Difraccin

Presentado a:
Juan Carlos Hernndez

Presentado por:
Angela Torres Luna
Sergio Osorio Ramos
Mateo Van Stralhen
Daniel Rosero
Daniel Ocampo Jaramillo

Universidad Nacional de Colombia

Departamento de Fsica
Manizales, Caldas
2015
Objetivo

Determinar la longitud de onda de un lser al pasar a travs de una

rendija simple haciendo uso del fenmeno de la difraccin de la luz.
Comprobar la relacin existente entre el anchi de una rendija y el patrn
de la difraccin formado.
Utilizar el fenmeno de difraccin de la luz determinar el espesor de un
cabello.

Fundamento terico

Cuando la luz pasa por una pequea abertura se observa un patrn de

interferencia en lugar de un punto definido de luz, lo que muestra que la luz se
dispersa mas all de la abertura en las regiones donde se esperara una
sombra si la luz viajara en lneas rectas. Otras ondas como las sonoras y las
que se producen en el agua, tambin tienen esta propiedad de ser capaces de
rodear esquinas. Este fenmeno, conocido como difraccin, puede considerarse
como la interferencia de un gran nmero de fuentes de ondas coherentes.
En general, el fenmeno de la difraccin de la luz ocurres cuando las ondas
pasan a travs de las aberturas, alrededor de obstculos o bordes por bordes
afilados cuyas dimensiones son comprables con la longitud de onda de dicha
luz incidente.
Cuando la luz incide sobre una rendija cada punto que la compone se convierte
en un emisor de ondas secundarias, la radiacin procede de todos estos focos
emisores genera un patrn de interferencia que se puede evidenciar en una
pantalla como una distribucin de mayor a menor intensidad (dependiendo de
las fases de ondas secundarias). En la Fig. 1 se muestra un haz de luz
monocromtica de longitud de onda que incide sobre una rendija de anchura
, de forma que la luz que pasa a travs de la rendija incide luego sobre la
pantalla produciendo un patrn de difraccin. A su vez se muestra la
distribucin de intensidad. El diagrama de difraccin consiste en un mximo
brillante central flaqueado por varios mximos secundarios, de forma que la
intensidad de estos mximos secundarios disminuye con la distancia al centro
del patrn

Figura 1. Distribucin de intensidad de la difraccin

La condicin para que se formen los mnimos de intensidad est dada por:
sen= m (m =1, 2 ,3..)

(1)

: Ancho de rendija.
: Separacin angular entre el mximo central y los mnimos de intensidad de
la difraccin que se observan en la pantalla.
: Longitud de onda de la fuente de luz.
m: Orden del patrn de difraccin para los mnimos de intensidad.
Teniendo en cuenta ciertas consideraciones para ngulos pequeos se tiene
finalmente que el ancho de la rendija est expresado por:

(m =1, 2 ,3..)

(2)

Donde
y: Distancia entre el mximo central y los mnimos de intensidad adyacentes .
D: Distancia entre la rendija y la pantalla.

Tornillo micromtrico
El micrmetro, que tambin es denominado tornillo de Palmer, calibre Palmer o
simplemente palmer, es un instrumento de medicin cuyo nombre deriva
etimolgicamente de las palabras griegas (micros, pequeo) y o
(metron, medicin); su funcionamiento se basa en un tornillo micromtrico que
sirve para valorar el tamao de un objeto con gran precisin, en un rango del
orden de centsimas o de milsimas de milmetro, 0,01 mm 0,001 mm
(micra) respectivamente. Para proceder con la medicin posee dos extremos
que son aproximados mutuamente merced a un tornillo de rosca fina que
dispone en su contorno de una escala grabada, la cual puede incorporar un
nonio. La longitud mxima mensurable con el micrmetro de exteriores es de
25 mm normalmente, si bien tambin los hay de 0 a 30, siendo por tanto
preciso disponer de un aparato para cada rango de tamaos a medir: 025
mm, 2550 mm, 5075 mm

Adems, suele tener un sistema para limitar la torsin

mxima del tornillo, necesario pues al ser muy fina la rosca
no resulta fcil detectar un exceso de fuerza que pudiera ser
causante de una disminucin en la precisin.

