Difraccin de rayos X monocristalino:

La Difraccin de Rayos X de Monocristal es una tcnica de anlisis no destructiva

la cual es una de las principales herramientas utilizadas para determinar la
disposicin atmica en tres dimensiones dentro de la muestra. Es una herramienta
de gran utilidad en el campo de la investigacin tanto acadmica como a nivel
industrial, ya que se aplica en todas las ramas de la qumica (determinacin de
estructuras de molculas pequeas, materiales, biomolculas y mediciones de
densidades electrnicas) (Martnez, 2015).
La interaccin de los rayos X con la materia, en este caso con el cristal, pone de
manifiesto dos aspectos fundamentales: que los rayos X son radiacin
electromagntica de longitud de onda del orden de 10-10 metros y que la
estructura

interna

de

los

cristales

es

discreta

peridica,

en

redes

tridimensionales.
Por esto, los haces difractados que emergen de la muestra y que inciden en un
detector de rea, dan lugar a un patrn de intensidades (diagrama de puntos
representado en la figura) cuyos valores de intensidad y las distancias existentes
entre los picos revelan la simetra con la se encuentran agrupados los tomos en
el cristal.

Difraccin de rayos X polvo:

La Difraccin de Rayos-X de muestras en polvo se trata de una tcnica de
caracterizacin bsica de todo tipo de material con estructura cristalina (no
amorfo): metales, minerales, polmeros, catalizadores, plsticos, productos
farmacuticos, recubrimientos de capa fina, cermicas, semiconductores e incluso
fluidos. Esta tcnica es no destructiva, lo que permite la recuperacin del material
estudiado sin ningn tipo de deterioro y nos indica el tipo de material que
estudiamos.

Un compuesto cristalino puede considerarse como una agrupacin peridica y

ordenada de tomos. Cuando es alcanzado por un haz de radiacin cuya longitud
de onda es de similar magnitud a la distancia interatmica, ste se difunde dando
lugar a diferentes tipos de interferencias que son constructivas en unas
direcciones privilegiadas.
As la intensidad del haz difractado depende de la disposicin geomtrica de los
tomos y de la clase de tomos presentes. Esto hace que cada sustancia
cristalina presente su propio espectro de difraccin y ste sea una autntica
huella dactilar del mismo, permitiendo su identificacin en cualquier mezcla
donde est presente.
Por ejemplo, un anlisis convencional de una muestra podra decir que tiene
oxgeno y silicio, pero a partir de la difraccin de rayos X podemos determinar la
clase de xido de silicio (cuarzo, cristobalita, tridimita, etc.). As mismo, el estudio
terico del espectro de difraccin de un nuevo compuesto permite la
determinacin de su estructura (UBU, 2013).

Ventajas y Desventajas de la difraccin de rayos X:

Bibliografa

1- Aguirre A. (2002). Tema 4: Aspectos prcticos de la difraccin de rayos X.

Recuperado el 5 de noviembre de 2010 de:
http://azufre.quimica.uniovi.es/DetEst/Tema4-AAP.pdf
2- Prez J. (2012). Resumen. Difraccin de rayos X, mtodo de polvos.

Universidad nacional autnoma de Mxico, Mxico.