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Mestre em Engenharia
Comisso de Avaliao:
DEMEC/UFRGS
IF/UFRGS
IF/UFRGS
God made solids, but surfaces were the work of the devil.
Wolfgang Pauli
ii
AGRADECIMENTOS
iii
RESUMO
A determinao da rugosidade parte fundamental para a classificao da qualidade
de uma superfcie. Assim, iniciou-se este trabalho realizando-se estudos a respeito de seus
mtodos de medio. Devido grande adaptabilidade e velocidade dos mtodos a laser, os
estudos foram direcionados para estes tipos de tcnicas de medio. Verificou-se que esses
dispositivos vinculavam-se a sistemas em que o laser refletido era analisado atravs de
sistemas com detectores do tipo CCD, em que a imagem refletida era analisada num todo.
Assim, a bibliografia trouxe inspirao para mensurar a rugosidade de uma superfcie gerada
por torneamento horizontal, a partir da intensidade laser refletida. Props-se, ento, um
mtodo baseado exclusivamente, na intensidade do sinal que era refletido pela superfcie em
estudo, a contar de uma incidncia normal, j que aos autores ressaltavam que quanto maior a
rugosidade da superfcie menor seria o sinal refletido por ela. O sistema foi montado e sua
capacidade de diferenciar distintas rugosidades foi testada. Ento foram produzidas amostras
com diferentes rugosidades, a fim de se obter uma funo que pudesse correlacionar o sinal
laser com a respectiva rugosidade (medida esta feita em rugosmetro de agulha). A funo de
transferncia encontrada foi testada em amostras dissemelhantes das que a geraram, com o
intuito de comprovar sua eficcia. Amostras fabricadas com ferramentas distintas de corte
tambm foram produzidas e submetidas ao mesmo procedimento. As funes de transferncia
geradas alcanaram sucesso na previso da rugosidade em, no mximo, 16,6% dos pontos,
considerando uma margem de erro de 20%. A seguir, procurando-se os motivos que pudessem
ter causado este percentual, levantou-se a possibilidade de estarem ocorrendo efeitos pticos
capazes de causar interferncias devido s irregularidades na superfcie. Efeitos capazes de
degenerarem o sinal refletido. A comprovao de que o sinal eventualmente poderia estar
sendo perturbado aconteceu atravs de referncia bibliogrfica e de imagens obtidas por
microscopia eletrnica de varredura, em que se pde observar a existncia de estruturas na
face das amostras que seriam isolada ou conjuntamente capazes de causar os efeitos citados.
iv
ABSTRACT
The determination of the roughness is a key for a good classification of a surface.
Thereby, the work was started with a study about the roughness measurements methods. Due
to the great adaptability and speed of laser methods, the studies were directed to these kinds of
measurement techniques. It was observed in the literature that these laser devices were linked
to systems where the reflected laser was analyzed by systems with CCD detectors, where the
reflected image was entirely analyzed. Hence, the bibliography brought inspiration to measure
the surface roughness generated by axial turning from the intensity of the reflected laser. It
was proposed then a measurement method exclusively based on the intensity of the signal that
was reflected by the surface under study, because the authors noted that as the roughness of
surface became bigger as the signal reflected is became smaller. The proposed system has
been assembled and ability to distinguish different roughness was tested successfully. Then
samples were produced with different roughness in order to obtain a function that would
correlate the laser signal with its roughness (this measurement is made by tactile measurement
instrument). The transfer function obtained was tested on different samples that generated in
order to prove its efficacy. Samples produced with different cutting tools were also produced
and subjected to the same procedure. The transfer functions reached a successful prediction of
the roughness maximum for 16.6% of the points assuming a margin of error of 20%. So,
looking up the reasons that could have caused this percentage we think the possibility as the
occurrence of some optical effects that can cause interference due to irregularities on the
surface. These optical effects can degenerate the reflected signal. The proof that the signal
could possibly be corrupted was made by the bibliographic references and some images
obtained by scanning electron microscopy in which they could observe the existence of
structures on the sample surfaces that would can be a reason for these effects individually or
together.
NDICE
1 INTRODUO .................................................................................................................... 1
1.1 Objetivos ......................................................................................................................... 7
1.1.1 Geral .................................................................................................................... 7
1.1.2 Especficos .......................................................................................................... 7
1.2 Justificativa ..................................................................................................................... 7
1.3 Organizao da Dissertao ............................................................................................ 7
2 RUGOSIDADE .................................................................................................................... 9
2.1 Caracterizao da Superfcie ........................................................................................ 10
2.2 Parmetros de Rugosidade ............................................................................................ 11
2.3 Medio de Rugosidade ................................................................................................ 13
2.4 Avaliao da Rugosidade por Mtodos de Medio a Laser ........................................ 15
2.4.1 Espalhamento ptico ........................................................................................ 21
3 PROPOSTA DE MTODO DE MEDIO DE RUGOSIDADE ................................ 23
4 MATERIAIS E MTODOS ............................................................................................. 26
4.1 Preparao do Laser e do Chopper ............................................................................... 27
4.2 Amplificador Lock-in ................................................................................................... 28
4.3 Posicionamento da Amostra ......................................................................................... 30
4.4 Verificao do Alinhamento ......................................................................................... 31
4.5 Aquisio de Dados ...................................................................................................... 32
4.6 Softwares para Anlise de Dados ................................................................................. 32
4.7 Procedimentos Preliminares ......................................................................................... 33
4.8 Caracterizao dos Corpos de Prova ............................................................................ 34
5 EXPERIMENTAES..................................................................................................... 37
5.1 Testes Iniciais ............................................................................................................... 37
5.2 Testes com Ao SAE 1020 e SAE 4140 ....................................................................... 41
5.3 Testes com Ao SAE 4140 e Ferramenta Alisadora..................................................... 47
5.4 Testes com Ao SAE 4140 e Ferramenta Convencional .............................................. 50
5.5 Validao dos Resultados das Funes FT1 e FT2........................................................ 53
5.5.1 Validao de FT1............................................................................................... 53
5.5.2 Validao de FT2............................................................................................... 54
6 Discusso dos Resultados .................................................................................................. 56
7 Concluses .......................................................................................................................... 63
7.1 Sugestes para Trabalhos Futuros ................................................................................ 64
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ................................................................................. 65
vi
LISTA DE FIGURAS
Figura 1.1: Esquema dos movimentos relativos entre a pea e a ferramenta [Sandvik, 2009] .. 2
Figura 1.2: Esquema do perfil terico de corte e da ferramenta responsvel pela gerao da
rugosidade [adaptado de Machado et al., 2009] .................................................... 2
Figura 1.3: Esquema do perfil de corte pela ferramenta: (a) alisadora; (b) convencional
[Grzesik e Zalisz, 2008] ......................................................................................... 2
Figura 1.4: Ordens de desvio da superfcie [adaptado de Lu, 2008] .......................................... 3
Figura 2.1: Croqui de superfcies: (a) geomtrica; (b) real [ABNT/NBR ISO 4287:2002] ..... 10
Figura 2.2: Diagrama dos elementos que influenciam no perfil da superfcie. [Rosa, 2004] .. 10
Figura 2.3: Distncias de pico e de vale e representao da linha mdia para um dado
comprimento de avaliao [NBR ISO 4287:2002] .............................................. 11
Figura 2.4: Faixa de valores de rugosidade mdia para diferentes processos de fabricao por
usinagem [Souza, 2011]....................................................................................... 14
Figura 2.5: Esquema da montagem de Osanna et al., 1988: as bobinas movimentam os ms
para manter o laser focalizado na superfcie ........................................................ 16
Figura 2.6: Intensidade relativa (%) vs. ngulo de reflexo () [adaptado de Yim e Kim, 1990]
............................................................................................................................. 17
Figura 2.7: Padro de imagem conforme direo das ranhuras [adaptado de Kim et al., 2002].
