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RENDIJA INDIVIDUAL DE DIFRACCION

SINGLE SLIT DIFFRACTION


Jaime David Daz Ramrez1, Jos Leonardo Gonzlez Arcos 1, Luis Fernando Parra Suarez1.
Sarmiento Santos2

Armando

Estudiantes de fsica, Facultad de ciencias bsicas, Escuela de fsica, Universidad Pedaggica Y Tecnolgica de Colombia.

RESUMEN
La difraccin es junto con la interferencia y polarizacin fenmenos tpicamente ondulatorios. La difraccin se observa cuando se distorsiona una onda por un obstculo; cuyas dimensiones son comparables
a la longitud de onda; en el laboratorio lo que se realizo fue pasar una laser rojo por una rejilla, se tom
la distancia a la cual se puso el porta-rejillas con respecto a la pared a la cual se reflejaban los rayos de
luz difractados y las distancias de separacin de cada uno de estos rayos a n0 (nmero de orden). Sabiendo distancia de separacin de los obstculos de la rejilla y las distancias anteriormente mencionadas
para determinar el ngulo con trigonometra, hallamos la longitud de onda del lser. Tambin se realiz
una experiencia cualitativa con luz policromatica, debido a la longitud de onda de luz esta de dispersaba
formando un espectro de color; se utilizaron filtros para mirar la dispersin de longitudes de onda de
azul, rojo y verde.
Palabras claves: difraccin, onda, numero de orden, obstculo.
ABSTRACT
Diffraction is with interference and polarization typically wave phenomena. Diffraction is observed
when a waveform is distorted by an obstacle; whose dimensions are comparable to the com-wavelength;
in the laboratory what was done was pass a red laser by a grid, the distance at which became the holder
grids with respect to the wall to which it is reflected-ban rays diffracted light and distances took separating each of these rays n0 (number of order). Knowing the separation distance of the obstacles and the
aforementioned grid for determining the angle distances trigonometry, we find the wavelength of the
laser. A qualitative experience with polychromatic light due to the wavelength of light is scattered by
forming a color spectrum were also conducted; filters to look dispersion wavelength of blue are used,
red and green.
Keywords: diffraction, wave, order number, obstacle.

Para ver cmo surge un patrn de difraccin, se analizar el importante caso de la luz monocromtica que
pasa a travs de una rendija estrecha. En el informe se
examinar cmo interfieren entre s las ondas que pasan
a travs de diferentes partes de la rendija.

1. INTRODUCCIN
La difraccin de luz por rejillas en un experimento para
demostrar el comportamiento de la luz como ondas electromagnticas.

De acuerdo con el principio de Huygens, cuando la onda


incide sobre una rendija todos los puntos de su plano se
convierten en fuentes secundarias de ondas, emitiendo
nuevas ondas, denominadas ondas difractada

Se pretende estudiar los conceptos bsicos de procesos


ondulatorios; en este caso difraccin de ondas electromagnticas.

1.

Estudiantes Fsica ptica UPTC.

2.

Profesor encargado.

2. OBJETIVOS

Observar el principio de difraccin en ondas


electromagnticas

Medir la longitud de onda del lser utilizando


el principio de difraccin para una rendija individual

3. MARCO TEORICO
FIGURA 1: Rejilla con ancho D, dividida en N tiras de ancho

La difraccin es junto con la interferencia un fenmeno


tpicamente ondulatorio. La difraccin se observa
cuando se distorsiona una onda por un obstculo cuyas
dimensiones son comparables a la longitud de onda. El
caso ms sencillo corresponde a la difraccin Fraunhofer, en la que el obstculo es una rendija estrecha y
larga, de modo que podemos ignorar los efectos de los
extremos. Supondremos que las ondas incidentes son
normales al plano de la rendija, y que el observador se
encuentra a una distancia grande en comparacin con la
anchura de la misma.

La luz que pasa a travs de una rendija muy estrecha de


ancho D (en el orden de la longitud de onda ) producir
un patrn con un mximo central brillante de ancho medio dado por:

sin =

(1)

Flanqueado por lneas ms tenues a cualquier lado.


Los mnimos en el patrn de difraccin se presentan en

sin =

De acuerdo con el principio de Huygens, cuando la onda


incide sobre una rendija todos los puntos de su plano se
convierten en fuentes secundarias de ondas, emitiendo
nuevas ondas, denominadas ondas difractadas, por lo
que la explicacin del fenmeno de la difraccin no es
cualitativamente distinto de la interferencia. Una vez
que hemos estudiado la interferencia de un nmero limitado de fuentes, la difraccin se explica a partir de la
interferencia de un nmero infinito de fuentes.

(2)

Donde m = 1, 2, 3,, pero no m = 0 (para el cual el patrn


tiene su mximo ms intenso)

La difraccin se refiere al hecho de que la luz, como otras


ondas, se desva alrededor de los objetos por los que
pasa, y se dispersa despus de pasar a travs de rendijas
estrechas. Esta desviacin origina un patrn de difraccin que se debe a la interferencia entre rayos de luz que
recorren diferentes distancias.

