PRPIEDADES OPTICAS EN EL VISIBLE:

INTRODUCCIN
La espectrofotometra de transmitancia ptica constituye una de las tcnicas ms
utilizadas en el anlisis de las propiedades pticas de capas finas dielctricas y
semiconductoras.
En este trabajo se obtendrn los espectros de transmisin correspondientes a
capas finas de diversos materiales, y se determinar la dependencia espectral del
ndice de refraccin, n, (ecuacin de Sellmeier) y la posicin del frente de
absorcin (gap) correspondiente a la contribucin de la polarizacin electrnica.
FUNDAMENTO TERICO
Los materiales dielctricos presentan en la regin comprendida por el infrarrojo
cercano (NIR: 2500-800 nm) y el visible (VIS: 800-350 nm), un ndice de
refraccin cuyo origen fsico es la polarizabilidad electrnica de los tomos del
material. Las otras posibles contribuciones (dipolar e inica) no son capaces de
seguir la frecuencia del campo electromagntico, y por tanto, no contribuyen. El
mecanismo de la polarizacin electrnica presenta fenmenos de resonancia para
una(s) frecuencia(s) 0 en la regin del ultravioleta (UV: <350 nm), a partir de la
cual el material no presenta ningn fenmeno de polarizacin.

Figura 2
El sistema a estudiar consiste en una capa de material dielctrico de espesor, d,
crecida sobre un substrato de vidrio (Fig.1). Esta estructura permite realizar el

anlisis ptico de la capa en el dominio del visible (350-800 nm), donde el

coeficiente de extincin, ks, del vidrio es nulo. Adems, los dielctricos
presentan, en este dominio, un ndice de refraccin prcticamente constante, y un
dbil coeficiente de absorcin, , con lo cual la constante dielctrica , a estas
frecuencias y el correspondiente ndice de refraccin, puede considerarse real, y
aproximadamente constante, con tanta mejor aproximacin, cuanto ms lejos
estemos de la regin del ultravioleta donde tienen lugar los fenmenos de
resonancia. Por otra parte, al acercamos a la regin del ultravioleta, el ndice de
refraccin presenta una suave dependencia con la frecuencia, que para valores de
no muy prximos al valor de resonancia 0, puede expresarse como:

(1)
Si llamamos n al valor lmite de altas longitudes de onda (=0), esta
dependencia puede expresarse en la llamadarelacin de Sellmeier:

(2)
La dependencia experimental n() se determina a partir de las posiciones y los
valores de los mximos y mnimos del espectro de transmisin. En condiciones
de dbil absorcin (n>>k), la transmitancia de la estructura
aire/capa/substrato/aire (fig. 1) viene dada por:

(3)
donde

(3)
siendo n el ndice de refraccin de la capa y s el del substrato. Los mximos y
mnimos de transmisin aparecen como consecuencia de las interferencias que se
producen entre las reflexiones mltiples en las superficies de la capa cuando el
grosor de esta es inferior a la longitud de coherencia de la luz empleada (unas
pocas longitudes de onda para la luz emitida por un filamento)

En la deduccin de la expresin anterior se han tenido en cuenta las reflexiones

mltiples no coherentes que se producen en las caras del substrato de vidrio (no
dan lugar a interferencias ya que el grosor del vidrio - 1 mm - es mucho mayor
que la longitud de coherencia de la luz).
La transmitancia correspondiente al substrato, sin capa, (basta hacer n=1 y d=0
en (3)) resulta:

(4)
Los extremos (mximos o mnimos) de la funcin T() (ecuacin 3) aparecen en
valores de donde se verifica la condicin: cos = +1 -1, es decir
:
(5)
Hay que distinguir dos casos:
Caso que n>s: Entonces C>0 y m ser entero si es un mximo, y
semientero si es un mnimo. Estos extremos permiten definir las
envolventes de la funcin T() mediante:
(6)

(7)
La diferencia de los recprocos de las ecuaciones (6) y (7) es independiente de x,
lo cual permite calcular el ndice de refraccin del material, n(), en funcin de
los valores de Tmax y Tmin (determinados experimentalmente a partir de los
extremos (mximos y mnimos locales) del espectro de transmitancia) mediante
la expresin:

(8)

siendo

(8)

Caso que n<s: Ahora C<0 y m ser entero si es un mnimo, y semientero si

es un mximo. Volviendo a definir las envolventes de la funcin T()
mediante:
(9)
(10)
La diferencia de los recprocos de las ecuaciones (9) y (10) es tambin
independiente de x, lo cual permite calcular el ndice de refraccin del material,
n(), de manera similar a la anterior, mediante la expresin:
(11)
siendo ahora:

(11)
En la figura 2 se presentan dos espectros de transmisin correspondientes a capas
no absorbentes depositadas sobre un sustrato con s=1.5, correspondientes a los
dos casos estudiados.