............................................................................................................................. 19
Figura 2.8: Esquema da montagem do aparato [adaptado de Wang et al., 2003] .................... 19
Figura 2.9: Princpio de medio da luz espalhada [adaptado de Thurn e Brodmann, 1986]. . 21
Figura 2.10: (a) princpio do mtodo de espalhamento de luz; (b) micrografia de superfcie
usinada em torno cilndrico e superfcie laminada a frio; (c) padro de
espalhamento para superfcie laminada a frio [adaptado de Thurn e Brodmann,
1986]. ................................................................................................................... 22
Figura 2.11: Esquema da influncia do perfil da amostra na distribuio de espalhamento para
duas superfcies (a e b) com rugosidades semelhantes [adaptado de Thurn e
Brodmann, 1986]. ................................................................................................ 22
Figura 3.1: Montagem esquemtica do sistema de medio proposto ..................................... 23
Figura 4.1: Sistema de medio laser desenvolvido ................................................................. 26
Figura 4.2: Foto do laser ........................................................................................................... 27
Figura 4.3: Painel de configuraes do lock-in. ....................................................................... 28
Figura 4.4: Esquema terico de funcionamento de um lock-in [adaptado de Wolfson, 1991]. 28
Figura 4.5: Fotos do posicionador de amostras: (a) porta amostra em sua totalidade; (b)
detalhe da mesa de apoio e do batente de posicionamento; (c) sistema de
translao vertical; (d) o sistema de translao horizontal .................................. 30
vii
Figura 4.6: (a) vista superior de um nvel bolha; (b) esquadro combinado completo. ............. 31
Figura 4.7: Fotografia dos monitores analgicos e digitais do lock-in. .................................... 32
Figura 4.8: Rugosmetro Mitutoyo Surftest SJ-201: (a) padro de calibrao/aferio, a regio
marcada com P polida; a regio marcada com R rugosa; (b) equipamento
de medio ........................................................................................................... 33
Figura 4.9: Corpos de prova iniciais. (a) usinagem igual em todo seu comprimento (uma
amostra); (b) quatro amostras diferentes (quatro combinaes de parmetros de
corte). Dimenses em milmetros. ....................................................................... 34
Figura 4.10: CP4140 produzido com 13 amostras, feito em SAE4140. Valores em (mm). .... 36
Figura 5.1: Amostras para medio de refletividade total para os aos: (a) SAE 1020; (b) SAE
1045; (c) SAE 4140 ............................................................................................. 39
Figura 5.2: Espectrofotmetro CARY5000 .............................................................................. 39
Figura 5.3: Teste comparativo de refletividade entre SAE4140, SAE1020 e SAE1045: (a)
espectro total de 500 at 700 nm; (b) detalhe no comprimento de onda usado
(633 nm)............................................................................................................... 40
Figura 5.4: Distribuio dos pontos no grfico da Rugosidade vs. Sinal laser espalhado........ 41
Figura 5.5: Rugosidade efetiva vs. Sinal laser (as barras de erros representam o desvio padro
de cada um dos pontos)........................................................................................ 43
Figura 5.6: Funes de transferncia com diferentes coeficientes de correlao. .................... 44
Figura 5.7: Rugosidade Ra vs Sinal Laser dos corpos de prova 1, 5, 8, 23, 24. ....................... 45
Figura 5.8: Grfico (corrigido) de Ra (m) vs. Sinal laser (V) .............................................. 46
Figura 5.9: Primeiro grfico do melhor ajuste de Rugosidade vs Sinal laser ........................... 46
Figura 5.10: Grfico que expressa a FT, juntamente com os pontos experimentais ................ 47
Figura 5.11: Grfico de FT1 e pontos experimentais de Ra vs. Sinal laser, CP4140 ................ 49
Figura 5.12: Grfico de rugosidade Ra vs. sinal laser SL das amostras CP 4140 (0,07-0,18)
com trs pontos com desvio padro menor que a marca do ponto ...................... 51
Figura 5.13: Curva de melhor ajuste referente aos pontos da amostra CP4140 (0,07-0,18) com
dados experimentais............................................................................................. 51
Figura 5.14: Pontos de rugosidade corrigido vs. sinal laser, do CP4140 (0,07-0,18) com trs
pontos com desvio padro menor que a marca do ponto ..................................... 52
Figura 5.15: Curva FT2 e pontos da amostra CP4140 (0,07-0,18) com dados da Tabela 5.7 .. 53
Figura 6.1: Diferena de caminho ptico [Persson, 1996] ....................................................... 57
Figura 6.2: Microscpio Eletrnico de Varredura JEOL/EO modelo Jib-450 ......................... 59
Figura 6.3: Imagem feita em MEV da superfcie da amostra CP8D: (a) estrias com
espaamento igual ao avano, (b) estriamento muito menor que o avano ......... 59
Figura 6.4: Imagem feita em MEV da superfcie da amostra CP5B com sequncia de
magnificao: (a) 25x; (b) 50x; (c) 100x; (d) 500x; (e) 2000x............................ 60
viii
Figura 6.5: Imagem MEV da superfcie da amostra CP8A com microtrincas com sequncia de
magnificao: (a) 500x; (b) 2000x; (c) 4500x ..................................................... 60
Figura 6.6: Imagem MEV da superfcie da amostra CP1B com detalhe para as estruturas
esferoidais: (a) 25x; (b) 50x; (c) 100x; (d) 500 x; (e) 2000x; (f) 4500x .............. 61
Figura 6.7: No detalhe do desgaste em ferramenta de corte, distantes um do outro
aproximadamente 10 m [Grzesik e Zalisz, 2008]. ............................................. 62
ix
LISTA DE TABELAS
Tabela 2.1: Tabela de comprimento da amostragem (cut-off) .................................................. 14
Tabela 5.1: Dados da potncia emitida pelo laser utilizado nas medies. .............................. 37
Tabela 5.2: Composio aproximada dos corpos de prova (em %) ......................................... 38
Tabela 5.3: Resumo dos dados de Rugosidade (Ra) medida com SJ-201 e sinal laser espalhado
............................................................................................................................. 40
Tabela 5.4: Dados combinados para os cinco corpos de prova ................................................ 42
Tabela 5.5: Erro relativo na estimao da rugosidade Ra com FT1 para os Testes Iniciais...... 48
Tabela 5.6: Valores efetivos do sinal laser e dos valores de rugosidade calculados e medidos.
............................................................................................................................. 49
Tabela 5.7: Dados experimentais CP4140 (0,07-0,18)............................................................. 50
Tabela 5.8: Uso das FT1 para previso de rugosidades de CP4140(0,07-0,18) ....................... 54
Tabela 5.9: Uso das FT2 para previso de rugosidades de CP1, CP5, CP8,CP23, CP24 ......... 54
Tabela 5.10: Uso das FT2 para previso de rugosidades de CP4140(0,07-0,18) ..................... 55
ASC:
CCD:
CD:
ELA:
FT:
Funo de Transferncia
LAMEF:
Laser:
LSA:
PSD:
RMS:
rpm:
SAE:
SM:
Sistema de medio
STM:
xi
LISTA DE SMBOLOS
m
ap
r1, r2
rbo
Ra
Rq
Rt
Rz
SL
xii
INTRODUO
Diferentes autores afirmam que a gerao da rugosidade de uma superfcie
dependente de vrios fatores. Sendo assim, quando se trata de gerar a superfcie por processo
de usinagem de torneamento, os parmetros, em geral, mais considerados so velocidade de
corte1, avano2, profundidade de corte3, geometria da ferramenta e dureza da pea [Attanasio
et al., 2010; Lu, 2008; Ozel, 2005; Prazad et al., 2009; Saini, 2012; Suhail et al., 2010].
Entretanto, existem formas de prever, com boa aproximao, as rugosidades geradas por
torneamento, utilizando esses parmetros [Diniz et al., 2003; Machado et al., 2008;
Kalpakjian e Schind, 2010; Klocke, 2011].
De maneira geral, os processos de usinagem podem ser divididos em dois grandes
grupos: convencionais e no convencionais. Os processos convencionais so, de maneira
geral, considerados aqueles que realizam o corte propriamente dito, principalmente por
cisalhamento de uma poro do material da pea, ocasionado pelas grandes foras infringidas
contra ela pela ferramenta cortante. Todavia os processos no convencionais utilizam outras
tcnicas para dar forma pea, tradicionalmente fornecendo energia de maneira muito
concentrada ao corpo que est sendo usinado, mas com taxa de remoo de material muito
inferior, como, por exemplo, corte laser, eletroeroso, corte plasma [Souza, 2011].
Os processos de torneamento so definidos como sendo processos mecnicos de
usinagem, destinados a gerar superfcies de revoluo com auxlio de uma ou mais
ferramentas de monocortantes, sendo que tais ferramentas tm geometria definida (cunhas
cortantes com formato e tamanhos conhecidos) [Souza, 2011]. Pode-se ver uma representao
esquemtica de um processo de torneamento na Figura 1.1 para duas operaes de corte
externo distintas: faceamento e corte longitudinal.
Na Figura 1.1, ap indica a profundidade de corte, n indica o sentido de rotao da
pea e f indica a direo e o sentido de avano (movimento da ferramenta de corte,
respectivamente, perpendicular e paralelo ao eixo de rotao da pea).
Sempre que uma superfcie submetida a um processo de torneamento, a ferramenta
de corte deixa gravada nela uma marca, caracterizada por ser peridica e ter, em teoria, a
forma negativa (espelhada) da ferramenta que a gerou.
1
Avano o deslocamento da ferramenta de corte paralelamente ao eixo de rotao, em uma volta da pea
durante, a usinagem.
Profundidade de corte definida pela espessura da camada de material retirada da pea que est sendo usinada.
Figura 1.1: Esquema dos movimentos relativos entre a pea e a ferramenta [Sandvik, 2009]
A Figura 1.2 esquematiza como a rugosidade gerada em torneamento de forma
dependente do avano e da geometria da ferramenta de corte (raio de ponta).
(a)
(b)
Figura 1.2: Esquema do perfil terico de corte e da ferramenta responsvel pela gerao da
rugosidade [adaptado de Machado et al., 2009]
As ferramentas de corte alisadora (wiper) e convencional (standard) resultam em
superfcies com caractersticas microgeomtricas diferentes, como ilustra a Figura 1.3.
(a) wiper
(b) standard
Figura 1.3: Esquema do perfil de corte pela ferramenta: (a) alisadora; (b) convencional
[Grzesik e Zalisz, 2008]
Uma pastilha convencional tem raio de ponta nico, que pode variar de 0,1 a 2,4 mm.
Alm disso, a rugosidade est diretamente relacionada ao avano utilizado. O raio de ponta
em uma pastilha alisadora (wiper) tem sua construo utilizando de 3 a 9 raios diferentes. Isso
aumenta o comprimento de contato das pastilhas e o efeito das faixas de avano ou a
superfcie de um modo positivo [Sandvik, 2009].
A textura gerada no torneamento o que determina a rugosidade da superfcie.
Quando o processo de desbaste, a textura/rugosidade gerada pelo torneamento
grosseira, quando comparada superfcie gerada em processo de acabamento, pois os
movimentos de avano e profundidade de corte so maiores do que no acabamento. Isso se
deve ao fato de que, no desbaste, o objetivo , grosso modo, retirar material da pea, i.e.,
prepar-la para o processo de acabamento que, ao que tudo indica, vir logo aps; e na etapa
de acabamento, a meta deixar a superfcie com uma rugosidade o mais prximo possvel
da desejada e necessria para seu uso.
A rugosidade da superfcie usinada por torneamento o resultado, principalmente, da
velocidade e profundidade de corte e das caractersticas geomtricas da ferramenta. Contudo,
existem outros fatores que podem influir sobre a gerao de rugosidades, dentre eles:
deformaes plsticas, rupturas, recuperao elstica, gerao de calor, vibrao, tenses
residuais, reaes qumicas etc. [Benardos e Vosniakos, 2003].
