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ideais para aplicaes onde o tamanho, o peso e o controle da velocidade de resfriamento e aquecimento so
importantes. Essas pastilhas possuem ainda a vantagem de ter um custo relativamente baixo quando comparado a outras
estratgias de resfriamento.
Um conversor termoeltrico, tambm conhecido por Mdulo Termoeltrico ou ainda Clula de Peltier, consiste em
um conjunto de pares de semicondutores dos tipos n e p denominados termoelementos. Esses elementos n e p so
conectados eletricamente em srie atravs de um metal, e termicamente em paralelo, soldados entre dois materiais que
os isolam eletricamente, porm, que conduzem termicamente formando um sanduche. Estes materiais isolantes
eltricos so constitudos por placas cermicas que tambm servem para dar forma ao mdulo, conforme mostra a Fig.
(1). Desde que uma diferena de temperatura seja mantida atravs do mdulo, potncia eltrica ser gerada e entregue a
uma carga externa e dessa forma o dispositivo opera como um gerador. Inversamente, quando uma corrente eltrica
circula atravs do mdulo, o calor absorvido em uma face e rejeitado na outra face, e assim o dispositivo funciona
como um refrigerador (Melcor, 2007).
Calor absolvido
Metal condutor
Calor liberado
Figura 1. Representao esquemtica de uma Clula de Peltier. Fonte: MELCOR 2007
O objetivo geral deste trabalho desenvolver um aparelho de medio da resistncia eltrica em funo da
temperatura em amostras de LMF utilizando o efeito Peltier proporcionado por pastilhas termoeltricas disponveis no
mercado. Esse equipamento ser empregado para a caracterizao das temperaturas de transformao e histerese em
temperatura de LMF projetadas para trabalhar na faixa de -30 a 100 C.
2. MATERIAIS E MTODOS
Neste trabalho o banho termoregulvel de 13 litros de um sistema de medio da resistncia eltrica em funo da
temperatura (SMRT) anteriormente desenvolvido (Reis et al, 2006) foi completamente substitudo por uma pastilha
termoeltrica modelo UT15-12-40-F2 do fabricante MELCOR. Esse novo sistema foi denominado SMRT-Plus e
permite realizar ciclagens trmicas de amostras de LMF entre -30 a 100 C.
2.1. Composio do SMRT-Plus
O SMRT-Plus composto basicamente da mesma instrumentao utilizada no SMRT (Reis et al, 2006). A Fig. (2),
mostra um diagrama de blocos para o SMRT e o SMRT-Plus, demonstrando a necessidade de um aparato para fazer
variar a temperatura da amostra, uma fonte de corrente continua (CC) estabilizada, um sensor de temperatura e um
sistema de aquisio de dados conectado a um computador (PC). Os parmetros envolvidos na medio so a corrente
eltrica constante (I) passando atravs da amostra, a resistncia eltrica (R) ou a tenso eltrica (+V-) e a temperatura do
meio (T). Estes parmetros devem ser monitorados no tempo (t) e armazenados em computador para anlise posterior.
Sensor de temperatura
T
Sistema de variao da temperatura
Amostra
I
Fonte de corrente CC
R ou +VAquisio de dados
T, t, ou +VPC
O SMRT-Plus construdo com base no diagrama da Fig. (2), e esquematizado na Fig. (3), consiste de uma pastilha
termoeltrica (1), duas fontes de alimentao CC (2.1 e 2.2), um sistema de aquisio de dados com placa de interface
GPIB (3), um computador com programa de visualizao dos dados coletados (4) e um sistema de dissipao de calor
(5). A pastilha termoeltrica (1) do fabricante MELCOR, modelo UT15-12-40-F2. As fontes de alimentao CC (2.1 e
2.2) so da marca Agilent, modelo E3633A. O sistema de aquisio de dados (3) tambm da marca Agilent, modelo
34970A, equipado com um mdulo multiplexador de 20 canais com preciso de leitura de at 6 dgitos.
Pastilha
termoeltrica
Amostra
Fonte
Termopar
Aquisio
de dados
Sistema de
dissipao de calor
Fonte
Micro
computador
Figura 3. Ilustrao esquemtica do SMRT-Plus. (1) Modulo de Peltier; (2.1) Fonte CC; (2.2) Fonte CC; (4)
Microcomputador; (5) Dissipador de calor.
2.2. Principio de Funcionamento do SMRT-Plus
Para se obter a curva experimental de Resistncia Eltrica versus Temperatura (R T) necessrio variar de forma
controlada a temperatura da amostra de LMF e monitorar simultaneamente a temperatura e a resistncia eltrica, ou a
variao de tenso da amostra. A idia bsica utilizar uma pastilha termoeltrica como sistema de variao da
temperatura da amostra. Para isso, necessrio colocar em contato trmico a amostra com o mdulo Peltier e fazer
variar a temperatura do mdulo. A maneira mais fcil de controlar a temperatura da pastilha atravs do controle de sua
tenso de alimentao. A fonte de potncia (2.2) que alimenta a pastilha permite ser comandada remotamente por meio
de um software que se comunica com o PC (4) atravs de uma placa de interface GPIB. O sistema de aquisio (3)
permite fazer a medio da resistncia eltrica da amostra de forma direta e indireta atravs do mtodo de dois ou
quatro fios. O sistema de dissipao de calor (5) utilizado como uma espcie de fonte trmica, para manter a
temperatura da superfcie inferior da pastilha o mais constante possvel, ou seja, para absolver todo o calor liberado pelo
modulo durante o processo de variao de temperatura.