LSER DE HELIO-NEN
El lser de helio-nen fue el primer lser de gas que se construy.
Actualmente sigue siendo muy til y se emplea con mucha frecuencia.
Los centros activos de este lser son los tomos de nen, pero la
excitacin de stos se realiza a travs de los tomos de helio. Una
mezcla tpica de He-Ne para estos lseres contiene siete partes de
helio por una parte de nen.
Caractersticas espectrales del helio-nen
La figura muestra el diagrama de niveles de energa para el sistema
He-Ne. Ah se exponen las tres transiciones lser ms importantes, las
cuales ocurren a 3.39 mm, 1.15mm y 0.6328 mm. Puede notarse que
los niveles del helio, espectroscpicamente denotados como 2 1S y 23S,
coinciden con los niveles 3s y 2s del nen. Como veremos en seguida,
este hecho es fundamental para la excitacin de los tomos de nen.
En este lser los centros activos son los tomos de nen y la inversin
de poblacin se logra entre los niveles 3s con 3p y 2p, as como entre
2s y 2p.
Ntese que el nivel energtico inferior de la transicin lser no es el
estado base del tomo de nen, por lo tanto, es necesario pasar de la
transicin inferior al estado base.

Equipo utilizado
Laser de Helio- Nen
Riel ptico
Disco de rendija mltiples
Pantalla
Papel blanco
Regla
Cinta
Tornillo micromtrico
Vernier

Procedimiento
Relacin en entre el ancho de una rendija y la distancia entre mnimos de
intensidad de difraccin
1. Monte el lser en el soporte y encjelo en el riel ptico.
2. Ajuste e, disco de rendijas mltiples con la rendija de 0,02 mm, de tal
manera que el haz de la luz incida sobre el centro de esta, formando
un patrn de difraccin.
3. Registre la distancia laser-rendija y rendija- pantalla.

4. Pegue una hoja de papel blanco sobre la pantalla, ubique el centro de

la franja ms brillante y marque dicho punto.
5. Ubique las primeras franjas oscuras adyacentes a la franja brillante y
marque dichos puntos.
6. Retire la hoja de papel y mida la distancia entre el punto central y los
puntos marcados a la derechas (y) e izquierda (-y)
7. Repita el procedimiento anterior para la rendijas de 0,04, 0,08, 0,16,
0,2 mm. Consigne los datos obtenidos en la Tabla 1.
Determinacin del ancho de un cabello
1. Monte el lser en el soporte y encjelo en el riel ptico.
2. Tome uno de sus cabellos y utilizando cinta mantngalo fijo en un
soporte.
3. Ajuste el lser de tal forma que el haz incida sobre el cabello
generado un patrn de difraccin en la pantalla.
4. Registre la distancia laser-cabello y cabello-pantalla.
5. Pegue una hoja de papel blanco sobre la pantalla, ubique el centro de
la franja ms brillante y marque dicho punto.
6. Ubique el primer orden de difraccin (m) correspondiente a las
primeras franjas oscuras adyacentes a la franja mas brillante y
marque dichos puntos.
7. Retire la hoja de papel y mida la distancia entre el punto central y los
puntos marcados a la derechas (y) e izquierda (-y).
8. Repita el procedimiento anterior para los siguientes cuatro rdenes
de difraccin (m., m, m y m) Consigne los datos obtenidos en la
Tabla 2.
Tablas de datos
Tabla 1.
Ancho de
y [mm]
rendija [mm]
0,02
58
0,04
28
0,08
12
0,16
4
0,2
3
Distancia laser-rendija = 330
[mm]

-y[mm]

