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autorizada
C6pia
impressa
pelo Sistema

) NB-1326
Controle estatistico para preven@io e
detec@io de desvios da qualidade,
durante processes de fabrica@o, por
meio de grhficos

CDU:

ABNT-Assocla~ao
Brasllelra
de
Normas Tkhicas

CENWIN

621.3:519.248

NOV./I

990

Procedimento

Registrada
no INMETRO
NBR 3 - Norma Brasileira

coma NBR
Registrada

11469

Origem:
Projeto 03:056.02-016/88
CB-03 - Cornit& Brasileiro
de Eletricidade
CE-3:056.02
- Comissao
de Estudo de Controle
e Certificaoao
da Qualidada
NB-1326
Control chart techniques
for prevention
and detection
and quality
deviations
when manufacturing
Procedure
Esta Norma foi baseada
na BS 2564/l 985
Palavras-chave:

Controle

de qualidade.

Estatistica

SUMhO

2 Documentos

1 Objetivo
2 Dacumentos
complementares
3 Definigbes
4 Generalidades
5 Graficos de controle por variaveis
6 Graficos de controte poratributos
7 Interpretagao
dos greficos de controle
6 Capabilidade
ANEXOA-Testesparedeterminag~odecausasespeciais
em graficos de controle
ANEXO B -Tab&s
ANEXO C - Figures

Na aplicagk
TE-298

1.1 Esta Norma destina-se a servirde guia para a utilizag& do controle estatistico
do process0 par meio de
gtificos.
1.2 Esta Norma se aplice para prevengao e detecgao de
problemas da qualidade dumnte o processo de fabricag&o para apresenter
informagks
essenciais sobre a
qualidade final e corn0 meio auxiliar pare o julgamsnto do
estado de controle alcangado. Faz referencia, em panicular, aos metodos de coletar, ordenar, registrar e analisar OS dados de ensaios de uma forma planejada. pare
preven@o e detecgao de desvios daqualidade
causados
por perturbagdes
no processo.

complementares

desta Norma B necesskio

- Estatistica

consultar:

Terminologia

BS 5703
Guide to data analysis and quality control
usfng cusum charts and tabulations

3 Defini@es
OS termos tecnicos utiiizados
de 3.1 a 3.3 e na TB-298.
3.1 Causa

I Objetivo

1 23 paginas

nesta Norma estao definidos

comum

Fatores, geralmente numerosos e de impotincia

individual
relativamente
pequena, inerentes ao processo, que contribuem pare a varia@o desk processo de modo previsfvel.
mas que nao aletam a sua uniformidade.

3.2 Cause especial

Fatores detect&eis
e identific&eis
que contribuem para a
vanagao do processo de modo imprevisivel e afetam a sua
uniformidade.
3.3 Capabilidade
Capacidadedo
conformidade

do processo
processo produzirunidades
con a especificagao.

doprodutoem

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NB-1326/1990

c) medidas

4 Generalidades
4.1 Todo processo apresenta
variabilidade.
desta variabilidade
podem serde dois tipas:

As causas

de propor@o

- fm@o defeituosa
- defeitos

(p);

par unidade

(u);

a) causas especiais;
d) medidas

de quantidade

b) causas comuns.
4.2 Urn processo 6 considerado
sob controk estatistico
quando todas as causas especiais
fOram eliminadas,
apresentando
some&
causas comuns.
4.3 Uma causa especial pode ser atribuida
B falta de
uniformidade
dos insumos que COmpdem
0 processo,
quais sejam, mat&a-prim,
m%ade-obra, ndquina, m&do,
meio ambiente.

nljmero

de defeituosas

ntimero

de defeitos

de controk

b) gr&fico de controk
4.4 0 controk
estatistico
do processo B uma t&znica
baseada na teoria estatistica
que tern corn0 objetivos
pnncipais:
a) eliminar

as causes especlals;

b) mantero prcesso sob mntrOle estatistii

detectand0
e eliminando
o mais ripido pussivel novas causas
especiais;
c) evitar a produG&
d) conhecer

a variabilidade

4.7 Urn ponto que czia fora dos limites de controle do

prccesso i-&a a exkt&cia protivel de ma cause especkl.
4.6 OS limites de controle, em geral, nho sS.o tiilizados
para a verifica@o da qualidade individual da unidade do
prcduto Eks tie aplkados mrmalmente g red&
estztislica
deumsubgrupodeunidades,
sendoestamedidacalculada
a partir de observa@?s
feitas individualmente
sobre as
unidades do subgrupo.
de estatisticas
de posi@.o

media (x);
mediana
b) medidas

da

par variGveis;
par atributos.

4.10.2 No grsfico de controle par atributos, OS pontos

registrados s&o medidas de propo@o
(fra@o defeituosa
ou defeitos par unidade) ou redidas de quantldade (ntim~ro
de dekituosas
ou ntimero de defeitos).

comumente

utilizadas

s&a:

OS seguintes

tipos de grificos

a) par variSvei,
- x

s (mgdia

e desvio-padrHo);

x - R (media e amplitude);
- X R (median?.

e amplitude);

b) par atributo,
- p (fra@o
np (ntimero

defeituosa);
de defeituosas);

- u (defeitos

par unidade);

- c (ntimero

de defeitos).

