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So Paulo
2002
TRANSFORMADAS DE W A V E L E T S E LGICA F U Z Z Y
NA INSPEO POR EDDY-CURRENT E M TUBOS DE
GERADORES DE VAPOR DE CENTRAIS N U C L E A R E S
SAO PAULO
2002
AGRADECIMENTOS
Ao Prof. Dr. Daniel Kao Sun Ting pela orientao ao longo do trabalho.
Ao Prof. Dr. Belle R. Upadhyaya, mentor do tema desta tese e principal pesquisador da
Universidade do Tennessee, Knoxville - UTK, no projeto de parceria entre a UTK,
patrocinada pela National Science Foundation e o IPEN, patrocinado pelo CNPQ no
projeto "Sistemas de Monitorao e Diagnstico Utihzando Mtodos Avanados de
Processamento de Informao".
aberturas das ptalas das figuras de Lissajous. Alm disso, demonstra-se que a
IV
que
comprovam
viabilidade do
mtodo
proposto.
Foram
extradas
caractersticas usuais dos sinais bem como as novas caractersticas propostas, por meio de
um Programa de Processamento de Sinais (PPS) tambm concebido em MATLAB. Os
resultados da pesquisa das caractersticas extradas dos sinais permitiu determinar as
relaes entre os sinais e os defeitos que foram utilizadas em um sistema Fuzzy de auxilio
deciso. Toda a metodologia foi testada para os arquivos de siais adquiridos e os
resultados do sistema Fuzzy so apresentados para os sinais dos defeitos dos tubos de
Inconel 600 e de ao inoxidvel 316L. Os resultados obtidos permitem concluir que a
metodologia proposta vivel.
VI
signals were pre processed by Wavelets Transforms to remove Data Acquisition Noise,
Material Noise and Lift-off effect and the denoised signal shows that the method is
appropriate. A Feature Extraction Module (PPS) was also developed under a MATLAB
environment to generate the proper characteristics. The signals characteristics obtained by
this module are then correlated with defects and used as inputs to a Fuzzy Logic based
inference engine to help in the diagnosis. The entire methodology was tested using the
Inconel 600 and 316L stainless steel tubes with defects data base. The results show that the
proposed methodology is viable.
vil
SUMARIO
Pgina
1. I N T R O D U O
1.1 Histrico
2 . I N S P E E S D O FEIXE T U B U L A R
11
12
13
14
2.4 Ultra-som
14
2.5 Radiografia
15
15
16
16
22
22
3.3.1
26
33
37
C O E S O m.KmL K ;
mm nmimsp-mi
40
VIU
46
49
50
50
50
50
51
51
52
52
54
5.2.2
45
Tubos de ao inoxidvel
54
54
54
55
55
56
57
58
59
62
68
68
69
71
6.3.1
75
6.3.2
76
6.3.3
77
6.3.4
78
6.3.5
79
80
80
84
85
86
86
87
89
90
92
97
104
109
110
7.1.1
111
7.1.2
Algoritmos nebulosos
111
7.1.3
112
7.1.4
112
112
114
114
115
116
117
7.2.1
118
7.2.2
118
7.2.3
124
7.2.4
124
7.2.5
126
127
131
132
134
7.2.6
Defeitos circunferenciais
137
137
138
139
146
Furos
153
154
154
7.3.3
159
7.3.4
161
162
163
170
170
7.8 Agregao
171
172
172
175
176
176
176
176
177
177
178
183
185
186
186
186
186
187
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
188
192
Xll
AsTc:
C t ^ S O m^m-
Xlll
XIV
XV
LISTA DE SMBOLOS
XVI
V j : conjunto de sub-espaos
X L : componente da Reatncia do sinal (propriedade de um material reagir passagem de
um campo magntico)
Z: Impedncia
a: ngulo de Fase
P: ngulo de defasagem entre as correntes de Foucault senoidais na superfcie e no interior
do material
: Profiindidade de Penetrao [mm] ou Condutividade Eltrica [m/Qmm^]
s: Fator de Enchimento de vima sonda de Eddy-Current em um tubo
(j): funo Wavelet que define detalhes
[i: Permeabilidade Magntica (capacidade de uma material permitir a passagem de
um campo magntico) [H/m]
p: Resistividade Eltrica [|aQ.m]
a: Condutividade Eltrica [S/m]
v|/: funo Wavelet bsica de escala que define aproximaes
<D: Fluxo Magntico [Wb]
co: Freqncia Angular
2/18 D5 (tpico): 2/18 dos coeficientes Ca,b do nvel 5 de decomposio em fi-eqncia.
XVll
LISTA DE TABELAS
Pgina
Tabelai.1: Substituio de Geradores de Vapor at 1994
32
59
144
Tabela 7.2: Relao entre amplitude total e volume dos defeitos (LataoDidOl)
146
157
158
164
166
167
168
168
169
175
182
ucimsF-^pm
XVUl
LISTA DE FIGURAS
10
10
10
17
18
18
19
20
21
23
27
29
31
33
35
36
37
do tubo LatoASME02
Figura 3.16: Indicao horizontal do mdo para o tubo InoxDidOl
38
38
39
39
45
46
XIX
47
48
50
51
52
53
53
54
55
55
56
56
58
62
63
63
64
64
65
Figura 5.23: Seleo das amostras inicial e final para um TRECHO ISOLADO
do arquivo LataoASME02A
66
66
67
69
70
71
Figura 6.4: Coeficientes da resistncia dos sinais dos defeitos do tubo InoxTrocOl
73
74
74
76
XX
77
77
78
79
81
82
83
84
85
85
86
87
88
88
89
Figura 6.23: Resistncia e reatncia do firo passante 0 0,9 mm do tubo InoxDid02 .... 90
Figura 6.24: Impedncia do firo passante 0 0,9 mm do tubo InoxDid02
91
92
93
94
95
96
96
XXI
97
97
99
98
99
100
101
101
102
104
105
102
106
107
Figura 6.45: Reatncia dos defeitos do tubo InoxDid02 com o efeito "Lift-of"
108
Figura 6.46: Reatncia dos defeitos do tubo InoxDid02 sem o efeito "Lift-o"
108
117
117
118
119
120
121
122
123
123
124
XXll
124
125
126
127
128
129
130
Figura 7.18: Leitura das Amplitudes Parciais quando existe reta P2-P3
131
Figura 7.19: Leitura das Amplitudes Parciais quando no existe reta P2-P3
132
133
133
134
135
136
136
137
138
138
140
142
143
144
145
147
149
151
152
154
155
156
Figura 7.41: Furos no passantes profimdidades 20%, 30% e 40% (tubo LataoDid02) ..156
Figura 7.42: Furos no passantes profimdidades 50% a 80% (tubo LataoDid02)
157
XXlll
Figura 7.43: Volume dos defeitos e amplitude dos sinais (tubo LataoDid02)
157
158
Figura 7.45: Volume dos defeitos e amplitude dos sinais (tubo LataoDid03)
159
160
160
162
163
163
Figura 7.51: Entradas e sadas do subconjunto nebuloso ngulo - INT, OUT, PROF
164
Figura 7.52: Entradas e sadas do subconjunto nebuloso Ab, Apt - LOC, EXT
164
164
165
165
Figura 7.56: Funes de pertinncia para o subconjunto nebuloso Ab, Apt - LOC, EXT . .165
Figura 7.57: Funes de pertinncia para o subconjunto nebuloso Ab - SIM, ASSIM
165
166
170
171
171
Figura 7.62: Extrao das caractersticas do sinal do defeito N do tubo de Inconel 600 .172
Figura 7.63: Classificao INTERNO/EXTERNO e determinao da PROFUNDIDADE ...T72
Figura 7.64: Determinao do VOLUME do defeito
173
173
174
174
178
179
179
179
180
180
180
XXIV
181
Figura 7.76: Extrao das caractersticas do sinal do defeito B do tubo InoxTroc02 ....181
Figura 7.77: Corroso do tubo InoxTrocOl
183
184
184
185
1.
INTRODUO
comprometendo
a segurana,
a manuteno preditiva,
a anlise do
COESO
mom. DE Ei&im
mimisp-f^u.
1.1
Histrico
calor. Por outro lado, o passo dos tubos no feke deve ser suficientemente grande para que
a inspeo e a manuteno sejam feitas de maneira eficiente.
Separador de
Umidade
Centrfugo
Carcaa Superior
Feixe Tubular
Carcaa Inferior
Bocal de Entrada de
gua de Alimentao
Pr-Aquecedor
Separao
Espelho
Saida de gua do
Circuito Primrio
Entrada de gua do
Circuito Primario
Os primeiros projetos de usinas levaram em conta que a vida til dos Geradores de
Vapor seria a mesma dos demais componentes do primrio, pois nada naquela poca
sugeria o contrrio. Entretanto, a experincia operacional mostrou ao longo dos anos que
essa considerao no era correta e que os Geradores de Vapor eram muito suscetveis a
falhas (Whyatte/a/., 1995).
A vida tpica dos G V s foi originalmente prevista para 30 a 40 anos. No entanto,
35 Geradores de Vapor em 12 usinas tiveram que ser substituidos nos primeiros 14 anos de
operao devido a problemas no previstos, que no foram resolvidos ou progrediram
(Odare/a/., 1996).
Temas como o envelhecimento, o gerenciamento do envelhecimento e a extenso
de vida (sobre-vida) de componentes tais como os Geradores de Vapor , tm se tornado
cada vez mais importantes e freqentes nos himos 15 anos pois as usinas nucleares tm
licenas de operao limitadas no tempo e decises devem ser tomadas, pois a operao
posterior ao trmino do perodo operacional previamente considerado cada vez mais
provvel. Nesse contexto, deve-se avaliar criteriosamente essa operao e em quais
condies ocorrer.
A anlise do envelhecimento basicamente demonstra a integridade de um
componente e garante, dessa forma, sua segurana operacional (Bartonicek et al, 1996).
Considera, primeiramente, que o seu estado de qualidade, ou seja, seu estado de integridade
suficiente para atender as solicitaes a que o componente submetido. A seguir,
considera o estabelecimento de um conjunto qualificado de monitoraes que garante a
operao fijtura e a limitao de possveis mecanismos de falha.
As licenas de operao das usinas nucleares somente devem ser fomecidas se a
condio de segurana for regularmente atualizada.
A garantia da segurana pode ser obtida por meio do estabelecimento de uma base
de segurana e de sua verificao atravs de redundncias independentes.
A base de segurana utiliza os princpios da qualidade total aplicados ao projeto,
aos materiais e fabricao.
A verificao
da segurana por
meio
de redundncias
independentes
falha operacional sejam monitorados e considerados continuamente. Alm disso, deve ser
levada em conta qualquer evoluo de conhecimento sobre o assunto.
A fabricao importante no estabelecimento da condio de segurana de um
componente e sua integridade s poder ser comprovada se existir um controle eficiente da
composio e do comportamento dos materiais, bem como de todos os detalhes
construtivos.
As concluses sobre a integridade de um componente aps um determinado
perodo de operao so tomadas em fiino do conjunto de consideraes de projeto
associadas s de fabricao e operacionais.
Os Geradores de Vapor so equipamentos fiandamentais em usinas PWR. Mais de
30 anos de experincia na operao de usinas mostram que a confiabilidade dos G V s afeta
significativamente a disponibilidade e o desempenho geral da usina, gerando custos no
previstos que a indstria nuclear tem que absorver.
Os problemas de corroso ou degradao mecnica fi^eqentemente levam
realizao de manutenes preventivas ou corretivas que so onerosas em termos de
trabalho de reparo, perda de potncia e exposio do pessoal envolvido radiao. O
nmero de tamponamentos de tubos realizados nessas manutenes tm excedido os
valores previstos (da Silveira, 2002). Alm disso, o tempo gasto em uma inspeo ou
parada no prevista ou mais demorada, tambm leva a considerveis prejuzos aos usurios,
acionistas e clientes, resultantes da falta de disponibilidade da usina.
Somente nos Estados Unidos, os Geradores de Vapor foram responsveis por uma
mdia de 3,4% do Fator de Perda de Capacidade (FPC) de 1975 a 1994 (Odar e al., 1996).
Entre 1975 e 1988, paradas no previstas de Geradores de Vapor resultaram em perdas de
gerao da ordem de 135 milhes de MWh em todo o mundo (Blomgren, 1990).
A Figura 1.2 apresenta a evoluo do Fator de Perda de Capacidade ao longo dos
anos nos Estados Unidos, devido a problemas nos Geradores de Vapor, incluindo
substituies.
As aes corretivas promovidas pelos fabricantes vo de melhorias operacionais a
onerosas harmonizaes de projeto, materiais estruturais e da quimica da gua, visando a
melhoria do desempenho e reduo do envelhecimento precoce do equipamento.
Muitos
fabricantes
buscam
aumento
do
desempenho
operacional,
1975
1980
1985
1990
1995
2000
Ano
fabricantes
buscam
aumento
do
desempenho
operacional,
de Vapor
, atualmente,
equipamento
crtico quanto
ao
1.2
tlori/ontail
V
(Vertical!
10
Figura 1.4:
Figura 1.5:
DANOS DO LADO
DO SECUNDARIO
COESO
mzKm.. Dt ME-K^,
wxbmp-iPii
11
2.
INSPEES DO F E I X E TUBULAR
12
depende
das propriedades
fsicas
do material,
da geometria do componente
2.1
Inspeo Visual
considerado um mtodo primrio nos programas de controle da quaUdade e o
mtodo mais simples de inspeo que existe. de fcil execuo, babeo custo e no requer
equipamento especial. A inspeo visual requer boa viso, boas condies de ilvmiinao e
experincia no reconhecimento de defeitos. Alguns equipamentos tambm podem ser
utilizados tais como lentes de aumento, boroscpio, cameras de televiso, etc.
A inspeo visual largamente utilizada na inspeo de componentes ou juntas
soldadas, onde
uma
rpida
No entando, o olho himiano capaz de identificar somente defeitos superficiais maiores que
60 \xm. Alm disso, a forma construtiva do feixe tubular, com milhares de tubos, impede a
viso dos tubos internos do febce e no possvel visualizar o interior dos tubos. A
utilizao de sondas endoscpicas poderia contornar esse problema, porm as incrustaes
no interior do tubo e, em especial aquelas que se depositam em fissuras, tomam o emprego
da viso pouco relevante. A utilizao de reveladores de defeitos nas inspees que utilizam
Lquidos Penetrantes (LP) no contribui para solucionar a faha de acesso visual grande
maioria dos tubos do GV.
Defeitos menores que 60 ^im necessitam de outras tcnicas de inspeo tais como
os ensaios de Partculas Magnticas (PM) e Correntes Parasitas, de Foucoalt ou EddyCurrent, que so os ensaios no destmtivos baseados em princpios magnticos mais
13
utilizados, embora a Inspeo Visual possa ser utilizada em condies especiais para
complementao/confirmao de diagnsticos de defeitos superficiais.
2.2
Partculas Magnticas
314/316),
titnio e ligas de
cobre e alumnio (lato). A unidades mais utilizadas para fluxo magntico so: Weber,
Gauss, Wester e Mios.
Os materiais diamagnticos so aqueles materiais cuja permeabilidade magntica
menor que 1 (^ < 1 H/m). Esses materiais (por exemplo, o cobre, a prata e o ouro), so os
melhores condutores de eletricidade mas a permeabilidade magntica muito baixa e at
repelem o campo magntico.
14
A inspeo por partculas magnticas depende da visualizao da aglomerao das
partculas inviabilizando a sua aplicao a feixes tubulares. Alm disso, no vivel a
utilizao de partculas magnticas (p de ferro) no interior de um GV onde a limpeza um
fator de grande importncia.
2.3
Lquido Penetrante
2.4
Ultra-som
15
2.5
Radiografa
2.6
Emisso Acstica
16
3.
3.1
17
CAMPO MAGNTICO
SECUNDRIO
TUBO
SENTIDO DA CORRENTE
SECUNDARIA
formas
18
V(t)
V
90
(3.1)
19
Na expresso 3 . 1 , Lea indutncia que, por sua vez, dada pela expresso:
L = N2/9T
Neo
Na expresso da indutncia.
(3.2)
= N
I/9T
(3.3)
O fluxo magntico varivel gerado pela corrente alternada que passa pelo circuito,
gera uma fora eletromotriz (fe.m.) induzida que gera as correntes de Foucault. A
relutncia total a somatria das reaes dos diversos meios atravessados pelas linhas de
fluxo. A Figura 3.1 apresenta as linhas de fluxo geradas por sondas circunferenciais
utilizadas nas inspees por Eddy-Current em tubos de Geradores de Vapor.
