Universidade Federal do ABC

EN 3714-Instrumentao e Metrologia ptica

Relatrio: Laboratrio 2

O Fenmeno do Speckle

Alison Santos 11029111

Jair Barbosa Parreira Corso 11084612
Lucas G. M. Nunes 11090311
Renato Coelho 11097511
Thiago Henrique Delfino Santos 11005912

Prof. Dr. Marcos R.R. Gesuald

Santo Andr, Abril de 2016

1. Resumo

O experimento tem como finalidade o estudo da tcnica de interferometria

baseado no fenmeno Speckle. Especificamente utilizar os padres speckle para
determinar a medida de microdeslocamentos baseado na tcnica fotogrfica de
dupla-exposio.
Para determinar esses microdeslocamentos foi realizado o registro de um
feixe de laser He-Ne sobre um difusor acoplado a um microdeslocador mecnico
por uma cmera CCD sem lente objetiva ligada a um microcomputador. Para que
os gros do speckle fossem maior que os pixels da cmera o sensor CCD foi
posicionado a aproximadamente 10cm da superfcie espalhadora. Uma srie de
dez microdeslocamentos, com passos de 20m, foi realizada e os respectivos
padres speckles registrados. Com as dez imagens foi determinado os
microdeslocamentos baseado na tcnica conhecida como Digital Speckle Pattern
Interferometry, tomando a primeira imagem como referncia e cada uma das
demais somadas e calculada a transformada de Fourier sobre a superposio,
obtendo um padro de franjas.

2. Introduo

As superfcies dos materiais so extremamente speras na escala de um

comprimento de onda visvel, da ordem de alguns nanmetros.

Quando luz

incide sobre uma superfcie rugosa onde as variaes de relevo so maiores que
o seu comprimento de onda , ela espalhada em todas as direes de forma
aleatria. Essas ondas espalhadas interferem, formando um padro de pontos
escuros e brilhantes no espao.
Se a luz incidente for altamente coerente, proveniente de um laser, por
exemplo, formado um padro granular, conforme Figura NMERO.

Figura 1 Exemplo de padro Speckle. Os gros escuros e claros se distribuem em resposta a

interferncia da luz espalhada devido s irregularidades da superfcie.

A aplicao mais bvia deste fenmeno o mapeamento da rugosidade de

uma superfcie. Ao incidir luz laser sobre determinada superfcie, o padro de
manchas formado certamente depender apenas das caractersticas dessa
superfcie, j que a luz laser formada por ftons clones.
A intensidade da luz num determinado ponto do padro tem contribuies
de todos os ftons incidentes na superfcie, e dada por:
=

=1

Assumindo que as amplitudes e fases de cada uma das ondas

incidentes so independentes entre si e dos outros componentes e que as fases
esto homogeneamente distribudas entre e possvel mostrar que a
amplitude complexa em cada ponto do padro obedece a uma estatstica
Gaussiana e que a densidade de probabilidade da intensidade dada por:
() =

exp ( )

Onde o valor mdio da intensidade. Da equao acima, nota-se que

= 0 (a mancha escura) tem a probabilidade mxima.
Sobre um ponto arbitrrio a uma distncia da superfcie, dois sobre a
superfcie que esto a uma distncia entre si espalharo ondas que geraro
sobre uma franja de frequncia = /. Seja o dimetro da superfcie igual a
, ento a frequncia mxima sobre :
=

Sobre a superfcie, o nmero de pontos separados por uma distncia

proporcional a . Assim o nmero franjas a uma determinada frequncia
ser:
= ( )
O nmero de franjas a uma dada frequncia cai linearmente com o valor da
frequncia at .
Se quisermos projetar esse padro de interferncia no espao sobre uma
superfcie para a gerao de uma imagem, podemos utilizar uma lente. Neste
caso, teremos que adaptar a teoria desenvolvida acima: deve ser substitudo
pelo dimetro da lente , deve ser substitudo por , a distncia da lente
superfcie onde a imagem ser projetada. Definimos =
abertura da lente. Assim, temos:

como sendo a

Figura 2 Formao de imagem Speckle com utilizao de uma lente.

=
0 =

= (1 + )

1
Onde 0 =
a distncia mnima entre duas franjas e definimos a

ampliao da imagem =

. A formao da imagem Speckle no pode ser

explicada em termos da ptica geomtrica.

Suponha agora que seja colocada no uma tela com um furo a uma distncia
do plano de difrao. Ela funcionar como um filtro que selecionar as
frequncias:
=

Neste caso, podemos imaginar que uma grade, dada por:

1 = (1 + cos 2 )
colocada sobre o plano. Quando essa tela passa por todo o plano de
difrao, haver uma deformao na imagem Speckle, como se grades
houvesse sido colocadas sobre a superfcie conforme:
2 = [1 + cos 2( + ())]
Se somarmos as imagens Speckle antes e depois da passagem do filtro,
teremos 1 + 2 , cujos mximo e mnimo encontram-se em () = e () = +
1/2, respectivamente. Assim, tem-se:
() =

1
0
=

1 0
() = ( + )
2
Se estendermos o resultado para a direo , teremos:
2

(, ) =

2 ()

2 ()

1
1
= 0 ( ) + ( )

1
1
1
(, ) = ( + ) 0 ( ) + ( )
2

Sendo () o deslocamento na direo .

