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Documenti di Cultura
DISTRIBUCION POISSON
p
= np
L
n
N
c
60
400
1
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.1
DISTRIBUCION BINOMIAL
q
L
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.1
0.99
0.98
0.97
0.96
0.95
0.94
0.93
0.92
0.91
0.9
0.87876673
0.66190393
0.4592108
0.3022331
0.19155337
0.11792319
0.0708943
0.04177129
0.02418085
0.01377708
0.6
1.2
1.8
2.4
3
3.6
4.2
4.8
5.4
6
0.87809862
0.66262727
0.46283689
0.30844104
0.19914827
0.12568912
0.077977
0.04773253
0.02890612
0.01735127
DISTRIBUCION HIPERGEOMETRICO
D
L
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.1
4
8
12
16
20
24
28
32
36
40
0.89138365
0.65699005
0.44024147
0.27801163
0.1683672
0.0987454
0.05642082
0.03152959
0.01727851
0.00930279
1
0.9
0.8
poison
0.7
BINOMIAL
0.6
HIPERGEMETRICA
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
0.01 0.02 0.03 0.04 0.05 0.06 0.07 0.08 0.09
0.1
Axis Title
DETERMINE U N PLAN DE MUESTREO SIMPLE PARA AQL = 0.01 = 0.05 LTPD = 0.1
y = 0.1
DETERMINE U N PLAN DE MUESTREO SIMPLE PARA AQL = 0.01 = 0.05 LTPD = 0.1
y = 0.1
LTPD
AQL
0.1
NOS VALDREMOS DE LAS TABLAS DE GRUBBS PARA
0.01
REALIZAR EL EJERCICIO
0.05 LTPD/AQL
10
0.1
AQL
LTPD
=5%
=10% LTPD/AQL
0
0.051
2.303 45.1568627
1
0.355
3.89 10.9577465
2
0.818
5.322 6.50611247
3
1.366
6.681 4.8909224
4
1.97
7.994 4.05786802
5
2.613
9.275 3.54955989
6
3.285
10.532 3.20608828
7
3.981
11.771 2.95679478
8
4.695
12.995 2.76783813
9
5.425
14.206 2.61861751
10
6.169
15.407 2.49748744
11
6.924
16.598 2.39716927
=
_/
= _/
n
35.5
36 n
PLAN A
LTPD
AQL
ltpd
PLAN B
0.1
0.01
0.05
3.6
0.12568912
LTPD
AQL
aql
1-
PLAN A
PLAN B
38.9
0.05 0.12568912
0.05889094
0.1
0.1
0.01
0.1
0.39
0.94110906
0.05889094
39
poison
BINOMIAL
HIPERGEMETRICA
E GRUBBS PARA
O
150
= np
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.1
1.5
3
4.5
6
7.5
9
10.5
12
13.5
15
n
plan B
p
L
0.98142406
0.81526324
0.53210358
0.2850565
0.13206186
0.05496364
0.02109357
0.00760039
0.00260434
0.00085664
180
= np
0.01
0.02
0.03
0.04
0.05
0.06
0.07
0.08
0.09
0.1
1.8
3.6
5.4
7.2
9
10.8
12.6
14.4
16.2
18
1.2
1
0.8
PLAN A
PLAN B
0.6
0.4
0.2
0
0.02
0.04
0.06
0.08
0.1
0.12
b) El lote con menor costo de inspeccion si los lotes tienen una calidad promedio de 4% y
el costo de inspeccion es de 0.8 Bs/unidad
0.04
(1)
=/
n
Costo de
muestreo
costo por
unidad (Bs/un)
Costo de
muestreo
80
0.8
b) el plan menos costoso seria el plan A con 80 Bs por 100 unidades inspeccionadas
5) Deduzca un plan de muestreo mediante el metodo de Grubb, con AQL =8 y LTPD = 14%
Asumiremos = 5% y =10%
AQL
0.08
Nos valdremos de las tablas de grubbs
LTPD
0.14 LTPD/AQL
1.75
Buscaremos este valor
0.05
0.1
= 5%
= 10%}
c
AQL
LTPD
LTPD/AQL
20
14.072
27.045 1.92190165
21
14.894
28.184 1.89230563
