La diffrazione

Il fenomeno della diffrazione si incontra ogni volta che la luce incontra

un ostacolo o unapertura di dimensioni paragonabili alla sua lunghezza
donda. Leffetto della diffrazione quello di allargare il fascio di luce
originario dando origine a figure di interferenza caratterizzate da una
serie di massimi di intensit luminosa decrescente (massimo principale
e massimi secondari); i massimi naturalmente si alternano con i minimi.
Fresnel 1819. Macchia luminosa di Fresnel.

Prof. F. Soramel

Fisica Generale II - A.A. 2004/05

Diffrazione da singola fenditura

Consideriamo unonda piana di lunghezza donda che viene difratta
da una sottile fenditura di lunghezza a.
Per individuare la posizione dei massimi
e dei minimi nella figura di diffrazione,
consideriamo la fenditura a suddivisa in
tanti punti, ognuno dei quali sar sorgente
di onde sferiche secondarie, e calcoliamo
la differenza di cammino ottico tra due
raggi originati da punti a distanza a/2
luno dallaltro. Innanzitutto calcoliamo
la posizione della prima frangia scura
Le onde originate nella fenditura sono in fase ed interferiscono
distruttivamente in P1, quindi in P1 arrivano con uno sfasamento di /2.
Facciamo anche lipotesi che D >> a.
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L =

a
sin
2

Vale per ogni coppia di raggi

che arriva in P1

Per avere interferenza distruttiva deve essere

a
sin = a sin =
2
2

primo minimo

Se ora diminuiamo a, leffetto di diffrazione aumenta, ovvero aumenta

langolo a cui si trova il primo minimo, se a = , allora 1 = 90o e il
massimo centrale copre tutto lo schermo.
Per trovare i minimi successivi si procede in modo analogo, ma questa
volta si divide la fenditura in quattro parti ciascuna di ampiezza a/4.

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r4 r3 =
condizione per avere la seconda
2
2
a

frangia scura in P2
r2 r1 = sin = = r4 r3
4
2
a sin = 2
secondo minimo (P2 )

r2 r1 =

Iterando il procedimento si ottiene

a sin = m

m = 1,2,3,...

minimi

Nella diffrazione da singola fenditura le frange scure si trovano dove

L=asin tra i raggi provenienti dagli estremi della fenditura m.
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Passiamo ora allo studio dellintensit luminosa I().

Dividiamo la fenditura in tanti piccoli tratti di ampiezza x in modo che
ciascuno di essi sia sorgente di onde sferiche secondarie (Huygens).
Consideriamo poi le onde che arrivano in P con inclinazione e ne
calcoliamo il campo elettrico E. Sappiamo poi che I() E2. Inoltre
devo conoscere una relazione tra le fasi delle onde che arrivano in P.
=

2
L

La differenza di cammino ottico tra due segmenti adiacenti vale xsin,

allora
2
=

x sin

Suppongo che tutte le onde che arrivano in P abbiano ampiezza E

uguale ed applico il metodo dei vettori rotanti per trovare E dellonda
risultante. Per il punto a =0, la differenza di fase 0, tutte le onde
arrivano in fase. Lampiezza E dellonda risultante massima (Em) e
ad essa corrisponde la massima intensit luminosa sullo schermo.
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per il massimo centrale P0 a = 0 e = 0

per un punto P inclinato di , E < Em quindi

lintensit luminosa sar minore di quella del
massimo centrale
primo minimo: tra il primo e lultimo vettore c
uno sfasamento di 2 L = tra il primo e
lultimo raggio della fenditura
sin
I = Im

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a
1
= = sin

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Analizzando le equazioni appena scritte si vede che

= m con m = 1,2 ,3 minimi
a
sin con m = 1,2 ,3

a sin = m con m = 1,2 ,3 minimi, frange scure

m =

Otteniamo il risultato gi ricavato in precedenza per la localizzazione

dei minimi

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Ricaviamo le equazioni per I e in forma analitica

utilizzando il metodo dei vettori rotanti

1
E = 2 R sin
2

Em
R

E 1
E = m sin
1 2

Sappiamo che Im Em2, quindi

E2
I
=
I m Em2
sin
I = Im

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Diffrazione attraverso un foro circolare

Prendiamo ora un foro circolare di diametro d,
la figura di diffrazione che si ottiene formata
da cerchi lumiosi e scuri alternati. Per la posizione
del primo minimo si trova

sin = 1,22
d
Potere risolvente
Criterio di Rayleigh
Due sorgenti luminose puntiformi
sono risolubili se la loro distanza
angolare tale che il max. centrale
della figura di diffrazione di una
coincide con il primo minimo della
figura di diffrazione dellaltra
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 R = arcsin