A relutncia total dada pela equao ( 3 . 4 ) onde / o comprimento, |a a
permeabilidade magntica, S a rea e a,b,c... so os meios atravessados pelas linhas de
fluxo.
5T=/a/llaSa
/b/^bSb
/ C / M C S C +
....
(3.4)
VRCI)
VxL(t)
V(t)
20
(3.5)
X L so
(3.6)
X L + R
ou
Z
(3.7)
= J X / + R ^
X L = I M A G (Z)
R = REAL(Z)
condutividade
eltrica
(a)
propriedade
do
material
que
afeta
significativamente a impedncia.
A Figura 3.6 ilustra a passagem de uma sonda por um defeito volumtrico de um
tubo de Inconel 600 e a correspondente formao da figura de Lissajous.
CCPS50 m^om.
oe EUW^^ Mici..BWSP-irM
21
MPEOANCMOOOEFBTO EtaMOdOSBftmmlflaOl
^>S
-o*
-0-4
42
0.4
-OS
-0
-04
-02
0.2
D4
OB
-0.
-0 0
-o*
-02
02
NPEOANCtADODrarO E I
-OB
-08
-04
-02
02
0,4
00
22
Na regio do defeito, no lugar de existir ao, cuja condutividade eltrica
ao =
ocorre uma reduo nas correntes parasitas e diminui o fluxo magntico secundrio. Como
conseqncia da reduo da impedncia total do circuito a tenso na bobina aumenta. As
variaes da tenso e do ngulo de fase esto diretamente relacionadas com as dimenses
do defeito.
3.2
apropriada entre o dimetro intemo do tubo e o dimetro extemo da sonda pois a superfcie
interna do tubo irregular podendo conter incmstaes ou
8 = ^
de quantificar
a quaUdade do
acoplamento
3.3
Sondas de Eddy-Current
23
24
Grupo B: defeitos com componente axial tal como o desgaste localizado. As sondas devem
ser compensadas para os efeitos circunferenciais de expanses, placa suporte e depsitos
uniformes, permitindo a deteco de defeitos localizados freqentemente mascarados por
rudos.
Grupo C: defeitos com orientao circunferencial e pequenos defeitos que exijam alta
resoluo, problema muito comum na industria nuclear.
Grupo D: fissuras circunferenciais ou axiais dentro ou fora de tubos e mangas ou buchas em
tubos que exigem a mesma sensibilidade da sonda.
Existem diversos tipos de sondas de Eddy-Current dispom'veis no mercado. A
utilizao de sondas padro industrial em tubos de Geradores de Vapor pode levar a
problemas srios como os relatados na Steam Generator Newsletter (1996). De acordo com
essa referncia, em 1991, a Unidade 2 da Usina Nuclear de Bruce foi desligada devido a
problemas de vazamentos nos tubos do Gerador de Vapor, oriundos de corroso assistida
por concentrao de tenses na superfcie extema dos tubos. A inspeo padro industrial
falhou na localizao de defehos, exceto nos casos em que a fratura estava completamente
propagada atravs da parede do tubo, j com vazamento. O baixo rendimento da sonda
industrial de Eddy-Current foi atribudo a severas distores e obscurecimento de sinais de
trincas existentes em locais onde os tubos apresentavam sees deformadas e por variaes
nos depsitos de magnetita na superfcie intema dos tubos no local das fissuras.
As correntes parashas que as bobinas das sondas induzem nos tubos inspecionados
so orientadas circunferencialmente. Infelizmente, pequenas fissuras circunferenciais no
mteragem bem com as correntes parasitas geradas pelas bobinas tomando estas sondas
pouco sensveis a este tipo de fissuras. Devido a esta caracterstica indesejvel das bobinas
das sondas, so utilizadas em todo o mundo sondas do tipo bobina-panqueca rotativa
(rotating pancake coil - RPC) que possuem um dispositivo de atuao mecnica que gira a
sonda circunferencialmente para a inspeo de tubos nos quais se suspeita que existam
fissuras circunferenciais. As correntes parasitas mduzidas por estas sondas possuem
componentes circunferenciais e axiais que interagem com as fissuras orientadas em todas as
direes.
Joubert et al. (2001) utilizaram uma sonda dotada de 16 bobinas radiais defesadas
de 22,5 e montadas entre duas bobinas axiais. A sonda foi testada em 4 tubos de
Inconel 600 e apresenta as funes de transmisso e recepo separadas, ou seja, as bobinas
axiais so usadas como excitadoras e o conjunto de bobinas radiais usado para amostrar a
25
A freqncia de inspeo utilizada foi de 240 kHz e foi utilizado um dispositivo
mecnico que deslocou a sonda ao longo do tubo proporcionando uma freqncia de
amostragem de uma amostra por milmetro.
Segundo os autores, o sistema proposto alia a localizao circunferencial
de
defeitos alta velocidade de inspeo pois permite um posicionamento espacial mais preciso
e no apresenta o inconveniente da rotao da sonda, o que consome um tempo excessivo.
Essas bobinas detectam bem defeitos internos ou extemos, axiais ou circunferenciais
em profimdidades de 40% a 100% da espessura da parede do tubo. No entanto, defeitos de
10% a 20% de profimdidade so precariamente detectados, especialmente quando orientados
circunferencialmente, devido ao processo de fabricao do tubo que cria deformaes
internas na parede do tubo e induz um mdo de alta magnitude (baixa freqncia), e que toma
elevada a relao rudo/sinal do defeito.
Todos os defeitos dos 4 tubos utilizados foram detectados e localizados com um erro
menor que 5 mm na direo axial e 22,5 na direo circunferencial. No entanto, os defeitos
orientados axialmente tiveram detectadas apenas as suas extremidades levando a uma
possvel interpretao errada da existncia de 2 defeitos circunferenciais. Tal limitao foi
contomada pela utilizao simultnea de bobinas axiais com bobinas radiais.
A utilizao da sonda proposta bastante promissora e os autores apresentam que
est em fabricao uma sonda com 32 bobinas radiais, visando a melhoria da preciso na
localizao circunferencial, o que tomar a sonda de constmo ainda mais complexa.
3.3.1
26
ou seja,
so bons "condutores"
de
magnetismo.
A inspeo por Eddy-Current pode usar as seguintes formas para a montagem das
bobinas;
Diferencial autocomparvel: neste tipo de montagem, o campo magntico da primeira
bobina comparado com o campo magntico da segunda bobina de uma mesma sonda de
inspeo.
Diferencial por comparao extema: neste mtodo, o campo magntico de uma das bobinas
da sonda de inspeo comparado com o campo magntico da bobina de uma outra sonda
que est em um outro tubo sem defeitos.
3.4
Freqncia de inspeo
27
1,0
x/
oc e P sen(<Bt-p)
onde,
(3.9)
(3.10)
28
reduo
da densidade
de
correntes
para
1/e
(e=2,7183),
ou
= 50
(3.11)
permeabilidade
^ o = 47c10-^ [H/m].
A equao da profundidade padro estritamente correta apenas para materiais
infinitamente espessos e para campos magnticos planares. A profundidade de penetrao
padro calculada segundo a expresso anterior deve ser considerada mais como um
parmetro do material do que como uma medida verdadeira da penetrao das correntes
parasitas.
As inspees por Eddy-Current utilizam basicamente os mtodos de freqncia
nica e de multi-fi-eqncia.
No mtodo de freqncia nica, so utilizadas correntes com apenas uma
freqncia na bobina de teste. Este mtodo se aplica satisfatoriamente na determinao da
composio de ligas, estrutura cristalina, determinao de dureza e teor de ferrita. Tambm
se aplica na medio de variaes dimensionais em barras, chapas e esferas bem como na
deteco de defeitos tais como trincas. Neste mtodo, utiliza-se a tcnica de discriminao
de fase com o objetivo de suprimir algumas interferncias indesejveis. No entanto, este
mtodo no se aplica inspeo de tubos de Geradores de Vapor onde os suportes geram
sinais de grande amplitude, impedindo a deteco de defeitos nessa regio.
O mtodo de muUi-fi-eqncia, ou seja, a utilizao de vrias freqncias em uma
mesma inspeo, utilizando para isso vrios canais do aparelho de inspeo, mais
apropriado para a inspeo de tubos de Geradores de Vapor pois a utilizao do princpio
da passagem pela bobina de teste de correntes com mais de uma fi-eqncia contorna o
problema da introduo de grandes sinais causados por elementos estruturais, outros objetos
metlicos ou materiais adjacentes. A partir de duas freqncias possvel inspecionar de
forma eficiente os tubos nas regies dos suportes e dos espelhos onde so gerados grandes
29
sinais que impedem a deteco de defeitos que normalmente surgem nos tubos nessas
regies.
A freqncia bsica de inspeo calculada com base na profiindidade de gerao
das correntes parasitas e nas propriedades magnticas do material, mas tambm depende de
uma resposta adequada para os sinais dos diferentes defeitos artificiais do tubo de
calibrao padro ASME (vide Figura 5.5).
De acordo com o Cdigo ASME (1992), Seo V, Ensaios No Destrutivos, a
freqncia bsica de inspeo do aparelho de Eddy-Current deve ser ajustada de forma que
o ngulo de fase do sinal gerado pelos 4 fiiros cegos de fimdo plano (defeitos "G" da Figura
5.5), com profimdidade de 20 % da espessura da parede do tutx), esteja de 50 a 120, no
sentido horrio em relao ao ngulo de fase do sinal do fiiro passante, (defeito "C" da
Figura 5.5), cujo valor deve ser 40. Essa diferena entre os ngulos de fase do fiiro
passante e dos 4 fiiros cegos conhecida como "espalhamento", conforme apresentado na
Figura 3.9 para o tubo de Inconel 600.
10
8
6
FURO
PASSANTE
S0a120 graus
4 FUROS
CEGOS
"ESPALHAMENTO"
4
2
40
graus
N
7
CO
-2
-4
-6
-8
-10
-10
-8
-6
-4
-2
10
Volts
10p
^120
(3.12)
30
onde,
f.1 2 0
0 1,0 mm
ASTM A-249-316L (tubo InoxASIVIE02), nas freqncias de 310 kHz, 330 khz, 350 kHz,
370 kHz e 400 kHz, cujos resultados so apresentados na Figura 3.10. O intervalo de
amostras de cada sinal foi selecionado de forma que o rudo do sinal tambm fosse
apresentado.
A freqncia bsica de inspeo f.^^o de 350 kHz foi calculada para esse tipo de
tubo em fiano da resistividade eltrica (83,5 |j.0.cm) e da espessura da parede (1,24 mm ou
0,049 pol.). O aparelho de inspeo MIZ-17ET foi calibrado para essa freqncia com um
ngulo de fase de 40.
A calibrao do aparelho de inspeo tambm foi realizada de forma a obter valores
altos de tenso para a componente da reatncia do sinal do fijro passante, mesmo
comprometendo parte dos sinais dos demais defeitos do tubo devido saturao dos sinais. O
objetivo dessa calibrao foi gerar figuras de Lissajous de tamanho apropriado para
comparao visual correspondentes ao fliro passante nas diversas freqncias de inspeo. A
calibrao, feita para a freqncia de 350 kHz, no foi alterada para as demais freqncias de
modo a no comprometer as comparaes das figuras de Lissajous dos defeitos.
As figuras de Lissajous apresentadas no apresentam o formato de um "8" pois o
sinal contm um ruido caracterstico da inspeo desse tipo de tubo alterando fortemente a
componente da resistncia.
31
REATNCIA
IMPEDNCIA lnoxASME02A
RESISTENCIA
10
130
150
130
15D
mm
mm
REATNCIA
RESISTNCIA
-10
-5
O 5
Volts
10
IMPEDNCIA lnoxASME02E
10
o
>
>
REATNCIA
RESISTENQA
IMPEDNCIA lnoxASME02M
10
>
-5
160
REATNCIA
RESISTENCIA
-10
-10
-5
0
Volts
10
IMPEDNCIA lnoxASME02l
10
160
-10
-5
0
Volts
32
O tubo ASTM A-249-316L fabricado a partir de uma tira de chapa retangular que
transformada
mecanicamente
em
um
cilindro
que
posteriormente
fechado
AMPLITUDE TOTAL
310 kHz
39
8,9 V
330 kHz
39
8,7 V
350 kHz
39
8,4 V
370 kHz
37
8,5 V
400 kHz
40
8,7 V
O ngulo de fase foi medido entre a reta que une os pontos extremos da figura e a
reta mdia da resistncia que coincide com o mido do sinal. Esse mido, caracterstico do tubo
inspecionado, apresentado na Figura 3.11 como uma grande concentrao central em forma
de "via lctea". Essa concentrao est inclinada nas inspees realizadas com 310 kEIz,
330 kHz, 370 kHz e 400 kHz pois a calibrao da aparelhagem no foi aherada para essas
fi-eqncias de forma a no comprometer a comparao feita.
33
A amplitude total foi medida entre os extremos de cada figura, de acordo com a
tcnica usual de medio em inspees por Eddy-Current.
Observa-se na Tabela 3.1 que o ngulo de fase e a amplitude total so praticamente
constantes, pois as figuras de Lissajous apresentadas so de inspees de furos passantes de
dimetro constante.
310 kHz
330 kHz
350 kHz
370 kHz
400 kHz
D
Volts
Figura 3.11: Comparao das figuras de Lissajous do fliro passante 0 1,0 mm do tubo
InoxASME02 para diversas freqncias de inspeo
de
amostragem mxima de 8.000 Hz ou seja, 8.000 amostras por segundo quando habilitado
34
35
REATNCIA DOS DEFEITOS
10|
.
,
T U B O InoxDidOl
V E L O C I D A D E 0,11 m / s
D
A
WS
1000
2000
4000
5000
1000
2000
3000
4000
5000 E
Amostras
T U B O InoxDidOl
4i
O
S 10
1000
2000
3000
4000
1000
200
3000
6000
T U B O InoxDidOl
5000
9000
10000
VELOCIDADE 0 . 1 1 m/s
7000
9000
10000
VELOCIDADE 0 , 1 5 m/s
1
6000
T U B O InoxDidOl
4000
7000
5000
6000
Amostras
T U B O InoxDidOl
7000
8000
9000
VELOCIDADE
7000
1D00C
O.IS m/s
0000
5 D -
:>
-5 -10 0
1000
4000
2000
6000
6000
T U B O InoxDidOl
7000
BOO
9000
10
V E L O C I D A D E 0 , 3 5 m/s
5
o
0 -
>
-5 -10 D
1000
200O
3000
4000
5000
6000
Amostras
7000
0000
9000
101
36
DEFEITO 'A- InoxDidOl VEL.0,11 mfc
-4
-3
Vos
DEFEITO TP InoxDidOl VEL.0,1Smfc
Vote
DEFEITO "H- InoxDidOl VEL.0,36mfe
-ID
.8
.6
-3
10
Volt
DEFEITO T InmDidOt VEL. 0,35 mfc
onde,
(3.13)
(3.14)
37
PRIMEIRO
QUADRANTE
QUARTO
QUADRANTE
| 0
SEGUNDO
QUADF?ANTE
TERCEIRO
QUADRANTE
-2
O
Volts
38
10|-
8
S
4
2
ENTALHE
INTERNO 10%
O)
"
>
- 5 graus
-2
-4
-6
-8
-IQL
-10
-4
-2
10
Volts
sinal
do
profimdidade de 20 % da espessura da parede do tubo, deve ser ajustado de forma que fique
aproximadamente a 5 do eixo horizontal da tela, conforme apresentado na Figura 3.15. Esse
sinal corresponde ao entalhe circunferencial interno do tubo LataoASME02.
A linha mdia do sinal resultante do ruido deve ter uma inclinao mxima de
5a 10, conforme apresentado na Figura 3.16. Esse sinal corresponde ao liro passante 0 2,0
mm do tubo InoxDidOl.
39
No processo de calibrao, ajustes so feitos para que cada defeito do padro ASME
gere uma figura de Lissajous cujo ngulo de fase atenda curva de calibrao apresentada na
Figura 3.17.
PROF.
(%)
80
100
120
140
160
180
NGULO DE FASE (GRAUS)
FURO
PASSANTE
FUROS
PROFUNDIDADES
4 FUROS
^.VARIVEIS
-10
-10
-8
-6
-4
-2
0
VoHs
CEGOS 20^*
10
40
4, O ESTADO DA A R T E NA L O C A L I Z A O ,
CLASSIFICAO E DIMENSIONAMENTO
DE DEFEITOS E M TUBOS
41
do sinal do defeito medido em 3 freqncias. Esse trabalho tem como objetivo o tratamento
do principais tipos de defehos encontrados em feixes tubulares de Geradores de Vapor tais
como IGA - Intergranular
Corrosion
Cracking (Corroso sob Tenso), PIT - Pitting (Desgaste Localizado) e danos na regio das
placas de suporte dos tubos. O trabalho apresenta bons resuhados porm no parte de um
banco de dados prprio e no considera as informaes que as figuras de Lissajous podem
fornecer para o diagnstico dos defeitos.