Y promedio
[mm]
59
58.5
28
28
12
12
4
4
3
3
Distancia rendija-pantalla=
1500 [mm]

Tabla 2.
m

Ym [mm]

-ym [mm]

10

Y
promedio
[mm]
9,5

2
20
3
32
4
42
5
51
Distancia laser-cabello = 430
[mm]

20
20
30
32
38
40
48
49.5
Distancia cabello-pantalla =
1430 [mm]

teorica = 632,8 [mm]

Clculos y resultados

Relacin en entre el ancho de una rendija y la distancia entre mnimos

de intensidad de difraccin
1. A partir de los datos obtenidos de la Tabla 1. determine la longitud de onda
() del lser para casa una de las rendijas
De la ecuacin (2) se despeja y tenemos que

Rendija 0,02 [mm]

Rendija de 0,04

Rendija de 0,08

Rendija de 0,16

Rendija de 0,2

2. Determine un valor promedio de las longitudes de onda hallada en el

numeral anterior. Halle el error absoluto y absoluto e interprtelos.
Longitud promedio:

Error absoluto:

Error absoluto medio:

Erros absoluto relativo medio

3. Calcule el porcentaje de error de la longitud de onda promedio respecto al

valor terico
Valor Terico:

Porcentaje de error:

4. Haga una grfica de y = f (). Qu tipo de relacin entre variables se

identifica en la grfica?

Se observa que es una grfica potencial con exponente negativo, por lo cual
se puede decir que son inversamente proporcionales las variables entre s,
se mira claramente que existe una relacin inversa ya que a medida que
aumentamos el ancho de la rendija () disminuye la distancia de los puntos
de difraccin (y).
5. Haga los procesos de linealizacin necesarios para la ecuacin (1) de y en
funcin de y determine la ecuacin de la lnea recta que mejor se ajuste a
partir de los datos obtenidos en la Tabla 1. Qu representa la pendiente, el
intercepto y el coeficiente de correlacin?

m = -252.5
B = 46.35
R = -0.84
Ecuacin de la recta que mejor se ajusta:
Y= -252.5X + 46.35

Donde

m representa la distancia entre el lser y la rendija.

B representa la distancia entre el punto central y el punto marcado.

coeficiente de correlacin (r), indica el grado de relacin entre las dos

variables.

6. A partir de la ecuacin de la lnea recta obtenida en el numeral anterior

determine la longitud de onda () del lser y calcule el porcentaje de error
respecto al valor terico.
7. Segn los porcentajes de error obtenidos en los numerales 2 y 6, determine
que mtodo para determinar la longitud de onda es ms preciso. Por qu?

Determinacin del ancho de un cabello

1. A partir de la tabla 2 haga una grfica de y = f (m). Use para la longitud
de onda () el valor ms preciso obtenido en los clculos anteriores.

2. A partir de la grfica anterior y con ayuda de la ecuacin (1) determine

el espesor del cabello.
3. por qu el cabello genera patrones de difraccin?
4. Usando un tornillo micromtrico y un vernier mida el espesor del cabello,
Compare los espesores hallados con el obtenido en el numeral 2.

Conclusiones

A medida que se aumenta el tamao de la rendija por la que pasa el

haz de luz, este se hace ms grueso pero la distancia entre el punto
de mayor intensidad lumnica y el punto mnimo se vuelve ms
pequeo.

Bibliografa

W. Edwards Gettys, Frederick J. Keller, Malcolm J. skove, (1991) (en

espaol)- Fsica clsica y moderna. Madrid: Ed. McGraw-Hill.

Raymond A. Serway, (1997) (en espaol). Fsica Tomo ||. Mxico: Ed

McGraw-Hill

http://www.mitecnologico.com/Main/TornilloMicrometrico.}

http://bibliotecadigital.ilce.edu.mx/sites/ciencia/volumen2/ciencia3/105/h
tm/sec_7.htm