A rugosidade um parmetro muito importante em processos de fabricao, pois
define quanto tempo de trabalho dever ser despendido com uma pea at que ela obtenha o
acabamento desejado. Normalmente, quando sua topografia muito acidentada, a superfcie
dita mais rugosa; e quando menos irregular, diz-se menos rugosa (ou mais lisa). Pode-se
observar na, Figura 1.4, como as diferentes influncias so consideradas, dada cada ordem
(tipo) de desvio que pode ocorrer.
Desvio de 1 Ordem
Desvio de 2 Ordem
Desvio de 3 Ordem
Desvio de 4 Ordem
Rugosidade da Superfcie
superfcie) da pea que est sendo usinada, isso seria til ao processo como um todo [Rehorn
et al., 2005], pois, o objetivo da fabricao conseguir a melhor relao custo/benefcio
[Klocke, 2011]. Por isso, desde o final dos anos 1970, tm-se buscado desenvolver sistemas
capazes de realizar tal monitoramento [Clarke e Thomas, 1979].
A investigao da topografia da pea pode ser feita usando-se medies in-situ5, ou
pode ser realizada aps a produo da pea, chamadas ex-situ6. Quando a obteno da
rugosidade realizada ex-situ, tem-se comumente o uso de apalpador (ou agulha) tecnologia
j consolidada nos meios acadmico e cientfico. Neste caso, preciso parar a mquinaferramenta para que a pea seja retirada dela. Assim, o apalpador percorre a superfcie
tocando a pea, determinando a rugosidade em funo das perturbaes geradas pela
topografia da pea usinada na agulha. J os mtodos in-situ no fazem uso de agulhas, mas de
sistemas pticos que empregam laser e so capazes de fornecer dados de rugosidade por
espalhamento ou adaptao focal. Alm disso, quando a medio realizada in-situ, a
medio mais rpida, evitando perda de tempo com reconfigurao da mquina e at, de
maneira eventual, recalibrao [Byrne et al., 1995].
Ambas as tcnicas (in-situ ou ex-situ) requerem certo grau de habilidade para os
devidos ajustes e interpretaes das informaes obtidas. Pensando nisso, realizou-se um
estudo sobre medio de rugosidade por mtodos que no utilizem contato fsico e que
possam ser implantadas em medidas in-situ e on-line7.
Com o passar dos anos, foram sugeridas e utilizadas diferentes tcnicas para medies
de rugosidades: capacitivas, resistivas, pneumticas, friccionais [Sherrington e Smith, 1988a].
Contudo, as que apresentaram melhores resultados so as que utilizaram luz (os chamados
mtodos pticos). Assim, direcionou-se este estudo para este tipo e, mais especificamente,
para mtodos que empregam laser. Diferentes pesquisadores conseguiram alcanar grande
xito em seus trabalhos. No entanto, os dispositivos usados por eles eram bastante complexos,
por fazerem uso de anlise de imagens, cmeras CCD, focalizao precisa do laser; todavia,
resultados prticos com acertos prximos a 90% foram encontrados [Kima et al., 2002, Lu,
2008; Persson, 2006, Tay et al,. 2003, Valliant et al., 2000, Wang et al, 2003].
Algumas formas de medio de rugosidade por meios pticos utilizam essencialmente
In-situ expresso latina que significa no lugar. Neste caso, tem significado referente anlise a ser realizada
no local em que a pea fora fabricada (sem retira-la da mquina operatriz).
Ex-situ expresso latina que significa fora do lugar. Neste caso, tem sentido contrrio expresso in-situ.
On line, neste caso, refere-se tomada de dados da determinada medio a ser realizada durante a fabricao da
pea que vai ou est sendo estudada.
a anlise do sinal que retorna ao detector aps a luz incidir na superfcie em estudo. Esta
anlise pode ser feita de diferentes formas, tais como o estudo de speckle8. Neste estudo,
segundo Persson, 2006, verificam-se as zonas claras e escuras (mximos e mnimos de
interferncia) da imagem preto-e-branco formada e o estudo do espalhamento difuso, causado
pela superfcie, em que se faz uso de um detector que abrange um grande ngulo da reflexo.
Uma maneira de medir a rugosidade utilizar o Modelo de Difrao de Fraunhofer;
entretanto, apenas aplicvel a rugosidades que sejam muito menores que o comprimento de
onda (), utilizado na medida [Tay et al., 2003]. A difrao , junto com a interferncia, um
fenmeno tipicamente ondulatrio, descrito, pela primeira, vez por Leonardo da Vinci (14521519) e, mais tarde, em publicao pstuma, por Francesco Maria Grimaldi (1618-1663) em
1665. De acordo com Christiaan Huygens (1629-1695), a difrao ocorre quando a frente de
onda encontra um obstculo que tenha tamanho aproximado do comprimento de onda; assim,
cada parte da frente de onda passa a se comportar como uma nova fonte que originar ondas
circulares distintas, que podem interferir umas com as outras [Born e Wolf, 1980].
Segundo Thurn e Brodmann, 1986, as principais motivaes para a utilizao de
medidas pticas de superfcie so robustez, velocidade (tempo de reao baixo), preciso e
alta capacidade de adaptao a diferentes tipos de peas, geometrias, ambientes e situaes.
Tomando-se isso como referncia, prope-se o estudo de um sistema capaz de realizar
as mesmas medies de rugosidade com o uso de laser, porm sem os dispositivos de anlise
de imagem, cmeras CCD, softwares e controladores de foco. Sugere-se esse mtodo, uma
vez que adequado para superfcies torneadas, brunidas, lapidadas, retificadas e polidas [Kim
et al., 2002; Wang et al., 2003]. Alm disso, o laser apresenta comprimento de onda definido
por uma banda de frequncias (tanto mais monocromtica quanto mais estreita a banda),
maior facilidade em ter sua intensidade constante e , geralmente, colimado. Geralmente, a
medio da rugosidade com o uso do laser com = 660 nm a mais aplicada, pois permite
fazer medidas de superfcies com rugosidades entre 5 e 500 nm [Valliant et al., 2000].
Pelo fato de a proposta tratar de equipamento de teste mais simples que seus
antecessores pretende-se analisar o sinal laser (com detectores semicondutores antigamente
chamados de detectores de estado slido) visando diferenciar padres de rugosidade. E dessa
forma, classific-los para que, consequentemente, seja possvel reduzir o tempo de medio
de superfcies (anteriormente realizado com dispositivo mecnico tctil).
Speckle: um fenmeno ptico que causa a formao de imagem com diversos pontos claros e escuros
causados por interferncia entre as frentes de onda de uma fonte de luz coerente refletidas em uma superfcie.
1.1 Objetivos
1.1.1 Geral
Promover a deteco mais rpida de rugosidades, atravs da concepo de um
equipamento capaz de identificar diferentes padres de textura, a partir de reflexo de laser
incidido sobre a superfcie gerada por torneamento.
1.1.2 Especficos
Estudar as tcnicas envolvidas com medida de rugosidade com e sem contato, com
especial nfase nos mtodos de medio sem contato que utilizam laser nas medies.
Desenvolver um dispositivo, ao longo do processo, de estudo para que os testes e as
medidas sejam efetuados.
Medir os sinais laser refletidos pela superfcie em estudo, visando gerar uma funo
capaz de traduzir este sinal (medido em volts) em um parmetro de rugosidade conhecido.
1.2 Justificativa
Assim como o rugosmetro de agulha, as tcnicas de perfilometria por contato e o
AFM no so possveis de serem utilizados in-situ. Alm disso, o mtodo de medio de
rugosidade proposto aplicvel em situaes de medidas em que a superfcie estudada esteja
em movimento (ou no). Outra vantagem no haver necessidade de contato, o que evidencia
a vantagem sobre mtodos que exijam parada do equipamento para a medio.
Com o sistema ptico de medio via reflexo de laser (que faz uso de detector de
menor custo que a cmera CCD e no precisa de anlise de imagens), espera-se poder realizar
medidas in-situ/on-line e, assim, efetuar uma varredura completa do perfil de rugosidade da
pea usinada.
RUGOSIDADE
O estudo do acabamento superficial torna-se importante nos casos em que se exige
uma exatido no ajuste entre peas unidas e naqueles em que padres dimensionais e de forma
devam ser satisfeitos para garantir a funcionalidade do conjunto.
Segundo Mesquita, 1992, o processo de usinagem realizado a fim de obter uma
superfcie que apresente fatores superficiais (textura) e subsuperficiais (integridade)
apropriados, com o propsito de garantir segurana, qualidade e longa vida ao item fabricado.
Quando analisadas em detalhes, as superfcies usinadas das peas exibem
irregularidades formadas por sulcos ou marcas deixadas pela ferramenta que atuou sobre tal
superfcie. De acordo com Machado et al., 2009, a rugosidade de uma superfcie composta
de irregularidades finas ou erros microgeomtricos, resultantes do processo de corte.
A rugosidade gerada na usinagem mais influenciada pelo processo que pela
mquina. Conforme Machado et al., 2009, os fatores que podem contribuir com a rugosidade
gerada so marcas da quina da ferramenta ou de fragmentos dela, as quais podem apresentar
natureza peridica para alguns processos e aleatria para outros; gerao de rebarba do
material durante a operao de corte; restos de aresta postia de corte de uma ferramenta na
superfcie usinada; forma geomtrica do quebra-cavaco na quina da ferramenta.
Rugosidade uma medida da topografia da superfcie de interesse. Suas reentrncias,
salincias, riscos, buracos e ondulaes so de interesse da indstria em geral, pois ela que
classifica a superfcie, seu aspecto e caractersticas necessrias ao seu uso. Ou seja, a contar
deste valor de rugosidade que pode ser garantida a qualidade superficial da pea em questo.
Assim, usa-se essa classificao para assegurar a diminuio de atrito, proporcionar melhor
vedao ou acoplamento, e tambm quanto ao aspecto visual exigido pela superfcie tcnica.
Alm disso, a investigao da topografia da superfcie usinada , neste caso, fator que pode
fornecer indiretamente importante indicativo de desgaste da ferramenta de corte, com se pode
ver em Dagnall9 apud Sherrington e Smith, 1988a,b.
