UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA

Facultad de Ingeniera
Departamento de Ingeniera Industrial
Taller de procesos Metalmecnicos
Hctor Cifuentes Aya
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PROPAGACIN DE INCERTIDUMBRES A TRAVS DE

MDULOS
Andrs Bonilla, Pablo Moreno, Luis Quintero, Edwin Gonzlez.
Marzo 3 de 2015

A menudo, diferentes mdulos se interconectan para formar sistemas de medicin

especficos. As mismo, existen transductores de diferentes tipos y caractersticas
de medicin los cuales estn ligados a unidades de procesamiento de seal que
a su vez estn conectados a sistemas de indicacin de registro. La incertidumbre
de cada uno de los mdulos interconectados se propaga con el fin de obtener la
incertidumbre combinada del sistema de medicin completo.
Por otra parte, el problema aparece de forma tan frecuente en la experimentacin,
por lo tanto este caso particular de anlisis de incertidumbre tambin es llamado
propagacin de la incertidumbre. En este mismo sentido, el captulo presenta
esencialmente las consideraciones y procedimientos recomendados para estimar
la incertidumbre combinada del sistema de medicin de cada una de las
caractersticas metrolgicas de los mdulos interconectados.
La interconexin de varios mdulos para componer un sistema de medicin se
muestra esquemticamente en la (Figura 1). El rendimiento metrolgico individual
de cada uno de los mdulos se conoce como apriori, en trminos de su
incertidumbre estndar u ( M i ) y su correccin C ( M i ), para las condiciones
de funcionamiento mediante la evaluacin del comportamiento metrolgico del
sistema completo.

Figura 1. Propagacin de la incertidumbre entre los mdulos interconectados de un Sistema de

Medicin

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Sea E ( M 1 ) la magnitud de la seal de entrada y S ( M 1 ) la seal de salida

respectiva. La sensibilidad de este mdulo es referenciada por K ( M 1 ) (una
constante multiplicativa que relaciona la entrada a la salida del mdulo), la
correccin C ( M 1 ) y la incertidumbre estndar u ( M 1 ). La seal de salida del
primer mdulo se correlaciona con la entrada por la ecuacin ( 1.1 ) .
S ( M 1) =E ( M 1 ) . K ( M 1 )C ( M 1 ) u( M 1)(1.1)
La correccin C ( M 1 ) aparece con signo negativo porque la salida del mdulo
se calcula de acuerdo a la entrada, y este camino es contrario al original. Tenga en
cuenta adems que la dispersin es equivalente a una incertidumbre tpica del
primer mdulo la cual est presente en la seal de salida. Del mismo modo, que
para el mdulo 2:
S ( M 2) =E ( M 2 ) . K ( M 2 )C ( M 2 ) u(M 2)
Cuando el mdulo 2 est conectado al mdulo 1, se puede inferir que el mdulo 1
es la salida que coincide con el mdulo de entrada 2. Por lo tanto, la ecuacin
anterior, cuando se combina con la (1.1) conduce a:
S ( M 2) =E ( M 2 ) . K ( M 2 ) K ( M 1 ) [ C ( M 1 ) . K ( M 2 ) +C ( M 2 ) ] [u( M 1). K ( M 2)+u( M 2 )]
En este mismo sentido, el lado derecho de la ecuacin anterior se agrupan en tres
bloques: el primer bloque corresponde a la seal de salida nominal libre de la
influencia de cualquier incertidumbre. Por otra parte, el segundo bloque se
desprende una serie de errores sistemticos. Finalmente, el tercer componente es
la incertidumbre estndar asociada a cada mdulo. Si este anlisis se extiende a n
mdulos, la ecuacin anterior crece en complejidad. Sin embargo, es posible
observar la existencia de un cierto patrn que se puede extrapolar a n mdulos.
Por lo tanto se tiene en cuenta que la entrada del bloque 1 coincide con la entrada
de la S ( SM ) y la salida del bloque n con la salida de S ( SM ) . De acuerdo a lo
anterior, se representa principalmente en los siguientes tems:

El valor nominal de la salida de

S ( SM )

dada por:

S ( SM )=E ( SM ) . K ( M 1) . K ( M 2) . K ( M 3 ) K (M n)

(1.2)

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La influencia de la incertidumbre sistemtica, esta expresada a travs de

cada una de sus correcciones en cada mdulo :

M
( n)
S ( SM )=(...( (( C ( M 1 ) . K ( M 2 ) +C ( M 2 ) ) . K ( M 3 ) +C ( M 3 ) ) . K ( M 4 ) +C ( M 4 ))...). K

La influencia de la incertidumbre estndar de cada mdulo en la salida

u ( SM ) :

( (

) )

u ( SM )= ... ( ( u ( M 1 ) . K ( M 2 ) +u ( M 2 ) ) . K ( M 3 ) + u ( M 3 ) ) . K ( M 4 ) + u ( M 4 ) ... . K (M n )

Despus de algunas manipulaciones algebraicas, las ecuaciones anteriores

pueden reescribirse en trminos de los errores relativos, lo que conduce a
los siguientes resultados :
Cr ( SM )=C r ( M 1) +C r (M 2 )+Cr (M 3)+...+C r ( M n)

(1.3)

En donde:
Cr ( SM )=

C ( SM ) /S ( SM )

es el S ( SM )

correccin relativa.

