAKLAND (2003)
1.2 GRFICOS DE CONTROLE DE PROCESSOS DEFINIDOS POR VARIVEIS
Este tipo de grfico usado quando o controle se d por anlise da amostra atravs de
instrumentos, resultando em valores numricos. As amostras so coletadas periodicamente,
examinando-se toda a amostra (por exemplo: dimetro da pea, densidade, presso, viscosidade,
vazo, etc). No caso de servios, busca-se principalmente controlar tempos. Podem ser de
quatro tipos: Cartas de Mdia e desvio padro ( , s). Cartas de Mdia, amplitude ( , R). Cartas
RESUMO
_______________________________________________________________________________________________________________________________________________________
_
de Mediana, amplitude ( , R). Cartas de Individuais e amplitudes mveis (X, Rm). DINIZ
(2001). A mais utilizada a carta de medias e amplitudes. Os clculos dos limites de controle
para a carta , R, so deduzidas das formulas 1e 2. OAKLAND (2003)
LSC = x + A2R [1]. LIC = x A2R [2]. A2 um valor tabelado, para n = 5 A2 = 0,577.
1.3 GRFICOS DE CONTROLE DE PROCESSOS DEFINIDOS POR ATRIBUTOS
Este tipo de grfico usado quando o controle se d por nmero de defeitos. As amostras
so coletadas observando-se uma freqncia, examinando-se toda a amostra em busca de defeitos.
No caso de servios, os dados importantes so os nmeros de reclamaes ou devolues, por
unidade de servio. As Cartas de atributo podem ser de 4 tipos: Carta C ; Carta U ; Carta NP e
Carta P. KANE (1986). STAMATIS (2003)
Padro
Amostra
de
5 peas
Numero de
Defeitos
Carta
O que representa
Observao
4 = Peas defeituosas
5 = Peas na Amostra
np
4 = Peas defeituosas
1.4 TOLERNCIAS
Deduz-se de Lopes, em seu trabalho sobre tecnologia de fabricao, que tolerncias so
dimenses estabelecidas nas especificaes pelo departamento de projeto ou pelos requisitos do
cliente. As tolerncias estabelecem os limites superiores e inferiores de especificao. LOPES (1983)
1.5 LIMITES DE CONTROLE
So limites estatsticos que refletem a aleatoriedade, ou no, do processo, a medida
que se avana em um processo, este produz dimenses que variam, ao se estudar a variao
estabelecida uma mdia para o processo. Esta mdia do processo por sua vez est sujeita as
oscilaes dentro de um limite, estes limites so calculados e atravs deles se realiza o
controle do processo. OAKLAND (2003)
_______________________________________________________________________________________________________________________________________________________
_
L.S.E L.I. E
6
2 mm
60,25
2
1,5
1,3334 [3]
CPL = - LIE
3
[4]
[5]
Para especificaes bilaterais define-se o ndice como: Cpk = mn. (CPL, CPU) [6]. DINIZ (2001).
Existe basicamente 2 formas de se calcular o desvio padro. A primeira forma
usando a formula 7, a segunda, usando a formula 8. MCNEESE (2004)
Desvio Padro Amostral
S = S2 =
1
xi x
n 1
[7]
R/d2
[8]
_______________________________________________________________________________________________________________________________________________________
_
Cura
EQTO
1
1
79
72
INJ.5
INJ 2
Cdigo do
Total
Produto Produzido
T-494
T-524
Total
Sucatado
10160
21452
31612
FRC
265
374
639
97,98
Scrap
(%)
2,60
1,74
SCRAP
2,020
Observao
REWORK
1,0%
Tabela 2. Scraps
Usou-se como freqncia para as cartas o prprio volume de produo. Cada partida
de matria prima aproximadamente 200 kg produzia o dobro da quantidade hora apresentada
na tabela 3. Por conseguinte a carta P usada no setor de injeo verificava a quantidade
produzida versus a quantidade de peas defeituosas produzidas. A quantidade produzida
oscilava, portanto entre 120 e 130 peas. Para resolver o problema da confiana nos dados
apresentados pelo operador o coordenador de CEP auditava aleatoriamente os registros. Foi
colocada uma carta NP no processo cliente do setor de Injeo o setor de Preparao e
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_
Descrio
Kg/P
T-494
T-524
Base Phoenix
Base mega
1,350
1,545
P. / H Composto
65
60
LB 2098
LB 2098
Equip. to
Hr/ turno
Prod/ turno
INJ. 5
INJ. 2
7,33
7,33
476,45
439,8
4 RESULTADOS
Os principais problemas na linha de confeco das bases so apresentados pelo grfico
de Pareto da figura 2. A estratgia usada nas cartas foi a de verificar a quantidade de pontos
de massa decorrente da porosidade e fixar perodos de melhoria onde as redues eram metas
a serem atingidas em perodos de 6 meses.