4.12 Antes da introdu@o

dos gr&ficos de controle, deve
ser desenvolvido
urn sistema para obten@o dos dados,
que B a base para a cokta, o registro e a representa@o
gr-hfica das informa@es no grifico de controk. HA cases,
par exemplo, em que se toma necess%io
tomar uma
decis% entre combinar
dada de diferentes fontes ou
ent& trati-los
em separado
prevendo
urn grefico de
mntrok pam cada m d&s. Para qualquerait&ia
adotado,
B neoe&rio
que haja sempre compatibilidade
entre o
gtifico de controle e o processo de fabrica&.

(xl;

de dispen&o

desvio-padrao
- amplitude

Bs medidas

4.10.1 No gtifico de controk

par vari&eis,
OS pontos
reglstrados
representam
as medidas de posi@o (mhdia
ou mediana) e as medidas de disperseo
(desvio-pad&
ou amplitude).

4.11 Esta Norma abrange

de controk:

do processo.

4.6 OS limites de controle do processo (LCP) s80 determinados considerando-se

3 desvios-pad&o
para o limite
superior e -3 desvios-pad&
para o limite inferior, em
rela@o i mCdia das medidas estatisticas definidas nesta
Norma (ver 4.9).

a) medidas

quanta

de itens defeituosos;

4sOsdadosdesubgrupos
devemserregistradosem
urn
grifico de controk que contern dois segmentos de retas
parakks horizontais. que determinam OS limites de mntrok
do processo, e urn segment0 de reta horizontal, que COTresponde ao valor m6dio.

4.9 As medidas

(c).

4.10 OS grificos
de controle,
qualidade,
podem ser:
a) grifico

(np);

(R);

(s);

4.13 Normalmente,
OS subgrupos S&J retimdos de forma
mcional em fun&
do tempo. Entretanto,
o m&do
de
gr8cos de controk pode seraplkado
igualmente a divis&s
de subgr~pos
baseados em fatores t&nicos que afetem a
fabricago,
taiscomoo
operador, a mequinaoua
mat&iaprima.

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NB-I 326/I 990

4.14 OS dados de cada subgrupo

devem ser retirados
seqijencialmentesobcondi~Bessimilares.
afimdequeas
vatia@es dentro de cada subgrupo tendam a refletir as
variapk
de ousts canuns, iwentes a0 pt6pti3 prccesso.
Corn isso, o surgimento de uma causa especial pode ser
facilmente identificado no subgrupo.
4.15 Normalmente,
quando urn grhfiw de controle 6 implantado, OS subgnrpos Go tomados corn b&ante freqi%ncia. A+
o process0 ter alcan$ado o estado de controle
estatistico e rrelhorias terem sido feitas, a freqiGncia de
retireda dos subgrupos tende a diminuir consideravelmente.
4.16 56 se pode concluir a existencia de urn estedo de
controle estatistico. quando os pontos registradas no grificodecontrole,obtidosde,
pelo menos, 25subgrupossw
cessivos, caiam dentro dos limites de controle e desde
que n.30 ocorram as ressalvas previstes no Anexo A.
4.17 OS valor% das medidas de qualidade obtidos de cadaumdossubgruposamostradoss8olan~ados
nogrifioo
assim que determinados.
Urn ponto que caia fora dos Iimites de controle B tornado coma indicador de uma prov6vel presenqa de uma causa especial, a qua1 dew ser
i&ntificzda inzd$tamente
e eliminada. A&M+ da rep+%
sistem6tic.s deste procedimento
e corn a tomada de provld&c&
para evitar novas ocorr&ncias, pode-se chegar a
urn processocadavez
mais prkimodoestedode
controk
estatistico.
4.18 Corn novas dados obtidos, ap6s as provid6ncias de
melhoria do processo terem sido realizadas, os limites de
controledevemseratualizados
periodicamente
at& que o
estado de controle estatistico seja atingido, isto 6, at6 que
o processo esteja sujeito unicemente
Bs varia@es de
causacomum.
Sefordesejado,tamb&m
podemserfeitos
ajustes no posicionamento
do processo.
4.19 Este continua ciclo de medi@o, mntrok. investiga@o
e &o 6 a exprestio
pr;itica do intermirdvel melhoramento
da eficiencia do processo e a qualidade do produto, que 6
o objetivo do controle estatistico do process*.
4.20 Quando o estado de controle estetistico for atingido.
n&o t possivel obter urn gnu mais alto de uniformidade no
processo, j6 que a tinica varia@o existente 6 a inerente a
ele.
4.21 Somente quando o processo atingiro estado de controle estatistico e assim permanecer,
6 que se pode comparar a disperse0 do processo corn a toler3ncia de especifica@o do prod&
Essa compara@o
vai determinx
a
capabilidade
do processo.

