Ministrio da Educao

UNIVESIDADE TECNOLGICA FEDERAL DO PARAN

Campus Curitiba Sede Ecoville

Disciplina:

Cincia dos Materiais

Professor: Adalberto Matoski

Alunas(os):
Data Entrega: 23 / 04 / 2012
Jacqueline Colucci Stella

Roberto Chun Yan Pan

DIFRATOMETRIA

Questionrio n2 - 09/04/2012
10)

No difratograma de raios X do KCl (cbico) obtido com radiao CuK

(1,5418 angstrons) a reflexo devida aos planos (200) aparecem com
valores de 2 = 28,36. Baseado nesta informao calcule a densidade
esperada do KCl.
2 = 28,36
= 14,18
= 2d . sen
1,5418 = 2d . sen 14,18
2d = 1,5418 / 0,99908
d = 0,7716
d=

a
2+0+ 0

0,7716 =

a
2

a=1,0912 A

Para estrutura CFC

=

( 4 x 39,098 g/mol +4 x 35,453 g /mol)

3

( 1,0912 x 108 ) cm 3 x 6,023.1023 tomos /mol

=

3,81g/cm3

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11)

Explique porque as reflexes 1 1 1 no aparecem no difratograma de

raio X do KCl, apesar de ser intensa no difratograma do KF.

12)

A 20C o Fe cbico de corpo centrado, Z=2, a= 2,866 angstrons. A

1000C o ferro cbico de face centrada cm Z=4, a=3,656 angstrons.
Calcule a densidade do ferro para cada temperatura.
Fe a 20C - CCC
=

(2 x 55,85 g/mol)
8 3

( 2,886 x 10 ) cm3 x 6,023.1023 tomos /mol

=

7,87g/cm3

Fe a 1000C - CFC
=

(4 x 55,85 g /mol)
8 3

( 3,656 x 10 ) cm3 x 6,023.1023 tomos /mol

=

7,59g/cm3

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13)

Obtenha na WEB ou literatura 3 exemplos de slidos inicos, slidos

covalentes e slidos moleculares e suas respectivas celas de bravais.

Slidos Inicos
1) Cloreto de Sdio (NaCl) = cbica de face
centrada
2) Cloreto de Csio (CsCl) = cbica de corpo
centrado

3) Fluoreto de clcio (CaF2 = Fluorita) = CFC

cbica de face centrada
Fonte:

http://200.156.70.12/sme/cursos/EQU/EQ20/modulo1/aula0/aula01/02.html
http://www.esi2.us.es/IMM2/ec/fluorita.html

Slidos Covalentes
1) Diamante (C) = cbica de face
centrada

2) Grafite (C) = Hexgono Cbica

3) Slica
centrada

(SiO2) = Cbica de face

Fonte: http://www.infoescola.com/elementos-quimicos/carbono/

http://www.seara.ufc.br/sugestoes/quimica/quimica027.htm

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Slidos Moleculares
Carvo

Gelo (H2O) = Hexgono Cbica

Fonte:

http://www.unicamp.br/unicamp/unicamp_hoje/ju/abril2007/ju356pag04.html
http://www.google.com.br/url?sa=t&rct=j&q=estrutura%20qu%C3%ADmica%20do
%20gelo&source=web&cd=5&ved=0CEoQFjAE&url=http%3A%2F
%2Fwww.dbq.uem.br%2Fcarlos
%2Fagua.ppt&ei=SsOMT_2lL8bLgQe8qb3NCQ&usg=AFQjCNGuUHhpPElNwJhs4q0SXh
bc_qdfhA

Acar (molculas de sacarose, C12H22O11)

Fontes:

http://www.profpc.com.br/Liga%C3%A7%C3%B5es%20Qu%C3%ADmicas/Aula1.htm

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14)

Por que, numa estrutura CCC (cbica de corpo centrado) a difrao no

ocorre quando h+k+l for um nmero mpar ?

15)

Por que, numa estrutura CFC (cbica de face centrada) a difrao no

ocorre quando h, k, l so mistos. (Ou seja, nmeros pares e mpares).

