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2015-2016
Tabla de contenido
1)
Resumen ............................................................................................................... 3
2)
Teora ................................................................................................................... 3
3)
4)
5)
Conclusin .......................................................................................................... 10
6)
Recomendaciones .............................................................................................. 11
7)
Referencias ........................................................................................................ 11
8)
Anexos................................................................................................................. 11
1) Resumen
Cada material tiene una microestructura nica que lo diferencia respecto a los dems,
como una especie de huella dactilar. Por lo que al estudiar esta microestructura (fases,
granos, etc.) respecto a algn patrn establecido por los metalgrafos, se podra
identificar una muestra de material desconocida.
El experimento realizado en esta prctica se bas en lo anterior. Primero se armaron la
muestras, por medio de un pedazo de material rellenado con resina epxica, montada en
un pistn a temperatura de 200[C] y una presin que variaba entre (2000, 3000)[psi],
luego del cual se dejaba enfriar unos 5 [min] para que se solidifique la muestra. Cabe
recalcar, que para diferenciar los materiales montados y facilitar su anlisis, estos
tenan diferentes formas geomtricas, que a su vez permitan una mejor lijada.
Luego se procedi al ensayo metalogrfico realizado en la prctica #1 (Diagramas de
fases), el cual consista en lijar, pulir y atacar qumicamente la muestra, para poder
observarla por medio del microscopio ptico. Finalmente se obtuvieron las imgenes de
los granos cristalogrficos, para los cuales usando un adecuado manual metalogrfico,
se podra averiguar sobre el nombre de los materiales desconocidos, que pertenecan a:
trozo de un pin
un clavo
hojas de Gillette
alfiler
2) Teora
Metalografa es el estudio de la estructura fsica y componentes de metales,
tpicamente usando microscopa.
Los materiales cermicos y polimricos tambin se pueden preparar usando tcnicas
metalogrficas,
por
lo
tanto,
colectivamente, materialografa.
los
trminos
ceramography,
plastography
y,
metalogrficos
son
tpicamente
"montados"
usando
una
resina
Despus del montaje, la muestra se muele en hmedo para revelar la superficie del
metal. La muestra se muele sucesivamente con finos y medios ms fino abrasivo. El
carburo de silicio papel abrasivo fue el primer mtodo de trituracin y todava se utiliza
hoy en da. Muchos mtalografos, sin embargo, prefieren utilizar una suspensin granalla
de diamante que se dosifica en una almohadilla de tela reutilizable durante todo el
proceso de pulido. Polvo de diamante en suspensin podra comenzar en 9 micrmetros
y terminar en un micrmetro. En general, el pulido con la suspensin de diamante da
resultados ms finos que el uso de papeles de carburo de silicio (SiC) papeles, sobre
todo con la porosidad revelador, que el papel de carburo de silicio a veces "desprestigio"
terminado. Despus de moler la muestra, se realiza el pulido. Tpicamente, un espcimen
se pule con una suspensin de almina, slice, o de diamante en un pao napless para
producir un acabado de espejo libre de la nada, libre de desprestigio, arrastrar o
extrables y con mnima deformacin remanente del proceso de preparacin.
Despus de pulir, ciertos constituyentes microestructurales pueden verse con el
microscopio, por ejemplo, inclusiones y nitruros. Si la estructura cristalina no es cbico
(por ejemplo, un metal con una estructura cristalina hexagonal lleno-cerrado, tal como
Ti o Zr) la microestructura puede ser revelado sin grabado utilizando luz polarizada
cruzada (microscopio de luz). De lo contrario, los constituyentes microestructurales de
la muestra se revelan mediante el uso de un producto qumico adecuado o agente de
grabado electroltico.
Muestras preparadas deben ser examinados a simple vista despus del grabado para
detectar cualquier reas visibles que han respondido a la solucin de ataque diferente
de la norma como una gua a donde debe ser empleado examen microscpico. Microscopa
ptica (LOM) examen Luz siempre se debe realizar antes de cualquier tcnica
metalogrfico electrnica (EM), ya que estos son ms tiempo para llevar a cabo y de los
instrumentos son mucho ms caros.
Adems, ciertas caractersticas pueden ser mejor observados con la LOM, por ejemplo,
el color natural de un componente se puede ver con la LOM, pero no con los sistemas de
EM. Adems, el contraste de imagen de microestructuras en aumentos relativamente
baja, por ejemplo, <500X, es mucho mejor con el LOM que con el microscopio electrnico
de barrido (SEM), mientras que los microscopios electrnicos de transmisin (TEM)
generalmente no pueden utilizarse a ampliaciones por debajo de aproximadamente
2.000 a 3000X . LOM examen es rpido y puede cubrir un rea grande. Por lo tanto, el
anlisis se puede determinar si se requieren los ms caros, ms tcnicas de examen que
consumen mucho tiempo utilizando el SEM o TEM y donde en la muestra se deben
concentrar el trabajo.
3) Procedimiento experimental
3.1. Materiales:
Lija para desbaste del material (# 240, 320, 400, 600, 1000)
Guantes de calor
Resina epxica
Mascarillas de calor
Alcohol o etanol
Microscopio
Tabla III.1: Condiciones de la prueba
Presin
Entre 2 y 3 [ksi]
Temperatura
200 []
Tiempo
Equipo
Pulidora Universal
Marca
STRUERS
Modelo
DP-U
Cdigo(ESPOL)
2741
Equipo
Microscopio Metalogrfico
Marca
Olympus
Modelo
GX-41
Cdigo(ESPOL)
EM-012
3.2. Equipos:
4) Anlisis de resultados
5) Conclusin
10
6) Recomendaciones
El tiempo del ataque qumico debe ser menor a 10[s], terminndolo con
alcohol o etanol.
7) Referencias
[1] Metallography, (s.f.). En Wikipedia (idioma ingls). Recuperado el 2 de
julio del 2015 de https://en.wikipedia.org/wiki/Metallography
[2] Introduccin a la Ciencia e Ingeniera de los materiales, William D.
Callister Jr.
[3] Smith, W. (2006). Fundamentos de ciencia e ingenieria en materiales .
Mxico : McGraw-Hill Companies.
8) Anexos
11