ARTCULO 2

El examen radiogrfico
T-210 ALCANCE
El mtodo radiogrfico se describe en este artculo para examen de los materiales,
incluyendo piezas de fundicin y soldaduras se utilizar conjuntamente con el
artculo 1, Requisitos Generales.Las definiciones de los trminos utilizados en el
presente artculo estn en el obligatorio Apndice V del presente artculo.
Ciertos productos especficos,-tcnica especfica, y requisitos especficos de la
aplicacin tambin se dan en otros apndices obligatorios de este artculo, que se
enumeran en la tabla de contenidos. Estos requisitos adicionales tambin se
propondrn cumplido cuando se est llevando a caboun Apndice es aplicable al
examen radiogrfico o radioscpico.

T-220 REQUISITOS GENERALES

T-221REQUISITOS DEL PROCEDIMIENTO
T-221.1 Procedimiento escrito. El examen radiogrfico se llevar a cabo de
conformidad con un procedimiento escrito.
Cada procedimiento deber incluir al menos la siguiente informacin, segn
corresponda:
(a) Rango de tipo material y espesor
(b) Istopos o tensin mxima de rayos X utilizado
(c) La distancia fuente-objeto (D en T-274.1)
(d) La distancia del lado de la fuente de objeto para la pelcula (d en T-274.1)
(e) Tamao de fuente (F en T-274.1)
(f) Marca y denominacin de la pelcula
(g) Las pantallas utilizadas

T-221.2 Demostracin de procedimiento.Demostracin de la (IQI) requisitos de

imagen de densidad y el indicador de calidad de imagen de la fase escrita sobre la

produccin o radiografas de la tcnica se considerarn pruebas de conformidad

satisfactorias con dicho procedimiento.
T-222 PREPARACIN DE LA SUPERFICIE
T-222.1 Materiales incluyendo Castings. Las superficies debern satisfacer los
requisitos de la especificacin de materiales aplicables o hacer referencia a la
Seccin del Cdigo, con el acondicionamiento adicional, si es necesario, mediante
cualquier proceso adecuado a tal medida que las imgenes de las irregularidades
de la superficie no puede enmascarar o confundirse con la imagen de cualquier
discontinuidad en la radiografa resultante.

T-222.2 Soldaduras. Las ondas de soldadura o irregularidades de la superficie de

soldadura tanto en el interior (donde accesible) y fuera debern ser eliminados por
cualquier procedimiento adecuado para talmedida en que las imgenes de las
irregularidades de la superficie no puede enmascarar o debe confundirse con la
imagen de cualquier discontinuidad en la radiografa resultante.
La superficie acabada de todas las juntas soldadas a tope puede ser a ras con el
material de base o puede tener razonablemente uniforme coronas, con un refuerzo
que no exceda el especificado en la seccin de referencia del cdigo.

T-223 RADIACIN DE RETRODISPERSIN

Un smbolo de plomo "B", con unas dimensiones mnimas de 1/2 pulg(13 mm) de
altura y 1/16 de pulgada (1,5 mm) de espesor, deber ser adjuntada a la parte
posterior de cada soporte de la pelcula durante cada exposicin para determinar
si la radiacin de retrodispersin est exponiendo la pelcula.
T-224 SISTEMA DE IDENTIFICACIN
Un sistema se puede utilizar para producir una identificacin permanente en la
radiografa trazable al contrato, componente, soldadura o soldadura de costura, o
nmeros de parte, como apropiado. Adems, elnombreo smbolo del fabricante y
la fecha de la radiografa deben ser clara y definitivamente incluido en la
radiografa. Esta identificacin desistema no requiere necesariamente que la
informacin aparezca como imgenes radiogrficas. En cualquier caso, esta
informacin no debe oscurecer el rea de inters.
T-225 MONITOREO DE LIMITACIONES DE DENSIDAD

RADIOGRAFAS
Ya sea un densitmetro o cua escalonada pelcula comparacin se utilizarn para
juzgar la densidad de la pelcula.
T-226 MEDIDA DE EXAMEN
El alcance del examen radiogrfico ser el especificado por la seccin de
referencia del cdigo.
T-230 EQUIPO Y MATERIALES
T-231 PELICULA
T-231.1 Seleccin. Las radiografas se realizan utilizando pelcula radiogrfica
industrial.
T-231.2 Procesamiento. Gua estndar para controlar la calidad del
procesamiento de la pelcula radiogrfica Industrial, SE-999, o en los prrafos 23 a
26 de la Gua estndar para que se utilizar el examen radiogrfico SE-94 como
gua para la pelcula de procesamiento.

T-232 PANTALLAS INTENSIFICADORAS

Las pantallas de intensificacin se pueden usar cuando se realiza examen
radiogrfico de conformidad con el presente artculo.
T-233 INDICADOR DE CALIDAD DE DISEO DE IMAGEN (IQI)
T-233.1 Diseo IQI estndar. El IQI es de tipo agujero o tipo de alambre. Los IQIs
de tipo agujero se fabricarn e identificaran de acuerdo con los requisitos o
suplentes permitidos en SE-1025. Los IQIs de tipo alambre habrn de estar
fabricados e identificados de acuerdo con los requisitos o suplentes permitidos en
SE-747, con excepcin de que el nmero de cable ms grande o el nmero de
identificacinpuede ser omitido. ASME IQIs estndar estar integrado por los de la
tabla T-233.1 para el tipo de agujero y los de la Tabla T-233.2 para el tipo de cable.

T-233.2 Alternativa de diseo IQI. Los IQIs diseados y fabricados de acuerdo

con otra institucin nacional o internacional de normas pueden utilizarse siempre
que cumplan cualquiera de los requisitos de (a) o (b) a continuacin, y que el
material cumpla con los requisitos de T-276.1.

(a) IQIs de tipo agujero. La Sensibilidad IQI equivalente calculada (EPS), por SE1025, Apndice X1, es igual o mejor que el tipo de agujero IQI estndar requerido.
(b) IQIs de tipo de cable. El IQI alambre es una alternativa esencial que el
dimetro del alambre sea igual a o menor que el estndar requerido alambre
esencial IQI.

Tabla T-233.1
Tipo de agujero IQI, designacin, grosor y dimetros de orificio

Tabla T-233.2
Alambre IQI designacin, dimetro de alambre y alambre identidad

TT-234 ACCESO PARA VISUALIZACIN DE RADIOGRAFAS

Viendo las instalaciones facilitar el fondo tenue e iluminacin de una intensidad
que no cause reflejos, sombras, o resplandor en la radiografa que interfieren con
la interpretacin del proceso. El equipo utilizado para ver las radiografas para la
interpretacin proporcionar una fuente variable de la luz suficiente para el agujero
IQI esencial o alambre designado como visible para el intervalo de densidad
especificada. Las condiciones de visin deber ser tal que la luz de todo el borde
exterior de la radiografa no interfieracon la interpretacin a travs de partes de
baja densidad de la radiografa.

T-260 CALIBRACIN
T-261 TAMAO DEFUENTE
T-261.1 Verificacin de tamao de fuente. El equipo del fabricante o las
publicaciones de los proveedores, tales como tcnica, manuales, curvas de cada,

o declaraciones escritas que documenten el tamao de fuente actual o mximo o

lugar focal, se admitirn como verificacin de tamao de fuente.
T-261.2 Determinacin del Tamao origen. Cuando laspublicaciones del
proveedor no estn disponibles el tamao de fuente se puede determinar de la
siguiente manera:
(a) Mquinas de Rayos-X. Para las mquinas de rayos X que funciona a 500 kV y
menos, el tamao del punto focal puede ser determinadopor el mtodo del agujero
de alfiler, 5 o de acuerdo con SE-1165, Mtodo de prueba estndar para la
medicin de puntos focales de rayos x Industrial Tubes por agujeros de alfiler
Imaging.
(b) Las fuentes de iridio-192. Para Iridium-192, el tamao de la fuente se puede
determinar de acuerdo con SE-1114, Standard Mtodo de prueba para determinar
el tamao focal de Iridium-192 fuentes radiogrficas industriales.

T-262 Densitmetro y comparacin de pelcula pasocua

T-262.1 Densitmetros. Densitmetros se calibrarnal menos cada 90 das,
durante el uso de la siguiente manera:
(A) Una tableta de paso estndar nacional o una calibracin depelculapaso cua,
atribuible a una tableta de paso estndar nacional y que tiene al menos 5 pasos
con densidades neutras desde al menos 1.0 a travs de 4.0, se utilizar. La
calibracin de pelcula paso cua haya sido verificado en el ltimo ao por
comparacin con una tableta nacional paso estndar a menos que, antes del
primer uso, se mantenga en la hermtica a la luz original, y el paquete sellado a
prueba de agua suministrada por la fabricante. La calibracinde pelculas de Paso
cua se pueden usar sin la verificacin de un ao despus de la apertura, a
condicin de est dentro de la vida til declarada por el fabricante.
(B) Las instrucciones del fabricante del densitmetro ser seguida paso a paso
para el funcionamiento del densitmetro.
(C) La densidad de los pasos ms cercanos a 1.0, 2.0, 3.0, y 4.0 se leer pelcula
enla tableta paso estndar o cua escalonada de calibracin nacional.
(d) El densitmetro es aceptable si las lecturas de densidad no varan en ms de
0,05 unidades de densidad de la densidad real que aparece en la tableta paso
estndar nacional ocalibracin depelcula cua escalonada.

T-262.2 Pelcula de comparacin StepWedge. Las pelculas de comparacin

paso cua se probarn antes del primer uso, a menos que sea realizado por el
fabricante, de la siguiente manera:
(a) La densidad de los pasos en una pelcula de comparacin paso de cua ser
verificada por un densitmetro calibrado.
(b) La pelcula de comparacin paso de cua es aceptable si las lecturas de
densidad no vara en ms de 0,1 densidad, unidades de la densidad indicada en
la pelcula de comparacin paso cua.
T-262.3 Peridica de Verificacin.
(a) Los densitmetros. La verificacin peridica de calibracin de controles se
realizara como se describe en T-262.1 en el comienzo de cada turno, despus de
8 horas de uso continuo, o despus del cambio de aberturas, lo que ocurra
primero.
(b) Comparacin de pelcula paso de la cua de. Las revisiones de verificacin se
llevarn a cabo anualmente por T-262.2.

T-262.4 Documentacin.
(a) Los densitmetros. Las calibraciones del Densitmetro requeridos por T-262.1
que deben estar documentados, pero las lecturas reales para cada paso no tienen
que estar registradas. Las peridicas verificaciones delDensitmetro requeridaspor
T-262.3 (a), de no hacerlo tendr que ser documentado.
(b) El paso de la cua de pelculas de calibracin. Las verificaciones de calibracin
de pelculaPaso cua requeridos por T-262.1 (a) debern ser documentadas, pero
las lecturas reales de cada paso que hacen no tiene que ser registrada.
(c) Comparacin de pelculas de paso de la cua. Las verificaciones de pelcula
Comparacin Paso de cua requeridos por T-262.2 y T-262.3 (b) deber estar
debidamente documentadas, pero las lecturas reales de cada paso no tienen que
ser registradas.

T-270 EXAMEN
T-271 TCNICA RADIOGRFICA

Una tcnica de exposicin de pared simple se utilizar pararadiografa siempre

que sea prctico. Cuando no es prctico utilizar una tcnica de una sola pared,se
utilizar una tcnica de doble pared. Un nmero adecuado de riesgos ser
realizado para demostrar que la cobertura requerida ha sido obtenida.

T-271.1 Tcnica Single-Wall.En la tcnica de la pared simple, la radiacin pasa a

travs de slo una pared dela soldadura (material), que se considera la aceptacin
dela radiografa.
T-271.2 Tcnica de la doble pared. Cuando no es prcticoutilizar una tcnica de
una sola pared, en los casos siguientes se utilizarn tcnicas de doble pared.
(A) Visualizacin de una sola pared. Para los materiales y las soldaduras en
componentes, una tcnica puede usarse en el que la radiacin pasa a travs de
dos paredes y slo la soldadura (material de) en la pared del lado de la pelcula se
ve a la aceptacin en la radiografa. Cuando se requiere una cobertura completa
para circunferencialsoldaduras (materiales), se har un mnimo de tres
exposicionestomadas a 120 grados entre s.
(B) Visualizacin de doble pared. Para los materiales y las soldaduras
encomponentes de 31/2 pulgadas (89 mm) o menos en el exterior nominal de
dimetro, puede utilizarse una tcnica en el que la radiacin pasa a travs de dos
paredes y la soldadura (material de) en tanto paredes es visto por la aceptacin de
la misma radiografa.
Para una visualizacin de doble pared, slo un IQI-lado de la fuente ser utilizado.
(1) Para las soldaduras, el haz de radiacin puede ser compensado porel plano de
la soldadura en un ngulo suficiente para separar las imgenes de las porciones
de lado de la fuente y del lado de la pelcula de lasoldadura de manera que no hay
solapamiento de las reas a ser interpretado.
Cuando se requiere una cobertura completa, se harn para cada articulacinun
mnimo de dos exposiciones tomadas a 90 grados entre s.
(2) Como alternativa, la soldadura puede ser radiografiada con el haz de radiacin
colocado de modo que las imgenes de ambas paredes se superponen. Cuando
la cobertura completa se requiere, se harn para cada conjunta un mnimo de tres
exposiciones tomadas en cualquiera a60 grados o 120 grados entre s.

(3) se harn exposiciones adicionales si la requeridacobertura radiogrfica no se

puede obtener usando el mnimonmero de exposiciones anteriores indicadas en
(1) o (2).

T-272 RADIACIN DE ENERGA

La energa de la radiacin empleada para cualquier tcnicaradiogrfica deber
cumplir los requisitos de imagen IQI densidad y del presente artculo.
T-273 DIRECCIN DE LA RADIACIN
La direccin de la viga central de la radiacin sercentrada en el rea de inters
siempre que sea prctico.
T-274 FALTA DE NITIDEZ GEOMETRICA
T-274.1 Determinacin de falta de nitidez geomtrica.
Se determinar la falta de nitidez geomtrica de la radiografa de acuerdo con:

Ug = falta de nitidez geomtrica

F= tamao de fuente: la dimensin mxima proyectada de la fuente de radiacin
(o punto focal efectivo) en el plano perpendicular a la distancia D de la soldadura
u objeto radiografiado.
D = distancia desde la fuente de radiacin para soldar o un objeto
radiografiado.

siendo

d = distancia del lado de la fuente de la soldadura o de ser objeto radiografiar a la

pelcula.
D y d se determinarn en el centro aproximado de la zona de inters.
NOTA: Como alternativa,puede ser utilizado un nomograma como se muestra en
la Gua estndar para Examen radiogrfico SE 94.
T-274.2 LimitacionesGeomtricas falta de nitidez. Recomendaciones de los
valores mximos de falta de nitidez geomtrica son los siguientes:

Grosor de los materiales, Ug mxima, pulgadas (mm)

pulgadas (mm)
Menos de 2 (50)
0.020 (0.51)
2 a travs de 3 (50 75)
0.030 (0.76)
Ms de 3 a 4 (75 100)
0.040 (1.02)
Mayor que 4 (100)
0.070 (1.78)
NOTA: El grosor del material es el espesor sobre la que se basa el IQI.

T-275 Marcadores de ubicacin.

Marcadores de ubicacin (vase la Figura T-275), que son aparecer imgenes
radiogrficas como en la pelcula, se colocarn por parte, no en el titular de la
exposicin / cassette. Sus ubicaciones se marcarn de forma permanente en la
superficie de la pieza que se est radiografiado cuando lo permita, o en un mapa,
en modalidades que permitan el rea de inters en la radiografa de ser con
precisin trazable a su ubicacin en la parte, para el perodo de retencin
requerido de la radiografa. La evidencia tambin se facilitar en la radiografa que
requiere, se ha obtenido la cobertura de la regin que est siendo examinado.La
ubicacin marcadores se colocarn de la siguiente manera.
T-275.1 Visualizacin sola pared.
(A) Los marcadores Fuente-secundarios. Ubicacin marcadores sern colocados
en el lado de la fuente cuando al radiografiar suceda lo siguiente:
(1) Componentes planos o juntas longitudinales en cilndricoo componentes
cnicos;
(2) Componentes curvos o esfricos cuyo cncavolado es hacia la fuente y cuando
la distancia de la "fuente- al material" es menor que el radio interior de la
componente;
(3) Los componentes de curvos o esfricos cuyo convexolado es hacia la fuente.
(B) Los marcadores de pelcula-Side
(1) La ubicacin de marcadores se colocan en el lado de la pelcula cuando al
radiografiar a cualquiera de los componentes curvos o esfricos cuyo lado
cncavo es hacia la fuente y cuando la distancia "-fuente-al material" es mayor
que el radio interior.
(2) Como una alternativa a la colocacin de lado de la fuente en T-275.1 (a) (1),
los marcadores de ubicacin pueden ser colocados en la pelcula lado cuando la

radiografa muestra la cobertura ms all de la ubicacin demarcadores en la

medida demostradas por la Figura T-275, bosquejo (e), y cuando se documenta
esta alternativa de conformidad con T-291.
(C) a ambos lados marcadores. Los marcadores de ubicacin pueden ser
colocadosya sea en el lado de la fuente o el lado de la pelcula cuando al
radiografiar componentes ya sea curvos o esfricos cuyo cncavolado es hacia la
fuente y la distancia "-fuente-al material" es igual al radio interior del componente.

lado de la
pelcula
inaceptable

Componente plano o costura

longitudinal
[Ver T-275.1 (a) (1)]
[Ver boceto (e) para la alternativa]
(a)

Componente plano o costura

longitudinal
Componentes curvos con fuente
de radiacin para distancia de la
pelicula menor que el radio del
componente [Ver T-275.1 (a) (2)]

Componentes curvos con

superficie convexa hacia la
fuente de radiacin
[Ver T-275.1 (a) (3)]
(c)

Side Fuente marcador

alternativo Componente
plano o costura logitudinal
X. la cobertura de las
necesidades adicionales

Componentes curvos con fuente de

radiacin para distancia de pelcula
mayor que el radio de curvatura
[Ver T-275.1 (b) (1)]
(d)

T-275.2 Visualizacin doble pared. Para una visualizacin de doble pared, al

menos un marcador de ubicacin se coloca adyacente a la soldadura (o sobre el
material en el rea de inters) para cada radiografa.
T-275.3 Mapeo de la colocacin de marcadores de posicin. Cuando la
inaccesibilidad u otras limitaciones impiden la colocacin de marcadores como se
estipula en T-275.1 y T-275.2, un mapa acotado de la ubicacin de marcador real

ir acompaado de las radiografas para mostrar que se ha obtenido la plena

cobertura.

T-276 SELECCIN DEIQI

T-276.1 Material. IQI se seleccionarn a partir de cualquiera de los dos, el mismo
grupo de material de aleacin o grado como se identifica en SE-1025, o SE-747,
segn sea aplicable, o de ungrupoo grado de material de aleacin con una menor
absorcin de radiacin del material que est siendo radiografiado.
T-276.2 Tamao. El IQI agujero designado o esencial alambre debe ser como se
especifica en la tabla T-276. Un disolvente o ms gruesa de tipo agujero IQI se
puede sustituir por cualquier seccin de espesor que aparece en la tabla T-276, a
condicin de un equivalente se mantiene la sensibilidad IQI. Ver T-283.2.
(a) Soldaduras con refuerzos. El espesor en la que el IQI se basa es el espesor
nominal de pared nica, ms el refuerzo de soldadura estimado no exceda el
mximo permitido por la seccin de referencia del cdigo. Apoyo deanillos o tiras
no se considerarn como parte del espesor en la seleccin de IQI. La medicin
real de la soldadura no requiere refuerzo.
(b) Soldadura sin refuerzos. El espesor en que el IQI se basa en el espesor
nominal de pared nica. Anillos de refuerzo o tiras no se considerarn como parte
del espesor de la soldadura en la seleccin de IQI.
T-276.3 Las soldaduras de unin de materiales diferentes o soldaduras con
dismiles Metal de Aporte.
Cuando el metal de aportacin es de un grupo de aleaciones o grado que tiene
una atenuacin de la radiacin que difiere del material de base, la seleccin de
materiales IQI se basar en el metal de soldadura y estar de acuerdo con T-276.1.
Cuando los lmites de densidad de T-282.2 no pueden, deben cumplir con uno IQI,
y el rea de densidad excepcional (s) es en la interfaz del metal de soldadura y el
metal base, la seleccin de materiales para los IQIs adicionales se basar en el
material de base y estar de acuerdo con T-276.1.

T-277 USO DE IQIs PARA VIGILAR EXAMEN RADIOGRFICO

T-277.1 Colocacin de IQI.

(a) Fuente IQI-Side (s). El IQI (s) se colocar en el lado de la fuente de la pieza
que se examin, a excepcin de la condicin descrita en (b).
Cuando, debido a una parte o la soldadura de configuracin o tamao, no es
prctico colocar el IQI (s) de parte o de la soldadura, los IQI(s) podrn ser
incluidos en un bloque separado. Los bloques separados, debernser de la misma
o radiogrficamente materias similares (tal como se define en el documento SE1025) y puede ser utilizado para facilitar posicionamiento del IQI. No hay ninguna
restriccin en el bloque separado espesor, siempre que la tolerancia a la densidad
IQI / rea de intereses cumplan los requisitos de T-282.2.
(1) La IQI en el lado de la fuente del bloque sin separado ser colocado ms cerca
de la pelcula que el lado de la fuente de la pieza que se est radiografiado.

(2) El bloque separado se colocar lo ms cerca posible a la pieza que se est

radiografiado.
(3) Las dimensiones de los bloques cuando se utilizan IQIs de tipo agujero
exceder las dimensiones IQI de forma que el esquema de al menos tres lados de
la imagen IQI sern visibles enla radiografa.
(B) Pelicula-Side IQI (s). Dnde la inaccesibilidad de la mano impide la colocacin
del IQI (s) en el lado de la fuente, el IQI (s) ser colocado en el lado de la pelcula
en contacto con la parte que se examina.

Una carta de plomo "F" se coloca al lado o en el IQI (s), pero no debe ocultar el
agujero esencial cuando se utilizan agujero IQI.
(C) Colocacin del IQI para Soldaduras - Agujero IQIs. El IQI (s) podrser
colocado adyacente a o en la soldadura. Los nmero (s) de identificacin y,
cuando se usa, la carta de plomo "F", no podr estar en el rea de inters, excepto
cuando la configuracin geomtrica hace que sea poco prctico.
(D) ICI Colocacin de soldaduras-Wire IQIs. El IQI(s) deber ser colocado en la
soldadura de modo que la longitud de los cables es perpendicular a la longitud de
la soldadura. La identificacin del IQI y, cuando se usa, la carta de plomo "F", no
podr estar en el rea de inters, excepto cuando la configuracin geomtrica
hace que sea poco prctico.
(E) IQI Colocacin de materiales distintos de soldaduras. LaICI (s) con la
identificacin del IQI y, cuando se usa, el plomo letra "F", se puede colocar en el
rea de inters.

T-277.2 Nmero de IQI.

Cuando uno o ms pelculastitulares se utilizan para una exposicin, al menos
una imagen IQI deber figurar en cada radiografa, excepto como se indica a
continuacinen (B).
(A) Mltiples IQIs. Si se cumplen los requisitos de la T-282 mediante el uso de ms
de un IQI, uno ser representante del rea ms clara de los intereses y el otro del
rea ms oscura de inters; las densidades intermedias en la radiografa se
considerar que tiene una densidad aceptable.
(B) Caso especial
(1) Para los componentes cilndricos donde la fuente es colocada en el eje del
componente para una sola exposicin, al menos tres IQIs, espaciadas
aproximadamente 120 grados de diferencia,son obligatorios bajo las siguientes
condiciones:
(-A) Cuando se radiografa la circunferencia completa utilizando uno o ms
soportes de pelculas, o;
(-B) Cuando una seccin o secciones de la circunferencia, donde la longitud entre
los extremos de la ms externasecciones abarcan 240 grados o ms,
seradiografa usando unoo ms soportes de pelculas. Ubicaciones adicionales de
pelcula pueden ser necesariaspara obtener el espaciamiento IQI necesario.

(2) Para los componentes cilndricos donde la fuente es colocada en el eje del
componente para una sola exposicin, se requieren al menos tres IQI, con uno
colocado en cada extremo del vano de la circunferencia radiografiada y uno en el
aproximadocentro del vano, bajo las siguientes condiciones:
(-A) Cuando en una seccin de la circunferencia, la longitud de los cuales es
mayor que 120 grados y menos de 240 grados, se radiografa usando titular slo
una pelcula, o;
(-B) Cuando una seccin o secciones de la circunferencia, donde la longitud entre
los extremos de la ms externa secciones abarcan menos de 240 grados, se
radiografa usando ms de un soporte de pelcula.
(3) En (1) y (2) anteriores, donde las secciones de longitudinalsoldaduras
adyacentes a la soldadura circunferencial se radiografiarasimultneamente con la
soldadura circunferencial, un IQI adicional se colocar en cada soldadura
longitudinal al final de la seccin ms alejada de la unin con la soldadura
circunferencial que se radiografi.
(4) Para los componentes esfricos donde la fuente es colocada en el centro del
componente para una sola exposicin, al menos tres IQIs, espaciadas
aproximadamente 120 gradosadems, estn obligados bajo las siguientes
condiciones:
(-A) Cuando se radiografa una circunferencia completa utilizando uno o ms
soportes de pelculas, o;
(-B) Cuando una seccin o secciones de una circunferencia, donde la longitud
entre los extremos de las secciones ms externas abarcar 240 o ms grados, se
radiografa utilizando uno o ms titulares de pelcula. Ubicaciones adicionales de
pelcula pueden ser necesarias para obtener el espaciamiento IQI necesario.
(5) Para los componentes esfricos donde la fuente es colocado en el centro del
componente para una sola exposicin, se requieren al menos tres ICI, con uno
colocado en cada extremo del lapso radiografiado de la circunferencia
radiografiaday uno en el centro aproximado de la duracin, bajo las siguientes
condiciones:
(-a) Cuando una seccin de una circunferencia, la longitud de las cuales es mayor
que 120 grados y menos de 240 grados, es radiografiado usando titular slo una
pelcula, o;

(-b) Cuando una seccin o secciones de una circunferencia, donde la longitud

entre los extremos de las secciones ms externas abarcar menos de 240 grados
se radiografa usando ms de un soporte de pelcula.
(6) En (4) y (5) arriba, donde se radiografiaron otras soldaduras simultneamente
con la soldadura circunferencial, uno IQI adicional deber colocarse en uno a la
soldadura.
(7) Para los segmentos de una plana o curva (es decir, elipsoidal, toriesfrica,
toriconical, elptica, etc) del componente la fuente se coloca perpendicular al
centro de una longitud de soldadura para una sola exposicin al utilizar ms de
tres soportes de pelculas, por lo menos tres IQIs ms, uno situado en cada
extremo del el lapso de radiografiado y uno en el centro aproximado de la luz, son
obligatorios.
(8) Cuando se radiografa una serie de componentes en un crculo, al menos un
IQI deber mostrar en cadaimagen componente.
(9) Con el fin de mantener la continuidad de los registros que implican
exposiciones posteriores, todas las radiografas que muestran IQIs que califican
las tcnicas permitidas de conformidad con (1) a (7) anteriores sern retenidos.
T-277.3 Cuas debajo Hole-Tipo IQIs. Para soldaduras, una cua de material
radiogrficamente similar al metal de soldadura se coloca entre la parte y el IQI, si
es necesario, por lo que la densidad radiogrfica en toda la zona deinters no es
ms que menos del 15% a partir de (ms ligero que) la densidad radiogrfica a
travs de la IQI designado adyacentes al agujero esencial.
Las dimensiones calzas debern exceder las dimensiones IQI de tal manera que
el contorno de al menos tres lados de la imagen IQI deber ser visible en la
radiografa.

