INTRODUO

O desenvolvimento dos mtodos diretos para se determinar as estruturas

cristalinas e moleculares se deve principalmente aos cientistas Herbert A.
Hauptman e Jerome Karle, vencedores do Prmio Nobel de 1985. Sabe-se que
o uso da difrao de raios-X a fim de determinar as estruturas cristalinas era
conhecido desde o incio do sculo passado, entretanto havia limitaes
tecnolgicas e prticas que s puderam ser superadas com o passar dos anos
no quais Herbert e Jerome desenvolveram os atuais programas de
computadores que processam milhares de dados de intensidade de raios-X
podendo elucidar as estruturas cristalinas.
O processo de estudar as estruturas cristalinas pela difrao de raios-X
basicamente busca medir as dimenses da clula unitria, analisar as simetrias
existentes, determinar as distancias entre os tomos, encontrar o fator de
empacotamento, entre outros. Esse estudo preciso das estruturas cristalinas s
possvel porque os raios-X possuem comprimentos de onda com valores
prximos das distancias entre os planos cristalogrficos que so entre 0,05 a
0,25 nm, assim, quando um feixe de raios-X se encontra com um slido
cristalino podem serem produzidos diversos picos reforados de radiao com
vrias intensidades sendo possvel verificar os diferentes resultados para cada
tipo de estrutura e assim determina-lo. A prtica mais utilizada denominada
mtodo dos ps, onde se utiliza uma amostra em p com inteno de que
exista uma orientao aleatria de vrios cristais garantindo que algumas das
partculas estejam orientadas em relao ao feixe de raios-X satisfazendo as
condies da lei de Bragg. Mtodos mais modernos fazem uso de um
difratmetro de raios-X que possui um contador de radiao no qual possibilita
detectar o ngulo e a intensidade do feixe difratado para amostras em p.

CALLISTER, W. D., Cincia e Engenharia de Materiais: Uma. Introduo. John Wiley &
Sons, Inc., 2002.
VAN VLACK, L. H. Princpio de cincia dos materiais. Edgar Blucher, 1984.