22
15.719
29.32 1.8652586
23
16.549
30.453 1.84017161
24
17.382
31.584 1.81705212
25
18.219
32.711 1.79543334
26
19.058
33.836 1.77542239
27
19.901
34.959 1.75664539
28
20.746
36.08 1.73913043
PLAN A
C
AQL
LTPD
n
LTPD
= _/
27
0.08
0.14
248.7625
34.86
0.10287239
PLAN B
C
AQL
LTPD
n
27
0.08
0.14
249.707143
249
=
_/
250
PLAN A
n
c
249
27
5%
10.2872392
PLAN B
n
c
(%)
(%)
250
27
5.24807132
10
AQL
1-
20
0.94751929
0.05248071
PLAN C
C
AQL
LTPD
n
LTPD
28
0.08
0.14
259.325
36.4
0.09129813
=
_/
260
PLAN C
n
c
(%)
(%)
PLAN D
C
AQL
LTPD
n
AQL
1-
28
0.08
0.14
257.714286
20.64
0.95249622
0.04750378
260
28
5
9.1298129
PLAN C
=
_/
258
n
c
(%)
(%)
258
28
4.75037781
10
= 5%
PLAN A
PLAN B
PLAN C
PLAN D
= 10%}
5 10.2872392432
5.24807132
10
5
9.1298129033
4.75037781
10
0.05
0.1
)/(1))/( ((1))/((1)))
_1=_1+
_2=_2+
h1
1.55317925
h2
S
1.99408422
0.04358749
XL
XR
0 -1.55317925 1.99408422
1 -1.50959176 2.03767171
2 -1.46600427 2.0812592
3 -1.42241678 2.12484669
4 -1.37882929 2.16843418
5 -1.3352418 2.21202167
6 -1.29165431 2.25560916
7 -1.24806682 2.29919665
8 -1.20447933 2.34278414
9 -1.16089184 2.38637163
10 -1.11730435 2.42995912
11 -1.07371686 2.47354661
12 -1.03012937 2.5171341
13 -0.98654188 2.56072159
14 -0.94295439 2.60430908
15 -0.8993669 2.64789657
16 -0.85577941 2.69148406
17 -0.81219192 2.73507155
18 -0.76860443 2.77865904
19 -0.72501694 2.82224653
20 -0.68142945 2.86583402
XL
21 -0.63784196
22 -0.59425447
23 -0.55066698
24 -0.50707949
25
-0.463492
26 -0.41990451
27 -0.37631702
28 -0.33272953
29 -0.28914204
30 -0.24555455
31 -0.20196706
32 -0.15837957
33 -0.11479208
34 -0.07120459
35 -0.0276171
36 0.01597039
37 0.05955788
38 0.10314537
39 0.14673287
40 0.19032036
5
4
3
2
1
0
10
15
20
25
30
35
40
45
-1
-2
XR=-h1+Sn
XR=h2+Sn
se deberan inspeccionar almenos 22 elementos y como maximo 23 para poder encontrar las tres
unidades defectuosas
0.01999
0.09788
0.05
0.1
AQL/LTPD
=5%
aql
C
0
1
2
3
4
5
C
4.896
=10%
ltpd
LTPD/AQL
2.303
45.157
3.89
10.958
5.322
6.506
6.681
4.891
7.994
4.058
9.275
3.550
0.051
0.355
0.818
1.366
1.97
2.613
3
n
68.3341671
n
69
68.2570494483
69
69
3
Plan Secuencial
_2=
( (1
_1=(log(1)/)/(log((1))/(
(1
))))/)/( ((1))/((1)))
( (1)/(1))/( ((1))/((1)))
_1=_1+
_2=_2+
h1
h2
S
1.34700993
1.72938908
0.04955063
n
n
Xl
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27.1845153
34.9014532
Xr
-1.2974592977 1.77893972
-1.2479086651 1.82849035
-1.1983580324 1.87804098
-1.1488073998 1.92759161
-1.0992567672 1.97714225
-1.0497061345 2.02669288
-1.0001555019 2.07624351
-0.9506048693 2.12579414
-0.9010542366 2.17534478
-0.851503604 2.22489541
-0.8019529714 2.27444604
-0.7524023387 2.32399668
-0.7028517061 2.37354731
-0.6533010735 2.42309794
-0.6037504408 2.47264857
-0.5541998082 2.52219921
-0.5046491756 2.57174984