T-280EVALUACIN
T-281 CALIDAD DE LA RADIOGRAFA
Todas las radiografas deben estar libres de mecnica, qumica, u otras
imperfecciones en la medida en que no enmascaren yno se confundan con la
imagen de cualquier discontinuidad en el rea de inters del objeto radiografiado.
Talesdefectos se incluyen, pero no se limitan a:
(A) El empaamiento;

(b) Defectos de procesamiento, tales como rayas, marcas de agua, o manchas

qumicas;
(c) los rasguos, marcas de dedos, regletas, suciedad, estticamarcas, manchas o
rasgones;
(D) las indicaciones falsas debido a las pantallas defectuosas.

T-282 DENSIDAD RADIOGRFICO

T-282.1 Limitaciones de densidad. Ladensidad de la pelcula transmitida a travs
de la imagen radiogrfica del cuerpo de el tipo de agujero IQI designado
adyacente al orificio esencial o adyacente al alambre esencial de un tipo de
alambre de IQI y el rea de inters ser de 1,8 mnimo para la visin de una nica
pelcula para las radiografas realizadas con una fuente de rayos X y 2,0 mnimo
para las radiografas realizadas con una fuente de rayos gamma.
Para una visualizacin compuesta de mltiples exposiciones de cine, cada
compuestode la serie de pelcula tendr una densidad mnima de 1,3. La densidad
mxima ser de 4.0, ya sea para una sola o la visualizacin de material
compuesto. Se permite una tolerancia de 0.05 en las variaciones de la densidad
entre las lecturas del densitmetro.

T-282.2 Variacin de la densidad.

(a) La densidad de la radiografa en cualquier lugar a travs del rea de inters no
podr
(1) variar en ms de 15% o ms el 30% de la densidad a travs del cuerpo de
la de tipo agujero designado IQI adyacente al agujero esencial o adyacente
alesencial alambre de un tipo de alambre IQI, y
(2) exceder el / la densidad mxima permitida mnimo intervalos especificados en
T-282.1
En el clculo de la variacin permitida en la densidad, el clculo puede ser
redondeado a 0.1 ms cercano dentro del rango especificado en T-282.1.
(b) Cuando no se cumplen los requisitos de (a) anterior, a continuacin, un IQI
adicional se utilizar para cada excepcional rea o reas y la radiografa
retomadas.

(c) Cuando las cuas se utilizan con IQIs de tipo agujero, el signo ms restriccin
densidad de 30% de (a) anterior puede ser superado, y los requisitos de densidad
mnima de T-282.1 hacer no solicitar el IQI, siempre que la sensibilidad requerida
IQI de T-283.1 se cumple.

T-283 IQI SENSIBILIDAD

T-283.1 Sensibilidad requerida. Radiografa ser realizada con una tcnica de
suficiente sensibilidad para mostrar la imagen IQI tipo agujero designado y el
agujero esencial, o el hilo esencial de un tipo de cable de IQI. Las radiografas
debern mostrar tambin el IQI identificar nmeros y letras. Si la imagen IQI tipo
agujero designado y agujeroesencial, o alambre esencial de un tipo de cable de
IQI, no lo hacen mostrar en cualquier pelcula en una tcnica cinematogrfica
mltiple, pero s muestran en visin de la pelcula compuesta, se permitir la
interpretacin slo por visin de la pelcula compuesta.
T-283.2 Sensibilidad equivalente tipo agujero ICI. Un IQI de tipo agujero
delgadoo ms grueso que el IQI designado podr ser sustituido, siempre que
tenga una sensibilidad IQI equivalente o mejor, se alcancen como se indica en la
tabla T-283, y todos los dems requisitos para la radiografa se cumplan. IQI
sensibilidad equivalente se muestra en cualquiera de las filas de la tabla T-283,
que contiene el IQI y el agujero designado. Mejor sensibilidad IQI se muestra en
cualquiera de las filas de la tabla T-283, que es por encima de la fila sensibilidad
equivalente. Si el IQI designado y el agujero no estn representados en la tabla,
puede ser usado el siguiente IQI de la fila ms delgada de la tabla T-283 para
establecer equivalente sensibilidad IQI.
T-284 RETRODISPERSIN EXCESIVA
Si una imagen de la luz de la "B", como se describe en la T-223, aparece sobre un
fondo ms oscuro de la radiografa, la proteccin contra retrodispersin es
insuficiente y se considerar la radiografa inaceptable. Una imagen oscura de la
"B" en un encendedor fondo no es motivo de rechazo.
Tabla T-283
AGUJEROEquivalenteTipoSensibilidad IQI

T-285 EVALUACIN POR EL FABRICANTE

El fabricante ser responsable de la revisin, interpretacin, evaluacin y
aceptacin de la completa radiografas para asegurar el cumplimiento de los
requisitos del artculo 2 y la Seccin de Cdigo de referencia. Como ayudar con el
examen y la evaluacin, la tcnica radiogrfica documentacin requerida por T291 se completar antes de la evaluacin. El formulario de opinin radiografa
necesaria por T-292 se completar durante la evaluacin.
Un formulario deber acompaar la documentacin de los detalles de la tcnica
radiogrfica y la revisin radiografa .La aceptacin se completara antes de la
documentacin de presentacin de las radiografas y el acompaamiento al
Inspector.
T-290 DOCUMENTACIN
T-291 DETALLES DE DOCUMENTACIN TCNICA RADIOGRFICA
El fabricante deber preparar y documentar el detalle de tcnica radiogrfica.
Como mnimo, se proporcionar la siguiente informacin.
(a) los requisitos del artculo 1, T-190 (a)
(b) la identificacin como lo requiere la T-224
(c) el mapa tridimensional (si se usa) de ubicacin de marcador de conformidad
con T-275.3

(d) nmero de radiografas (exposiciones)

(e) tensin de rayos X o escribir istopo utilizado
(f) Tamao de fuente (F en T-274.1)
(g) Tipo de material de base y el espesor, espesor de la soldadura, espesor de
refuerzo de soldadura, segn sea aplicable
(h) fuente-objeto a distancia (D en T-274.1)
(i) la distancia de lado de la fuente de objeto para la pelcula (d en T-274.1)
(j) fabricante de la pelcula y el tipo del fabricante / designacin
(k) el nmero de pelculas en cada pelcula de soporte / casete
(l) exposicin nica o de doble pared
(m) la visualizacin de una o de doble pared

T-292 LA RADIOGRAFA DE EXAMEN FORMULARIO

El fabricante preparar formulario de revisin radiografa. Como mnimo, la
siguiente informacin deber ser proporcionada.
(a) una lista de cada lugar radiografiado
(b) la informacin requerida en la T-291, por la inclusin de la informacin en el
formulario de revisin o por referencia a una tcnica radiogrfica detalles de
situacin adjunto
(c) Evaluacin y disposicin del material (s) o soldadura (s) examin
(d) La identificacin (nombre) del representante del fabricante que realiz la
recepcin definitiva de la radiografas
(e) la fecha de la evaluacin del Fabricante.

ARTCULO 4
MTODO DE EXAMEN DE ULTRASONIDOS PARA SOLDADURAS
T-410 ALCANCE
Este artculo proporciona referencias o requisitos para exmenes de soldadura,
que se van a utilizar en la seleccin y el desarrollo de los procedimientos de
examen de ultrasonido, cuando el examen a cualquier parte de este artculo es un
requisito de una referencia a la Seccin del Cdigo. Estos procedimientos deben
ser utilizados para el examen ultrasnico de soldaduras y el dimensionamiento de
las indicaciones para la comparacin con la aceptacin de normas cuando sea
requerido por la seccin de referencia del cdigo; la seccin de referencia del
cdigo deber ser consultado para los siguientes requisitos especficos requisitos:
(a) requisitos de cualificacin del personal / certificacin
(b) los requisitos de procedimiento / demostracin, capacitacin, aceptacin
(c) las caractersticas del sistema de examen
(d) la retencin y el control de los bloques de calibracin
(e) extensin de la exploracin y / o el volumen que va a escanear
(f) normas de aceptacin
(g) la retencin de registros
(h) los requisitos de informe
Las definiciones de los trminos utilizados en el presente artculo se encuentran
en obligatorio el Apndice III del artculo 5.

T-420 GENERAL
Los requisitos del presente artculo podrn utilizarse en conjunto con el artculo 1,
Requisitos Generales. Consulte:
(a) las disposiciones especiales para los materiales de grano grueso y soldaduras
en T-451;
(b) las disposiciones especiales para las tcnicas de imagen computarizada en T452;

(c) Obligatorio Apndice III de Difraccin del Tiempo de Vuelo Tcnicas (TOFD);
(d) Obligatorio Apndice IV de manual de elementos mltiples en fase tcnicas
rastering.
T-421 REQUISITOS PROCEDIMIENTO ESCRITO
T-421.1 Requisitos. El examen ultrasnico deber llevarse a cabo de acuerdo con
un procedimiento escrito que contendr como mnimo los requisitos que figuran en
la tabla T-421. El procedimiento escrito debe establecer un solo valor, o intervalo
de valores, para cada uno requisito.
T-421.2 Procedimiento de Calificacin. Cuando procedimiento de calificacin se
especifica por la Seccin de referencia del cdigo, un cambio de un requisito en la
tabla T-421 identifica como una variable esencial del valor especificado, o el rango
devalores, requerirn la recalificacin de la fase escrita.
Un cambio del requisito identificado como una variable no esencial desde el valor
especificado, o intervalo de valores, no requiere recalificacin del procedimiento
escrito.
Todos los cambios de las variables esenciales o no esenciales del valor o rango de
valores especificado por el procedimiento escrito requerir la revisin de, o una
adicin a, del procedimiento escrito.
T-430 EQUIPO
T-431 REQUISITOS DEL INSTRUMENTO
Ser utilizado un tipo de impulsos de eco del instrumento ultrasnico. El
instrumento es capaz de operar a frecuencias en el intervalo de al menos 1 MHz a
5 MHz y debern estar equipados con un control de ganancia escalonada en
unidades de 2,0 dB o menos. Si el instrumento tiene un control de amortiguacin,
se puede utilizar si no reduce la sensibilidad del examen. El mando a rechazar
deber estar en la posicin "off" para todos los exmenes, a menos que pueda
demostrarse, que no afecta a la linealidad de la exploracin. Cuando sea
necesario el instrumento, debido a la tcnica que se utiliza, tendr tanto enviar y
recibir jackspara la operacin de las unidades de bsqueda de doble o una sola
unidad de bsqueda como enviar y recibir transductores.

T-432 BUSCAR UNIDADES

T-432.1 General. La frecuencia nominal ser de 1 MHz a 5 MHz a menos

variables, tales como la produccin y estructura de grano de material, requiere el
uso de otras frecuencias para asegurar una penetracin adecuada o mejor
resolucin. Se pueden usar unidades de la bsqueda con cuas de contacto
contorneadas para ayudar el acoplamiento ultrasnico.
T-432.2 Revestimiento de Soldadura de metal. Elemento dual, unidades de
bsqueda de haz recto utilizando se utilizar la tcnica de emisin y recepcin en
ngulo. El incluir ngulo entre los elementos de la unidad de bsqueda deber
ser tal que la distancia del punto focal eficaz se centra en la zona de inters.
T-433 ACOPLADOR
T-433.1 General. El acoplador, incluidos los aditivos, no ser perjudicial para la
est examinando el material.
T-433.2 de Control de Contaminantes.
(a) acopladores se utilizan en aleaciones con base de nquel no contendrn ms
de 250 ppm de azufre.
(B) acopladores utilizados en el acero inoxidable autntico o titanio no deber
contener ms de 250 ppm de haluros (Cloruros, adems de fluoruros).
Tabla T-421 Requisitos de un procedimiento de examen por ultrasonidos

Requisito

Variable
esencial

Configuraciones de soldadura para ser examinadas,

incluyendo las dimensiones de grosor y de la base la
x
forma del producto de material (tubo, placa, etc)
Preparacin de la superficie (el acabado y limpieza,
incluyendo el tipo de disolvente de limpieza)
Las superficies de las cuales se realizar el examen
Tcnica (s) (haz recto, haz angular, contacto, y / o
inmersin)
ngulo (s) y el modo (s) de propagacin de la onda en
el material
Tipo (s) unidad de bsqueda, la frecuencia (es) y el
tamao (s) elemento / forma (s)

Variable
no
esencial

Unidades de bsqueda especial, cuas, zapatos o

sillas de montar, X cuando se utiliza
El instrumento ultrasnico (s)
Calibracin [bloque (s) de calibracin y de la tcnica
(s)]
Direcciones y extensin de la exploracin
Escaneado (manual vs automtica)
Mtodo para discriminar geomtrica de indicaciones
de defectos
Mtodo para el dimensionamiento de indicaciones
Adquisicin de datos por ordenador mejorada, cuando
se usa
Superposicin Scan (disminuir solamente)
Requisitos de desempeo personal, X cuando sea
necesario
Cualificacin del personal requisitos
Estado de la superficie (superficie de exploracin,
bloque de calibracin).
Acoplante: nombre de la marca o tipo
El examen post limpieza tcnica
Equipo de alarma y / o grabacin automtica, cuando
sea aplicable
Los registros, incluyendo los datos de calibracin
mnimos que han de registrarse (por ejemplo,
instrumento
ajustes)

x
x

x
x

T-434 BLOQUES DE CALIBRACIN

T-434.1 General.
T-434.1.1 Reflectores. Reflectores especificados Reflectores especificados (es
decir, el lado perforado agujeros, agujeros de fondo plano, muescas, etc)para
establecer las respuestas de referencia primaria de los equipos.
Un reflector alternativo (s) puede utilizarse, siempre que el reflector alternativo (s)
produzca una sensibilidad igual o mayor que el reflector (s) especificado (por
ejemplo, agujeros perforados en el lado en lugar de muescas, agujeros de fondo
plano en lugar de agujeros perforados en el lado).
T-434.1.2 Materiales.

(A) Las soldaduras de metal similares. El material del que el bloque se fabrica ser
de la misma forma del producto y especificacin de material o equivalente PNmero agrupacin como uno de los materiales que estn siendo examinados.
Para los fines de este prrafo, P-Nos. 1, 3, 4, 5A a 5C, y 15A a 15F materiales se
consideran equivalentes.
(B) Las soldaduras de metal dismiles. La seleccin del material deber basarse
en el material en el lado de la soldadura desde que se llevar a cabo el examen.
Si el examen se llevar a cabo a partir de los dos lados, los reflectores de
calibracin se facilitarn en ambos materiales.
T-434.1.3. Calidad. Antes de la fabricacin, el materia de bloque l deber ser
completamente examinado con una recta unidad de bsqueda en haz. reas que
contienen una indicacin superior se excluir el resto de reflexin pared posterior
de las trayectorias de rayos requeridos para alcanzar los diversos reflectores de
calibracin.
T-434.1.4 Revestimiento.
(A) La seleccin de bloque. El material a partir del cual el bloque es fabricado ser
de uno de los siguientes:
(1) desercin boquilla del componente
(2) un componente de prolongacin
(3) El material del mismo material de especificacin, producto condicin de la
forma de tratamiento, y el calor como el material al que se aplica la unidad de
bsqueda durante el examen
(B) Vestido. Dnde est revestido y el material componente del revestimiento es
un factor durante el examen, el bloque ser vestido con el componente revestido
espesor nominal 1/8 de pulgada (3 mm). La deposicin de vestido ser por el
mismo mtodo (es decir, en condiciones de servidumbre en eventos, soldadura
manual depositado, alambre automtico depositado, o tira automtica depositado)
que el utilizado para chapado el componente a ser examinado. Cuando el mtodo
de revestimiento no se conoce o el mtodo de revestimiento usado en la
componente es poco prctico para el bloque de revestimiento, deposicin de
revestido puede ser por el mtodo manual.
Cuando los materiales parentales en los lados opuestos de una soldadura estn
revestidos por cualquiera de diverso material P-, A-, o nmeros F o designaciones
o mtodos, el bloque de calibracin debe ser chapado de las mismas
designaciones P-, A-, o nmeros F o materiales utilizando el mismo mtodo

utilizado en el lado de la soldadura de la que se llevar a cabo el examen. Cundo

el examen se lleva a cabo desde ambos lados de la soldadura, el bloque de
calibracin debe proporcionar para la calibracin tanto paramateriales y mtodos
de revestimiento. Para soldaduras de chapados de un diferente material o mtodo
de la matriz contigua materiales, y es un factor durante el examen, la calibracin
bloque estar diseada para ser representativa de esta combinacin.
T-434.1.5 Tratamiento trmico. El bloque de calibracin deber recibir por lo
menos el mnimo de tratamiento de temple requerido por la especificacin del
material para el tipo y grado. Si el bloque de calibracin contiene soldaduras que
no sean revestimiento, y el componente de soldadura en el momento del examen
ha sido tratado con calor, el bloque deber recibir el mismo tratamiento trmico.
T-434.1.6. Superficie Final. El acabado de la digitalizacin de superficies del
bloque deber ser representativas de la superficie de exploracin terminada en el
componente a ser examinado.
T-434.1.7 Bloquear curvatura.
T-434.1.7.1 Materiales con dimetros mayores de 20 pulgadas (500 mm). Para
los exmenes de materiasdonde el dimetro de la superficie del examen es mayor
que20 pulgadas (500 mm), un bloque de esencialmente la misma curvatura,o,
alternativamente, un bloque de calibracin bsica plana, puede ser utilizado.
T-434.1.7.2 Materiales con dimetros de 20 pulg(500 mm) y menos. Para
exmenes en materias donde el dimetro de la superficie del examen es igual o
inferior a20 pulgadas (500 mm), se utilizar un bloque curvo. Exceptodonde se
indique lo contrario en el presente artculo, una sola base bloque curvadade
calibracin se puede utilizar para exmenes en gama de curvatura 0,9-1,5 veces
la calibracin bsica a bloquear dimetro. Por ejemplo, un dimetro de 8 en (200
mm) bloque puede ser usado para calibrar exmenes de superficies en el rango
de curvatura de 7,2 pulgadasa 12 pulgadas (180 mm a 300 mm) de dimetro. La
curvaturagama de 0,94 pulgadas a 20 pulgadas (24 mm a 500 mm) de
dimetrorequiere 6 bloques curvos como se muestra enlaFigura T-434.1.7.2 para
cualquier intervalo de espesor.

T-434.1.7.3 Alternativa para superficie convexa. Como una alternativa a los

requisitos de la T-434.1.7.1 al examinar la superficie convexa por el contacto viga
recta tcnica, no mandatorio Apndice G puede ser utilizado.
T-434.2 Las tuberas bloques no calibracin.

T-434.2.1 Bloque de calibracin bsico. La calibracin y configuracin bsica

de bloques y reflectores sern los que se muestran en la Figura T-434.2.1. El
tamao del bloque y lugares de reflector que sern suficientes para realizar
calibraciones para ngulo (s) viga y rango (s) de la distancia a utilizar.
T-434.2.2 Bloques Grueso. El espesor del bloque (T) ser por la Figura T434.2.1.
T-434.2.3 Bloquear rango de uso. Cuando el bloque espesor 1 pulgada (25
mm) se extiende por dos rangos de espesor de soldadura como se muestra en la
Figura T-434.2.1, el uso que el bloque debe ser aceptable en aquellas partes de
cada rango de espesor cubierto por 1 pulgada (25 mm) de espesor del bloque de
calibracin. Como ejemplo, un bloque de calibracin con un espesor de 11/2 pulg
(38 mm) podra ser utilizado para espesores de soldadura de 0,5 pulg (13 mm) a
2,5 pulgadas (64 mm).
T-434.2.4 Bloque alternativo.
Alternativamente, Alternativamente, el bloque puede ser construido como se
muestra en el no obligatorio Apndice J, Figura J-431.
T-434.3 Tuberas bloques de Calibracin. La calibracin y configuracin bsica
de bloques y reflectores sern las indicadas en la Figura T-434,3-1 o el suplente
proporcionada en Figura T-434,3-2 donde el espesor curvatura y / o en la pared
permisos. La curvatura bloque de calibracin bsico estar de acuerdo con. El
espesor, T, ser de 25% del valor nominal espesor de la componente que se
examina. El bloque localidades de tamao y reflectores debern ser adecuadas
para realizar calibraciones para el ngulo del haz (s) y rango de distancia (s) para
ser utilizado.
T-434.4 Superposicin de soldadura de metal de revestimiento de calibracin
de bloques.
T-434.4.1 Bloques de calibracin para Tcnica Uno.
La configuracin del bloque de calibracin bsico y reflectorser como se muestra
en la Figura T-434.4.1. O bien se pueden utilizar un lado-perforado agujero o
agujero de fondo plano. El espesor de la soldadura de revestimiento superposicin
de metal deber ser al menos tan gruesa como para ser examinado. El espesor
del material de base ser al menos dos veces el espesor de la capa de metal de
soldadura derevestimiento.

T-434.4.2 Bloques de calibracin alternativa para una Tcnica.

Alternativamente, los bloques de calibracin como se muestra en Figura T434.4.2.1 o la Figura T-434.4.2.2 se pueden utilizar.
El espesor de la soldadura de revestimiento superposicin de metal deber ser al
menos tan grueso como para ser examinado. El espesor del material de la base
ser como mnimo el doble del espesor del revestimiento de soldadura de metal.
T-434.4.3 bloque de calibracin para la tcnica de dos.
La configuracin del bloque de calibracin bsico y reflectorser como se muestra
en la Figura T-434.4.3. Se utilizar un agujero de fondo planoperforado a la
interfaz de metal de soldadura / base. Este agujero puede ser perforado a partir
del material de base o metal de soldadura revestimiento lateral de superposicin.
El espesor del metal de soldadurarevestimiento superposicin deber ser al
menos tan gruesa como la que se examina.
El grosor del metal de base debe estar dentro de 1 pulgada (25 mm) del espesor
del bloque de calibracin cuando el examen se realiza desde la superficie del
material de base.
El espesor del material de base en la calibracin bloque deber ser al menos dos
veces el espesor del metal de soldadura a superponer revestimiento cuando el
examen se realiza desde la superficie de revestimiento de soldadura de metal.
T-434.5 Boquilla lado de la soldadura zona de fusin y / o adyacente
Boquilla de base de metal de bloques de Calibracin.
T-434.5.1 Bloque de calibracin.
(A) Configuracin. La configuracin del bloque de calibracin ser como se
muestra en la Figura T-434.5.1. El tamao del bloque y ubicaciones de reflector
debern ser adecuadas para realizar calibraciones para cubrir la zona de fusin de
soldadura lado de la tobera y /o el metal base de la boquilla adyacente. Si la
superficie interna de la boquilla est revestido antes del examen, la superficie ID
del bloque de calibracin sern revestidos.
(b) Grosor de bloque. El bloque de calibracin debe ser el espesor mximo de la
pared de la tobera adyacente a la boquilla soldadura, ms de 3/4 de pulgada (19
mm).
(c) Curvatura. Para los exmenes de las boquillas con un interior de dimetro (ID)
igual o menos de 20 pulgadas (500 mm), la superficie de contacto del bloque de

calibracin debe tener la misma curvatura o estar dentro de la gama de 0,9 a 1,5
veces el dimetro tal como se detalla en la Figura T-434.1.7.2.
(d) Los reflectores de calibracin. Los reflectores de calibracin serperforado
orificio (s) de lado los que estn en conformidad con los requisitos de la figura T434.2.1 de la pared de la tobera de espesor.
(e) Los bloques alternativos
Bloques de calibracin alternativos pueden ser utilizados para similares tipos de
exmenes siempre que la distancia de la trayectoria de sonido (s) de reflector (s)
del bloque es (son) dentro de 1/4 de pulgada (6 mm) de lo que se requiere y el
lado perforado agujero (s) es (son) el mismo o un dimetro ms pequeo que lo
que es requerida.

NOTAS GENERALES:
(a) Los agujeros se perforaron y escariado 1,5 pulgadas (38 mm) mnimo de
profundidad, esencialmente paralelas a la superficie de examen.
(b) Para los componentes iguales o menores a 20 pulgadas (500 mm) de
dimetro, calibracin dimetro bloque deber cumplir los requisitos de T 434.1.7.2.
Se utilizaron dos conjuntos de reflectores de calibracin (orificios, muescas)
orientado a 90 grados el uno del otro. Se pueden utilizar alternativamente, dos
bloques de calibracin curvos.
(c) La tolerancia para el dimetro del agujero ser de 1/32 pulgadas (0,8 mm).
La tolerancia para la ubicacin del orificio a travs del bloque de calibracin de
espesor ness (es decir, la distancia desde la superficie del examen) ser de 1/8
de pulgada (3 mm).

