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PONTA GROSSA
2016
PONTA GROSSA
2016
RESUMO
SUMRIO
1 REVISO TERICA
1.1 MICROSCOPIA
estudado. A norma ASTM E 3-11 e E 407-07 sero usadas como base para a
preparao das amostras neste experimento.
O lixamento o processo de preparao de uma superfcie lisa e plana da
amostra para o subsequente polimento e ataque qumico. Sua finalidade remover a
deformao plstica produzida durante o corte da amostra e obter uma superfcie
plana e paralela. Geralmente utilizam-se lixas abrasivas com granulometrias
decrescentes, porm, neste experimento foi utilizado apenas uma lixa #1500 mesh.
O polimento a etapa mais importante na obteno de uma superfcie adequada
para a observao. Objetiva a eliminao dos riscos e da camada deformada deixada
pelo lixamento, fazendo com que se tenha uma superfcie plana e isenta de riscos.
A etapa do polimento executada em geral com o auxlio de politrizes, sobre os
quais so depositadas pequenas quantidades de abrasivos, que variam em funo do
tipo de metal que est sendo preparado. Os mais comuns so a de suspenso de
alumina e a pasta diamantada. Durante o polimento, a amostra tambm lubrificada
com a utilizao de lcool ou agentes refrigerantes especficos.
O ataque qumico definido como um processo para revelar a estrutura atravs
do ataque preferencial sobre a superfcie da amostra metlica previamente preparada
conforme descrito nos itens anteriores, usando soluo qumica adequada.
A durao do ataque e o reagente utilizado variam de material para material,
para isso, utilizasse a norma ASTM E 407 que contm os reagentes necessrios para
a maioria de ligas metlicas mais utilizadas juntamente com quais caractersticas o
ataque revela no material.2,3
2 MATERIAIS E MTODOS
2.1 MATERIAIS:
Amostras Metlicas;
Lixa Dgua;
Suporte para Lixa Dgua;
Discos para Polimento;
Pasta Diamantada;
Politriz
gua
Etanol
Reagentes Quimicos para micrografia;
Microscpio ptico;
Software para captura de imagens.
2.2 PROCEDIMENTO
3 RESULTADOS E DISCUSSES
Figura 1: Foto de microscopia tica em alumnio puro atacado com soluo de H2SO4
Fonte: Os autores
Figura 2: Foto de microscopia tica em alumnio puro atacado com soluo de HNO 3.
Fonte: Os autores
Fonte: Os autores
Fonte: Os autores
Fonte: Os autores
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Fonte: Os autores
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Fonte: Os autores
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Figura 8: Microestrutura revelada do nquel puro quando atacado com reagente FeCl 3
Fonte: Os autores
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Fonte: Os autores
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Fonte: Os autores
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Fonte: Os autores
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Fonte: Os autores
Nessa amostra possvel ver com clareza a fase ferrtica e a fase austentica
do metal. Pode-se perceber que os gros da amostra esto alongados, isso devido
ao processamento do material.
Na figura 13 podemos observar a interface entre a amostra de ao inoxidvel
duplex e a matriz de embutimento.
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Fonte: Os autores
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4 CONCLUSES
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5 REFERNCIAS
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