-0.4550985429 2.62130047
-0.4055479103 2.6708511
-0.3559972777 2.72040174
-0.306446645 2.76995237
-0.2568960124
2.819503
-0.2073453798 2.86905363
-0.1577947471 2.91860427
-0.1082441145 2.9681549
-0.0586934819 3.01770553
27
28
29
30
31
32
33
34
-0.0091428492
0.0404077834
0.089958416
0.1395090487
0.1890596813
0.2386103139
0.2881609466
0.3377115792
3.06725616
3.1168068
3.16635743
3.21590806
3.2654587
3.31500933
3.36455996
3.41411059
muestreo secuencial
4
3
2
Axis Title
Xl
1
0
Column E
0
10
15
20
-1
-2
Axis Title
25
30
35
40
L
0.9896219631
0.8441185338
0.5461321044
0.2758974527
0.1156905208
0.0422551736
0.0139030577
0.0042183943
0.0012000606
0.0003239935
0.12
de el origen hasta el
dad promedio de 4% y
ades inspeccionadas
grubbs
emos este valor
(1))/((1)))
XR
2.9094215122
2.9530090024
2.9965964926
3.0401839828
3.0837714729
3.1273589631
3.1709464533
3.2145339435
3.2581214337
3.3017089239
3.3452964141
3.3888839043
3.4324713945
3.4760588847
3.5196463748
3.563233865
3.6068213552
3.6504088454
3.6939963356
3.7375838258
40
45
ar a los 40
ar a los 40
de la grafica, pero la
rechaza el lote
Xl
Column E
Media
Desviacion estandar
P(??< x < ?')=
por izuierda 12.0709473269
por derecha 12.7290526731
12.4
0.1
0.999
es decir:
0.1
p
0.999
(12)
POR COMPLEMENTO
P
0.001
usando complementto
z
-3.090232306
1( 12)
=()/
Ahora compremos
u
P
DESPEJAMOS u DE LA
ECUACION
12.309023231
0.999
b) que valor debe darse a la media para para que 99.9% de todas las botellas contenga mas de 12
onzas de liquido si la desviacion estandar puede reducirse a 0.05 onzas de liquido
usando las formulas del inciso anterior
donde:
u
????
z
-3.090232306
x
12
0.05
DESPEJAMOS u DE LA
p
0.999
ECUACION
POR COMPLEMENTO
U
12.154511615
P
0.001
Ahora comprobemos
0.999
11) se considera una embotelladora de gaseosa, que compra botellas aun proovedor. El
limite inferior de especificacion para la resistencia de la presion interna es de
225lb/pulg2 supongase que el nivel de calidad aceptable para este limite de
especificacion es de 1% y el tolerable del 4%. Ademas considere que se embarcan lotes
de tamao 100000. se desea obtener un plan de muestros por variables admitiendo que
se desconoce la desviacion estandar
AQL
LTPD
Z
Z
ZAQL
ZLTPD
0.01
0.04
0.05
0.1
CALCULANDO
-2.326347874
#NAME?
#NAME?
#NAME?
_= __/
_= __/
( )
1%
=(_+_)/(__ )
(1)
4%
5%
10%
con la formula 1 calculamos n
n
redondeando
al mas
11.222160231
proximo
(2)
(3)
KAQL
-0.973294841
KLTPD
-0.776172028
0.1922
KPROMEDIO
19.22
12) Las especificaciones de una caracteristica de calidad son 4.350+-0.05 la maquina que
produce estas piezas tiene un comportamiento casi normal con desviacion estandar de
0.03 formule un plan de muestreo por varibles que sea equivalente a un plan por atibutos
n = 150, c = 3
AQL
LTPD
?????