(d) Para los bloques de menos de 3/4 de pulgada (19 mm) de espesor, slo el lado
1/2T perforara el agujero y se requieren muescas superficiales.
(E) Todos los agujeros se pueden localizar en la misma cara (lado) del bloque de
calibracin, siempre se tiene cuidado para localizar todos los reflectores (agujeros,
muescas) para evitar un reflector de afectar la indicacin de otro reflector durante
la calibracin. Las muescas pueden tambin estar en el mismo nivel que los
taladros en lnea (vase el apndice no mandatorio J, J Figura 431). Como en la
Figura J 431, una suficiente facilitar el nmero de agujeros para los dos ngulos y
calibraciones de haces rectos en el 1/4T, 1/2T y profundidades 3/4T.
(F) Cuando el revestimiento est presente, la profundidad de la muesca en la parte
de revestimiento del bloque se incrementar en el espesor del revestimiento, CT
(es decir, 1,6% T + CT mnima para 2,2% T + CT mximo).
(G) El ancho mximo de la muesca no es crtica. Las muescas se pueden hacer
por EDM o con fresas de hasta 1/4 de pulgada (6,4 mm) de dimetro.
(H) Espesor de soldadura, t, es el espesor nominal material para soldaduras sin
refuerzo o, para soldaduras con refuerzo, el espesor de material nominal ms el
refuerzo de soldadura estimado no exceda el mximo permitido por la
referenciacin seccin del Cdigo. Cuando dos o ms espesores de material de
base estn involucrados, el espesor del bloque de calibracin, T, ser
disuadirminado por el espesor medio de la soldadura; Alternativamente, un bloque
de calibracin basada en el mayor grosor de material de base se podrn utilizar
siempre el tamao del reflector de referencia se basa en el grosor medio de
soldadura.
NOTAS:
(1) La dimensin mnima.
(2) Por cada aumento de espesor de la soldadura de 2 pulgadas (50 mm) o
fraccin de ms de 4 pulgadas (100 mm), el dimetro del orificio deber
aumentara 1/16 pulgadas (1,5 mm).

NOTAS GENERALES:
(A) La longitud mnima del bloque de calibracin, L, ser de 8 pulgadas (200 mm)
o 8T, lo que sea mayor.
(B) Para OD 4 pulgadas (100 mm) o menos, la longitud mnima del arco deber
ser de 270 grados. Para OD mayor que 4 pulgadas (100 mm), la longitud mnima
del arco deber ser de 8 pulgadas (200 mm) o 3T, lo que sea mayor
(C)Las profundidades de la muesca sern del 8% T mnimo al 11% T mximo.
Cuando el revestimiento est presente, las profundidades de las muesca en el
lado de revestimiento del bloque se aumentar en el espesor del revestimiento, CT
(es decir, 8% T + CT mnimo a 11% T + CT mximo). El ancho de la muesca ser
el 1/4 de pulgada (6 mm) mximo. Las longitudes de las muescas sern de 1
pulgada (25 mm) como mnimo.
(D) El ancho mximo de la muesca no es crtica. Las muescas se pueden hacer
con EDM o con fresas de hasta 1/4 de pulgada (6 mm) de dimetro.
(E) longitudes de las muescas debern ser suficientes para proporcionar la
calibracin con un mnimo de 3 a 1 de seal a ruido.
(F), Se utilizaran dos bloques cuando se examine una soldadura que une dos
grosores diferentes de material y de un solo bloque que no son conformes a
losrequisitos de T 434.3.

(G) Cuando se utiliza un bloque plano de lo permitido por T 434.1.7.1, las dos
muescas axiales pueden ser omitidos y el ancho del bloque se pueden reducir a 4
pulgadas(100 mm) proporcion el I.D. y O.D. las muescas se colocan en
superficies de examen opuestos del bloque. Cuando el revestimiento no est
presente, slo se requiere proporcionar un escaln a cada superficie del examen
es accesible durante las calibraciones.

NOTA:
(1) Las muescas deben estar ubicados a no menos 1/2T o 1/2 pulgadas (13
mm), lo que sea mayor, a cualquier borde de bloque o de otras muescas.

NOTAS GENERALES:
Se requiere orificio (a) Para los bloques de menos de 3/4 de pulgada (19 mm) de
espesor, slo el lado 1/2T perforado.
(B) Inclusin de muescas es opcional. Las muescas como se muestra en la Figura
T 434.3 1 podrn ser utilizados en conjunto con este bloque de calibracin.
(C) profundidades de las muescas sern del 8% T mnimo al 11% T mximo.
Ancho de la muesca ser el 1/4 de pulgada (6 mm) como mximo. Longitudes de
las muescas sern de 1 pulgada(25 mm) como mnimo.
(D) Las muescas se pueden hacer con EDM o con fresas de hasta 1/4 de pulgada
(6 mm) de dimetro.
(E) longitudes de las muescas debern ser suficientes para proporcionar la
calibracin con un mnimo de 3 a 1 de seal a ruido.
(F) Las muescas deben estar ubicados a no menos T o de 11/2 pulgadas (38 mm),
lo que sea mayor, a cualquier borde de bloque o de otras muescas.
NOTAS:
(1) La longitud de arco debern ser adecuados para proporcionar la calibracin del
haz ngulo requerido.
(2) El dimetro lateral perforado del agujero, la longitud y la tolerancia deben estar
de acuerdo con T 434.2.1, segn lo permitido por T 464.1.2. Lado tangencial
perforado agujeros en 1/4T, 1/2T, y posiciones o ubicaciones de 3/4T son tener la
profundidad confirmado en un medio de su longitud. El radio del lado perforado se
aade agujero a la profundidad medida para asegurar la profundidad correcta.
Cuando el espesor no permite, la profundidad requerida del lado agujero perforado
y la localizacin de la posicin tangencial se indicarn en la superficie del bloque.

NOTA GENERAL: Todos los agujeros de fondo plano son de 1/8 de pulgada (3 mm) de
dimetro. Las tolerancias para el dimetro del agujero y la profundidad con respecto al
metal de soldadura sobre sentar lado de revestimiento del bloque son 1/64
pulgadas (0,4 mm).

NOTA GENERAL: Todas lado perforado agujeros son 1/16 de pulgada (1,5 mm) de
dimetro. Las tolerancias para el dimetro del agujero y la profundidad con respecto al
metal de soldadura lado revestimiento superposicin del bloque son 1/64 pulgadas
(0,4 mm). Todos los agujeros perforados a una profundidad mnima de 1,5 pulgadas
(38 mm).

Figura T-434.4.3 Bloque de

calibracin para la tcnica de dos.

3/8 pulgadas (10 mm) de dimetro de

fondo plano agujero mecanizado para
soldar / metal comn interfaz,
tolerancia = 1/64 pulgadas (0,4

El metal de
soldadura
revestimiento

Figura T-434.5.1
Bloque de calibracin para haz recto examen de Boquilla del lado de la
soldadura zona de fusin y / o boquilla Adyacente al metal base

NOTAS GENERALES:
(a) El espesor (T) del bloque de calibracin (OD ID) / 2 se seleccionara para el
mximo espesor de pared de la boquilla bajo el accesorio de boquilla de
soldadura.
(b) Soldadura se perforan agujeros y escariado toda la altura [H] del bloque.
(c) El dimetro de agujeros de la parte perforada debern ser seleccionados para
el espesor de pared mximo de la boquilla por (a) anterior y la Figura T 434.2.1.
(d) Para los exmenes de lado de la boquilla, cuando el espesor de pared del
bloque de calibracin excede 2 pulgadas (50 mm), lateral adicional perforado
agujeros sern colocado en el bloque como se requiere en la tabla siguiente.

T-440 REQUISITOS DIVERSOS

T-441 EXAMEN DE REAS DE IDENTIFICACIN DE SOLDADURA
(a) Ubicaciones de soldadura. Ubicaciones de soldadura y su identificacin se
harn constar en un mapa de soldadura o en un plan de identificacin.
(b) Marcado. Si las soldaduras deben estar marcados, sellos de estrs bajos y / o
vibratooling se pueden utilizar. Marcas aplicado tras el alivio de la tensin final del
componente deber no ser cualquier ms profundo que 3/64 pulgadas (1,2 mm).
(c) Sistema de Referencia. Cada soldadura debe ser localizada e identificada
mediante un sistema de puntos de referencia. El sistema quepermita la
identificacin de cada lnea central de la soldadura y designacin de intervalos
regulares a lo largo de la longitud de la de soldadura. Un sistema general de
distribucin de las soldaduras de los vasos se describe en el artculo 4, en el
Apndice A no mandatorio; Sin embargo, un sistema diferente se puede utilizar
siempre que cumpla los requisitos anteriores.
T-450 TCNICAS
Las tcnicas descritas en este artculo estn destinadas a aplicaciones en las que
se utilizan la bsqueda simple o doble elemento unidades para producir:
(A) De la onda longitudinal incidente normal de vigas para lo generalmente se
denominan exmenes viga recta o
(B) las ondas longitudinales de haz angular, donde tanto refractada las ondas
longitudinales y de cizallamiento estn presentes en la material bajo examen.

Cuando se utiliza para el espesor examen de medicin o revestidos, estos

exmenes son considerados generalmente como los exmenes de haz recto.
Cuando se utiliza para exmenes de soldadura, que son generalmenteexmenes
de haz angular de su denominacin o
(C) las ondas de corte del haz de ngulo, donde incidente ngulos en cuas slo
producen ondas de corte refractadas en el material bajo el examen generalmente
se denominan exmenes de haz angular.
Se pueden utilizar tcnicas de inmersin o de contacto. Materiales de basey / o
soldaduras con estructuras metalrgicas que producen atenuaciones variables
pueden exigir que longitudinalvigas angulares se utilizan en lugar de ondas de
corte. Adems, las tcnicas de imgenes computarizadas pueden aumentar la
detectabilidady la evaluacin de las indicaciones.
Otras tcnicas o tecnologa que puede ser demostrada para producir sensibilidad
al examen equivalente o mejor detectabilidad mediante unidades de bsqueda
con ms de dos elementos transductores pueden ser utilizadas. La demostracin
se har de conformidad con el artculo 1, T-150 (a).
T-451 MATERIALES DE GRANO GRUESO
Exmenes ultrasnicos de aceros de alta aleacin y alta depsitos de nquel de
soldadura de aleacin y soldadura de metales diferentes entre aceros al carbono y
aceros de alta aleacin y alta de nquel aleaciones, son generalmente ms difcil
que los exmenes de soldadura ferrticos. Pueden ser causada dificultades con los
exmenes de ultrasonido por un inherente de grano grueso y / o una estructura
orientada direccionalmente, que puede causar marcadas variaciones en la
atenuacin, la reflexin y la refraccin en lmites de grano y cambios de velocidad
dentro de los granos. Por lo general es necesario modificar y / o completar las
disposiciones de este artculo, de acuerdo con T-150 (a) cuando el examen de
tales soldaduras en estos materiales. Los elementos adicionales, que pueden ser
necesario, son maquetas de soldadura con referencia de reflectores en el depsito
de soldadura y el elemento simple o doble ngulo haz de transductores de ondas
longitudinales.
T-452 TCNICAS DE IMAGEN COMPUTARIZADA
El atributo principal de Tcnicas de Imagen computarizados (TICs) es su
efectividad cuando se utiliza para caracterizar y evaluar indicaciones; Sin
embargo, las TICs tambin pueden ser utilizadas para realizar las funciones
bsicas de escaneo necesarios para la deteccin de defectos. El anlisis de los
datos procesados por computadora y las tcnicas de visualizacin se utilizan en

conjuncin automtica o semi-automtico de exploracin de mecanismos para

producir dos imgenes tridimensionales y de defectos, que proporciona una
capacidad mejorada para el examen de los componentes crticos y estructuras.
Los procesos informticos se pueden utilizar para evaluar cuantitativamente el
tipo, el tamao, la forma, la ubicacin y orientacin de defectos detectados por
exploracin ultrasnica u otros mtodos de END. Las descripciones de algunos
TICs que pueden ser utilizados estn dentro del no obligatorio Apndice E.

T-460 CALIBRACIN
T-461 INSTRUMENTO DE COMPROBACIONES DE LINEALIDAD
Se cumplirn los requisitos de la T-461.1 y T-461.2 a intervalos que no exceda de
tres meses para los instrumentos de tipo analgico y un ao para los instrumentos
de tipo digital, o antes de su uso primero a partir de entonces.
T-461.1 Pantalla Altura de linealidad.La altura de la pantalla linealidad del
instrumento ultrasnico se evaluar, de acuerdo con el Apndice I. Obligatoria
T-461.2 Amplitud de linealidad de control. La Amplitud de la linealidad de control
del instrumento ultrasnico se evaluar, de acuerdo con el Apndice II Obligatoria.
T-462 REQUISITOS DE CALIBRACIN GENERAL
T-462.1 sistema ultrasnico.Las calibraciones incluirn el sistema ultrasnico
completo y debern realizarse antes de utilizar el sistema en el rango de espesor
bajo examen.
T-462.2 Superficie de calibracin.Las calibraciones se pueden realizar desde la
superficie (revestido o sin revestimiento; cncavao convexa) correspondiente a la
superficie del componente de la que se llevar a cabo el examen.
T-462.3 acoplador.El mismo acoplador que se utilizar durante el examen se
puede utilizar para la calibracin.
T-462.4 Contacto cuas. Las mismas cuas de contacto que se utilizar durante
el examen se utilizarn para la calibracin.
T-462.5 Control de instrumento. Los mandos que afecta linealidad del
instrumento (por ejemplo, los filtros, rechazar o recorte) deber estar en la misma

posicin para la calibracin, la calibracin cheques, cheques de linealidad del

instrumento, y el examen.
T-462.6 Temperatura. Para el examen de contactos, el diferencial de temperatura
entre el bloque de calibracin y superficies de examen debern estar dentro de (14
C) 25 F. Para el examen de inmersin, la temperatura del medio de
acoplamiento de calibracin se situar en 25 F (14 C) del acoplador
temperatura para su examen.
T-463 CALIBRACIN POR FALTA DE TUBERAS
T-463.1 Sistema de calibracin de amplitud de distancia Tcnicas.
T-463.1.1 Bloque de calibracin (s).Las calibraciones se pueden realizar
utilizando el bloque de calibracin se muestra en la Figura T-434.2.1. En casos
tales como soldaduras ascenso por un lado (ver T-472.2), el bloque de calibracin
se detalla en la Figura T-434.2.1 no puede proporcionar las distancias de ruta de
sonido necesarios para la referencia reflectores para proporcionar la correccin de
distancia-amplitud (DAC) que cubra totalmente el rea de inters para la tcnica
de haz recto. En estos casos, una segunda calibracin se requiere bloque cuyo
espesor (T) y de referencia ubicaciones de reflector se basan en la distancia de la
trayectoria de sonido que prev la cobertura del rea de inters. Tcnicas de T463.1.2. Apndices no mandatorios B y C proporcionan tcnicas generales para
ambos haz angular onda de corte y calibraciones de haces rectos. Otras tcnicas
pueden ser utilizadas. El haz de ngulo debe orientarse hacia la calibracin
reflector que produce la respuesta mxima en el rea de inters. Se establecer el
control de ganancia de manera que esta respuesta es de 80% 5% de la altura de
la pantalla completa. Esta ser el principal nivel de referencia. El palpador debe
entonces ser manipulado, sin cambiar la configuracin del instrumento, para
obtener la mxima respuestas de los otros reflectores de calibracin en sus
trayectorias de haces para generar la correccin de distancia-amplitud (CAD) de la
curva. Estas calibraciones establecern tanto la calibracin Rango de distancia y
la amplitud de la distancia correccin.
T-463.1.3 ngulo de haz de calibracin. En su caso, la calibracin debe
proporcionar las siguientes mediciones (No obligatoria Apndices B y M contienen
en general tcnicas):
(A) distancia de calibracin gama;
(B) la distancia-amplitud;
(C) Medicin de la amplitud del eco de la superficie muescas en el bloque de
calibracin bsico.

Cuando un dispositivo de correccin de la distancia-amplitud electrnica se utiliza,

las respuestas de referencia primarios del bsico bloque de calibracin debe ser
igualado en la distancia gama para ser empleado en el examen. La respuesta
lnea de estabilizacin deber estar a una altura de proteccin de 40% a 80% de la
altura de la pantalla completa.
T-463.1.4 Alternativa ngulo de haz de calibracin.
Cuando un buque u otro componente se hace con un espesorde 1/2 pulgadas (13
mm) o menos y un dimetro igual o inferior a 20 pulgadas (500 mm), la calibracin
del sistema de haz angularpara las tcnicas de la distancia de amplitud se pueden
realizar utilizando los requisitos de la T-464.1.1 y T-464.1.2.
T-463.1.5 Recta de calibracin del haz. La calibracin debe proporcionar las
siguientes medidas(No obligatoria Apndice C proporciona una tcnica general):
(A) distancia de calibracin gama; y
(B)-distancia amplitud de correccin en el rea de inters. Cuando un dispositivo
de correccin de la distancia-amplitud electrnica se utiliza, las respuestas de
referencia primarios del bsico bloque de calibracin debe ser igualado en la
distancia gama para ser empleado en el examen. La respuesta lnea de
estabilizacin deber estar a una altura de proteccin de 40% a80% de la altura
de la pantalla completa.
T-463.2 Sistema de calibracin para la No amplitud de distanciaTcnicas.
Calibracin incluye todas aquellas accionesrequerida para asegurar que la
sensibilidad y la exactitud de laamplitud y el tiempo de la seal de salida del
sistema de exmenes(Si aparece, registrados, o automticamente procesada)se
repiten de examen para el examen.La calibracin puede ser por el uso de bloques
de calibracin bsicos con reflectores artificiales o discontinuidad. Se proporcionan
mtodos en el no obligatorio Apndices B y C. Otros mtodos de calibracin puede
incluir el ajuste de sensibilidad basado en el material de examen, etc.
T-464 CALIBRACIN DE TUBERAS
T-464.1 Sistema de calibracin de amplitud de distancia Tcnicas.
T-464.1.1 Bloque de calibracin (s). Calibraciones se pueden realizar utilizando
el bloque de calibracin que se muestra en laFigura T-434,3-1 o el suplente
proporcionado en la Figura T-434,3-2.T-464.1.2 ngulo de haz de calibracin con
muescas(Figura T-434,3-1). El haz de ngulo debe orientarse haciala muesca que
se obtiene la respuesta mxima. Al hacerse con el control estar situado de modo
que esta respuesta es de 80% 5% de la altura de la pantalla completa. Esta ser

la referencia del nivel principal. El palpador debe entonces ser manipulado,sin

cambiar la configuracin del instrumento, para obtener la mximarespuestas de
los reflectores de calibracin a la distanciaincrementa la necesidad de generar uno
de tres puntos de correccin de la distancia-amplitud (DAC) curva. Las
calibraciones separadasse establecern tanto para las axiales y circunferenciales
muescas. Estas calibraciones establecern tantola calibracin Rango de distancia
y la amplitud de la distanciacorreccin.
T-464.1.3 Calibracin con agujeros taladrados-Side
(Figura T-434,3-2). El haz de ngulo debe orientarse hacia el taladro transversal
que produce la respuesta mxima. Se establecer el control de ganancia de
manera que la respuesta es de 80% 5% de la altura de la pantalla completa.
Este serel nivel de referencia primario. El palpador debe entoncesser
manipulado, sin cambiar los ajustes del instrumento, para obtener las respuestas
mximas de los reflectores de calibracinen los incrementos de distancia
necesarios para generarhasta un 3T correccin de distancia-amplitud (DAC)
curva,donde T es el espesor del bloque de calibracin. A continuacin, la posicin
unidad de bsqueda de la respuesta mxima para lasuperficie de puestos de
primera clase y marcar los picos en la pantallapara su consideracin en la
evaluacin de los reflectores de superficie. Independientecalibraciones se
establecern tanto para el axialy las exploraciones circunferenciales. Estas
calibraciones establecerntanto la calibracin Rango de distancia y la correccin
de la distancia-amplitud.
T-464.1.4 Recta de calibracin del haz. Cuando sea necesario, calibraciones de
haces rectos se realizarn con los requisitos de no obligatorio Apndice C
utilizando los agujeros reflectores de calibracin alternativa perforado del lado de
T-434.1.1. Esta calibracin debe establecer tanto la distanciacalibracin alcance y
la amplitud de la distanciacorreccin.

T-464.2 Sistema de calibracin para la No amplitud de distancia Tcnicas.

Calibracin incluye todas aquellas accionesrequeridas para asegurar que la
sensibilidad y la exactitud de laamplitud y el tiempo de la seal de salida del
sistema de exmenes (Si aparece, registrados, o automticamente procesada)se
repiten de examen para el examen.La calibracin puede ser por el uso de bloques
de calibracin bsicos con reflectores artificiales o discontinuidad. Se proporcionan
mtodos en el no obligatorio Apndices B y C. Otros mtodos de calibracin
pueden incluir el ajuste de sensibilidad basado en el material de examen, etc.

T-465 CALIBRACIN DE SOLDADURA DE METALESREVESTIMIENTO DE

PLANTILLA
T-465.1 Calibracin para la Tcnica Uno. Las calibracionesse llevarn a cabo
utilizando el bloque de calibracin que se muestra en laFigura T-434.4.1. El
palpador debe estar situado porla respuesta mxima del reflector de
calibracin.Cuando se utiliza un taladro transversal para la calibracin, el avin la
separacin de los elementos de la unidad de bsqueda de elemento dual se
colocar paralela al eje del agujero. La gananciade control estar situado de modo
que esta respuesta es de 80% 5% dealtura de la pantalla completa. Esta ser la
referencia del principalnivel.
T-465.2 Calibracin para Tcnica Dos.Las calibraciones se llevarn a cabo
utilizando el bloque de calibracin que se muestra en la Figura T-434.4.3. El
palpador debe estar situado por la respuesta mxima de la primera indicacin
resoluble desde la parte inferior del reflector de calibracin. La ganancia deber
ser establecida de modo que esta respuesta es de 80% 5% de la pantalla
completa altura. Este ser el nivel de referencia primario.
T-465.3 Calibracin alternativa para la Tcnica Uno. Las calibraciones se
realizarn utilizando la calibracin de bloques mostrados en la Figura T-434.4.2.1
o T-434.4.2.2. La calibracin se llevar a cabo de la siguiente manera:
(a) El palpador debe estar colocado para obtener la mxima respuesta desde el
reflector, lo que da la mayor amplitud.
(b) Cuando se utiliza el bloque de muestra en la Figura T-434.4.2.2, el plano de
separacin de los elementos del elemento de doble unidad de bsqueda se
colocar paralela al eje de los agujeros.
(c) La ganancia se regular de modo que esta respuesta es de 80% 5% de la
altura de la pantalla completa. Esta ser la referencia de nivel principal. Marque el
pico de la indicacin en la pantalla.
(d) Sin cambiar la configuracin del instrumento, la posicin la unidad de
bsqueda de la mxima respuesta de cada uno de los otros reflectores y marcan
sus picos en la pantalla.
(e) Conecte las marcas de pantalla para cada reflector para proporcionar una
curva DAC.
T-466 CALIBRACIN DE SOLDADURA LADO DE LA BOQUILLA ZONA DE
FUSIN Y / O ADYACENTE METAL PARA PADRES DE BOQUILLA

El nmero de agujeros de calibracin utilizados depende de los requisitos para el

examen. Si slo el lado de la boquilla zona de fusin debe ser examinado, a
continuacin, slo un nico lado perforado del agujero en el espesor de pared de
la tobera tiene que ser utilizado.
(a) solo agujero. La respuesta de un solo lado perforado agujero se fijar en el
80% 5% de la altura de la pantalla completa. Este es el nivel de referencia
primario.
(b) Mltiples agujeros. La viga recta tendr por hacia el reflector de calibracin que
produce el mximo respuesta. Se establecer el control de ganancia de manera
que esta respuesta es de 80% 5% de la altura de la pantalla completa. Esto ser
el nivel de referencia primario. El palpador debe entonces ser manipulado, sin
cambiar la configuracin del instrumento, a obtener las respuestas mximas de la
otra posicin del orificio (s) para generar una correccin de distancia-amplitud
(CAD) de la curva.
T-467 CALIBRACIN CONFIRMACIN
T-467.1 Cambios en el sistema. Cuando cualquier parte del examen del sistema
se cambia, una verificacin de la calibracin ser realizado en el bloque de
calibracin bsica para verificar que la distancia los puntos de regulacin y ajuste
(s) la sensibilidad cumplen con los requisitos de T-467.3.
T-467.2 Pruebas de calibracin. Disponibilidad de una calibracin en al menos
uno de los reflectores en el bloque de calibracin bsico o comprobar el uso de un
simulador se llevar a cabo al finalizar cada examen o serie de exmenes
similares, y cuando el personal de examen (excepto equipo automatizado) se
cambian. El rango de distancia y la sensibilidad de los valores registrados debern
cumplir los requisitos T-467.3.
NOTA: Las comprobaciones de calibracin interinos entre la calibracin inicial
requerida y la comprobacin final de calibracin se puede realizar. La decisin de
realizar comprobaciones de calibracin provisionales debe basarse en
ultrasonidos y estabilidad del instrumento (analgica vs digital), el riesgo de tener
que realizar nuevos exmenes, y el beneficio de no realizar la calibracin interina
de cheques.
T-467.2.1Cheques Simulador. Cualquier cheque simulador que se utilizan se
correlacion con la calibracin original en el bloque bsico de calibracin durante
la calibracin original.
Los controles del simulador pueden utilizar diferentes tipos de reflectores de
calibracin o bloques (tales como IIW) y / o electrnica simulacin. Sin embargo, la

simulacin utilizada ser identificada en la hoja (s) de calibracin. El simulador

verificacin se har en todo el sistema de exmenes.
Todo el sistema no tiene que ser revisado en una sola operacin; sin embargo,
para su comprobacin, la unidad de bsqueda ser conectada al instrumento
ultrasnico y comprobado contra un reflector de calibracin. Precisin del
simulador controles se confirmaron, mediante la calibracin bsica del bloque, en
la conclusin de cada periodo de uso prolongado, o cada tres meses, lo que sea
menor.
T-467.3 Valores de aceptacin confirmacin.
T-467.3.1 Rango de distancia de puntos. Si cualquier distancia punto se ha
movido en la lnea de barrido en ms de un 10% de la lectura a distancia o 5% del
total de barrido, es mayor, corregir la calibracin Rango de distancia y tenga en
cuenta la correccin en el registro de examen. Todas las indicaciones registradas
desde la ltima calibracin o calibracin vlida verificacin se revisar y sus
valores cambiados en las hojas de datos o volver a grabar.
T-467.3.2. Ajustes de sensibilidad. Si cualquier sensibilidad de configuracin ha
cambiado en ms de un 20% o 2 dB de su amplitud,corregir la calibracin de la
sensibilidad y tenga en cuenta lacorreccin en el registro de examen. Si el ajuste
de la sensibilidad ha disminuido, cheque todas las hojas de datos desde la ltima
calibracin vlida deber ser marcado sin efecto y el rea cubiertapor los datos
anulados sern revisados. Si la sensibilidadajuste ha aumentado, todas las
indicaciones registradas desde elltima revisin de la calibracin o calibracin
vlida se revisary sus valores se pueden cambiar en las hojas de datoso regrabada.