Figura 2: en el patrn de difraccin de una sola rendija como funcin


de sin . Observe que el mximo central no slo es mucho ms alto
que los mximos a cada lado, tambin es el doble de ancho
(2/ De ancho) que cualquiera de los otros (cada uno con ancho
de slo l y D).

La intensidad en cualquier punto en el patrn de difraccin de una rendija se calcula mediante diagramas de fasores. La misma tcnica resulta til para determinar la
intensidad del patrn producido por dos rendijas.
El patrn para interferencia de doble rendija se puede
describir como una serie de mximos debidos a la interferencia de luz en las dos rendijas, modificada por una
envoltura debida a difraccin en cada rendija.
La naturaleza ondulatoria de la luz limita la nitidez o resolucin de las imgenes. A causa de la difraccin, no es
posible discernir detalles menores a la longitud de onda
de la radiacin que se usa.
La amplificacin til de un microscopio ptico est limitada por la difraccin a aproximadamente 5003.
Una rejilla de difraccin consiste en muchas rendijas o
lneas paralelas, cada una separada de sus vecinas por
una distancia d. Los picos de interferencia constructiva
se presentan a ngulos u dados por

sin =

4.4 DATOS TOMADOS


En la tabla uno consignamos los valores correspondientes a las
distancias a las tomamos los picos (las mayores intensidades)

TABLA 1: Datos experimentales para la difraccin de una rendija


individual

As, la longitud de onda especfica dada por cada


curva est dada por

(3)

4. METODOLOGA Y PROCEDIMIENTO
4,1.MATERIAL UTILIZADO:

4.4 PROCEDIMIENTO Y PREGUNTAS

Rendija individual de difraccin


Banco ptico
Fuente Luz
Tabla Base
Escala de Difraccin - placa de ventanas de Difraccin
Rendija individual
Filtros de color (rojo, verde, azul / verde).

Configuramos el equipo como se muestra en la figura 3.


Miramos a travs de cada una de las tres aberturas de
hendidura individuales en la Placa de difraccin (Patrones A, B, y C). Examinamos los patrones de difraccin
con y sin filtros de color sobre la abertura de la fuente de
luz.
Cmo funciona la separacin entre franjas variar con la
anchura de la ranura?

4.3 ARREGLO EXPERIMENTAL.

Observando los datos obtenidos en la tabla 1 nos podemos dar de cuenta que el ancho de la rendija es inversamente proporcional a la separacin que tenemos en el
parn de difraccin de la pantalla; a medida que esta disminuye el patrn de amplia.
Comparamos los patrones de hendidura individuales
con los patrones de hendidura dobles
FIGURA 3: Montaje experimental

En qu difiere un patrn de interferencia rendija doble


a partir de un nico patrn de hendidura? (Comparar
los patrones de igual Anchuras de hendidura, como A
vs D, o B vs E.)
3

Lo que notamos es que las diferencias que tenemos en


las rendijas individuales y las dobles es que en ambas se
forma un patrn primario el cual nos describe las imgenes para todas las hendiduras rectangulares, ya
cuando aumentamos a 2 hendiduras notamos que este
patrn primario es un modulador de otros patrones secundarios observados para estas rendijas, ya teniendo
una concepcin del tratamiento matemtico las transformadas de Fourier a las rendijas nos confirman una funcin sinc primario y a medida que aumentan rendijas
este primario modula los otros patrones de difraccin
los cuales son funciones iguales; en el grafico siguiente
mostraremos un modelamiento de la situacin.

La difraccin por rejillas es una experiencia


donde podemos comprender comportamientos ondulatorios de la luz tales como coherencia de frecuencia, construccin y destruccin
de ondas y espectros de luz monocromtica.

Para ver cmo surge un patrn de difraccin,


se analiz el importante caso de la luz monocromtica que pasa a travs de una rendija estrecha. En el informe se examin cmo interfieren entre s las ondas que pasan a travs de
diferentes partes de la rendija.

Lo que vemos en la pantalla que en nuestro


caso es la pared es un espectro de luz monocromtica donde la n son picos donde rayos
de luz difractados se superponen y genera una
mayor intensidad.

Para luz policromatica podemos ver que la difraccin por rejillas es un proceso dispersivo
ya que este depende de la longitud de onda de
la luz que est incidiendo; actualmente se utiliza este proceso para hacer espectroscopia.

7. REFERENCIAS
Sears, franeis w. y otros (1999) fsica universitaria.
Preasor educacin
http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/ondas/difraccion/difraccion.html

Si la anchura de la hendidura, W, eran menos de la longitud de onda de la luz que se utiliza, cuntos mximos se puede esperar para ver en el diagrama de difraccin de hendidura nica? Por qu?

GIANCOLI, DOUGLAS C.Fsica para ciencias e ingeniera


con fsica moderna. Cuarta edicin PEARSON EDUCACIN, Mxico, 2009, capitulo 35 Difraccin y polarizacin

Se observara un slo mximo, ya que en para m,


/W > 1 y sin m se indetermina para el clculo de
sus ceros.

5. CONCLUSIONES

La luz se comporta como una onda electromagntica y como tal presenta comportamientos tales como interferencia y difraccin