Institucin Educativa Municipal Sebastin de Benalczar

Integrantes: Wilson Quinatoa

Fecha: 2016-03-29

Curso: 1ro BGU E

Microscopio ptico
a) Partes del microscopio y su funcin

Cabezal: contiene los sistemas de lentes oculares. Puede ser monocular,

binocular.
Ocular: lente situada cerca del ojo del observador. Ampla la imagen del
objetivo.
Objetivo: lente situada cerca de la preparacin. Ampla la imagen de sta
determinando la cantidad de aumentos con la que queremos observar.
Condensador: lente que concentra los rayos luminosos que inciden sobre la
preparacin.
Diafragma: regula la cantidad de luz que entra en el condensador.
Foco: dirige los rayos luminosos hacia el condensador.
Tornillos macro y micromtrico: son tornillos de enfoque, mueven la
platina o el tubo hacia arriba y hacia abajo. El macromtrico permite
desplazamientos amplios para un enfoque inicial y el micromtrico hace
desplazamientos muy cortos, para el enfoque ms preciso. Pueden llevar
incorporado un mando de bloqueo que fija la platina o el tubo a una
determinada altura.

Pinzas de sujecin: parte mecnica que sirve para sujetar la preparacin.

Brazo: es una pieza metlica de forma curvada que puede girar; sostiene
por su extremo superior al tubo ptico y en el inferior lleva varias piezas
importantes.
Base o pie: es la parte inferior del microscopio que permite que ste se
mantenga de pie.
b) Tcnica de preparacin de placas
a.

La cantidad de material debe ser adecuada para realizar todos los

anlisis necesarios; debe ser una muestra homognea y representativa.

b.

El manejo de la muestra debe ser cuidadoso para evitar cualquier

cambio o contaminacin.

c.

La muestra deber molerse finamente, tamizarse y mezclarse

homogneamente. Esta operacin debe hacerse rpidamente y con la
mnima exposicin al medio ambiente. Evite su sobrecalentamiento
durante el molido, por lo cual materiales sensibles al calor debern ser
molidos a mano. Antes de usar el molino asegrese de que est
perfectamente limpio.

d.

Si la muestra contiene mucha humedad y la preparacin del material

no puede hacerse sin cambios significativos en sta, determine la
humedad antes y despus de la preparacin.

e.

Se recomienda un examen fsico macro y microscpico para detectar

la presencia de materiales contaminantes.

f.

Mezcle la muestra perfectamente y divdala en dos partes iguales. De

ser necesario haga un molido preliminar para facilitar esta operacin.
Almacene una de las partes en un frasco hermtico, limpio y seco; la otra
parte ser usada en los anlisis y su tamao deber ser adecuado para la
totalidad de las pruebas requeridas.

c) Tcnicas de observacin al microscopio

Entendemos como tcnicas de observacin en Microscopa a todas aquellas
formas, maneras o mtodos utilizados para lograr la mxima visualizacin
del objeto a investigarse, mediante el adecuado tratamiento o
procesamiento del mismo.

Tcnica de Observacin en Fresco

Son todas aquellas formas o mtodos de observacin, mediante los cuales
los objetos a investigarse, no sufren cambios o alteraciones en cuanto a su
forma, estructura o composicin qumica o sentido de vitalidad de los
mismos; para ello los objetos debern ser observados tal como existen o
mximo inmersos en un medio similar, como el caso de las soluciones
fisiolgicas. Solo as podrn ser estudiados en su real y verdadera
naturaleza. Estos mtodos no suelen dar sin embargo la mxima
visualizacin del objeto. Su uso se recomienda para el estudio de parsitos
en heces, de secreciones corporales, etc.
Fijacin por mtodos qumicos
En este caso la fijacin se realiza aprovechado la naturaleza de ciertas
sustancias qumicas, que tienen la propiedad de fijar o impregnar las
sustancias o elementos, as como de paralizar los procesos metablicos
celulares; entre estas sustancias tenemos: el aceite de carmn, el xilol, el
formol, el alcohol, algunos cidos y lcalis, etc.
Coloracin Compleja
Aquella donde se utiliza ms de un colorante, debiendo estos ser aplicados
siguiendo un proceso ordenado y riguroso; generalmente est tcnica va
acompaada de los procesos de fijacin.
Tcnica de Observacin por Inmersin
Es una tcnica de observacin que no compete a la preparacin misma de la
placa, sino a la correccin de un problema de difraccin de la luz en el
microscopio.