4.22 Quando o estado de controle estatistico for atingido

e parte do produto nao estiver em conformidade
corn a
especifica@o
na camcteristica
de qualidade controlada,
pode-se aplicar uma das seguintes a@% corretivas:
a) introduzir
produ@o;

altera@es

bzisicas

no processo

de

b) alter.?& se possivel,
c) proceder
100%.

os limites de especifica@o;

$ retifica$Bo

da qualidade

4.23 A existsncia de urn estado

apresenta as segulntes vantegens

de controle
pr&ticas:

$ inspe@o

estatistico

a) 6 possivel se preverem p&metros

da popula@o
baseando-senas
informa~besobtidasemumcerto
nljmero de itens da popula@o;
b) OS dados das arrnstras do produto sk mak mnfdveis
para o ju!gamento da qualidade;
a amostra, os ensaios e, conseqtientemente.
oscustosdeinspe@o
podem ser reduzidos;
c) a porcentagem
de itens que cai dentro dos limites
de especifica@o
pode ser previste corn mais alto
gmu de confianqa;
d) fomece urna base confG.vel para verikar a vfabilklade
de mudanqa dos limites de especifica@o;
e) a aceita@o de urn produto pelo wmprador
pode
ser baseada corn seguraw
M evid&cie do contmk
do processo feito pelo fornecedor.
4.24 As informaqbes
a respeito do es&do de controk
estatistico
podem ser desejadas
par urn comprador
do
produto interessado em reduzir ou eliminar sua inspe@o
realizada a cada remessa recebida.

5 Grhficos de controle

por varihels

5.1 Consideraqks gerais

5.1.1 OS grificos de controle porvari&?is
Go usados para
controlar a varia@o do processo em cases onde a caracteristice sob investiga@o
6 uma quantidade
mensutivel.
5.1.~ OS dados devem ser obtidos em subgrupos
de tamanho cmstante, conforme indtido
em 4.14. Recomendase que, para o grifico de controle que utiliza a amplitude
(R),aquantidadedeitensdosubgruponaosejamenorque
3 e maior do que 10.
s.~.sAfrt?qii&cia
de retirada de ceda urn dos subgrupos
depende das condi$&s
do pr6prio processo e de consider+es
de ordem econBmica. Ekes devem ser retirados de
tal maneira que as varia@es havidas no processo corn o
tempo sejam mpidamente
detectadas.
Nos cases onde
existe a varia@o sistem&ica em fun@o do tempo, as cause.?. potenciais desta varia@
podem ser detectadas pela
retiradade subgruposem
intetvalos regulares. Entretanto,
6 precise tomar cuidado corn este tips de amostragem,
pois esti sujeito & influkcia
causada, par exemplo, pe!o
conhecimento
do instante da retirada do subgrupo, pelo
operador.
5.1.4 Na implanta@o
do grifico de controle porvarikis,
usualmente s80 retiiados 25 subgrupos, cada urn contendo
cirxo unidades produzidas consecutivamente.
&messes
dadossso calculadasasestimativasdedispers~oede
posi@odo processoquesgo
utilizadas noc&lculodoslimites
de controle (ver Tab&
1 do Anexo 6).

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5.1.s OS limites de controk s80 calculados

usando as
f6rmuksdaTabek
1 doAnexo B.AsconstantesA,,
4,4,
4, B,, B,, Dg e D,, existentes nas fClrmulas de c&ulo dos
limites de controk, sao dependentes
da quantidade
de
itens existentes em cada subgrupo e encontram-se
na
Tab&
2 do Anexo B.
s.t.eAsFiguras
1.2e3doAnexoCmostramexemplosde
grSficosdecontrok
porvarieveisdam8dia/desvio-padr~o,
n$dia/amplitude
e medianalamplitude,
respectivamente.
5.2 GrBficos

de controle

pars mCdias

mbveis

5.z.t Algumas vezeso processoapresenta

umatendgncia
demudan~delocaliza@iodam~diaemfun~Hodotempo.
Quando esta situa@o &stir,
mais informa$es
podem
serobtidas
nos gtificos de controle que identificam essa
tend&n&a
do processo. Tais grgficos de cantrole ~80
conkcldos
corn0 gtitflcos de contrcle para m&ix
mirveis.
~2.2 Na utiliza@o dos gL%cos de controk para media
m&eis, OS dados devem ser coktados
num ciclo do processo, con-o porexemplo,
entre trocas de ferramentas. e
as m&iias dos subgrupos registradas gfaficamente. Desde
que a medida de dispenbo,
calculada corn os dados de
cada subgrupo, esteja em estado de controk estatistico,
as &dk.s podem ser mmparadas oom OS limites inclinados
e equidistant%
da linha estimativa da tendS!ncia das medias do processo. A estimativa da linha de tend&%
das
medias do processo B feita narmalmente
atrav& da reta
de melhor ajuste entre OS valores das media5 registradas
no gr&ico. Ck pontos registrados fora dos limties iwlinados
indicam a exist&xia
de uma varia@o de causa especial
no processo.
e..z.a Ap& urn certo ntimero de ciclos de opera@o do processo, cujos dadosforam
registrados IX) gr6fica de mntrok
para tidias
tiveis,
podem-se determinar OS limites superior e inferior horizontais
para controlar o processo.
Quando a mtdii m6vel do subgrupo cai forade urn desks
limites de controk hotintak.
esti indiando quz o prccesso
deve ser reajustado. kto 8, C hors da fermmenta ser trocada e o grtifico de controk tamtim
dew ser reiniciado.
OS limites horizontais,
n&e tipo de gtifico, nao tsm a finalidadede
iden~ificaraexistenciadeumavaria~~oddevido
a uma causa especial, mas sim de mostrar quando o processo precisa ser reajustado (VW Figura 4 do Anexo C).
524 0 movimento n-&dio da media (ti) C o valor &dio
das difereyas
entre as media
mtiimas
(%,,) e as
mediks minimas (x,,) para OS ciclos do processo.
~.~.~ i essential que o movimento
&dio da mCdia (A?7
n80 seja maior que o exigido originalmente
pelo processo
para operar em niveis btimos. tanto para a qualidade
como para a produtividade.
Minimizando-se
a tend&u%
do rrwimento
das &dias, podemse obter meltwamentos
na qualidade e produtividade
reduzindo a quantidade de
vezes que o process0 precka ser paralisado pam reajustes.
5.3 Compara#io
vari.6vel.s

