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CONSORCIO
BORl7A-PAZ
Anexo B
NORMA MILITAR ESTANDAR l05D
CONTRATO: IDU-801-99
CODIGo. 17
EV ALUACION
GEOMETRIA y DAOS
LOCALIDAD DE USME
.:~,.,.~
\.
. ,
1
. ~
...
~~
"
"
::,
:-,"o'. ~" .
. ....
. " ..
~
.~
Estos planes de muestreo son los ms utilizados a nivel mundial en las compras de organizaciones gubernamentales
y han sido adoptados
ampliamente
por la industria privada para el
muestreo de aceptacin de toda clase de materias primas y productos.
'
3.12.2
El ~C
como
para el punto
A = R
de equilibrio
=
P
seria la siguiente:
donde.
:.f:~:~~:,
:
A =
: .~ :""0::'" ,~
"
'Oo.'
{dao causado
que no se de-
'"
'. "
,.
,
Costo unitario
ms los costos
Costo deinspeccinarun
Fraccin
C =
.~
defectuosa
Costo de reparar
un defectuoso
en un lote rechazado
artculo
en el lote (desconocida)
o reemplazar
un defectuoso
encontrado.
..
160
por un
".
..
,-
Tericamente,
tos lotes con un nivel de calidad mejor que Pe sern aceptados sin necesidad de
clasificarse, aquellos con un nivel de calidad peor que ~"'debern ctaslflcarsey
los defectuosos
debern corregirse. Si los rejstros histricos muestran que el nivel de calidad es mucho mejor
que el punto de equilibrio y estable lote alote, posiblemente
ninguna O muy POC inspeccin
se requiere.
Pero, si el nivel es peor que el punto de equilibrio, entonces, posiblemente
resulte ms barato
usar inspeccin 1000jo en lugar de muestreo. Si el nivel ce calidad no se encuentra en ninguna
de fas posiciones extremas anteriores. el muestrease
paga por s mismo y el NAC ser generalmente, menor que el punto de equilibrio.
Handbook,
3.12.3
Descripcin
Ei ncice ce calidad en estos planes es el nivel aceptable de calidad (i'JAC). Se pueden escoger
26 valores NAC diferentes que, van desde 0.010 hasta 1000. los primeros quince valores, o
sea, aquellos menoreso
iguales a 10 pueden interpretarse
como porcentaje defectuoso
o como
defectos por cien unidades. Los valores superiores a 10 deben interpretarse
exclusivamente
Como defectos por cien unidades.
--- ------------------------.
los defectos
---~-'
.....
;
se clasifican.
para efectos
de aceptacln
la probabilidad
mayores
y menores.
-_... _ ..__
.::-=:::::~":.:.:~_:::::.-_-::.:--.::.----':.~_.-...-""'--
99,50/0.
los planes M Il-STO-I05D
poseen diferentes niveles de inspeccin, es decir la cantidad relativa de inspeccin
requerida. Para aplicaciones
generales hay tres niveles, a no ser que se especifique lo contrario,
se utiliza el nivel general 11, los tres niveles poseen una cantidad de inspeccin en relacin 1 a 2,5 y 1 a 4, aproximadamente.
i'~ormalmente.
se utiliza el nivel de inspeccin general 11. pero factores tales como simplicidad y costo del producto,
costo de inspeccin, inspeccin
destructiva, consistencia
de la calidad entre lotes y otros, hacen posible
utilizar otro nivel. El nivel 1 puede especificarse
cuando se necesita menor discriminacin
yel
nivel III para mejor discriminacin
de los lotes.
los planes tambin tienen cuatro niveles especiales de inspeccin 5-1. 5-2, 5-3, y 5-4, utilizados cuando se necesitan relativamente
pequeos tamaos demuestra,
por algunos aspectos de
inspeccin y por lo tanto, se pueden o se deben tolerar grandes riesgos en el muestreo.
las tablas Mll-STD-105D
-
...
permiten
utilizar
planes de muestreo
debeen la
161
~l. ',.