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_
aos produtos 524 e 494 e respectiva massa BMC usada na injeo. Refere-se ao primeiro
semestre de 2005. Conforme plano estabelecido pelo grupo de melhoria e CEP as cartas de
atributo deveriam ter suas porcentagens reduzidas no LSC e na Mdia em 50% a cada
semestre, sendo esta a meta a ser perseguida pelo responsvel do setor.
O
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Carta
X Rmov
X RMov
X Rmov
X Rmov
P
P
C - 05
P
P
C - 05
Caracterstica
Viscosidade
Reatividade
Spiral Flow
%Prod. x Nprod.
% Defeituosa
% Defeituosa
Ptos de "massa"
% Defeituosa
% Defeituosa
Ptos de "massa"
Local
Mistura
Mistura
Mistura
Mistura
Injetora
Montag
Montag
Injetora
Montag
Montag
Produto Md LSC
LIC
LB2098
Planilha Excel
LB2098
Planilha Excel
LB2098
13"
16"
10"
LB2098 8960 15000 5880
T524
3%
8%
0%
T524
4%
8%
0%
T524
22
35
8
T494
4%
9%
0%
T494
4%
8%
0%
T494
28
48
12
Carta
VI2098xx
RE2098x
SF2098x
PR2098x
P01524x
PEM524
CEM524
P02494x
PEM494
CEM494
Formato
Eletron
Eletron
Eletron
Eletron
Manual
Manual
Manual
Manual
Manual
Manual
Resp.
CoordCEP
CoordCEP
Lid Mist
Lid Mist
Lid Injet
Lid P&M
Lid P&M
Lid Injet
Lid P&M
Lid P&M
Carta de Medias Individuais e Amplitude Mvel para Spiral Flow aplicada ao laboratrio
de Misturas. Foi escolhida esta carta porque o valor fornecido no ensaio spiral flow j se tratava
de uma mdia entre 10 experimentaes.
Resultados: X Ind = 11.740 | R Mov = 0.918 | LSC X ind = 15.50 | LIC X ind = 7.98 |
LSC R mov =3.00. LIC R mov =0.00. Carta X ind e R mov com Zero amostras fora de controle |
Regio do Tero Mdio: de 10.487 at 12.993. Acima do Tero Mdio = 20.93 %.Tero Mdio =
74.42 % Abaixo do Tero Mdio = 4.65 %. Sem tendncia de pontos consecutivos. PROCESSO
ESTVEL. Normalidade da Distribuio: Modelo Normal, significncia > 20 % | CV = 6.59 % .
Especificao de Engenharia: Mx.: 18.00 | Mn.: 8.00. | Critrio: X Ind 3 Sigma: 99.730 % .
LNI = 9.605 | LNS = 14.339. Critrio: X Ind 4 Sigma: 99.994 % | LNI = 8.816 | LNS = 15.128.
Capacidade Potencial do Processo => Cp = 2.112 | ndice de Desempenho do Processo => Cpk =
1.678 - Processo Capaz. As porcentagens na regio do tero mdio referem-se quantidade
percentual de pontos nesta regio.
Figura 4 Carta de Mdias Individuais e Amplitude Mvel para Spiral Flow. Carta Spflow. cc.
Uma carta de controle tem pouca expresso se alem dos pontos plotados no forem
investigadas de forma consistente as causas especiais presentes no processo. As observaes
destas causas so geralmente registradas em uma rea definida como dirio de bordo.
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_
ANEXOS
Precedendo a implantao de todo o programa de Controle Estatstico do Processo,
verificou-se a capacidade de reprodutibilidade e de repetibilidade do equipamento e dos operadores.