entre OS gkficos

de controle

par

5.z.1 0 grsfico de controk da mediana B mais f&i1 de ser

usado que o da m8dia, principalmente
quando o ntimero
de itens de cada subgrupc amostrado for hlpar, pois n80
hi necessidade
de se efetuarem c&ulos
coma B o case

da tidia.
Akm disso, no gr&fico da mediana, OS valores
individuais sao geralmente
registrados
graficamente
e
conseqtientemente
a dispe&o
dos valores individuais B
mais facilmente percebida, fomecendo
uma melhorconfigura@o do andarnento do pro-o.
Entretanto, a estimativa
da m&die do processo, obtida do grifico da mediana, 6
menos eficaz que a obtida no gtifico da mbdia. Corn0
resultado disso, o intewalo entre os limites de controk
para a mediana B maior do que pam a mhdia, podendo
corn isso reduzir a eficigncia do wntrole do processo.
5.x 0 g&co de controk da amplitude B mais ficil de ser
usado que o do desvio-padtio
que exige c~lculos mak
complexes. Entretanto, o desvio-padrio
B urn estimador
mais eficiente da variabilidade
do processo
do que a
ampkde,
especialmznte quardo cada sutgrupo amosbado
tern umtamanho
maiorque 8. Emcontraposi@o,
o grifico
de controle do desvio-padrao B mews sensivel em detectar
varia@zs
devido a causes especiais quando urn valor
individual no subgrupo difere muito dos outros. 0 gr6fico
de controle do desvio-padrso,
devido a sua complexidade,
C utilizado somente para processes automatizados,
porqw
todos OS c&ulos
podem ser programados
e efetuados
automaticamente,
enquanto que 0 gr.Sfico da amplitude,
devido~simplicidadedec.Slculo,
tern-se tornadoo metodo
mais comum de medida da dispersso.
5.4 Grhficos

de controle

cumulativos

OS grificos de controle cumulativos SSO utilizados para os

casosondeprecisamsercontroladaspequenasmudan~as
no processo. Eks permitem detectar mais rapidamente
o
aparecimento
de varia@es devido a causas especiais do
que OS grificos de controk
normais. Entretanto,
a sua
maior complexidade
no prepare e utiliza@o,
em rela@o
aos grdficos de Controle UsUaiS,
torna
0 se
camp
de
aplica@o restrito aos processo continues, onde o grgfifico
pcde ser obtido par urn computadorou
pek ptipria tiquina.
Este tipo de grifico de controk B apresentado
na literatura
especializada
e normas estrangeiras
(por eremplo,
na
BS 5703).
6 Graficos

de controle

par atributos

6.1 OS grS,fificos de cantrole por atributos tGm o seu maior

campu de aplica@o
nas Areas
de fabrica@o
onde os
dados coktados
nao sHo mensurados,
seja pela prbpria
natureza do processo (soldagem, galvaniza@o,
pintura,
mntagem,
etc.), seja porfatores econ~micos, pa exempto,
o use de calibradores
passa-nSo-passa
para controlar
caracteristicas
de qualidade
mensur.&is.
no lugar de
aparelhos de medi@o.
6.2 Esta Norma abrange
controk par atributos:
a) grsfico p (fra@o

quatro

tipos

de

defeituosa);

b) gtifico

np (ntimero

de defeituosas);

c) gtifico

u (defeitos

por unidade);

d) gtifico

c (ntimero

de defeitos).

6.3 OS limites de controle

atributos s&o calculados
Anexo B.

de grificos

para OS gr&fificos de controk por

de acordo corn a Tab&
3 do

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6.4 0 grifico de controk dafra@o defeituosa (p) B usado

pra cmtrokr o prccesso onde exkte varia@o do tamanho
dossubgruposamostradosequandoforavaliadaafra~o
defeitwsa.
Recomenda-se
que. para urn mesmo par de
limites de controle, n80 haja uma varia@o do tamanho do
subgrupo an-w&ado
maior do que 25% em rela@o ao
tamanho do subgrupo utilizado para 0 cSlcul0 do?. limites
de controle.
Case esta varia@o
exceda 25%. novas
limites de contmle devem ser calculados corn base no
tamanho deste nova subgrupo (ver Figura 5 do Anexo C).
6.5 0 gdfico de cantrole do ntimero de defeituosas (np) B
similar ao grifico p, A tinica diferenp
C que OS tamanhos
dos subgrupos precisam ser constanks.
N&e grifico B
registrado o mjmero de defeituosasencontrado
em cada
subgrupo amostrado
(ver Figura 6 do Anexo C).
6.6 0 gr&fico de controk do ntimero de defeitos por
unidade (u) B usado paracontrolaro
process0 onde existe
varia~~odotamanhodossubgruposequandoforavaliado
o n6mero de defeitos par unidade. Como no grifico (p).
recomenda-se
que, para urn mesmo par de limites de
controle, 80 haja uma varia@o do tamanho do subgrupo
amostrado maior do que 25% em rela@o ao tamanho do
subgrupc utilizado para o c&ulo dos limites de controle.
Casoestava~a~Boexceda25%,
novoslimitesdecontrok
devem ser calculados corn base no tamanho d&e nova
subgrupo (ver Figura 7 do Anexo C).
6.7 0 grifico de controk do nlimero de defeitos (c) B
similar ao grifico de controk (u); a tinica diferensa B que
os tamanhos dos subgrupos
precisam ser constante?..
Neste grsfico B registrado
o nljmero total de defeitos
encontrados
em cada subgrupo amostrado (ver Figura 6
do Anexo C).
6.6 Como nos gr?ificos de controk
por variiveis,
os
subgruposamostradosdevemserretiradosdetalmaneira
queasvarfa@es
havidasnoprocessocomotemposejam
rapidamentedetectadas.
Cadaumdelesdevesertambem
obtido detalformaquesejaminimizadaa
posslbllldadede
vark+io
devido a causas especiais dentro dele.

