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Jri
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Setembro 2010
Agradecimentos
Em primeiro lugar agradeo aos meus pais Maria Jos e Joaquim Pasadas, minha irm Mrcia
Pasadas e ao resto da minha famlia pelo apoio e dedicao que tiveram ao longo dos anos que frequentei
o curso de engenharia electrnica.
Agradeo Prof Helena Ramos e ao Prof. Francisco Alegria pela disponibilidade, orientao e
por tudo o que me ensinaram durante este projecto. Tambm agradeo-lhes o apoio e o incentivo dado ao
longo do trabalho.
Agradeo tambm o Prof. Moiss Piedade pela sua ajuda e pacincia na construo da bobina
planar essencial para este trabalho, assim como o apoio dado durante o curso de Engenharia electrnica.
Um agradecimento especial ao Sr. Pina dos Santos por toda a ajuda que me deu durante o curso.
Por ltimo quero agradecer aos meus colegas e amigos do curso por proporcionarem um
excelente ambiente de trabalho e por estarem sempre prontos para ajudar nos momentos difceis.
ii
Resumo
Actualmente, os ensaios no destrutivos desempenham um papel fundamental na gesto de custos,
eficincia e segurana dos componentes usados pelas indstrias.
Este projecto visa desenvolver um sistema porttil capaz de detectar falhas em estruturas metlicas,
sendo especialmente til para a indstria aeronutica, aeroespacial, automvel, ferroviria e outras que
envolvam estruturas sujeitas a grandes esforos.
O sistema projectado e implementado baseia-se numa sonda mvel capaz de efectuar um teste no
destrutivo, utilizando o princpio das correntes de Foucault. Esta sonda constituda por uma bobina
planar (em espiral) de excitao feita num circuito impresso e um sensor do tipo magneto resistncia
gigante (Giant Magneto Resistance - GMR) para medir o campo magntico. O circuito desenvolvido
inclui a alimentao, a gerao do sinal de excitao, o condicionamento do sinal de sada do sensor de
campo magntico, a converso analgia/digital e a electrnica necessria para a transmisso de dados. O
controlo e o processamento digital dos valores adquiridos realizado por um microprocessador dsPIC
(Digital Signal Peripheral Interface Controller) da Microchip Technology e determinao do
posicionamento da sonda realizada utilizando sensores de deslocamento baseados num rato mecnico de
computador. Este sistema possui um visor digital (liquid crystal display - LCD) para a visualizao em
tempo real do resultado da deteco de fissura em material condutor.
Foi ainda desenvolvida um programa que inclui a comunicao do microprocessador com o
conversor analgico/digital, a comunicao do microprocessador com o computador, a comunicao via
SPI do microprocessador com o gerador do sinal de excitao e a comunicao do microprocessador com
o LCD. O programa inclui tambm um algoritmo de seleco da melhor frequncia de amostragem para o
ensaio, um algoritmo de adaptao de sinuside (sine fitting) para o clculo da amplitude do sinal e um
algoritmo para a determinao a posio da sonda. Foi tambm desenvolvido uma aplicao em
LabVIEW com o objectivo de criar uma interface grfica para o utilizador, de forma a este poder escolher
os parmetros do ensaio e visualizar graficamente os valores adquiridos aps o ensaio.
Palavras chave: Ensaio no destrutivo, correntes de Foucault, dsPIC, GMR, bobina planar.
iii
Abstract
Nowadays non-destructive testing plays an important role in managing industry components
cost, efficiency and security of industry components.
This project thrives to develop a portable system capable of detecting defects in metal structures
which is particularly useful in aeronautical, auto and railway industries as well as the ones that may
involve complex mechanisms in which flawed components may lead to great damage.
The project presents a portable non-destructive testing probe device using eddy currents. The
probe device is composed by an inductor (spiral) built on a printed circuit board, a GMR (Giant Magneto
Resistance) sensor for defect detection, signal modulation unit for data transmission, a dsPIC of
microcontroller from Microchip Technolog as processing unit and positioning sensors based on a
mechanical computer mouse. The system has a liquid crystal display (LCD) to view in real time the
detected crack in cleft material.
An application was further developed to establish communication between the microcontroller and
the analog/digital converter, between the microcontroller and the computer, the SPI communication
between the microcontroller and the module that generate the stimulus signal, and the communication
between the microcontroller and the LCD. The software developed in the microcontroller includes an
algorithm that performs the selection of the best sampling frequency for the test, a sine fitting algorithm
to estimate the signals magnitude and an algorithm that determines the position of the probe. Finally, an
application was developed in LabVIEW to create a graphical interface, where the user can choose the test
parameters and see a 2D graphical with the values acquired from the test after stopping the program.
iv
ndice
Agradecimentos .................................................................................................................................... i
Resumo .............................................................................................................................................. iii
Abstract ............................................................................................................................................... iv
Lista de Figuras ..................................................................................................................................vii
Lista de Tabelas .................................................................................................................................. ix
Lista de Acrnimos .............................................................................................................................. x
Captulo 1 - Introduo ........................................................................................................................ 1
1.1-
Enquadramento .................................................................................................................. 1
1.2-
Motivao........................................................................................................................... 1
1.3-
Objectivos .......................................................................................................................... 2
1.4-
1.5-
2.2-
Correntes de Foucault......................................................................................................... 6
2.3-
2.4-
Sondas ................................................................................................................................ 8
2.4.1-
Utilizao do GMR.................................................................................................... 9
2.4.2-
2.4.3-
2.5-
Sistema de medida............................................................................................................ 13
3.1.1-
3.1.2-
Mdulo da Sonda..................................................................................................... 19
3.1.3-
3.1.4-
3.1.5-
3.1.5-
LCD ......................................................................................................................... 25
3.2-
Prottipo ........................................................................................................................... 26
3.3-
4.1.1-
4.1.2-
4.1.3-
4.1.4-
4.2-
5.2 -
vi
Lista de Figuras
Figura 2.1 - Principio das correntes de Foucault[16]. ..................................................................................... 6
Figura 2.2 - Densidade das correntes de Foucault geradas pela bobina de excitao [17]. ............................ 7
Figura 2.3 - Profundidade de penetrao das correntes de Foucault em funo da frequncia para diferentes
tipos de materiais [18]. ................................................................................................................................... 8
Figura 2.4 - Ilustrao do funcionamento de um sensor GMR. ...................................................................... 9
Figura 2.5 - Diagrama de blocos do sensor AA002-02 [7]. .......................................................................... 10
Figura 2.6 - Caracterstica de transferncia do sensor GMR [7]................................................................... 11
Figura 2.7 - Ilustrao da comparao da gerao das correntes de Foucault num material entre uma bobina
vertical e uma bobina plana. ......................................................................................................................... 12
Figura 2.8 - Ilustrao do funcionamento do rato mecnico que permitem detectar os movimentos na
vertical ou horizontal [21]. ........................................................................................................................... 13
Figura 3.1 - Arquitectura do sistema. ........................................................................................................... 15
Figura 3.2 - Diagrama de blocos de um DDS de uso geral. .......................................................................... 16
Figura 3.3 - Ilustrao da montagem do circuito usado para o DDS. ........................................................... 17
Figura 3.4 - Sinal de sada do DDS para um teste de 2 kHz. ........................................................................ 17
Figura 3.5 - Montagem gerador de corrente comandada por tenso. ............................................................ 18
Figura 3.6 - Sinal de tenso na carga (Zc). ................................................................................................... 18
Figura 3.7 - Ilustrao do esquema elctrico do sensor GMR e condicionamento do sinal.......................... 19
Figura 3.8 - Teste de varrimento no tempo, da medio da presena de defeito atravs da sonda