Cr ( M i ) =C ( M i ) /S ( M i ) Es el mdulo i de correccin relativa.

Y por otra parte:

ur ( SM ) = u 2r ( M 1 ) +u2r (M 2 )+u 2r ( M 3 )+...+u2r ( M n)(1.4 )

ur ( SM )=

u ( SM ) /S ( SM )

es la incertidumbre estndar relativa

( SM )

ur ( M i )=u ( M i ) / S ( M i ) Es el mdulo i de correccin relativa.

Las ecuaciones (1.2), (1.3) y (1.4) permiten caracterizar el comportamiento de la
( SM ) el cual consiste en la interconexin de n mdulos contando con cada una
de las caractersticas metrolgicas de cada mdulo individualmente. Una vez
determinada la incertidumbre relativa combinada del sistema de medicin la cual
es necesaria para determinar la propagacin de incertidumbre. Para este fin, la
ecuacin Welch Satterwaite debe ser utilizada para estimar el nmero de grados

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de libertad efectivos implicados, y desde punto determinar el factor de cobertura

respectivo.
Solucin del taller:
La indicacin del voltmetro es inferior a 2.500 V. Determinar el resultado de la
medicin del desplazamiento, efectuado por el sistema de medicin se especifica
a continuacin, y consta de:
a) Inductivo de desplazamiento Transductor:

Gama de medicin de 0-20 mm

Sensibilidad de 5 mV / mm
Correccin: -1
Incertidumbre estndar mV = 2 mV, estimada en n = 16.

b) Unidad de procesamiento de seal

Rango de medicin: 200 mV de entrada

Amplificacin: 100 x
Correccin: 0000 V
Incertidumbre estndar = 0,2 %, estima en n = 20.

c) Dispositivo de visualizacin: voltmetro digital

Rango de medicin voltmetro: 20 V

Resolucin: 5 mV
Correccin: 0:02 + % del valor indicado

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Incertidumbre estndar = 5 mV, estimada en n = 96.

Para determinar el valor nominal de la compensacin es necesario aplicar la

ecuacin (1.2) en el valor indicado en el voltmetro.
En este caso, S ( SM )=2,500 V
cada mdulo ( SM ) son:
Transductor:
UTS:
Mostrador:

y la constante K, dadas las sensibilidades de

K (T )=5 mV /mm .
K (UTS )=0,1 mV /V .
K (DM )=1 V /V .

Luego:
2,500=E ( SM ) . ( 5.0 ) ( 0.1 ) .1
E( SM )=5,000 mm
Para determinar los errores relativos es necesario determinar el valor de salida de
cada mdulo.

S (T )=E(T ) . K (T )=5,000 mm . 5 mV /mm=25,000 mV .

S (UTS )=E(UTS ). K (UTS )=25,000 mV . 0,1 mV /V =2,500 V
S ( DM )=E ( DM ). K (DM )=2,500V . 1V /V =2,500V

La correccin expresada en trminos:

Cr (T )=C (T )/ S(T )=1mV /25,000 mV =0,04

Cr (UTS)=C(UTS)/S (UTS )=0,000 V /2,500V =0,000
C( DM )=0,02 . 2,500V =0,5 mV .
Cr (DM )=C ( DM )/S (DM )=0,5 mV /2500 mV =0,0002 .

Las incertidumbres estndar estn determinadas por:

ur (T )=u(T )/S (T )=2 mV /25,000 mV =0,08

u(UTS)=0,2 . 20 V =0,04 V
ur (UTS)=u (UTS)/ S(UTS )=0,04 V /2,500 V =0,016
ur ( DM )=u( DM )/S ( DM )=5 mV /2500 mV =0,002

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La combinacin dada en las correcciones

(1.3):

S ( SM )

de se calcula por la ecuacin

Cr (SM )=0,04+ 0,000+0,0002=0,0398

Resultando que a la entrada de SM , resultando en :

C( E)=0,0398. 5,000 mm=0,199 mm

La incertidumbre estndar combinada en el

1 /2

ur ( SM ) =( 0,082 +0,0162 +0,0022 )

1/ 2
ur ( SM ) =0,01. ( 64 +2,56+0,04 )
ur (SM )=0,0815

S ( SM )

es: