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14/07/2016
17/07/2016
-ESPECIALIDAD: PETROQUIMICA
-INTEGRANTES:
PEREZ SANCHEZ, JAIME EVERSON
ANTEZANA YATACO, YESSENIA
RIOS CIPRIANO, JORGE ALBERTO
2016
METALOGRAFIA DEL ACERO
1. METALOGRAFIA
La metalografa es una disciplina de la ciencia que se encarga de examinar
y determinar los componentes en una muestra de metal, haciendo uso de
Varios niveles de magnificacin que pueden ir desde 20x hasta 1000.000x.
Tambin se conoce como el proceso entre la preparacin de una muestra de
metal y la evaluacin de su microestructura.
El estudio de metalografa puede integrarse en dos subdivisiones: Anlisis
macroscpico y Anlisis microscpico.
1.1ANLISIS MACROSCPICO
El anlisis macroscpico es aquel que se puede realizar a simple
vista, es decir sin necesidad de microscopio. El rango de tamao
inicia en 10-3m en adelante. El anlisis macroscpico se puede
usar en:
Lneas de flujo en materiales forjados.
Capas en herramientas endurecidas por medio de tratamiento
trmico.
Zonas resultado del proceso de soldadura.
Granos en algunos materiales con tamao de grano visible .
Marcas de maquinado.
Grietas y ralladuras.
Orientacin de la fractura en fallas.
1.2
ANLISIS MICROSCPICO
Aquel tipo de anlisis que no se puede realizar a simple vista,
(menor a 10 -3 m). Observar las estructuras microscpicas en
materiales ayuda a comprender el comportamiento de los mismos.
El anlisis microscpico se puede usar en:
Tamao de grano.
Lmites de grano y dislocaciones.
Anlisis microestructural.
Distribucin de fases en aleaciones.
2. ENSAYO DE METALOGRAFIA
La preparacin de una muestra consiste en los pasos necesarios para poder
analizar la misma de forma correcta. Especficamente se describen a
2.1 SECCIONAR
Consiste en remover una muestra del material analizado, teniendo en
cuenta las convenciones en tamao y qu tan representativa es dicha
porcin del total a analizar.
2.1.2. CORTE POR SIERRA
El corte por sierra produce severas condiciones de trabajo en frio y produce
superficies irregulares con valles altos, lo cual provoca q se pierda mucho
tiempo en la preparacin de la muestra. Este procedimiento se utiliza
cuando las probetas son muy grandes para luego proceder con el corte
abrasivo y adecuar la pieza a los requerimientos necesarios para su anlisis.
2.1.2. CORTE POR DISCO ABRASIVO
Este tipo de corte es el que ms se utiliza puesto que produce una
superficie bastante suave y no toma mucho tiempo.
2.3. DESBASTE
Despus de la montada de pieza sobre la pastilla inicia el proceso de
desbaste con hojas de esmeril o lija con abrasivos ms finos, sucesivamente
hasta tener la pieza terminada, este proceso se divide en tres etapas, las
cuales deben realizarse cuidadosamente para obtener una superficie final
libre de ralladuras.
2.4. PULIDO
2.4.1. PULIDO FINO
La ultima aproximacin a una superficie plana libre de ralladuras se obtiene
mediante una rueda giratoria hmeda cubierta con un pao cargado con
partculas abrasivas seleccionadas en su tamao, existen muchos abrasivos,
pero seleccionaremos el tipo de abrasivo de acuerdo al material que se va a
pulir y el propsito estudio del estudio metalogrfico.
2.4.2. PULIDO ELECTROLITICO
Es una alternativa para mejorar el pulido total pudiendo remplazar el pulido
fino pero muy difcilmente el pulido intermedio. Se realiza poniendo la
muestra sobre el orificio de un tanque que contiene la solucin electroltica
previamente seleccionada, haciendo las veces de anodo.
2.4.3. PULIDO QUIMICO
Este es un procedimiento utilizado en laboratorios y fabricas para nivelar y
abrillantar las superficies de metales no ferrosos especialmente el cobre y el
aluminio.
3. PROCEDIMIENTO
Se tomarn probetas de acero de dimetro aproximado 1 1/4 pulg, las
cuales ya han sido pre-pulidas con lijas de varios calibres.
1. Interruptor de encendido.
2. Perilla control de iluminancia: Controla la cantidad de lux que
iluminan la muestra. 3. Tubo de observacin binocular.
4. Platina: Sobre ella se arreglan las probetas.
5. Portador del espcimen: Base sobre la que se encuentra la platina.
6. Puente giratorio: Contiene el objetivo (lentes de aumento). En total
son 4 lentes con aumento de 5x, 10x, 50x y 100x.
7. Control de movimiento en Y: Posiciona el portador del espcimen
en el eje Y
8. Control de movimiento en X: Posiciona el portador del espcimen
en el eje X
9. Perilla de ajuste fino: Ajuste de imagen fino.
10. Perilla de ajuste grueso: Ajuste de imagen grueso (8).