7 InterpretqCo

doe greficos de controle

7.1 No case dos gtificos de controle par vari&veis, s80

obtidos dois valores de cada subgrupo: urn de posi@o (X
ou x) e outro de dispersao (s ou R). Estes valores 30
lanGados em dois grdficos separados
(de prefe@ncia
numa mema
folha). Esse par de grificos B analisado
separada econjuntamente,
afimde se auxiliaradedu@o
de quando as variafles
devido a causas especiais estio
ou MO afetando o processo.
7.1.1 0 grdfico de controk relative A dispersao permite
verificar se a dispersso do process0 6 aceita corn0 sendo
estivel. Para isso, B precise que o valor da disperse0 de
cada urn dos subgrupos
anwstrados
esteja dentro dos
limitesde contmle, isto&, que as medidasdedispers&ode
todos os subgrupos
estejam em urn estado de controk
estatistico. Urn ponto fora dos limites de controk mostra
que uma varia@o devido a causes especkis prwavelmente
esti presente e ma anelise da?. causas dew ser feita
imediatamente,
afimderestabeleceroestadodecontrole
estatistico do processo.
7.1.2 0 grifico

relative

B posi@o

petmite determinar

se a

posi@o do process0 este mudando corn o tempo. Se o

processo esti em estado de mntrole estatistioo, mudanps
na posi@o da media representam a exist&zia
de vatia@es
devido a causas comuns inerentes ao prCIprio processo;
entretanto,
se as mkdias estiverem fora dos limites de
controk, hG uma indica+o definida da exist&xk de vark@es
devkto a causas especiais e que o processo esti inst&el.
Nestas circunstGxias,
~~30 se dew fazer urn ajuste na
posi@o do processo.
E precise antes restabekcer
o
estadodecontroieestatistico,eliminandoacausaespecial
que provocou a vari+o
no processo. Qualquer
ajuste
num process0 inSt&el pode aUmen!aro
refuge produzido.
7.1.3 A exist&Ma
de varia@es devido a causas especiais
pode ser identificada pelos testes indicados no Anexo A
7.1.3.1 A ocor@ncia das situa@es mostradas no Anexo A
indica em principio, que o process0 apresenta desvio ao
longo do tempo, entretanto deve serve&ada
a possibilidade
de serem conseqU&cia
de:
a) c&ulo ou registro gtifico errado do limiti de mntmk
ou do ponto que representa a vari6vel de posi@o
num subgrupo amostrado;
b) cansa~o do operador, mudanca de turno, desgaste
dos instrumentos
de medi$Bo ou troca de inspetor,
etc.
7.1.x? OS pontosfora dos limites de controle dasvari&veis
de dispersjo (s ou R) indicam, em principio, qw a wiabiliiade
do process0 aumentou ou diminuiu. Entretanto, dew ser
verificada a possibilidade
de haver inftu&ncia de:
a) &lculo ou registro g&w
errado do limik de controk
oudopontoqw
representaavari~veldedispeweo
nun- subgrupo amostrado;
b) trocas de operador,
mudansa
de two,
instrumentos de medi@o ou de inspetor, etc.

de

7.1.3.3 Se os pontos registrados

graficamente
estiverem
dentro dos limites de controk
mas a sua configura@o
indicar uma tend&Ma
a kv&los para fora dos limites de
controle, dew serf&a
uma investiga@o
dascausasdessa tendGncia. Algumas configura@es,
entretanto, podem
ser benhficas, tanto pata o process0 corno parao produto,
e devem ser investigadas,
nZ~.o para serem eliminadas,
mas para manter a melhoria conseguida.
No case de tend&&s
sistendticas nun-a dire&
crescente ou deaexrente
corn, pa exemplo, desgaste de ferramentas nas ndquinas
operatrizes,
recomenda-se
adotar o grefico de m&d&
m6veis vista na Figura 4 do Anexo C.
8 Capabilidade
6.1 Acapabilidadedo
prowssoB
medidapelacompara@o
do desempenhir do process0 corn as esp&fiiqZes
exigidas
do produto, quando calculadacom
baseemdadosobtidos
do processo no estado de controk estatistico durante urn
longo period0 de tempo.
6.2 Acapabilidade
do processo 8 medida par meio de dois
indices: o Cp que kva em considera@o
a dispen$,o do
processo e o Cpk que kva em considera@
a posi@o do
processo, ambos em rela@oaos
limites deespecifica@o.