ALutilizar
muestreo doble, si el nmero de defectuosos
en la primera muestra se encuentra
entre los primeros riUiTci's-de aceptacin
y rechazo, una ~unda
muestra se debe inspeccionar con un tamao dado por el plan. El nmero de defectuosos encontrados en la primera y
segunda muestra se acumulan. Si el nmero acumulado de defectuosos
es menor o igual que
el segundo nmero de aceptacin, el lote se acepta, pero si es igualo mayor que el segundo
nmero de rechazo, el lote se rechaza.
.",1'.' '
.
~
..~,-
'. ,;',
I
.
'.
esquemticamente
las operaciones
en el muestreo
senci-
lA
2. Conocido
obtener
3.
~'--~
..
'''~'
El criterio de aceptacin paLa~fecto2...crli.~5_d.eber_~,-r..QJ~s_.ie.Ye.ro...Que-R-ra defectos menpres... En otras palabras, debern escogerse valores de NAC relativamente
bajos para los defectos
que puedan ocasionar serias consecuencias
y valores de NAC relativamente
altos para aquellos
defectos de poca importancia,
por tal motivo -es... esencial
establecer
una
clasificacin
de d~kc-_--_. ---_. - - ._----------------tos para utilizar estos pl9.!J.e,;;
..
-----------
-. '
:1. ...
..
-,
Con base en los resultados obtenidos con el plan, es posible establecer una menor inspeccin
cuando la historia de calidad sea lo suficientemente
buena o establecer una inspeccin ms severa, si histricamente
el nivel de calidad de los lotes sometidos a inspeccin, es muy pobre.
~,I
3.12.4
. :
Severidad
de Inspeccin
- Definiciones
y Reglas generales
para cambiar
niveles
162
. . ."... ~~i. .
'~'.'~'f';'~:
/f.~~~::1
~~.:.:;
~i~
.'.:~
'.
'.::;
:~:~
,,?...:{i!
...t:..... ;
tns ce cc.cne
s e uno
muestre
de n e s ;
pecimenes
-------------
Si lo ccnnccc
de defe'<.
tos no excede
de
el
Si la cantidad de defeco
toses
moyor Que el
'i menor O iguol o e2
Si la ccn t idcd de de .
f ecto excede e2
lnspeccion a uno s e ,
gundo muestro \ n Z
especimenes)
. ~.:".
,Si lo cantidad
de de.
rectos en el total de lo
in specc.onoootn
I t (2)
. ~
'
,'
...
163
-. '~":~.'~:
..,
.~.! ,
';
"
.~
..
.
Inspeccionese
una muestra
de nI especmenes
... '
Si la cantidad de defectos'
no excede de e1 b
,,~
Si la cantidad de defectos
es mayor que C 1b Y menor
o
el a
Si la cantidad de defectos
de el a
Inspeccionese u na segunda
muestra (n2especmenes)
!..,
.~:..
-v..;
SI la cantidad de defectos
en lo totalde io ensayado
(nI ' n2)
~
:
f ----------,
No exced e
ce
Es mayor
menor
e2b
que e2b y
igual a
Excede de e2a
e2a
Inspeccionese
una
tercera muestra
(n3 especjmenes)
Si la cantidad de defectos.
en el total de lo ensayado
(n1 I n2 ' n3)
,-
..
Es mayor que C3b
y menara
igual
a C3a
No excede de
C3b
: ':..:
\.
Continuese la inspeccin
con el mismo criterio
Aceptese la
partida
'.
FIGURA
164
Excede de C3a
50 _. MUESTREO
MULTIPLE
Rechacese
partida
la
, ,'
.~.
'..~~'.>
..~.;
-, '.:~.~
..
r
'
.' ,: .>
~.
