1.

Introduccin
Las ltimas dcadas se caracterizan por una evolucin de macro-tomicroandmorerecentlytonanotechnology.Examples son numerosas, tales como
nanopartculas, nanotubos, transistores cunticos, superconductor en capas y
materiales magnticos, etc. Desde muchas propiedades del material son
stronglyconnectedtotheelectronicstructure,
whichinturn
depende
considerablemente de la atmica posiciones, a menudo es esencial para la ciencia
de los materiales para determinar posiciones de los tomos hasta una precisin
muy alta. tcnicas de rayos X y neutrones clsicos fallan para esta tarea, a causa
de un carcter no peridico de nanoestructuras. Slo los electrones rpidos se
encuentran dispersos suficientemente fuertemente con la materia para
proporcionar informacin local a escala atmica. Una de las tcnicas de alta
resolucin ms utilizados en microscopa electrnica de transmisin (TEM) es el
de (campo claro) de imgenes de contraste de fase. Esto se basa en la
interferencia entre los haces dispersos por una muestra y por lo general se realiza
bajo condiciones de iluminacin de haz paralelas. La principal desventaja y
significativa de este mtodo de formacin de imgenes de celosa est en la
dificultad de la interpretacin de imgenes en trminos de la estructura atmica de
la muestra. La interpretacin se realiza mediante simulaciones por ordenador que
requieren entrada de un modelo de estructura de espcimen, el espcimen
parmetros de espesor y de microscopio. Desafortunadamente, incluso los
mejores microscopios electrnicos se ven obstaculizados por el hecho de que slo
la intensidad (es decir, el cuadrado de la amplitud), de la onda de electrones se
puede grabar en thephotographicfilmorCCD-cameraandanessentialpart de la onda
electrnica, la informacin de fase, se pierde. grabacin hologrfica a superar este
problema.
El
(aberraciones)
imagewaveissuperimposedwithanunscatteredplanereference de onda que resulta
en
un
patrn
de
interferencia
hologram.Afteracquisitionandtransfertoacomputersystem de electrones, la amplitud
y la fase de la onda de electrones son recon
truidostructed usando las leyes de la ptica de Fourier por procesamiento de
imgenes sofisticado. Electron - muestra de interaccin es el uso de imgenes de
contraste de fase simulatedinthesamemannerasinthecaseofconventional. Por otro
lado la tcnica de Z-contraste proporciona imgenes directamente interpretables mapas
de
dispersin
de
energa
de
thespecimen.Allowingincoherentimagingofmaterials, representa un nuevo enfoque
para la microscopa electrnica de alta resolucin. La imagen Z-contraste se
obtiene mediante el escaneo de una sonda de electrones de dimensiones
atmicas a travs de la muestra y la recoleccin de electrones dispersados a