Um dos problemas encontrados por Upadhyaya et al. (1997, 1998 e 1999) foi a
utilizao de dados de campo fomecidos pelo EPRI causando disperso nos seus trabalhos de
anlise e processamento de sinais devido inexistncia de dados de defehos conhecidos. Na
rea de processamento de sinais, a linha adotada seguiu uhimamente para a utilizao
simples da tcnica do "Zero-Crossing", que a localizao dos pontos de inflexo do sinal
original.
Wilson et al. (1998), apresentam as bases para o desenvolvimento de um sistema
Neuro-Fuzzy aplicado anlise da performance de G V s com tubos tamponados como
conseqncia de inspees de Eddy-Current onde abordam a influncia do aspecto subjetivo
no processo de deciso quanto ao tamponamento de tubos.
Chen et al. (1998), apresentam uma proposta de utilizao de Transformadas de
Wavelets, aplicadas ao tratamento da componente da reatncia dos sinais dos defeitos de
tubos de Geradores de Vapor, com o objetivo de remover os midos e o efeho da flutuao da
sonda ("Lift-ofF'). Segundo esses autores, a componente DC do sinal contm o efeho do
"Lift-ofF' e os detalhes em freqncia da decomposio do sinal contm os sinais dos
defeitos bem como o mido de alta freqncia. Os autores expem a necessidade de tratar o
sinal de forma a retirar todas as componentes em freqncia indesejveis e que dificultam a
deteco de defeitos aumentando o SNR (Relao Sinal Rudo) e facilhando o emprego de
outras tcnicas de reconhecimento. A reatncia dos sinais decomposta em vrios niveis
com as Transformadas de Wavelet Daubechies 3 e 10. A recomposio dos sinais feita
aps a retirada de coeficientes das diversas freqncias de decomposio. Os autores
apresentam resultados satisfatrios para o sinal de um defeito com profimdidade maior que
60% de um tubo de Inconel 600.
Joubert et al. (2001), apresentam um sistema de deteco e localizao de defehos
internos e extemos, em tubos de Inconel 600, com bobinas radiais e axiais, cujos sinais so
processados por meio de Transformadas de Wavelets Contnuas para detectar pequenos
42
internos
extemos
produzidos
por
eletro-eroso
orientados
axial
ou
comprovada neste trabalho, porm somente com a utilizao da fimo prottipo wavelet
Morlet e sem especificar qual wavelet da famlia Morlet foi utilizada. Alm disso, o artigo
trata apenas da localizao de defeitos sem relacionar as caractersticas do sinal com as
dimenses do defeho.
Li et al. (2002), propem um mtodo de fiiso de componentes da reatncia de
sinais obtidos em mhiplas fi-eqncias e tratados com Transformadas de Wavelets. Os
autores utilizam dois corpos de prova de material ferroso em forma de placa retangular, com
ranhuras transversais nas duas superfcies e com dimenses no informadas. Foi utilizada
uma sonda absoluta e um disposhivo mecnico para movimentao da sonda. Os sinais
gerados foram adquiridos em um PC. Apesar de no terem sido utilizados tubos, esse
trabalho de interesse devido ao uso da fiino Wavelet Daubechies 10 devido sua
regularidade para decompor o sinal e remover o efeito de "Lift-off' ou flutuao da sonda.
Posteriormente, o sinal recomposto por Transformadas de Wavelets Discretas Inversas e
decomposto novamente em 5 nveis de fi-eqncia com a Transformada de Wavelet
Daubechies 3, que apresenta uma boa caracterstica de localizao espao-fi-eqncia. Essas
escolhas foram fehas pelos autores por apresentarem bons resultados. Foram utilizadas
mhiplas fireqncias para explorar o efeho superficial das correntes parashas e determinar a
profundidade dos defehos. A fuso de dados unidimensionais feita aps a decomposio e
recomposio dos sinais segundo 4 critrios: seleo da amplitude mxima, mdia, mdia
ponderada e combinao de sinais de diferentes fi-eqncias.
Grman et al. (2001), utilizam Transformadas
43
tubulares de Geradores de Vapor tais como placa suporte, curva e espelho, alm de defeitos
artificias. A localizao de defeitos realizada pela determinao dos mximos coeficientes
de escala e posio da Transformada de Wavelet que melhor se acopla aos sinais
experimentais adquiridos. Segundo os autores, a Transformada de Wavelet Gaussiana a
mais apropriada para essa fmalidade. utilizado um algoritmo para distinguh pseudo
mximos de mximos efetivos. Os autores propem a utilizao dos coeficientes de escala e
posio para classificar os sinais e relacion-los com os elementos dos feixes tubulares
(curvas, placa e espelho). As anlises apresentadas oferecem resultados satisfatrios mas
especficos para o disposhivo utilizado. Sinais reais tm os resuhados afetados pelo
movimento de "Lift-ofF' da sonda e cogitada a remoo do ruido antes da utilizao do
algoritmo proposto.
A anlise dos trabalhos publicados na rea de diagnstico de defehos por meio de
inspees por Eddy-Current, leva s seguintes concluses:
- a utilizao de Redes Neurais, por se tratar de um treinamento supervisionado, embora
promissora, necessita de uma forte base de conhecimento fundamentada em experimentos
realizados com objetivos especficos;
- a Transformada de Wavelet uma foramenta importante para o processamento de sinais de
Eddy-Current;
- o rudo nos sinais afeta significativamente o processo de deciso para a localizao e o
dimensionamento de defehos, podendo inviabilizar a inspeo se no for removido;
- a Lgica Nebulosa ou Fuzzy uma ferramenta aplicvel ao processo de deciso;
- somente Yan et al. (1995) sugerem a utilizao de figuras de Lissajous com o objetivo de
classificar e dimensionar defehos porm no evoluem nesse sentido; e,
- a aquisio de sinais de inspees em condies controladas de laboratrio, bem como a
interao com inspetores de correntes parasitas, so vitais para a formao de uma base de
conhecimento slida que direcione novas metodologias.
Com base nessas concluses, este trabalho de pesquisa baseado nas seguintes
premissas:
- domnio da tcnica de inspeo por Eddy-Current atravs da interao com inspetores e
empresas dessa especialidade bem como o acompanhamento de inspees nos Geradores de
Vapor da Usina Nuclear de Angra I;
- criao de um banco de dados de sinais de inspees realizadas em tubos experimentais de
laboratrio e em tubos de campo;
44
45
artificiais
CAIXA DE
CONECTORES
APARELHO
DE
INSPEO
PLACA
A/D
TUBO:
46
A seguir sero apresentados os aparelhos e os tubos utilizados nesta pesquisa, os
arquivos de sinais adquiridos com os respectivos parmetros de aquisio e a descrio do
MLV.
na
Figura
5.2.
Nessa
oportunidade,
constataram-se
as
dificuldades
^WP W
. B -iSBi
47
REM, representante da Zetec no Brasil. Na Brasitest foram realizadas inspees em tubos de
lato padro ASME com o objetivo de adquirir dados de forma digital.
48
Current. No entanto, por ser de uso freqente em inspees realizadas em todo o Brasil por
essa empresa, a utilizao desse aparelho para fins de pesquisa tomou-se invivel.
Paralelamente aos contatos com a Brasitest, foram feitos contatos com a empresa
de inspeo Interativa, que possui o aparelho Testex Hodking produzido pela empresa Eddy
Current Technology Incorporated. Nesse aparelho, que pode operar com freqncias de
inspeo de 55 Hz a 4 MHz, foram feitas inspees em tubos novos ou usados, de lato ou
ao inoxidvel, utilizando o mesmo hardware utilizado com o aparelho MIZ-40. A utihzao
do aparelho de inspeo da Interativa para pesquisa tambm foi comprometida por
problemas de disponibilidade do aparelho.
Para a soluo definitiva do problema de disponibilidade de aparelhagem para
gerao de dados de inspees de Eddy-Current, foi selecionado para aquisio pelo IPEN
(Instituto de Pesquisas Energticas e Nucleares) da CNEN (Comisso Nacional de Energia
Nuclear), o aparelho de inspeo MIZ-17ET produzido pela Zetec. Este aparelho foi
utilizado na obteno da maior parte dos arquivos que compem o banco de dados prprio
utilizado neste trabalho e apresentado na Figura 5.4 com a cabca de conectores, a placa
A/D, o Lap Top, a sonda de inspeo e o tubo de Inconel 600.
49
Visando a gerao e a aquisio de sinais, foram produzidos por usinagem e eletroeroso defeitos artificiais em tubos de lato ahnirantado ASTM B-111-687, 0 19,05 mm,
0 19,05 mm, espessura 1,24 mm (BWG 18) e em tubos de ao inoxidvel ASTM B-163
600 (Inconel 600), 0 22,22 mm, espessura 1,30 mm (BWG 18).
Tambm foram utilizados 9 tubos de ao moxidvel ASTM A-249-316L, 0 19,05
mm, espessura 1,65 mm (BWG 16) extrados de trocadores de calor.
Cada tubo foi identificado por um cdigo alfanumrico formado por trs campos
referentes ao material, ao objetivo e ao nmero do tubo.
No campo referente ao material do tubo so utilizados os nomes "Latao" ou
"Inox": o material "Latao" ASTM B-111-687 e o material "Inox" ASTM A-249-316L
ou ASTM B-163 600 (Inconel 600).
No campo referente finalidade do tubo utiliza-se "ASME" quando o tubo um
padro de inspeo especificado de acordo com o Cdigo ASME, Seo V, Artigo 8,
Apndice 1, "Did" quando a finalidade do tubo a explorao da relao sinal-defeito, e
"Troc" quando se trata de um tubo extrado de um trocador de calor.
O terceiro campo o nmero do tubo composto por 2 dgitos. A seguir so
apresentados os desenhos e as descries dos tubos utilizados bem como os defehos.
50
5.2.1
T u b o s de lato a l m i r a n t a d o
5.2.1.1
0 19,05 mm, espessura 1,50 mm (BWG 16), com furos cegos (no
5.2.1.2
5.2.1.3
380,0
37,0
40,0
40,0
40,0
40,5
40,5
3 8 , 5 3 , p 38,0
n
.t
o
in
o
\n,0
passante
L6
p r o f .0,3
K^g.O
prof.1,2
r\0g.8
^194,8
prof.0,9
prof.0,6
1,0
prof.0,3
sen escala
prof.0,6
51
380,0
30,0
33,0
37,0 40,0
B
in
o
20,0
20,0
20,0
20,0
40,5 .
40,5
38,53,038,0
0>
\ . o
1,6
prof.0,3
1,0
prof.0,6
possnff
_\0&o
prof.iZ'
pqssttitg proFftg
passante prof.OS?
sen escala
5.2.1.4
5.2.1.5
0 19,05 mm,
espessura 1,50 mm (BWG 16), com 7 entalhes circunferenciais extemos de formas variadas,
produzido por usinagem.
in
52
385,0
105
0,0
1
1
sem escala
1,5
2,0
ENTALHE F
44-
corfe AA
ENTALHE A
60
^4
Li
ENTALHE E
2,3
ENTALHE D
3,0
90
1.6
ENTALHE C
ENTALHE G
ENTALHE B
5.2.1.6
tubo LataoDid02
um tubo
5.2.1.7
tubo LataoDid03
1,50 mm
1,0 mm, 0 2,0 mm, 0 2,8 mm e 0 4,8 mm, todos com profundidade de 50 % da
53
200,0
-Nr
20,0
*A
02.0
H X
A
o
o
i l iH*4f4t
SEM ESCALA
profunddade varivel
de 0.15 a 1.3S
escala 1:1
escala 1t1
corte BB
corte AA
corte CC
(tpico)
escala 2:1
aoo,o
55,0
m
o
ai
30,0
30,0
30,0
55,0
<i}
A Tc~D
1.8 4M
c o r t e AA
escala lil
54
5.2.1.8
O tubo
LataoDid04
um tubo
0 19,05 mm, espessura 1,50 mm, com duas grandes redues de espessura, uma simtrica e
curva e a outra assimtrica e cnica e 3 furos cegos (no passantes) oblongos com 15,0 mm
de comprimento e 0 2,0 mm, 0 2,8 mm e 0 4,8 nmi, todos com profundidade de 50 % da
espessura da parede do tubo (0,75 mm), produzido por usinagem.
225,0
64,0
15,0
20,0
15,0
20,0
15,0
20,0
17,0
13,0
12,0
14,0
in in
o
o
.1
escala Id
S.2.2
5.2.2.1
Tubos de ao inoxidvel
5.2.2.2
55
62,5
37,0
40,0
40,0
40,5
40,0
40,5
. 3 8 , 5 3 038,0
in
c>
IT)
ON
passante
1,6
prof.0,3
prof.0,99
prof.0,75
prof.0,5
Jprof.0,6
U
prof.0,3
sem e s c a l a
5.2.2.3
62,5
37,0
40,0
40,0
40,0
40,5
40,5
3 8 , 5 3 038,0
in
CO
ID
^01,0
, "^'VgE.O
possante
1,6
prof.0,3
^^0e.8
prof.0,99
^^4,8
prof.0,75
1,0
prof.0,6
prof.0,5
^X04.8
prof.D,3
sem e s c a l a
5.2.2.4
56
(0,744 mm) e 80% (0,992mm) da espessura da parede, 4 fiiros passantes 0 1,0 mm,
0 2,0 mm, 0 2,8 mm e 0 4,8 mm e 4 fiiros cegos (no passantes) nos mesmos dimetros,
com profundidades de 50% da espessura da parede (0,62 mm), produzido por usinagem.
625.0
iO.O^0.050,050,0 58,0 23,0
23.0
30,0
30,0
prof.0,992
W.0.49<
30.0
P^MWte
30,0
30,0
30,0
30.0
30,0
prof.0.62
passanfe
prof.0.62
J
sem escala
espessura 1,24 nmi (BWG 18), com 4 defeitos, sendo 2 fiiros passantes de 0 0,9 nmi e 0 1 , 1
mm e dois riscos, um longitudinal e um transversal com profundidade de 0,1 mm, produzidos
por eletroeroso sobre a solda longitudinal.
352,0
55,0
.33.
045,
_40_
32.5
>B
00,9
passante
in
vD
01,1
passante
escala W
c o r t e BB
c o r t e AA
IO
o
57
5.2.2.6
58
395,0
40,0
_ 20,0
DETALHE B
B0.0_ 80,0
80.0
20,0
20,0
20.0
gO,0
mm.
.00,8
in
. 03,5 .
-I <=>
,02,8. ^,
80,0
DETALHE E
in
"2
8)0,5
80,0
DETALHE D
DETALHE C
in
DETALHE G
gO,0
DETALHE F
in
m
ro
.1/5.
01,0
DETALHE H
DETALHE I .
KTALHEJ
DETALHE K
DETALHE L
escala lil
CORTE KK
CDRTE L L
CORTE MM
C O R T E NN
C O R T E DO
5.2.2.7
Tubos InoxTroc 01 a 06
InoxTroc05 - 730 mm
59
5.3
Arquivos de sinais
A base de dados utilizada neste trabalho composta por 107 arquivos de sinais
ARQUIVO
LataoASMEOlA
LataoASMEOl B
LataoASME02A
LataoASME02B
LataoASME03A
LataoASMEOSB
MIZ-17ET
Testex
Hodking
LataoASME03C
IVIZ-17ET
LataoASME03D
MIZ-17ET
LataoASME04A
10
LataoASME04B
MIZ-17ET
Testex
Hodking
11
LataoASME04C
12
LataoDidOIA
MZ-17ET
Testex
Hodking
13
LataoDidOl B
MIZ-17ET
14
LataoDid02A
IVIIZ-17ET
15
LataoDid02B
IVIIZ-17ET
16
LataoDJd02C
IVIIZ-17ET
17
LataoDid02D
IVIIZ-17ET
18
LataoDid02E
MIZ-17ET
19
LataoDidOSA
MIZ-17ET
20
LataoDid03B
IVIIZ-17ET
21
LataoDid03C
MIZ-17ET
22
LataoDld03D
MIZ-17ET
23
LataoDid03E
IVIZ-17ET
24
LataoDid03F
IVIIZ-17ET
25
LataoDid03G
MIZ-17ET
26
UtaoDid04A
MIZ-17ET
MIZ-17ET
Testex
Hodking
MIZ-17ET
Testex
IHodking
SONDAS
2 Sondas
Diferenciais
1 Sonda
Diferencial
2 Sondas
Diferenciais
1 Sonda
Diferencial
2 Sondas
Diferenciais
1 Sonda
Diferencial
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
1 Sonda
Diferencial
2 Sondas
Diferenciais
1 Sonda
Diferencial
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
1 Sonda
Diferencial
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
VELOCIDADE
FREQ.