T-470 EXAMEN
T-471 REQUISITOS DE EXAMEN GENERAL
T-471.1 Cobertura Examen. El volumen que va ser escaneado ser examinado
moviendo la unidad de bsqueda sobre la superficie de exploracin con el fin de
escanear todo el examen volumen de cada unidad de bsqueda requeridos.
(a) Cada paso de la unidad de bsqueda recubrir un mnimo de 10% de la
dimensin del transductor (elemento piezoelctrico) paralela a la direccin de
indexacin de exploracin. Como alternativa, si el haz de sonido dimensin es
paralela a la direccin indexacin de exploracin se mide de acuerdo con el no
obligatorio Apndice B, B-466, la medicin del haz Spread reglas, cada pasada de

la unidad de bsqueda pueden proporcionar solapamiento de la dimensin mnima

de las luces determinadas.
(b) La oscilacin de la unidad de bsqueda se permite si se puede demostrar que
se proporciona cobertura superpuesta.
T-471.2 Repeticin de impulso. La repeticin de tasa de impulsos debe ser lo
suficientemente pequea para asegurar que una seal de un reflector situado a la
mxima distancia en el examen volumen llegar de nuevo a la unidad de
bsqueda antes de que el siguiente pulso se coloca en el transductor.
T-471.3 Tasa de Bsqueda Movimiento Unidad. La tasa de movimiento de la
unidad de bsqueda (velocidad de anlisis) no exceder 6 pulg / s (150 mm / s), a
menos que:
(a) la tasa de repeticin del pulso instrumento ultrasnico es suficiente para la
unidad de bsqueda de pulso al menos seis veces dentro de el tiempo necesario
para mover la mitad del transductor (elemento piezoelctrico) dimensin paralela a
la direccin de la exploracin a la mxima velocidad de exploracin; o,
(b) una calibracin dinmica se lleva a cabo en mltiples reflectores, que estn
dentro de 2 dB de una calibracin esttica y la tasa de repeticin de impulsos
cumple con los requisitos de T-471.2.
T-471.4 Exploracin de nivel de sensibilidad.
T-471.4.1 Tcnicas de amplitud Distancia.El nivel de sensibilidad de la
bsqueda se deber esperar un mnimo 11 de6 dB ms alto que el valor de la
ganancia del nivel de referencia.
T-471.4.2 Distancia no Tcnicas de amplitud.El nivel de ganancia que se utiliza
para escanear ser adecuado para ser examinado la configuracin y deber ser
capazde la deteccin de los reflectores de calibracin en el mximovelocidad de
exploracin.
T-471.5 Preparacin de la superficie. Cuando el material de base o superficie de
soldadura interfiere con el examen, la base material o de soldadura serpreparada
como sea necesario para permitir el examen.
T-472 JUNTA DE SOLDADURA DE AMPLITUD DE DISTANCIATCNICA
Cuando la seccin de referencia del cdigo especifica una distancia tcnica de
amplitud, las juntas de soldadura deben ser escaneados con una unidad de
bsqueda de haz angular en ambas direcciones paralelas y transversales (4
scans) con respecto al eje de soldadura. Antes de realizar el exmen de haz

angular, un examen de haz recto se llevar a cabo en el volumen de material de

base a travs de las vigas angulares viajarn a localizar cualquier reflector que
pueden limitar la capacidad de la viga de ngulo para examinar el volumen de
soldadura. El no obligatorio Apndice I describe un mtodo de examen utilizando
mltiples unidades de bsqueda de haz angular.
T-472.1 Tcnica ngulo de haz.
T-472.1.1 ngulo de haz. La unidad de bsqueda y ngulo haz seleccionado ser
de 45 grados o un ngulo apropiado y la configuracin para ser examinado,
deber ser capaz de detectar los reflectores de calibracin, sobre la requerido
trayectoria del haz angular.
T-472.1.2 Reflectoresparalelos a la costura de soldadura.
El haz de ngulo debe orientarse perpendicularmente aproximado al eje de
soldadura de ambos lados de la soldadura (es decir, desdedos direcciones) en la
misma superficie cuando sea posible. La unidad de bsqueda deber ser
manipulada de modo que la energa ultrasnica pasa a travs del volumen
requerido de soldadura y material base adyacentes.
T-472.1.3 Reflectores transversal a la soldadura
La costura.
(a) Digitalizacin con soldadura de refuerzo. Si la tapa de soldadura es no
mecanizada o terreno plano, se llevar a cabo el examen desde el material de
base en ambos lados de la soldadura de la tapa. Mientras que el escaneo paralelo
al eje de la soldadura, el ngulo haz se dirige desde 0 grados a 60 grados con
respecto al eje de soldadura en ambas direcciones longitudinales, con el ngulo
haz de cruce a travs del volumen de examen requerido.
(b) El escaneado sin soldadura de refuerzo. Si la soldadura de la tapa se
mecaniza o apartamento suelo, este examen deber ser realizado en la soldadura.
Durante la exploracin, el haz de ngulo deber ser dirigido esencialmente
paralelo al eje de soldadura en ambas direcciones axiales. El palpador debe ser
manipulado de manera que el haz pase a travs del ngulo de examen requerido
volumen.
T-472.2 Las soldaduras de acceso a una cara. Las soldaduras que no puede ser
examinada desde dos direcciones por T-472.1.2 utilizando la tcnica de haz
angular tambin se examinarn en la mayor medida posible, con una tcnica de
haz recto aplicada a partir de una superficie del material base adyacente. Este
puede ser aplicable a la esquina del vaso y juntas, boquilla y el cuello del pozo de

acceso al shello llagas, tubera a los accesorios, o conexiones de ramales. El rea

(s) de acceso de un solo lado y, en su caso, el alcance de la cobertura lmite ser
se seala en el informe de examen.
T-472.3 Soldaduras Inaccesibles. Las soldaduras que no pueden ser
examinadas a partir de al menos un lado (borde) usando el haz de ngulo tcnica
se har constar en el informe de examen. Para bridar soldaduras, la soldadura
puede ser examinada con una haz recto o bajo ngulo ondas longitudinales de la
cara de la brida siempre que el volumen de examen puede ser cubierto.
T-473 TCNICAS
REVESTIMIENTO

DE

SOLDADURA

DE

METALES

RECUBRIMIENTO

Las tcnicas descritas en estos prrafos sern utilizadas cuando los exmenes de
soldadura de revestimiento de superposicin de metal son requeridos por la
seccin de referencia del cdigo. Cuando el examen por falta de adherencia y el
metal de soldadura superposicin revestimiento requiera indicaciones de defectos,
se utilizar la tcnica de uno. Cuando slo se requiere un examen por falta de
vnculo, puede ser utilizada la tcnica Dos.
T-473.1 Tcnica uno. El examen ser realizado a partir de la superficie de
superposicin vestidos de metal de soldadura con el plano de separacin de los
elementos del elemento de doble unidad de bsqueda posicionado paralelo al eje
del cordn de soldadura. La unidad de bsqueda se traslad perpendicular a la
soldadura direccin.
T-473.2 Tcnica Dos. El examen puede ser realizado, ya sea del revestimiento de
soldadura de metal revestido o sin revestimiento superficie y la unidad de
bsqueda podrn moverse perpendicular o paralela a la direccin de soldadura.
T-474 DISTANCE NO TCNICAS DE AMPLITUD
El nmero de ngulos y direcciones de las exploraciones, para reflectores tanto
paralela como transversal al eje de soldadura, deber demostrar la capacidad de
detectar el tamao mnimo rechazable discontinuidades en la seccin de
referencia del cdigo de aceptacin de normas. Las tcnicas de desarrollo sern
en la conformidad con los requisitos de la referencia Seccin del Cdigo.
T-475 TOBERA LATERAL DE SOLDADURA FUSION DE ZONA Y / O
ADYACENTE METAL BASE BOQUILLA
T-475.1 Buscar Ubicacin Unidad. Cuando el referenciamiento Seccin del
Cdigo especifica que un examen ultrasnico sea realizado para examinar o bien
la soldadura de fusin lado de la boquilla zona y / o el metal base de la boquilla

adyacente, una recta examen viga se llevar a cabo desde el interior de la boquilla
superficie.
T-475.2 Examen. Los requisitos para los exmenes generales de T-471 son
aplicables. La circunferencia completa de la boquilla deber ser escaneado para
cubrir la totalidad de zona de fusin lado de la boquilla de la soldadura, ms de 1
pulgada (25 mm) ms all los dedos de los pies de soldadura. La unidad de
bsqueda se puede mover ya sea circunferencialmente alrededor o axialmente a
travs del examen de zona. El rango de pantalla cubrir, como mnimo, 1,1 veces
el espesor de la pared de la tobera. Las boquillas que no pueden ser plenamente
examinadas (por ejemplo, acceso restringido que previene colocacin de la mano
de la unidad de bsqueda) se observara en el informe de examen.

T-477 LIMPIEZA DESPUS DEL EXAMEN

Cuando la limpieza post-examen es requerido por el procedimiento, que debe
llevarse a cabo tan pronto como sea posible despus de evaluacin y
documentacin utilizando un proceso que hace no afecta negativamente a la
parte.
T-480EVALUACIN
T-481 GENERAL
Se reconoce que no todos los reflectores ultrasnicos indican defectos, ya que
ciertas discontinuidades metalrgicas y condiciones geomtricas pueden producir
indicaciones que no son relevantes.
Se incluyen en esta categora son la placa segrega en el zona afectada por el
calor que se convierta reflexivo despus de la fabricacin. Bajo examen viga recta,
estos pueden aparecer como al contado o de lnea de indicaciones. Bajo examen
haz angular, indicios de que se ha determinado que se originan desde la superficie
condiciones (como la geometra de la raz de la soldadura) o variaciones en
estructura metalrgica en materiales austenticos (tales como la soldadura de
revestimiento interfaz automtica a manual) se puede clasificar indicaciones
geomtricas. La identidad, amplitud mxima de la ubicacin y extensin del
reflector causando indicacin geomtrica se registrarn. [Por ejemplo: fijacin
interna, 200% DAC, 1 pulgada (25 mm) por encima de la lnea central de la
soldadura, en la superficie interior, a partir de 90 grados a 95 grados]
Se adoptarn las siguientes etapas para clasificar una indicacin geomtrica:

(a) Interpretar el rea que contiene el reflector de conformidad con el

procedimiento de examen aplicable.
(b) Trazar y verificar las coordenadas del reflector. Prepare un dibujo de la seccin
transversal que muestra la posicin del reflector y discontinuidades en la
superficie, como la raz y escariado.
(c) la fabricacin de Revisin o dibujos de preparacin de soldadura.
Otras tcnicas de ultrasonido o mtodos de examen no destructivo pueden ser
tiles en la determinacin de un reflector de verdadera posicin, tamao y
orientacin.
T-482 NIVEL DE EVALUACIN
T-482.1 Distancia Tcnicas de amplitud.
Todas las indicaciones mayores que 20% del nivel de referencia se investigara en
la medida en que se pueden evaluar en trminos de los criterios de aceptacin del
Cdigo de referencia Seccin.
T-482.2 Distancia no Tcnicas de amplitud. Todas las indicaciones ms de 40%
del tamao del defecto rechazable deber ser investigado en la medida en que se
pueden evaluar en trminos de los criterios de aceptacin del Cdigo de referencia
Seccin.
T-483 EVALUACIN DE REFLECTORES LAMINARES
Reflectores evaluados como reflectores laminares en material de base que
interfieren con el escaneo de los volmenes de examen requerir el examen haz
angular tcnica para ser modificado de tal manera que el mximo factiblese
examina el volumen, y se har constar en el acta delexamen (T-493).
T-484 EVALUACIONES ALTERNATIVAS
Dimensiones del reflector que excedan el Cdigo referenciacinRequisitos de
Seccin podrn ser evaluados a cualquier alternativa las normas previstas por la
Seccin de referencia del cdigo.
T-490 DOCUMENTACIN
T-491 INDICACIONES DE GRABACIN
T-491.1 Indicaciones no rechazables .Indicaciones no rechazables se registrarn
como se especifica en la referenciacin Seccin del Cdigo.

T-491.2 Indicaciones rechazables.Las indicaciones rechazablesse registrarn.

Como mnimo, el tipo de indicacin (es decir, la grieta, no de fusin, escoria, etc),
la ubicacin y el alcance (es decir, la longitud) se registrar. Apndices no
obligatoriosD y K son ejemplos generales de registro para el ngulo y unidades de
bsqueda de haz recto. Se pueden utilizar otras tcnicas.
T-492 REGISTROS DE EXAMEN
Para cada examen ultrasnico, la siguiente informacin se har constar:
(a) identificacin del procedimiento y revisin;
(b) identificacin del instrumento ultrasnico (incluido el fabricante del nmero de
serie);
(c) unidad de bsqueda (s) de identificacin (incluyendo el fabricante de nmero
de serie, la frecuencia, y el tamao);
(d) ngulo (s) haz utilizado;
(e) acoplador utilizado, nombre de marca o tipo;
(f) cable de la unidad de bsqueda (s) que se utiliza, el tipo y longitud;
(g) equipos especiales cuando se utiliza (unidades de bsqueda, cuas, zapatos,
equipo de escaneo automtico, equipo de grabacin, etc);
(h) la identificacin del programa computarizado y revisin cuando se utiliza;
(i) identificacin del bloque de calibracin;
(j) de simulacin de bloque (s) y el simulador electrnico (s) identificacin cuando
se utiliza;
(k) el aumento del nivel de referencia del instrumento y, si se usan, amortiguacin
y ajuste de rechazo (s);
(l) los datos de calibracin [incluyendo reflector (s) de referencia, la indicacin
amplitud (s), y la lectura a distancia (s)];
(m) de bloque de correlacin de datos de simulacin (s) y electrnicos simulador
(s), en su uso, con la calibracin inicial;
(n) la identificacin y localizacin de la soldadura o el volumen escaneada;
superficie (s) (o) de la que se llev a cabo el examen, incluyendo estado de la
superficie;

(p) mapa o registro de indicaciones rechazables detectadas o reas despejadas;

(q) las zonas de acceso restringido o soldaduras inaccesibles;
(r) El personal de los exmenes de identidad y, cuando se requiera haciendo
referencia a la Seccin del Cdigo, el nivel de cualificacin; (s) fecha del examen.
Artculos (b) hasta (m) pueden ser incluidos en una calibracin separada que el
registro proporcion la identificacin del registro de calibracin est incluido en el
registro de examen.
T-493 INFORME
Se har un informe de los exmenes. El informe deber incluir los registros que se
indican en T-491 y T-492. El informe deber ser presentado y mantenido de
acuerdo con la Seccin de referencia del cdigo.
T-494 SOPORTES DE ALMACENAMIENTO
Soportes de almacenamiento para los datos de escaneo computarizado y software
de visualizacin deber ser capaz de almacenar de forma segura y recuperacin
de datos para el perodo de tiempo especificado por la referencia Seccin del
Cdigo.

ARTCULO 5
MTODOS DE EXAMEN DE ULTRASONIDOS PARA MATERIALES
T-510 ALCANCE
Este artculo establece los requisitos o las referencias, que se van a utilizar en la
seleccin y el desarrollo de examen ultrasnico, procedimientos para las partes,
componentes, materiales, y todas las determinaciones de espesor. Cuando SA,
SB y SE documentos se hace referencia, se encuentran en el artculo 23.
La seccin de referencia del cdigo deber ser consultado para los siguientes
requisitos especficos:
(a) requisitos de cualificacin del personal / certificacin;
(b) los requisitos de procedimiento / demostracin, capacitacin, la aceptacin;
(c) las caractersticas del sistema de examen;
(d) la retencin y el control de los bloques de calibracin;
(e) extensin de la exploracin y / o el volumen que va a escanear;
(f) las normas de aceptacin;
(g) la conservacin de registros, y
(h) los requisitos de informes.
Las definiciones de los trminos utilizados en el presente artculo se encuentran
en el Obligatorio Apndice III del presente artculo.

T-520 GENERAL
T-521 REQUISITOS BSICOS
Las disposiciones de este artculo podrn utilizarse en conjuntocon el artculo 1,
Requisitos Generales.
T-522 REQUISITOS PARA EL PROCEDIMIENTO ESCRITO
T-522.1 Requisitos.El examen ultrasnico se deberllevar a cabo de conformidad
con un procedimiento escrito, que como mnimo contendr los requisitosque

figuran en la tabla T-522. El procedimiento escrito debe establecer un solo valor, o

intervalo de valores, para cada uno de los requisitos.
T-522.2 Calificacin Procedimiento. Cuando la calificacin del procedimiento se
especifica por la Seccin de referencia del cdigo, un cambio de un requisito en la
tabla T-522 se identifica como una variable esencial del valor especificado, o el
rango de valores, requerirn la recalificacin de la fase escrita. Un cambio de un
requisito identificado como variable no esencial desde el valor especificado, o
intervalo de valores, no requiere recalificacin del procedimiento escrito.
Todos los cambios de las variables esenciales o no esenciales del valor o rango de
valores especificado por el procedimiento escrito requerir la revisin de, o una
adicin a el procedimiento escrito.
T-530 EQUIPO
T-531 INSTRUMENTO
Un tipo de pulso-eco del instrumento ultrasnico ser utilizado. El instrumento es
capaz de operar a frecuencias durante el intervalo de al menos 1 a 5 MHz, y ser
equipado con un control de ganancia escalonada en unidades de 2,0 dB o menos.
Si el instrumento tiene un control de amortiguacin, puede ser utilizado si no
reduce la sensibilidad de la exploracin.
El control deber rechazar estar en la posicin "off" para todos los exmenes a
menos que se pueda demostrar que lo hace no afecta a la linealidad de la
exploracin.
T-532 BUSCAR UNIDADES
La frecuencia nominal ser de 1 MHz a 5 MHz a no ser que las variables como la
estructura de grano de material de produccin requiera el uso de otras frecuencias
para asegurar la adecuada penetracin o mejor resolucin. Pueden ser utilizadas
unidades de bsqueda con cuas de contacto contorneadas para ayuda
ultrasnica de acoplamiento.
T-533 de acoplador
T-533.1 General. El acoplador, incluidos los aditivos, no ser perjudicial para estar
examinando el material.
T-533.2 de Control de Contaminantes.
(a) Loa acopladores se utilizan en aleaciones con base de nquel no contendrn
ms de 250 ppm de azufre.

(b) Los acopladores utilizados en el acero inoxidable austentico o titanio no

deber contener ms de 250 ppm de haluros (cloruros, adems de fluoruros).
T-534 REQUISITOS PARA BLOQUE DE CALIBRACIN
El material a partir del cual se fabrica el bloque ser de la misma forma del
producto, especificacin de material o equivalente
P-Nmero de agrupacin, y el tratamiento trmico como el material siendo
examinada. A los efectos del presente prrafo, P-Nos. 1, 3, 4, 5A a 5C, y 15A a
15F de materiales que se consideran equivalentes. El acabado de la digitalizacin
de la superficie del bloque deber ser representativo del escaneo acabado de la
superficie sobre el material a ser examinado.
T-534.1 Bloques de Calibracin Productos Tubular.
(a) Los reflectores de calibracin sern longitudinal (axial) muescas y tendr una
longitud que no exceda de 1 pulgada (25 mm), una anchura no superior a 1/16 de
pulgada (1,5 mm), y la profundidad que no exceda de 0.004 pulgadas (0,10 mm) o
5% de la tensin nominal espesor de la pared, lo que sea mayor.
Tabla T-522 Las variables de un procedimiento de examen por ultrasonidos

Requisito

Variable
esencial

Tipos de materiales y configuraciones para ser

examinadas, incluyendo las dimensiones de grosor y
X
la forma del producto
(Fundiciones, forjas, placa, etc)
Las superficies de las cuales se realizar el examen
X.
Tcnica (s) (haz recto, haz angular, contacto, y / o
inmersin) X. . .
X
ngulo (s) y el modo (s) de propagacin de la onda en
X
el material X. . .
Tipo (s) unidad de bsqueda, la frecuencia (es) y el
X
tamao (s) elemento / forma (s) X. . .
Unidades de bsqueda especial, cuas, zapatos o
X
sillas de montar, X cuando se utiliza. . .

Variable
no
esencial

El instrumento ultrasnico (s) X.

Calibracin [bloque (s) de calibracin y de la tcnica
(s)] X. . .
Direcciones y extensin de la exploracin X. . .
Escaneado (manual vs automtica) X.
Mtodo para el dimensionamiento de indicaciones X. .
Adquisicin de datos por ordenador mejorada, cuando
se usa X. . .
Superposicin Scan (disminuir solamente) X. . .
Requisitos de desempeo personal, X cuando sea
necesario. .
Cualificacin del personal requisitos. . . X
Estado de la superficie (superficie de exploracin,
bloque de calibracin). . . X
Acoplante: nombre de la marca o tipo. . . X
El examen post limpieza tcnica. . . X
Equipo de alarma y / o grabacin automtica, cuando
sea aplicable. . . X
Los registros, incluidos los datos mnimos de
calibracin que deben registrarse (por ejemplo, la
configuracin del instrumento)

X
X
X

x
x

(B) El bloque de calibracin debe ser lo suficientemente largo para simularel

manejo del producto que se examin a travs del equipo de examen.
T-534.2 Bloques casting de Calibracin.La calibracin de bloques deber tener
el mismo espesor de 25% en la fundicin de examinar.
T-534.3 Bolting Materiales Bloques de calibracin y tcnicas de examen.
La calibracin de acuerdo con la Figura T-534.3 se utilizar para examen de haz
recto.
T-560 CALIBRACIN
T-561 COMPROBACIONES DE LINEALIDAD DE INSTRUMENTO
Se cumplirn los requisitos de la T-561.1 y T-561.2a intervalos que no exceda de
tres meses para los instrumentos de tipo analgico y un ao para los instrumentos
de tipo digital, o antes de su primero uso a partir de entonces.
T-561.1 Pantalla Altura de linealidad. Del instrumento ultrasnico(No incluye los
instrumentos utilizados para la medicin del espesor) pantalla altura linealidad se
evaluar enconformidad con el Apndice I Obligatorio del artculo 4.

T-561.2 Amplitud de linealidad de control. El ultrasnico (no incluye los

instrumentos de los instrumentos utilizados para la medicindel espesor) se
evaluar la amplitud de linealidad de controlde conformidad con el Obligatorio
Apndice II del Artculo 4.
T-562 REQUISITOS GENERAL DE CALIBRACIN
T-562.1 Sistema ultrasnico.La calibraciones incluirn el sistema ultrasnico
completo y se llevar a caboantes de su uso del sistema en el rango de espesor
bajoexamen.
T-562.2 Superficie de calibracin. Lascalibraciones sern realizadas desde la
superficie (revestido o sin revestimiento, convexa o cncava) correspondiente a la
superficie del material de la que se realizar el examen.
T-562.3 Acoplador. El mismo medio de acoplamiento utilizado durante este
examen se utiliza para la calibracin.
T-562.4 Cuas de contacto. Las mismas cuas de contactoque se utilizarn
durante el examen se utilizarn para la calibracin.
T-562.5 Control de instrumento. Cualquier control, que afecta la linealidad del
instrumento (por ejemplo, los filtros, rechazan o recorte), debern estar en la
misma posicin para la calibracin, la calibracin de cheques, cheques de
linealidad del instrumento, y el examen.
T-562.6 Temperatura. Para el examen de contactos, eldiferencial de temperatura
entre el bloque de calibraciny superficies de examen debern estar dentro de (14
C) 25 F.
Para el examen de inmersin, la temperatura del medio de acoplamiento de
calibracin se situar en 25 F (14 C) del acoplador temperatura para su
examen.

T-563 CONFIRMACIN DE CALIBRACIN

T-563.1 Cambios en el sistema. Cuando cualquier parte del examen del sistema
se cambia, una verificacin de la calibracin serrealizado en el bloque de
calibracin para verificar en que rango de distanciapuntos y ajuste (s) la
sensibilidad cumplen con los requisitosde T-563.3.
T-563.2 Pruebas de calibracin. Disponibilidad de una calibracin en almenos
uno de los reflectores en el bloque de calibracin o comprobar el uso de un
simulador que se llevar a cabo al finalizarcada examen o serie de exmenes
similares,y cuando el personal de examen (excepto equipo automatizado) se
cambian. El rango de distancia y la sensibilidad de los valores registrados debern
cumplir con los requisitos deT-563.3.
NOTA: Las comprobaciones de calibracin se puede realizar interinos entre la
calibracin inicial requerida y la comprobacin final de calibracin. La decisin de
realizar comprobaciones de calibracin provisionales debe basarse en
ultrasonidos en estabilidad instrumento (analgica vs digital), el riesgo de tener
que llevar a cabo exmenes, y el beneficio de no realizar la calibracin interino
cheques.
T-563.2.1. Simulador de cheques.Cualquier cheque simuladorque se utilizan se
correlacion con la calibracin originalen el bloque de calibracin durante la
calibracin original.Los controles del simulador pueden utilizar diferentes tipos
dereflectores de calibracin o bloques (tales como IIW) y / o simulaciones
electrnicas. Sin embargo, la simulacin utilizada ser identificable en la hoja (s)
de calibracin. El simulador de verificacin se har en todo el sistema de
exmenes.Todo el sistema no tiene que ser revisado en una sola operacin;sin
embargo, para su comprobacin, la unidad de bsqueda serconectado al
instrumento ultrasnico y comprobadocontra un reflector de calibracin. La
precisin del simulador de controles se confirmaron, mediante el bloque de
calibracin,cada tres meses o antes del primer uso a partir de entonces.
T-563.3 Valores de confirmacin de aceptacin.
T-563.3.1 Distancia de rango de puntos. Si cualquier distancia de punto se ha
movido en la lnea de barrido en ms de un10% de la lectura a distancia o 5% de
barrido completo (o sea mayor), corregir la calibracin de distancia rango y tenga
en cuenta la correccin en el registro de examen. Todas las indicaciones
registrados desde la ltima calibracin o verificacin de calibracin vlida se
revisar y sus valores seran cambiados en las hojas de datos o volver a grabar.