desenvolvida para uma fissura de 1 mm. ...................................................................................................... 20
Figura 3.9 - Circuito de condicionamento de sinal para um fototransistor. .................................................. 21
Figura 3.10 - Ilustrao dos sinais digitais sada do circuito de condicionamento de sinal pelos dois
fototransistores duma dada direco. ............................................................................................................ 22
Figura 3.11 - Ilustrao dum exemplo da situao dos sinais digitais obtidos pelos dois fototransistores
duma dada direco. ..................................................................................................................................... 22
Figura 3.12 - Esquema utilizado para comunicao da UART para USB. ................................................... 24
Figura 3.13 - Diagrama de blocos do mdulo de alimentao. ..................................................................... 24
Figura 3.14 - Esquema elctrico com o controlo do contrasto do LCD. ....................................................... 25
Figura 3.15 - Comportamento do LCD com a presena do sensor GMR nas diferentes zonas do material em
teste. .............................................................................................................................................................. 26
Figura 3.16 - Fotografias da placa PCB 1 desenvolvida. .............................................................................. 26
Figura 3.17 - Fotografias da placa PCD 2 desenvolvida............................................................................... 27
Figura 3.18 - Placa de desenvolvimento da Microchip com o dsPIC incorporado (a), MPLAB ICD 2 (b) e
placa auxiliar da placa de desenvolvimento da Microchip (C). .................................................................... 27
Figura 3.19 - Oramento do sistema desenvolvido com a % de custos de cada mdulo. ............................. 28
Figura 3.20 - Oramento do sistema com a % de custos de cada mdulo. ................................................... 29
Figura 4.1 - Fluxograma do programa principal concebido em linguagem C. ............................................. 31
vii
Figura 4.2 - Tabela de seleco de referncia da horizontal com XOR, o mesmo se aplica para a vertical. 35
Figura 4.3 - Determinao do sentido para a horizontal (o equivalente se aplica para a vertical). ............... 36
Figura 4.4 - Mascara de correspondncias, com os bits X1 e X2 actuais, sendo que o equivalente se aplica
para a vertical................................................................................................................................................ 36
Figura 4.5 - Ilustrao grfica de um teste de deslocamento da sonda num percurso quadrado de 20cm de
permetro....................................................................................................................................................... 37
Figura 4.6 - Interface grfica. ....................................................................................................................... 38
Figura 5.1 Resultado experimental da variao de tenso de sada do sensor GMR na sua passagem por
uma fissura [22]. ........................................................................................................................................... 41
Figura 5.2 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura de 1 mm situada na superfcie do material. (2 kHz/200 mA) ............................................ 42
Figura 5.3 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm situada na superfcie do material. (2 kHz/200 mA). ................................ 43
Figura 5.4 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (1 kHz/200 mA).................. 44
Figura 5.5 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (2 kHz/200 mA).................. 45
Figura 5.6 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (3kHz/200 mA)................... 45
Figura 5.7 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (5 kHz/200 mA).................. 46
Figura 5.8 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (10 kHz/200 mA)................ 46
Figura 5.9 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura de 1 mm (2 kHz/300 mA). ................................................................................................. 47
Figura 5.10 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (2 kHz/300 mA).................. 47
Figura 5.11 - Ilustrao de uma fissura de 1 mm situada na superfcie do material. .................................... 48
Figura 5.12 - Ilustrao de uma fissura inferior a 1 mm situada na superfcie do material. ......................... 49
Figura 5.13 - Ilustrao de uma fissura inferior a 1 mm situada numa camada situada a 1.5 mm de
profundidade do local onde est a bobina de excitao. ............................................................................... 49
Figura A1.1 - Esquema elctrico da placa 1 que contem o sensor GMR, dois filtros passa-altos e um
amplificador de instrumentao. ................................................................................................................... 57
Figura A1.2 - Footprint do circuito realizado para a construo da placa 1 num circuito impresso. ........... 58
Figura A2.1 - Esquema elctrico do circuito realizado para o mdulo de alimentao. ............................... 59
Figura A2.2 - Esquema elctrico do circuito realizado para a excitao da bobina planar. .......................... 60
Figura A2.3 - Esquema elctrico do circuito realizado para o mdulo de localizao. ................................ 61
Figura A2.4 - Esquema elctrico do conversor UART para USB utilizado no sistema. ............................... 62
viii
Lista de Tabelas
Tabela 2.1 - Evoluo Histrica do princpio das correntes de Foucault. .................................................... 6
Tabela 3.1 - Oramento do sistema desenvolvido. ..................................................................................... 28
Tabela 3.2 - Oramento do sistema j com o mdulo de controlo incorporado no sistema desenvolvido. 29
Tabela 4.1 - Tabela informativa do desempenho do algoritmo do sine fitting desenvolvido.................. 35
Tabela 4.2 - Tempos de resposta do programa desenvolvido antes e aps optimizao. ........................... 38
Tabela 5.1 - Variao da profundidade de penetrao no alumnio com a variao da frequncia de
operao. .................................................................................................................................................... 43
Tabela A3.1 - Oramento dos componentes para a construo do mdulo de excitao. .......................... 64
Tabela A3.2 - Oramento dos componentes para a construo do mdulo de localizao. ....................... 64
Tabela A3.3 - Oramento dos componentes para a construo do mdulo de alimentao. ...................... 64
Tabela A3.4 - Oramento dos componentes para a construo do mdulo da sonda. ................................ 65
Tabela A3.5 - Oramento dos componentes para a construo do mdulo de controlo. ............................ 65
ix
Lista de Acrnimos
ADC
AMR
CMRR
CN
Change Notification
DC
Direct Current
DDS
DMA
DSP
dsPIC
GMR
LCD
LED
Light-Emitting Diode
NDT
Non-Destructive Testing
PCB
PIC
RS232
SPI
SQUID
UART
USB
Captulo 1 - Introduo
Nesta seco descreve-se a motivao que levou realizao deste trabalho, os objectivos gerais
traados para a sua concretizao, o estado da arte sobre o tema da dissertao e o modo como foi
organizada esta ltima.
1.1- Enquadramento
Hoje em dia os avanos tecnolgicos so cada vez mais rpidos e mais presentes na vida humana.
Estes avanos tecnolgicos esto associados a tecnologias que podem tornar-se perigosas caso no sejam
usadas e/ou desenvolvidas de uma forma correcta. Para o seu correcto funcionamento importante a sua
manuteno para evitar falhas ou defeitos, que podem provocar danos, deixando os utilizadores
insatisfeitos ou mesmo causar ferimentos graves. Para detectar essas falhas necessrio recorrer a
mtodos de inspeco.
Para o efeito, existem os ensaios no destrutivos (Non-Destructive Testing - NDT) que permitem
estudar as caractersticas dos materiais, detectar e avaliar falhas eventualmente prejudiciais, sem causar
qualquer alterao na pea a inspeccionar. Estes ensaios ganharam maior importncia com o rpido
progresso tecnolgico no ltimo meio sculo e so considerados, hoje em dia, uma das novas tecnologias
em crescimento. O NDT desempenha um papel crucial para garantir o custo, eficincia, confiana e
segurana no uso de componentes industriais.
Embora os ensaios no destrutivos tenham sido inicialmente destinados para aplicaes de
segurana, hoje em dia, tambm aceite pelas empresas como uma ferramenta que permite uma poupana
de custos e garantia de qualidade dos materiais.
Este trabalho visa a implementao de um sistema de baixo custo e fcil de transportar, capaz de
detectar fissuras ou outros defeitos em materiais condutores, atravs da aplicao dum mtodo de ensaio
no destrutivo.
1.2- Motivao
Nos ensaios no destrutivos frequente o uso do mtodo de avaliao utilizando correntes de
Foucault para aplicaes em indstrias como a aeronutica e a aeroespacial, isto porque, os materiais em
causa so condutores. O aparecimento de novos sensores electromagnticos sensveis presena de
fissuras ou defeitos motivou a escolha deste mtodo para este projecto. Um exemplo da importncia deste
mtodo de ensaio na manuteno dos avies na indstria aeronutica, que exige uma tcnica de teste
econmica e exacta. Como os sistemas de deteco e medio actuais so dispendiosos ou tm pouca
mobilidade, o projecto em que se insere este trabalho visa conseguir obter um sistema com um bom
desempenho de sensibilidade na deteco de fissuras e outros defeitos em materiais condutores. Pretendese que o sistema tenha um baixo consumo de energia, de forma a poder ser alimentado por bateria e seja
fcil de transportar para o local onde se encontra a pea a ensaiar j que estas so em geral pesadas e de
grandes dimenses o que dificulta o seu transporte para o laboratrio.