No Brasil, a rugosidade normatizada pela ABNT/NBR ISO 4287:2002.
A rugosidade medida de acordo com a quantidade de picos e vales apresentadas pela
superfci. Se esses picos e vales tm grandes desvios na profundidade e altura em relao
superfcie mdia, ela considerada rugosa; se tm poucos desvios, considerada lisa.
Dagnall, H., 1980, Exploring Surface Texture, Rank Taylor Hobson, Leicester, 170p.
10
(a)
(b)
Figura 2.1: Croqui de superfcies: (a) geomtrica; (b) real [ABNT/NBR ISO 4287:2002]
A superfcie efetiva aquela obtida pelo instrumento de medio. Quanto maior for a
qualidade do sistema de medio, mais ela se aproxima da superfcie real.
A rugosidade da superfcie pode ser afetada por fatores inerentes superfcie e/ou
decorrentes do processo de fabricao, tais como ondulao na superfcie e defeitos na forma
(planicidade), conforme mostra a Figura 2.2.
Figura 2.2: Diagrama dos elementos que influenciam no perfil da superfcie. [Rosa, 2004]
11
Figura 2.3: Distncias de pico e de vale e representao da linha mdia para um dado
comprimento de avaliao [NBR ISO 4287:2002]
12
Ra
1
lm
Z (x)
i
dx
(2.1)
Ra
1000 f 2
18 3 r
-2,12
r
R a = 0,520 + 3,56
f
(2.2)
(2.3)
1
Rq
Zi2 (x) dx
lm 0
(2.4)
O parmetro Rt, denominado altura total do perfil, uma medida mais simples e no
exige clculos. Rt representa a maior distncia de pico a vale em cada comprimento de
amostragem10 i, dentro do comprimento de avaliao. Tomando como exemplo a Figura
2.3, o parmetro Rt seria igual a Zt3 = Zp3 + Zv3, por ser o maior dentre todos os Zti. Este
parmetro comumente usado para analisar a rugosidade de superfcies de vedao, assentos
10
13
14
De 0 at 0,1
0,25
0,80
2,50
8,00
Figura 2.4: Faixa de valores de rugosidade mdia para diferentes processos de fabricao por
usinagem [Souza, 2011].
15
As fontes de erros de medio, nesses casos (por contato com uso de apalpador), so:
11
Beckmann, P.; Spizzichino, A., 1963, The Scattering of Electromagnetic Wave from Rough Surfaces,
Pergamon, Oxford, pp. 69.
16
relao com variaes de textura da pea em anlise. O dimetro do ponto de laser foi fixado
em 200 m e = 623 nm. O detector permanecia fixo, posicionado a um angulo transversal
igual a 30 e a captao de pontos tinha frequncia mxima de 5 kHz.
Ento, um mtodo que poderia ser realizado mais rapidamente foi proposto por Yanagi
et al., 1986. A contribuio dele foi observar que a pea, na qual se fazia a medida, deveria
estar, por completo, livre de impurezas, pois a sujeira aumentaria o espalhamento na
superfcie, degradando o sinal, em um indicativo de que o mtodo bastante sensvel.
Medidas da rugosidade com maior rapidez e preciso foram estabelecidas por Thurn e
Brodmann, 1986. Em seu sistema, uma fonte de luz (diodo IR) era projetada na superfcie da
amostra. A luz refletida e espalhada da superfcie era direcionada a um detector atravs de
lentes e divisor de feixe. Aps, o sinal dos detectores era digitalizado e, em sequncia,
processado no microcomputador. Eles ressaltaram que o procedimento proposto era capaz de
fornecer, indiretamente, informaes a respeito da ferramenta de corte e que ainda poderia ser
realizado in-situ e on-line.
O mtodo de medio de Osanna et al., 1988, diferencia-se dos anteriores, j que seu
sistema foi desenvolvido com componentes comerciais de baixo custo. Tambm obtinham o
sinal proveniente do laser, mas no diretamente do laser refletido, e sim do sinal fornecido
pelo ajuste focal do laser sobre a superfcie, como mostra a Figura 2.5. O sistema proposto foi
testado, comparativamente, com rugosmetro por contato e os resultados foram satisfatrios.
17
Figura 2.6: Intensidade relativa (%) vs. ngulo de reflexo () [adaptado de Yim e Kim, 1990]
Considerando que o acabamento muito importante na engenharia moderna, Kiely et
al., 1992, propuseram um sistema de monitoramento ptico capaz de realizar medies mais
rpidas e exatas que os mtodos anteriores. Apresentaram um modelo comercial para obter
valores de rugosidade, baseado em ptica geomtrica, enfatizando que tal dispositivo no
destrutivo e/ou invasivo, sendo capaz de varrer toda a superfcie da amostra sem contato.
Mattsson e Wagberg, 1993, propuseram tambm a utilizao de itens/peas comerciais
18
19
produzir um padro caracterstico, como mostra a Figura 2.7. Esta proposta mostrou a
vantagem de no sofrer a interferncia da luz ambiente durante as mensuraes, pois h o
procedimento de subtrair o sinal resultante da luz ambiente do sinal da medio.
Figura 2.7: Padro de imagem conforme direo das ranhuras [adaptado de Kim et al., 2002].
Baseado na medio da quantidade de luz espalhada, Wang et al., 2003,
desenvolveram o mtodo de mensurao laser de rugosidade, usando = 780 nm. O leque de
luz espalhada foi coletado por um arranjo de detectores, dispostos em um ngulo ao redor do
centro da reflexo especular, como ilustra o esquema da Figura 2.8.
20
foi muito eficiente em distinguir a diferena entre rugosidade e microtrincas e/ou defeitos.
Tay et al., 2003, propuseram um sistema laser in-situ que capturava a luz espalhada
pela amostragem de rugosidade de uma pea em um ngulo de abertura de 28 (com centro na
reflexo especular). Os autores apresentaram uma anlise do padro de espalhamento
produzido e tambm uma discusso especfica sobre o desenvolvimento da ponteira, a fim de
evitar o efeito do fluido lubrirrefrigerante e torn-la mais robusta. De acordo com os autores,
os seguintes fatores devem ser levados em considerao no desenvolvimento do dispositivo:
a luz espalhada deve ser captada em um ngulo grande (23 em torno do ponto central);
o sistema deve ter uma pequena razo entre o dimetro do feixe (d) e o dimetro da pea
medida (D) (isto , d/D). Isso garante o efeito da curvatura da superfcie seja minimizado;
funo de quebra de ferramentas fica em torno de 6,8%. No entanto, Najafi e Hakim, 1992,
afirmaram que processos de monitoramento in-situ so capazes de melhorar esse nmero. A
previsibilidade facilitada no torneamento, porque a ferramenta est sempre posicionada de
forma perpendicular ao corte e monitoramento. Alm de melhorar as estatsticas em relao
quebra, as medies in-situ tambm otimizariam o tempo do processo de 10 a 50%.
Para descrever o seu mtodo de medio de rugosidade, Persson, 2006, criou o termo
Correlao Angular Speckle (ASC Angular Speckle Correlation) que estabelece a relao
entre a topografia e a rugosidade RMS (Rq) . Seus procedimentos so semelhantes aos de
outros autores [Kima et al., 2002; Tay et al., 2003; Valliant et al., 2000; Wang et al., 2003] j
que, todos utilizam a medida do espalhamento para inferir sobre a rugosidade.
O speckle produzido por uma pea rugosa foi relacionado com a rugosidade por
Dhanasekar et al., 2008. Enfatizaram a problemtica de mtodos por contato para medio de
rugosidade e exaltaram a robustez e a rapidez das medies com laser. O mtodo proposto
convertia o sinal de speckle do detector em imagem preto e branco, contabilizava a quantidade
de pontos luminosos e no luminosos, encontrando a correlao com a rugosidade.
Com uma viso mais abrangente, Weckenmann et al., 2009, propuseram a utilizao
de vrios sensores. Assim, podia-se obter uma viso mais ampla a respeito da amostra e, com
a superposio das informaes, montar somente uma resposta. Tendo diferentes fontes,
aumenta-se a confiabilidade do sistema, uma vez que os resultados se completam e
corroboram seus resultados. Um dos mtodos utilizado para caracterizar as peas o laser
empregando o speckle para obter o sinal, como descrito por Dhanasekar et al., 2008.
21
Figura 2.9: Princpio de medio da luz espalhada [adaptado de Thurn e Brodmann, 1986].
Como se pode ver nas Figura 2.10 e Figura 2.11, o espalhamento da luz capaz de
gerar diferentes respostas e formas de sinal. Isso capacitou G. Thurn e R. Brodmann ao
desenvolvimento de novos dispositivos de medio.
Na Figura 2.10, tem-se: em (a) o esquema do aparato experimental em que ocorre o
espalhamento; em (b), v-se o espalhamento que foi gerado em uma superfcie cilndrica
torneada, resultando em um padro peridico de rugosidade que ocasiona um padro de
reflexo caracterstico; em (c), pode-se observar uma superfcie gerada por laminao v-se
que no h presena de padro peridico em seu relevo, o que resulta em uma reflexo de luz
sem padro caracterstico (gerou apenas um borro cujo centro tem intensidade mxima de
luz, que diminui medida que se afasta deste).
22
Figura 2.10: (a) princpio do mtodo de espalhamento de luz; (b) micrografia de superfcie
usinada em torno cilndrico e superfcie laminada a frio; (c) padro de espalhamento para
superfcie laminada a frio [adaptado de Thurn e Brodmann, 1986].
Na Figura 2.11, tm-se duas superfcies com rugosidades virtualmente iguais que
produziram efeitos distintos quando medidos com laser. No caso, a superfcie a, detentora
de maior amplitude entre picos e vales, provoca uma reflexo com menor espalhamento do
que a superfcie b, com amplitude menor entre picos e vales.
23
bastante uniforme. Sendo assim, a reflexo de um feixe laser tem direo e comportamento
bem conhecido [Paiva, 2004]. Entretanto, quando a reflexo da luz acontece em superfcies
reais, ocorre uma distoro da luz refletida, em funo da superfcie real apresentar
irregularidades quando comparada com a ideal.