no autorizada
C6piaCpia
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CENWIN

NB-1326/1990

R3 0 irdice de cap&Made
do ~casso
(Cp) 6 determiwx+z
pela raz&o do valorda amplitude entre OS limites de espe
cfiica@o pare a dispenHo
do processo (ver Figura 9 do
Anexo C). Adisperstio
do processo 6 normalmente fixada
em seis vezes o desvio-padrso.
6.4 Em geral, o processo deveria ester centrado no valor
nominal da espectiica@o.
Entretento, isto pode n80 ser
economicamente
vi&e1 se OS estudos de capabilidade
revelerem urn indice de capabilidade
do processo menor
que 1. Emcontraposi@o.
seo processo t&rum
indice de
capabilidade
maior que 1 e a sue media estivet descentralizada, o processo dew ser ajustado no valor nominal
da especifica@o
a fim de evitar o refuge.

=
x

media das media

trades considerados
bilidade
k
2
j=l

dos subgrupos
amosno estudo de cape-

Xi

x
k
k

nlimero

de subgrupos

amostrados

8.4.2 Se o fator Z for menor que 1, a probabilidade

da
porcentagem
de prod&s
fore do limite de especifica@o
pode serobtida
na Tabela 4 do Anexo C.

8.4.1 A porcentegem
de produtos sendo produzidos fore
dos limites de especifica$Bo
pode ser determinada
pelo
fator
conform
Tab&
4 do Anexo B, e @as seguintes
f&mules:

a.a.3 0 menor dos dois fatores Z, pare uma determinada

camcteristica,
B urn indice de capabilidade
(Cpk) que
relaciona a capabilidade
do processo ao posicionamento
do processo (ver Figura 9 do Anexo C).

limite superior da especificas&

8.5 Quando se est6 definindo a libera@o de urn processo

ou uma m%quirw pare produ@o de urn determinado prodtio,
o indice de capabilidade
potential 6 estimado a grosso
modo e calculado da mesma forma que o indice de
capabilidade
do processo. Entretanto,
ele s6 pode ser
medidocommaiorprecistioqilandoj6.seestiveroperando
corn o processo em estado de controle estatistico.

zj=

.x

dispersgo
2
? - limite inferior da especifica@.o

z=

disperseo
2

Onde:
Z,

fator Z pare o limlte superior de espzcrfica~o

Z,

f&or Z pare o limite inferior da especrfii@o

8.6 OS estudos de cap&Ii&de

potential s20, em geral.
feitos em uma miquina
nova ou processo que n80 produziu ainda dados suficientes pare determinarse
ele esti
ou Go em estado de con!role estatistico. As informaybes
pare esses estudos Go obtidas em curto intervalo de
tempo ou em auditorias,
o que n80 permite predizer o
desempenho
do processo a longo prazo. Pore&e motive,
o indice de capabilidade
potential i: geralmente
fixado em
1,33,afimdepermitirasvaria~t;esaolongodotempo,
n80
consideradas
nestes estudos.

IANEXOS

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ANEXO

A - Testes

para determinaqb

de causes

especlais

a) estes testes sS.o aplickeis

a greficos de m&as
(X); pressup&-se
uma distribui@o normal; OS testes 1,2,5 e 6 devem ser aplicados 8s me&ides superiore inferior do grdfico separadamente;
OS testes3,4,7eEdevemseraplicadosatodoogrefico;
b) OS limites de controle superior e inferior estFra dispostos a 317. acima e abaixo da linha central; pam
a aplik+
dcs testes. o gr?&a C diikftio igt&rente
em6zoas,
cadazonatendo
malarguradeo;as
zones ma& afastadas da linha central Go charcadas
de A, as intermediGirias de B e as mais pr6ximas
de C;
c) quando m processo este em estado de controle
estatistico, para cada urn destes testes, a chance
de obter incorretamente
urn sinal da presen~a de
uma causa especial B menor que 0,596;
d) sugere-sequeos
testes 1,2,3e4sejamaplicados
deformarotineirapelapessoaqueestiverplotando
o grifico; a probabilidade
conjunta de obter urn
sinal f&o a partirde urn ou mais desses testes B
de aproximadamente
1%:
e) sugere-se

que 0s quatro

prim&a

testes sejam

LscK----px
------

B
A

LIC

de controle

acrescidos dos testes 5 e 6 quando foreconomicamente desejkel

obter urn aviso mais cede; isto
aumenta a probabilidade
de urn f&o sinal para
aproxlmadamente
2%;