1.3- Objectivos
O objectivo deste projecto contribuir para a implementao de um sistema porttil, automtico e de
baixo custo, capaz de detectar fissuras ou outros defeitos em materiais condutores, aplicando um mtodo
de ensaio no destrutivo (NDT), baseado no princpio das correntes de Foucault, utilizando uma bobina
de excitao planar.
necessrio construir uma sonda com um sistema de aquisio, um sistema de localizao e o
condicionamento de sinal necessrio para a transmisso de dados para a unidade de processamento e para
a apresentao de resultados.
Um dos objectivos traados inicialmente foi a criao e utilizao de uma bobina planar na sonda
devido as suas vantagens a nvel da sensibilidade dos valores medidos pelo sistema de aquisio em
virtude do lift-off mnimo e da sua facilidade de fabricao.
Outro dos objectivos traados inicialmente foi o uso do mecanismo de um rato esfrico usado nos
computadores para a determinao do posicionamento do defeito em virtude do seu processamento no
microprocessador dsPIC (Digital Signal Peripheral Interface Controller) ser mnimo.
Como unidade de processamento utilizado um microprocessador dsPIC da Microchip Technology.
Este microprocessador dsPIC vai ser responsvel pelo/a:
i.
ii.
iii.
controlo do dispositivo DDS (Direct Digital Synthesizer) responsvel por gerar um sinal
sinusoidal com uma dada frequncia;
iv.
v.
vi.
comunicao dos resultados obtidos para um computador e para um LCD (Liquid Crystal
Display) que permitem uma observao da condutividade da placa.
A variao da condutividade da amostra em ensaio pode ser visualizada em tempo real utilizando o
visor LCD ou duma forma grfica no monitor do computador, em que o resultado da medida associado
a uma localizao na placa. Caso o utilizador queira fazer um ensaio sem que o sistema desenvolvido
esteja ligado ao computador, a presena de defeito s pode ser detectada atravs da informao
apresentada no LCD. O utilizador capaz de controlar o dispositivo a fim de decidir que frequncia
utilizar para a realizao do ensaio no destrutivo atravs de uma interface criada no computador.
Autor
Definio
1820
1831
Michael Faraday
1851
1879
D.E.Hughes
1920
F. Krantz
1948
Descobriu que um campo magntico varivel pode induzir uma corrente num
condutor.
Demonstrou a existncia das correntes que mais tarde viriam a ser conhecidas
como as correntes de Foucault.
Descobriu a presena de correntes induzidas no condutor a partir de uma bobina
excitada por impulsos elctricos.
Determinou a medio da espessura de um material atravs do uso das correntes
de Foucault.
Desenvolveu instrumentos de medio com o mtodo das correntes de Foucault.
Figura 2.2 - Densidade das correntes de Foucault geradas pela bobina de excitao [17].
A densidade das correntes que fluem no material condutor diminui exponencialmente com a
profundidade. A profundidade de penetrao dessas correntes influenciada pela frequncia da corrente
alternada de excitao, condutividade elctrica e permeabilidade magntica do material em teste. A
profundidade padro de penetrao, definida como sendo a profundidade das correntes de Foucault
quando esto reduzidas a 37% [1] da sua densidade na superfcie e pode ser determinada usando:
1
f
[m].
(1)
Esta equao indica a profundidade de penetrao em metros das correntes que fluem no material,
elctrica em S/m.
Figura 2.3 - Profundidade de penetrao das correntes de Foucault em funo da frequncia para diferentes
tipos de materiais [18].
2.4- Sondas
Existem vrios tipos de sondas para detectar e avaliar o campo magntico e cada um adaptado
consoante a sua finalidade. De seguida, referem-se alguns tipos:
i.
Sonda Indutiva baseada na medio de impedncia - constituda por uma nica bobina de
excitao que gera um campo magntico que, por sua vez, induz foras electromotrizes que
criam as correntes de Foucault no material condutor em ensaio. Estas correntes produzem um
campo magntico secundrio que tende em anular o campo magntico primrio j existente.
Isto, por sua vez, influencia a impedncia da bobina. Na ausncia de defeito no material, a
influncia na impedncia mantm-se constante. Na presena de defeito no material, a
impedncia varia. Este mtodo de medio pouco eficiente e apresenta alguns problemas [6].
ii.
Sonda indutiva com sensor diferencial - constituda por uma bobina de excitao que gera as
correntes de Foucault no condutor e duas bobinas sensoriais colocadas em oposio de fase, no
ncleo da bobina de excitao. Esta sonda mede a tenso diferencial entre as duas bobinas
sensoriais. Ao estarem em oposio de fase e afastadas do material condutor, existe uma tenso
diferencial nula entre as bobinas sensoriais. Com a sonda colocada sobre um material condutor
sem defeito, a tenso diferencial constante e diferente de zero. Isto acontece porque uma das
bobinas sensoriais est mais prxima da superfcie condutora do que a outra. Na presena de
um defeito, a tenso diferencial varia. Este sensor bastante sensvel a defeitos, mas tambm
sensvel a variaes indesejveis. A dificuldade na interpretao do sinal de sada tambm
uma desvantagem para este tipo de sensores.
iii.
Sonda hbrida - Esta sonda baseada na medio de campo magntico atravs de sensores de
campo magntico. Estes sensores podem ser do tipo: SQUID [19], efeito de Hall, magneto
resistncia anisotrpica (AMR) [20] e magneto resistncia gigante (GMR) [9]. Os sensores so
colocados junto superfcie onde so criadas as correntes de Foucault. Estes sensores tm
obtido sucesso na deteco de fissuras em materiais condutores em baixas frequncias de
operao, principalmente devido sua grande sensibilidade. Os sensores baseados em
magnetoresistncias obtm um melhor compromisso performance/custo face aos restantes
sensores deste grupo [9]. Estes sensores tm pequenas dimenses, elevada sensibilidade numa
ampla gama de frequncia, baixo rudo e um reduzido custo.
Devido s suas vantagens a sonda escolhida para ser utilizada neste projecto do tipo hbrido, com
um sensor GMR para medir o campo magntico.
O sensor que vai ser usado para este projecto o AA002-02 da NVE Corporation e o seu diagrama
de blocos apresentado na Figura 2.5. Este sensor constitudo por quatro GMRs idnticos anteriormente
descritos, numa configurao em ponte de Wheastone, para ser possvel criar uma tenso proporcional ao
campo. Destes quatro GMRs, dois encontram-se blindados no sofrendo a aco do campo magntico
externo enquanto os outros dois esto sujeitos a esse campo. A tenso diferencial entre os pontos +Vd e
Vd corresponde tenso de sada da ponte de Wheastone e contm a informao da variao do valor das
resistncias dos dois GMRs no blindados. Com a aproximao dos GMRs no blindados com uma
fissura ou defeito de uma amostra em ensaio, o valor da tenso diferencial do sinal de sada do sensor vai
variar. Isto deve-se as variaes de um campo magntico externo, que por sua vez, provocam as variaes
das resistncias dos GMRs no blindados. Quando estes dois GMRs esto mesma distncia do centro da
fissura, a tenso diferencial de sada nula, isto porque, o valor do campo magntico medido em cada
GMR no blindado igual. Esta ponte alimentada por uma fonte de tenso DC atravs dos terminais +V
e V.
10
11
Figura 2.7 - Ilustrao da comparao da gerao das correntes de Foucault num material entre uma bobina
vertical e uma bobina plana.
12
Figura 2.8 - Ilustrao do funcionamento do rato mecnico que permitem detectar os movimentos na vertical
ou horizontal [21].