A perturbao causada pela superfcie real est, diretamente, ligada s caractersticas
da superfcie em si. Cada pequena distoro pode ocasionar diferentes tipos de perturbaes.
Logo, superfcies geradas em situaes diferentes, com parmetros distintos no processo de
preparao, tendo rugosidades diferentes (ou semelhantes), causam efeitos desiguais na luz
refletida (vide Figura 2.10).
Com a inteno de desenvolver uma nova abordagem para a anlise de rugosidade de
uma superfcie usinada via mtodo de medio a laser, pretende-se, tomando como base o
resultado parcial da tcnica abordada por Yim e Kim, 1990, efetuar estudo para
desenvolvimento de tcnica capaz de caracterizar a rugosidade de uma superfcie gerada por
torneamento horizontal com base na luz laser a ser refletida por ela, fundamentando-se nos
trabalhos de Benardos e Vosniakos, 2003, Clarke e Thomas, 1979, Dagnall, 1980, Dhanasekar
et al., 2008, Kiely et al., 1992, Lu, 2008, Osanna et al., 1988, Sherrington e Smith, 1988a,
Sherrington e Smith, 1988b, Tay et al., 2003, Valliant et al., 2000, Wang et al., 2003. A
Figura 3.1 ilustra a configurao terica inicial do dispositivo.
24
amostra ento desviado, pelo divisor de feixe 2, e segue para o Det. 2. O sinal captado em
Det. 2 enviado ao lock-in, onde ser processado (ver item 4.2 na pgina n 28), para a
remoo de quaisquer rudos luminosos que, por ventura, possam estar presentes no local de
medio. Desta maneira, tem-se o sinal limpo, sendo possvel usar o equipamento em locais
em que seja necessria a iluminao para o operador das mquinas operatrizes.
Na proposta, ser utilizado apenas o ponto central, detectado com uma rea fixa, em
que acontecer, teoricamente, o mximo de sinal da reflexo (vide Figura 2.6). O mtodo
baseia-se no fato de superfcies rugosas provocarem maior espalhamento da luz que incide
sobre ela do que superfcies menos rugosas, ou a intensidade absoluta refletida varia
significativamente com a rugosidade da superfcie, [Heitmann, 1977]. Esta medio de
intensidade ser comparada com os dados de rugosidades conseguidos atravs do mtodo de
medio por contato (rugosmetro de agulha/apalpador).
Os diferentes nveis de sinal sero relacionados atravs de uma funo matemtica,
denominada funo de transferncia (FT). Definida a FT (relao entre o sinal laser medido e
os dados de rugosidade obtidos pelo rugosmetro), poder-se- inferir diretamente sobre o valor
da textura da pea dentro de certo intervalo de aceitao sem a necessidade de rugosmetro.
Como se espera realizar a monitorao de diferentes superfcies com distintos nveis de
rugosidade, refletividade e espalhamento, ser preciso gerar rugosidades diferentes.
Mtodos de medio a laser se adaptam, teoricamente, a processos in-situ de
torneamento, brunimento, lapidao, retificao e polimento [Kim et al., 2002], pois, segundo
Rehorn et al., 2005, a ferramenta estar parada (sem rotao) e quando transladada, faz isso
com muita firmeza e rigidez, proporcionando grande preciso no posicionamento do
dispositivo, condio necessria para medies de rugosidade a laser.
Na montagem do aparato para a realizao das medies, ser necessrio que se
possibilite que esse dispositivo seja capaz de:
12
Repetitividade , segundo Gonalves Jr e Sousa, 2008, a faixa de valores simtrica em torno do valor mdio,
dentro da qual o erro aleatrio de um sistema de medio esperado com certa probabilidade.
25
26
MATERIAIS E MTODOS
A Figura 4.1 mostra a foto, em viso geral, do sistema de medio desenvolvido com
A resoluo de equipamentos analgicos dada pelos valores da escala existentes entre duas marcas
sucessivas, e a resoluo, para esse sistema pode ser definida como 1/5 do valor da escala, pois se trata de
Sistema de Medio (SM) de boa qualidade (traos e ponteiros finos, etc.) [Gonalves Jr. e Sousa, 2008]
27
28
detectores (de referencia e sinal da amostra) de maneira intermitente. Isso feito para que os
sinais luminosos da sala, que no sejam provenientes do laser, sejam filtrados pelo lock-in.
29
(4.1)
onde:
Resp = resposta do gerador de funes
Vsin = amplitude do sinal
Wr = a frequncia do sinal
sin = fase do sinal
O lock-in gera seu prprio sinal de referncia, baseado na onda quadrada fornecida a
ele. Na Figura 4.4, a referncia externa, a referncia do lock-in e o sinal da amostra so
mostrados. A referncia interna fica dada pela Equao 4.2:
Rint Vl sen(Wl t ref )
(4.2)
onde:
Rint = referncia interna
Vl = amplitude de referncia
Wl = frequncia de referncia
ref = fase de referncia
O lock-in amplifica o sinal e multiplica pelo sinal referncia usando a PSD. A sada
PSD simplesmente o produto de duas ondas senoidais (Eq. 4.3).
Vpsd Vsin sen(Wr t sin ) Vl sen(Wl t ref )
1
1
Vpsd Vsin Vl cos Wr t Wl t sin ref Vsin Vl cos Wr t Wl t sin ref
2
2
(4.3)
A sada PSD dada por dois sinais AC: um da diferena de frequncias e o outro da
soma de frequncias. Ela passa por um filtro passa baixa e os sinais AC so removidos.
Porm se Wr = Wl, a componente da diferena de frequncias ser um sinal de corrente
contnua. Neste caso, o sinal da filtragem PSD ser dado pela Equao 4.4.
Vpsd
1
V sinVl cos(sin ref )
2
(4.4)
30
O lock-in utiliza o sinal proveniente da amostra e divide-o pelo sinal de referncia (no
caso, proveniente do mesmo feixe de laser, transformado em um intermitente) e integra em
um tempo especfico (geralmente da ordem de milissegundos at segundos) [Scofield, 1994;
Wolfson, 1991]. O equipamento ligado juntamente com o laser e o chopper e leva alguns
instantes para que localize a referncia e efetivamente inicie o processo de filtragem.
(a)
(b)
(c)
(d)
Figura 4.5: Fotos do posicionador de amostras: (a) porta amostra em sua totalidade; (b)
detalhe da mesa de apoio e do batente de posicionamento; (c) sistema de translao vertical;
(d) o sistema de translao horizontal
Durante todo o processo de medio (alinhamento, posicionamento, reposicionamento
e registros), um cuidado especial foi tomado quanto a no tocar na amostra com a mo nua
(sem luvas), o que poderia transferir a oleosidade da mo do operador para as amostras
fazendo com que fosse foco de acmulo de poeira (como citado por Yanagi et al., 1986) e
tambm funcionando com o facilitador de oxidao.
31
(a)
(b)
Figura 4.6: (a) vista superior de um nvel bolha; (b) esquadro combinado completo.
3) Foi examinado ento, atravs do posicionamento de um espelho plano na posio da
amostra, se o laser refletido estava de fato incidindo no detector da amostra; da mesma
maneira, verificou-se se o divisor de feixe do sinal referncia estava na posio adequada.
Uma vez realizados esses trs passos, as amostras poderiam ser mensuradas.
14
Esta verificao de horizontalidade era um verificao grosseira, para caso de ser necessrio algum tipo de
reposicionamentos ou reajuste em algum dos parafusos de fixao do porta amostra.
15
Esta checagem, em que era utilizando o ponto refletido, era a verificao fina do posicionamento.
32
33
7.0, LabFit Curve Fitting Software 7.2.48 [Silva, 2011] e Microsoft Excel. O ORIGINLab
7.0, permite realizar ajuste para funes determinadas, i.e., uma vez escolhida a equao, ele
procura o melhor ajuste usando o mtodo dos mnimos quadrados. O LabFit realiza uma
busca em sua coleo de aproximadamente 500 funes, de acordo com o nmero de
parmetros que se definem para a tentativa de ajuste, determinando-se a varivel dependente,
a varivel independente e a quantidade de parmetros. Assim, faz a busca, tambm utilizando
o mtodo dos mnimos quadrados. O Excel auxilia nos dados inseridos e nos clculos de
mdia de valores, verificaes a respeito da funo definida nos ajustes, entrada de dados e
manipulao de tabelas.
(a)
(b)
Figura 4.8: Rugosmetro Mitutoyo Surftest SJ-201: (a) padro de calibrao/aferio, a regio
marcada com P polida; a regio marcada com R rugosa; (b) equipamento de medio
34
(a)
(b)
Figura 4.9: Corpos de prova iniciais. (a) usinagem igual em todo seu comprimento (uma
amostra); (b) quatro amostras diferentes (quatro combinaes de parmetros de corte).
Dimenses em milmetros.
Como os corpos de prova disponveis so compostos de diferentes naturezas, realizarse-o testes a respeito de seu comportamento em relao ao comprimento de onda usado no
laser (ver seo 5.1). Os testes confirmaro se os aos SAE 1020, SAE 1045 e SAE 4140
35
apresentam ou no refletividade diferente, i.e., se algum deles absorve mais radiao (no
comprimento de onda do estudo) ou no.
Quando mais corpos de prova forem fabricados, procurar-se- manter constante o
mximo de parmetros possvel no experimento, fazendo com que eventuais divergncias nos
dados coletados possam ter sua causa mais facilmente identificada.
Para a etapa seguinte, fabricaram-se, a partir de CPs como os a Figura 4.9b, novos
corpos de prova que mantiveram a mesma forma, porm com dimetros reduzidos que
diminuram conforme os parmetros de corte usados. Utilizando o torno mecnico ROMI,
modelo I20, com vc= 110 m/min (n = 1000 rpm), os CPs denominados 1, 5 e 8 foram feitos
em ao SAE 1020, com ferramenta de corte convencional de pastilha triangular classe PF com
r = 0,8 mm, ap = 1 mm, variando apenas o avano (f = 0,042 a 0,229 mm/min); e os CPs 23 e
24 em ao SAE 4140, empregando pastilha da mesma geometria e classe, mas com raio de
ponta r = 0,4 mm, ap = 0,6 mm, variando tambm o avano (f = 0,042 a 0,250 m/min).