"
.... ::
el numero
de aceptacin
Esquemticamente,
las recias para cambiar
1050, se dan en la figura 5 L
----.---------
de una severidad
M IL-STO-
RE DU CID A --------,----
Se inicio
---'---,----------con ste nivel el
muestreo (mientras
no se especifique
lo contrario)
N OR M A L
5 lotes consecutivos
aceptados
bajo inspeccin
c errnd c
"
ti:;c~:<l
2 de 5 lotes
consecutivos
rechazados
.;~.<:{-:~
.:
.:~"
-:.; .
"
...
~: .
- ~.
-:
.'
Un nmero especifico de
lotes p. ej 10, contina
bajo inspeccin
cerrada
PARAR
FIGURA 51-SE:VERIDAO
PRODUCCION
--------
165
Estudiando el esquema,se
puede notar que, el criterio para cambiar de normal a cerrada y viceversa, es simple y directo. Igualmente, el cambio de inspQOCin reducida a normal es claro y
ocurre tan pronto haya indicacin de que la calidad ha desmejorada.
Pero para cambiar de normal a reducida, se requiere considerablemente
mayor evidencia que,
en los otros casos. El estndar ABCestablece
las siguientes 4 condiciones para un cambio de
inspeccin normal a reducida:
2.
3.
La velocidad
4.
La inspeccin
de la produccin
ha sido uniforme,
reducida se considera
conveniente
y
por la autoridad
responsable.
3.12.5
,.
."
'
': -.
1.
':~~i~Si
::<J:,,'~
~rf.)\
En muchas situaciones
no es prctico utilizar muestreo doble o mltiple, o tener dificultades
para soportar la carga que representa la inspeccin variable asociada con el. muestreo doble o
mltiple. Por lo tanto, es necesario usarrnuestreo
sencillo. Sin embargo, al estudiar estas tres
alternativas.
es importante
considerar otros factores adicionales alas diferencias en la cantidad promedio de inspeccin de cada tipodemuestreo.
Veamos algunos de ellos.
1.
Ventajas sicolgicas
del muestreo
doble:
;l.I
utilizar muestreo doble se toma la decisin con base en los resultados obtenidos en dos
muestras. es decir,el
lote tiene "una segunda oportunidad"
de ser aceptado, esto es una
ventaja sicolgica .. Parece ms convincente
decir que el lote se rechaza despus
de dos
muestreos, que decir que se rechaza con la evidencia de un muestreo sencillo.
;\1 utilizar muestreo mltiple ya noes tan categrico afirmar que la tercera,
ta oportunidad,
agregan mayores atractivos que la segunda oportunidad.
2.
'.~
o quin-
Costos de Administracin:
En la medida en
de los inspectores
mltiple y doble,
del tiempo de los
pone un muestreo
i ,~. .'
.:.
cuarta
"
3.
-'. : ...
, I
.'
Requerimientos
de personal y facilidades
de inspeccin:
Utilizacin
del Estndar
-,
de defectos
166
O'
'<,
.~.
r:.
"
s,
en trminos
....
de defectos
~.
,.
'".
El campo ce apiicacin de los planes de muestreo para aceptacin basado en el nmero de defectos. es fundamentalmente
el mismo que el campo de aplicacin de la grfica de control c.
discu tida en cap (tules anteriores.
Cuando se Lisa el nmero de defectos para la aceptacin. todos los niveles de ~~AC contemplados en el estndar ABC pueden usarse. El nico cambio est en la terminologa.
simplemente
se sustituyefa palabra defectuoso
por defectos. y el NAC se interpreta como defectos por
cien unidades. Igualmente. los diferentes niveles de severidad en la inspeccin. o sea. la inspeccin normal. cerrada y reducida se utilizan en !a misma forma usada para la aceptacin basada
en porcentaje defectuoso,
El numere ce defectos por 100 unidades de un lote se indica. dividiendo el nmero total de
defectos encontrados
en la muestra por el nmero total de unidades inspeccionadas
y multiplicando el valor por 100.
i'h~rt:2rG teta: de defectcs
~-----Numero
....:- ~
-------------X
total de unidades
100
inspeccionadas
.:
.,'
"\..;
.i~'~?:
\
......
