DIVISIN DE CIENCIAS E INGENIERIAS

Elas Becerra Jorge Arturo

Universidad de Guanajuato

DCI
Metrologa
Obtencin de la topografa de material de estructura regular usando la tcnica de
proyeccin de franjas.
Introduccin:
La tcnica de proyeccin de franjas es una tcnica para la obtencin de
dimensiones tridimensionales muy popular dentro del rea de metrologa
ptica, esto debido a la gran versatilidad y precisin en la obtencin de
topografa de objetos .El mtodo de reconstruccin por proyeccin de franjas
consta de un sistema de proyeccin, un sistema de observacin y un plano de
referencia. La Figura siguiente muestra la geometra ptica de donde se puede
obtener la relacin para la altura del objeto; se proyecta una rejilla con un
perfil cosenoidal paralelo al plano de referencia (z= 0), la normal de la rejilla
proyectada forma un ngulo alfa con respecto al eje ptico. La superficie
es entonces iluminada incoherentemente con una rejilla cosenoidal y observada
por un dispositivo de carga acoplada que tiene la funcin de convertir una seal
luminosa en una seal elctrica.

* Arreglo ptico de un sistema de

proyeccin de franjas.
Fundamento Terico

De lo mencionado anteriormente se intuye la importancia de las tcnicas de

digitalizacin, que son clasificadas en dos grandes grupos: sistemas con contacto
(digitalizadores mecnicos) y sin contacto (digitalizadores laser y sistemas de
visin ptica). Entre las tcnicas sin contacto estn la tcnica de proyeccin de
franja. La adquisicin de datos se realiza en tres etapas: obtencin de la fase por
algunas de las tcnicas como deteccin sincrnica espacial (mtodo directo) o
desplazamiento de fase (phase- stepping), desenvolvimiento de fase y obtencin
de los parmetros del sistema ptico, los cuales estn involucrados en el vector de
sensibilidad, obteniendo as las dimensiones de topografa del objeto analizado en
coordenadas reales
El funcionamiento de un detector CCD se puede resumir as:
Cada pxel de la matriz CCD corresponde a un elemento semiconductor dentro de
un condensador elctrico. Un fotn incidente crea un fotoelectrn cuando da a un
electrn del semiconductor la energa necesaria para pasar el umbral energtico
(gap). Los fotoelectrones son guardados en el pozo de potencial (que no es ms
que un pxel correctamente polarizado). La lectura de estos fotoelectrones es
controlada por la polarizacin de los pxeles, determinada por transistores de
efecto campo. Esta lectura ocurre, o bien directamente mientras un obturador tapa
la objeto (la fuente de luz), o bien por transferencia de trama. En este caso, una
mitad de la superficie del CCD se dedica a recibir la seal, mientras que la otra
solamente ve los fotones durante su trnsito hacia el registro de lectura.

Metodologa:

Parte 1
El previo montaje del sistema ptico nos llev a enfocar la interfaz por medio de
un algoritmo procesado en MATLAB entre la cmara CCD y el ordenador
proyectado en la pantalla.
El enfoque se realiz de forma simple mediante un texto el cual lo pudimos
apreciar de forma clara cuando el enfoque era ya el adecuado.
Parte 2
Como segundo paso comenzamos a correr el programa del desplazamiento en el
patrn de franjas con cambios de fase de pi/2 tomando como referencia la funcin
cosenoidal que fue desde 0 hasta 3/2 de pi. Por lo cual requerimos de la captura
de cuatro imgenes de un objeto regular que en este caso fue una semiesfera de
unicel. Dicho cuerpo fue el que se someti a la reconstruccin en coordenadas
mediante la tcnica de proyeccin de franjas.
Parte 2

Ahora con un ngulo de procedimos a la captura de otras cuatro imgenes ahora

de las mismas franjas proyectadas directamente a la pantalla con los mismos
parmetros de cambios de fase.
Captura de imgenes:
Para la segunda parte capturaros las siguientes imgenes con un ngulo de 33
entre el proyector y la pantalla

pi/2

Pi

3pi/2
Para la tercera parte cambiamos el ngulo de 33 a 25 obteniendo las siguientes
imgenes:

pi/2

pi

3pi/2

Cuestionario:
Qu observaciones tiene con los resultados?
El ngulo entre el proyector y la pantalla al disminuir genera un corrimiento de
franjas con una definicin menor en la captura de la imagen, mientras que con un
ngulo mayor el corrimiento de fase genera una imagen con mejor definicin.
Qu modificara del arreglo para mejorar los resultados?
Incrementar el ngulo de abertura entre el proyector y la pantalla.
Qu otros materiales se podran analizar con esta tcnica?
Cualquier objeto de dimensiones regulares.
Menciones su importancia de la tcnica en la industria:
Existe un concepto llamado ingeniera inversa que consiste en obtener
informacin o un diseo a partir de un producto, con el fin de determinar de qu
est hecho, qu lo hace funcionar y cmo fue fabricado. Entre sus ventajas
estn:
Reducir la complejidad del sistema: al intentar comprender el software se
facilita su mantenimiento y la complejidad existente disminuye.
Generar diferentes alternativas: del punto de partida del proceso,
principalmente cdigo fuente, se generan representaciones grficas lo que
facilita su comprensin.

Bibliografia:

http://www.ejournal.unam.mx/rmf/no514/RMF51414.pdf
http://biblioteca.cio.mx/tesis/15623.pdf