T-563.3.2. Ajustes de sensibilidad. Si cualquier configuracin de sensibilidad ha

cambiado en ms de un 20% o 2 dB de su amplitud, corregir la calibracin de la
sensibilidad y tenga en cuenta la correccin en el registro del examen. Si el ajuste
de la sensibilidad ha disminuido, todas las hojas de datos desde la ltima
calibracin vlida o verificacin de la calibracin se marcar sin efecto y el rea
cubierta por los datos declarados nulos se revisar. Si el ajuste de sensibilidad se
ha incrementado, todas las indicaciones grabadas desde la ltima revisin de la
calibracin o calibracin vlida deber ser revisada y sus valores se pueden
cambiar en las hojas de datos y volver a grabar.
T-564
CALIBRACIN
CASTING
COMPLEMENTARIO DEL HAZ

PARA

EXMEN

DE

NGULO

Para los exmenes de ngulo de haz suplementarios, el instrumento ganancia se

ajustar durante la calibracin tal que la indicacin del orificio perforado del lado
de la produccin de la amplitud ms alta es de 80% 5% de la altura de la
pantalla completa. Este ser el nivel de referencia primario.
T-570 EXAMEN
T-571 EXAMEN DE LAS FORMAS DE PRODUCTOS
T-571.1 De la Plata. La plata deber ser examinada de acuerdo con SA-435/SA435M, SA-577/SA-577M, SA-578 / SA-578m, o SB-548, segn corresponda,
excepto en su forma enmendada por los requisitos en el presente artculo en otras
partes.
T-571.2 Piezas forjadas y barras.
(a) Piezas forjadas y barras deben ser examinados de conformidad con SA388/SA-388M o SA-745/SA-745M, segn corresponda, excepto en su versin
modificada por los requisitos en otra parte de este Artculo.
(b)Todas las piezas forjadas y barras sern examinadas por la tcnica del haz
recto de examen.
(c) Adems de (b), piezas forjadas de anillos y otras piezas forjadas huecas
tambin sern objeto de examen del ngulo de haz tcnica en dos direcciones
circunferenciales, a menos espesor de la pared o la configuracin geomtrica
hace examen haz angular impracticable.
(d) Adems de (b) y (c), piezas forjadas de anillos hechos a fino, prcticas de
fusin de grano y utilizado para las secciones de concha, el buque ser tambin
examinado por el examen del ngulo de haz tcnica en dos direcciones axiales.

(e) se pueden usar tcnicas de inmersin.

T-571.3 Productos Tubulares. Los productos tubulares sern examinado de
conformidad con SE-213, SE-273, segn corresponda, excepto en su versin
modificada por los requerimientos en otros lugares en el presente artculo.
T-571.4 Castings. Castings sern examinados de conformidadcon SA-609/SA609M, excepto en su versin modificada porlos requisitos en el presente artculo
en otras partes.
(A) Para los exmenes, haz recto, la compensacin de la sensibilidad en el prrafo
8.3 del SA-609/SA-609M no podr ser utilizado.
(B) Un examen del ngulo de haz complementario serrealizado en fundicin o
reas de fundicin, donde una parte posterior a la reflexin no se puede mantener
durante el examen, haz recto, o en el que el ngulo entre la parte delantera y
trasera las superficies de la fundicin excede 15 grados.
T-571.5 Materiales de montaje. Materiales de montaje deber ser examinado de
conformidad con SA-388/SA-388M, excepto en su versin modificada por los
requisitos en el presente artculo en otras partes.
(A) De materiales de montaje ser examinado radial antes de la enhebrar. La
sensibilidad se establecer mediante la indicacin desde el lado del agujero en el
bloque de calibracin A en radial caminos de metal de D / 4 y 3D / 4. La ganancia
del instrumentose ajustar de tal manera que la indicacin de la D / 4 o 4
agujeros / 3D (el que tiene la mayor amplitud de indicacin) es de 80% 5% de la
altura de la pantalla completa (FSH). Esto deber ser el nivel de referencia
primario. Una correccin de la distancia-amplitud (CAD) de la curva se obtendr
con ayuda de las indicacionesde los D / 4 y 3D / 4 agujeros y se prorrogar para
cubrir todo el dimetro del material que est siendo examinado.
(B) de materiales de montaje ser examinado axialmente desde ambos superficies
extremas, ya sea antes o despus de enhebrar. El instrumentola ganancia se
ajusta de modo que la indicacin de el agujero de fondo plano que produce la
mayor amplitud indicacin, es 80% 5% de FSH. Esta ser la referencia principal
nivel. Una curva DAC se obtendr con ayuda deindicaciones de los tres agujeros
de fondo plano y que ser ampliado para cubrir toda la longitud de material que
est siendo examinado.
Si alguna indicacin de amplitud de agujero de fondo plano es menos del 20% de
la altura, la construccin de dos lneas del CAD utilizando la calibracin los
bloques A y B, y los bloques de calibracin B y C y el registro del ajuste necesario,

ajustar la indicacin de alta ganancia amplitud para cada DAC a 80% 5% de

FSH.
(C) se pueden usar tcnicas de inmersin.
T-572 EXAMEN DE BOMBAS Y VLVULAS
Examen ultrasnico de bombas y vlvulas se har de conformidad con el Apndice
I. Obligatorio.
T-573 EXAMEN DE SERVICIO
T-573.1 Regin de Boquilla Radio interior y esquina interior. Examen durante
el servicio de la boquilla radio interno y zonas internas de las esquinas deben estar
de acuerdo con el Obligatorio el Apndice II.
T-573.2 Examen de servicio de empernado. El examen de servicio de los pernos
debe estar de acuerdo con el Apndice IV.
T-573.3 Examen de servicio de revestimiento de fachadas. El examen de
servicio de revestimiento, con exclusin de superposicin de revestimiento de
metal de soldadura, se har de acuerdo con SA-578 / SA-578m.
T-574 MEDICIN DE ESPESORES
La medicin de espesores se realizar de conformidad con SE-797, excepto en su
versin modificada por los requisitos en el presente artculo en otras partes.
T-577 LIMPIEZA DESPUS DE EXAMEN.
Cuando la limpieza post-examen es requerida por el procedimiento, que debe
llevarse a cabo tan pronto como sea posible despus de evaluacin y
documentacin utilizando un proceso que hace no afecta negativamente a la
parte.
T-580 EVALUACIN
Para los exmenes que utilizan calibraciones del CAD, cualquier imperfeccin con
una indicacin de amplitud ms del 20% de la DAC se investig en la medida en
que pueda ser evaluada en cuanto a los criterios de aceptacin de
lareferenciacinSeccin Cdigo.
T-590 DOCUMENTACIN
T-591 INDICACIONES DE GRABACIN

T-591.1 Indicaciones no rechazable.Las Indicaciones no rechazables se

registrarn como se especifica en la referenciacin Seccin del Cdigo.
T-591.2 Indicaciones rechazables. Lasindicaciones rechazables se registrarn.
Como mnimo, el tipo de indicacin (es decir, el crack, la laminacin, la inclusin,
etc), la ubicacin y medida (es decir, la longitud) se registrar.
T-592 REGISTROS DE EXAMEN
Para cada examen ultrasnico, la siguiente informacin se har constar:
(a) identificacin del procedimiento y revisin
(b) identificacin del instrumento ultrasnico (incluido el fabricante del nmero de
serie)
(c) unidad de bsqueda (s) de identificacin (incluyendo el nmero de serie del
fabricante de, la frecuencia, y el tamao)
(d) ngulo (s) haz utilizado
(e) acoplador utilizado, nombre de marca o tipo
(f) cable (s) unidad de bsqueda utilizada, el tipo y la longitud
(g) un equipo especial, si se utiliza (unidades de bsqueda, cuas, zapatos,
equipos de escaneo automtico, la grabacin equipo, etc.)
(h) la identificacin del programa computarizado y la revisin, cuando se usan
(i) identificacin del bloque de calibracin
(j) de simulacin de bloque (s) y el simulador electrnico (s) identificacin, cuando
se usa
(k) el aumento del nivel de referencia del instrumento y, si se usan, amortiguacin
y rechazar el establecimiento (s)
(l) los datos de calibracin [incluyendo reflector (s) de referencia, la indicacin
amplitud(s), y la lectura (s) distancia]
(m) de bloque de correlacin de datos de simulacin (s) y simulador (s)
electrnicos, en su uso, con la calibracin inicial
(n) la identificacin de los materiales o el volumen escaneado de superficie (s)
donde se llevo a cabo el examen, incluyendo el estado de la superficie

(p) mapa o registro de indicaciones rechazables detectadas o reas despejadas

(q) las zonas de acceso restringido o zonas de difcil acceso
(r) El personal de los exmenes de identidad y, cuando se requiera haciendo
referencia a la Seccin del Cdigo, el nivel de cualificacin
(s) fecha de examen
Artculos (b) hasta (m) pueden ser incluidos en una calibracin separada registro
proporcionara la identificacin del registro de calibracin est incluido en el
registro de examen.

T-593 INFORME
Se har un informe de los exmenes. El informe deber incluir los registros que se
indican en T-591 y T-592. El informe deber ser presentado y mantenido de
acuerdo con la Seccin de referencia del cdigo.
T-594 SOPORTES DE ALMACENAMIENTO
Soportes de almacenamiento para los datos de escaneo computarizado y software
de visualizacin deber ser capaz de almacenar de forma segura y recuperacin
de datos para el perodo de tiempo especificado por la referencia Seccin del
Cdigo.
ARTCULO 6
T-610 EXAMEN DELQUIDOS PENETRANTES
Cuando se especifica por la seccin de referencia del cdigo, la tcnica de
examen de lquidos penetrantes se describe en este el artculo. En general, este
artculo est en conformidad con SE-165, Mtodo de prueba estndar para
examen de lquidos penetrantes. Este documento proporciona detalles para tener
en cuenta los procedimientos utilizados.
Cuando se especifica este artculo por una seccin de referencia del cdigo, el
mtodo de lquidos penetrantes se describe en este artculo se utilizar
conjuntamente con el artculo 1, Requisitos Generales.Las definiciones de los
trminos utilizados en este artculo aparecen en el Obligatorio Apndice I del
presente artculo y en el artculo 1, Obligatorio el Apndice I.
T-620 GENERAL

El mtodo de examen de lquidos penetrantes es un medio efectivo para detectar

discontinuidades que estn abiertos de la superficie de metales y otros materiales
no porosos. Las tpicas discontinuidades detectables por este mtodo son las
grietas,costuras, vueltas, cierra fros, laminaciones y porosidad. En principio, un
lquido penetrante se aplica a la superficie para ser examinado y se deja entrar en
las discontinuidades. A continuacin se retira todoel exceso de penetrante, la parte
se seca, yse aplica un revelador. Las funciones de desarrolladores, tanto como
secante para absorber el penetrante que ha sido atrapado en las discontinuidades,
y como un fondo de contraste para mejorar la visibilidad de las indicaciones
penetrantes. Los colorantes en penetrantes son el contraste de colores (visible con
luz blanca) o fluorescente (visible bajo luz ultravioleta).
T-621 REQUISITOS PARA PROCEDIMIENTO ESCRITO
T-621.1 Requisitos. El examen de lquidos penetrantesse llevar a cabo de
conformidad con un procedimiento escrito que como mnimo contendr los
requisitosque figuran en la tabla T-621. La fase escrita establecerun solo valor, o
intervalo de valores, para cada unode los requisitos.
T-621.2 Calificacin del procedimiento. Lacalificacin del procedimiento se
especifica por la Seccin de referencia del cdigo, un cambio de un requisito en la
tabla T-621 identifica como una variable esencial exigir recalificacin del
procedimiento escrito por demostracin. Un cambio de un requisito identificado
como una variable que no sea esencialno requiere recalificacin del procedimiento
escrito. Todos los cambios de las variables esenciales o no esenciales de
loespecificado dentro del procedimiento escrito requerirn la revisin o una adicin
al procedimiento escrito.

T-630 EQUIPO
Los materiales penetrantes, tal como se utiliza en este artculo, se pretende incluir
todos los penetrantes, emulsionantes, disolventes o agentes, desarrolladores,
limpieza, etc, utilizados en el proceso del examen. Las descripciones de las
clasificaciones mediante lquidos penetrantesy los tipos de materiales se
proporcionan en SE-165 de Artculo 24.
T-640 REQUISITOS DIVERSOS
T-641 CONTROL DE CONTAMINANTES
El usuario de este artculo deber obtener la certificacin del contaminante
contenido para todos los materiales de lquidos penetrantes utilizados en

aleaciones a base de nquel, aceros inoxidables autnticos o dplex y de titanio.

Estas certificaciones debern incluir el penetrante, nmeros de lote de los
fabricantes y de los resultados de las pruebas obtenidas de conformidad con el
Apndice II Obligatoria de esta artculo. Estos registros se mantendrn como lo
requiere la seccin de referencia del cdigo.
T-642 PREPARACIN DE LA SUPERFICIE
(A) En general, se pueden obtener resultados satisfactorios cuando la superficie
de la pieza es ensoldada, como laminados, recin colado o condicin de forjado.
Preparacin de la superficie pormolienda, mecanizado, u otros mtodos pueden
ser necesarios donde irregularidades de la superficie podran enmascarar
indicaciones.
(B) Antes de cada examen de lquidos penetrantes, la superficie debe ser
examinada y todas las reas adyacentes dentro de al menos 1 pulgada (25 mm)
debern estar secos y libres de polvo, grasa, pelusa, escala, flujo de soldadura,
salpicaduras de soldadura, pintura, aceite, y otros extraos que se podra
oscurecer aberturas de superficie o interferir con el examen.
(c) Los tpicosagentes de limpieza que se pueden usar son los detergentes,
disolventes orgnicos, soluciones desincrustantes y pintura removedoras. Tambin
se puede utilizar desengrase y mtodos de limpieza por ultrasonidos.
(d) Los disolventes de limpieza debern cumplir los requisitos de T-641. El mtodo
de limpieza empleado es una parte importante del proceso del examen.
NOTA: Acondicionamiento de las superficies antes del examen segn se requiere
en (a) puede afectar los resultados. Ver SE 165, Anexo A1.

Tabla T-621 Requisitos

lquidospenetrantes.

Requisito

de

un

procedimiento

de

Variable
esencial

Identificacin y cualquier cambio en el tipo o familia

grupo de materiales penetrantes incluyendo X
desarrolladores, emulsionantes, etc
Preparacin de la superficie (el acabado y limpieza,
X
incluyendo el tipo de disolvente de limpieza)

examen

de

Variable
no
esencial

Mtodo de la aplicacin del penetrante.

Mtodo para retirar el exceso de penetrante de la
superficie
Concentracin de emulsionante hidroflico o lipoflico y
tiempo de permanencia en los tanques de inmersin y
tiempo de agitacin
de emulsionantes hidrfilos
Concentracin de emulsionante hidroflico en
aplicaciones de pulverizacin
Mtodo de aplicacin de desarrollado
Plazos mnimos y mximos entre los pasos y ayudas
secado
Disminucin del tiempo de permanencia del
penetrante
Aumento de desarrollador tiempo de permanencia
(tiempo de interpretacin)
Intensidad de luz mnima
Temperatura de la superficie exterior 40 F a (5 C a
52 C) a 125 F o X como previamente calificado.
Demostracin de rendimiento, cuando sea necesario
Cualificacin del personal requisitos. .
Materiales, formas o tamaos para ser examinados y
el alcance del examen.
Tcnica de limpieza despus del examen

T-643 SECADO DESPUS DE PREPARACIN

Despus de la limpieza, el secado de las superficies a ser examinado se puede
lograr por evaporacin normal o con forzada de aire caliente o fro. Un perodo de
tiempo mnimo deber ser establecido para asegurar que la solucin de limpieza
tiene evaporada antes de la aplicacin del penetrante.
T-650 TCNICA
T-651 TCNICAS
Ya sea un contraste de colores penetrantes (visible) o un fluorescente penetrante
se utiliza con una de los siguientes tres procesos penetrantes:
(a) agua lavable
(b) post-emulsionante

(c) extrable disolvente

Los penetrantes visibles y fluorescentes utilizados en combinacin con estos tres
procesos penetrantes resultan en seis tcnicas de lquidos penetrantes.

T-652 TCNICAS PARA LA NORMA DE TEMPERATURAS

Como una tcnica estndar, la temperatura del penetrante y la superficie de la
pieza a procesar deberno estar por debajo de (5 C) 40 C ni por encima de 125
F (52 C) a lo largo del perodo de exmenes. El calentamiento o enfriamiento
local es permitido siempre que la temperatura permanece en la parte gama de 40
F a (5 C a 52 C) 125 F durante el examen. Cuando no sea prctico para
cumplir con estas temperaturas debido a limitaciones como otras temperaturas y
los tiempos se pueden utilizar, siempre y cuando los procedimientos se califican
como se especifica en T-653.
T-653 TCNICAS PARA TEMPERATURAS NO ESTNDAR.
Cuando no es prctico para llevar a cabo un examen por lquidos penetrantes
dentro del rango de temperatura de 40 F a 125 F (5 C a 52 C), el
procedimiento de examen en la propuesta rango de temperatura inferior o superior
requiere cualificacin de los materiales penetrantes y procesamiento de acuerdo
con el Obligatorio Apndice III del presente artculo.
T-654 RESTRICCIONES TCNICA
El examen penetrante fluorescente no seguir un contraste de colores examen
penetrante. Entremezclado de penetrante, materiales de diferentes familias o
diferentes fabricantes no est permitido. Una nueva prueba de agua lavable
penetrantepuede causar la prdida de indicaciones marginales debido a la
contaminacin.
T-660 CALIBRACIN
Los metros de luz, visible y metros de luz fluorescente (negro), se calibrarn al
menos una vez al ao o cuando el medidor ha sido reparado. Si los metros no han
sido usados durante un ao o ms, la calibracin debe hacerse antes de ser
utilizados.
T-670 EXAMEN
T-671 APLICACIN DE PENETRANTE

El penetrante puede ser aplicado por cualquier medio adecuado, tales como
inmersin, cepillado o pulverizacin. Si el penetrante se aplica mediante
pulverizacin utilizando un aparato de tipo de aire comprimido, se colocarn filtros
en el lado aguas arriba, cerca de laentrada de aire para impedir la contaminacin
del penetrante por aceite, agua, suciedad o sedimento que haya quedado en las
lneas.
T-672 PENETRACIN (PERM) TIEMPO
La penetracin (permanencia) el tiempo es crtico. El tiempo mnimo de
penetracin ser como se requiere en la tabla T-672 o como calificados por la
demostracin para aplicaciones especficas.
T-673 EXTRACCIN DE EXCESO DE PENETRANTE
Despus de que haya transcurrido el tiempo (permanencia) de la penetracin
especificada, se retirar cualquier penetrante que quede en la superficie, teniendo
cuidado de minimizar la remocin de penetrante de discontinuidades.
T-673.1 Agua-lavable penetrantes. El exceso de agua lavable penetrante del
reglamento ser eliminado con un spray de agua. La presin del agua no ser
superior a 50 psi (350 kPa), y la temperatura del agua no exceder de (43 C) 110
F.
T-673.2 Post-Emulsificacin penetrante.
(a) Emulsificacin lipoflica. Despus del tiempo de permanencia del penetrante
requerido, el exceso de penetrante estar emulsionado por inmersin o inundacin
de la superficie con el emulsionante. Tiempo de emulsificacin es dependiendo del
tipo de condiciones de emulsionante y de la superficie. El tiempo real
deemulsificacin se determinar experimentalmente. Despus de la
emulsificacin, la mezcla se elimina por inmersin o en aclarado con agua. La
temperatura y la presin del agua ser la recomendada por el fabricante.
(b) Hidrfilo emulsificacin. Despus del tiempo de permanencia del penetrante
requerido y antes de la emulsin, la parte deber ser pre-enjuagada con agua
pulverizada utilizando el mismo proceso que para los penetrantes lavables con
agua. El tiempo de pre-enjuague no deber exceder de 1 min. Despus del preenjuague, el exceso de penetrante de la superficie es emulsionado por inmersin o
aspersin con emulsionante hidrfilo. La concentracin del bao ser la
recomendada por el fabricante. Despus de la emulsificacin,la mezcla del
reglamento ser eliminado por inmersin o el enjuague con el agua. La
temperatura y la presin del agua ser la recomendada por el fabricante.

NOTA: La informacin adicional puede ser obtenida de SE 165.

T-673.3 Solvente penetrante extrable.
El exceso de solventes penetrantes removibles se pueden limpiar pasandocon un
pao o papel absorbente, repitiendo la operacinhasta que se hayan eliminado la
mayora de los rastros de penetrante. El rastro restanteser eliminado frotando
ligeramente la superficiecon un pao o papel absorbente humedecido
condisolvente. Para reducir al mnimo la eliminacin de penetrante de
discontinuidades,se debe tener cuidado para evitar el uso de exceso de
disolvente. El lavado de la superficie con disolvente, despus de la aplicacin de
penetrante y antes de desarrollar,est prohibido.
T-674 SECADO DE REMOCIN DE EXCESO DE PENETRANTE
(A) Para el agua lavable o tcnica de post-emulsionante, las superficies pueden
secarse mediante secado con materiales de limpieza o mediante el uso de aire de
circulacin, siempre que la temperatura de la superficie no se eleva por encima de
125 F(52 C).
(B) para la tcnica removible solvente, las superficiespueden secarse por
evaporacin normal, secante, secndose, o aire forzado.
T-675 DESARROLLADOR
El desarrollador deber aplicarse tan pronto como sea posible despus de la
remocin de penetrante; el intervalo de tiempo que no exceder el establecido en
el procedimiento. El espesor del recubrimiento insuficiente no puede dibujar el
penetrante de las discontinuidades; por el contrario, el espesor del recubrimiento
excesivo puede enmascarar indicaciones. Con penetrantes de contraste de color,
slo se utilizar un revelador hmedo. Con penetrantes fluorescentes, puede ser
utilizado un desarrollador hmedo o seco.
Tabla T-672 Tiempos mnimos de permanencia.

Material

Forma

De
aluminio, Castings
magnesio, acero, soldaduras
latn y bronce,
titanio
y
aleaciones de alta

Tiempos
de
Tipo
de permanencia
discontinuidad
(minutos) Nota
1Penetrante
y Se cierra en fro, 5
porosidad, falta de
fusin,
grietas (todas las
formas)

temperatura
Punta de carburo
de herramientas
plstico
vidrio
cermico

Soldadas
Todas las formas
Todas las formas
Todas las formas

La falta de fusin,
porosidad, grietas
Grietas
Grietas
Grietas

10
5
5
5

NOTA: (1) Para un rango de temperatura de 50 F a 125 F (10 C

T-675.1 Aplicacin de revelador en seco.El revelador seco se aplicara

nicamente sobre la superficie seca con un cepillo suave, mano, bombilla de
polvo, pistola de polvo, u otros medios, siempre que el polvo se saque de manera
uniforme sobre toda la superficie que se estexaminado.
T-675.2 Aplicacin de revelador en hmedo.Antes de aplicar el tipo de
suspensin desarrollador hmedo a la superficie, el desarrollador debe ser agitado
a fondo para asegurar una adecuadadispersin de las partculas en suspensin.
(A) Aplicacin de revelador acuoso. El revelador acuosose puede aplicar a
cualquier superficie hmeda o seca. Seraplicado por inmersin, aplicacin con
brocha, pulverizacin, o por otros medios, proporcionado una fina capa se obtiene
en toda la superficie siendo examinada. El tiempo de secado se puede reducir
mediante el uso de aire caliente, siempre que la temperatura de la superficie de la
parte no est levantado por encima (52 C) 125 F. Anularla no es permitida.
(B) Aplicacin de revelador no acuoso. Los desarrolladores no acuososse aplicar
mediante pulverizacin, excepto donde la seguridad o el acceso restringido
excluye que sta bajo tales condiciones, el desarrollador se puede aplicar con el
cepillado. Para lavable con agua o post-emulsionable penetrantes, se aplicara el
desarrollador sobre la superficie seca. Para penetrantes extrables de disolventes,
el desarrollador se puede aplicar tan pronto como sea posible despus de la
remocin de exceso del penetrante. El secado se har por la normalidad de la
evaporacin.
T-675.3 Tiempo en Desarrollo. El tiempo de revelado para la final
deinterpretacin comienza inmediatamente despus de la aplicacinde un
revelador seco o tan pronto como un recubrimiento hmedo desarrollador en seco.
T-676 INTERPRETACIN

T-676.1 Interpretacin Final. La interpretacin final se efectuar, a menos de 10

minutos y no ms de 60 min despus de que los requisitos de la T-675.3 estn
satisfechos. Si sangra la salida no altera los resultados del examen, ya se
permiten perodos. Si la superficie a ser examinada es lo suficientemente grande
como para impedir un examen completo dentro del tiempo prescrito o establecido,
el examen debe llevarse a cabo en incrementos.
T-676.2 Indicacin Caracterizacin (s). El tipo de discontinuidades son difciles
de evaluar si difunde los penetrantes excesivamente en el revelador. Si se produce
esta condicin, la estrecha observacin de la formacin de indicacin (s) durante
la aplicacin del desarrollador puede ayudar en la caracterizacin y determinar la
extensin de la indicacin (s).
T-676.3 Colores penetrantes de contraste. Con un contraste de color
penetrante, el desarrollador forma una razonablementecapa blanca uniforme. Las
discontinuidades superficiales se indican mediante sangrar a la salida del
penetrante que normalmente es un color rojo oscuro, el color que tie el
desarrollador. Indicaciones con una luz color de rosa puede indicar la limpieza
excesiva. Insuficiente limpieza puede dejar una interpretacin excesiva toma de
fondo difcil. Una intensidad de luz mnima de 100 fc (1000 lx) se requiere en la
superficie a examinar y a garantizar una adecuada sensibilidad durante el examen
y evaluacin de las indicaciones. La fuente de luz, tcnica utilizada no requiere
verificacin de nivel de luz para demostraruna sola vez, documentado y mantenido
en nuestros archivos.
T-676.4 Penetrantes fluorescentes. Con penetrantes fluorescentes, el proceso
es esencialmente es el mismo que enT-676.3, con la excepcin de que se realiza
el examenutilizando una luz ultravioleta, llamada luz negra. El examense llevar a
cabo de la siguiente manera:
(A) Se puede realizar en una zona oscura.
(B) Los examinadores debern estar en una zona oscura durante al menos 5 min
antes de realizar los exmenes para permitir que sus ojos se adapten a la visin
oscura. Gafas o lentes usados por examinadores no estarn fotosensible.
(C) Luces negras debern alcanzar un mnimo de 1000 W/cm2 en la superficie de
la pieza que se est examinado durante todo el examen.
(D) Los reflectores y filtros deben ser revisados y, si es necesario, limpiarlos antes
de su uso. Filtros agrietados o rotos se sustituyen inmediatamente.