ngulos altos. Al mismo tiempo, tcnicas espectroscpicas tambin se pueden

utilizar para complementar la imagen, dando informacin sobre el anlisis qumico
atomicresolution y / o la estructura de banda electrnica local. La resolucin de la
tcnica est determinado por el tamao de la sonda de electrones.
Thispapergivesanintroductiontothetheoryandpractical aspectos de la microscopa
electrnica de alta resolucin. Tambin se describen los principios de la holografa
de electrones y la imagen Z-contraste.
2. Electron - interacciones de
cristal
Inatransmissionelectronmicroscope, asampleintheform de una lmina delgada se
irradia por los electrones que tienen la energa del orden de cientos de keV. En
elinterior del cristal los electrones son o bien no desviada, dispersos, o reflejada
(Fig. 1).
Electron dispersin puede ser elstica o inelastic.In el caso de la dispersin
elstica
de
los
electrones
interactan
con
los
electrostaticpotentialofatomicnuclei.Thispotentialdeviates la trayectoria de los
electrones
incidentes
sin
changeinmomentum.However
appreciableenergyloss.Infactasmalllossoccurssincethereisa,
becauseofthedisparityin masa del electrn dispersa y el tomo de la prdida es
demasiado pequea (? E / E ~ 10-9 atapertureanglesusedinTEM) toaffect la
coherencia de la viga.
En la energa inelstica caso del electrn incidente puede ser transferida a los
grados de libertad internos en el tomo o espcimen de varias maneras. Esta
transferencia puede causar excitacin o ionizacin de los electrones ligados,
excitaciones de electrones libres, vibraciones de la red y posiblemente de
calentamiento o radiacin dao de la muestra. Las interacciones ms comunes
son los que tienen los electrones en el cristal. En este caso, la prdida de energa?
E es importante, debido a que las partculas que interactan tienen la misma masa
m. ? La fraccin de la energa E es pequeo en comparacin con la energa
incidente E. Es esta primaria proceso de excitacin que isused para el electrn
EnergyLossSpectrometry (EELS) .Thiskindofspectrometry as como diferentes
procesos secundarios de desexcitations posteriores de la meta - de rayos X
emisin, emisin de electrones Auger, etc. cathodoluminiscence - permite vincular
el aspecto estructural de la muestra con la informacin acerca de su naturaleza
qumica, si el microscopio est equipado con detectores apropiados.
2. 1. ecuacin de Schrdinger y el potencial de cristal
Parece evidente que el problema de la difraccin de electrones rpidos debera
requerir la ecuacin de Dirac. Sin embargo, el papel de la vuelta en la interaccin
es insignificante (aproximadamente uno por ciento [1,2]) y es por lo tanto suficiente
para utilizar la ecuacin de Schrdinger:
3. Formacin y transferencia del contraste por TEM
Una configuracin esquemtica de una columna de TEM es en la Fig. 5. Los
electrones, emitidos por un can de electrones pasan a travs de acelerador para

el sistema de iluminacin compuesto por dos o ms lentes magnticas de

condensador. Despus de la interaccin con la muestra de los electrones entran
en el sistema de formacin de imgenes de la microscope,
composedoftheobjective, intermediateandprojector lentes magnticas. La imagen
se visualiza en una pantalla fluorescente y se registra en una pelcula fotogrfica o
en una cmara CCD. lente objetivo es el objetivo ms importante de TEM,
becauseitsaberrationslimittheresolutionofthemicroscope. Un patrn de difraccin
de
electrones
se
forma
en
su
plane.Aremovableaperturesituatedinthisplaneisusedto focal posterior seleccionar
diferentes haces de electrones para formar diferentes imgenes, manipulando as
la imagen contrast.Inthe "clsica" diffractioncontrastimaging (figura 6a) se utiliza
como centro de apertura objetivo de seleccionar slo una viga - transmisin (T) o
difractada (D) - para obtener el campo brillante conocida o
5. Aspectos prcticos de la HREM
Con el fin de obtener buenas imgenes de interferencia de calidad, varias
condiciones se deben cumplir. Firstlyitis necesario tener un bien alineada
microscopio adecuado,, electrn. En segundo lugar la muestra debe ser lo ms
fina posible y inclinada a un eje zona de cristal para alinear las columnas atmicos
paralelos al haz de electrones. Vamos a comentar la eleccin del microscopio.
Como la resolucin de un TEM depende de la longitud de onda de electrones
(tensin de aceleracin) y la calidad de la lente objetivo (Cs):
caones de electrones
Otro factor que influye en el contraste de una manera importante, es la pistola de
electrones. En general, dos tipos de caones de electrones estn disponibles una thermoemission (con emisor tungstenorLaB6) andafield-emissiongun.Table1
compara parmetros de estas armas de fuego. En HREM, se utilizan
thermoemission pistolas con un emisor de LaB6, porque LaB6 tiene una funcin
de trabajo mucho ms bajo que el tungsteno y por lo tanto la densidad de
electrones es mayor, lo que permite reducir los tiempos de exposicin.