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16)

Com frequncia necessrio expressar a composio (ou

concentrao) de uma liga em termos de seus constituintes. A forma
mais comum a percentagem em massa e a percentagem atmica.
Explique como se determinam essas percentagens. (Ver Callister).
Cada tomo consiste de um ncleo muito pequeno composto de
prtons e neutrons, que so circundados por eltrons em movimento.
Tanto eltrons quanto prtons so eletricamente carregados, a
magnitude da carga sendo 1,60 x 10 -19C, que negativa em sinal para
eltrons e positiva para prtons; neutrons so eletricamente neutros.
As massas destas partculas subatmicas so infinitesimalmente
pequenas; prtons e neutrons tm aproximadamente a mesma massa,
1,67 x 10-27kg, que significativamente maior do que aquela de um
eltron, 9,11 x 10-31 kg.
Cada elemento qumico caracterizado pelo nmero de prtons no
ncleo, ou o nmero atmico (Z). Para um tomo eletricamente
neutro ou completo, o nmero atmico tambm igual ao nmero de
eltrons. Este nmero atmico varia em unidades inteiras desde 1 para
o hidrognio at 94 para o plutnio, o de nmero atmico mais alto
dentre os elementos que ocorrem na natureza (naturalmente).
A massa atmica (A) de um tomo especfico pode ser expressa
como a soma das massas dos prtons e dos neutrons. Embora o
nmero de prtons o mesmo para todos os tomos de um dado
elemento, o nmero de neutrons (N) pode ser varivel. Assim, tomos
de alguns elementos tm 2 ou mais diferentes massas atmicas, sendo
eles denominados istopos. O peso atmico corresponde mdia
pesada das massas atmicas de istopos que ocorrem naturalmente.
A unidade de massa atmica (u.m.a., ou amu em ingls) pode ser
usada para clculos de peso atmico. Foi estabelecida uma escala na
qual 1 u.m.a. definida como 1/12 da massa atmica do istopo mais
comum do carbono, carbono 12 (isto , 12C) (A = 12,00000). Dentro
deste esquema, as massas de prtons e neutrons so ligeiramente
maiores do que a unidade, e
AZ+N
O peso atmico de um elemento ou peso molecular de um composto
pode ser especificado com base em u.m.a. por tomo (ou molcula) ou
em massa por mol de material. Num mol de uma substncia existem
6,023 x 1023 (nmero de Avogadro) tomos ou molculas. Estes dois
esquemas de peso atmico esto relacionados entre si atravs da
seguinte equao:
1 u.m.a./tomo (ou molcula) = 1 g/mol

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Por exemplo, o peso atmico do ferro 55,85 u.m.a./tomo, ou

55,85g/mol. Algumas vezes o uso de u.m.a. por tomo ou molcula
conveniente; em outras ocasies g (ou kg)/mol preferido.
s vezes necessrio exprimir a composio global de uma liga em
termos de concentraes dos seus elementos constituintes. Os meios
mais comuns de especificar concentrao so porcentagem em peso
(ou massa) e porcentagem atmica. A base para porcentagem em
peso o peso de um particular elemento em relao ao peso total da
liga. Para uma liga que contenha apenas hipotticos tomos A e B, a
concentrao de A em porcentagem em peso, CA, definida como CA =
[ mA / (mA + mB)] x 100 (4.3), onde mA e mB representam o peso (ou
massa) de elementos A e B, respectivamente. A concentrao de B
seria calculada de maneira anloga.
A base para clculos de porcentagem atmica o nmero de moles
de um elemento em relao ao nmero total de moles de todos os
elementos na liga. O nmero de moles numa especificada massa de
um elemento hipottico D, Nm (D), pode ser calculado do seguinte
modo:
..Nm (D) = m'D / AD
Aqui, m'D e AD denotam a massa (em gramas) e o peso atmico,
respectivamente, para o elemento D.
Concentraes em termos de porcentagem atmica de elemento D
numa liga contendo tomos D e E, definida por:
C'D = { Nm (D)/[Nm (D) + Nm (E)]} x 100
De maneira anloga, a porcentagem atmica do elemento E pode ser
determinada. Clculos de porcentagem atmica podem ser realizados
com base no nmero de tomos em vez de moles, de vez que cada
mol de todas as substncias contm o mesmo nmero de tomos.
Callister

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17)

Qual a diferena de defeitos de lacuna e auto intersticial ?