13
14
Este mdulo inclui a bobina planar, o sensor GMR e o condicionamento de sinal necessrio para que
a tenso sinusoidal analgica de sada tenha amplitude suficiente para, mesmo na presena de defeito, ser
digitalizada pelo conversor analgico/digital (ADC) situado no mdulo de controlo. O mdulo de
localiao responsvel pela informao da localizao relativa da sonda em relao amostra em
15
ensaio. Esta informao enviada para o mdulo de controlo, atravs de portos entrada e sada. O mdulo
de controlo responsvel pelo controlo e processamento da informao do sistema desenvolvido.
Por ltimo, o computador e o LCD so utilizados neste sistema para possibilitar a visualizao de
um defeito de uma forma simples. Atravs do computador consegue-se no final de um ensaio, obter um
mapa da amostra estudada em 2D. O LCD permite a visualizao em tempo real da localizao de um
defeito.
Na Figura 3.2 est representado o diagrama de blocos de um DDS de uso geral. O DDS
basicamente composto por um acumulador de fase, conversor fase/amplitude e um conversor D/A. O
acumulador de fase um contador binrio incrementado pelo sinal de clock (MCK), onde cada valor do
contador corresponde a um valor especfico de fase entre 0 e 2 para a frequncia pretendida. No bloco
seguinte, feito um mapeamento dos valores de fase binrios obtidos pelo bloco anterior para valores
binrios correspondentes amplitude de um sinal. O conversor D/A usado para converter as palavras
digitais da memria para um sinal analgico.
O dispositivo escolhido para este projecto foi o AD9833 da Analog Devices. Na Figura 3.3 est
representada a montagem do circuito usado para o uso do DDS. Este dispositivo foi escolhido por
permitir gerar formas de onda sinusoidais, ser de baixo custo, ter um baixo consumo (20 mW para 3 V de
alimentao) e possuir uma interface de comunicao do tipo SPI, sendo assim possvel, o seu controlo
atravs do microcontrolador dsPIC.
16
Interface SPI e
Controlo lgico
Clk
Dados
CS
Sinal de Saida
do DDS
C5
DDS
MCK
3.3 V
Comp
C1
Osc 25 Mhz
Osc.
Sada do
Osc.
C2
3 V
3.3
C33
3.3 V
Cap
C4
=C4= 100 nF
C1=C3=
C22= 10 nF
C55= 20 pF
O sinal de relgio MCK aplicado a este dispositivo constitudo por um cristal oscilador de 25
MHz. O dispositivo tem uma resoluo de 28 bits para o clculo da frequncia do sinal. Assim sendo,
podemos concluir que possvel escolher uma frequncia com um erro de 0,1 Hz. A amplitude do sinal
esperado na sada do DDS de 0,68
0,68 Vpp e possui uma componente continua de 0,34
0 34 Vpp
Vpp.
Na Figura 3.4
3. esto representados
representado dois perodos do sinal de sada do DDS obtido para uma
frequncia de 2 kHz.
Hz. A amplitude do sinal de 0,6
0,6 Vpp e a componente DC de 0,308
0 308 V. Este sinal foi
medido atravs do osciloscpio
osciloscpio da Tektronix TDS5034B.
TDS5034B
Figura 3.4
3. - Sinal de sada do DDS para um teste de 2 kHz.
17
=
(2)
gerador de corrente comandado por tenso, ilustrada na Figura 3.5. A resistncia tem o valor de 1
para a obteno de uma corrente alternada na carga de 300 mA.
Foi comprovado que o mdulo de excitao funciona de acordo com as especificaes pretendidas
(1 kHz e 5 KHz).
18
19
Figura 3.8 - Teste de varrimento no tempo, da medio da presena de defeito atravs da sonda desenvolvida
para uma fissura de 1 mm.
O sinal tem uma componente DC porque o ADC s suporta valores de tenso positivos. Quando a
sonda se desloca numa superfcie condutora homognea, o valor da amplitude medida pelo ADC
praticamente constante (extremos horizontais da Figura 3.8). Ao aproximar a sonda de uma fissura, existe
um aumento da amplitude porque a diferena de campo magntico medido pelos dois sensores GMR no
blindados da ponte Wheastone, aumenta (ver seco 2.4.2). Quando o centro da ponte est por cima da
fissura, os dois sensores GMR no blindados esto h mesma distncia do centro da fissura. Visto a
diferena do valor do campo magntico entre os dois sensores tender para zero nessa posio, o valor da
amplitude do sinal tende para o valor constante. Ao afastar a sonda da fissura, a distncia entre cada
sensor e a fissura, volta a ser diferente, o que faz com que a amplitude do sinal volte a aumentar at os
dois sensores voltarem a estar ambos numa superfcie homognea.
20
Com a movimentao do rato de uma forma constante, os sinais digitais esperados a sada deste
circuito de condicionamento de sinal esto representados na Figura 3.10. Estes sinais so enviados para o
dsPIC para ser processada a informao do movimento do rato.
21
Atravs da Figura 3.10 possvel observar que existe uma desfasagem entre os dois sinais X1 e X2
(correspondente as sadas dos comparadores para os dois fototransitorees duma dada direco). Isto devese ao facto dos dois fototransitores de cada direco estarem desfasados de 90 do disco que controla a
passagem de luz emitida pelo LED (ver seco 2.4).
Figura 3.10 - Ilustrao dos sinais digitais sada do circuito de condicionamento de sinal pelos dois
fototransistores duma dada direco.
Na Figura 3.11 apresentado um exemplo de situao dos sinais digitais obtidos pelos dois
fototransstores duma dada direco (por exemplo o eixo X). Considerando que a sonda est em repouso,
na situao da seta numero dois, isto significa que os transstores que fornecem os sinais X1 e X2 esto
ambos a conduzir, ou seja, esto a receber luz emitida por um LED. Com a movimentao da sonda no
eixo X para um dado sentido, ocorre o movimento do disco que controla a passagem de luz emitida do
LED para os fototransstores, provocando a ausncia de luz recebida por um dos fototransstores. Esta
situao visvel nas setas um e dois da Figura 3.11. O fototransitor que fica sem receber luz vai
depender do sentido em que feito o movimento. O sentido do movimento para cada direco s pode ser
analisado atravs da variao de dois flancos consecutivos. Assim sendo, guardado o valor anterior dos
sinais para poder determinar o prximo sentido do movimento.
Figura 3.11 - Ilustrao dum exemplo da situao dos sinais digitais obtidos pelos dois fototransistores duma
dada direco.
22
23
24
Os conversores DC-DC usados so da TRCOPOWER que conseguem receber uma tenso de entrada
at 36V DC, desde que o valor de tenso na entrada seja um valor igual ou superior a 1,5 V tenso DC
de sada do conversor. Estes DC-DC fornecem uma corrente de sada mxima de 1 A. Visto que a tenso
produzida pelo transformador de 9 V e a tenso mxima de entrada do DC-DC quatro vezes superior,
no foi considerado necessrio o uso de um regulador de tenso na sada do transformador para estabilizar
a possvel inconstncia dessa tenso de sada durante o regime transitrio.
O regulador de tenso ajustvel escolhido o LP2951 do fabricante Texas Instruments. A tenso
ajustvel determinada apenas com o clculo do dimensionamento de duas resistncias o que torna o
dispositivo bastante simples de usar. Este regulador alimentado pelos 5 V vindos do DC-DC e serve
para produzir uma tenso DC de 1,64 V para fornecer um offset ao sinal de sada, do sensor GMR. Este
offset necessrio porque o ADC do dsPIC apenas funciona com nveis de tenso positivas e com um
valor mximo de 3,3 V. Assim, com um offset de 1,64 V possvel obter a maior gama possvel de nveis
de tenso do sinal vindo do sensor GMR. O modo utilizado para adicionar o offset foi explicado na seco
3.3. A tenso -5 V produzida pelo inversor usada juntamente com um potencimetro para o ajuste do
contrasto do LCD e para a alimentao do amplificador de instrumentao usado no mdulo sonda.
