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Escuela de Posgrado
Facultad de Economa y Planificacin
Departamento de Estadstica e Informtica
SLABO
I.
DATOS GENERALES
1.1 Curso:
1.2 Maestra:
1.3 Cdigo:
1.4 Crditos:
1.5 Requisito:
1.6 Profesor:
1.7 Correo Electrnico:
Control de Calidad
Estadstica Aplicada
EP7121
2 -2 -3
Ninguno
Mg. Raphael Flix Valencia Chacn
raphael@lamolina.edu.pe
II. SUMILLA
Comprende una introduccin al estudio de control de calidad y variabilidad en
el ambiente moderno de las empresas y las industrias. Estudio de las grficas
de control y capacidad de procesos as como de los sistemas de medicin.
Cartas de control para variables. Cartas de control para atributos. Cartas de
control de suma acumulada y de promedio mvil ponderado
exponencialmente. Muestreo de aceptacin por variables y atributos. Presenta
casos prcticos sobre estudios de control estadstico de la calidad
relacionados a servicio y produccin. Tambin se presenta la metodologa Six
Sigma como una herramienta de control y mejoramiento de la calidad.
III. OBJETIVO GENERAL
Proporcionar al estudiante de maestra un conocimiento slido de los
principios y las bases del control de la calidad haciendo uso de las tcnicas y
herramientas estadsticas ms usadas as como la utilizacin del software para
el anlisis correspondiente.
IV. OBJETIVOS ESPECFICOS
Al finalizar el curso el estudiante estar en capacidad de:
Identificar las filosofas, enfoques y conceptos relacionados a la Gestin de
Calidad
Reconocer y aplicar los mtodos para la mejora continua.
Presentar las herramientas bsicas para resolver problemas del Control
Estadstico de Procesos e ilustrar la manera en que estas herramientas forman
un marco prctico coherente para el mejoramiento de la calidad.
Conocer el contexto que se aplica el control estadstico de calidad y su
vocabulario propio.
Entender y aplicar los ndices de capacidad de un proceso.
Aplicar los planes de muestreo adecuado para la toma de decisiones a cerca
de la aceptacin de los lotes de produccin.
Semana 4
CAPTULO IV: CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES
Cartas de control para X y R. La curva caracterstica de operacin y la
longitud promedio de corrida para la carta X . Tamao de muestra.
2
Fuente:
Montgomery, D. Cap. 5
Gutirrez, H. Cap. 7
Besterfield, D. Cap. 5
Bonilla, E. Cap. 2; Cap. 3
Semana 5
CAPTULO V: CARTAS DE CONTROL PARA VARIABLES
Cartas de control para X y S. Las cartas de control de SHEWHART para
mediciones individuales.
Fuente:
Montgomery, D. Cap. 5
Gutirrez, H. Cap. 7
Besterfield, D. Cap. 5
Bonilla, E. Cap. 2 ; Cap. 3
Semana 6
CAPTULO VI: CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS
Carta de control para la fraccin disconforme. Cartas de control para
disconformidades. Curvas caractersticas de operacin. Longitud promedio de
corrida para la carta p. Tamao de muestra para la carta p y np.
Tamao de muestra para la carta c y u.
Fuente:
Montgomery, D. Cap. 6
Gutirrez, H. Cap. 8
Besterfield, D. Cap. 8
Bonilla, E. Cap. 2 ; Cap. 3
Semana 7
Primer Laboratorio de Aplicacin
Fuente:
Montgomery, D. Cap 4 ; Cap. 5 ; Cap. 6
Gutirrez, H. Cap. 6 ; Cap. 7 ; Cap. 8
Besterfield, D. Cap. 5 ; Cap. 8
Bonilla, E. Cap. 2 ; Cap. 3
Semana 8
Examen Parcial
Semana 9
CAPTULO VII: ANLISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO Y DE SISTEMAS
DE MEDICIN
Anlisis de capacidad del proceso utilizando un histograma o una grfica de
probabilidad. ndice de capacidad del proceso. Anlisis de capacidad del
proceso usando una carta de control.
3
Semana 10
CAPTULO VIII: CARTAS DE CONTROL DE SUMA ACUMULADA Y DE
PROMEDIO MOVIL PONDERADO EXPONENCIALMENTE
La carta de control de suma acumulada. La carta e control del promedio mvil
ponderado exponencialmente. La Carta de control del promedio mvil.
Fuente:
Montgomery, D. Cap. 8
Gutirrez, H. Cap. 9
Semana 11
CAPTULO IX: CONTROL DE PROCESOS CON VARIABLES MLTIPLES
El problema del control de calidad con variables mltiples. La carta de control
T2 de Hotelling. La carta de control EWMA para variables mltiples. Ajuste de
regresin.
Fuente:
Montgomery, D. Cap. 10
Besterfield, D. Cap. 6
Semana 12
CAPTULO X: MUESTREO DE ACEPTACIN LOTE POR LOTE PARA
ATRIBUTOS
Tipos de planes de muestreo. La curva OC. Muestreo doble, mltiple y
secuencial. NTP-ISO 2859.
Fuente:
Montgomery, D. Cap. 14
Gutirrez, H. Cap. 12
Besterfield, D. Cap. 8 ; Cap. 9 ; Cap. 10
Semana 13
CAPTULO XI: MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES
Los planes de muestreo de DODGE-ROMING.
Tipos de planes de muestreo. NTP-ISO 3534.
Fuente:
Montgomery, D. Cap. 15
Gutirrez, H. Cap. 12
4
Semana 14
Segundo Laboratorio de Aplicacin
Fuente:
Montgomery, D. Cap. 7 ; Cap. 8 ; Cap. 10 ; Cap. 14 ; Cap. 15
Gutirrez, H. Cap. 9 ; Cap. 12
Besterfield, D. Cap. 8 ; Cap. 9 ; Cap. 10
Semana 15
Sustentacin y Exposicin de Trabajo Final.
Semana 16
Examen Final
VI. METODOLOGA
Las clases se desarrollarn de manera terico - prctica, con el apoyo de
mtodos audiovisuales. Se fomentar la participacin activa de los
participantes en la resolucin de problemas y casos de aplicacin, los cuales
debern resolver y entregar para su discusin. Tambin se har uso del
laboratorio de cmputo y del software necesario para el anlisis de los casos.
VII. EVALUACIN
Examen Parcial
Examen Final
Practicas Calificadas
Trabajo encargado
Aplicaciones
25 %
25 %
10 %
20 %
20 %