(E) La intensidad de la luz negra se medir con unmedidor de luz negro antes de
su uso, siempre que la energa de la luz fuente se interrumpa o se cambie, y en la
terminacin del examen o la serie de exmenes.
T-677 LIMPIEZA DESPUS DE EXAMEN
Cuando la limpieza post-examen es requerida por el procedimiento, que debe
llevarse a cabo tan pronto como sea posible despus de la evaluacin y
documentacin utilizando un proceso que no afecta negativamente a la parte.
T-680 EVALUACIN
(A) Todas las indicaciones deben ser evaluados en trminos de la aceptacin de
normas de la Seccin de referencia del cdigo.
(B) Las discontinuidades en la superficie se indicarn con sangrado de penetrante;
irregularidades de la superficie, sin embargo, las localizadasdebido a las marcas
de mecanizado u otras condiciones de la superficiepuede producir falsas
indicaciones.
(C) Las reas generales de la fluorescencia o la pigmentacin que podra
enmascarar indicaciones de discontinuidades son inaceptables, y esas superficies
debern limpiarse y reexaminarse.
T-690 DOCUMENTACIN
T-691 REGISTRO DE INDICACIONES
T-691.1 Indicaciones no rechazables. Indicaciones no rechazables se registrarn
como se especifica en la referenciacinSeccin del Cdigo.
T-691.2 Indicaciones rechazable. Indicaciones rechazablese registrarn. Como
mnimo, el tipo de indicaciones(Lineal o redondeada), la ubicacin y la extensin
(longitud se registrarn dimetro o alineado).
T-692 REGISTROS DE EXAMEN
Para cada examen, la siguiente informacin deber ser registrada:
(a) identificacin del procedimiento y revisin;
(b) el tipo de lquidos penetrantes (visible o fluorescente);
(c) el tipo (nmero o letra de designacin) de cada penetrante,
penetrante, emulsionante y revelador utilizado;

removedor

(d) El personal de los exmenes de identidad y si es requerido por referencia a la

Seccin del Cdigo, el nivel de cualificacin;
(e) un mapa o registro de indicaciones por T-691;
(f) el material y el espesor;
(g) equipo de iluminacin; y
(h) la fecha de examen.
No se permite su posterior reproduccin o distribucin.

ARTCULO 7
EXAMEN DE PARTCULAS MAGNTICAS
T-710 ALCANCE
Cuando se especifica por la seccin de referencia del cdigo, las tcnicas de
examen de partculas magnticas que se describen se utilizarn en este artculo.
En general, este artculo est en conformidadcon SE-709, Gua estndar para
Examen de Partculas Magnticas. Este documento proporciona detalles
paraconsiderarlos en los procedimientos utilizados.Cuando se especifica este
artculo por una seccin de referencia del cdigo,el mtodo de partculas
magnticas se describe en este artculose utilizar conjuntamente con el artculo
1, Requisitos Generales.La definicin de los trminos utilizados en el presente
artculo estn en el Obligatorio Apndice II.

T-720 GENERAL
El mtodo de examen de partculas magnticas se aplica paradetectar grietas y
otras discontinuidades en las superficies demateriales ferromagnticos. La
sensibilidad es mayor para las discontinuidades superficiey disminuye
rpidamente al aumentar laprofundidad de discontinuidades debajo de la
superficie. Los tpicotipos de discontinuidades que pueden ser detectados por este
mtodoson grietas, vueltas, costuras, cierra fros, y laminaciones.En principio, este
mtodo implica la magnetizacin de un rea, examinada, y la aplicacin de
partculas ferromagnticas (Medio del examen) a la superficie. Los Patrones de
partculas seforman en la superficie donde el campo magntico esforzado a salir
de la parte y otrasdiscontinuidades para causar uncampo de fuga que atrae las

partculas. Los patrones de partculasson por lo general caracterstica del tipo de

discontinuidad quese detecta.Cualquiera que sea la tcnica utilizada para producir
el magnticoflujo en la parte, la sensibilidad mxima ser la lnea de
discontinuidadesorientada perpendicular a las lneas de flujo. Paraeficacia ptima
en la deteccin de todo tipo de discontinuidades, cada rea debe ser examinada
por lo menos dos veces, con laslneas de flujo durante el examen, uno
aproximadamenteperpendicular a las lneas de flujo durante la otra.
T-721.2 Calificacin Procedimiento. Cuando la calificacin del procedimientose
especfica por la Seccin de referencia del cdigo, un cambio de un requisito en la
tabla T-721 identifica comouna variable esencial exigir recalificacin
delprocedimiento escrito por demostracin. Un cambio de un requisito se
identificada como una variable que no sean esenciales norequieren recalificacin
del procedimiento escrito. Todocambio de las variables esenciales o no esenciales
de loespecificado dentro del procedimiento escrito requerir la revisin, o una
adicin al procedimiento escrito.
T-730 EQUIPO
Un medio adecuado y apropiado para producir el necesarioflujo magntico ser
empleado en la parte, utilizandouna o ms de las tcnicas enumeradas y descritos
enT-750.
T-731 EXAMEN DE MEDIANO
Las partculas ferromagnticas finamente divididas utilizados para el examen
debern cumplir con los siguientes requisitos.
(A) Tipos de partculas. Las partculas sern tratados para impartir color
(pigmentos fluorescentes, pigmentos no fluorescentes,o ambos) con el fin de
hacerlos altamente visible(Contraste) en el contexto de la superficie que se
estexaminado.
(B) Partculas. Partculas secas y hmedas y los vehculos con suspensindeben
estar de acuerdo con SE-709.
(C) Las limitaciones de temperatura. Se utilizarn partculasdentro de las
limitaciones en el alcance de temperatura establecidos por el fabricantede las
partculas. Alternativamente, las partculas pueden ser utilizadas fuera de las
recomendaciones del fabricante proporcionando el procedimiento es calificado de
acuerdocon el artculo 1, T-150, a la temperatura propuesta.
T-740 REQUISITOS DIVERSOS

T-741 SUPERFICIAL
T-741.1 Preparacin.
(a) Por lo general se obtienen resultados satisfactorios cuando lasuperficie est en
soldada como laminado, recin colado, o condicin de forjado. Sin embargo, la
preparacin de superficie por molienda o mecanizado pueden ser necesario
cuando las irregularidades superficiales podra enmascarar indicaciones debidas a
discontinuidades.

Tabla T-721 Requisitos de un procedimiento de examen de partculas

magnticas

Requisito
Magnetizacin tcnica
Tipo de corriente de magnetizacin o fuera del
rango de amperaje especificado en el presente
artculo o como anteriormente calificado
Preparacin de la superficie
Las partculas magnticas (fluorescente /
visible, color, tamao de partculas, seca /
hmeda)
Mtodo de aplicacin de partcula
Mtodo del exceso de eliminacin de partculas
Luz mnima intensidad
Los recubrimientos existentes, mayor que el
espesor demostraron
Realce de contraste superficie no magntico, X
cuando se utiliza.
Demostracin de rendimiento, cuando sea
necesario
Temperatura de superficie de la pieza de
examen fuera del rango de temperatura
recomendada por el
fabricante de las partculas o como previamente
calificados
Forma o el tamao del objeto de examen.
Equipo del mismo tipo

Variable
esencial

Variable
esencial

x
x
x

x
x

no

Temperatura (dentro de los especificados por el

fabricante o que previamente calificado).

Desmagnetizacin de la tcnica

El examen post limpieza tcnica

Requisitos de calificacin del personal

x
x
x
x

(B) Antes del examen de partculas magnticas, la superficie ser examinada y

todas las reas adyacentes dentro de al menos1 pulgada (25 mm) debern estar
secas y libres de polvo, grasa, pelusa, escala, flujo de soldadura y salpicaduras,
aceite, u otramateria extraasque pudiera interferir con el examen.
(C) La limpieza puede realizarse utilizando detergentes, orgnicosdisolventes,
soluciones desincrustantes, removedores de pintura, vapordesengrasado, arena o
granallado o limpieza pormtodos de ultrasonidos.
(D) Si los recubrimientos no magnticos se dejan en la parte de lazona que se
examina, se demostrar que las indicacionespueden ser detectadas a travs del
recubrimiento mximo existentedel espesor aplicado. Cuando se utiliza la tcnica
de yugo de CA, lademostracin ser de acuerdo alObligatorio el Apndice I del
presente artculo.
T-741.2 Optimizacin del contraste de superficie no magntica.Los contrastes
de superficie no magnticos pueden ser aplicados porel examinador a las
superficies no recubiertas, slo en cantidades suficientespara mejorar el contraste
de partculas. Cuando la superficie no magnticase utiliza para la mejora del
contraste, ser demostrado que las indicaciones pueden ser detectadas a travs
de la mejora. La medicin de espesores de esta superficie no magnticano
requiere la mejora del contraste de la superficie.
NOTA: Consulte el T 150 (a) como gua para la demostracin requeridaen T 741.1
(d) y T 741.2.
T-750 TCNICA
T-751 TCNICAS.Uno o ms de las siguientes cinco tcnicas de magnetizacinse
utilizarn:
(A) Tcnica de prod
(B) Tcnica de magnetizacin longitudinal
(C) la tcnica de magnetizacin circular
(D) tcnica de yugo

(E) tcnica de magnetizacin multidireccional

T-752 TCNICA PROD
T-752.1 Procedimiento de magnetizacin. Para la tcnica de prod,
magnetizacin se lleva a cabo segn el tipo de prodporttil contactos elctricos
presiona contra la superficie en la zonaa examinar. Para evitar la formacin de
arco, un interruptor de control remoto,que puede ser incorporado en los mangos
pro, facilitarpara permitir que la corriente que se aplica despus de que las
puntasse hayan colocado correctamente.
T-752.2 Corriente de magnetizacin. Directa o rectificadosse utilizar corriente
de magnetizacin. La corriente ser100 (minimo) a m p / i n. (4 amp / mm) t o125
(mximo) amp / in. (5 amp / mm) de separacin prod para las secciones de 3/4 de
pulgada (19 mm) de espesor o ms. Para las seccionesmenos de 3/4 de pulgada
(19 mm) de espesor, la corriente ser9 0 amp / in. (3. 6 amp / mm) t o 110 a m p / i
n.(4.4 amp / mm) de separacin de prod.
T-752.3EspaciadoProd.El espaciamiento Prod no exceder8 pulgadas (200 mm).
Espaciamiento ms corto puede ser utilizado para acomodarlas limitaciones
geomtricas de la zona que se examinarono para aumentar la sensibilidad, pero
espaciamientos pro de menosde las partculas alrededor de las puntas. Los
consejos de prod sern mantenerse limpios y vestidos. Si el voltaje de circuito
abierto de lafuente de corriente de magnetizacin es superior a 25 V, plomo,de
acero o de aluminio (en lugar de cobre)se recomiendan con punta de picanapara
evitar depsitos de cobre en la partesiendo examinada.
T-753 TCNICA DE MAGNETIZACIN LONGITUDINAL
T-753.1 Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin
se lleva a cabo haciendo pasar corriente a travs deuna bobina de espiras
mltiples fija (o cables) que se envuelve alrededorde la parte o seccin de la pieza
a ser examinados. Esto produceun campo magntico longitudinal paralelo al eje
dela bobina.Si se utiliza una bobina pre-enrollada fija, se colocar la partecerca del
lado de la bobina durante la inspeccin. Esto es de especialimportancia cuando la
abertura de la bobina es ms de 10 vecesel rea de seccin transversal de la
parte.
T-753.2 Intensidad del campo magntico. Directa o rectificadosactual se
utilizarn para magnetizar las piezas examinadas por estatcnica. Se calcular la
intensidad de campo deseadabasada en la longitud L y el dimetro D de la parte
de conformidadcon (a) y (b), o segn lo establecido en (d) y (e),a continuacin.
Piezas largas se examinarn en las secciones que no excedan18 pulgadas (450

mm) y 18 pulgadas (450 mm) se utilizarpara la parte de L en el clculo de la

intensidad de campo deseada. Parapartes no cilndrica, D ser la mxima de la
seccin transversaldiagonal.
(A) las partes con relaciones de D / L igual o superior a 4. La corriente de
magnetizacin debe estar dentro de 10% delvalor de amperios-vuelta
'determinado de la siguiente manera:

Por ejemplo, una parte de 10 pulgadas (250 mm) de largo 2 pulg(50 mm) de
dimetro tiene una relacin de L / D de 5. Por lo tanto,

(b) las partes con relaciones L / D de menos de 4 pero no menos de 2. Los

magnetizantes amperios-vuelta deben estar dentro del 10% de valor de los
amperios-vuelta se determina como sigue:

(c) Las piezas con relaciones L / D menor que 2. No se puede utilizar Bobina de
magnetizacin tcnica.
(d) Si el rea a ser magnetizadase extiende ms all de 9 pulg(225 mm) en cada
lado del centro de la bobina, el campo adecuacin deber demostrarse mediante
un detector de campos magnticos o cuas de defectos artificiales por T-764.
(e) Para las grandes piezas debido al tamao y la forma, lacorriente de
magnetizacin ser 1.200 amperios-vuelta a 4.500 amperios-vuelta. La
adecuacin de campo se demostrar utilizando cuas de defectos artificiales o un
magntico en forma de pastel indicador de campo de acuerdo con la T-764.
laHall-Effect sonda gausmetro no se utilizar con cerco,enrolle tcnicas de
magnetizacin.

T-753.3 Corriente de magnetizacin. La corriente requerida para obtener la

intensidad de campo de magnetizacin necesaria se determinar dividiendo los
amperios-vuelta obtenidos en los pasos de T-753.2 (a) o T-753.2 (b) por el nmero
de vueltas en la bobina de la siguiente manera:

Por ejemplo, si una bobina 5-a su vez se utiliza y los amperio vueltas requeridas
son 5.000, el uso

T-754 MAGNETIZACIN CIRCULAR TCNICA

T-754.1 Tcnica Contacto directo.
(A) Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, la magnetizacin se lleva
a cabo haciendo pasar corriente a travs de la parte a examinar. Esto produce un
campo magntico circular campo que es aproximadamente perpendicular a la
direccin del flujo de corriente en la parte.
(B) Corriente de magnetizacin. De media onda directa o rectificada (rectificado o
rectificada de onda completa) deber ser utilizado corriente de magnetizacin.
(1) La corriente ser de 300 amp / in. (12 A / mm) a800 amp / in. (31 A / mm) de
dimetro exterior.
(2) Las piezas con formas geomtricas distintas de ronda con la mayor seccin
transversal en diagonal en un plano en ngulo recto con el flujo de corriente
determinarn las pulgadas para ser utilizado en (1) anterior.
(3) Si los actuales niveles necesarios para (1) no se pueden obtener,la corriente
mxima obtenible se utilizar y la adecuacin de campo se demostrar de acuerdo
con T-764.
T-754.2 Tcnica Conductor Central.
(A) Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica, se utiliza un centro
conductor para examinar las superficies internas cilndricamente o las piezas en
forma de anillo. La tcnica de conductor central tambin puede utilizarse para el

examen de las superficies externas de estas formas. Cuando los cilindros de gran
dimetro son examinados, el conductor deber estar situado cerca de la superficie
interna del cilindro. Cuando el conductor no est centrado, la circunferencia del
cilindro ser examinada en incrementos. Las mediciones de intensidad de campo
se utilizarn de acuerdo con T-764, para determinar el alcancedel arco que puede
ser examinada para cada conductor posicin o las reglas en (c) a continuacin
pueden ser seguidas. Los cables que pasan a travs del orificio de un cilindro,
pueden estarseutilizado para inducir magnetizacin circular.
(B) Corriente de magnetizacin. La intensidad de campo requeridaser igual a la
determinada en T-754.1 (b) para unconductor central de una sola vuelta. El campo
magntico se incrementaren proporcin al nmero de veces que el centrocable
conductor pasa a travs de una parte hueca. Por ejemplo,si se requieren 6.000
amperios para examinar una parte medianteun solopase conductor central,
entonces se requieren 3.000 amperescuando se utilizan 2 pases del cable a
travs, yse requieren 1.200 amperes y se utilizan5 pases (vaseFigura T-754.2.1).
Cuando se utilice la tcnica de conductor centralse, la adecuacin del campo
magntico se verificar aplicando unindicador del campo magntico de partculas
de acuerdo con T-764.
(C) Compensacin Conductor Central. Cuandoa travs del fallecimiento del
conductorse coloca el interior de la parte contra una pared interiorde la parte, los
niveles actuales, tal como en la figura T-754.1 (b) (1) ser aplicable, excepto que
el dimetro utilizandolos clculos actuales sern la suma del dimetrodel
conductor central y dos veces el espesor de la pared.
La distancia a lo largo de la circunferencia de la parte (exterior) queest
magnetizado de manera efectiva, se considerar cuatro veces eldimetro del
conductor central, como se ilustra enFigura T-754.2.2. Todo el permetro se debe
inspeccionarmediante la rotacin de la parte en el conductor, lo que
permiteaproximadamente un solapamiento de campo magntico 10%.
T-755 TCNICAYUGO
Para esta tcnica, sernutilizados yugosde corriente alterna o de corriente
continua electromagntica, o yugos de imanes permanentes.

Figura T-754.2.2
La Regin efectiva de Examen Cuando El uso de un conductor central Offset

T-756TCNICA MAGNETIZACIN MULTIDIRECCIONAL

T-756.1 Procedimiento de magnetizacin. Para esta tcnica de magnetizacin
se lleva a cabo por el poder de alto amperaje, paquetes que operan tanto como
tres circuitos que se energizan de uno en uno en una sucesin rpida. El efecto de
estas corrientes de magnetizacin alterna es producir rpidamente una
magnetizacin general en la parte de mltiples direcciones. Los campos
magnticos circulares o longitudinales se pueden generar en cualquier
combinacin usando las diversas tcnicas descritas en T-753 y T-754.
T-756.2 Intensidad del campo magntico. Slo tres fases, de onda completa
corriente rectificada se utilizan para magnetizar la pieza. Los requisitos actuales de
magnetizacin inicial se establecern para cada circuito con anteriormentepautas
descritas (ver T-753 y T-754). La adecuacin del campo magntico deber
demostrarse mediantecuas de defecto artificial o un indicador de campo
magntico de partculas en forma de pastel de conformidad con T-764. Una sonda
de efecto Hallgausmetro no deber ser utilizado para medir la adecuacin de
campo para la tcnica de magnetizacin multidireccional. Un adecuado campo
deber obtenerse en al menos dos direcciones casi perpendicular, y las
intensidades de campo debern ser equilibradas de manera que en una direccin
un fuerte campo no abrume al campo en la otra direccin. Se utilizarn para las
reas donde las intensidades de campo adecuados no se pueden demostrar,
tcnicas de partculas magnticas adicionales para obtener la cobertura de dos
direcciones requeridas.

La Figura T-754.2.1 Single-Pass y Two-Pass Tcnica Conductor central

T-760 CALIBRACIN
T-761 FRECUENCIA DE CALIBRACIN
T-761.1 Equipo de magnetizacin.
(A) Frecuencia. Los equipos de magnetizacin con un ampermetro se calibrarn
al menos una vez al ao o cada vez que el equipo se ha sometido a una
reparacin importante elctrica, revisin peridica, o daos. Si el equipo no ha
sido usado durante un ao o ms, la calibracin debe hacerse antes del primer
uso.
(B) Procedimiento. La precisin de metros de la unidad ser verificada anualmente
por equipos trazables o unestndar nacional. Debern tomarse lecturas
comparativas por lo menos tres niveles de salida de corriente diferentes que
abarcan el rango de uso.
(C) Tolerancia. Lectura de contadores de la unidad no se desviaren ms de
10% del fondo de escala, con respecto al valorreal de corriente, como se muestra
por el medidor de prueba.
T-761.2 Medidores de luz. Los fotmetros se calibrarn por lo menos una vez al
ao o cada vez que un metro se ha reparado. Si los medidores no han estado en
uso durante un ao o ms, la calibracin se realiza antes de ser utilizados.
T-762 LEVANTAMIENTO DE POTENCIA DE YUGOS
(A) Antes de usar, el poder de magnetizacin electromagntico de yugos se ha de
haber verificado en el ltimo ao.El poder de magnetizacin de yugos magnticos
permanentes se inspeccionar diariamente antes del uso. El poder de
magnetizacin de todos los yugos a comprobacin ser cada vez que el yugo ha
sido daado o reparado.

(B) Cada yugo electromagntico de corriente alterna deber tener una potencia de
elevacin de al menos 10 libras (4,5 kg) en el mximo paso polar que se utilizar.
(C) Cada yugo magntico actual o permanente directo deber tener una potencia
de elevacin de al menos 40 libras (18 kg) enseparacin mxima por lo que se
utilizar.
(D) Cada peso se pesar con una escala de un fabricante de buena reputacin y
estarcido con el aplicable peso nominal antes del primer uso. Un peso slo
necesita ser otra vez verificado si est daado de una manera que podra tener
posible prdida provocada de material.
T-763 Gausmetros
Los Gausmetros sonda de efecto Hall se utilizan para verificar la magnetizacin
de la intensidad de campo de acuerdo con T-754 se calibrar por lo menos una
vez al ao o cada vez que el equipoha sido sometido a una reparacin importante,
la revisin peridica, o daos. Si el equipo no ha estado en uso durante un ao o
ms, la calibracin debe hacerse antes del primer uso.
T-764 DIRECCIN ADECUACIN Y CAMPO MAGNTICO
T-764.1 Solicitud. El uso de indicadores de campo magntico,cuas artificiales, o
de efecto Hall sonda tangencial de campo slo se permiten cuando se hace
referencia especficamente por las siguientes tcnicas de magnetizacin:
(A) Longitudinal (T-753)
(B) Circular (T-754)
(C) Multidireccional (T-756)
T-764.2 Adecuacin del Campo Magntico. El campomagntico aplicado debe
tener la fuerza suficiente para producir satisfactorias indicaciones, pero no ser tan
fuerte que haga que el enmascaramiento de las indicaciones pertinentes por
acumulaciones no relevantes de partculas magnticas. Factores que influyen en
la intensidad de campo requerida incluyen el tamao, forma, y material
depermeabilidad de la parte; la tcnica de la magnetizacin; recubrimientos; el
mtodo de aplicacin de partcula; y el tipo y la ubicacin de las discontinuidades
para ser detectados. Cuando se es necesario verificar la adecuacin de la fuerza
del campo magntico, se comprobar mediante el uso de uno o ms de los tres
mtodos siguientes.
(A) Pie en forma de indicador de campo de partculas magnticas. El indicador,se
muestra en la Figura T-764.2 (a), estar situado en la superficie a examinar, de

manera que el lado de cobre chapadoeste lejos de la superficie inspeccionada. Un

fuerza de campo adecuadoest indicada cuando una lnea claramente definida (o
lneas)forma (s) de partculas magnticas en la cara de cobre delindicador cuando
las partculas magnticas se aplican simultneamente con la fuerza de
magnetizacin. Cuando una lnea claramente definidade las partculas no se
forma, la magnetizacin tcnica se sustituir cuando sea necesario. Indicadores
de tipo Pie se utilizan mejor con los procedimientos de partculas secas.
(B) Las cuas de defectos artificiales. Una de las cuas que se muestran en
Figura T-764.2 (b) (1) o la Figura T-764.2 (b) (2) cuya orientacin es tal que puede
tener una componente perpendicular para el campo magntico aplicado se
utilizar. Las cuas con muescas lineales debern estar orientadas de manera que
al menos una muesca sea perpendicular al campo magntico aplicado. Las cuas
con slo muescas circulares se pueden utilizar en cualquier orientacin. Las cuas
se pueden unir a la superficie a examinar, de tal manera que el lado defecto
artificial de la cua est hacia la superficie inspeccionada. Una intensidad de
campo adecuada se indica cuando una lnea claramente definida (o lneas) de
partculas magnticas, en representacin de la falla de profundidad 30%,
aparecer (s) en la cua enfrentar cuando las partculas magnticas se aplican
simultneamente con la fuerza de magnetizacin. Cuando una lnea claramente
definida de partculas no se forma, la tcnica de magnetizacin deber ser
cambiada segn sea necesario. Los indicadores ms utilizados son los de tipo
Shimcon los procedimientos de partculas hmedas.
NOTA: Las cuas circulares que se muestran en la Figura T 764.2 (b) (2) de la
ilustracin
(B) tambin tiene defecto profundidades menores y mayor que 30%.
(C) de efecto Hall sonda tangencial-Field. A gausmetro y Hall-Effect sonda
tangencial campo se utilizar para medir el valor de pico de un campo tangencial.
La sonda consistir en colocar en la superficie a examinar, de manera que la
mxima intensidad de campo se determina. Un fuerzaadecuadocampose indica
cuando el campo de medida est dentro del rango de 30 G a 60 G (2,4Kam 1-4,8
KAM 1), mientras que se est aplicando la fuerza de magnetizacin. Vase el
artculo 7, no obligatorio Apndice A.
T-764.3 Direccin del campo magntico. La direccin (s) demagnetizacin se
determinar por las indicaciones de partculas obtenidas usando un indicador o
cuas como se muestra en Figura T-764.2 (a), la Figura T-764. 2 (b) (1), o Figura
T-764.2 (b) (2). Cuando una lnea claramente definida de partculas no se forman.
(A) en la direccin deseada, o

(B) En al menos dos direcciones perpendiculares para casi toda la tcnica

multidireccional, la tcnica de magnetizacin se puede cambiar segn sea
necesario.
T-765 DE PARTCULAS WET CONCENTRACIN YCONTAMINACIN
Las unidades horizontales secas tendrn la concentracin del bao y la
contaminacin del bao determinada por la medicin de suvolumen de
sedimentacin. Esto se logra mediante el uso de unaPrueba ASTM Mtodo D 96
tubo de centrifugado en forma de pera con un vstago de 1 ml (divisiones 0.05
mL) de partculas fluorescentes suspensiones o un tallo de 1,5 ml (divisiones de
0,1 ml) parasuspensiones no fluorescente. Antes del muestreo, la suspensin
debe funcionar a travs del sistema de recirculacin durante al menos0 min para
asegurar la mezcla completa de todas las partculas que podran haberse
asentado en la pantalla del sumidero ya a lo largo de los lados o la parte inferior
del tanque.
T-765.1 Concentracin. Tome una porcin de 100 ml de la suspensin de la
manguera o la boquilla, desmagnetice y permita que se asiente durante
aproximadamente 60 minutos con el petrleo suspensiones de destilados o 30 min
con suspensiones a base de agua antes de la lectura. El volumen de
sedimentacin en la parte inferior del tubo es indicativo de la concentracin de
partculas en el bao.
T-765.2 Asentamiento Volmenes. Para las partculas fluorescentes, el volumen
de sedimentacin requerido es de 0,1 a 0,4 ml en un 100 muestra del bao ml y
1,2 a 2,4 ml por 100 ml de vehculo para partculas no fluorescentes a menos que
de otro modo especificado por el fabricante de partculas. La concentracin de
controles se efectuar al menos cada ocho horas.