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18)

Descrever 5 defeitos pontuais inicos diferentes encontrados em

compostos cermicos.
Imperfections in Ceramics
Imperfections in ceramic crystals include point defects and impurities
like in metals. However, in ceramics defect formation is strongly
affected by the condition of charge neutrality because the creation of
areas of unbalanced charges requires an expenditure of a large
amount of energy. In ionic crystals, charge neutrality often results in
defects that come as pairs of ions with opposite charge or several
nearby point defects in which the sum of all charges is zero. Charge
neutral defects include the Frenkel and Schottky defects. A Frenkeldefect occurs when a host atom moves into a nearby interstitial
position to create a vacancy-interstitial pair of cations. A Schottkydefect is a pair of nearby cation and anion vacancies. Schottky defect
occurs when a host atom leaves its position and moves to the surface
creating a vacancy-vacancy pair.
http://www.ndted.org/EducationResources/CommunityCollege/Materials/Structure/ceramic_prop.htm
http://ccsun.nchu.edu.tw/~wenjea/ceramic/Ceramic%20handout%20Ch2.pdf
http://positron.physik.uni-halle.de/talks/CERAMIC2.pdf

(este ltimo est mais completo)

O defeito pontual mais simples a lacuna, que

corresponde a uma posio atmica na qual falta
um tomo (Figura 13).

As lacunas podem ser originadas durante a solidificao, como

resultado de perturbaes locais durante o crescimento dos cristais, ou
podem ser criadas pelo rearranjo dos tomos de um cristal, devido
mobilidade atmica. Nos metais, a concentrao de equilbrio de
lacunas raramente excede cerca de 1 em 10.000 tomos. As lacunas
so defeitos de equilbrio dos metais e a sua energia de formao
cerca de 1 eV (energia necessria para transferir um tomo do interior
do cristal para a superfcie).Um tomo de um cristal pode, por vezes,
ocupar um interstcio entre os tomos vizinhos em posies atmicas
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normais (Figura 13). Este tipo de defeito

pontual designado por auto intersticial
ou intersticial. Assim, um defeito auto
intersticial deve-se a um tomo do cristal
posicionado em um stio intersticial, que
em circunstncias normais estaria vago
(Figura 15). Geralmente, estes defeitos
no ocorrem naturalmente por causa da
distoro que originam na estrutura, mas
podem ser introduzidos por irradiao.

DEFEITOS INTERSTICIAIS
A presena de um tomo em uma posio que no pertence
estrutura do cristal perfeito (Figura 16) como a ocupao de um vazio
intersticial, por exemplo, significa uma distoro na estrutura devido
ao desajuste causado pela presena deste tomo (tem efeito
endurecedor). importante lembrar que de acordo com a curva do
potencial de ligao, desvios ou distores na distncia interatmica
de equilbrio causam
aumento de energia.
Ocorre quando tomos
tm tamanho muito
menor
do
que
o
solvente. Tem maior
mobilidade na rede, pois
interdifuso no exige mecanismo de
lacunas. Caso do H e do C nos aos.
DEFEITOS SUBSTITUCIONAL
Ocorre quanto tomos tm tamanhos prximos aqueles da matriz
(Figura 16) com diferenas entre raios menores que 15 %. Gera
distoro no reticulado: introduz tenses, atua como barreira ao
movimento de discordncias e aumenta a resistncia do material.
mais difcil se mover (interdifuso) pela rede cristalina. Exemplos: Ni
em aos inoxidveis austenticos esto dissolvido na austenita e Zn
(abaixo de 30 %) no cobre forma lato.