3.1.5- LCD
A visualizao em tempo real da aproximao da sonda com uma fissura feita atravs de um LCD.
O LCD utilizado para este projecto o PC1602ARU-HWB-G-Q da POWERTIP CORP. Este LCD de
baixo custo e serve para apresentar ao utilizador a deteco de fissura de uma forma instantnea. O visor
LCD controlado atravs de portas do dsPIC configuradas como sadas. O controlo feito atravs do
envio de bits de controlo do dsPIC para o LCD. O LCD necessita de 14 pinos para o seu correcto
funcionamento, dos quais, dois so para a alimentao, um para o ajuste do contraste, oito pinos para a
transferncia de dados (DBO-DB7) e trs pinos de controlo (RS, R/W, E). A alimentao do LCD de -5
V e fornecida pelo mdulo de alimentao. O pino do contrasto tem de ser alimentado por uma tenso
negativa. O ajuste do contraste do LCD feito com um potencimetro (ver Figura 3.14).
25
Na Figura 3.15 apresentada a forma como visualizada a deteco de uma fissura no LCD. As
zonas representadas pelas cores azul e laranja indicam o comportamento do LCD numa amostra em
ensaio. Na ausncia de fissura (zona azul), o LCD apresenta uma linha tracejada. Quando a sonda est na
proximidade de uma fissura, o visor indica a presena desta com o aparecimento de trs linhas tracejadas.
Quando a sonda passa pela fissura, o visor apresenta novamente uma linha tracejada. Com o afastamento
da sonda da fissura, o visor indica novamente trs linhas tracejadas., at que a sonda se afaste o suficiente
do local da fissura. Com a sonda fora do alcance da fissura, o visor volta a indicar uma nica linha
tracejada.
Figura 3.15 - Comportamento do LCD com a presena do sensor GMR nas diferentes zonas do material em
teste.
3.2- Prottipo
O sistema final constituido por um rato mecnico e por trs placas PCB que contem os mdulos
que esto referidos anteriormente. A placa 1 apresentada na Figura 3.1 e constituida pelo mdulo da
sonda. A bobina plana composta por 25 espiras dispostas em espiral. O diametro da espira mais proxima
do sensor GMR de 10 mm e o diametro da espira mais afastada de 32 mm. A placa tem uma
dimenso 60xl40 mm e ligada a placa 2.
Bobina planar
Sensor GMR
Amplificador de Instrumentao
26
Figura 3.18 - Placa de desenvolvimento da Microchip com o dsPIC incorporado (a), MPLAB ICD 2 (b) e placa
auxiliar da placa de desenvolvimento da Microchip (C).
27
Mdulo
Preo ( )
Excitao
15,26
Sonda
Sondam
15,89
Posio
13,51
Controlo
245
Alimentao
18,29
Total =
5%
307,95
4%
6%
5%
Mdulo de Excitao
Mdulo de Posio
Mdulo de Alimentao
Mdulo da Sonda
80%
Mdulo de Controlo
Figura 3.19
3. - Oramento do sistema desenvolvido com a % de custos de cada mdulo.
28
Como j foi referido anteriormente, o mdulo de controlo no est incorporada na placa do sistema
desenvolvida devido falta de tempo. No entanto, na Tabela 3.2
3. e na Figura 3.20
20 apresentado o
oramento do sistema j com o mdulo de controlo incorporado
incorporado no sistema desenvolvido, ou seja, o custo
associado placa de desenvolvimento da Microchip substituido pelos componentes
componentes necessarios
implementao de uma placa constituida apenas pelos mdulos necessrio para o funcionamento do
sitema.
Tabela 3.2 - Oramento do sistema j com o mdulo de controlo incorporado no sistema desenvolvido.
Mdulo
Preo ( )
Excitao
15,26
Sonda
15,89
Posio
13,51
Controlo
28,63
Alimentao
18,29
Total =
91,58
14%
Mdulo de Excitao
40%
13%
Mdulo de Posio
Mdulo de Alimentao
Mdulo da Sonda
17%
Mdulo de Controlo
15%
Figura 3.20
3. - Oramento do sistema com a % de custos de cada mdulo
mdulo.
29
30
Captulo 4 - Software
Este captulo apresenta uma descrio do programa desenvolvido no s para efectuar alguns
ensaios do funcionamento dos componentes do sistema desenvolvido mas tambm para a execuo de
medidas com o prottipo realizado.
realizado. Na seco 4.1 feita a descrio do
do programa desenvolvido em
linguagem C para o controlo dos mdulos de excitao e para a apresentao de resultados
resultados,, assim como,
do processamento dos
dos valores medidos pelos sensores de posio e da ponta de prova. Nas subseces
4.1.1, 4.1.2, 4.1.3 feita a descrio detalhada dos
dos algoritmos utilizados para escolher a frequncia de
amostragem, o clculo da amplitude do sinal do campo magntico e o clculo do posicionamento da
sonda. Na subseco
subseco 4.1.4 explicado de uma forma detalhada os aperfeioamentos rrealizados
ealizados no
programa aps j ter uma verso funcional. O programa desenvolvido para a recepo e apresentao
grfica feito atravs do software LabVIEW
Lab
e est descrito na seco 4.2.
Figura 4.1
4. - Fluxograma do programa principal concebido em linguagem C.
31
A gama de frequncia de teste utilizada neste projecto vai de 1 kHz at 10 kHz. A frequncia de
Inicialmente, dados Ft e J feito o clculo do nmero de amostras necessrias para cobrir J perodos
da frequncia escolhida Ft para , de forma a maximizar o nmero de amostras possveis. Este
32
=
(3)
Caso este nmero seja inferior ao suportado pelo DMA, o teste feito com Fs igual .
Caso contrario, o numero de amostras usado para o teste igual a e a frequncia de amostragem
=
".
(4)
&'(
)
1.
(5)
O arredondamento tem que ser feito para cima para evitar que o resultado da frequncia de
De acordo com o Teorema de amostragem (Nyquist), se um sinal de banda limitada for amostrado a
pelo menos duas vezes a sua frequncia, possvel recuperar o sinal. Caso contrrio, ir ocorrer aliasing e
o sinal adquirido ir apresentar uma frequncia aparente. Assim sendo, foi necessrio garantir:
= 2 ".
(6)
-[] = # cos(234" + 6) + %
(7)
ou
(8)
33
# = :# ; + #7 ; .
(9)
A estimativa do sinal sinusoidal pode ser determinada de uma forma matricial a partir de
#=
-
<#=7 > = (?@ ?)A ?@ B D
%=
com
cos(234" )
cos(234"; )
?=E
cos(234" )
(10)
sin(234" ) 1
sin(234"; ) 1
F
sin(234" ) 1
(11)
G
(12)
(?@ ?)A =
2 0 0
B0 2 0D,
L
0 0 1
(13)
(14)
(15)
O IK PI cos(234"I )S
#=
N;
R
<#=7 > = N IK PI sin(234"I ) R .
N
R
%=
IK PI
M
Q
;
(16)
34
Neste projecto, o objectivo deste algoritmo est focado na estimativa da amplitude do sinal. Assim
sendo, atravs da equao (9) possvel determinar a amplitude estimada #= atravs dos parmetros
estimados #= e #=7 determinados pela matriz (16).
Na Tabela 4.1 est representada a resoluo dos erros obtidos das amplitudes do sinal estimados
para diferentes quantidades de amostras com o uso deste algoritmo. Os testes foram realizados com a
sonda em repouso sobre uma amostra e com a aquisio de 500 resultados em 3 perodos. Atravs destes
testes foi possvel determinao da ordem de grandeza do erro absoluto da amplitude, ou seja, da variao
da amplitude em repouso.
Tabela 4.1 - Tabela informativa do desempenho do algoritmo do sine fitting desenvolvido.