En definitiva. el procedimiento
para utilizar el estndar ASC es igual, ya sea que. el NAC se
exprese en trminos de defectos por cien unidades o en porcentaje defectuoso.
NACo;o
Clase de Defecto
Cr tic os
0.10
1.50
6.50
Mayores
'Jenores
".
"
Defectuoso
\".
Sencillo
Inspeccin
Ac
Re
Normal
Cerrada
Reducida
80
80
3
2
1
nI
Ac
Re
n2
Ac
Re
50
1
O
O
4
3
4
50
5
4
100
50
20
40
32
3
4
"
50
20
n1
"2
100
167
. : :~',
..
'''o,
.. ".
~ ,. o","
"
":
'
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'
'.~..
...'
'
:,;.. ~'.
,:
..
3.
:~;t~~~
..
:'_
..
'
Mltiple
'
3.1 Inspeccin
Normal
'
Tamao
dela
Muestra
Mu estra
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Sexta
Sptima
20
20
20
20
80
100
120
140
NO SE PERMITE
Ac
Re
*
O
3
3
A ESTE TAMAO
DE MUESTRA
Cerrada
Tamao
de la
Muestra
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Sexta
Sptima
60
20
20
Muestra
20
40
20
* LA ACEPTJl,CION
3.2 Inspeccin
Tamao
acumulativo
de la muestra
Tamao
acu mut ativo
de la muestra
40
20
20
20
LA ACEPTACION
120
140
160
100
20
..,.
4
80
20
Re
O
O
1
2
60
20
20
Ac
..,
.)
.,:
3.3 Inspeccin
Reducida
Tamao
dela
Muestra
Muestra
Primera
Segunda
Tercera
Cuarta
Quinta
Sexta
Sptima
"
:.t.
......
~.~.
8
8
8
8
8
8
8
* LA ACEPTACIQN
El lector,
menores.
168
puede
Tamao
acumulativo
de la muestra
en forma
Re
*
*
3
3
4
5
6
6
7
16
24
32
40
48
1
1
2
56
NO SE PERMITE
similar, establecer
A.c
A ESTE TAMAO
DE MUESTRA
para defectos
crticos
': ,::~:,"::-: ~
.:,~.~~~::;4,'
;
:..: .....,
:.
\,
...1'
':~'"
/----\{E' Jemplo.': 2
,.-
~trol
con muestreo
fijado as:
~.: .- t
Defectos
Defectos
mayores:
menores:
0,650;0
2,50010
l. Inspeccin
Normal
Clase de
Defectos
p..c
Re
Mayores
125
125
3
8
Ac
Re
1
5
2
6
Ac
Re
3
6
Menores
2. Inspeccin
Cerrada
Clase de
Defectos
Mayores
Menores
3.
Inspeccin
?~
1~::J
125
Reducia
Clase de
Defectos
Mayores
Menores
50
50
..
.~.
,-
.'
.
.
"
.'
.,
..
.....
:
"
',
','
La misma muestra se inspecciona tanto para defectos mayores como para menores. Por tanto,
se toma una sola muestra de 125 unidades, si estamos bajo inspeccin normal por ejemplo, y
en todas y cada una de las 125 unidades se inspeccionan
en relacin a las dos clases de defectos.
.'"
.":
a insoeccin,
'
.
,: ..
.. .. ,
Sin embargo, como lo indica el plan, los criterios de aceptacin se aplican en forma diferente
para cada clase de defecto. Por ejemplo, si se tiene inspeccin cerrada, y en la muestra de un
lote se encontraron
6 unidades defectuosas por defectos menores y 1 articulo con defectos
mayores. SDionces el lote_deb.e~eptarse
para defectos mayores, pero se rechaza por co,0,:..._
cee19--de-de.:ec tos.meQ.QL~.