Antes de efetuar as medies do sinal refletido pelas amostras, os CPs foram faceados
para garantir uniformidade do posicionamento no dispositivo de medio laser. Tambm,
antes das mensuraes, ser aferida a potncia emitida pelo dispositivo laser, com o objetivo
de verificar se a potncia da iluminao, nas superfcies, permanecer constante em diferentes
dias e/ou no mesmo dia, em diferentes momentos.
Em etapa posterior, foi fabricado novo CP no torno mecnico ROMI modelo I20,
desta vez apenas em SAE 4140, como se pode ver na Figura 4.10. Chamado de CP4140, em
tarugo de ao SAE 4140, com uma srie de 12 amostras nele (A-L), fabricadas utilizando
ferramenta de corte alisadora de pastilha triangular classe WF com raio de ponta r = 0,4 mm,
velocidade de corte vc= 475 m/min (n = 2000 rpm), profundidade de corte ap = 1 mm,
variando apenas o avano f = 0,09 a 0,20 mm/volta. Para as amostras foram dados nomes
CP4140 (A-L).
Na ltima etapa, em que foi necessria a fabricao de mais um CP, agora no torno
CNC Mazak QTN 100-II, utilizou-se o CP4140 da etapa anterior, apenas empregando
ferramenta convencional de pastilha triangular classe PF com r = 0,4 mm, vc = 515 m/min, ap
= 1 mm, variando apenas f = 0,07 a 0,18 mm. As amostras receberam nomes anlogos a
CP4140 + avano (0,07 a 0,18).
A partir das medidas de intensidade do laser refletidas pelas amostras sero montadas
tabelas de relao entre as rugosidades (mensuradas com rugosmetro SJ-201) e as
refletividades (obtidas atravs da intensidade do sinal laser).
36
Ento, em decorrncia desta relao, procurar-se- a curva que melhor se ajusta aos
pontos obtidos de forma experimental. Desta maneira, ser possvel definir uma funo
(chamada funo de transferncia), permitindo determinar, empiricamente, a rugosidade da
superfcie usinada como funo do sinal laser captado.
Figura 4.10: CP4140 produzido com 13 amostras, feito em SAE4140. Valores em (mm).
37
EXPERIMENTAES
A rugosidade gerada na usinagem mais influenciada pelo processo do que pela
mquina [Machado et al., 2009]. Assim, nesta parte, sero apresentados os procedimentos
efetuados para a realizao dos testes e aquisio dos dados (intensidade laser refletida e
rugosidade Ra), bem como seus resultados, considerando amostras distintas de superfcies
torneadas obtidas em diferentes condies de corte. Para tanto, o captulo foi dividido em
quatro sees: (1) Testes Iniciais; (2) Testes com Ao SAE 1020 e SAE 4140; (3) Testes com
Ao SAE 4140 e Ferramenta Alisadora; (4) Testes com Ao SAE 4140 e Ferramenta
Convencional.
Medidas
3,657 mW
3,666 mW
3,662 mW
0,002154 mW
38
Testes anlogos com resultados equivalentes foram processados pelo menos a cada
trs etapas de medies do sinal laser nas amostras. A variao que se pde notar sempre se
manteve dentro da mesma faixa.
O clculo de incerteza da potncia de iluminao emitida pelo laser foi realizado pela
Equao 5.1 [Gonalves Jr. e Sousa, 2008], em que o intervalo de confiana de 95% foi
considerado16.
RM X
1,96.s
(5.1)
Dos dados da Tabela 5.1 e de acordo com a Equao 5.1, o resultado da incerteza da
medio foi de 0,00016 mW. Logo, como este valor calculado menor que a resoluo do
instrumento de medio (0,001 mW), o valor pde ser desprezado.
Como os corpos de prova haviam sido confeccionados com trs qualidades de aos
diferentes (SAE 1020, SAE 1045 e SAE 4140) (Tabela 5.2), foram fabricadas amostras com
cada um desses aos para a realizao de teste comparativo de refletividade total entre eles.
Tabela 5.2: Composio aproximada dos corpos de prova (em %)
Material
SAE 1020
SAE 1045
SAE 4140
C
0,20
0,45
0,40
Si
0,25
0,25
0,27
Mn
0,45
0,75
0,87
Smx
0,040
0,040
0,040
Pmx
0,040
0,040
0,040
Cr
0,95
Ni
-
Mo
0,20
16
A determinao do erro sistemtico dependia da utilizao de um valor verdadeiro convencional para se tomar
como referncia, e isto no foi possvel de se definir para a potncia de iluminao emitida. Assim,
consideraram-se apenas os efeitos aleatrios sobre o resultado da medio realizada com o wattmetro.
17
39
Figura 5.1: Amostras para medio de refletividade total para os aos: (a) SAE 1020; (b) SAE
1045; (c) SAE 4140
O processo de produo destas amostras foi semelhante ao processo de polimento para
anlise metalogrfica; o polimento foi realizado com lixas dgua aplicadas em sequncia, do
gro mais grosso ao mais fino, com lixa 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 e disco de polimento
com alumina em p como material abrasivo (porm, sem ataque qumico algum). O teste visa
fornecer informaes sobre o comportamento (reflexo/absoro) de superfcies planas em
relao a uma faixa do espectro de radiaes eletromagnticas. Neste caso, usou-se uma faixa
de comprimentos de onda dentro do visvel, que inclui o comprimento de onda do laser a ser
aplicado nas medidas de rugosidade ( = 633 nm). Na sequencia, realizou-se teste de
refletividade difusa total, nas dependncias do Laboratrio Laser da UFRGS, com o
espectrofotmetro Variant CARY5000 (Figura 5.2), com uso da esfera integradora, a fim de
identificar se havia ou no diferenas na refletividade entre eles (pois possuem composies
diferentes vide Tabela 5.2).
40
60
59,5
59,6
SAE1020
SAE1045
SAE4140
58
59,4
SAE1020
SAE1045
SAE4140
59,3
59,2
59,1
59,0
58,9
58,8
480
560
640
720
630
631
632
633
634
635
636
(a)
(b)
Figura 5.3: Teste comparativo de refletividade entre SAE4140, SAE1020 e SAE1045: (a)
espectro total de 500 at 700 nm; (b) detalhe no comprimento de onda usado (633 nm).
Durante os testes preliminares, obtiveram-se resultados promissores quando os pontos
que relacionavam a rugosidade (Ra) das amostras de Geier et al., 2010 foram plotados. Ao
medir o sinal refletido pela amostra, obteve-se o resultado mdio exposto na Tabela 5.3.
Tabela 5.3: Resumo dos dados de Rugosidade (Ra) medida com SJ-201 e sinal laser espalhado
Amostra
2
3
4
6
13
14
17b
17a
18d
18c
18b
19d
19c
19b
Ra
[m]
1,88
0,54
0,58
0,61
0,50
0,58
0,70
1,31
1,11
1,07
0,82
0,51
0,51
0,69
Sinal Laser
[V]
182,4
241,5
240,4
236,9
464,7
497,4
104,2
108,3
168,9
127,3
168,9
321,4
283,8
214,9
Amostra
19a
20d
20c
20b
20a
21d
21c
21b
21a
23d
23c
23b
23a
24d
Ra
[m]
1,04
0,37
0,54
0,77
1,29
0,31
0,96
2,52
4,07
0,35
0,90
2,14
3,81
0,69
Sinal Laser
[V]
172,7
259,8
274,5
350,1
181,2
126,9
129,2
73,8
66,4
155,0
124,8
99,6
118,8
190,6
A Figura 5.4 mostra a distribuio dos pontos da Tabela 5.3 no grfico da intensidade
do sinal laser SL em funo da rugosidade Ra. No grfico, nota-se claramente que h uma
tendncia reduo de intensidade do sinal laser SL [V] refletido pela superfcie quando h
o aumento da rugosidade Ra [m] da amostra.
41
Figura 5.4: Distribuio dos pontos no grfico da Rugosidade vs. Sinal laser espalhado
Estes novos corpos de prova foram produzidos nos mesmos tarugos de CPs anteriores, da o motivo de terem
nomenclatura semelhante. Apesar de terem nomes iguais, tm superfcies (amostras) diferentes.
19
Esses parmetros foram escolhidos baseados na recomendao do fabricante [Sandvik, 2009]. A profundidade
de corte (ap) foi escolhida como 0,6 mm e 1,0 mm para os diferentes raios de ponta (r) em funo da
qualidade do acabamento do corte geralmente ser prejudicado quando se utiliza a p r.
42
SAE 1020
r = 0,8 mm
ap = 1,0 mm
SAE 4140
r = 0,4 mm
ap = 0,6 mm
Amostra
CP01A
CP01B
CP01C
CP01D
CP05A
CP05B
CP05C
CP05D
CP08A
CP08B
CP08C
CP08D
CP23A
CP23B
CP23C
CP23D
CP24A
CP24B
CP24C
CP24D
Avano f
[mm/volta]
0,042
0,047
0,057
0,068
0,073
0,094
0,104
0,119
0,135
0,166
0,187
0,229
0,042
0,047
0,057
0,068
0,166
0,187
0,229
0,250
0,54
0,45
0,65
0,61
0,59
0,67
0,76
0,84
1,01
1,34
1,63
2,16
1,21
1,16
1,61
1,59
0,92
1,04
1,29
1,55
Sinal Laser
s [V]
205,6
125,9
170,7
210,5
191,8
387,8
211,4
165,8
182,9
181,0
181,8
137,0
40,3
44,9
34,4
30,5
92,7
126,0
95,3
99,0
61,1
20,3
45,3
45,4
36,1
93,2
45,7
43,7
20,9
14,7
16,2
9,9
5,3
6,2
3,4
2,4
16,4
16,4
10,2
16,2
Nota-se na Tabela 5.4 que h uma discrepncia entre Ra medido e Ra estimado, apesar
dos CPs 1, 5, 8, 23, 24 tambm mostrarem uma tendncia diminuio do sinal laser com o
aumento da rugosidade (ver Figura 5.5), pois a Eq. 2.2 foi desenvolvida para os parmetros de
melhor rendimento das ferramentas de corte e estas amostras foram fabricadas fora destes
parmetros de otimizao. As amostras foram fabricadas simplesmente para que houvesse
diferentes texturas entre elas, por isso desta esta diferena na estimao pela Eq. 2.2.