1,22
d

Approssimando sinR con R (siamo in presenza di angoli piccoli), si

ottiene

R = 1,22

criterio di Rayleigh

Diffrazione da doppia fenditura

Riprendiamo lesperimento di Young, nella pratica non sempre il criterio
che a viene soddisfatto, anzi con le nel visibile questo accade di rado.
Quindi normalmente si ha a che fare contemporaneamente con fenomeni
di interferenza e di diffrazione

Young

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diffrazione da fenditura
reale
Young + diffrazione da
una fenditura reale

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Per lintensit si ottiene

sin
I = I m cos 2

d
sin

diffrazione da doppia fenditura

e

a
sin

d=distanza punti centrali delle fenditure ed a=larghezza della fenditura

(cos )

fattore di interferenza

sin

fattore di diffrazione

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Per a0, 0, il termine di diffrazione 1, abbiamo una figura di

pura interferenza da due fendituremolto strette i cui centri distano d.
Per d = 0 otteniamo leffetto di sovrapporre tra di loro le due fenditure
ottenendone una sola di larghezza a. Quindi =0 e cos2=1 e abbiamo
il solo fenomeno della diffrazione da una fenditura.
Reticoli di diffrazione
In un reticolo si hanno N fenditure (incisioni) (anche migliaia/cm).
Per ricavare le posizioni dei
massimi si procede come fatto
in precedenza per linterferenza
e la diffrazione, tenendo presente
che ora d rappresenta la distanza
tra due fenditure adiacenti e si
chiama passo del reticolo

d sin = m

con m = 0 ,1,2 ,...

massimi

m = numero dordine. =(), quindi misurando ottengo

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Il potere risolvente di un reticolo dipende dalla larghezza delle righe.

definiamo la larghezza del massimo centrale come lintervallo angolare
tra il centro del massimo centrale (=0o) e langolo in cui lintensit
del massimo centrale va a zero ed ha inizio il primo minimo scuro.
La posizione del primo minimo si ha per
Nd sin( ) =

analogia con a sin ? = ?

Ricordando che abbiamo a che fare con angoli

piccoli
=

Nd

larghezza massimo centrale

Per gli altri massimi si trova

=
Nd cos

larghezza del massimo in direzione

N grande mi permettere di distingure lunghezze donda pi vicine

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Dispersione e potere risolvente di un reticolo

La dispersione la capacit di un reticolo di distinguere tra due diverse
lunghezze donda e vale

D=

Cerchiamo ora unespressione di D che dipenda dai parametri del reticolo

d sin = m differenziando ottengo
d cos d = md e passando alle diffrenze finite
d cos = m ovvero

m
=
d cos

m
D=
d cos
D alta se ci sono incisioni molto vicine, ovvero d deve essere piccolo,
inoltre si devono osservare gli ordini m elevati. D non dipende da N

Quindi

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Il potere di risoluzione di un reticolo definito come

R=

Nella pratica abbiamo

d cos = m se e' il piu' piccolo possibile
criterio di Rayleigh = larghezza di ogni riga

=
Nd cos

= m
N

Infine

R = Nm

Alto potere risolvente se N elevato

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 ~ 589 nm

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Diffrazione dei raggi X

I raggi X sono onde elettromagnetiche con
lunghezza donda dellordine di 0.1 nm.
Se vogliamo distinguere tra raggi X con l
diverse non possiamo usare un reticolo di
diffrazione, infatti (l =0.1 nm e d=3000) il
massimo di ordine 1 si ha ad un angolo
= arcsin

m
= 0.0019o
d

Per poter utilizzare un reticolo con i raggi X si dovrebbe avere un passo

d dello stesso ordine di grandezza della lunghezza donda dei raggi X,
ovvero delle dimensioni degli atomi.
1912 Max von Laue pensa ad un cristallo come ad un reticolo.
Cristallo di NaCl. Cella elementare che si ripete in tre dimensioni.
I raggi X vengono difratti dalla struttura del cristallo e danno origine a
massimi e minimi di intensit dovuti a fenomeni di interferenza
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cella elementare

d=a0
piani cristallini

Il fenomeno, che diverso dai fenomeni di diffrazione che abbiamo visto,

viene descritto come se i raggi X venissero riflessi da dei pianidi atomi
del cristallo detti piani di riflessione paralleli o piani cristallini.
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Le riflessioni ed i piani di riflessione sono definiti in modo che siano

coerenti con i massimi della figura di diffrazione dei raggi X dal cristallo.
Non c rifrazione. Per i massimi si ottiene

2d sin = m

con m = 1,2,3,... Legge di Bragg

detto angolo di Bragg

I piani cristallini che soddisfano alla legge di Bragg sono sempre
individuabili in un cristallo, indipendentemente dallangolo con cui i
raggi X colpiscono il cristallo
d=

a0
5

Misurando d posso ricavare a0

Studio degli spettri dei raggi X

Disposizione degli atomi nei cristalli
Determinazione della struttura della cella
elementare
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