DE
INSPEO
(kHz)
FREQ. DE
AMOSTRAGEM
(Hz)
GANHO
(Db)
NMERO DE
AMOSTRAS
16
2.000
46
6.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
- 3 segundos
16
2.000
46
6.000
~ 3 segundos
16
2.000
46
5.000
- 3 segundos
16
2.000
34
6.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
~ 3 segundos
11
1.391
52
5.000
- 3 segundos
22
1.391
52
5.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
~ 3 segundos
16
2.000
46
5.000
~ 3 segundos
16
2.000
46
6.000
- 3 segundos
16
2.000
46
8.000
- 4 segundos
16
2.000
34
8.000
~ 4 segundos
16
2.000
58
6.000
- 3 segundos
16
2.000
58
5.000
- 3 segundos
16
2.000
58
5.000
- 3 segundos
16
2.000
52
5.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
- 3 segundos
16
2.000
34
5.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
~ 3 segundos
16
2.000
46
5.000
- 3 segundos
16
2.000
58
5.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
- 3 segundos
16
2.000
46
5.000
- 3 segundos
ou TEMPO
DE INSPEO
60
ARQUIVO
APARELHO
DE
INSPEO
27
LataoDld04B
MIZ-17ET
28
LaJaoDid04C
MIZ-17ET
29
LataoDid04D
MIZ-17ET
30
LataoDid04E
MIZ-17ET
31
LataoDid04F
MIZ-17ET
32
LafaoDid04G
MIZ-17ET
33
InoxASMEOlA
MIZ-17ET
34
InoxASMEOl B
MI2-17ET
35
InoxASMEOlC
MIZ-17ET
36
InoxASMEOl D
MI2-17ET
37
InoxASMEOl E
MIZ-17ET
38
InoxASMEOl F
MIZ-17ET
39
InoxASMEOlG
MIZ-17ET
40
InoxASMEOl H
MIZ-17ET
41
InoxASMEOl 1
MIZ-1 / t 1
42
InoxASMEOl J
MIZ-17ET
43
InoxASMEOl K
MIZ-17ET
44
InoxASMEOl L
MIZ-17ET
45
InoxASMECIM
MIZ-17ET
46
InoxASMEOl N
MIZ-1 / b 1
47
InoxASMEOlG
MIZ-1 tb 1
48
InoxASMEOl P
MIZ-17ET
49
InoxASMEOl Q
MIZ-17ET
50
InoxASMEOl R
MIZ-17ET
51
InoxASMEOl S
MIZ-17ET
52
InoxASMEOl T
M1Z-17ET
53
lnoxASME02A
MIZ-17ET
54
lnoxASME02B
MIZ-17ET
55
lnoxASME02C
MIZ-17ET
56
lnoxASME02D
MIZ-17ET
57
lnoxASME02E
MIZ-17ET
58
lnoxASME02F
MIZ-1 /t 1
59
lnoxASME02G
MIZ-17ET
60
lnoxASME02H
MIZ-17ET
61
lnoxASME02l
MIZ-17ET
62
lnoxASME02J
MIZ-17ET
SONDAS
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
FREQ.
DE
INSPEO
(kHz)
FREQ. DE
AMOSTRAGEM
(Hz)
GANHO
(Db)
NMERO DE
AMOSTRAS
VELOCIDADE
OU TEMPO
DE INSPEO
16
2.000
34
5.000
- 3 segundos
16
2.000
52
5.000
- 3 segundos
16
2.000
34
5.000
~ 3 segundos
16
2.000
34
5.000
- 3 segundos
16
2.000
52
5.000
- 3 segundos
16
2.000
34
5.000
- 3 segundos
310
2.000
34
6.000
- 3 segundos
310
8.000
34
6.000
" 4 segundos
320
2.000
34
6.000
~ 3 segundos
320
8.000
34
32.000
- 4 segundos
330
2.000
34
6.000
- 3 segundos
330
8.000
34
32.000
- 4 segundos
340
2.000
34
6.000
~ 3 segundos
340
8.000
34
32.000
- 4 segundos
350
2.000
34
6.000
- 3 segundos
350
8.000
34
32.000
- 4 segundos
360
2.000
34
6.000
- 3 segundos
360
8.000
34
32.000
- 4 segundos
370
2.000
34
6.000
- 3 segundos
370
8.000
34
32.000
- 4 segundos
380
2.000
34
6.000
- 3 segundos
380
8.000
34
32.000
- 4 segundos
390
2.000
34
6.000
- 3 segundos
390
8.000
34
32.000
~ 4 segundos
400
2.000
34
6.000
- 3 segundos
400
8.000
34
32.000
- 4 segundos
310
2.000
34
6.000
~ 3 segundos
310
8.000
34
6.000
- 4 segundos
320
2.000
34
6.000
~ 3 segundos
320
2.000
34
32.000
~ 3 segundos
330
2.000
34
6.000
- 3 segundos
330
8.000
34
32.000
~ 4 segundos
340
2.000
34
6.000
- 3 segundos
340
8.000
34
32.000
- 4 segundos
350
2.000
34
6.000
- 3 segundos
350
8.000
34
32.000
- 3 segundos
61
ARQUIVO
APARELHO
DE
INSPEO
SONDAS
FREQ.
DE
INSPEO
FREQ. DE
AMOSTRAGEM
(Hz)
GANHO
(Db)
NMERO DE
AMOSTRAS
VELOCIDADE
OU TEMPO
DE INSPEO
360
2.000
34
6.000
- 3 segundos
360
S.0O0
34
32.000
- 4 segundos
370
2.000
34
6.000
- 3 segundos
370
8.000
34
32.000
- 4 segundos
380
2.000
34
6.000
- 3 segundos
380
8.000
34
32.000
~ 4 segundos
390
2.000
34
6.000
- 3 segundos
390
8.000
34
32.000
- 4 segundos
400
2.Q)0
34
6.000
- 3 segundos
400
8.000
34
32.000
~ 4 segundos
360
4.000
34
20.000
- 5 segundos
360
4.000
40
20.000
- 5 segundos
360
4.000
46
20.000
- 5 segundos
360
4.000
52
20.000
- 5 segundos
360
4.000
58
20.000
- 5 segundos
360
2.000
34
10.000
0,11 m/s
360
2.000
34
10.000
0,15 m/s
360
2.000
34
10.000
0,21 m/s
360
2.000
34
10.000
0,29 m/s
360
2.000
34
10.000
0,35 m/s
360
2.000
34
10.000
- 5 segundos
360
2.000
34
6.000
- 3 segundos
360
2.000
34
6.000
- 3 segundos
360
2.000
34
6.000
- 3 segundos
420
8.000
34
32.000
-4 segundos
420
8.000
34
32.000
-4 segundos
200
8.000
34
32.000
-4 segundos
410
8.000
34
40.000
- 5 segundos
410
8.000
40
40.000
- 5 segundos
410
8.000
46
40.000
- S segundos
410
8.000
52
40.000
- 5 segundos
410
8.000
58
40.000
~5 segundos
380
8.000
58
40.000
- 5 segundos
350
8.000
58
40.000
- 5 segundos
440
8.000
58
40.000
- 5 segundos
440
8.000
34
40.000
- 5 segundos
_ I k H ? ) . _
63
lnoxASME02K
MIZ-17ET
64
lnoxASME02L
M1Z-17ET
65
lnoxASME02M
MIZ-17ET
66
lnoxASME02N
WHZ-17ET
67
lnoxASME02O
MIZ-17ET
68
lnoxASME02P
M1Z-17ET
69
lnoxASME02Q
MIZ-17ET
70
lnoxASME02R
MIZ-17ET
71
lnoxASME02S
MIZ-17ET
72
73
lnoxASME02T
noxASME03A
MIZ-17ET
MIZ-17ET
74
InoxASMEOSB
MIZ-17ET
75
lnoxASME03C
MIZ-17ET
76
lnoxASME03D
MIZ-17ET
77
lnoxASME03E
MIZ-17ET
78
InoxDidOIA
MIZ-17ET
79
InoxDidOl B
MIZ-17ET
80
InoxDidOIC
MIZ-17ET
81
InoxDidOl D
MIZ-17ET
82
InoxDidOl E
MIZ-17ET
83
84
85
lnoxDid02A
lnoxDd02B
lnoxDid02C
MIZ-17ET
MIZ-17ET
MIZ-17ET
86
lnoxDid02D
MIZ-17ET
87
lnoxDid03A
MIZ-17ET
88
lnoxDid03B
MIZ-17ET
89
lnoxDid03C
MIZ-17ET
90
lnoxDid03D
MIZ-17ET
91
lnoxDid03E
M1Z-17ET
92
lnoxDid03F
MIZ-17ET
93
lnoxDid03G
MIZ-17ET
94
lnoxDid03H
MIZ-17ET
95
96
97
98
lnoxDld03l
InoxDidOSJ
lnoxDid03K
lnoxDid03L
M1Z-17ET
MIZ-17ET
MIZ-17ET
MIZ-17ET
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
2 Sondas
Diferenciais
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
62
ARQUIVO
APARELHO
DE
INSPEO
99
lnoxDid03M
MIZ-17ET
100
lnoxDld03N
MIZ-17ET
101
lnoxDid03O
102
InoxTrocOIA
103
lnoxTroc02A
104
lnoxTroc03A
105
lnoxTroc04A
106
InoxTrocOSA
107
lnoxTroc06A
MIZ-17ET
Testex
Hodking
Testex
Hodking
Testex
Hodking
Testex
Hodking
Testex
Hodking
Testex
Hodking
5.4
SONDAS
FREQ.
DE
INSPEO
(kHz)
FREQ. DE
AMOSTRAGEM
(Hz)
GANHO
(Db)
NMERO DE
AMOSTRAS
VELOCIDADE
OU TEMPO
DE INSPEO
460
8.000
34
40.000
- 5 segundos
500
8.000
34
40.000
~5 segundos
410
8.000
46
40.000
- 5 segundos
360
2.000
34
10.000
- 5 segundos
360
2.000
34
10.000
- 5 segundos
360
2.000
34
10.000
- 5 segundos
360
2.000
34
10.000
- 5 segundos
360
2.000
34
10.000
- 5 segundos
360
2.000
34
10.000
- 5 segundos
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
1 Sonda
Diferencial
TRECHO
ISOLADO
ARQUIVO
COMPLETO
GRFICOS
DA
RESISTNCIA
E DA
REATNCIA
GRFICO
DA
IMPEDNCIA
SAIR
63
64
* ^ MENU
^ 2 i l
A opo LER DADOS permite a leitura de um dos arquivos listados na Tabela 5.1. A
opo VER DADOS ativa um sub-menu com duas alternativas: ARQUIVO COMPLETO ou
TRECHO ISOLADO , conforme apresentado na Figura 5.20.
*^ MENU
VER DADOS
ARQUIVO COMPLETO
TRECHO ISOUSiDO
65
LataoASME02A
1000
5000
6000
Amostras
5 o
>
-5
-10
1000
2000
3000
4000
5000
6000
Amostras
66
Caso a opo seja TRECHO ISOLADO, o MLV solicita a seleo da amostra inicial e
da amostra final de interesse, conforme apresentado na Figura 5.23.
HLV
NOME DO ARQUIVO: L a t a o A S M E O 2 A . t x t
SELECIONE A AHOSTE^ I N I C I A L : 3 1 0 0
SELECIONE A HOSTE^A FINAL: 3 5 0 0
Figura 5.23: Seleo das amostras inicial e fmal para um TRECHO ISOLADO
do arquivo LataoASME02A
3100
3150
3200
3250
3300
3350
LataoASMEOSA
3400
3450
3500
Amostras
67
IMPEDNCIA do defeito situado entre as amostras 3100 e 3S00
LataoASME02/k
Para
TRECHO ISOLADO e inserir o novo intervalo. Para encerrar o MLV e retomar ao menu
principal do MATLAB necessrio acionar a opo SAIR.
68
Os sinais gerados nas inspees por Eddy-Current contm rudos que impedem o
seu processamento para a extrao de caractersticas que permitam a deteco, a
localizao, a classificao e o dimensionamento de defeitos.
O pr-processamento de sinais tem como objetivo a remoo do rudo para
permitir a anlise das figuras de Lissajous, o que no possvel quando os sinais esto na
sua forma orginal com rudo.
O pr-processamento consiste em decompor separadamente, em diversos nveis
de fi-eqncia, a reatncia indutiva e a resistncia dos sinais e utilizar Transformadas de
Wavelets (TW) para retirar as componentes associadas ao rudo. Em seguida, o sinal
recomposto gerando figuras de Lissajous apropriadas para a extrao de caractersticas do
sinal.
Existem diversas transformadas que podem ser utilizadas para a anlise de sinais.
As principais sero descritas a seguir, justificando a utilizao da Transformada de
Wavelet (Ondaleta) no pr-processamento de sinais de Eddy-Current.
(6.1)
69
Amplitude
Amplitude
TRANSFORMADA
DE FOURIER
Freqncia
Current. Nesse caso so gerados dois picos, porm sem qualquer informao sobre a
localizao no tempo. Dessa forma, um sinal estacionro bem representado porm a
informao no tempo de sinais no estacionros no recuperada.
Uma caracterstica peculiar apresentada pela Transformada de Fourier a perda
da informao no tempo quando feita a transformao para o dommo da freqncia. A
falta de localizao do sinal no tempo permite apenas uma anlise do comportamento
global dos sinais. Para sinais estacionrios esta caracterstica no muito importante. No
entanto, quando o sinal contem caractersticas no estacionrias ou transitrias, tais como
tendncias, mudanas abruptas, incios e fins de eventos, tais como os sinais de EddyCurrent, a Transformada de Fourier apresenta uma sria desvantagem pois no recupera a
informao relacionada com o tempo, perdendo a parte do sinal que permite a localizao
de um defeito no comprimento do tubo.
6.2
70
apresenta
(6.2)
(t,f).
escolhida essa janela, a resoluo da TFTC fixada sobre todo o plano tempo-fi-eqncia.
A TFTC representa um compromisso entre as projees baseadas em tempofreqncia de um sinal e proporciona alguma informao sobre ambas. Entretanto, esta
ccwsso m^m
mm. mmm?-m
71
informao s pode ser obtida com preciso limitada. A preciso determinada pelas
dimenses da janela que fixa as resolues de tempo e fi-eqncia.
A Transfonnada de Fourier de Tempo Curto limitada pelo princpio da
incerteza segundo o qual no possvel atingir uma resoluo fina em tempo e fi-eqncia
simultaneamente. Se a resoluo no tempo melhorada pelo uso de uma janela
apropriada, a resoluo na fi-eqncia prejudicada. Esse compromisso entre tempo e
fi-eqncia dado pela inequao de Heisenberg, que relaciona o produto da largura da
banda em fi-eqncia Af pelo tempo At:
Af. At > 1/4
(6.3)
71
Freqncia
Amplitude
Janela
TRANSFORMADA
DE FOURIER DE
TEMPO CURTO
Tempo
Tempo
72
fomece
localizao
da
freqncia
proporcionalmente
ao
seu
nvel
e,
conjunto de integrais.
As propriedades pecuUares estabelecem que
{V j} j e z
associado a uma
+00
f ( X )| ^ d X <
00
(6.4)
-00
73
pode ser
1
M>a,b ( x )
onde
a e b e R
x-b
(6.5)
a^^o
2000
4000
6000
InoxTrocdA
Sinal Original
8000
10000
12000
Amostras
T W Haar Coeficientes C a . b
Escala
(Freq.)
Amostras
E s c a l a de cores de MIN para MAX.
Figura 6.4: Coeficientes da reatncia dos sinais dos defehos do tubo InoxTrocOl
74
TW.s(a,b)
s(x) V3,b(x)dx
(6.6)
' (escala.posio)
f(t)
(6.7)
escala.posio,
possibihdades de
S=A3+D3+D2+D1=A2+D2+D1=A1+D1
1
D,
D3
75
S=A1 +AD2+ADD3+DDD3
1_
DAj
AA2
DAA3
AAA3
ADA3
DD,
AD2
DDA3
AAD3
DAD3
ADD3
DDD3
Neste trabalho optou-se por utilizar a Anlise por Wavelets por ser um mtodo
menos trabalhoso pois a seleo dos coeficientes feita manualmente, mas prope-se para
um trabalho fiituro, a utilizao da Anlise por Pacotes de Wavelets para os sinais de
Eddy-Current.
