Micrmetro

Definio
O micrmetro teve sua primeira apario registrada por volta do sculo
XVIII, mais precisamente em 1848, pelo inventor Jean Louis Palmer, cujo
cunho do aparelho era ser mais preciso que seu antecessor, o paqumetro.
Com exatido de 0,01mm at 0,001mm. Tal engenhosidade na Frana foi
denominado Palmer em homenagem a seu progenitor, aferia de forma
simples e precisa medies de cunho centesimal e milesimal.
O micrmetro um dispositivo que mede a deslocao do fuso quando
este movido mediante o giro de um parafuso, o que converte o movimento do
tambor no movimento linear do fuso. A deslocao deste amplifica a rotao do
torinillo e o dimetro do tambor. As graduaes ao redor da circunferncia do
tambor permitem ler uma mudana pequena na posio do fuso. Serve para
medir, medidas exteriores, interiores, profundidades etc. e tm um campo de
alcance mais pequeno que o calibre.
Os micrmetros se caracterizam por:
- Aplicao: Pois existem n tipos de micrmetros para n tipos de
aferies diferentes;
- Capacidade: Normalmente varia de 25mm (1) a 2000mm (80), os
modelos de menor capacidade (25 a 300mm) so divididos em 25mm;
- Resoluo: Pode variar de 0.01mm, 0.001mm, 0.01 ou 0.001.

Vamos abaixo descrever cada componente explicito na imagem a fim de

esclarecer quaisquer pendncias sobre o nome e funo de cada parte no
funcionamento do conjunto mecnico acima (micrmetro).
Arco: Geralmente composto de ao tratado termicamente, envolto pela
proteo
Antitrmica afim de evitar a dilatao pelo calor gerado pelo contato das
mos.
Isolante trmico: geralmente constitudo de material trmico que
impede a dilatao do arco pelo calor gerado nas mos.
Faces de medio: Geralmente constitudo de metais duros resistentes
ao desgaste, so rigorosamente colocadas planas e paralelas para que haja a
leitura correta.
Encosto mvel: constitudo de ao com alto teor de liga temperado a
uma dureza 63RC composto por uma rosca retificada para uma maior preciso
do passo.
Trava: Para fixar as medidas.
Bainha: Onde se localiza a escala fixa.
Escala fixa: A escala fixa do instrumento.

Tambor graduado: Atravs da combinao do movimento giratrio e da

escala permite-se a complementao das medidas.
Catraca: Assegura uma presso de medio constante.

Aferio no sistema mtrico (mms)

Antes de qualquer leitura, no s no micrometro, mas em quaisquer
instrumentos, temos que saber a resoluo. Os micrometros do sistema
mtrico tm a medida de 25,000mm, dividimos o comprimento da escala pelo
nmero de divises (50) e podemos encontrar o valor entre suas divises
(0,50mm), que medida de cada diviso da escala fixa.
Aps a leitura da escala fixa passamos para o clculo de resoluo do
tambor, sabendo que a resoluo da escala fixa de 0,50mm e o tambor tem
50 divises podemos ver que cada diviso do tambor ter 0,01mm.
Alguns micrmetros podem chegar a leitura milesimal (0,001mm), estes
so compostos alm da escala fixa e do tambor por uma outra escala chamada
nnio, o clculo feito da mesma forma, divide-se a escala do tambor
(0,01mm) pelo nmero de divises do nnio que so 10, assim chegamos a
0,001mm.

Aferio no sistema Ingls (inch / pol. / )

No sistema ingls o micrmetro est na forma de polegada milesimal
(0,01), na bainha temos o comprimento de uma polegada (25,4 mm) dividido
em 40 partes iguais. Desse modo, o clculo de resoluo ser 1 dividido por
40 que 0,025, ento sabemos que cada diviso da bainha temos 0,025,
tambor do micrmetro dividido em 25 partes, no clculo de resoluo fica
0,025 dividido por 25 teremos 0,001, o nnio da mesma forma do sistema
mtrico dividido em 10 partes, ou seja, cada diviso o mesmo que 0,001.

Calibrao do Instrumento
A calibrao de instrumentos de medida baseada em normas. Na
calibrao dos micrmetros, trata-se da norma brasileira NBR 6670/198
regulamenta procedimentos, tolerncias e demais condies para a calibrao.

Na tabela a seguir podem ser registrados os seguintes dados:

Capacidade de medio;

Flexo permissvel no arco;

Erro de leitura do ajuste do zero;

Paralelismo das superfcies de medio.

O batimento axial da haste mvel do micrmetro no intervalo de 25 mm

no deve ultrapassar 0,003 mm.
As superfcies de medio devem ser lapidadas, e cada superfcie deve
ter planeza dentro de 1 mm. Quando sujeitas a uma fora de medio de 10 N,
as superfcies devem estar paralelas dentro dos valores dados na tabela.
A planeza das superfcies de medio pode ser verificada por meio de
um plano ptico. Coloca-se o plano ptico sobre cada uma das superfcies,
sem deixar de verificar as franjas de interferncia que aparecem sob forma de
faixas claras e escuras.
Para verificar o paralelismo de superfcies dos micrmetros de 0 a 25
mm, so necessrios quatro planos paralelos pticos. Os planos precisam ser
de espessura diferentes, sendo que as diferenas devem corresponder,
aproximadamente, a um quarto de passo do fuso micromtrico. Dessa maneira,
a verificao feita em quatro posies, com uma rotao completa da
superfcie da haste mvel do micrmetro.

Erros que podem prejudicar a aferio da medida

Erro de paralaxe: Erro devido ao mal posicionamento do aparelho em

relao aos olhos ou por falta de luz adequada onde a uma certa

varincia na medida por esses fatores;

Uso da fora: Como o micrmetro tem por base a aferio por meio de
um parafuso, o uso excessivo da fora pode causar grandes variaes

nas leituras, assim inutilizando a aferio executada pelo mesmo;

Uso da Catraca: Tentar usar o mesmo nmero de cliques se for aferir
determinada pea mais de uma vez, para garantir o mesmo padro
seguido na primeira aferio.

Cuidados de conservao do Instrumento

Limpar o micrmetro, secando-o com pano limpo e macio (flanela);

Untar o micrmetro com vaselina lquida, utilizando um pincel;
Guardar o micrmetro em armrio ou estojo adequado, para no, deixa-

lo exposto a sujeira e umidade;

Evitar contatos e quedas que possam riscar ou danificar o micrmetro e
suas escalas.

Referncias Bibliogrficas

http://www.inmetro.gov.br/
http://www.abnt.org.br/
Centro de treinamenro Jos Azevedo Botelho Apostila
Sistema FIEMG