Figura 2
Observaciones:
La separacin en longitud de onda entre mximos y mnimos es funcin
del producto nd.
Si n>s, los mximos de T coinciden con la transmitancia del substrato, y
los mnimos dependen del valor de n (y no del valor de d).
Si n<s, los mnimos de T coinciden con la transmitancia del substrato, y
los mximos dependen del valor de n. Para el valor de n=s 1/2, el valor de la
transmitancia de los mximos es del 100%.
REALIZACIN EXPERIMENTAL
En este experimento se estudiar la zona de dbil absorcin en capas finas de
algunos materiales, algunas de ellas obtenidas en nuestro Laboratorio mediante
diferentes tcnicas: CdS (evaporacin en alto vaco), TiO 2 (evaporacin reactiva
activada por plasma), silicio amorfo hidrogenado a-Si:H (depsito mediante un
plasma de radiofrecuencia), y xido de zinc (pulverizacin catdica).

Figura 3. Esquema del experimento de transmitancia ptica asistida por

ordenador
Dispositivo experimental
El equipo utilizado para realizar el experimento consta de dos partes: el equipo
ptico de medida y el equipo de adquisicin y de tratamiento de datos con
ordenador.
Equipo de medida:
Monocromador de red de difraccin (350-800 nm).
Detector de efecto fotovoltaico y amplificador.
Multmetro digital.
Portamuestras con dispositivo comparador (muestra-referencia).
Dispositivo motorizado para el barrido espectral.
Fuente luminosa con fuente de alimentacin rectificada (30 W).
Fuente de alimentacin simtrica (12 V) del amplificador.
Fuente de alimentacin continua (12 V) del motor paso-paso

Equipo informtico:
Ordenador.
Interfase RS232 y puerto paralelo.
Software para la automatizacin del experimento y el tratamiento de datos.
Procedimiento experimental
Medir los espectros de transmitancia T() en la regin del visible (350 800 nm) de las diferentes muestras utilizando el software suministrado.
Determine con precisin la posicin y magnitud de los mximos y
mnimos de los espectros T().
Clculos y presentacin de resultados
Deducir la expresin (8).
Los clculos siguientes se realizarn slo para la muestra de TiO 2, y se puede
usar una hoja Excel ya preparada para realizarlos:
Debido a que no se conoce el orden de interferencia de cada mximo y
mnimo, se procede a una indexacin provisional j = 0, 1, 2,.....,
comenzando por las longitudes de onda ms largas.
Determinar para cada mximo (y para cada mnimo), su transmitancia y la
transmitancia que le correspondera si en lugar de ser un mximo
(mnimo), fuera un mnimo (mximo). Con estos valores, construir una
tabla: j/2, , Tmax, Tmin. Utilizar las ecuaciones (8) para calcular los
valores de n para cada una de las de la tabla.
De acuerdo con la expresin (5), si se representa j/2 en funcin de los
valores n/ obtenidos en el punto anterior, la ordenada en el origen ha de
ser exactamente un entero, si el primer extremo es un mximo (o un
semientero si es un mnimo). Realizar dicha representacin y determinar el
espesor y el orden del primer extremo del espectro de las capas B, C, D y
E.

Sugerencias: colocar en el eje j/2 nicamente las divisiones correspondientes a

los valores posibles, es decir, enteros y semienteros. Adems es conveniente que
el eje n/ comience en el valor cero y el eje j/2 incluya los valores negativos
necesarios para visualizar bien la calidad del ajuste.
Recalcular los valores del ndice de refraccin utilizando la condicin (5).
Representar 1/(n12- 1) en funcin de 1/2 y comprobar la validez de la
relacin de Sellmeier (ecuacin 2). Calcular los parmetros n y 0.
Representar en una misma grfica los valores de la transmitancia
experimental y la terica correspondiente a un modelo de material sin
absorcin.
Representar en una misma grfica los valores de r experimentales, los
recalculados y la dependencia deducida de la ecuacin de Sellmeier.
Elementos de discusin
Representar en una misma grfica los espectros de los distintos materiales
estudiados. Comentar cualitativamente sus propiedades pticas.
Discutir por qu el vidrio no presenta mximos y mnimos de
interferencia, y las otras muestras s.
Observar la presencia en algunas muestras de un frente de absorcin.
Estimar el valor correspondiente (en eV) a partir del valor de en el que
dicho frente presenta una mxima pendiente. Comparar con el parmetro
correspondiente a cada material.
Cual es la mxima transmisin terica del sistema vidrio-capa?. Por qu
no se puede superar este valor?.
De que parmetros depende la posicin de los mnimos de interferencia?.
Y la separacin entre mximos y mnimos?.
Comparar los valores de los ndices de refraccin y de los espesores de las
distintas muestras, por simple observacin de los espectros de transmisin
en la zona de dbil absorcin.

 Discutir la grfica los valores de r experimentales, los recalculados y la

dependencia deducida de la ecuacin de Sellmeier.
BIBLIOGRAFA
L.Eckertova, "Physics of Thin Films", Plenum ed., N.Y., 1977.
Apuntes de la asignatura.
J.Aranda, Tesis doctoral, Universidad de Barcelona, 1981.
E.Bertran, Tesis doctoral, Universidad de Barcelona, 1983.
J.L.Andjar, Tesis doctoral, Universidad de Barcelona, 1990.
J.Campmany, Tesina de grado de licenciatura, Universidad de Barcelona,
1991.