O trabalho de anlise do sinal se toma mais eficiente e preciso atravs da
utilizao da Transformada de Wavelet Discreta (TWD), que utiliza escalas e posies
didicas, ou seja, baseadas em potncias de dois.
Aps a decomposio em mhiplos nveis para anhse, o sinal recomposto ou
sintetizado por meio da TWD utilizando os coeficientes a e b.
Neste trabalho, o pr-processamento de sinais por meio da Transformada de
Wavelet feha pela ferramenta Wavelet do programa MATLAB que permite apHcar a
Transfonnada de Wavelet das mais variadas formas.
Existem diversas famhas de Wavelets (Haar, Daubechies, Biortogonal, Morlet,
etc.) e a seguir sero descritas as principais.
6.3.1
A fimo Wavelet Haar a mais shnples que existe, apresentada na Figura 6.7
e assume os valores:
76
v|/(x)= 1,
\|/(x) = - l ,
v|/ (x) = 0,
(|)(x) = 0,
<|)(x) = 0,
se
se
se
se
se
X G [O, 0.5]
X e [0.5, 1]
X [O, 1]
X G [O, 1]
X g [O, 1]
onde \|y(x) uma funo Wavelet de escala utilizada para definir as aproximaes, sendo
v|/(x)dx = 0
(6.8)
(|)(x)dx = 1
(6.9)
A funo Wavelet Daubechies DbN possui uma famha composta por 9 membros
Db2 a DblO (Daubechies, 1988) que apresentada na Figura 6.8. A funo Wavelet Dbl
corresponde fiino Wavelet Haar.
No h uma expresso exphcita para DbN quando N
1. Entretanto, o mdulo
funo P(y)
(6.10)
onde N
|m()
cos'
sen
(6.11)
77
(6.12)
onde.
Em algumas delas, a
. , a das W a v * s Daubectes ^
A maiona oas
-ta-arioas.
Funo Wavelet
Funo Wavelet
Funo Wavelet
Funo Wavelet
DbS
Db6
Funoi5!5v
i*t
6.3.3
Wavelet MoreH
1
(6.13)
78
6.3.4
(6.14)
s(x) ^j,k(x)dx
A Wavelet utilizada para a reconstruo do sinal y / , t a i que
(6.15)
j.k
Wavelet de Reconstruo
Funo W
Wavelet de IDecomposio
Funo W
r
S
Bior 1.3
Bior 1.5
Wavelet de Reconstruo
Funo f
Wavelet de Decomposio
Funo
Wavelet de Reconstruo
Funo
Wavelet de Decomposio
Funo
Wavelet de Reconstruo
Funo
100
60
O
'I'T"
SO
-100
OJ
1J5
15
OI
1.5
Bior 3.1
Wavelet de Decomposio
Funo
<
Wavelet de Reconstruo
Funo
10
Bior 3.3
Bior 5.5
Wavelet de Reconstruo
Funo
Wavelet de Decomposio
Funo
to
Bior 6.8
10
15
79
6.3.5
(-|
l l - " * ) (1-xM
e-"'''
V|/(X)
(6.16)
80
6.4
6.4.1
ifJCLEAVSP-PEM
81
A seguir, a resistncia e a reatncia indutiva so decompostas separadamente
com TW em diversos mVeis de freqncia. Procede-se ento manualmente retirada das
freqncias mais altas, alterando os coeficientes das TW, com o cuidado de no alterar as
componentes de baixa freqncia e grande amplitude do sinal, ou seja, o sinal DC.
Finalmente, a resistncia e a reatncia pr-processadas
so
combinadas
1300
1350
1400
RESISTNCIA
1350
14O0
LataoDid02B
1450
1500
LataoDid02B
1450
1500
1550
Defeito C
1550
1600
1650
1700
Amostras
Sinal Onginal
1600
1650
1700
Amostras
82
Data (Size) |
Wavelel
xl (401)
[db
ei
|10
-1.2 -1.4
Analyse
O
-1
1
d,
Slalislics
Compress
Histo^ams
Denoise
-1
0.05
Displaji mode;
-0.05
0.05
{Ftil Decomposition
O,
at levd
|g
-0.05
0.1
.A ^
o-
A,
-0.1
0.2
-0.2
0.5
-0.5
0.5
O -
-0.5
50
100
150
200
400
1
-1
Data (Size) |
yl |4(J1)
Wavelel
|db
_-j|lO
Levei
|8
zl
0.65
0.6 0.55
0.2
O
-0.2
0.6
d,
Stalisbcs
Conpress
Hrslo^ams
De-ngise
-0.5
0.05
d,
ch
Display mode:
-0.05
0.05
d,
|FiJ Decomposilion
oh
at levei
-0.05
0.1
~E1
[i
O
-0.1
0.2
d3
OK
-0.2
0.2
O [--,V>-V'
1
-02
0.2
d,
O
-0 2
50
100
150
200
400
83
LataoDlem2B
Defeito C
Dalo (Size)
1401)
K1
Wdvelel
db
Level
^ | l
Analyze
Define Selection method
100
200
300
iJ
1 By Level
App. cIs 15 electable
. 400
Amostras
Coeficientes Selecionados
Inilial
ALi
20 J L i
D3 j 20 _ ! J
07
06
D5
Di
D3
02
01
'
100
200
300
La1aoDid02B
400
1.5
>
21
24
30
j 42
1
1
1
< 1
11
j/
1J
jJ"
6B
114
210
1
1
4 (
21
?i
![ 0
_ I J I
_!J| 0
4 {
i 547
0
85
_ I J I
Residuals
Apply
400
Defeito C
1
1
1
. 1 20
1 1 20
Dala [Size! |
y1 (401)
Wavelet
[db
Level
05
'^f^>>^R*I*-^^^^^^^^
Analyze
-0.5
-1
I By Level
100
200
300
CoeficieiTles Originais
100
400
200
300
Coencienles Selecionados
Amostras
400
'Mostras
A8
Inilial
D8
D7
07
D6
D6
Kept
20
' 1
D8
20
*l
D7
21
D6
24
D5
30
* 1 tr"
42
"1
DJ
6B
< \ \
D2
114
D1
210
D8
I M L
24
0
D5
D5
O*
D4
03?
20
20
21
ML
- 1
^1
I I
D3
T
D2 ^V''f^JJ>vv^^^^y^"-^*J^^V^^*^^>'^
200
300
400
547
400
Apply
r;:
: ^ L
-IJL
0
65
Residuals
84
A Figura 6.15 apresenta o resultado fmal do pr-processamento para a retirada
do RAS com as comparaes das figuras de Lissajous do sinal com rudo e sem rudo,
onde se constatam os bons resultados da reconstruo da figura sem as freqncias altas e
mdias (Dl a D5).
IMPEDNCIA
LataoDid02B
Defeito C Sinal Pr-processado
TW Db 10 Nvel 8 com D6 a A8
IMPEDNCIA
LataoDid02B
Defeito C
Sinal Original
m'veis
de
freqncia,
com
remoo das
freqnicas
ahas e altas-mdias
(Dl a 15/18 D4) fornece bons resultados. Para a freqncia do nvel 4 foi mantida parte
dos coeficientes, ou seja, 3/18 de D4.
85
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito B Sinal Pr-processado
T W Bior 3.1 Nvel 7 3/18D4. D5 a A 7
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito B
Sinal Original
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito C
Sinai Original
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito C Sinal Pr-processado
TW Symlets 5 Nvel 3 A3
IMPEDANCIA
LataoASMEOlA
Defeito C Sinai Pr-processado
TW Symlets 5 Nvel 7 D4 a A7
86
Da anlise da Figura 6.17 para o sinal pr-processado com a TW Symlets 5,
constata-se que a decomposio em 3 nveis com a manuteno da aproximao A3
(sinal DC) na reconstruo equivalente decomposio em 7 mveis com a remoo das
freqncias altas e mdias-altas (Dl a D3).
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito H
Sinal Original
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito H Sinal Pr-processado
TW Dautjechies 8 Nvel 2 A2
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito H Sinal Pr-processado
TW Dautiectiies 8 Nivel 7 D4 a A7
-5
0
Volts
-5
87
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito G
Sinal Original
IMPEDNCIA
LataoASMEOlA
Defeito G Sinal Pr-processado
TW Haar D2 a A7
Na Figura 6.20, comparada a Rbio 1.1 com a Rbio 6.8 em 5 mveis com
remoes idnticas das freqncias altas e mdias chegando a resultados razoveis e
semelhantes, porm piores que aqueles obtidos com a aplicao da TW Db 10 em 8 m'veis
de freqncia (vide Figura 6.15).
88
IMPEDNCIA
LataoDd04A
Defeito A
Sinal Original
IMPEDNCIA
LalaoDid04A
Defeito A Sinal Pr-processado
TW Bioilogonai Reversa 11 Nivel 5
D4aA5
IMPEDNCIA
LataoDid04A
Defeito A Sinal Pr-processado
TW Biortogonal Reversa 6,8 Nivel 5
04aA5
IMPEDNCIA
LataoDid04A
Defeito A
Sinai Original
IMPEDNCIA
LataoDid04A
Defeito A Stnal Pre-processado
TW Biortogonal Reversa 6.6 Nivel 5
D4aA5
IMPEDNCIA
LataoDid04A
Defeito A Sinal Pr-processado
TW Biortogonal Reversa 6.8 Nivel 9
D5aA9
89
A comparao apresentada na Figura 6.22 revela que os resultados so bons e
semelhantes.
IMPEDNCIA
lnoxDid03A
Etefeito F Sinal Pr-processado
TW Biortogonal Reversa 5.5 Nvel 8
D6aA8
IMPEDNCIA
InoxDidOSA
Cefeito F
Sirnl Orignal
IMPEDNCIA
lnoxDld03A
Defeito F Sinal Pr-processado
TW Daubechies 5 Nvel 8
D6aA8
e
6
4
-2
-4
-6
-5
O
Volts
90
6.4.2
900
1000
1100
1200
1300
1400
1500
Amostras
/
A
% o
>
-10
800
V,
900
/ \
1000
1100
1200
1300
1400
1500
Amostras
91
-4
-3
-2
-1
fiizziticado.
92
93
94
O resultado deste pr-processamento melhor que o anterior pois a figura j
apresenta cruzamento central de linhas e possvel determinar o ngulo de fase. No
entanto, a ptala inferior pontiaguda e muito diferente da ptala superior, o que leva a
uma terceira tentativa, pois a figura de Lissajous deve ser aproximadamente simtrica, que
o formato caracterstico de um firo passante. Tal como no primeiro pr-processamento,
os limites de tenso da reatncia foram respeitados.
Um terceiro pr-processamento apresentado na Figura 6.27 onde foi gerada
uma figura de Lissajous em forma de " 8 " , com duas ptalas semelhantes e com um ngulo
de fase que pode ser determinado. Para tanto, foi utilizada a mesma Transformada de
Wavelet Daubechies 5 em 8 nveis de decomposio em fi-eqncia, com a remoo das
reqncias baixas da reatncia (Dl a D4 e 14/18 D5) e com a manuteno de 2/18 da
fi-eqncia mdia da resistncia, isto , do m'vel 5 de decomposio do sinal.
95
96
1
^
>
Data (Size) |
yl (301)
Wavdei |db - | | 5
.d
Levei
js
^
Analyje
i \
-1
50
//
100
-1
150
200
250
150
200
250
300
^
.
, .
^
Amostras
Coeficiertes Saiecionados
300
Coeflclenles Originais
A8
D8
D7
D7
06
DG
D5
D5
D4
D3
D2
JL
D4
T
-
wVv-/j.-^v','-yv.U^_*_..
D3i.".D2
Dl
50
100
ISO
200
250
300
50
Reduals
300
lESiSTNCIA Sinai Original ino!<Did02D Furo Passante O.Smm Sinai Pr-proeessado Db5 L8 2/18 D5
S
o
>
xl |3(H)
J-JJS
Levei
/ -
Dala ISizel |
Wavelet
(db
ja
Analyse
-2
50
100
150
200
Coencienles Originals
250
300
AmosIrar
SO
100
150
200
Coetlcientes Selecionados
250
300
Amostras
A8
D8
D7
L?
D6
i 11 -Hi
D5 " 18
D5
"-Jf
04
D
D3
82
: rsTT^iLL
.ijr
12
01
50
100
150
200
250
300
50
300
Appiv
Feadual:
97
SiiwsOiiffnns
1600
InoxDidOlE DefeitosAeB
1800
2000
2200
SinaisOrt^nals
2400
2600
2800
Sinais Orginais
./\
1 \\
/
\ /
1400
98
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE
Defeito A
Sinal Orginal
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE
Defeito A Sinal Pr-processado
TW Biortogonal 3.9 N7
R: 2/26 D5 2/22 D6 XL: D5 a A7
99
IMPEDNCIA
InoxDidOl E
Defeito A Sinal Pr-processado
TW Daubechies 5 Nvel 7
R: 3/16 D5 1/12 D6 X L : D 5 a A 7
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE
Defeito A
Sinal Orginal
Sinal riginal
100
Aparentemente o sinal apresenta uma distoro causada pelo RMT influindo na
resistncia do sinal apenas na ptala superior.
No entanto, segundo a curva de calibrao, um defeito extemo com uma
profimdidade de 60% deve apresentar um ngulo de fase de aproximadamente 90", o que
leva concluso que esta figura de Lissajous foi distorcida na sua totalidade.
O pr-processamento deste sinal foi realizado com diversas TW's. A Figura 6.36
apresenta o resultado do pr-processamento utilizando a TW Biortogonal 3.5 em 8 niveis.
IMPEDNCIA
InoxDidOl E
Defeito B
Sinal Original
IMPEDNCIA
InoxDidOl E Sinal Pr-processado
TW Biortogonal 3.5 N8
R eXL D6e 1/13 D7
101
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE
Defeito B
Sinal Original
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE Sinal Pr-processado
TW Biortogonal Reversa 4.4 N8
R: D6 XL:D5aA8
8
6
4
2
m
| o
-2
-4
-6
-8
-10
-5
Volts
IMPEDNCIA
InoxDidOl E Sinal Pr-processado
TW Daubechies 5 N8
R;D5eD6 XL:D5aA8
IMPEDNCIA
InoxDidOl E
Defeito B
Sinal Orginal
8
6
4
2
93 Graus
| 0
-2
-4
-6
-8
V
-5
Volts
102
D
-2
-4
Data (Siael |
Wavelet
|db
_iJ|5
Levei
jg
(smj
zi
Analyse
Statistics
f^ompress
Hitlogiam
De-noise
-5
1
O
Display mode:
-1
-3
| F i i DecomposJion
at levei
-8:1
o
~3
-06
0.2
0
^1.2
0.S
O
0.2 p
50
'lios
100
150
300
Data (Size! |
yi
Wavlet
jdb
_J|5
Level
-0.5
poi)
Analyze
5
O
Stalislics
Compress
HTlugram
Denoise
1
0 .
Display mode.
-5
0.5
FiilDecanposition
atlevei
~3
zl
0.1
-0.1
0.2
0.2
O
-0.2
0.5
103
R E S I S T E N C I A Slnal Original
InoxDIdOIE
Dereito B
SInal P r - p r o c e s s a d o O b 5 N 8 D5 e D6
Dala (Size) |
xl f3511
Wavdet
| db
l-evel
18
Analyze
Deline Selection method
3
|Bj<Levsl
100
200
300
Amoslras
100
Coeficient'tes Originais
200
300
Amostras
Coeficientes Selecionados
A81
,-.5
1 ir
1 10
D7
1 11
D6 1 u
D5 1 19
DI
1 in
V)?.
1 51
02
1 94
Dl 1 1 9 0
S 1 419
D8D7.