A-l Como indicado em 4.5, a forma mais usual de

detectar a ocnrr&wia
de causas especiais B 0 registro de
urn ponto fora do par de limites determinados
a uma
distkcia
de +3 desvios-pad&
da vari.kel sob estudo
(ver teste 1 deste Anexo).
A-2 Hd, entretanto, outras formas de detecti-las, confom
mostrado nos testes 2 a 8 desk Anexo. Ao consultar OS
testes, deve-se observar que:

em gr&ficos

f) OS testes 7 e 8 sao testes diagnkticos

quanta B
estratificar$o
e Go muito riteis quando se esti
implantando
urn gkfico de controle; ester testes
rmstram q uando as observa@es
de urn subgrupo
foram tomadas de 2 (ou mais) fontes corn medias
diferentes; o teste 7 wage quando as observa@es
no subgrupo
sempre vGm de ambas as font+
enquantoqeotesteBreagequandoossubgrupos
sS.o tirades de uma fonte de cada vez;
g) sempre que a exlst&ncia de umacausa
especial
sinalirada
poi urn teste, isto dew ser indicado
grefico (por exemplo, can0 no t&e 1, atravk
uma cruz abaixo ou acima do ljltimo ponto);

h) OS pontos podem contribuir para mais de urn t&e,

entretanto
nenhum ponto dew ser marcado par
mas de ma cruz;
i) a presen$a de urn
esti sob controle
ponto 6 o iiltimo
(apenas 1. para 0
provdvel de ocoiier
controle estatistico;

x indica que o processo nao

estatistico.
ou melhor, que o
de uma seqikcia
de pontos
tcste 1) que seria muito pouco
se o processo estivesse sob

j) embora estes testes possam

urn con]unto b&&o, OS analistas
pam qualquer padGo de pontos
infl&ncias
de causas especiais

LSC

ser tomados come

deem estarakrtas
que pxsa indicar
no processo.

----_

\
--------_
X

Teste

1 - Urn ponto

al&m da Zona A

for
M
de

Teste 2 - Now

pontos

seguidos

na Zona

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LSC

_--------

LIC

---------

Teste 3 - Seis pontos

ascendentes

-------__

Teste 4 - Quatorze
pontos
alternativamente
para baixo

seguidos
continuamente
ou descendentes

seguidos
para clma e

--

Teste

LSC

5 - Dois entre trk pontos

Zona A ou al&m

seguidos

na

Teste 6 - Quatro entre cinco

Zona B ou al&m

--

pontos

--

seguidas

na

_--------

LIC

---------

Teste 7 - Quinze pontos seguldos

a Zona C
(abalxo ou aclma da linha central)

Teste 8 - Vito pontos

seguidos
em ambos OS lsdos
da llnha central sem nenhum
a Mona C

IANEXO B

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ANEXO

Tab&

1 - Fhmulas

para 05 calculus

usadas

Estimador
de
variabilidade
do processo

Gtifico
e
controle

B -Tab&s

dos

limites

de controle

Limites
Medidas
posi@o

de

x-s

par

variiveis

de controle
Medidas
disperse%

de

LSC=B,s
LIC=:-A,s

LSC

= x=+ Ad .S

k-s

LIC=B,&
2 Si
5=

LIc=:-A.s
k

i-R

LSC=x=+A,R
LIC

x-R

PI= -

z R)
k

b) k = mimer,
de subgrupos:
LX = limite superior de controle;
LIC = limite inferior de controle.

= ; -A,

LSC

= D, 6

LIC

= D, 6

LSC=K+&k
LIC

= ; -A*

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Tab&

2 - Fatores

usados

nos c&x~los

dos limltes

Fatores

de controle

porvari6veis

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11

NB-I 326/1990

Tabela

3 - Fbrmulas

usadas

faara OS c~lculos

dos limites

de controle

Valor
registrado
no
g rifico

Tips de
gtifico
de
controk

Limit%

Inferior

p=

Pm

X di

rj=

p-3

\i

X:nl

Nlimero de
defeituosas
GrAfico np

c
$.I= -

u+3

\i

Nlimero
de defeitos
Grhfico c

i-3

2 c,
CT

NOtas:

VOLE. noczilculodolimite

a) c = mimero

de defeitos

b) d = mhero

de defeituosas

c)

n = nchero

de unidades

d)

h=

infetiordecontrole6abtidoum
enmntrado

negative.

Nes!e CRSO. o limite inferiorde

em cada subgrupo;

enmntrado
exktentes

v%t

em cada subgrupo:
em cada subgrupo

amostrado;

Yi ,
-

= m&da

dos tamanhas

das subgrupos

amostiados

k
e)

k = nhwo

de subgrupos

amostrados

considerado

para o c.4culo.

e considerada

;
\r
il

Algumas

il

Z di
nb=

iu

de controle

FraGZ!O
defeituosa GrAfico P

Nlimero
de defeitos
Par unidade
Grifico u

par atributos

para

o &icu!o;

mntrole6

iguaj azero,

no autorizada
C6piaCpia
impressa
pelo Sistema CENWIN
12

Tab&
Z8 0

o,o

2,

4 - Porcentagem

NB-132611990

de unldades fora do limite superior ou inferior da especifica@o

0.00

0,Ol

0,02

0,03

0,0-l

0,os

0,06

0.07

0,08

0.09

50,o

48,8

47,6

46,4

45.2

44,4

42.9

41,7

40,5

39,4

34,8

33,7

32,6

0.1

38,2

37,l

35,9

31,6

30.5

29.5

28.4

02

27,4

26,4

25.5

24,5

23,6

22,7

21,a

20.9

20,i

19.2

0,3

18,4

17,6

16,9

16,i

15,4

i4,7

14.1

!3,4

12,7

12,i

0,4

11,s

IO,9

IO,4

9.3

69

8.4

7,!2

7,s

7,j

%,I

38

0.5

687

6,s

53

56

5,3

5,O

4.7

4,4

0.6

3,6

3,4

3.1

2,9

2,7

2,6

2,4

2,:

2.1

13

0.7

I,8

I,7

1.5

I,4

I3

1.2

Ll

to

1.0

02

0.8

0,8

0,7

086

035

0,5

0.5

0,5

0.4

O,4

0,2
a1

02

0,2

0.2

02

0.1

0,l

0.1

0,1

0,1

0.9

0,4

Of3

03

0,3

1.0

0,1

0.1

0,1

0,1

IAN EXO c

C6pia

impressa

pelo
Sistema
CENWIN
Cpia
no autorizada

NB-I 326/I 990

2x
= -

= 23,82

k = 25 subgrupos

27 7

Limite

superior

de controle

(LSCi

= itA,%)=

126,441

i-A,:)

= (21,2)

26 -

'1 s

Limile

inferior

Limite

superisr

de controle

de

(LIE,=

controle

(LSCs

= 6,

. s I = (3,431

3.
t;- 2.