N de Periodos
N de Amostras
Amplitude(V)
Erro(V)
512
0,00489
256
0,0254
512
0.6
0,00633
10A;
256
0.6
0,0318
10AT
10AT
10A;
Figura 4.2 - Tabela de seleco de referncia da horizontal com XOR, o mesmo se aplica para a vertical.
35
de referir que foi considerado o bit de menor peso o sinal X1 e o de maior peso o X2, para a
direco horizontal. O mesmo se aplicou na seleco da direco vertical, em que Y1 o bit de menor
peso e Y2 o de maior peso. Sabendo a referncia, e os ltimos valores de X1 e X2, possvel comparar
esta informao com uma mascara de correspondncias com os dois sentidos para cada direco.
Figura 4.3 - Determinao do sentido para a horizontal (o equivalente se aplica para a vertical).
As mascaras de correspondncias foram criadas juntado toda a informao das referncias e valores
X1 e X2 numa palavra de 4 bits, como ilustrado na Figura 4.4.
Figura 4.4 - Mascara de correspondncias, com os bits X1 e X2 actuais, sendo que o equivalente se aplica para
a vertical.
Quando feita a seleco do sentido do movimento, feito tambm um incremento num contador
da direco correspondente. Este contador particularmente importante, dado que no se sabe partida
quando ir ser enviada a informao do movimento do rato pela UART para o computador. Assim, com o
uso de um contador, a informao do movimento do rato no perdida. O contador reinicializado a cada
comunicao pela UART.
Para facilitar na gesto da informao no programa desenvolvido no computador, o envio da
informao do microprocessador dsPIC para o computador feito em trs blocos de um byte. Tendo em
conta que um byte enviado no tem sinal, nos blocos um e dois so enviados com a informao do
movimento de cada direco sem sinal. O terceiro bloco contm a informao do sinal das duas direces.
de referir que com este mtodo fornece a possibilidade de o rato deslocar-se 256 unidades em cada
direco at ao envio da informao para o computador. Caso contrrio, ir ocorrer overflow. Com o
programa concebido, foram realizados testes aos contadores para verificar se poderia existir overflow. Ao
deslocar o rato com uma velocidade normal, os resultados dos testes obtidos so no mximo de 25
unidades do contador por envio de informao. Assim sendo, podemos afirmar que no ir acontecer
overflow. No entanto, foi impostos limites aos incrementos dos contadores em 255 para garantir que no
ocorra overflow.
36
Na Figura 4.55 est representado uma imagem grfica de um teste realizado para verificar o correcto
funcionamento do mdulo de localizao.
localizao Este teste foi obtido atravs de uma aplicao desenvolvida em
linguagem de programao grfica atravs do software LabVIEW.. O teste realizado consistiu na
deslocao da sonda percorrendo um quadrado com um permetro de 20 cm.
Figura 4.5
4. - Ilustrao grfica de um teste de deslocamento da sonda num percurso quadrado de 20cm de
permetro.
4.1.
4.1.4Aperfeioamento do programa
Para um melhor desempenho do programa foi fundamental aperfeioar o programa desenvolvido.
desenvolvido
No inicio do programa, aps ter sido determinada
determinad a frequncia de amostragem,
amostragem feita a construo
de duas tabelas com o valores dos cosenos e senos necessrios para o calculo dos parmetros estimados
#= e #=7 . Com estes valores tabelados na memria
mem
do microprocessador, o programa torn
tornou-se
se mais
rpido visto que no necessita de fazer operaes matemticas mais complexas. Estas
stas tabelas ocupam
uma boa parte da memria porque so necessrias
necessri s tabelas do tipo double (32 bits) visto os valores obtidos
por senos
sen e cosenos serem decimais.
decimais No entanto, possvel diminuir o espao de memria reservado por
essas tabelas utilizando uma converso dos resultados dos senos e cosenos,
cosenos de nmeros decimais para
inteiros. Assim, os valores obtidos da converso podem ser guardados em tabelas do tipo inteiro de 16
bits. Esta operao leva pouco tempo de processamento e reduz bastante o espao de memria ocupado
quando so usadas em tabelas de grandes dimenses.
O uso da interrupo do DMA para adquirir as amostras do sinal vindo da ponta de prova tornou o
programa mais rpido do que o uso da interrupo do conversor ADC do dsPIC, isto porque, a
interrupo pelo ADC gera
ger uma interrupo em cada frequncia de amostragem para guardar o valor da
amostra obtido enquanto que, a interrupo
interrupo do DMA s gerada no final de todas as amostras serem
recolhidas automaticamente
automaticamente pelo memoria do DMA.
No caso de a sonda estar em repouso, o programa recebe e processa apenas a primeira medida do
sinal de sada do sensor GMR e espera pelo movimento da sonda para medir e processar um novo valor.
37
Para que seja possvel aferir a importncia do aperfeioamento do programa, na Tabela 4.2 esto
representados os tempos de resposta do programa desenvolvido antes e aps as optimizaes agora
descritas.
Tabela 4.2 - Tempos de resposta do programa desenvolvido antes e aps optimizao.
Optimizao
Antes
Aps
Freq.(Hz)
N de Periodos
N de Amostras
2000
512
2000
256
15
2000
512
72
2000
256
120
38
O programa desenvolvido neste software pode ser dividido em dois estados diferentes (escrita e
leitura). Num estado inicial, o LabVIEW do computador fornece ao dsPIC a informao da frequncia de
operao e nmero de perodos de teste escolhida pelo utilizador. Aps os dados enviados, o programa
entra num ciclo de leitura, onde recebe a informao do posicionamento e da amplitude actual da sonda
do microcontrolador dsPIC. Se a sonda estiver em repouso, o programa apenas recebe a primeira
informao da sonda. No caso da sonda estar em movimento, essa informao recebida em 5 blocos de
1 byte (8 bits) em cada ciclo de relgio do dsPIC. Os dois primeiros blocos contem a informao do valor
da amplitude do sinal. O primeiro bloco contem os bits mais significativos do sinal e o segundo bloco
contem os bits menos significativos. Sabendo que o dsPIC pode receber apenas valores de tenso no ADC
entre 0 V e 3,3V, a resoluo da amplitude recebida com estes 16 bits de dados de 0,05 mV. Os
restantes 3 blocos contm a informao do posicionamento da sonda, dos quais, dois blocos contm a
informao do quanto andou a sonda nas direces X e Y. O ltimo bloco usado para indicar o sentido
dos dois blocos anteriores. A cada 5 blocos recebidos, a informao das direces X, Y e da amplitude
actual da sonda inserido num grfico 2D. No entanto, a visualizao do grfico s pode ser feita no final
do ensaio.
39
40
Captulo 5 - Resultados
Neste captulo so apresentados os resultados experimentais obtidos com o sistema desenvolvido
utilizando a sonda planar construda. Os ensaios so realizados para fissuras iguais ou inferiores a 1 mm,
situadas na superfcie do material condutor ou situadas numa camada inferior do material. O material
condutor usado para os ensaios foi o alumnio. Na seco 5.1 so apresentados resultados dos testes
obtidos pela sonda planar, nas diferentes situaes acima referidas. Estes testes foram obtidos a partir
dum osciloscpio. Na seco 5.2 so apresentados resultados experimentais obtidos a partir da interface
grfica desenvolvida. Estes testes tambm foram realizados para as diferentes situaes acima referidas.
Figura 5.1 Resultado experimental da variao de tenso de sada do sensor GMR na sua passagem por uma
fissura [22].
41
As Figuras 5.2 a 5.10 representam testes de varrimento no tempo para a medio da presena de
defeito para diferentes condies de teste. Estes testes foram realizados a partir do osciloscpio
TDS5034B da Tektronix.
Os resultados obtidos apresentam um sinal modulado em amplitude. A portadora tem a frequncia
de operao que corresponde ao sinal da bobina de excitao e a amplitude proporcional ao campo
magntico medido no GMR.