NOTA GENERAL: Los anteriores son ejemplos de cuas de defectos artificiales

utilizados en verificacin del sistema de inspeccin de partculas magnticas (no
est dibujado a escala). Las cuas estn hechas de acero de bajo carbono (1005
lmina de acero). El artificial defecto est grabado o mecanizado en un lado de la
lmina hasta una profundidad de 30% del grosor de la lmina.

T-765.3 Contaminacin. Tantolas suspensionesfluorescente y no fluorescente

debern ser revisadas peridicamente para contaminantes tales como suciedad, la

escala, el petrleo, la pelusa, fluorescente floja pigmento, agua (en el caso de

suspensiones en aceite), y partculas aglomerados que pueden afectar
negativamente al rendimiento del proceso de examen de partculas magnticas.
La prueba de la contaminacin, se realiza al menos una vez por semana.
(A) La contaminacin Carrier. Para baos fluorescentes, el lquido directamente
por encima del precipitado debe ser examinado con luz de excitacin fluorescente.
El lquido tendr un pocode fluorescencia. Su color puede ser comparado con una
muestra recinconfeccionada con los mismos materiales o con alguna toma de
salida de muestra del bao original que se conserva para este propsito. Si la
muestra "usada" es notablemente ms fluorescente que el estndar de
comparacin, el bato serreemplazado.
(B) La contaminacin de partculas. La porcin graduada deltubo se examina bajo
luz de excitacin fluorescente si el bao es fluorescente y bajo luz visible (para
ambas partculas fluorescentes y no fluorescentes) para estras o bandas, las
diferencias en el color o apariencia. Las bandas o estras pueden indicar
contaminacin. Si el volumen total de los contaminantes, incluyendo bandas o
estras excede los 30% de las partculas magnticas de volumen, o si el lquido es
notablemente fluorescente, se sustituye la baera.
T-766 SISTEMA DE EJECUCIN DE UNIDADESHORIZONTAL
Los Ketos (Betz) muestra de anillo (ver Figura T-766.1) se utilizarn en la
evaluacin y la comparacin de los resultados globales y la sensibilidad de tanto
en seco como en hmedo, fluorescente y tcnicas de partculas magnticas no
fluorescentes utilizando una tcnica de magnetizacin conductor central.
(A) Ketos (Betz) Prueba Anillo Material. El acero para herramientas (Ketos) anillo
debe ser mecanizado a partir de material AISI 01, de acuerdo con la Figura T766.1. O bien el anillo de mecanizado o el espacio en blanco de acero debe ser
recocida al (900 C) 1650 F, enfriado 50 F (28 C) por hora a (540 C) 1000
F y luego refrigerado por aire a temperatura ambiente para dar resultados
comparables usando anillos similares que han tenido el mismo tratamiento.
Material y tratamiento trmico son variables importantes. Experiencia indica el
control de la suavidad del anillo por dureza (90 a 95 HRB) por s sola es
insuficiente.
(B) Usando el anillo T. El anillo de prueba (verFigura T-766.1), circularmente
magnetizado con onda completa alterna rectificada que pasa a travs de un
conductor central con una 1 pulgada de 11/4 pulgadas (25 mm a 32 mm) de
dimetro situado en el centro del anillo. El conductor debera tener una longitud
mayor de 16 pulgadas (400 mm). Las corrientes utilizadas sern 1400, 2500, y

3400 amperios. El nmero mnimo de agujeros mostrados sern tres, cinco y seis,
respectivamente. El borde del anillo debe ser examinado, ya sea con luz negro o
luz visible, dependiendo del tipo de partculas que intervienen. Esta prueba se
lleva a cabo a los tres amperajes si la unidad se utiliza en estas o ms altos
amperajes. Losvalores de amperaje indicados no podrn superarse en la
prueba.Si la prueba no revela el nmero necesario de agujeros, el equipo deber
ser puesto fuera de servicio y la causa de la prdida de sensibilidad determinada y
corregida. Este ensayo se llevar a cabo al menos una vez por semana.
T-770 EXAMEN
T-771 EXAMEN PRELIMINAR
Antes de que se lleve a cabo el examen de partculas magnticas, unexamen
deverificacin de la superficie ser realizado paralocalizar las aberturas de la
superficie de discontinuidad que no podr atraer y retener partculas magnticas
debido a su anchura.
T-772 Direccin de magnetizacin
Se realizarn al menos dos exmenes separados en cada rea. Durante el
segundo examen, las lneas del flujo magntico sern aproximadamente
perpendicular a las que se utilizaron durante el primer examen. Se puede utilizar
una tcnica diferente para la magnetizacin del segundoexamen.
T-773 MTODO DE EXAMEN
Las partculas ferromagnticas utilizados en un examenmedio pueden ser en
hmedo o en seco, y puede ser fluorescente o no fluorescente. El examen (s) se
har mediante el mtodo continuo.
(A) Las partculas secas. La corriente de magnetizacin permanecer mientras se
est aplicando y el medio de un examen mientras que se elimina cualquier exceso
del medio de examen.
(B) Partculas hmedas. La corriente de magnetizacin ser encendida despus
de aplicar las partculas. El flujo de las partculas se detendr con la aplicacin de
corriente. Las partculashmedas aplicadas desde latas de aerosol pueden
aplicarse antes y / o despus de la magnetizacin se aplica corriente. Las
partculas hmedas se pueden aplicar durante la aplicacin de magnetizacin
actual si no se aplican directamente al rea de examen y se les permite fluir sobre
el examen rea o se aplican directamente a la zona de examen con bajas
velocidades suficientes para eliminar partculas acumuladas.

T-774 EXAMEN DE COBERTURA

Todos los exmenes se llevarn a cabo con el campo suficiente superponerse
para asegurar una cobertura 100% en la sensibilidad requerida (T-764).
T-775 Corriente rectificada
(a) Siempre que la corriente continua se requierapuede ser utilizada corriente
rectificada. La corriente rectificada para la magnetizacin deber ser trifsica
(rectificada de onda completa) actual, o monofsico (media onda rectificada)
actual.
(b) El amperaje requerido de tres fases, de onda completa corriente rectificada se
verificar mediante la medicin de la media actual.
(C) El amperaje requerido con una sola fase (de media ondarectificada) actual se
verificar mediante la medicin la salida de corriente promedio durante el ciclo
medio realizacinsolamente.
(D) Al medir la corriente de media onda rectificada con unmetro directa prueba
actual, las lecturas se multiplicarn por dos.
T-776 Eliminacin de exceso de partculas. Las acumulaciones de partculas
secas en exceso en los exmenes debern ser retirado con una corriente de aire
de la luz de una bombilla o jeringa u otra fuente de aire seco a baja presin. El
examen corriente o potencia se mantendr mientras se quita las partculas en
exceso.

NOTAS:
(1) Todos los dimetros de los agujeros son 0,005 pulgadas ( 0,1 mm.)
Nmeros Hole 8 a 12 son opcionales.
(2) La tolerancia de la distancia D es de 0,005 pulgadas ( 0,1 mm).
NOTAS GENERALES:
(a) Todas las dimensiones son 0,03 pulgadas ( 0,8 mm) o como se indica en las
notas (1) y (2).
(b) Todas las dimensiones estn en pulgadas, excepto como se indica.
(c) El material es ANSI 01 herramientas de acero de recocido material redondo.
(d) El anillo puede ser tratado trmicamente de la siguiente manera: Calentar a
1400 F a 1500 F (760 C a 790 C). Mantener a esta temperatura durante una
hora. Enfriar a un ndice mnimo de 40 F / h (22 C / h) por debajo de 1000 F
(540 C). Horno o aire se enfren a temperatura ambiente. Terminar el anillo a
RMS 25 y proteger de la corrosin.
T-777 INTERPRETACIN

La interpretacin debe identificar si una indicacin es falsa, no relevante o

pertinente. Indicaciones falsas o no relevantes ser probada como falsa o no
relevante. La interpretacin se llevar a cabo para identificar la ubicacin de
lasindicaciones y el carcter de la indicacin.
T-777.1 Partculas Magnticasvisibles (Contraste de color).
Discontinuidades superficiales se indican por acumulaciones de partculas
magnticas que debera contrastar con el examen de superficie. El color de las
partculas magnticas ser suficientemente diferente que el color de la superficie
de examen.
Se requiere una intensidad de luz mnima de 100 pc (1.000 lux) sobre la superficie
a examinar para asegurar una adecuada sensibilidad durante el examen y la
evaluacin deindicaciones. La fuente de luz, la tcnica utilizada y el nivel de luz se
requiere la verificacin por demostrar una vez, documentado y mantenido en
nuestros archivos.
T-777.2 Partculas magnticas fluorescentes con luz negra. Con partculas
magnticas fluorescentes, el proceso esesencialmente el mismo que en T-777.1,
con la excepcin de queel examen se lleva a cabo utilizando una luz
ultravioleta(Es decir, nominal 365 nm), llamada luz negra. El examense llevar a
cabo de la siguiente manera:
(A) Se puede realizar en una zona oscura.
(B) Los examinadores debern estar en una zona oscura durante al menos5 min
antes de realizar los exmenes para permitir quelos ojos se adapten a la visin
oscura. Gafas o lentes usados por examinadores no sernfotocrmico o exhibir
cualquier de fluorescencia.
(C) Las luces negras deben alcanzar un mnimo de 1000W/cm2 en la superficie de
la pieza que se est examinado durante todo el examen.
(d) Los reflectores, filtros, y lentes deben sercomprobados y, si es necesario,
limpiados antes de su uso. Reflectores agrietados o rotos, filtros o lentes se
sustituyen inmediatamente.
(E) La intensidad de la luz negra se medir con unmedidor de luz negro antes de
su uso, siempre que la energa de la luz fuente se interrumpe o se cambie, y en la
terminacin del examen o la serie de exmenes.
T-777.3 Partculas magnticas fluorescentes con otros fluorescentes de
excitacin longitudes de onda.

Alternativamente alos requisitos de la T-777.2, los exmenes pueden

serrealizados utilizando fuentes de luz de longitud de onda de alternativa
quecausan la fluorescencia en recubrimientos de partculas especficas. Cualquier
suplentedefuentes de luz de longitud de onda y de partculas
especficadenominaciones utilizadas seade conformidad conelObligatorio
Apndice IV. Se llevar a cabo el examende la siguiente manera:
(A) Se puede realizar en una zona oscura.
(B) Los examinadores debern estar en una zona oscura durante al menos 5 min
antes de realizar los exmenes para permitir que sus ojos se adapten a la visin
oscura. Gafas o lentes usados por examinadores no estarn fotocrmico o exhibir
cualquier de fluorescencia.
(C) Si la fuente de luz de excitacin de fluorescencia emite visibleintensidades de
luz mayor que 2 pc (20 lux), el examinador debern llevar gafas de filtro de realce
de fluorescencia aprobados por el fabricante de la fuente de luz para el uso de la
luz fuente.
(D) La fuente de luz de excitacin de fluorescencia deberlograr al menos la
intensidad mnima de luz en la superficie de la pieza durante todo el examen como
calificado en las pruebas del obligatorio Apndice IV.
(E) Los reflectores, filtros y lentes deben ser comprobado y, si es necesario,
limpiado antes de su uso. Reflectores agrietados o rotos, filtros,o lentes se
sustituyen inmediatamente.
(F) La intensidad de la luz de excitacin de fluorescencia ser medida con un
medidor de luz de excitacin de fluorescencia adecuadaantes de su utilizacin,
cada vez que se interrumpe la fuente de energa de la luz o se cambie y en la
terminacin delexamen o serie de exmenes.
T-778 Desmagnetizacin
El magnetismo residual en la parte podra interferir con la posterior transformacin
o utilizacin, se desmagnetiza la parte en cualquier momento despus de la
finalizacin del examen.
T-779 LIMPIEZADESPUS DE EXAMEN. Cuando se requiere la limpieza
despus de la revisin, que debera llevarse a cabo tan pronto como sea posible
mediante un proceso que no afecta negativamente a la pieza.
T-780EVALUACIN

(A) Todas las indicaciones deben ser evaluadas en trminos de la aceptacin

denormas de la Seccin de referencia del cdigo.
(B) Las discontinuidades en o cerca de la superficie se indican por la retencin del
medio de examen. Sin embargo se puede localizar irregularidades de la superficie
debido a las marcas de corte, uotras condiciones de la superficie pueden producir
falsas indicaciones.
(C) Amplias reas de acumulacin de partculas, lo que podra ocultar las
indicaciones de discontinuidades, estn prohibidas, y esas superficies debern
limpiarse y reexaminarse.
T-790 DOCUMENTACIN
T-791 BOSQUEJO TCNICO DE MAGNETIZACIN MULTIDIRECCIONAL
Un bosquejo tcnico se preparar para cada geometra diferente examinada, que
muestra la geometra de la pieza, disposicin de cable y conexiones, la corriente
de magnetizacin para cada circuito, y las reas de exploracin donde el campo
adecuado se obtiene puntos fuertes. Las piezas con geometras repetitivas, pero
diferentes dimensiones, pueden ser examinadas utilizando un solo boceto a
condicin de que la intensidad de campo magntico sea adecuada cuando se
demostr en conformidad con T-755.2.
T-792 REGISTRO DE INDICACIONES
T-792.1 Indicaciones no rechazables. Indicaciones no rechazables se
registrarn como se especifica en la referenciacinSeccin del Cdigo.
T-792.2 Indicaciones rechazable. Indicaciones rechazables se registrarn. Como
mnimo, el tipo de indicaciones(Lineal o redondeada), la ubicacin y el
alcance(longitud o se registrarn dimetro o alineado). No se permite su posterior
reproduccin o distribucin.
T-793 REGISTROS DE EXAMEN
Para cada examen, la siguiente informacin deber ser registrada:
(a) identificacin del procedimiento y revisin
(b) equipo de partculas magnticas y el tipo de corriente
(c) las partculas magnticas (visibles o fluorescentes, mojadas o secas)
(d) El personal de los exmenes de identidad y si es requerido por referencia a la
Seccin del Cdigo, el nivel de cualificacin

(e) un mapa o registro de indicaciones por T-792

(f) el material y el espesor
(g) equipo de iluminacin
(h) la fecha de examen

OBLIGATORIO ANEXO IV
GRADUALES ARRAY MANUAL RASTER TCNICAS examen utilizando matrices
lineales

IV-410 ALCANCE
Este Obligatorio apndice describe los requisitos que deben utilizarse para arreglo
de fase, exploracin de trama manual, tcnicas ultrasnicas utilizando conjuntos
lineales. Las tcnicas incluidas en este apndice son individuales (ngulo fijo), y Sscan 14 12 (ngulo fijo), E-scan (barrido de ngulo mltiple). En general, este
artculo est en conformidad con SE-2700, Prctica estndar para Contacto
Prueba ultrasnica de soldaduras Utilizando arreglos de fase. SE-2700
proporciona detalles a tener en cuenta en los procedimientos utilizados.

IV-420 GENERAL
Los requisitos del artculo 4 se aplicarn salvo lo dispuesto en el presente
Apndice.

IV-422 REQUISITOS procedimiento escrito

IV-422.1 Requisitos. Se aplicarn los requisitos de la tabla T-421 y la Tabla IV422.

IV-422.2 Calificacin Procedimiento. Se aplicarn los requisitos de la tabla T-421

y la Tabla IV-422.

Comprobaciones de linealidad IV-461 INSTRUMENTOS

IV-461.2 de amplitud de control de linealidad. Amplitud linealidad de control del
instrumento ultrasnico se evaluar, de acuerdo con el Apndice II Obligatoria
para cada circuito emisor-receptor.

IV-462 REQUISITOS GENERALES DE CALIBRACIN

IV-462.7 Ley Focal.
La ley de coordinacin que se utilizar durante el examen se utiliza para la
calibracin.
IV-462.8 haz de calibracin. Todos los haces individuales utilizados en el examen
debern ser calibrados para proporcionar una medicin de la distancia y
correccin de amplitud sobre la trayectoria del sonido empleado en el examen.
Esto incluir la compensacin aplicable a las variaciones de ruta de sonido y
efectos de atenuacin de cua cua.
REGISTRO IV-492 EXAMEN
Para cada examen, la informacin requerida de T-492 y la siguiente informacin se
registrarn:
(a) Tipo de unidad de bsqueda, el tamao del elemento y nmero, y de paso y
huecos dimensiones
(b) los parmetros de la ley de coordinacin, incluyendo, en su caso, el ngulo,
profundidad focal, nmeros de los elementos utilizados, gama de elementos,
elemento cambio incremental, rango angular, y cambio incremental ngulo
(c) ngulo de cua

OBLIGATORIO ANEXO V
Phased Array E-SCAN Y S-SCAN LINEAL DE EXPLORACIN
TCNICAS DE EXAMEN
V-410 ALCANCE
Este Obligatorio apndice describe los requisitos que deben utilizarse para
mltiples en fase E-scan (ngulo fijo) y S-scan codificados exmenes de
exploracin lineales utilizando unidades de bsqueda de arreglo lineal.

V-420 GENERAL
Los requisitos del artculo 4 se aplicarn salvo lo dispuesto en el presente
Apndice.
Requisitos 421,1 V-. Se aplicarn los requisitos de la tabla T-421 y la Tabla V-421.
V-421.2 Calificacin Procedimiento. Se aplicarn los requisitos de la tabla T-421 y
la Tabla V-421.

PLAN V-422 SCAN

Se dispondr de un plan de exploracin (estrategia examen documentado) que
muestra la colocacin unidad de bsqueda y movimiento que ofrece una
metodologa estandarizada y repetible para el examen. Adems de la informacin
de la Tabla V-421, el plan de exploracin incluir ngulos de haz y direcciones con
respecto al eje de soldadura punto, geometra de la junta de soldadura, y el
nmero de zonas de examen o zonas de referencia.

V-461.2 Amplitud de control de linealidad. Amplitud linealidad de control del

instrumento ultrasnico se evaluar, de acuerdo con el Apndice II Obligatoria
para cada circuito emisor-receptor.

V-462.7 Ley Focal. La ley de coordinacin que se utilizar durante el examen se

utiliza para la calibracin.

V-462.8 haz de calibracin. Todos los haces individuales utilizados en el examen

debern ser calibrados para proporcionar una medicin de la distancia y
correccin de amplitud sobre la trayectoria del sonido empleado en el examen.

Artculo 14. Calificacin del sistema de examinacin.

1410 Las disposiciones de este artculo para calificar el examen no destructivo
sistemas (NDE) son obligatorios cuando se invoca especficamente por la Seccin
del Cdigo de referencia. El fabricante, organizacin examen, propietario u otro
usuario de este artculo es el responsable de calificar la tcnica de examen, el
equipo y procedimiento escrito de conformidad con el presente artculo. La
Seccin del Cdigo de referencia ser consultada para los siguientes requisitos
detallados especficos:
(a) los requisitos de certificacin de personal o de los requisitos previos para la
calificacin en virtud de los requisitos del presente artculo.
(b) la planificacin examen, incluyendo el alcance de su examen.
(c) criterios de aceptacin para la evaluacin de los defectos identificados durante
el examen.
(d) el nivel de rigor requerido para la calificacin.
(e) sensibilidad examen, tales como la probabilidad de deteccin y la precisin de
encolado
(f) los registros y requisitos de retencin de registros.

T-1420 REQUISITOS GENERALES

T-1421 EL PROCESO DE CALIFICACIN
El proceso de calificacin, como se establece en el presente artculo, implica la
valoracin de la prueba general, tcnica, y basado en los resultados presentados
en la justificacin tcnica documentada, y cuando sea necesario, una
demostracin de rendimiento ciego o no ciego.

JUSTIFICACIN TCNICA T-1422

La justificacin tcnica es un informe escrito que proporciona una explicacin
detallada del procedimiento de examen escrito, la teora subyacente del mtodo
de examen, y cualquier experimento de laboratorio o exmenes de campo que
soportan las capacidades del mtodo de examen. La justificacin tcnica
proporciona la base tcnica y justificacin para la calificacin, incluyendo:
(A) la modelizacin matemtica
(B) la experiencia de campo
(C) la clasificacin de jerarqua de prueba
(D) previsto mecanismo de degradacin
(E) la respuesta ECM por la morfologa y / o la forma del producto.

DEMOSTRACIN DE RENDIMIENTO T-1423

La demostracin rendimiento establece la capacidad de un sistema de examen
especfico para lograr una probabilidad satisfactoria de deteccin (POD),
mediante la aplicacin del sistema de exmenes en probetas defectuosas. Los
resultados de las pruebas de demostracin se utilizan para trazar la curva de POD
y determinar la probabilidad de llamada falsa (FCP) para el establecimiento de
limitaciones de confianza.
(A) Las muestras de ensayo se replicar el objeto a ser examinado en la mayor
medida de lo posible. Simplificado especmenes de prueba representativa de una
situacin de campo real puede ser utilizado. Se prefiere el uso de especmenes
con defectos identificados, conocidos, y puede ser esencial para el proceso de
clasificacin ms rigurosa. Una jerarqua de los defectos de especmenes de
prueba se puede utilizar para reducir al mnimo las calificaciones cuando
tcnicamente justificadas (es decir, las manifestaciones sobre los mecanismos de
degradacin ms desafiantes pueden satisfacer los requisitos de calificacin para
mecanismos menos exigentes).

(B) Cuando suficientemente replicar el objeto a ensayar, demostraciones de

rendimiento de un alcance limitado se pueden utilizar para minimizar los costos
involucrados, y facilitar la disponibilidad de muestras. La justificacin tcnica debe

ser compatible con cualquier limitacin al alcance de las manifestaciones de

rendimiento.
(C) la calificacin del personal se basar en pruebas ciegas, salvo excepcin
prevista especficamente por la Seccin del Cdigo de referencia.

(D) El nivel de rigor aplicado a la manifestacin el rendimiento puede variar de una

demostracin sencilla de algunos defectos, a una extensa prueba usando cientos
de defectos. El nivel de rigor tambin puede variar entre las cualificaciones de los
procedimientos y de examen personal por escrito. Cualificacin de procedimientos
ms rigurosos pueden ser beneficiosos por las razones siguientes:
(1) Las tasas para el personal mejorado paso a fallar;
(2) la reduccin de margen para ciegos prueba personal de calificacin;
(3) una mejor comprensin de la correlacin entre el procedimiento y los
mecanismos de dao de inters;
(4) procedimientos escritos ms fiables.

NIVELES T-1424 DE RIGOR

La calificacin se realiza en uno de los tres niveles de rigor. La Seccin del Cdigo
de referencia podr invocar el nivel requerido de rigor, para comprobar la
capacidad del sistema de examen para detectar y defectos tpicos de tamao para
los mecanismos de dao de inters, dependiendo de su ubicacin y
caractersticas. Cuando no se especifique lo contrario, el nivel de rigor ser fijado
por acuerdo entre las partes interesadas. Los tres niveles de rigor son:

(A) bajo Rigor (Justificacin tcnica solamente): El requisito para este nivel de
rigor es un informe de justificacin tcnica satisfactoria. No se requieren
demostraciones de rendimiento para la calificacin del sistema de exmenes.

(B) Intermedio Rigor, (Demostracin Performance Limited): Los requisitos para

este nivel de rigor son un informe justificacin tcnica satisfactoria, y el xito
realizacin de una prueba de demostracin (ciego o no ciego) en un nmero
limitado de muestras de ensayo. La Seccin del Cdigo de referencia deber

establecer el alcance de la demostracin requisitos y conjuntos aceptable POD y

puntajes FCP para la calificacin. Cuando no se especifique lo contrario, los
criterios de calificacin se establecern por acuerdo entre las partes interesadas.
(C) Alta Rigor, (demostracin completa de rendimiento): Los requisitos para este
nivel de rigor son un informe justificacin tcnica satisfactoria, y el desempeo
exitoso de pruebas de demostracin ciegos. La Seccin del Cdigo de referencia
establecer el alcance de los requisitos de demostracin, y establece las
puntuaciones POD y FCP aceptables para la calificacin. Cuando no se
especifique lo contrario, los criterios de calificacin se establecern por acuerdo
entre las partes interesadas. Un nmero suficiente de muestras de ensayo se
evaluar para estimar efectivamente dimensionamiento distribuciones de error, y
determinar un POD precisa de mecanismos de degradacin especficos o tipos de
defectos y tamaos. Una demostracin de rendimiento alto rigor se requiere
generalmente para apoyar una Evaluacin de Riesgos probabilstico.

T-1425 PLANIFICACIN DE UNA DEMOSTRACIN DE CLASIFICACIN

Los pasos recomendados para la planificacin y completar la demostracin de
calificacin, en su caso, son los siguientes:
(A) Reunir toda la informacin necesaria relativa a la entrada de componentes,
tipos de defectos, el mecanismo de dao de los intereses y objetivos del examen y
calificacin del sistema de exmenes.
(B) Revisar el procedimiento escrito para verificar su idoneidad para el uso
previsto.
(C) Elaborar la justificacin tcnica para el mtodo de examen que se utilizar.
(D) Determinar el nivel requerido de rigor para la demostracin del rendimiento.
(E) Desarrollar criterios de demostracin de rendimiento utilizando las referencias
aplicables.
(F) Llevar a cabo la demostracin de rendimiento.
(G) Realizar las calificaciones del personal.
(H) Recopilar, documentar y evaluar los resultados.
(I) Determinar estado de calificacin, en base a una evaluacin final.