D7>
D6^
D3
ae'i
D 5
DSl
D4'
D 4
D3
D2' 'j.'^.-'jjWi>WV!f!lg*rX"
.".v
DI
A8
D2
' 1 r -Ul 0
<! L -.-:JI 0
1 1
_LJ|
1 M| 14
I- II
IS
-iJI 0
-11
" 1 r ""JLII 0
' 11
_l
...^1
_J|
33
Di
100
200
300
InoxDIdOIE
Defeito
B Sinai Pr-processado
Db 5 N 8 D 5 a A8
100
db
Level
/
/
J-L (3511
Data (Size)
Wavelet
Residuals
App^
z l
Analyse
200
300
1 By Level
App. o(s [Selectable
Amostras
Coeficientes Selecionados
z l
Inilial
Aa
1
1
1
1
1
10 < r
1
1
1
51 v i . R
94 -11
10 *i
11
4 1
D6
14
D5
19 -R
D4 I 30
^ 11
DS
07
D4
D4"
31
D3
CO
D3
01
D2
180
'11
1 1 1 0
1 1 in
1 11
1 14
1 1 1f1
10
1
HI
._(! 0
1 419_ 1 J J
-L
Apply
Residuals
DI
Dli
100
200
300
(Amostras de 2200 a 2 5 5 0 )
64
104
IMPEDNCIA
lnoxDid02D
Furo Passante 0.9 mm
Sinal Original
IMPEDNCIA
lnoxDic)02D Sinal Pr-processado
TW Daubechies 5 N8
R:2/ieD5 X L : D 3 a A 8
Vols
Volts
IMPEDNCIA
lnoxDid02D
Furo Passante 1.1 mm
Sinal Original
ifalPEDNCIA
lnoxDld02D Sitiai Pr-processado
T W DaubecNes 5 N8
R : 2 / 1 8 D 5 XL D3 a A8
\
^
-5
Volts
105
IMPEDNCIA
inoxDidOI E Sinal Pr-processado
TW Daubechies 5 N8
R: D5 e D6 XL D5 a A8
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE
Derfeito B
Sinal Onginal
93 Graus
O
Voks
IMPEDNCIA
tnoxDdOIE Sinal Pr-processado
TW DaubecNes 5 N8
R : D 5 e D 6 XL:D5aA8
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE
Defeito I
Sinal Orginal
130 Graus
% O
>
-10
-5
Volts
106
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE
Defeito A
Sinal Onginal
IMPEDNCIA
InoxDIdOIE
Defeito A Sinal Pr-processado
T W Biortogonal 3.9 N7
R: 2/26 D5 2C2 D6 X L D 5 a A 7
IMPEDNCIA
InoxDidOl E
Defeito A Sinal Pr-processado
TW Daufaediies 5 Nvel 7
R; 3/16 D5 1/12 D6 X L . D 5 a A 7
80 Graus
A
| 0
0
Voits
(a)
(b)
(c)
107
6.4.3
108
Ayv^
| 0
-2
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
4000
4500
Amostras
Figura 6.45: Reatncia dos defeitos do tubo InoxDidO 2 com o efeito "Li-of"
2^ O
>
-2 -
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
4000
4500
Amostras
Figura 6.46: Reatncia dos defeitos do tubo lnoxDid02 sem o efeito "Lift-of"
109
de mais de
aumentando,
diminuindo
ou
constante.
Tambm
fornecido
um
110
7.1
Lgica Fuzzy
e t a l ,
1968).
convencionais
de anlise
de
sinais de Eddy-Current
so
miSKO
111
7.1.1
7.1.2
Algoritmos nebulosos
valores de JC
yemx
112
7.1.3
7.1.4
7.1.4.1
Notao e terminologia
(y) no
o grau de
associao de>^ e m ^ , isto , UAO (zero) representa no sociedade, 1 (um) representa completa sociedade e
valores entre O e 1 representam graus intermedirios de sociedade.
O suporte de ^ o conjunto de pontos em U nos quais JUA (y) positivo.
Um ponto de cruzamento e m A um elemento de U cujo u e m A 0,5.
Um ponto nico nebuloso um conjunto nebuloso cujo suporte um ponto
simples em U. ^ e A um ponto nico nebuloso cujo suporte o ponto y, podemos
escrever:
A=ju/y
(7.1)
113
eyemA.
iiiA{y)iy
(7.2)
fXA(y) /y-
Se A tem um suporte finito { yi, yz, .-jyn}, ento (7.2) pode ser substituida pela
somatria:
A= ju /yi
ou
^2/y2^-y
Un /yn
A=Y,nJy,
(7.3)
(7.4)
=1
unio e no soma. Neste sentido de "+", o universo finito de discurso U = { yi, ya, .-^yn}
pode ser representado simplesmente pela somatria;
U = yi+ y2+...+yn
ou,
U =
Rigorosamente,
f^y,
(7.5)
(7.6)
(7.6) como:
U = l / y i + l / y 2 + . . . + l/yn
e,
U =
\ly,
;=1
(7.7)
(7.8)
114
7.1.4.2
Relaes nebulosas
R A j^R(x,y)/(x,y)
(7.9)
XxY
um subconjunto
XixX2X...xX
definida por:
Vy(^R(x,y)AHs(y,z))/(x,z)
RoS^\
(ju)
XxZ
7.1.4.3
complemento de A:
(7.12)
u
Esta operao corresponde negao, - i opera no conjunto nebuloso enquanto
que no opera nas suas etiquetas.
unio de AeB:
A+B
U\i,^(y)v[iB{y))/y
(7.13)
u
A unio corresponde ao "o?/". Portando, se u e v so etiquetas de conjuntos
nebulosos,
M
ou
A u+v
(714)
115
interseo de A e B:
^ o fi AJ (^^ (y) A
(y))/ y
(7.15)
u
A interseo corresponde ao "e". Portanto,
M
produtode
AeB
A u r\v
ABA^A(y)^B(y)/y
(716)
(717)
u
intensificao de contraste: aumenta os valores de JUA (y) que so maiores que 0,5 e
diminui os que so menores, reduzindo a nebulosidade d e ^ .
INT (A) A
\2A^,
(7.18)
(7.19)
F(AK)AJ|aA(y)K(y)
(7.20)
u
A nebulizao muito importante na definio dos limites lingusticos tais como
mais ou menos, um pouco, muito, etc.
lAAA
Linguagem e Signifcado
116
^iM(x)
7.1.4.5
(y) A
^iN
(x,y) ,
eT, yeU
(7.21)
117
7.2
DETECO E CONTAGEM
DO
NMERO
DE
DEFEITOS
SELEO DO DEFEITO
PARA ANLISE
EXIBIO DO SINAL
DO DEFEITO
EXTRAO DAS
CARACTERSTICAS
DO SINAL DO DEFEITO
SELEO DA ESCALA
DAS
FIGURAS DE LISSAJOUS
^ MENU
^ i S J
118
7.2.1
Cancel
7.2.2
119
LataoASMEOl
10
FUROS
5 -
ENTALHES
80%
INTERNOS
20%
^O"-^
60%
4 X 20%
40%
100%
ENTALHE
EXTERNO
10%
A
-5 -10
50
100
150
200
250
300
350
400
mm
LataoASMEOl
120
Furo Passante
dimetro 0,9 mm
-5
-10
50
100
150
200
250
300
350
mm
121
tenso que eram inicialmente de -0,3 Volts a +1,5 Volts passaram a ser de -0,6 Volts a
+0,6 Volts, com uma reduo da variao de 1,8 Volts para 1,2 Volts.
Este pr-processamento importante pois permite a deteco de defeitos cuja
amplitude da reatncia maior que uma faixa menor de corte, ou seja, permite a deteco
de um nmero maior de defeitos.
REATNCIA DOS DEFEITOS
1
lnoxDid02A
Sinal Original
4
3
Ij
+ 1 , 5 Volts
1
0
- 0.3 Volts
-1
-2
-3
-4
100
50
150
200
250
300
350
mm
lnoxDid02A
1
' 1
+ 0,6 Volts
- 0,6 Volts
50
100
150
200
250
300
122
A deteco de um defeito feita pelo MDC verificando todos os valores da
reatncia a partir do incio do arquivo de sinais que so maiores ou menores que os limites
de corte. Se um valor verificado menor que o limite inferior de corte, significa que foi
detectada a Perna Pl (Ptala 1) da figura de Lissajous correspondente, ou seja, o incio do
defeito abaixo do limite de corte inferior, conforme ilustrado na Figura 7.7.
lnoxDid02A Defeito A REATNCIA Sinal Pr-processado
Ptala 2
Inicio do sinal
do defeito
2 -
P3
\
l
1 P4
1 -
+ 0,6 Volts
<0
- 0,6 Volts
-1
P2
Fim do sinal
do defeito
-2
\^
Ptala 1
-31
1400
1500
1600
1700
1800
1900
2000
2100
2200
2300
2400
Amostras
123
Devido aos limites de corte, a figura de Lissajous ficaria incompleta pois o sinal
do defeito propriamente dito no comea no limite inferior de corte mas antes e tambm
no termina no limite superior de corte mas depois, conforme ilustrado na Figura 7.8.
lnoxDfd03C
P3
\ ''^
Limite superior
de corte
Limite inferior
ae cone
PI
Ptala 1
\ ^
O
Vos
P3
P4
P1
Ptala 1
-8
.6
-4
-2
O
Vos
124
DETECTAR E CONTAR WF
_ U X
7.2.3
7.2.4
125
^ ^tubo
(7.22)
'total
onde,
RESISTNCIA
1400
1700
2000 1400
RESISTNCIA
1400
1700
2000 1400
REATNCIA
1700
2000
Amostras
REATANCIA
1700
2000
Amostras
-10
-5
10
Volts
IMPEDNCIA Sinal Pre-processado
Rbio 1.5 L6 D5aA6
Volts
126
7.2.5
Defeito D
Db8L8 D7 a A9
10
/
/
NGULO \
DE FASE \
1
/
\ AMPLITUDE
\ TOTAL
>
-5 --
-10
-10
10
Volts
127
QUARTO
QUADRANTE
PRIMEIRO
QUADRANTE
Ap2
y ^
\ x
Ab2
y ^
7'^'^
P3 .
/y
^
^P4
PI
Primeira
Ptala
yf
y/ A p 1
,Abl\A;^
SEGUNDO
QUADRANTE
TERCEIRO
QUADRANTE
-10
-10
Segunda
Ptala
-6
- 4 - 2
0
Volts
10
7.2.5.1
128
de Lissajous, o ngulo de fase medido entre a reta que une as extremidades das ptalas e
a horizontal conforme apresentado na Figura 7.15.
LataoDidOl B
Defeito A
Rbio2.8L5 0 5 e A5
Reta 1
Reta 2
-3
-3
-2
-1
O
Volts
m=
(7.23)
Ri-Ri
129
Defeito A
Ptala 1 Rbio2.8L5 D5 a A5
1.5
Centro da
figura de
Lissajous
0.5
vt
-0.5
-1
-1.5
Extremidade da Ptala 1
-2
-3
-2.5
-2
-1.5
-1
Volts
-0.5
0.5
(7.24)
m =
IS
130
LEITURA D O ARQUIVO D O
SINAL P R - P R O C E S S A D O
C L C U L O D A DECLIVIDADE
DE CADA TRECHO
r
DIVISO D O PLANO D A
IMPEDNCIA EM C L U L A S
COMPARAO
DAS
DECLIVIDADES
DOS TRECHOS
r
CLCULO
DE
DA
PONTOS
CADA
DENSIDADE
RXXL
EM
CLULA
<
SELEO
DAS
DECLIVIDADES
SEMELHANTES
S E L E O DA CLULA COM
MAIOR DENSIDADE
DE
PONTOS
EXISTE RETA
NO EXISTE
RETA
m= -XL
R -Ri
m=
IS
C L C U L O DA DISTNCIA
ENTRE A S EXTREMIDADES
DA FIGURA DE L I S S A J O U S
f
DIVISO DA AMPLITUDE
TOTAL C O SINAL
EM n T R E C H O S
LEITURA D O
NGULO DE F A S E
131
7.2.5.2
LataoDid02B
Furo 8 0 %
Db10L8
D5 a A8
132
lnoxDicl03B
~r
Defeito N
Db5L5 A5
'
Ap2
/X
(O
| 0
P1
y ^ ^ ^
-2
/Ap1
ff^
-4
-6 -
-8
-8
-6
-4
-2
O
Volts
7.2.5.3
P2 - P3
Lissajous. A maior distncia entre uma reta paralela reta P2 - P3 e que tangencia a
Perna P4, corresponde Abertura 2 da figura de Lissajous.
Se essa reta no existe, so calculadas retas paralelas reta da Amplitude Parcial.
A maior distncia entre retas paralelas corresponde Abertura do sinal (Figura 7.21).
133
InoxDidOSA
LataoDidOl B
Defeito A
Rbio 2.8 L5
D5eA5
134
7.2.5.4
PRIMEIRO
QUADRANTE
QUARTO
QUADRANTE
P3 /
^!
/
P4
Incio da PI
no Quadrante 3
/
4
-5
TERCEIRO
QUADRANTE
-10
-10
-8
-6
SEGUNDO
QUADRANTE
1
-2
10
Volts
mensagem dando conta que a gnesis do sinal normal e informa o quadrante de incio.
Caso a Perna Pl inicie nos Quadrantes 1 ou 4 , conforme apresenta a Figura 7.23,
o MAC informa que foi detectada uma anomalia na gnesis do sinal, informa o quadrante
de incio do sinal e interrompe o processamento.
Uma anomalia na formao do sinal pode ser conseqncia de falhas na aquisio
do sinal, tais como configurao incorreta do programa de aquisio ou cabos invertidos.
135
Uma formao anmala do sinal tambm pode revelar a existncia de defeitos
intemos no material tais como porosidades, incluses ou falhas na laminao.
Em qualquer caso, a mensagem de anomalia na formao do sinal um evento
raro mas importante que exige uma anlise especfica.
- I
PRIMEIRO
QUADRANTE
QUARTO
QUADRANTE
Incio da PI
no Quadrante 1
/
Pi
-
-2
-6
-8
-8
>
/
y
P2
y
TERCEIRO
QUADRANTE
I
SEGUNDO
QUADRANTE
I
-2
VoRs
136
LataoDidOIB
1
DefertoA
Rbio 2.8 L5
D5 a A5
PRIMEIRO
QUADRANTE
QUARTO
QUADRANTE
Inicio da P1
no Quadrante 4
1 -
3 O
>
-1 -
-2
TERCEIRO
QUADRANTE
\
-2
SEGUNDO
QUADRANTE
1
O
Volts
Na Figura 7.25 apresentada a janela exibida pelo PPS com todos os resultados
do processamento do sinal.
-4^ PROCESSAMENTO DO SI
,|U|
OK
137
7.2.6
O MSE, cuja janela apresentada na Figura 7.26, permite alterar a escala das
figuras de Lissajous geradas pelo MEX (Figura 7.12), para melhor visualizao.
138
7.3.1
Defeitos Circunferenciais
(a)
(b)
Esses defeitos reduzem por igual a espessura da parede do tubo e podem ser
intemos ou externos.
Os defeitos circunferenciais excntricos possuem uma seo transversal de
dimenso varivel ao longo do permetro do tubo, ou seja, este tipo de defeito mais
profiindo de um lado do tubo do que do outro, conforme apresentado na Figura 7.28.
(a)
(b)
139
Os defeitos circunferenciais tambm podem ser causados por desgaste entre tubo
e placa suporte devido vibrao do tubo (Silveira, 2002). Neste caso, a extenso do
defeito da dimenso da espessura da placa suporte e geralmente o defeito simtrico.
Pode ser concntrico, caso a espessura da parede seja reduzida por igual no permetro do
tubo, ou excntrico, caso o tubo seja forado mais de um lado do que do outro na chapa
suporte, provocando o seu desgaste desigual.
No possvel distinguir o sinal de um defeito circunferencial concntrico de um
excntrico por meio de sondas com bobinas circunferenciais, pois o sinal resuhante uma
mdia do defeito ao longo do seu permetro. Somente sondas dotadas de mhiplas bobinas
radiais ou sondas rotativas podem fazer esse tipo de deteco (Joubert et al., 2002).
Para simular artificialmente os defeitos circunferenciais, foram produzidos
entalhes circunferenciais intemos ou extemos, simtricos ou assimtricos e de pequena ou
de grande extenso nos tubos de laboratorio LataoDidOl (todos os defeitos), LataoDid04
(defeitos D e E) e InoxDidOl (redues de dimetro). Nos tubos LataoASMEOl, 02, 03 e
04, InoxASME03 e InoxDid03, os entalhes circunferenciais tambm foram utilizados para
calibrao. Os resuhados das anlises so apresentados a seguir para alguns casos tpicos.
7.3.1.1
140
A Figura 7.29 apresenta o sinal exibido pelo PPS na opo "EXIBIR SINAL DO
DEFEITO", um esquema da passagem da sonda pelo defeito e o processamento do sinal
gerado pela opo "EXTRAIR CARACTERSTICAS DO SINAL".
RESISTENCIA
REATANCIA
-4
-2
Volts
Ptala 1
-6L
200 160
180
200
mm
-6
-6
-2
PROCESSAMENTO DO 51
2
4
Volts
^J<]
141
Dos resultados apresentados, observa-se que:
a) o ngulo de fase 133;
b) as amplitudes Apl e Ap2 tm valores prximos;
o) as aberturas Abl e Ab2 tm valores prximos; e,
d) a gnesis do sinal normal no Quadrante 3.