Com as amostras da Tabela 5.4 foi possvel traar o grfico dos pontos que relacionam
43
Figura 5.5: Rugosidade efetiva vs. Sinal laser (as barras de erros representam o desvio padro
de cada um dos pontos)
Por se tratar de dados de variveis aleatrias (que segundo Gonalves Jr e Sousa,
2008, so aquelas cujo valor no pode ser previsto exatamente, mas apenas por termos de
probabilidade) foi quantificada a interdependncia da varivel sinal laser em funo da
rugosidade atravs de seu ndice de correlao R(x,y). Este ndice, definido para variveis
aleatrias, indica a forma da dependncia de uma varivel x em relao outra y. Elas so to
mais dependentes uma da outra quanto maior for o mdulo de R. Este ndice R classificado
por um nmero compreendido entre 1 e +1 e calculado pela Equao 5.2. O ndice R = 1
indica uma correlao inversa perfeita; R = 0 indica correlao inexistente; e R = +1 uma
correlao direta perfeita. Quando |R| > 0,8 razovel considerar relao plena e se |R| < 0,2
considera-se total falta de correlao [Gonalves Jr e Sousa, 2008].
n
(x
R(x, y) =
x)(yi y)
i=1
(x
i=1
(5.2)
x) . (yi y)
2
i=1
44
Procurou-se ento obter a relao entre o sinal laser SL [V] com o valor conhecido
de Ra [m] medido com SJ-201 atravs do melhor ajuste (utilizando o software ORIGINLab,
que faz uso da tcnica de mnimos quadrados).
A partir dos dados da Tabela 5.4 foram traados duas linhas, como se pode notar no
grfico da Figura 5.6. Entretanto, a curva de menor ndice de correlao (R2 = 0,20) fornece
uma resposta mais prxima da esperada (como observado nos Testes Iniciais), pois para
rugosidades abaixo de aproximadamente 0,3 m, o perfil indica diminuio do sinal laser
enquanto que a curva de maior ndice tem comportamento contrrio ao esperado na teoria. A
curva de melhor ajuste para esses dados ficou com ndice de correlao igual a R = 51,7%.
Esta funo representada pela Equao 5.3 (Situao 1).
SL1 = K1 e
W1
Ra
(5.3)
Tomando por base a curva representada pela Equao 5.3, far-se- um estudo da
aproximao matemtica que os pontos experimentais da Tabela 5.4 tm da curva definida
pelo melhor ajuste. Primeiramente, utilizando o conceito de distncia de Cooks, sero
45
retirados de pontos que esto distantes da curva em mais de 20% [Montgomery et al., 2010].
Em seguida, substituem-se os pontos que tiveram seus valores excessivamente fora da curva
pelos valores tericos determinados pela Equao 2.2, pois as condies de corte para a
produo dessas amostras no estavam dentro dos parmetros recomendados pelo fabricante
da ferramenta. Isto levar a uma nova coleo de pontos que dever fornecer uma nova curva
de ajuste com coeficiente de correlao mais elevado. A Figura 5.7 ilustra esta anlise.
Figura 5.7: Rugosidade Ra vs Sinal Laser dos corpos de prova 1, 5, 8, 23, 24.
Com a retirada dos pontos divergentes, a Figura 5.8 fornece os pontos necessrios para
a definio do melhor ajuste de uma funo a tais pontos. Assim, define-se a curva da nova
funo (Situao 2) que relaciona a Rugosidade (Ra prtico) com o Sinal Laser (experimental)
para um ndice de correlao R = 80%.
A Figura 5.9 tem a funo representada pela Equao 5.4:
SL2 = K 2 e
W2
Ra
(5.4)
A Figura 5.10 mostra a representao grfica da FT1 (Equao 5.5) que foi gerada a
partir da Equao 5.4 que forneceu o melhor ajuste. As linhas mais tnues mostram
aproximao de 20%, juntamente com os dados experimentais que a originaram (Tabela 5.4).
46
Esta curva apresenta coeficiente de correlao R = 80% o que, segundo Gonalves Jr e Sousa,
2008, indica correlao plena. Observa-se uma tendncia de decaimento do sinal laser com o
aumento da rugosidade. Contudo, os dados apresentam variaes muito grandes para uma
curva que deveria ter tanto menos sinal refletido quanto maior fosse a rugosidade da amostra
[Heitmann, 1977; Persson, 1996].
47
Figura 5.10: Grfico que expressa a FT, juntamente com os pontos experimentais
A FT1 (Equao 5.5) foi gerada a partir da Equao 5.4.
Ra
0,45
SL
ln
93,4
(5.5)
Numa inspeo rpida dos resultados obtidos, pode-se observar que a FT1, gerada
atravs de superfcies que foram fabricadas com ferramenta convencional, possivelmente no
se aplica s superfcies das amostras de Geier et al., 2010. Nesta comparao no se pode
concluir a respeito do desempenho da FT1.
Eficincia reside basicamente em fazer as coisas da melhor maneira possvel (resolver problemas), enquanto
que eficcia consiste em fazer as coisas que so importantes para os resultados (alcanar o objetivo).
48
Tabela 5.5: Erro relativo na estimao da rugosidade Ra com FT1 para os Testes Iniciais
Amostra
Sinal Laser
[V]
Ra (efetivo)
[m]
Ra (calculado
com FT1) [m]
Erro
Relativo [%]
2
3
4
6
13
14
17a
17b
18b
18c
18d
19a
19b
19c
19d
20a
20b
20c
20d
21a
21b
21c
21d
23a
23b
23c
23d
24d
182,4
241,5
240,4
236,9
464,7
497,4
108,3
104,2
168,9
127,3
168,9
172,7
214,9
283,8
321,4
181,2
350,1
274,5
259,8
66,4
73,8
129,2
126,9
118,8
99,6
124,8
155
190,6
1,88
0,54
0,58
0,61
0,50
0,58
1,31
0,70
0,82
1,07
1,11
1,04
0,69
0,51
0,51
1,29
0,77
0,54
0,37
4,07
2,52
0,96
0,31
3,81
2,14
0,9
0,35
0,69
0,672
0,474
0,476
0,484
0,280
0,269
3,042
4,117
0,760
1,454
0,760
0,732
0,540
0,405
0,364
0,679
0,341
0,417
0,440
-1,318
-1,910
1,387
1,469
1,872
7,013
1,553
0,889
-0,283
64,2
12,3
17,9
20,7
43,9
53,6
>100
>100
7,3
35,9
31,6
29,6
21,7
20,6
28,6
47,4
55,8
22,7
18,9
>100
>100
44,5
>100
50,9
>100
72,6
>100
64,2
49
por Mello et al., 2012, para determinar a rugosidade Ra terica de superfcies usinadas por
ferramentas wiper) e os dados de sinal laser (mdia e desvio padro de 40 pontos coletados
em cada amostra) das 12 amostras do CP4140.
Tabela 5.6: Valores efetivos do sinal laser e dos valores de rugosidade calculados e medidos.
Amostra
CP4140
Ra medido
SJ-201 [m]
Ra estimado
Eq. 2.3 [m]
Sinal Laser
X [V]
Sinal Laser
s [V]
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
1,94
1,45
1,31
1,00
0,81
0,82
0,87
0,90
0,90
1,63
1,09
1,11
0,67
0,71
0,75
0,80
0,85
0,90
0,97
1,03
1,10
1,18
1,25
1,34
369,5
124,1
229,4
158,5
172,8
196,5
194,8
213,0
297,9
295,2
358,2
240,4
24,8
10,5
32,8
10,1
11,7
13,0
40,9
11,3
13,2
20,3
19,8
13,3
Ao observar a Figura 5.11 (grfico que representa os dados da Tabela 5.6 e o grfico
da funo de transferncia FT1), nota-se que a Equao 5.5 no hbil para prever a
rugosidade de uma amostra usinada com ferramenta wiper atravs do sinal laser refletido por
ela, pois a funo FT1 foi desenvolvida a partir da usinagem com ferramenta convencional.
Foi ento iniciada uma nova etapa de produo de amostras como se v no item subsequente.
Figura 5.11: Grfico de FT1 e pontos experimentais de Ra vs. Sinal laser, CP4140
50
Ra medido
SJ-201 [m]
Ra estimado
Eq. 2.2 [m]
Sinal Laser
X [V]
Sinal Laser
s [V]
0,07
0,08
0,09
0,10
0,11
0,12
0,13
0,14
0,15
0,16
0,17
1,01
0,95
1,05
1,18
1,42
1,59
1,79
2,02
2,35
2,72
3,15
3,48
0,51
0,84
0,65
0,52
1,14
1,44
1,19
0,92
0,91
0,79
1,06
1,02
228,5
146,8
189,4
225,1
98,3
64,7
90,9
132,0
132,5
156,6
108,6
114,7
1,8
9,5
1,0
1,5
6,7
6,8
12,5
11,0
20,2
28,3
10,2
11,8
0,18
51
Figura 5.12: Grfico de rugosidade Ra vs. sinal laser SL das amostras CP 4140 (0,07-0,18)
com trs pontos com desvio padro menor que a marca do ponto
Analogamente ao procedimento utilizado para determinao da FT1, procedeu-se a
comparao dos pontos experimentais (Figura 5.12) com a curva gerada pela Equao 5.5 de
modo a identificar os pontos distantes mais de 20%. A Figura 5.13 representa esta situao.