?????
c
0.05 1-
0.1
0.95
0.1
3
3
150
150
AQL
LTPD
0.05 aql
0.1 ltpd
0.9107%
4.4540%
1.366
6.681
aql= n AQL
ltpd= n LTPD
Primera condicion
0.03 < 0.18
4.355
4.345
0.03
cumple
segunda condicion
u
LI-u/
Pi
Ls-u/
ps
1-ps
4.35 -0.1666666667 0.43381617 0.1666666667 0.5661838326 0.4338161674
segunda condicion: la fraccion inicial debe ser
menor al AQL
0.8676323<
0.01 FALSO
No se cumplio la segunda condicion pero si la primera por lo cual podemos realizar un muesrtreo por
variables simultaneo
0.05
Z
-1.644853627
0.1
Z
#NAME?
AQL
0.00910667
ZAQL
#NAME?
LTPD
0.0445400
ZLTPD
#NAME?
Muestreo unilateral Lim. Sup
=(_+_)/(__ )
(1)
4.4273630622
_= __/
KAQL
KLTPD
KPROMEDIO
n
K
M
VA
KAQL
KLTPD
KPROMEDIO
( )
0.0843493054
VA
n
K
M
VA
(3)
-1.625651423
-1.127143518
-1.37639747
(5)
PLAN DE MUESTREO A
5
-1.3763974703
0.0843493054
4.3137080759
(2)
_= __/
4.3137080759
(1)
4.4273630622
_= __/
( )
0.0843493054
=+
VA
(3)
-1.6256514227
-1.1271435179
-1.3763974703
(2)
_= __/
=(_+_)/(__ )
(5)
4.3862919241
PLAN DE MUESTREO B
5
-1.37639747
0.0843493054
4.3862919241
una bebida
cion estandar 0.1
12 onzas de liquido
mites
ia de modo que se
e llenado puede
mismo valor de 0.1
contenga mas de 12
as de liquido
s aun proovedor. El
interna es de
este limite de
se embarcan lotes
les admitiendo que
ulamos n
12
-0.87473343
0.00910667
0.04454
pi+ps
0.86763233
0.8676323<
FALSO
(1)
(2)
MUESTREO B
(3)
0.05
n
5.54115439
6
0.1
_= __/
(2)
ZAQL
-2.40891555
ZLTPD
-1.88079361
Z
-1.64485363
_= __/
(3)
Z
-1.28155157
K LTPD
K AQL
K PROMEDIO
_
M
-1.35760237
-1.20928493
-1.28344365
( )
0.09966834
=+
VA
n
K
M
VA
86.1496691
Plan de muestreo
6
-1.28344365
0.09966834
86.1496691
9.97%
(5)
U defectos
14) El consumo de corriente de una lampara tiene una distribucion estandar de 1.75
miliamperios el limite superior es de 50 y el limete inferior de 35, disee un plan
por variables que tenga un AQL DE 1% y un LTPD 3% si se propone un plan de
atributos n= 309 y c=3 cuyo costo es de 1/4 que cuesta por variables cual es mas
conveniente economicamente
Ls
50
Primera condicion:
LI
30
AQL
0.01
Ls-Li < 6
LTPD
0.03
0.05
0.1
20 < 10.5
FALSO
1.75
NOTA: Si no se cumple la primera condicion es imposible realizar un muestreo por variables. Si
se cumple la primera y no la segunda se puede realizar un muestreo de varibles unilateral
simultaneo
Por tanto como no se cumple la primera condicion es imposible realizar un
muestreo por varibles
15) la resisyencia de cierto circuito se considera una caracteristica importante cuya
especificacion de diseo es de 125 +/- 3 si la resistencia se distribuye normalmente con =
1.05
a) cual es el plan de muestreo que satisfaga a un AQL DE 1% Y UN LTPD DE 6%
AQL
LTPD
LI
LS
0.01
0.06
0.05
0.1
1.05
122
128
LI-u/