3. Descrio do Experimento
O experimento consiste na montagem de uma bancada constituda por um
laser de HeNe, uma lamina e anteparo, um parafuso micromtrico, uma cmera
do tipo CCD e um computador para armazenar as imagens. O sistema no
necessita de grande estabilidade mecnica, tal como o controle de temperatura
ambiente no requerido. Primeiramente, o a configurao inicial deve-se ser
feita da seguinte forma: a lamina deve-se ficar reta com relao cmera, e
em um ngulo de aproximadamente 45 em relao ao feixe laser.

Figura 3 Configurao inicial do experimento [2].

Uma vez que a bancada montada, feito o registro do padro Speckle

obtido via cmera CCD e a imagem ser salva atravs de um software no
computador. A partir da primeira medio, deve-se repetir mais 9 vezes o
procedimento deslocando-se a lamina no passo de 20m com auxlio de um
parafuso micromtrico.
A partir das imagens obtidas, deve-se utilizar o software Matlab para gerar os
padres de franjas de Young e calcular a distncia entre elas. O tamanho dos
gros do Speckle dado pela equao:

Em que dado pelo comprimento de em que Z a distncia entro o ponto

de observao e o objeto espalhador, e D o dimetro da rea iluminada do
difusor.
J a distncia entre as franjas de Young medida atravs da equao a
baixo:

Z
=

Onde

representa

deslocamento

obtido

atravs

do

parafuso

micromtrico, Z a distncia entre a lamina e a cmera CCD e o

comprimento de onda do laser.

4. Resultados Experimentais
Com o auxlio da cmera, foram coletadas as imagens abaixo do objeto
quando incidido o laser. De uma imagem a outra, o deslocamento do objeto foi
de 20m, como j explicado anteriormente.

Figura 1 - Primeira imagem coletada

Figura 2 - Segunda imagem coletada

Figura 3 - Terceira imagem coletada

Figura 4 - Quarta imagem coletada

Figura 5 - Quinta imagem coletada

Figura 6 - Sexta imagem coletada

Figura 7 - Stima imagem coletada

Figura 8 - Oitava imagem coletada

Figura 9 - Nona imagem coletada

Figura 10 - Dcima imagem coletada

Aps a captura, em ambiente MatLab foram determinados os padres

speckle da soma de duas imagens separadamente, e aps isso foi feita a soma
desses dois padres e feita a FFT deste ltimo.
A figura abaixo representa a FFT da soma dos padres speckle da
primeira imagem e segunda imagem capturas.

Figura 11 - FFT speackle primeira e segunda foto

Neste primeiro caso no observou-se o padro de franjas devido o

pequeno deslocamento do objeto entre uma foto e outra, sendo este
deslocamento de 20m.
Fazendo o mesmo procedimento, mas utilizando as fotos 1 e 6, pode-se
observar o padro de franjas, conforme figura abaixo.

Figura 12 - FFT speackle primeira e sexta foto

Para calcular a distncia entre as franjas do padro acima, a imagem foi

analisada em Matlab e foi verificada uma distncia de 32 pixels, sabendo que o
tamanho de um pixel 4,65m, pode-se determinar a distncia D entre as
franjas.

= l

4,65 m

= 32 4,65 m = 148,8 m
Utilizando a equao para padres de experimento Young para a primeira
distncia e segunda distncia, pode-se chegar a uma equao que relaciona o
micro deslocamento do objeto, conforme segue.
sin = m ,
sD
= m ,

m= 1, 2,
m= 1, 2,

Onde:
s = microdeslocamento
L = distncia entre a cmera e o objeto
D = distncia entre as franjas

Sabendo que a distncia entre o objeto em que foi incidido os raios laser
e a cmera foi de aproximadamente 29cm e o comprimento de onda do laser
utilizado foi de 632,8nm, pode-se determinar o valor do micro deslocamento s.
=

0,6328 . 290000
= 1233 m
148,8

O deslocamento esperado era de 100 m.

Repetiu-se o mesmo procedimento para a segunda e nona imagem, e a
FFT do padro speckle est representada pela figura abaixo.
= 24 4,65m = 111,6m

0,6328 . 290000
= 1644 m
111,6

O deslocamento esperado era de 140 m. Fatores como a impreciso em

calcular a distncia entre as franjas, moventao da placa em relao ao eixo
durante a movimentao da horizontal da placa, e impreciso nas medidas do
deslocamento pelo fato das medidas terem sido observadas em baixa
luminosidade

do

ambiente.

5. Concluses
Apesar

dos

problemas

identificados

na

discusso

dos

resultados

experimentais, foi possvel atravs do experimento, estudar um mecanismo de

medio ao qual tem como caracterstica anlise de padres pelo
espalhamento da luz em uma superfcie rugosa, que gera o padro Speckle
analisar informao sobre a superfcie ao qual este se refere.
O que tal mtodo de aquisio de informao de extrema importncia,
pois, o mesmo no interfere no sistema, ao qual este est sendo medido, assim
uma forma de medio totalmente passiva.

6. Referncias
1. Gasvik, K. J., Optical metrology. 3rd ed.. West Sussex, Eng.: J.
Wiley &, 2002.
2. Silva, Emerson R.; Muramatsu, Mikiya. O fenmeno do speckle
como

introduo

metrologia

Universidade de So Paulo, 2007.

ptica

no

laboratrio

didtico.