Figura 5.13: Curva de melhor ajuste referente aos pontos da amostra CP4140 (0,07-0,18) com
dados experimentais
A partir dos dados prticos, define-se a curva da funo (Situao 3) que relaciona a
Rugosidade (Ra) com o Sinal Laser para um ndice de correlao R = 57% (Equao 5.6).
52
SL3 = K 3 e
W3
Ra
(5.6)
SL4 = K 4 e
W4
Ra
(5.7)
Figura 5.14: Pontos de rugosidade corrigido vs. sinal laser, do CP4140 (0,07-0,18) com trs
pontos com desvio padro menor que a marca do ponto
53
A Figura 5.15 mostra o melhor ajuste da curva da Figura 5.14. Com ele determinou-se
a funo de transferncia FT2 (Equao 5.8).
Figura 5.15: Curva FT2 e pontos da amostra CP4140 (0,07-0,18) com dados da Tabela 5.7
Ra
0,308
SL
ln
106,3
(5.8)
54
Ra medido
SJ-201 [m]
Ra estimado
Eq. 5.5 [m]
Erro
[%]
0,07
0,08
0,09
0,10
0,11
0,12
0,13
0,14
0,15
0,16
0,17
1,01
0,95
1,05
1,18
1,42
1,59
1,79
2,02
2,35
2,72
3,15
3,48
0,50
1,00
0,64
0,51
8,82
N/A
N/A
1,30
1,29
0,87
2,99
2,19
50,7
5,0
39,3
56,9
>100
----35,5
45,2
68,0
5,0
37,1
0,18
Amostra
Ra medido
SJ-201
[m]
Ra estimado
Eq. 5.8
[m]
Erro
[%]
CP01A
CP01B
CP01C
CP01D
CP05A
CP05B
CP05C
CP05D
CP08A
CP08B
CP08C
CP08D
0,54
0,45
0,65
0,61
0,59
0,67
0,76
0,84
1,01
1,34
1,63
2,16
0,43
1,32
0,57
0,41
0,47
0,23
0,41
0,61
0,51
0,52
0,51
0,97
20,4
>100
12,3
32,8
20,3
65,7
46,1
27,4
49,5
61,2
68,7
55,1
Amostra
Ra medido
SJ-201
[m]
Ra estimado
Eq. 5.8
[m]
Erro
[%]
CP23A
CP23B
CP23C
CP23D
CP24A
CP24B
CP24C
CP24D
1,21
1,16
1,61
1,59
0,92
1,04
1,29
1,55
N/A
N/A
N/A
N/A
N/A
1,31
N/A
N/A
----------26,0
-----
55
A Tabela 5.10 mostra os valores reais e estimados com FT2 (Equao 5.8) para o
CP4140(0,07-0,18). Pode-se observar que, mesmo considerando uma incerteza nas funes de
transferncia de 20%, a funo FT2 obteve acerto em apenas 2 dos 12 pontos ou 16,6%.
Tabela 5.10: Uso das FT2 para previso de rugosidades de CP4140(0,07-0,18)
Amostra
CP4140
Ra medido
SJ-201 [m]
Ra estimado
Eq. 5.8 [m]
Erro
[%]
0,07
0,08
0,09
0,10
0,11
0,12
0,13
0,14
0,15
0,16
0,17
1,01
0,95
1,05
1,18
1,42
1,59
1,79
2,02
2,35
2,72
3,15
3,48
0,37
0,80
0,48
0,38
N/A
N/A
N/A
1,10
1,08
0,68
3,54
2,18
63,5
16,0
54,5
67,9
------45,4
54,1
75,0
12,5
37,4
0,18
56
57
r 2h cos
(6.1)
58
A diferena de fase causada pela diferena de caminho definida pela Equao 6.2.
2r
(6.2)
59
Figura 6.3: Imagem feita em MEV da superfcie da amostra CP8D: (a) estrias com
espaamento igual ao avano, (b) estriamento muito menor que o avano
A Figura 6.4 nos mostra a superfcie da amostra CP5B com a sequncia de
magnificao utilizada. O maior aumento (2000x) deixa claro que as estruturas de rugosidade
das superfcies podem ocasionar os processos descritos acima, como as interferncias:
destrutiva e ELA. Tambm se podem ver rebarbas, fatores mecnicos (trincas por
temperatura), microtrincas, recristalizaes (fatores metalrgicos).
60
(a) 25x
(b) 50x
(d) 500x
(c) 100x
(e) 2000x
Figura 6.4: Imagem feita em MEV da superfcie da amostra CP5B com sequncia de
magnificao: (a) 25x; (b) 50x; (c) 100x; (d) 500x; (e) 2000x
As microtrincas (estruturas muito comuns ao longo de toda a superfcie usinada)
podem ser notadas na Figura 6.5, entretanto s podem ser notadas com este nvel de
magnificao. Nota-se que so muito semelhantes a rachaduras causadas por ressecamento,
mas este processo foi causado provavelmente por temperatura.
(a) 500x
(b) 2000x
(c) 4500x
Figura 6.5: Imagem MEV da superfcie da amostra CP8A com microtrincas com sequncia de
magnificao: (a) 500x; (b) 2000x; (c) 4500x
Na Figura 6.6 pode-se notar que a estrutura tem pequenos pontos brancos de
material desconhecido encravados na superfcie. Contudo, estas partculas podem aumentar o
espalhamento. Entretanto, no pode causar o efeito ELA, pois o livre caminho mdio
existente entre os pontos no da ordem do comprimento de onda, condio necessria para a
61
(a) 25x
(b) 50x
(c) 100x
(d) 500x
(e) 2000x
(f) 4500x
Figura 6.6: Imagem MEV da superfcie da amostra CP1B com detalhe para as estruturas
esferoidais: (a) 25x; (b) 50x; (c) 100x; (d) 500 x; (e) 2000x; (f) 4500x
Como existem vrias fontes capazes de, individualmente ou em grupo, causarem os
efeitos de sinal anmalo constatado nas medidas, fica-se impossibilitado de determinar qual
(ou quais) efeito(s) tem maior resultado sobre o sinal. Assim, a fonte de incerteza muito
difcil de ser determinada, e admissvel inferir sobre todas as fontes de incerteza a
dificuldade de se obter um sinal refletido bem comportado.
A Figura 6.7 mostra microsulcos na ferramenta. Este desgaste na ferramenta pode,
com certeza, resultar em sulcos na pea, como os vistos na Figura 6.3b. Alm disso, existem
vrios sulcos em distncia capaz de gerar um efeito de grade de difrao. Grzesik e Zalisz,
2008, mostram que acontecem formaes de arrestas postias na ferramenta de corte com
aproximadamente 500 nm (dimenses prximas de = 633 nm utilizado). Isso pode ocasionar
diminuio da qualidade do corte e ocasionando micro sulcos na superfcie e fazer com que a
superfcie transforme-se em uma grade de difrao que tem efeito no nulo no feixe laser
refletido. A constatao matemtica pode ser vista na anlise da Equao 6.3 [Palmer, 2005].
62
m sen 1
sen i
d
(6.3)
Tomando como exemplo a imagem de Figura 6.7 e presumindo que acontea algum
tipo de efeito de grade na superfcie da amostra e utilizando os dados da imagem (com menor
espaamento entre as ranhuras) de todo o trabalho para mensurar isto, tem-se que:
63
CONCLUSES
Tendo em vista a bibliografia consultada que relata a real necessidade de medies de
rugosidade mais rpidas, entende-se que o objetivo do trabalho bastante relevante. Contudo,
durante a realizao da pesquisa, notou-se que a dificuldade de realizar medies de
rugosidade baseando-se em reflexo laser bastante grande quando apenas se considera a
intensidade do sinal refletido na direo normal.
As dificuldades apresentaram-se na fase de tomada de dados, onde efetivamente o
sinal refletido do laser foi captado. Isto aconteceu, pois nos trabalhos da literatura revisada a
respeito de medies de rugosidade com laser, em nenhum momento foi mencionado que
estas dificuldades se apresentaram em suas pesquisas.
Os resultados apresentaram duas tentativas de se encontrar uma funo de
transferncia (FT) que correspondesse uma intensidade do sinal laser SL [V] rugosidade
mdia Ra [m] gerada por torneamento. Testes comparativos das duas FTs foram feitos. Os
resultados de Ra estimados por FT1 e FT2 mostraram que necessrio (como o fizeram os
pesquisadores consultados) maior detalhamento na anlise de SL e no somente o registro da
intensidade. Contudo, em funo de a proposta de dissertao ser especfica para o estudo de
uma metodologia, no se deu continuidade concepo de tais dispositivos que
possibilitassem uma anlise mais detalhada (verificando a imagem speckle da amostra). No
entanto, procurou-se encontrar motivos pelos quais FT1 e FT2 obtiveram resultados
discrepantes para os valores estimados em relao aos medidos com o rugosmetro SJ-201.
Os provveis impedimentos foram o Efeito de Localizao de Anderson (ELA) e
interferncias. Por haver grandes dificuldades em separar os efeitos de cada um dos possveis
impedimentos, atrelou-se o sinal discrepante aos efeitos em conjunto. Tais interferncias
possivelmente foram causadas por certas peculiaridades na superfcie e comprovadas pelas
imagens obtidas pelo Microscpio Eletrnico de Varredura. Nestas imagens veem-se trincas,
fendas e buracos gerados pela usinagem, e cada um desses problemas na superfcie pode ser
causador dos efeitos citados. Contudo, no h como separar os efeitos ELA das interferncias,
pois no se tem conhecimento de qual deveria ser o sinal laser exato para tais superfcies.
Ento, para a completa implementao de dispositivo semelhante, seria necessrio seu
aprimoramento, no sentido do dispositivo ser capaz de realizar anlise mais completa do sinal
laser refletido. Seja com uso de detectores que montem uma imagem capaz de analisar
speckle, seja com detectores que analisem o sinal em ngulo tomando apenas a intensidade,
certamente importante o aprimoramento do sistema atual.
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