-"'~
"
---Ejemplo
3.
cien metros, se ha convenido con el proveedor un nimenores en cada rollo de 100 metros (ntese que la
Utilizando muestreo doble y un nivel de inspeccin
rollos, el plan MIL-STD-I05D
sera:
169
JO:
Letra Clave:
~ .. '
"'-
Segunda Muestra
Primara Muestra
Muestra Acumulada
Inspeccin
n1
p.,c
Re
n2
Ac
Re
f'!ormai
o
"
3
3
7
5
5
o
"
Cerrada
~
2
8
3
'0
r-
Reducida
")
nI
"z
16
16
6
El plan indica que de un lote de 50 rollos de tela, en inspeccin normal por ejemplo, se tome
una primera muestra ce 8 rolios, si e nmero Ce rollos con ms de 25 defectos menores, es
igualo menor que 3 se acepta el lote sobre la base de la primera muestra slernente, y se recn azar si se encuentran
7 o ms rollos defectuosos.
Pero. si el nmero ce roltos defectuosos
encontrados
en la primera muestra. excede a 3 pero
no es igual a 7 entonces, se debe tomar una segunda muestra de 8 ranos adicionales. y el lote
se aceptar si ei nmero de r otlos defectuosos
en la primera v secunda muestra combinada
(nI + (2):10:::5 ;t;.~ycr cue 8. E! lote se rechazar s'j el nurner o de rollos defectuosos en ' a
muestra total, o sea 16. es igualo rnay or cue 9 rcllcs de tela.
-ty-,-t ....
rrr-
':~;tj?~~;;:;
\.. r--
. Ejemplo
.~;:~;~;~~.~~
~:'~
.
~r .'.
J.
.1;:
'+ ..
_.>~_..,~ .'
Supnqase
que se deseamuestrear
un cereal no empacado. que est almacenado en un silo con
400 toneladas de capacidad. Si por ejemplo se tiene definido que el producto empacado se
presenta en bultos de 50 kq., es decir las unidades de producto son 50 kg., es posible estableC2f un plan de muestreo
reduciendo el nmero de toneladas a unidades de 50 kg.
'-,',
,.,'C't
Conociendo
la capacidad de descarga, se procede a ceterrninar
el tiempo total. El intervalo
de tiempo entre la toma de una unidad de muestra y otra se obtiene dividiendo el tiempo total por el nmero de muestras.
Se tendra
reduciendo
toneladas
a unidades:
N =: 400 x 1.000 =: 400.000 ka; 400.000 -:- 50 =: 8.000 unidades. De tal forma que en este caso, el tamao del lote es de 8.000 unidades. Si se apiica un nivel de inspeccin general 11
y muestreo simple, entonces las tablas MIL-STo-I050 indican que se deber tomar un tamao de muestra de 200 unidades.
,:..:~~;1;
?:,~,;
.
.'
jo siguiente
~'-:::-';~i:'~'\~t~':.l
Si la capacidad
El intervalo
de tiempo
...
..
,,'
=:
de descarga ser:
800 minutos.
ser:
4 minutos
'
Entonces. cada 4 minutos deben tomarse muestras parciales. por ejemplo. cada .una con un
peso entre 50 y 200 g. hasta completar la muestra representativa
del silo, es decir. del lote.
",
, ,. 'v-,
=:
el tiempo
'
..;
,,'.
- .
.....
,.:* ~
\3 _14
Muestreo
para Variables:
Se han estudiado hasta el momento planes de muestreo por atributos. cuando el producto se
clasifica conforme,on
a cierta especificacin.
Este tipo de planes es el que ms se ha aplicadoy sin duda seguir sindolo. no obstante el desarrollo del control estadstico
de calidad
para establecer planes de muestreo de aceptacin por variables.
170
~.
f\:i'/l!les ce inspeccin
Ilr.l:;O tllo:e
o ::H::ca
Sol
.lo,
.-\.
A
.\
.\
A
"2'3-50
,.!..
B
B
B'
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15i-:2;5n
I
I
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DISTRITO CAPITAL DE SANTA FE DE BOGOTA
INSTITUTO DE DESARROLLO
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Anexo C
FORMATOS DE INSPECCION
CONTRATO: IDU-801-99
CODIGo. 17