Pi
125 -2.85714286
125.1 -2.95238095
125.2 -3.04761905
125.3 -3.14285714
123 -0.95238095
126 -3.80952381
126.3686 -4.16057143
124.4575 -2.34047619
126.3686 -4.16057143
126.3685 -4.16047619
126.3684 -4.16038095
Primera condicion:
Ls-Li < 6
3 < 6.3
Ls-u/
ps
#NAME? 2.8571428571
#NAME? 2.7619047619
#NAME? 2.6666666667
#NAME? 2.5714285714
#NAME? 4.7619047619
#NAME? 1.9047619048
#NAME? 1.5537142857
#NAME? 3.3738095238
#NAME? 1.5537142857
#NAME? 1.5538095238
#NAME? 1.5539047619
VERDADERO
1-ps
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
126.3683
126.3682
126.3681
126.368
126.3679
126.3678
126.3677
126.3676
126.3675
126.3674
aceptable
tolerable
AQL
LTPD
Z
Z
ZAQL
ZLTPD
-4.16028571
-4.16019048
-4.16009524
-4.16
-4.15990476
-4.15980952
-4.15971429
-4.15961905
-4.15952381
-4.15942857
124.4575
126.3674
0.01
0.06
0.05
0.1
-1.64485363
-1.28155157
-2.34047619
-4.15942857
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
1.554
1.5540952381
1.5541904762
1.5542857143
1.5543809524
1.5544761905
1.5545714286
1.5546666667
1.5547619048
1.5548571429
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
2.58836941
3
_= __/
(2)
_= __/
(3)
KAQL
KLTPD
KPROMEDIO
-1.39081951
-3.41952443
-2.40517197
_= (_ _+_ _)/(_+_ )
VAs
125.531003
_=2_
Vai
K
n
(5)
124.468997
PLAN A
124.469 < X < 127.531
-2.4051719681
3
(4)
AQL
LTPD
LI
LS
0.05
0.1
1.05
122
128
Primera condicion:
Ls-Li < 6
3 < 6.3
VERDADERO
el valor de AQL ES 3%
LI-u/
Pi
Ls-u/
ps
1-ps
125 -2.85714286 0.00213737 2.8571428571 0.99786263 0.00213737
126.02419 -3.8325619 6.3408E-005 1.8817238095 0.97006324 0.02993676
126.02421 -3.83258095 6.3403E-005 1.8817047619 0.97006194 0.02993806
126.02422 -3.83259048 6.3400E-005 1.8816952381 0.9700613 0.0299387
126.3674 -4.15942857 1.5952E-005 1.5548571429 0.94000995 0.05999005
aceptable
tolerable
126.02419
126.3674
0.05
0.1
1.05
80.154452
81
_= __/
(2)
_= __/
KAQL
KLTPD
KPROMEDIO
-3.64980039
-4.01703395
-3.83341717
_= (_ _+_ _)/
(_+_ )
(4)
Vas
_=2_
(5)
126.217099
(3)
_=2_
(5)
VA i
n
K
123.782901
PLAN B
123.7829 < x < 126.2171
81
-3.8334171718
LTPD= 0.06
AQL = 0.03
PLAN A
123.384 < X < 127.531
3
-2.4051719681
n
K
n
K
LTPD=0.06
PLAN B
124.83128 < x < 125.83128
81
-3.8334171718
16) las especificacones de una caracteristica de calidad son 25.550" +/- 0.005 cuya
desviacion es aproximadamente normal con = 0.02
a) la media se sufre una disminucion de 0.2% cual es el porcentaje en unidades que no
cumple las especificaiones
LS
25.5039
LI
25.4939
n
0.197413
0.02
1-n
80.2587%
MEDIA
25.55
el 80.2587 % esta fuera de las especifcaciones
Nueva Media
25.4989
b) Formule un plan de muestreo por variables que responda a AQL= 1% y LTPD= 5%
LS
LI
MEDIA
AQL
LTPD
Z
Z
25.555
25.545
0.02
25.55
0.05
0.1
0.01