A figura de Lissajous desse sinal visualmente simtrica, o que pode ser
comprovado pelos valores semelhantes das Aberturas 1 e 2 e das Amplitudes 1 e 2 do
sinal.
Da anlise deste processamento obtm-se que o ngulo de fase 133, o defeito
extemo e a profimdidade 30%. Observa-se tambm que o defeito simtrico e o sinal
simtrico, onde simtrico significa Abl ~ Ab2 e Apl ~ Ap2.
Na Figura 7.30 apresentado o processamento de um outro defeito simtrico e
concntrico do mesmo tubo, ou seja, o defeito nmero 2 ou defeito B, que um entalhe
circunferencial extemo em forma de "v" com abertura de 9 0 , largura mxima de 1,6 mm
e profiandidade de 0,7 mm (47% da espessura do tubo).
O sinal original foi pr-processado com a Transformada de Wavelet Biorthogonal
Reversa 1.5 em 6 niveis com a excluso das componentes do sinal de alta e de mdia
fi-eqncias Dl a D4 e com a manuteno da componente de baixa fi^eqncia D5 bem
como da aproximao A6.
Da Figura 7.30 observa-se que:
a) o ngulo de fase 120;
b) as amplitudes Apl e Ap2 tm valores prximos;
c) as aberturas Abl e Ab2 tm valores prximos; e,
d) a gnesis do sinal normal no Quadrante 3.
A figura de Lissajous do defeito B tambm visualmente simtrica e os valores
das Amplitudes 1 e 2 bem como das Aberturas 1 e 2 so semelhantes.
O processamento de outros dois defeitos simtricos do tubo LataoDidOl
(defeitos E e F), apresentado na Figura 7.31, leva mesma concluso quanto relao
entre as Aberturas e a simetria do defeito, isto , defeitos simtricos apresentam figuras de
Lissajous simtricas.
142
REATNCIA
RESISTNCIA
100
150
RESISTNCIA
-6
200 100
150
6,
200
mm
-6
REATNCIA
6
-4
-2
4 6
Volts
Ptala 2
4
2
O
-2
-4
Ptala 1
-6
-2
PROCESSAMENTO D O SINAL
4 6
Volts
143
RESISTNCIA
REATNCIA
6
m
-1^
<
' ^
O
-2
'
-4
-6
250
O
-2
-4
300
250
-6
-6
300mm
Ptalas 1
-4
-2
Volts
REATNCIA
RESISTNCIA
250
300
PROCESSAMENTO DO S
250
30%
PROCESSAMENTO D O SINA
LOCALIZAO: 265 mm
ANGULO DE FASE DO SINAL 130 Graus
AMPLITUDE DA PTALA 1: 47 Volts
AMPLITUDE DA PTALA 2: 5.0 Volts
ABERTURA DA PTALA 1:1.0 Volts
ABERTURA DA PTALA 2: TO Volts
GENESIS NORMAL DO SINAL (Quadrante 3)
LOCALIZAO: 308 mm
ANGULO DE FASE DO SINAL 138 Graus
AMPLITUDE DA PTALA 1: 4.7 Volts
AMPLITUDE DA PTALA 2: 47 Volts
ABERTURA DAPETAUi^l: 1.0 Volts
ABERTURA DA PTALA 2:1.0 Voits
GENESIS NORMAL DQ SINAL (Quadrante 3)
OK
OK
144
A
B
C
D
E
(Graus)
Ap1
(Volts)
Ap2
(Volts)
Abl
(Volts)
Ab2
(Volts)
(%)
152
120
133
121
130
138
3,2
6,7
3,6
10,1
4,7
4,7
3,0
6,9
3,6
10,0
5,0
4,7
0,8
1,5
0,8
2,4
1,0
1.0
0,4
1,6
0,9
2,2
1,0
1,0
11
44
30
43
34
27
20
40
60
80
100
120
140
160
180
a (Graus)
Figura 7.32: Curva de Calibrao para o tubo LataoDidOl
145
REATNCIA
B
180
OO
RESISTNCIA
-2
180
REATNCIA
4
Volts
PROCESSAMENTO D O S
PROCESSAMENTO
LOCALIZAO: 145 mm
ANGULO DE FASE DO SINAL 120 Graus
AMPLITUDE DA PTALA 1: G.7 Volts
AMPLITUDE DA PTALA 2: G.9 Volts
ABERTURA DA PTALA 1:1.5 Volts
ABERTURA DA PTALA 2:1.G Volts
GENESIS NORMAL DO SINAL (Quadrante 3)
LOCALIZAO: 185 mm
ANGULO DE FASE DO SINAL 133 Graus
AMPLITUDE DA PTALA 1: 3.6 Volts
AMPLITUDE DA PTALA 2: 3.6 Volts
ABERTURA DA PTALA 1: 08 Volts
ABERTURA DA PTALA 2: 09 Volts
GENESIS NORMAL DO SINAL (Quadrante 3)
OK
OK
146
circunferenciais
onde,
(7.25)
Tabela 7.2: Relao entre amplitude total e volume dos defeitos do tubo LataoDidOl
DEFEITO
B
C
D
E
F
Apt
AsTc
(Volts)
6,2
13,6
7,2
20,1
9,7
9,4
(mm)
0,17
0,66
0,45
0,65
0,51
0,41
(mnf)
0,25
0,47
0,30
1,50
0,23
0,60
(mmp
11,9
29,0
17,9
89,5
13,7
35,8
defeito
extemo
assimtrico e concntrico em forma de "v" com um lado vertical e o outro inclinado, com
abertura de 60 e largura de 2,0 mm. A sua profimdidade de 0,17 mm, o que
corresponde a 1 1 % da espessura da parede do tubo.
147
A Figura 7.34 apresenta o sinal exibido pelo PPS na opo "EXIBIR SINAL DO
DEFEITO", um esquema da passagem da sonda pelo defeito e o processamento do sinal
gerado pela opo "EXTRAIR CARACTERSTICAS DO SINAL".
RESISTENCIA
100
-1
-1
-2
-2
100
3
(ft
-3
50
150
mm
REATNCIA
RESISTENCIA
3
REATANCIA
150
-3
50
100
-1
-2
150
-3
-3
-2
-1
PROCESSAMENTO D O SINAL
-JJJJSJ
148
Ab2.
149
RESISTNCIA
REATNCIA
>
100
RESISTENCIA
150mm
REATANCIA
100
PROCESSAMENTO D O SP":
-6
-4
-2
4 6
Volts
15Qnm
-In)x|
1 ^ PROCESSAMENTO DO S I NW"
LOCALIZAO: 105 mm
ANGULO DE FASE DO SINAL 152 Graus
AMPLITUDE DA PETAU1: 3.2 Volts
AMPLITUDE DA PETAU\ 2: 30 Volts
ABERTURA DA PTALA 1:08 Volts
ABERTURA DA PTALA 2: 04 Volts
GENESIS NORMAL DO SINAL (Quadrante 3)
LOCALIZAO: 145 mm
ANGULO DE FASE DO SINAL: 120 Graus
AMPLITUDE DA PTALA 1: 6.7 Volts
AMPLITUDE DA PTALA 2: 6.9 Volts
ABERTURA DA PTALA 1:1.5 Volts
ABERTURA DA PTALA 2:1.6 Volts
GENESIS NORMAL DO SINAL (Quadrante 3)
OK
OK
150
cowtsso MACKm oe E ^ R S A
MLCLEAR/SP-IPEI
151
REATANCIA
yy^^
-2
-4
230
240
250
230
240
250
mm
RESISTNCIA
REATNCIA
-6
-4
-2
Volts
IMPEDNCIA Sinal Pre-processado
4
PROCESSAMENTO D O
152
extemo,
simtrico,
excntrico
e de
grande
REATNCIA
RESISTNCIA
REATANCIA
-2
-4
-6
300
V
1
f.
V
u
N
B
>
2
0
-2
-2
-4
-4
-6
-6
350 300
350
mm
-.^ PROCESSAMENTO
PRDtESSAMEMTO
LOCALIZAO: 31 o mm
ANGULO DE FASE DO SINAL 135 Giaus
AMPLITUDE DA PTALA 1: 7.5 Volts
AMPLITUDE DA PTALA 2 7.5 Volts
ABERTURA DA PTALA 1: 0.3 Volts
ABERTURA DA PTALA 2 0.1 Volts
GENESIS NORMAL D SINAL (Qudi^te 3)
LOCALIZAO: 340 im
ANGULO DE FASE DO SINAL: 158 Gfaus
AMPLITUDE DA PTALA 1: 3.1 VolIs
AMPLITUDE DA PTALA 2 3.1 Volts
ABERTURA DA PTALA 1: 0.1 Volts
ABERTURA DA PTALA 2 0.2 Volts
GENESIS NORMAL DO SINAL (Quddiante 3)
OK
OK
153
Furos
Os fiiros podem ser passantes ou no passantes, intemos ou extemos. Neste
trabalho, foram produzidos fiiros por meio de usinagem ou eletroeroso em tubos de lato
e ao inox com a finalidade de calibrao da aparelhagem de inspeo por Eddy-Current e
extrao de caractersticas dos sinais.
154
7.3.2.1 Furo passante
155
156
RESISTNCIA
8
'
20
60
100
140
8r
20
RESISTNCIA
8I
20
REATNCIA
60
100
-8
140
mm
'
60
100
140
60
100
8[
20
Volts
REATNCIA
-4
140
mm
I M P E D N C I A LATAODID02B DEFEITOS 2 0 % . 3 0 % E 4 0 %
^
-2.5
SINAL PR-PROCESSADO
DFA10L8D6AA6
-2
Figura 7.41: Furos no passantes profundidades 20%, 30% e 40% (tubo LataoDid02)
157
IMPEDANCIA LataoDid02B
70% e
80%
Tabela 7.3: Volume dos defeitos e amplitudes dos sinais do tubo LataoDid02
P
(%)
^mm)^
Xmm')
20
30
40
50
60
70
80
0,30
0,45
0,60
0,75
0.90
1,05
1,20
Apt
JVolts)
" 0,94
1,41
1,89
2,36
2,83
3,30
3,77
2,4
3,1
4,6
6,8
9.1
13,2
10,0
15,0 Apt
y,6
V
(mm^)
4,00
3.00
2,00
1.00 -
5,0
Figura 7.43: Volume dos defeitos e amplitude dos sinais (tubo LataoDid02)
158
Do tubo LataoDid03 foram comparadas as figuras de Lissajous de 2 firos cegos
extemos com dimetros diferentes e profimdidades iguais com a finalidade de comprovar
que o ngulo de fase no varia com a profimdidade e que o volimie do defeito
proporcional amplitude do sinal. Na Figura 7.44 so apresentadas as figuras de Lissajous
dos fijros 0 2,8 mm e 0 4,8 mm. Na Tabela 7.4 e na Figura 7.45 apresentada a
relao entre os volumes de todos os defeitos do mesmo tubo e as amplitudes totais dos
sinais.
Dimetro 2,8 mm
-2
-4
-6
-a
-10
-10
-8
-4
-2
10
Volts
Tabela 7.4: Volume dos defeitos e amplitudes dos sinais do tubo LataoDid03
DEFEITO
A
B
C
D
DIMETRO
(mm)
1,0
2,0
2,8
4,8
PROFUNDIDADE
(mm)
0,75
0,75
0,75
0,75
V
(mm^
0,59
2,36
4,62
13,57
Apt
(Volts)
1,8
5,0
10,2
26,6
159
V
(miTi^)
4.00 -
10,0
20.0
30,0 Apt
(ms)
Figura 7.45: Volume dos defeitos e amplitude dos sinais (tubo LataoDidS)
7.3.3
longitudinais com 15,0 mm de extenso, profimdidade 0,75 mm, nos dimetros 2,0 mm
e 2,8 mm, com o objetivo de pesquisar os sinais de defeitos longitudinais de grande
extenso, excntricos e com profimdidade constante. As Figuras 7.46 e 7.47 apresentam
os processamentos desses sinais, onde se confirma que:
defeitos de grande extenso possuem aberturas pequenas quando comparadas com as
amplitudes;
o volume do defeito proporcional amplitude do sinal de Eddy-Current; e,
para profimdidade constante, o ngulo de fase no varia. Para o defeito A o ngulo de
fase 162. Para o defeito B 161 e para o defeito 0 159.
160
REATANCIA
RESISTNCIA
REATNCIA
RESISTNCIA
i/>
I
2
O
-2
50
100
1 5 0 50
150
-4
mm
REATNCIA
RESISTNCIA
150
50
100
-4
-2
2
4
Volts
150
mm
COMtSSAO m m N . oe energia
s^uclear/sp-ipen
161
7.3.4
162
7.4
Current, ou seja, o ngulo de Fase, a Amplitude Total (Apt) e as Aberturas das ptalas
(Abl e Ab2).
Para a operao do sistema Fuzzy, as entradas so nebulizadas, ou seja, os
conjuntos no nebulosos so transformados em conjuntos nebulosos (equaes 7.19 e
7.20). As entradas so convertidas em variveis lingsticas nebulosas pela aplicao de
um nebulizador F com fimes de pertinncia
]i
intensidade muio pequeno (MP), pequeno (P), mdio (M), grande (G) e muito grande
(MG) que alteram os limites lingsticos.
Na nebulizao, estima-se o grau de pe tinncia de cada entrada do sistema. Uma
vez que a entrada do sistema nebulizada, ela se toma uma entrada Fuzzy que pode ser
utilizada no processo de inferncia.
As abrangncias e os centros das fiines de pertinncia foram estabelecidos com
base nos processamentos realizados e so apresentados a seguir.
A Figura 7.48 apresenta os modificadores de intensidade e as funes de
pertinncia nebulizando a entrada Abertura 1 cujos valores variam de O a 2 Volts. Um
diagrama semelhante utilizado para a Abertura 2.
Membership function plots
f^*- P'=^^^'
MP
181
MG
LI .4
oe
o ;
.:
Input variable "Abertura.r
14
I h
I S
163
MG
GE
ME
plo'points: I
PE
ig?
MPE
40
HO
i 60
pequeno,
mdio
cujos
plot points:
0.6 -
7.5
Conjunto de Regras
As regras do sistema de inferncia Fuzzy representam as relaes entre as
Aumenta ou
164
ENTRADA
SAlDA
ngulo - INT.OUT.PROF
ngulo de Fase
LOCALIZADO ou EXTENSO
Ab-SIM,ASSIM
Ab1 e Ab2
SIMTRICO ou ASSIMTRICO
Ab - PROFA.D
Abi e Ab2
Apt - VOL
Apt
VOLUME
Defeito INTERNO
AngUo-INT,OUT,PROF
Cmamdan)
DetertoXTERNO
n g u l o , cte,Fase
PROFUNDIDADE
Abeftura.l
A b , A p t - L O C , EXT
DefeiloLOCAUZADO
(matnclant)
Abertura^
Defeto EXTENSO
Ainptude
Figura 7.52: Entradas e sadas do subconjunto nebuloso Ab, Apt - LOC, EXT
Ab-SIM,ASSW
At)ertura,1
Defeito.SIMETRICO
(maindani)
Abertura.2
Dtelo ASSIMTRICO
165
Ab-PROFAD
PROF .AUMENTA
Abertura.1
(mamdani)
PROF,DtMlWUI
Abertura^
Apt - VOL
(mamdani)
VOLUHC
AmpBude
As
figuras
a seguir
apresentam
algumas
das superficies
formadas
pela
s 0.6.
X
UJ
O
0.4.
0.2 .