T-1430 EQUIPO
El equipo utilizado para la demostracin rendimiento de un sistema de exmenes
ser el que se especifica en la fase escrita y la justificacin tcnica. Despus de
calificacin del sistema de exmenes, el uso de material de examen diferente
puede requerir recalificacin (ver T-1443).
REQUISITOS DE APLICACIN T-1440
T-1441 INFORME JUSTIFICACIN TCNICA
Antes de la calificacin de cualquier sistema de exmenes, sin importar el nivel de
rigor, se preparar un informe de justificacin tcnica y recibir la aprobacin de un
Nivel III certificado para el mtodo especfico que debe aplicarse. El informe de
justificacin tcnica ser revisado y aceptado por el propietario del objeto de
inters y, en su caso, a la competencia, la Agencia de Inspeccin Autorizado (AIA),
tercero independiente, vendedor examen, u otra parte involucrada. La aceptacin
de este informe por las partes involucradas es el requisito mnimo para la
calificacin de un sistema de exmenes en el nivel ms bajo de rigor. El informe
de justificacin tcnica deber abordar los siguientes temas mnimos:
T-1441.1 Descripcin del Componente / fallas a examinar.
El diseo de los componentes, la gama de tamaos, historia defecto de fabricacin
y todos los mecanismos de daos esperados (por evaluaciones en servicio) para
el objeto de inters sern analizado para determinar el alcance de los exmenes,
los tipos y tamaos de defectos crticos a ser detectados, y la ubicacin probable
de defectos. El mbito de aplicacin del procedimiento escrito definir los lmites
para la aplicacin del procedimiento (por ejemplo, los materiales, el grosor, el
dimetro, la forma del producto, la accesibilidad, las limitaciones de exmenes,
etc.).
(A) Los defectos de inters para ser detectados; sus lugares esperados, tamao
de umbral de deteccin, tamao crtico defecto, la orientacin y la forma sern
determinados, que sirve como gua para el desarrollo de la fase escrita. Tamaos
crticos de defectos (calculados a partir de anlisis de mecnica de fractura) y
agrietar las tasas de crecimiento son consideraciones importantes para determinar
los criterios de registro y evaluacin defecto. El mnimo error de grabacin debe
ser menor que el tamao crtico defecto, e incluyen la consideracin de la prevista
o las tasas de crecimiento de grietas observadas y la calidad observada de mano
de obra durante la fabricacin. Evaluacin de defectos debe basarse en que
impide la formacin de la crtica defectos de tamao antes de la prxima

inspeccin, o para la vida til restante estimada del objeto durante las operaciones
normales.
(B) Objeto o tcnica de la geometra, las condiciones ambientales, las limitaciones
de examen, y las condiciones metalrgicas pueden limitar la accesibilidad para
evaluar el objeto. Procedimiento o equipo de examen modificaciones pueden ser
necesarias para obtener acceso a la zona de inters para ser examinados.
(c) Los criterios de aceptacin para la manifestacin deber ser proporcionado.
(d) Otras cuestiones a tener en cuenta para su inclusin en la justificacin tcnica
puede incluir:
(1) la eficacia histrica de procedimiento;
(2) la documentacin de las manifestaciones anteriores;
(3) extensin de pruebas circulares anteriores;
(4) observado tasas de defectos de deteccin, la probabilidad de deteccin, y las
tarifas de llamadas falsas;
(5) las tasas de rechazo / aceptacin aceptables; y
(6) la precisin de tamao.

T-1441.2 Descripcin general del Sistema de Examen. Una descripcin general

del sistema de exmenes, con el detalle suficiente para distinguirlo de otros
sistemas, se incluye dentro del informe de justificacin tcnica. La descripcin
deber incluir, como, tcnicas aplicables de tamao, umbrales de grabacin, y las
tcnicas que se utiliza para interpretar las indicaciones. Si se utiliza una
combinacin de equipos, las condiciones aplicables para las combinaciones de
equipos especficos se describen adecuadamente.

T-1441.3 Descripcin de los parmetros influyentes. Se considerar la influencia

de los parmetros de inspeccin sobre el sistema de exmenes, incluyendo la
seleccin del equipo, las sensibilidades, los ajustes del instrumento, anlisis de
datos, y las calificaciones del personal. La justificacin de las selecciones de
parmetros se basar en los defectos de inters, e incluir una explicacin de por
qu los parmetros seleccionados sern efectivos para el examen particular y
defectos esperados.

(A) los requisitos de procedimiento, incluyendo las variables esenciales que deben
abordarse, se pueden encontrar en el Apndice obligatoria asociada con el mtodo
de examen o en la referencia a la Seccin Cdigo.

(B) los requisitos de certificacin de personal, adems de Nivel especfico mtodo

II o III de certificacin, puede ser aconsejable en algunas condiciones. Cuando se
utilizan tcnicas establecidas para una aplicacin de bajo rigor (por ejemplo, para
el examen de mecanismos de dao detectado ms fcilmente, o donde los
componentes menos crticos estn involucrados) un mtodo nivel especfico de
certificacin II o III es adecuada. Cuando se requiere una aplicacin de rigor
intermedio o alto, las necesidades de personal adicionales sern examinados y, si
es necesario, por lo especifica. Esto puede incluir criterios cuantitativos de riesgo
con base para la seleccin de componentes para ser examinados, o finalizacin
de una manifestacin rendimiento ciego. Para las tcnicas de exploracin
realizados por un equipo de examinadores, se abordarn los requisitos de
calificacin especficos para cada miembro del equipo.

T-1441.4 Descripcin de las tcnicas de exploracin. Una justificacin para la

eficacia de la tcnica de examen seleccionado utilizado en el procedimiento escrito
para la deteccin de defectos de inters se incluir. Los ajustes de sensibilidad
para fallas de grabacin, orientacin defecto, el tamao crtico defecto, el
mecanismo de degradacin anticipada (para aplicaciones en servicio), y la
influencia de la geometra metalrgica y afectos se abordarn en la justificacin.
Una descripcin del mtodo para distinguir entre las indicaciones pertinentes y no
relevantes, la justificacin de los ajustes de sensibilidad, y los criterios para la
caracterizacin y dimensionamiento de defectos se incluir.

T-1441.5 Temas opcionales para la justificacin tcnica.

Los siguientes temas pueden ser abordados dentro de la justificacin tcnica para
mejorar la comprensin de las tcnicas a aplicar.

(A) Descripcin del Examen de modelado. Una descripcin de los modelos de

examen utilizado para desarrollar el procedimiento, las indicaciones de la trama,

predecir las respuestas de defectos, maquetas de diseo, show de cobertura y

calificar los procedimientos escritos pueden ser incluidos. Se requieren modelos
para ser validado antes de su uso. La Seccin del Cdigo de referencia
establecer los criterios para la validacin de modelos. Cuando no se especifique
lo contrario, los criterios de validacin de modelos se establecern por acuerdo
entre las partes interesadas. Los modelos pueden ser utilizados con los
procedimientos escritos calificados para demostrar la eficacia esperada de las
revisiones de procedimiento cuando se cambian parmetros como la geometra, el
ngulo, el tamao y las limitaciones de acceso. El procedimiento escrito puede ser
calificado o recalificado utilizando un minimumnumber de maquetas con la debida
justificacin.

(B) Descripcin de Experiencia Procedimiento. La experiencia previa con un

procedimiento escrito se puede incluir en la justificacin tcnica, y se utiliza para
apoyar las revisiones del procedimiento. Documentacin de manifestaciones
similares pertinentes al examen propuesto puede ser incluido. La evidencia
experimental para mostrar el efecto de aplicable
variables que tambin pueden ser citados y consideradas en el desarrollo de la
fase escrita.

DEMOSTRACIN DE RENDIMIENTO T-1442

Sistemas de exmenes que requieren cualificacin en niveles intermedios o altos
de rigor pasarn tambin una demostracin del rendimiento. La prueba muestra de
establecer y aprobar / reprobar criterios que se utilizarn en la demostracin de
rendimiento se determinar por el propietario del objeto; y, en su caso, deber ser
aceptable para la competencia, la Agencia de Inspeccin Autorizada, tercero
independiente, vendedor examen, agencia de inspeccin u otra parte involucrada.

(A) El procedimiento se demostrar mediante la realizacin de un examen de un

objeto o maqueta. El examinador que realiza la demostracin no haya estado
involucrado en el desarrollo del procedimiento. Los formularios de informes
completados proporcionan la documentacin de la manifestacin. Calificacin del
procedimiento slo es vlido cuando se aplican las mismas variables esenciales
grabadas durante la manifestacin. Los cambios en las variables esenciales
requieren recalificacin del procedimiento. Cambios de redaccin en el

procedimiento, o cambios en las variables que no son esenciales, no requieren

recalificacin del procedimiento.

(B) La demostracin del procedimiento escrito podr utilizar personal certificado

ciegos o no ciegos. Demostraciones de rendimiento Ciegos calificar el sistema de
examen completo (es decir, el equipo, la fase escrita, y el examinador).
Demostraciones para no ciegos solamente calificar el procedimiento y el equipo.
Todas las indicaciones registrables sern de tamao y situado. Los registros de
deteccin debern observar si las indicaciones se encuentran correctamente.
Profundidad, altura, longitud y capacidad de tamao solamente estn calificados
por una demostracin de rendimiento ciego.

(C) Las manifestaciones pueden ser realizadas por una manifestacin no ciego
utilizando algunos defectos, una manifestacin dispuesto por la referencia a la
seccin del cdigo, las pruebas ciegas reiterativo, una combinacin de mltiples
manifestaciones pequeo espcimen; o el uso de una demostracin rigurosa,
basada en la estadstica basada en distribuciones binomiales con reducidos, los
lmites de confianza de un solo lado. Metodologas de demostracin aceptables se
describen en la justificacin tcnica para ese procedimiento.

(D) Un individuo u organizacin se designarn como administrador del proceso de

demostracin. Las funciones del administrador incluyen:
(1) la revisin de la justificacin tcnica;
(2) revisar el procedimiento y su mbito de aplicacin;
(3) la garanta de que todas las variables esenciales estn incluidos en el
procedimiento y la demostracin;
(4) el montaje de las muestras de ensayo;
(5) clasificacin de las manifestaciones;
(6) el desarrollo del protocolo;
(7) mantener la seguridad de las muestras; y
(8) el mantenimiento de los registros de demostracin.

Para aplicaciones sencillas, el administrador puede ser un departamento dentro de

los owner'sorganization.For manifestaciones complejas, o cuando cdigo o
necesidades de los usuarios dictan, puede ser apropiado utilizar una tercera parte
desinteresada.
T-1443 SISTEMA DE EXAMEN recalificacin
La calificacin original, slo se aplica al sistema y las variables esenciales que se
describen en el informe de justificacin tcnica y el procedimiento escrito. Si se
cambian las variables esenciales, se requiere recalificacin. Re-calificacin puede
llevarse a cabo por uno de los siguientes medios:

(A) Las caractersticas de los nuevos equipos pueden ser comparados con el
equipo cualificado. Si son esencialmente idnticos, el nuevo equipo puede ser
sustituido, excepto cuando el Cdigo de construccin referencia invoca requisitos
ms estrictos para la sustitucin de equipos.

(B) Maquinaria nueva puede ser recalificado mediante la realizacin de otra

calificacin examen completo. Un enfoque jerrquico se debe utilizar para calificar
el nuevo equipo por
la realizacin de la manifestacin sobre las muestras ms difciles. Entonces no
hay necesidad de volver a calificar el equipo en todo el conjunto de muestras de
ensayo.

(C) Modelado puede ser utilizado para recalificar un procedimiento cuando una
justificacin adecuada apoya este enfoque.

T-1450 CONDUCTA DE DEMOSTRACIN DE CLASIFICACIN

T-1451 PROTOCOLO DE DOCUMENTO
Un documento de protocolo deber poder garantizar la continuidad y la
uniformidad de cualificacin-to-calificacin. El documento de protocolo constituye
la base para la supervisin de terceros, y establece las variables esenciales para
ser calificados, lo que garantiza la portabilidad de la calificacin. El documento de

protocolo comnmente toma la forma de un procedimiento escrito y lista de control

asociado, documentando el proceso seguido durante la calificacin. Este
documento se desarrolla en conjunto con la participacin de todas las partes
afectadas (es decir, el propietario, y, en su caso, la competencia, la AIA, tercero
independiente, vendedor examen u otra parte interesada).

Un elemento clave del documento de protocolo es los criterios Pasa / Falla. Un

criterio de evaluacin alternativos que pueden ser aplicados es un "nivel
alcanzado de criterios de rendimiento." Para este criterio, un examinador
demuestra la tcnica, incluyendo capacidades de tamao, y la calificacin se basa
en el rango de deteccin del examinador logra durante la manifestacin.
Examinadores calificados bajo estos criterios se les permite realizar exmenes
dentro de sus capacidades calificados.

CUALIFICACIN INDIVIDUAL T-1452

Los requisitos de demostracin de rendimiento que se encuentran en T-1440
califican el sistema de exmenes (es decir, equipo, procedimiento escrito, y de
personal) como una unidad. Como una alternativa, un proceso de calificacin de
dos etapas tambin se puede aplicar. La primera etapa de este proceso implica
una manifestacin rendimiento para calificar el sistema de procedimiento / equipo.
La calificacin de procedimiento / equipo requiere varios examinadores calificados
para evaluar el conjunto de la muestra, con los requisitos resultados de reuniones
predeterminadas ms estrictas que el personal pasa / no pasa necesidades.
Despus del procedimiento / equipo ha sido calificado, los examinadores
individuales utilizando la combinacin procedimiento / equipo cualificado necesario
para llevar a cabo una demostracin de rendimiento limitado.

El director de incentivos para la adopcin de este tipo de prueba es reducir los

costes de personal de calificacin de un procedimiento ampliamente utilizado. El
procedimiento / equipo puede estar calificado / desarroll de una manera no-ciego,
pero el personal tomarn pruebas a ciegas. Este proceso de dos pasos tambin se
opone a la posibilidad de un examinador de intentar pasar una prueba de
demostracin con los procedimientos o equipos inadecuados.

T-1460 CALIBRACIN

Calibracin de equipos se har de conformidad con el procedimiento escrito

utilizado para llevar a cabo la demostracin de rendimiento.

T-1470 EXAMEN
La demostracin ejecucin se llev a cabo de acuerdo con el procedimiento
escrito, utilizando las tcnicas y equipos descritos en la justificacin tcnica.
Informacin de consulta para la realizacin de diversos modos de demostraciones
de rendimiento se proporciona en los siguientes prrafos.

PRUEBA T-1471 INTERMEDIO RIGOR DE DETECCIN

El objetivo de una prueba de demostracin rendimiento rigor intermedio es revelar
los procedimientos y los examinadores inadecuados. Las siguientes son las
opciones tpicas para fallas en equipos de prueba de muestras utilizadas para
demostraciones de rendimiento rigor intermedios:

(A) Las muestras debe representar con precisin el componente a ser examinado
en la mayor medida posible, con al menos 10 defectos o unidades de clasificacin
como mnimo. Un POD
de 80% con una tasa de falsa llamada se requiere menos de 20% para un
rendimiento aceptable.

(B) Menos de 10 defectos o unidades de clasificacin se utilizan, pero se utilizarn

de manera ciega. Los defectos se vuelven a utilizar en un proceso iterativo, ciego
y aleatorio. Esta es una manera econmica para aumentar el tamao del conjunto
de la muestra. El ochenta por ciento de los defectos estn obligados a detectar. La
tasa de falsa llamada debe ser inferior a 20%.

(C) Entre el 5 y el 15 de defectos o unidades de clasificacin se utilizan con al

menos el mismo nmero de unidades de clasificacin unflawed. Se requiere un
POD de 80% con una tasa de falsa llamada de menos de 20% para un
rendimiento aceptable.

(D) Muestra el tamao del conjunto ser suficiente para asegurar que la mayora
de los examinadores con un POD inaceptable tendrn dificultades para pasar la
manifestacin, mientras que la mayora de los examinadores con un POD
aceptable podrn pasar a la manifestacin.
T-1472.1 Prueba de deteccin binomial estndar. El examinador se somete a una
demostracin ciego. Las unidades de clasificacin defectuosos contienen fallos
crticos (por ejemplo, fallas cercanas al tamao crtico defecto) para que un POD
calculada a partir de estos datos calcula el POD para defectos crticos. Despus
del examen, las puntuaciones de POD y FCP se calculan comparando el nmero
de detecciones clasificados como fallas en el nmero de unidades de clasificacin
errnea o blanco examinada. En otras palabras:
Puntacion POD=

De unidadesdefectuosas de clasificacin como defectos .

Total de unidad es de clasificacindefectuosos examinada .

Puntacion FCP=

De unidades de clasificacin en blancoclasificados como defectos .

Total de unidades de clasificacinen blanco examinada

El POD y FCP se apoyan en bandas de tolerancia llamados "lmites " para

describir la incertidumbre estadstica en la prueba. (En el caso de POD se utiliza
una lmite inferior, mientras que para FCP, una lmite superior se utiliza.) El
puntaje del examinador es aceptable si el lmite inferior en la puntuacin de POD
est por encima de POD min. y el lmite superior de la puntuacin FCP est por
debajo de FCP max.
Los lmites se calculan utilizando ecuaciones binomiales estndar, se muestra a
continuacin.

Dnde:
D = Nmero de detecciones registradas.
N = Nmero de unidades de clasificacin que contienen defectos (para los
clculos POD) o que estn en blanco (para los clculos FCP).

P superior =superior atado.

P = menor cota inferior
= ( Pinferior ; D , N D+1)

=1 ( P superior ; D+1, N D)
donde (z;c1,c2) es una distribucin beta con parmetros c. El diseo de un
conjunto de muestras estadsticamente significativa para esta prueba se basa en
las ecuaciones binomiales anteriores.
Una vaina de 95% con una confianza del 90% implica que hay una probabilidad
del 90% que el 95% es una subestimacin de la verdadera probabilidad de
deteccin. En otras palabras, el nivel de confianza, describe el grado de
fiabilidad debe ser la prueba de calificacin. Si 10 defectos estn en la prueba, a
continuacin, sobre la base de 2 pierde, hay una confianza del 90% que la
verdadera fiabilidad inspeccin es mayor que 55%. Si se desea de confianza del
95%, entonces la verdadera fiabilidad inspeccin es mayor que 33,8%. Si se han
detectado todos los 10 defectos, entonces el POD sera 79%. Para obtener un
POD 90% a un nivel de confianza del 95% requiere un mnimo de 29 defectos de
29 defectos a detectar.
Tabla T-1472.1 muestra la relacin entre menor nmero de defectos, nivel de
confianza, la probabilidad de deteccin, y echa de menos calculando la ecuacin
anterior para varios escenarios. Se puede utilizar para desarrollar el tamao del
conjunto de prueba. El usuario es libre de seleccionar el nmero real de
ubicaciones errneas y en blanco (es decir, el tamao de la muestra) empleados
en el ensayo. La eleccin del usuario para el tamao de la muestra se regir por
dos los costes de la competencia.
(a) el costo de la construccin de las muestras de ensayo
(b) el costo de la falta de una "buena" examinador.
Si el usuario decide realizar una prueba grande, los lmites de confianza asociados
con los puntajes POD sern pequeas, por lo que una "buena" examinador tendr
una excelente oportunidad para pasar la prueba. Sin embargo, si se da una
prueba abreviada, los lmites de confianza sern grandes, e incluso un buen
examinador frecuencia fallarn una prueba.

De hecho, con una prueba binomial como este, no es un tamao de muestra ms

pequeo que se puede utilizar. Si se utiliza un tamao de muestra ms pequeo
que el tamao de muestra ms pequeo, es imposible pasar nunca la prueba,
debido a que los lmites de confianza son tan amplia. Con el tamao de muestra
ms pequeo, el examinador tiene que obtener una puntuacin perfecta (es decir,
POD = 1, or FCP = 0) para pasar. El tamao de muestra ms pequeo depende
del umbral de deteccin y el nivel de confianza escogido para la prueba. Por
ejemplo, como el POD mnimo aceptable se establece ms cerca de la unidad, el
tamao mnimo de la muestra se hace ms grande. Tabla T-1472.1 presenta el
tamao mnimo de la muestra para diferentes niveles de confianza, y los umbrales
POD / FCP.
Como se puede ver en esta tabla, se requiere todo un conjunto de muestras
grandes, si se requieren altos umbrales de deteccin para la inspeccin. Si se
requieren umbrales excepcionalmente altos de deteccin, la prueba binomial
estndar descrito en este apndice no puede ser la estrategia de pruebas ms
eficiente.
Tabla T-1472.1
Nmero total de muestras para un nmero dado de
Misses en un determinado nivel de confianza y, POD
Nivel
de Nmero
de
Probabilidad de
confianza
Misses
Deteccin
90% 95% 99%
90%
0
22
45
230
1
38
77
388
2
52
105
531
3
65
132
667
4
78
158
798
5
91
184
926
10
152
306
1000+
20
267
538
1000+
95%
0
29
59
299
1
46
93
473
2
61
124
628
3
76
153
773
4
89
181
913
5
103
208
1000+
10
167
336
1000+
20
286
577
1000+
99%
0
44
89
458
1
64
130
662
2
81
165
838

3
4
5
10
20

97
113
127
197
325

198
229
259
398
656

1000+
1000+
1000+
1000+
1000+

Como regla general, la prueba debe incluir el mayor nmero en blanco como
ubicacin viciado, pero esta proporcin puede ser alterado dependiendo de qu
umbral (POD o FCP) es ms estricta.

Tal como se desarroll en esta seccin, la prueba binomial norma examina POD
para un solo tamao defecto, el tamao crtico defecto. Es posible incluir ms
tamaos de fallas en la prueba. Cada tamao de defecto incluido contendra el
nmero mnimo de defectos requeridos por la tabla T-1472.1. Por ejemplo, una
tasa de deteccin del 90% a un nivel de confianza del 90% para los cuatro
intervalos de tamao de defectos diferentes requerira 22 fallas en cada intervalo
de tamao si no se permiten fallos para un total de 88 fallas.

T-1472.2 Prueba de deteccin de dos etapas. El componente bsico de la prueba

de demostracin de dos etapas es la prueba de deteccin binomial Estndar
describe en T-1472.1.The prueba de dos etapas se aplica la prueba binomial
estndar para el personal de cualificacin, sino que se aplica una prueba ms
rigurosa para el procedimiento de calificacin. La prueba de dos etapas tiene por
objeto eliminar procedimientos inadecuados desde el proceso de calificacin, la
preservacin de los recursos. El objetivo de motivacin para una prueba de dos
etapas es la construccin de la primera etapa para eliminar un procedimiento cuya
tasa de aprobacin es inaceptablemente baja. (Tasa de aprobacin de un
procedimiento es la proporcin de los examinadores capacitados que pasar la
prueba del personal cuando se utiliza este procedimiento.)

Una prueba de dos etapas es ideal para un escenario de examen donde muchos
examinadores estarn utilizando unos procedimientos estandarizados, que pueden
diferir sustancialmente en el rendimiento. Si slo hay un procedimiento est
disponible, o si cada examinador se aplica un procedimiento personalizada propia
separada, pruebas de dos etapas no es ventajoso.

Con el fin de construir una prueba de deteccin en dos etapas, se requiere la

misma informacin que debe ser montado para la prueba binomial estndar, con la
adicin de una tasa de paso de destino, R paso, para el personal. La tasa de
aprobacin de destino es la tasa de aprobacin de que el usuario considere
aceptable.
La porcin procedimiento de calificacin (primera etapa) de la prueba requiere que
M procedimiento entrenados examinadores cada pasan una prueba de deteccin
del binomio estndar. La prueba estndar de deteccin binomial, construido de
acuerdo con T-1472,1, se utilizar para el personal de cualificacin. La diferencia
clave es que ms de un examinador se utiliza para el procedimiento de
calificacin. Es importante que el procedimiento de ensayo se llev a cabo con los
examinadores que son representativos de la poblacin de campo (y no expertos).
Un "procedimiento de formacin" examinador debe ser uno que ha recibido la
formacin estndar requerido para el procedimiento.
Tabla T-1472.2
Requerido Nmero de primera etapa Examinadores vs. Target Pass Rate
Objetivo Pass Rate (Rpass)
Nmero de Primera Etapa
Examinadores (M)
50
3
60
4
70
5
80
8
90
15
95
32
Despus de que el procedimiento ha pasado su prueba, entonces se permite
examinadores individuales para ser calificado en la segunda etapa, utilizando la
misma prueba binomial estndar. La prueba binomial se construye de manera que
los fallos crticos se detectan con un POD de al menos POD min y llamadas falsas
no son ms que FCPmax con un nivel de confianza de .
Se elige el nmero de examinadores (M) utilizadas en la primera etapa para
asegurar la tasa de pase deseada en 80% de confianza (es decir, el usuario puede
estar 80% seguro de que la tasa real ser pase por encima del valor objetivo). La
ecuacin para la determinacin del M adecuada es:

Tabla T-1472.2 ofrece la M asociado con diversos ndices de aprobacin de

destino.
El usuario es completamente libre de elegir el nmero de examinadores (M)
empleados
en
la
primera
etapa
de
calificacin.
Como
onecanseefromtheabovetable, thelargerthatM se hace, el ms riguroso
procedimiento de la parte de la prueba se hace, pero cuanto mayor sea la tasa de
aprobacin se convierte en la segunda etapa de la prueba. De hecho, para alta M,
theusermight
Eliminar la segunda etapa de la prueba por completo.

T-1472.3 Prueba de deteccin iterativa. Esta prueba de deteccin es til cuando

las muestras de ensayo son extremadamente costosos o limitada. Se construye de
la misma manera como la prueba binomial estndar de T-1472,1, sin embargo la
prueba presenta el solicitante con el mismo conjunto de muestras ms de una vez
para obtener el tamao deseado de la muestra.
Se utilizan menos de 10 fallas, pero se utilizan de una manera ciega. Los defectos
se vuelven a utilizar en un proceso iterativo, ciego y aleatorio. Esta es una manera
econmica para aumentar el tamao del conjunto de la muestra. Las unidades de
calificaciones errneas y unflawed se examinan varias veces hasta que se alcanza
el tamao de la muestra deseada y nivel de confianza correspondiente. Las
muestras deben ser indistinguibles entre s de manera que cada examen es
independiente y el equipo de pruebas no puede reconocer la muestra o los
defectos. El nmero de unidades de clasificacin unflawed por lo menos igual o
debe ser superior al nmero de unidades defectuosas de clasificacin. Tabla T1472,1 se puede usar para determinar el tamao de la muestra falla, se pierde, y
POD para un nivel de confianza dado.
EVALUACIN T-1480
El propietario y, en su caso, la competencia, la AIA, tercero independiente,
vendedor examen, u otro usuario deber evaluar el informe de justificacin
tcnica, y los resultados de la demostracin rendimiento presentado por el
administrador, para determinar la aceptabilidad del sistema. La evaluacin se
basar en los criterios establecidos en el documento de protocolo.

T-1490 DOCUMENTACIN Y REGISTROS

Documentacin de la manifestacin rendimiento incluir lo siguiente:

(a) El documento de justificacin tcnica
(b) Los procedimientos de END, incluyendo las variables esenciales aplicados
(c) Descripcin de los equipos utilizados, incluyendo los registros de calibracin
(d) Descripcin de las muestras utilizadas para llevar a cabo la manifestacin
(e) Certificacin de finalizacin aceptable de la demostracin del rendimiento. La
certificacin podr ser expedida por separado para el equipo / procedimiento y el
individuo.