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DEFEITOS PONTUAIS EM SLIDOS INICOS

Nos cristais inicos, os defeitos pontuais so mais complexos,
devido necessidade de manter a neutralidade eltrica. Quando,
num cristal inico, faltam dois ons de cargas contrrias, origina-se
uma bi lacuna ction-nion que conhecida por defeito de Schottky
(Figura 17). Se, num cristal inico, um ction se move para um
interstcio, cria-se uma lacuna catinica no local onde o on se
encontrava.
Este
parlacunaintersticial designado
por defeito de Frenkel
(Figura 17). A presena
destes
defeitos
nos
cristais inicos aumenta a sua
condutibilidade eltrica.

tomos de impurezas do tipo substitucional ou intersticial tambm

so defeitos pontuais e podem surgir em cristais metlicos ou
covalentes. Por exemplo,pequenas quantidades de tomos de
impurezas substitucionais podem afetar fortemente a condutibilidade
eltrica do Silcio puro usado em dispositivos eletrnicos. Nos cristais
inicos, os tomos de impurezas tambm so considerados defeitos
pontuais.
http://pt.scribd.com/doc/88318921/Materiais-Ceramicos

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19)

Qual a diferena entre os defeitos de Frenkel e Schottky ?

Fonte: http://www.fem.unicamp.br/~caram/imperfeicoes.pdf
Os defeitos pontuais podem ser gerados em um slido inico por:
equilbrio termodinmico (SCHOTTKY e FRENKEL) substituio qumica,
processo de oxidao reduo e por radiao energtica. Os defeitos
termodinmicos tipo SCHOTTKY e FRENKEL podem ser classificados
como defeitos intrnsecos, desde que um ou outro, sempre est
presente em um slido inico em qualquer temperatura acima do zero
absoluto.
http://lqes.iqm.unicamp.br/images/vivencia_lqes_index_defeitos_pontuais.pdf
http://www.tf.uni-kiel.de/matwis/amat/def_en/kap_2/backbone/r2_1_3.html#Schottky
defects
http://www.tf.uni-kiel.de/matwis/amat/def_en/kap_2/backbone/r2_1_2.html#_dum_1

Num cristal monoatmico real a criao de uma vacncia est

associada a 3 possibilidades principais:
tomo sai do seu stio no interior do cristal e ocupa um stio na
superfcie - Defeito Schottky
tomo sai do stio normal e passa a ocupar um stio intersticial Defeito Frenkel
http://www.fisica.ufs.br/mvalerio/index_arquivos/Cursos/20102/TopFisMat/Capitulo3-DefeitosEmSolidos.pdf

Schotky: estes defeitos so mais comuns e aparecem em maior

freqncia em compostos com metais que podem apresentar maior
numero de estados de oxidao. Os haletos de metais alcalinos
possuem 10-12 mol dm-3 de defeitos a 130C, enquanto o TiO possui 12
mol dm-3 de defeitos Schotky.
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Frenkel: defeitos deste tipo no levam a mudana na estequiometria

do composto e so encontrados com maior freqncia em estruturas
mais abertas, por exemplo a esfarelita e a wurtzita, onde o numero
de coordenao baixo e a estrutura menos densa.
Defeitos devido a ctions so mais comuns que nions pois os ctions
so menores. Defeitos com nions so encontrados em comostos com
estrutura tipo fluorita como a zircnia.
Defeitos do tipo Frenkel no levam a mudana na densidade
volumtrica do composto, enquanto defeitos do tipo Schotky
reduzem a densidade do material significativamente.
http://masi.iqsc.usp.br/files/RMN27Al.pdf

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Todas as respostas devem ser justificadas e com indicao do link dos sites visitados.

Essa pesquisa poder ser feita por um ou dois alunos.

As respostas devero ser colocadas num arquivo de texto, gravadas na plataforma

Moodle devidamente identificadas. Podero ser entregues em papel, se houver
problemas no sistema.

A nota desse questionrio compor a nota final (10% da nota da primeira prova)

Respostas dessas questes tambm podero ser encontradas na biblioteca da UTFPR.

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