O teste de spiral flow consiste em comprimir uma quantidade de BMC em um disco preparado por
onde o BMC flui em um circuito espiral. BMC ou Bulk Molding Compouding um composto de
resina plstica reforada com fibra de vidro e cargas minerais formando um termofixo. O disco de
teste possui um canal que na realidade uma rosca frontal na forma de canal. Um pisto hidrulico
realiza a compresso de baixo para cima comprimindo o composto sobre uma contra-tampa. O
composto ento flui no canal espiral. Ao atingir a temperatura de cura cessa o escoamento. A
amostra curada colocada em um gabarito onde o operador verifica atravs de uma medida linear o
comprimento escoado. O ensaio apresentou os resultados mostrados na tabela 5. A analise do
sistema de medio, M.S.A, observando VT e TOL concluiu que se deveria melhorar o gabarito. Os
operadores foram treinados e o gabarito foi modificado para um disco padro em titnio graduado a
laser. Com esta mudana o sistema de medio passou a apresentar resultados aceitveis.
Estudo de Repetibilidade e Reprodutibilidade Variao Total | Tolerncia
Caractersticas
Data
Dim Linear
1/ago./2005
Repetio
1
1
12,1
2
12,5
A Media
12,3
Amplitude
0,4
1
13,95
2
14,2
B Media
14,08
Amplitude
0,25
Media das Mdias
das Peas entre AB
13,19
Repeties
D4
2
3,27
3
2,58
Repetibilidade (VE)
[11] VE=R*K1 = 0,29*0,8862
Reprodutibilidade (VO)
2
2
0,5
[12] VO= ((DIFF * K2) -(VE /nr))
2
2
0,5
((0,38*0,707) -(0,257 /10*2))
R&R
2
2 0,5
[13] R&R= (VE + VO )
2
2 0,5
(0,257 + 0,2623 )
Variao do Processo (VP)
[14] VP = Rp * K3
2,412*0,3146
Variao Total (VT)
2
2 0,5
[15] VT = (R&R + VP )
O
P
E
R
A
D
O
R
2
13
12,9
12,95
0,1
16
15,9
15,95
0,1
Peas (n) = 10
Responsvel: Silvio
3
15,2
15,7
15,4
0,5
15,2
15,1
15,2
0,05
4
14,1
13,6
13,8
0,5
15,7
14,8
15,2
0,9
5
15,2
14,8
15
0,4
13,9
14,3
14,1
0,4
Repeties r = 2
Especificaes = 8,07a 20,47
Pea
6
7
8
9
15,8
14,3
15,3
15,1
16,1
14,1
15,5
14,8
15,95
14,2
15,4
14,95
0,3
0,2
0,2
0,3
13,5
14,3
15
15,2
13,7
14,2
15,2
15,2
13,6
14,25 15,1
15,2
0,2
0,1
0,2
0
14,45
15,3
14,5 14,5 14,7
[8] R = (RA + RB )/ Op = (0,33+0,25)/2 =
[9] DIFF = max - min = 14,88 14,50 =
[10] UCLR = R x D4 = 0,295*3,27 =
Repeties
K1
0,257
2
0,8862
3
0,5908
Peas
K3
0,2623
2
0,7071
3
0,5231
4
0,4467
0,3703
5
0,4030
6
0,3742
7
0,3534
0,759
8
0,3375
9
0,3249
0,8445
10
0,3146
14,2
15,24
0,29
0,38
0,9646
% VE
100[VE/DN]
% VO
100[VO/DN]
%R&R
100[R&R/DN]
%VP
100[VP/DN]
Operadores = 02
Tolerncia = 12
Mdias
14,54
14,48
A
14,51
RA
0,34
14,91
14,86
B
14,88
RB
0,25
AB
14,69
Rp
2,412
15,1
15,6
Operadores
K2
2
0,707
3
0,523
Variao
DN
%VT
%TOL
10
15,3
14,8
15,05
0,5
16,3
16
16,15
0,3
30,43%
13,07%
31,06%
13,11%
43,85%
18,52%
89,87%
37,95%
ndc = 1,41[VP/R&R]=2,9