2
-
1.5
O.S
At)ertixa.2
"
Abertura.1
Figura 7.56: Funes de pertinncia para o subconjunto nebuloso Ab, Apt - LOC,EXT
o o
o o
166
o o
Antecedente
^Conseqente
SE o ngulo de fase MPI
ENTO defeito INTERNO Verdadeiro, defeito EXTERNO Falso e a Profundidade PO
SE o ngulo de fase Pl
ENTO defeito INTERNO Verdadeiro, defeito EXTERNO Falso e a Profundidade P25
SE o ngulo de fase Ml
ENTO defeito INTERNO Verdadeiro, defeito EXTERNO Falso e a Profundidade P50
SE o ngulo d e f a s e G I
ENTO defeito INTERNO Verdadeiro, defeito EXTERNO Falso e a Profundidade P75
SE o ngulo de fase MG
ENTO a profundidade P 1 0 0
SE o ngulo de fase GE
ENTO defeito INTERNO Falso, defeito EXTERNO Verdadeiro e a Profundidade P75
SE o ngulo de fase M
ENTO defeito INTERNO Falso, defeito EXTERNO Verdadeiro e a Profundidade P50
SE o ngulo de fase PE
ENTO defeito INTERNO Falso, defeito EXTERNO Verdadeiro e a Profundidade P25
SE o ngulo de fase MPE
ENTO defeito INTERNO Falso, defeito EXTERNO Verdadeiro e a Profundidade PO
167
Antecedente
Conseqente
10
11
12
13
14
15
^g
^y
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
168
Antecedente
Conseqente
37
38
39
40
41
52
53
54
55
gg
57
gg
5-
60
g.,
g.|
g3
g,
g.
gg
Antecedente
Conseqente
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 MP
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 P
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 M
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Verdadeiro
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 G
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Verdadeiro
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 MG
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Verdadeiro
SE Abertura 1 P, Abertura 2 MP
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 P , Abertura 2 P
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 P, Abertura 2 M
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 P, Abertura 2 G
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Verdadeiro
SE Abertura 1 P, Abertura 2 MG
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Verdadeiro
SE Abertura 1 M, Abertura 2 MP
ENTO Profundidade Aumenta Verdadeiro e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 M, Abertura 2 P
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 M, Abertura 2 M
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 M, Abertura 2 G
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 M , Abertura 2 MG
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Verdadeiro
SE Abertura 1 G, Abertura 2 MP
ENTO Profundidade Aumenta Verdadeiro e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 G, Abertura 2 P
ENTO Profundidade Aumenta Verdadeiro e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 G, Abertura 2 M
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 G, Abertura 2 G
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 M G
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 MP
ENTO Profundidade Aumenta Verdadeiro e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 P
ENTO Profundidade Aumenta Verdadeiro e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 M
ENTO Profundidade Aumenta Verdadeiro e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 G
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 MG
ENTO Profundidade Aumenta Falso e Profundidade Diminui Falso
169
Regra
68
69
j.
j2
78
j^
g-
85
87
88
90
g.
Antecedente
Conseqente
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 MP
ENTO Defeito Simtrico Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 P
ENTO Defeito Simtrco Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 M
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Provavelmente Verdadeiro
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 G
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Verdadeiro
SE Abertura 1 MP, Abertura 2 MG
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Verdadeiro
SE Abertura 1 P, Abertura 2 MP
ENTO Defeito Simtrico Provavelmente Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 P, Abertura 2 P
ENTO Defeito Simtrico Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 P, Abertura 2 M
ENTO Defeito Simtrico Provavelmente Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 P, Abertura 2 G
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Provavelmente Verdadeiro
SE Abertura 1 P, Abertura 2 MG
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Verdadeiro
SE Abertura 1 M, Abertura 2 MP
ENTO Defeito Simtrico Provavelmente Verdadeiro e Defeito Assimtrico Provavelmente Falso
SE Abertura 1 M, Abertura 2 P
ENTO Defeito Simtrico Provavelmente Verdadeiro e Defeito Assimtrico Provavelmente Falso
SE Abertura 1 M, Abertura 2 M
ENTO Defeito Simtrico Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 M, Abertura 2 G
ENTO Defeito Simtrico Provavelmente Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 M, Abertura 2 MG
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Provavelmente Verdadeiro
SE Abertura 1 G, Abertura 2 MP
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Provavelmente Verdadeiro
SE Abertura 1 G, Abertura 2 P
ENTO Defeito Simtrico Provavelmente Falso e Defeito Assimtrico Provavelmente Verdadeiro
SE Abertura 1 G , Abertura 2 M
ENTO Defeito Simtrico Provavelmente Verdadeiro e Defeito Assimtrico Provavelmente Falso
SE Abertura 1 G, Abertura 2 G
ENTO Defeito Simtrico Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 MG
ENTO Defeito Simtrico Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 MP
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Verdadeiro
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 P
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Verdadeiro
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 M
ENTO Defeito Simtrico Falso e Defeito Assimtrico Provavelmente Verdadeiro
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 G
ENTO Defeito Simtrico Provavelmente Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
SE Abertura 1 MG, Abertura 2 M G
ENTO Defeito Simtrico Verdadeiro e Defeito Assimtrico Falso
170
7.6
7.7
Sadas do Sistema
Profimdidade: PROF; e,
Volume: VOL
Plo' P'"^'-
181
PI
171
(* P****:
181
plot P0in>s: |
181
VMG
7.8
Agregao
No processo de agregao, somam-se as potncias das conseqncias das regras
172
7.9
7.10
Verificao Metodolgica
Concludo o treinamento supervisionado, a verificao da metodologia foi
realizada utilizando
Figura 7.62: Extrao das caractersticas do sinal do defeito N do tubo de Inconel 600
Esse defeito um entalhe extemo, simtrico, excntrico, com profimdidade
mxima de 50% da espessura da parede do tubo. O seu volume de aproximadamente
160 mm^ um defeito extenso e a sua profimdidade constante ao longo do
comprimento do tubo.
Na Figura 7.63 apresentado graficamente todo o processo de anlise da entrada
ngulo de Fase e as sadas do sistema, onde se observa que o defeito foi classificado
corretamente como 0,89 EXTERNO.
n*)iteFosB-135
7]
PROFUNDIDADE 0.25
173
VOLUME = 150
I T
21
200
2
3
Abertura.2 = 0.1
Amplitude = 15
LOCALIZADO = .107
EXTENSO = 0.89
IV
IB
IS
9 czs:;
10 I
12
1 5
1 6
r-j
1^
2 7
174
Abertura .2 = 0.1
3.89 Deleito.;
= 0.107
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
SIMTRICO
Abertura.2 = 0.1
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
3
Figura 7.67: Classificao do defeito quanto variao da PROFUNDIDADE
175
INT / 0.89INT
LOC/0.97LOC
SIM/0.97SIM
CTE / 0.03AUM-0.03DIM
P25/P22
V20.4/V19.0
INT/0.96INT
LOC/a98LOC
SIM/0.98SIM
CTE/0.08AUM-0 08DIM
P50/P48
V2.0/V1 8
LOC/0.96LQe
SIM/0.97SIM
CTE/0.02AUM-0.02DIM
P100/P99
V2 3/V2.0
OUT/0.89OUT
LOC / 0.95LOC
SIM / 0.96SIM
CTE / 0.07AUM-0.07DIM
P75/P75
V7.0/V6.7
OUT/0.880UT
LOC / 0.93LOC
SIM/0.95SIM
CTE0.04AUM-0.04DIM
P50/P43
V4.0/V3.7
OT/0,9eOUT
LOC/0,97LQC
SIM/0.98SIM
CTE / 0,05AUM-0,05DIM
P25 / P24
V12.5'V12.0
OUT/0.86OUT
LOC/0.90LOC
SIM/0.92SIM
CTE/0 07AUM.0.07DIM
P75/P70
VI .2/VI 0
OUT/0.80OUT
LOC/0.89LC1C
SIM/0.90SIM
CTE/0.09AUM.0.09DIM
P50/P50
V I . 7 / V I .6
Om-/0.73OUT
LOC/0,82LOC
SIM/0.85SIM
CTE; 0.08AUM-0.08DIM
P2S / P23
V I , 3 / V I .3
OUT/0.97OUT
L O C / 0 95LOC
SIM / 0 98SIM
CTE / 0.04AUM-0.04DIM
P50/P49
V9.9/V9.7
OLrT/0.98OUT
LOC/0.97LOC
ASSIM/0.96ASSIM
DIM/0.04AUM-0.96DIM
Pmax50/P26
V5.2/V5.0
OUT/0.97OUT
LOC/o.geLoc
ASSIM / 0.93ASSIM
DIM / 0.07AUMJ}.93DIM
Pmax25/P12
V2.e/V2 4
O U T / 0 99OUT
E X T / 0 90bXI
S I M / 0 88SIM
CTE / 0.117AUM-0.117DIM
Pmax75 / P39
V230 0 / V220.0
OUT/0.89OUT
EXT/0.89EXT
SIM/0.89SIM
CTE/0.107AUM-0.107DIM
PmaxSO / P25
V160,0/V150.0
OUT/0.87OUT
E X T / 0 88EXT
SIM / 0.88SIM
CTE/0.103AUM-0.103DIM
Pmax25/P14
V150.0/V145,0
176
intemo (0,50 INT) e 50% externo (0,50 OUT), o que intrnsecamente correto.
Para
respectivamente
0,86 OUT, 0,80 OUT e 0,73 OUT. Essa discrepncia deve-se ao pequeno volume desses
defeitos (1,2 mm^, 1,7 mm3 e 1,3 mm^ respectivamente) e que resulta em sinais de
pequena amplitude comprometendo o seu processamento.
177
como
supervisionado
de
178
O Sistema Fuzzy foi aplicado s caractersticas extradas dos sinais dos defeitos
dos tubos InoxTrocOl a 06. Conforme j mencionado no Captulo 5, esses tubos foram
retirados de trocadores de calor que resriavam cido sulfrico na superficie extema
dos tubos com gua de resriamento pelo
ASTM A-249-316L e somente foi atacado pelo cido. Portanto, somente a superficie
extema dos tubos apresenta defeitos.
Primeiramente, nas Figuras 7.68 a 7.73, so apresentados os grficos da
reatncia, da resistncia e da impedncia dos sinais originais desses tubos.
Em seguida, apresentado na Figura 7.74 como exemplo tpico, o prprocessamento realizado para os sinais de todos os defeitos do tubo InoxTroc02, cujo
resultado pode ser comparado com os sinais originais (Figura 7.73).
A Figura 7.75 apresenta como exemplo tpico, o pr-processamento do sinal do
defeito B do tubo InoxTroc02.
Finalmente, apresentado como exemplo tpico na Figura 7.76, o processamento
do sinal do defeito B desse mesmo tubo, com a sua localizao e a extrao das
caractersticas ngulo de fase, amplitudes e aberturas.
anais pronais
|o
-2
2000
4000
6000
8000
10000
12000
14000
Amoslras
179
MPEDANCIA DOS DEFEITOS
R E A T A N C I A D O S D E F E I T O S lnoiiTroc03A Sinais Onglnais
-2
-1.5
-1
InoxTrocOSA
Sinais ( p a n a i s
O
Vos
0.5
-0.5
C.2
0.4
0.6
0.8
1.2
1.4
16
1-8
Amotras
2
x lo'
lnoxTroc04A
1
O
200
400
600
800
1000
1200
mm
2000
4000
6000
8000
10000
120)
14000
Amostras
16000
18000
InoxTrocOSA
1.5
180
I M P E D N C I A D O S D E F E I T O S LNOXTFOC06A
SINAIS RIGNAIS
02
04
06
08
12
14
16
18
AMOSTRAS
^,Q'
S O
100
200
300
400
500
600
700
800
SOO
1000
100
200
300
400
500
600
700
300
900
1000
0.2
0,4
06
08
1.2
1.4
1.6
1.8
Amostras
x IO""
|o
" o
0.2
0.4
0.6
08
1.2
1,4
1,6
1,6
Amoslras
-1,5
-1
-0,5
O
Voto
05
1,5
181
RESISTENCIA
400
REATNCIA
450
IMPEDNCIA Sinal Pr-processado
Db5 N9 D5 a D9
RESISTNCIA
1.5
%
5.
w
!
V
>
0.5
O
-0.5
-1400
450
-0.5
0.5
1
Volts
182
InoxTrocOl
defeitos'-'
OUT/-
EXT/-
- / -
DIM-CTE-AUM / -
P75/-
-V800/V-
lnoxTroc02
Defeito A
OUT/0.97OLIT
LOC/0.85LOC
-SIM/0.81SIM
-CTE / a42AUM.0.42DIM
P0S/P04
~V0,3/V0.2
lnoxTroc02
Defeito B
OUT/0.99OUT
LOC/0.72LOC
~SIM/0.90SIM
P23/P24
-V0.8/V0.7
lnoxTroc02
Defeito C
OUT/0.92OUT
LOC/O.SSLCX;
~SIM/0.88SIM
-CTE / 0.19AUM.0,19DIM
P02/P02
-V0.2/V01
lnoxTroc02
Defeito D
OUT/0.99OUT
LOC/0.84LOC
-SIM / 0.92SIM
-CTE / 0.25AUM-0.25DIM
P28/PS0
-V1.2/V1.1
InoxTrocOS
Defeito A
OUT/O.geOLTT
LOC/0.86LOC
-SIM/0.83SIM
-CTE / 0.22AUM.0.22DIM
P17/P16
~V0.9/V0.8
InoxTrocOS
Defeito B
OUT/0.97OUT
LOC/0.89LC1C
-SIM/0.8SSIM
-CTE / 0.29AUM-0.29DtM
P20 / P20
-V1S/V1.2
InoxTrocOS
Defeito C
OUT/0.97OUT
LOC/0.87LCX;
-SIM/0.B4SIM
-CTE / 0.23AUM-0.2SDIM
P18/P18
-V1.0/V1.0
InoxTrocOS
Defeito D
OUT/0.92OUT
LOC/0.80LOC
-SIM/0.81SIM
-CTE / 0.19AUM-0.19DIM
P11/P12
-V0.7 / V0.6
tnoxTtwKM
Defeito A
OUT/0.92OLrT
LOC/0.89LOC
-SIM/0.83SIM
P13/P15
-V0.5/V0.4
InoxTrtxKM
Defeito B
OUT/0.91 OUT
LOC/0.82LOC
-SIM/0.80SIM
-CTE/O40AUM-0.40DIM
P04/P05
-V0.4/V0.3
lnoxTroc04
Defeito C
OUT/0.97OUT
LOC/0.90LOC
-SIM/0.86SIM
-CTE / 014AUM-0.14DIM
P39/P40
-V18/V1.7
lnoxTroc04
Defeito D
OUT/0.79OUT
LOC/089LOC
~SIM/0.88SIM
-CTE / 0.39AUM-0.S9DIM
P02/P0S
-V0.2/V0.1
InoxTrocOS
defeitos'*'
OUT/-0.86OUT
EXT/-0.92LOC
-/~0.9SASSIM
DIM-CTE-AUM / 0,26AUM-
P70/-P7S
-V600/V8.9
0.2eDIM
InoxTrocOe
Defeito A
OUT/ 0.88OUT
LOC/0.92LOC
-SIM/0.79SIM
-CTE / 0.33AUM-0.33OIM
P1S/P16
-V0.2/V0.1
InoxTrocOe
Defeito B
OUT/095OUT
LOC/0.9eLOC
~SIM/082SIM
-CTE / 0.12AUM-0.12DIM
P29/P31
-V1,1/V1.0
InoxTrocOe
Defeito C
OUT/0.73OUT
LOC/0.73LOC
-SIM / 0.68SIM
P02 / P04
~V0.7 / V0.5
183
corroso
184
185
Os
tubos
classificada
186
187
188
189
a necessidade de
190
normalizaes, visto que o cdigo ASME incompleto nessa matria. Tambm foi
proposta a extrao de novas caractersticas das figuras de Lissajous (amplitudes e
aberturas), relacionadas com a sua forma, que permitem a explorao da relao entre as
caractersticas dos sinais e dos defeitos, organizando metodologicamente o conhecimento
disponvel sobre a inspeo por Eddy-Current de defeitos volumtricos.
O conhecimento adquirido com o processamento de sinais foi transferido para a
Base de Conhecimento de um sistema de inferncia baseado em lgica Fuzzy que
relaciona as caracteristicas dos sinais com extenso, forma, localizao e profundidade de
defeitos volumtricos. O Sistema Fuzzy foi testado para o tubo de Inconel 600 e para os
tubos InoxTroc extrados de trocadores de calor e apresentou resultados satisfatrios.
O objetivo principal deste trabalho, ou seja, a formulao de uma metodologia
aplicvel aos sinais de inspees por Eddy-Current em defeitos volumtricos, que reduza
a subjetividade no processo de deciso do inspetor, foi atingido. Esta metodologia traduz
o conhecimento adquirido com a base de dados pesquisada e poder evoluir com
melhorias na Base de Conhecimento do Sistema Fuzzy, integrao automtica do Prprocessamento, do Processamento e do Sistema Fuzzy e, fmalmente, a extenso da
metodologia para defeitos no volumtricos como IGA e defeitos localizados sob
chicanas e espelhos.
Alm desses, tambm so propostos os seguintes trabalhos fiaturos:
-
Fuzzifcao
do processo de transformao
da figura de Lissajous
no pr-
conforme
C O E S O mzimii
DE ENERQA f4:L&AR/sp-iFf.M
191
Avaliao da melhor forma de leitura do ngulo de fase, ou sqa, atravs da reta que
une as Pernas P2 e P3 ou da reta que une as extremidades da figura de Lissajous,
conforme abordado no item 7.2.5.1;
Extenso da metodologia para defeitos causados por corroso mtergranular e corroso
generalizada; e.
Utilizao de sondas com bobinas no coaxiais para a explorao de defeitos
circunferenciais excntricos, conforme proposto no item 7.11.5.
192
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