0.05
-1.64485363
-1.28155157
Primera condicion:
Ls-Li < 6
0.01< 0.12
VERDADERO
LI-u/
Pi
Ls-u/
ps
1-ps
25.55
-0.25 0.40129367
0.25 0.59870633 0.40129367
NO se cumple la segundo condicion 0.8028< 0.01 por tanto haremos un muestreo de variables
simultaneo
Unilateral superior
Unilateral inferior
Ls
25.555
Li
25.545
0.02
0.02
0.05
0.05
0.1
0.1
AQL
0.01
AQL
0.01
LTPD
0.05
LTPD
0.05
Z
-1.64485363
Z
-1.64485363
Z
-1.28155157
Z
-1.28155157
ZAQL
-2.32634787
ZAQL
-2.32634787
ZLTPD
-1.64485363
ZLTPD
-1.64485363
=(_+_)/(__
)
(1)
n
4.29410109
_= __/
5.00
(2)
(1.59)
(1.07)
(1.33)
_
M
_= __/
( )
_
M
(5)
=+
25.53
5
(1.33)
(2)
(3)
(1.59)
(1.07)
(1.33)
( )
0.09155558
=
VA
4.29410109
KAQL
KLTPD
KPROMEDIO
0.09155558
VA
_= __/
_= __/
(3)
KAQL
KLTPD
KPROMEDIO
=(_+_)/
(__ )
(1)
(5)
25.57
5
1.33
M
VA
0.09155558
25.53
M
VA
0.09155558
25.57
MEDIA
AQL
LTPD
Z
Z
25.555
25.545
0.02
25.55
0.05
0.1
0.01
0.05
-1.64485363
-1.28155157
LI-u/
25.55
-0.25 0.40129367
Primera condicion:
Ls-Li < 6
1
0.02
0.02
0.05
0.05
0.1
0.1
AQL
0.02
AQL
0.02
LTPD
0.05
LTPD
0.05
Z
-1.64485363
Z
-1.64485363
Z
-1.28155157
Z
-1.28155157
ZAQL
-2.05374891
ZAQL
-2.05374891
ZLTPD
-1.64485363
ZLTPD
-1.64485363
Usemmos las formulas de el inciso
Usemmos las formulas de el inciso anterior
anterior
n
7.15685729
8n
7.15685729
8
KLTPD
-1.47220533
KLTPD
-1.47220533
KAQL
-1.19175673
KAQL
-1.19175673
KPROMEDIO
-1.33198103
KPROMEDIO
-1.33198103
M
0.09143321
M
0.09143321
VA
25.5283604
VA
25.5716396
17) Una fabrica de lamparas consideran que sus productos tienen una vida
promedio de 2000 horas y = 300 horas formular unplan de muestreo para la
recepcion de lotes con una vida promedio de 1800
17) Una fabrica de lamparas consideran que sus productos tienen una vida
promedio de 2000 horas y = 300 horas formular unplan de muestreo para la
recepcion de lotes con una vida promedio de 1800
a
t
Z
Z
19.2686565
_= (_ _+_ _)/
(_+_ )
(4)
VA s
VA i
1912.41462
_=2_
(5)
1687.58538
MEDIA
LI
LS
LS-LI
6
0.02 ZAQL
0.05 ZLTPD
0.05 Z
0.1 Z
4.58E-06
4.55
4.555
4.545
0.01
2.75E-05
-2.053748911
#NAME?
#NAME?
#NAME?
Primera condicion:
Ls-Li < 6
0
n = 3 ohmios . Las
imite superiro es de
QL de 0.008 LTPD=
U defectos
on estandar de 1.75
35, disee un plan
opone un plan de
riables cual es mas
SO
ible realizar un
importante cuya
normalmente con =
UN LTPD DE 6%
ERO
pi+ps
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
#NAME?
(4)
ERO
pi+ps
0.00427473
0.03000017
0.03000146
0.0300021
0.060006
PLAN B
< x < 125.83128
81
-3.8334171718
0.02
n unidades que no
pecifcaciones
= 1% y LTPD= 5%
DERO
pi+ps
0.80258735
muestreo de variables
eral inferior
(3)
cias presenta
0.80258735
realizaremos un
el inciso anterior
procedemos a calcular
20
1921.4146
de muestreo
de muestreo