SMRT-Plus
(1)
(2)
(3)
(4)
(5)
3. RESULTADOS E DISCUSSES
Durante os testes de resfriamento verificou-se o comportamento da mxima temperatura negativa da superfcie
superior do mdulo (Tc), bem como o monitoramento da temperatura de sua face inferior (Th). Os resultados foram
obtidos em forma de curvas caractersticas das temperaturas Tc e Th em funo do tempo (T-t), conforme mostra a
Figura (6).
40
30
Th
Temperatura (C)
20
10
0
-10
resfriamento
-20
Tc
-30
-40
-25
25
50
75
100
125
aquecimento
150
175
200
225
250
Tempo (s)
Resistncia ()
0,00150
SMRT-Plus
SMRT
resfriamento
0,00145
0,00140
0,00135
aquecimento
0,00130
0,00125
-40
-20
20
40
60
80
Temperatura (C)
Nas Figuras (8) e (9) observa-se o comportamento clssico, em forma de S com histerese, das curvas R-T para a
maioria das LMF (Otsuka & Wayman, 1998). As diferenas entre as curvas obtidas com o SMRT-Plus e o SMRT
podem ser atribudas fundamentalmente diferena das taxas de resfriamento e aquecimento entre os dois aparelhos.
0,00040
SMRT-Plus
SMRT
Resistncia ()
0,00038
0,00036
aquecimento
0,00034
resfriamento
0,00032
0,00030
0,00028
-40
-20
20
40
60
80
Temperatura (C)
SMRT-Plus
SMRT
Resistncia ()
0,00132
0,00128
aquecimento
0,00124
resfriamento
0,00120
0,00116
0,00112
-40
-20
20
40
60
80
Temperatura (C)
As
Af
Ms
Mf
Na Figura (10), observa-se um comparativo de tempo de operao entre o SMRT e o SMRT-Plus. Vale ressaltar
que um ciclo completo com o SMRT entre -10 C e 30 C dura aproximadamente 1 hora enquanto no SMRT-Plus essa
mesma ciclagem pode ser feita em apenas 5 minutos.
30
SMRT-Plus
SMRT
20
-10
Resfriamento
Resfriamento
Temperatura (C)
10
Aquecimento
Aquecimento
-20
-30
-40
-500
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
4000
Tempo (s)
6. REFERNCIAS
Melcor, Thermoelectrics Handbook eletrnico. Disponvel em: <http://www.melcor.com>. Acesso em: 19 set. 2007.
Otsuka, K., Wayman, C. M., 1998, Shape Memory Materials, Cambridge University Press, Cambridge, UK, 284p.
Rowe, D. M., 2006, CRC Handbook of Thermoelectrics, Ed. Crc Press, Wales, Uk, 1008 p.
Reis, R. P. B., de Arajo, C. J., Silva, L. A. R., Queiroga, S. L. M., 2006, Desenvolvimento de um sistema de medio
da variao de resistncia eltrica em funo da temperatura: aplicao caracterizao de ligas com memria de
forma, IV Congresso Nacional de Engenharia Mecnica (CONEM 2006), Recife PE, Brasil, pp. 1-10.
Selden, Brian., Cho, Kyu-Jin, Asada, H. Harry, 2004, Segmented Binary Control of Shape Memory Alloy Actuator
Systems Using the Peltier Effect. In: International Conference on Robotics & Automation, 0-78034232-3, New
Orleans, La.IEEE. pp. 4931 - 4936.
7. DIREITOS AUTORAIS
Os autores so os nicos responsveis pelo contedo do material impresso includo no seu trabalho.
Abstract. This work had as general objective demonstrate the viability to develop an electrical resistance versus
temperature measurement system (ERTS) for the characterization of the transformation temperatures and thermal
hysteresis of shape memory alloys (SMA) in the range -30 to 200C. The originality of proposed ERTS is in the
employment of a refrigerator/heater operated by thermoelectric effect (TE). For so much, it was mounted an
experimental test bench to vary the temperature of SMA samples as well as to save simultaneously in a computer the
electrical resistance or tension generated in the sample. To validate the developed system, tests were made using three
specimens of SMA (Ni-Ti, Ni-Ti-Cu and Cu-Al-Ni). The obtained results are in agreement with the ones of a classic
ERTS previously using a programmable digital rapid-cool circulating bath to control the temperature of the SMA
samples. The ERTS based on the thermoelectrically tablet, denominated ERTS-Plus, allowed to obtain characteristic
Temperature (C) versus Resistance (Ohm) curves, which present agreement with the literature. In practice, the
developed work originated new equipment that is light, compact and noiseless in comparison with the first ERTS, and
can also be applied in the experimental characterization for the fundamental study of SMA. The ERTS-Plus will
constantly be used in the researches developed by the Multidisciplinary Laboratory on Active Materials and Structures
(LaMMEA) from UAEM/CCT/UFCG.
Keywords: Shape Memory Alloys, transformation temperatures, thermal hysteresis, electrical resistance, Peltier effect.