Como esperado, os resultados obtidos para vrias situaes apresentadas demonstram a presena de
uma fissura previamente feita no material condutor. Verifica-se que os sinais tm uma componente DC,
porque o ADC s suporta valores de tenso positivos (ver seco 3.1.6). Quando a sonda se desloca numa
superfcie homognea, o valor da amplitude medida pelo ADC praticamente constante (ver extremos
horizontais das figuras). A aproximao da sonda com uma fissura provoca uma variao da amplitude
medida. Ao sobrepor a sonda com a fissura, a amplitude decresce para um valor prximo de zero (ver
seco 3.1.2).
O teste da Figura 5.2 mostra a presena de uma fissura de 1 mm de largura com uma corrente de
Figura 5.2 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura de 1 mm situada na superfcie do material. (2 kHz/200 mA)
O teste da Figura 5.3 mostra a presena de uma fissura inferior a 1 mm de largura situada a
superfcie de um material. Este teste foi realizado com uma corrente de excitao de 200 mA e uma
frequncia de teste de 2 kHz.
42
Figura 5.3 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm situada na superfcie do material. (2 kHz/200 mA).
alumnio tem uma permeabilidade magntica de 1,257 10AX H/m e uma condutividade elctrica de
3,5 10] S/m. Na Tabela 5.1 apresentada a variao da profundidade padro de penetrao, das
correntes de Foucault no alumnio, com a variao da frequncia de operao. Os resultados desta tabela
foram obtidos a partir da equao (1) e servem como apoio para a explicao dos prximos resultados
obtidos experimentalmente.
Tabela 5.1 - Variao da profundidade de penetrao no alumnio com a variao da frequncia de
operao.
1000
2,7
2000
1,9
3000
1,6
5000
1,2
10000
0,9
43
Nas Figuras 5.4 a 5.6 apresentam testes idnticos aos apresentados nas Figuras 5.2 e 5.3, mas foi
colocado uma outra placa de alumnio por cima da placa de teste, de forma a poder simular e analisar uma
fissura numa camada interior do material. A placa de alumnio colocada por cima da placa de teste tem
uma espessura de 1,5 mm e os ensaios foram realizados para a mesma fissura apresentada na Figura 5.3
em diferentes frequncias de operao (desde 1 kHz at 10 kHz).
Como esperado, comparando a Figura 5.3 com a Figura 5.5 possvel observar que o facto da
mesma fissura em condies de frequncia de operao iguais (2 kHz), mas situando-se em nveis de
profundidade diferente do material, provoca uma diferena nos sinais medidos. A variao do sinal
medido maior na Figura 5.3 pelo facto de existir uma maior concentrao das correntes de Foucault na
superfcie do material perto da bobina de excitao, onde a sua intensidade diminui exponencialmente
com o aumento da distncia de penetrao das correntes no material.
Figura 5.4 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (1 kHz/200 mA).
Comparando as Figuras 5.4 at 5.6 (com condio de frequncias de operao diferentes) possvel
observar que a frequncia de operao influencia a profundidade de penetrao das correntes de Foucault
no material. Verifica-se que com o aumento da frequncia de operao a intensidade das correntes de
Foucault em profundidade diminui, provocando assim, uma diminuio do sinal medido. Esta situao
visvel nas figuras 5.4 a 5.8.
44
Figura 5.5 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (2 kHz/200 mA).
Na Figura 5.6 possvel observar um ensaio com uma frequncia de operao de 3 kHz. Este ensaio
foi realizado para uma fissura colocada a 1,5 mm de profundidade de uma amostra em alumnio. A
intensidade das correntes de Foucault que contribui para a leitura do campo magntico a partir do sensor
GMR reduzida. Comparando esta figura com o valor de profundidade padro obtido teoricamente na
Tabela 5.2, possvel verificar que os valores obtidos experimentalmente esto de acordo com os valores
tericos.
Figura 5.6 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (3kHz/200 mA).
45
Figura 5.7 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (5 kHz/200 mA).
Atravs da Figura 5.8 possvel verificar que j no possvel detectar a fissura com uma
frequncia de operao de 10 kHz, visto que j no existe correntes de Foucault a passar profundidade
onde esta se encontra.
Figura 5.8 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (10 kHz/200 mA).
46
O teste da Figura 5.2 mostra a mesma fissura da Figura 5.9, mas com uma corrente de excitao de
300 mA. Comparando ambas as figuras, verifica-se que com o aumento da corrente de excitao, as
correntes de Foucault junto superfcie do material, perto da bobina de excitao aumenta, o que provoca
uma maior variao da amplitude de tenso medida pela sonda.
Figura 5.9 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura de 1 mm (2 kHz/300 mA).
Na Figura 5.10 apresentado o mesmo teste que na Figura 5.5, mas com uma corrente de excitao
de 300 mA. Comparando ambas as figuras, verifica-se que com o aumento da corrente de excitao existe
uma maior corrente na zona da fissura, o que provoca uma maior variao da amplitude de tenso medida
pela sonda.
Figura 5.10 - Ilustrao dum teste de varrimento no tempo da medio da amplitude da sonda desenvolvida
para uma fissura inferior a 1 mm e colocada a 1,5 mm da superfcie em teste (2 kHz/300 mA).
47
A cor preta representa uma superfcie homognea e a localizao da fissura. Em torno da fissura,
existe uma variao da tenso medida pela sonda. Essa variao representada em diferentes tonalidades
de azuis at ao valor mximo de tenso representado em branco.
Na Figura 5.12 e na Figura 5.13 esto representadas duas ilustraes da mesma fissura situada em
diferentes profundidades em relao superfcie do material condutor. Como possvel observar, a
variao da amplitude da medida da sonda maior com a fissura junto a superfcie do material onde est
localizada a bobina de excitao, do que situada a 1,5 mm de profundidade do local da bobina. Na Figura
5.12 possvel observa-se que a fissura foi analisada na diagonal. Isto deve-se ao facto do eixo de
sensibilidade do sensor GMR no estar alinhado com a fissura.
48
Figura 5.12
5. - Ilustrao de uma fissura inferior a 1 mm situada na superfcie do material.
Figura 5.13 - Ilustrao de uma fissura inferior a 1 mm situada numa camada situada a 1.5 mm de
profundidade do local onde est a bobina de excitao.
49
50
Captulo 6 - Concluses
Tal como pretendido conseguiu-se demonstrar que possvel criar um sistema porttil de baixo
custo para a deteco de defeitos em placas metlicas usando um mtodo no destrutivo. A principal
caracterstica inovadora consiste no uso de uma bobina de excitao planar para a criao do campo
magntico responsvel por induzir correntes de Foucault no material em ensaio. A bobina planar, que foi
implementada neste trabalho numa placa de circuito impresso convencional, poder facilmente ser
implementada numa placa de circuito impresso flexvel. Isso permitir utilizar este sistema em objectos
metlicos no planos como o caso, por exemplo, da fuselagem de avies e outros meios de transporte.
Outra vantagem importante a diminuio do problema do lift-off, j que por ser flexvel a sonda
consegue manter melhor a distncia ao material em ensaio. Uma terceira vantagem consiste no facto
dessa sonda poder ser assim mais leve o que relevante num sistema que se pretende porttil.
A dificuldade do uso de uma bobina planar para ensaios deste tipo tem sido, o reduzido nmero de
espiras que contribui para o campo gerado na zona de interesse (centro da bobina) e o facto de que cada
espira est cada vez mais longe desse centro, o que torna a sua contribuio para o campo total cada vez
menor. No sistema desenvolvido foi possvel compensar este problema atravs do uso de uma corrente
maior do que a tradicionalmente utilizada em bobinas tpicas construdos com fio de pequeno dimetro. A
configurao planar da bobina criada neste trabalho permite uma maior dissipao de calor j que a pista
no circuito impresso tem uma superfcie exposta ao ar maior do que no caso de uma bobina selonoide.