. .

. . . . . . ..

...

inferior

de

controle

. . . . . . .. . .

. .

1 -

. . . . _.
H= 1.64

OLimite

Nota:

OS valores

de A,. B, e 6, s&o obtidos

Flgura

a Tab&
1 -

2.

Grkfico

de controle

par varikeis

(x - s)

(LICs

= B,

s)=

(01

no autorizada
C6pia Cpia
impressa
pelo Sistema
14

z.
X=

CENWIN
NB- 1326/1990

XR

xx
~

k=

= 23,82

= 4,44

k = 25 subgrupos

27 x

Limite

superior

de

controle

lLSCX

=+A,i?i

i 126,38)

26

V
Limite

Limite

inferior

de

controle

superior

de

cantrole

I LICrX

(LSCR=

x:23,82

= 1 - A,

D4

RI = (9,391

..

El = (21,261

.. .
R=4,44

OJ
Nota:

Limite

OS valores

de 4,

D, B D, Go obtidos

Figura

a TaMa

inferior

de

controle

2.

2 - GrAflco

de controlc

par vari6veis

(x, R)

ILICR

= D,

ii)=

(0)

Cpia no autorizada

Cpia no autorizada
C6pia
impressa pelo Sistema CENWIN

16

NB-I 326/l 990

0 pracesso
precisa ser
reajustado quando il
ultrapassa
LSCX

VariaFdo

-1

devido

ciclo

a urna

couso

do processo

Linha da
tendencia

especial

I
Process0 reajustodo, os
limites precisam ser
reDosicionados.

LSCT(

= x+A

R +0,5hii

~Icji

=%-A

-0,5,AX

TI = difer&a
entre a media mdxima (51 m6x.l e a media
cada ciclo do processo.

R 6 a amplitude

m8dia.

Ax= Ax

m= nljmero

+ Ax

estd
m

+.

tabela

no Tabela

minima

. .Axn

de ciclos considerados
Figure 4 - Gr6fico de controle por varihels

(s- R) corn mhdias mbveis

(xmin.)

em

C6pia

impressa

pelo
Sistema
CENWIN
Cpia
no autorizada

17

NE-1326/1990

Fra@o

ni

defeituosa

(p)

Cpia
autorizadapelo
C6pia no
impressa

Sistema

CENWIN

NB-1326/1990

18

defeituosa

ni

di

3w

300

0.0200

0.0225

8
13
9

400

0,06

SeqKmia
Flgura

5 - Gkfico

dos subgrupos
de controle

par atrlbutos

- Fra+o

defeltuosa

(p)

C6pia

impressa

NB-I 326/l

CpiaSistema
no autorizada
pelo
CENWIN

990

19

Ntimero

Figura

de defeituosas

(np)

10 11 ?2 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
Seqihcia
dos Subgrupos

6 - Gr6fico

de controle

par atributos

- Ntimero

de defeituosas

(np)

Cpia no autorizada

C6pia

20

impressa

pelo Sistema

CENWIN

N&1326/1990

/continua

Cpia no
autorizada
C6pia
impressa
pelo Sistema

NB-I

326/l

CENWIN
21

990

22

23

24

25

O*
4 2 3 4 5 6 7 8 9 1044 4243144516471819~22122232425
Seqiikcia
Flgure

7 - Grilfico

de controle

dos subgrupos

par atributos

- N&mero

de defeitos

par unidade

(u)

no autorizada
C6piaCpia
impressa
pelo Sistema

CENWIN

22

NB-1326/1990

Nlimero

Nota:

de defeitos

(c)

k = nLinler0 de *bgrpos.

607
60 .
40.
c
20 *

Flgura

IO 11 12 13 14 15 76 17 38 19 20 21 22 23 24 25
Seqiihcia
dos subgrupos

8 - Griflco

de controle

par atrlbutos

- Nlimero

de defeitos

(c)

Cpia no autorizada

C6pia

impressa

pelo Sistema

CENWIN
23

NB-132611990

Tolerrincia

DispersEo

especificada
I

Process0

cp-

LSE

Process0

LIE

cp=

Dispersao do processo

incapaz
- LIE

Dispersh

do processo

do process0

LIE
I

LS E
I

=x LIE

I
I
I

I LSE-i
j
I
I
I
)
Dispersfio
I
2

DispersZIo
2

z,

LSE

Posicionamento

processo

capaz
-

do

=x-LIE

Z,=

Disp/2

9 - indices

LSE-

=x

D isp/2

zs <
Figura

I
1

ZI-

de capabilidade

Zs

do processo

= Cpk

<