111Equation Chapter 1 Section 1Parte 1:

a) Indexacin del aluminio:

El difractograma obtenido para la muestra de aluminio en polvo es el que se
muestra a continuacin.

Figura 1: Difractograma experimental del aluminio.

Los picos de intensidad se obtuvieron para los siguientes valores de

2 38.41, 44.66, 65.02, 78.14

212\* MERGEFORMAT (.)

Distancias interplanares: las cuatro distancias interplanares que producen la

difraccin se pueden determinar a partir de la Ley de Bragg.

2d sin

Donde representa la distancia interplanar y

(1.1) construimos la siguiente tabla.
T ABLA 1: V ALORES

313\* MERGEFORMAT (.)

&
1.541A

. A partir de la ecuacin

DE THETA .

38.410

44.660

65.020

78.140

19.205

22.330

32.510

39.070

sin

0.329

0.379

0.537

0.630

Y utilizando la ecuacin
correspondientes a cada pico:

(1.2)

obtenemos

las

distancias

interplanares

&
d1 2.34A

& d 1.43A
& d 1.22A
&
d 2 2.03A
3
4
,

Tipo de red: para determinar si es una estructura CCC (cbica centrada en las
caras), CC (cbica centrada en el cuerpo) o cbica simple CS debemos saber lo
siguiente:

En la red CS todos los planos son observables, no existe ninguna

restriccin para los ndices de Miller.
En la red CCC los planos observables tienen todos ndices de Miller
pares, o todos ndices de Miller impares, es decir:

h , k , l 2n ,

h, k , l 2n 1,

En la red CC slo son observables los planos que cumplen:

h k l 2n ,

Sabemos que el aluminio posee una red cbica, y tambin sabemos que para ese
tipo de redes se cumple la siguiente relacin:

d hkl

a
h l2 k 2
2

414\* MERGEFORMAT (.)

De las ecuaciones (1.2) y (1.3) obtenemos la siguiente relacin:

sin i
hi 2 ki 2 li2 d12

h12 k12 l12 d i2

sin 1

515\* MERGEFORMAT (.)

Donde:

1
i

es el ngulo donde ocurre el primer pico de difraccin.

es el ngulo de un pico de difraccin cualquiera.

(h1 , k1 , l1 )
(hi , ki , li )

son los ndices de Miller correspondientes a

son los ndices de Miller correspondientes a

.
.

d1
di

es la distancia interplanar correspondiente a

es la distancia interplanar correspondiente a

1
i

.
.

De las restricciones dadas para cada tipo de red y considerando la ecuacin (1.4)
construimos la tabla con los valores tericos que nos permitir identificar frente a
qu tipo de red estamos.

T ABLA 2: T ABLA

(hkl)

PARA IDENTIFICAR EL TIPO DE RED CRISTALINA CBICA .

h k l
2

CS:
100
110
111
200
210
211
220
221
300
310
311

1
2
3
4
5
6
8
9
9
10
11

sin

sin 1
1
2
3
4
5
6
8
9
9
10
11

CC:

sin

sin 1

2
& 2
d1
2.34A

& 1.328
d 2
2.03A

2
& 2
d1
2.34A

& 2.677
1.43A
d3

CCC:

1
2
3
4
5
-

Basndonos en la ecuacin (1.4), calculamos los valores de

2
& 2
d1
2.34A

& 1
d1
2.34A

sin

sin 1

1
4/3 1.333
8/3 2.667
11/3 3.667

d12
di2

2
& 2
d1
2.34A

& 3.678
d 4
1.22A

Podemos observar claramente que los valores experimentales obtenidos se

aproximan bastante a los valores tericos de la Tabla N2 para el tipo de red CCC.
Por lo tanto podemos concluir que el aluminio posee una red cbica tipo CCC y
podemos decir tambin que los picos de intensidad que aparecen en la Figura 1
corresponden a los planos {(111), (200), (220) y (311)} respectivamente.

Parmetro de red: basados en la ecuacin (1.3) podemos decir que

a d hkl h 2 k 2 l 2

, a: parmetro de red

Y de la indexacin previamente hecha tenemos adems la siguiente tabla:

( hkl )

&
d hkl (A)

&
a d hkl h 2 k 2 l 2 (A)

111
200
220
311

2.34
2.03
1.43
1.22

4.053
4.060
4.045
4.046

En promedio tenemos un parmetro de red igual a:

aprom

4.053 4.060 4.045 4.046 &

A
4
&
aprom 4.0510 A

b) Comparacin de resultados con la data del aluminio:

Presentamos los difractogramas, tanto experimental como terico del aluminio.

Figura 3: Difractograma experimental (obtenido en el laboratorio).

Figura 4: Difractograma terico (obtenido a partir de una simulacin con Powder Cell).

Comparando los difractogramas de las figuras 3 y 4, observamos que los ngulos

cuadran de manera bastante precisa y que los ndices de Miller hallados a partir de
nuestros datos experimentales son los mismos que se observan en el difractograma
terico, sin embargo se observa una diferencia notoria en la intensidad de los picos.

&
a 4.0498 A

El parmetro de red terico del aluminio es

valor experimental con el terico obtenemos un error de:

, comparando nuestro

%error = 0.03%

612Equation Chapter (Next) Section 1Parte 2:

Identificacin de compuesto desconocido
El difractograma del compuesto desconocido se muestra en la siguiente figura.

Figura 2.1: Difractograma experimental de material desconocido.

Los picos de intensidad se experimentales se dan a los ngulos:

2 {28.34, 47.21, 56.03, 69.02}

727\* MERGEFORMAT (.)

Buscando y comparando los picos de intensidad obtenidos experimentalmente con

la base de datos, vemos que se ajusta a la perfeccin con el difractograma del
silicio, como se ve a continuacin:

Figura 2.2:

Difractograma
experimental vs difractograma del Si.

Buscando en las bases de datos, obtenemos toda la informacin sobre el Si.

El silicio cristaliza con el mismo patrn que el diamante, en una estructura que
Ashcroft y Mermin llaman celosas primitivas, "dos cubos interpenetrados de cara
centrada". Las lneas entre los tomos de silicio en la ilustracin de la red, indican
los enlaces con los vecinos ms prximos. El lado del cubo de silicio es 0,544 nm.

Figura 2.3: Estructura cristalina del Si.