Outra da caracterstica do sistema que permitiu lidar com o menor campo magntico de excitao usado
foi a da utilizao de um GMR para medida da variao do campo magntico criado pelo deslocamento
da sonda sobre um defeito no material em ensaio. Esse tipo de sensor de campo magntico tem a
vantagem, em relao aos sensores indutivos usados normalmente, de ser mais sensvel a baixas
frequncias de operao. Essa caracterstica especialmente importante quando se pretende detectar
defeitos dentro dos materiais (em vez de unicamente na sua superfcie), j que a profundidade de
penetrao das correntes de Foucault aumenta com a diminuio da frequncia do campo magntico de
excitao.
A portabilidade do sistema foi conseguida integrando-se na prpria sonda um circuito de excitao
baseado num gerador digital de sinal e num amplificador de transadmitncia que permite ter uma corrente
constante na bobina de excitao independentemente da usa impedncia. Isso importante pois essa
impedncia afectada pelo material em ensaio que partida desconhecido. A utilizao de um gerador
digital de sinal foi pensada tendo em conta desenvolvimentos futuros de um sistema de caracterizao de
defeitos que necessitar, em princpio, que se realize o ensaio a diferentes frequncias de modo a
caracterizar os defeitos em termos da sua localizao em profundidade dentro do material em ensaio.
Do lado do sensor do campo magntico, foi desenvolvido e implementado um circuito electrnico
para amplificar a tenso obtida sada do sensor. Esse sinal amplificado ento digitalizado por um
conversor analgico/digital de modo a ter-se a informao do valor desse campo magntico no formato
digital, o que permite um posterior processamento de sinal com o fim de detectar a presena de defeitos,
51
em primeira anlise, mas que poder ser vocacionado tambm para a localizao e caracterizao
detalhada do defeito encontrado.
Com o objectivo particular da localizao exacta dos defeitos encontrados foi implementado um
sensor de deslocamento baseado num rato de computador mecnico, que permite a estimativa da posio
relativa da sonda de medida ao longo do seu varrimento sobre a superfcie do material em ensaio. a
combinao da informao da posio relativa com o valor do campo magntico medido que permite a
criao de um mapa 2D do material como se demonstrou. Esse tipo de mapa permitir no futuro a
implementao de algoritmos para a caracterizao detalhada dos defeitos encontrados (forma,
profundidade, etc).
O crebro do sistema consiste num dsPIC que por um lado controla o gerador digital de sinal e por
outro realiza o processamento digital do sinal medido pela sonda. Outras trs funes importantes do
dsPIC so a determinao da posio relativa da sonda a partir da informao fornecida pelos sensores de
deslocamento do rato de computador, a apresentao do resultado da deteco de defeitos num visor LCD
e o envio de toda a informao recolhida para um computador pessoal para armazenamento, visualizao
e anlise mais detalhada.
de realar que o processamento que o dsPIC executa do sinal proveniente do GMR, consiste no
sine fitting, ou seja, na estimativa da amplitude e fase inicial da sinuside medida. Isso permite por um
lado reduzir o rudo presente no sinal, j que a informao respeitante deteco de falhas a variao da
amplitude e da fase inicial da sinuside medida pelo GMR medida que a sonda varre a superfcie do
material. Por outro lado o sine fitting permite a compresso de informao o que facilita a transmisso
para um computador pessoal externo ao sistema. Na presente implementao essa transmisso feita
atravs de um cabo e do protocolo USB mas no futuro poder ser feita sem fio tornando-se ainda mais
importante a compresso dos dados a transmitir.
Este trabalho apresenta o estudo de uma sonda mvel capaz de detectar fissuras em materiais
condutores, utilizando o princpio das correntes de Foucault. Todo o sistema desenvolvido composto
por um mdulo de gerao de excitao, uma sonda mvel, um sistema de posio, um mdulo de
controlo e um mdulo de alimentao. Este sistema foi projectado e implementado no mbito deste
trabalho.
No captulo 5 apresentaram-se resultados do sistema completo a funcionar tendo-se mostrado que
este consegue detectar de facto defeitos em materiais condutores, quer superficiais, quer dentro do
material. Foi tambm mostrado que a determinao da posio relativa da sonda pode ser feita usando um
rato de computador do tipo mecnico. No futuro pode ser interessante comparar o desempenho deste
sistema de localizao com outros baseados em ratos pticos ou mesmo usando diferentes princpios de
medida.
Como referido o sistema apresentado teve como principal objectivo demonstrar um conceito e ser
usado como ponto de partida para sistemas mais ambiciosos. Os passos seguintes que se antevm nesse
desenvolvimento so a implementao da bobina de excitao planar num placa de circuito impresso
flexvel, integrar a electrnica que agora se reparte por 3 placas de circuito impresso distintas, numa s
placa de forma a reduzir a dimenso da sonda tanto quanto o possvel.
52
No futuro ser possvel utilizar os dados fornecidos pelo sistema apresentado para desenvolver
algoritmos mais sofisticados para a caracterizao dos defeitos encontrados em particular a sua forma,
tamanho e profundidade. Para isso contribuir com certeza a versatilidade e flexibilidade do sistema
desenvolvido aqui conseguidas atravs da aposta no uso de um gerador de sinal digital e num dsPIC como
unidade central de processamento e controlo.
53
54
Referncias
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56
Figura A1.1 - Esquema elctrico da placa 1 que contem o sensor GMR, dois filtros passa-altos e um
amplificador de instrumentao.
57
Figura A1.2 - Footprint do circuito realizado para a construo da placa 1 num circuito impresso.
58
59
Figura A2.2 - Esquema elctrico do circuito realizado para a excitao da bobina planar.
60
61
Figura A2.4 - Esquema elctrico do conversor UART para USB utilizado no sistema.
62
63
Componentes
Amplificador (L2722)
OSCILLATOR (SM, 3.2X2.5MM, 25.0MHZ)
R=1
WAVEFORM GENERATOR (AD9833 )
C=16 pF
C=10 nF
C=0,1 uF
C=4,7 F
Unidades
Preo unidade
Total
1
1
1
1
1
2
3
1
2,19
3,15
0,18
9,08
0,12
0,12
0,04
0,18
Total
2,19
3,15
0,18
9,08
0,12
0,24
0,12
0,18
15,26
Componentes
Rato de computador com esfera
COMPARATOR, QUAD (LM339AD)
Potnciomatro=10 kHz
R=10 k
R=1 kHz
C=0,1 uF
Unidades
Preo unidade
Total
1
1
4
4
4
1
5
0,39
1,86
0,08
0,08
0,04
Total
5
0,39
7,44
0,32
0,32
0,04
13,51
Componentes
Conversor DCDC 3,3 V (TSR 1-2433)
Conversor DCDC 5 V (TSR 1-2450)
C=4,7 F
Inversor 5 V/-5 V (TPS60401DBVT)
Regulador ajustavel (LP2951-50D)
R= 3 k
R= 8,9 k
Unidades
Preo unidade
Total
1
1
7
1
1
1
1
7,90
7,90
0,18
0,59
0,48
0,08
0,08
7,90
7,90
1,26
0,59
0,48
0,08
0,08
Total
18,29
64
Componentes
GMR (AA002-02)
Amp Inst. (INA118U)
C=0,1uF
R=500 k
R=11 k
C=1 uF
Unidades
Preo unidade
Total
1
1
2
1
2
2
5,00
10,01
0,04
0,08
0,18
0,18
Total
5,00
10,01
0,08
0,08
0,36
0,36
15,89
Componentes
Unidades
Preo unidade
Total
1
2
1
7
1
1
2
1
1,04
0,12
5,72
0,04
0,85
0,18
0,18
0,08
1,04
0,24
5,72
0,28
0,85
0,18
0,36
0,08
Conector USB
Potnciometro=10 k
Conversor USB/UART (FT232RL)
Drive - Rs232 (MAX3232)
DSPIC (DSPIC33FJ256GP710)
1
1
1
1
1
0,58
1,86
5,83
1,57
10,04
Total
0,58
1,86
5,83
1,57
10,04
28,63
65