EJERCICIOS Y CUESTIONES.

DIFRACCIN RAYOS X

01. Cul es el rango de longitudes de onda para los rayos-X usados en difraccin?

Los Rayos X se descubrieron en 1895 por el fsico alemn Rntgen y recibieron ese
Nombre porque se desconoca su naturaleza en ese momento.
En 1912 se estableci de manera precisa la naturaleza de los rayos X. En ese ao se
descubri la difraccin de rayos x en cristales y este descubrimiento prob la naturaleza de los
rayos X y proporcion un nuevo mtodo para investigar la estructura de la materia de manera
simultnea.
Los R-X son radiacin electromagntica de la misma naturaleza que la luz pero de
longitud de onda mucho ms corta. La unidad de medida en la regin de los r-x es el
angstrom (), igual a 10-10 m y los rayos x usados en difraccin tienen longitudes de onda
en el rango 0.5-2.5 mientras que la longitud de onda de la luz visible est en el orden de 6000
.

02. Describe brevemente el origen y caractersticas del espectro continuo y del espectro
caracterstico.

Espectro continuo.-Los rayos X se producen cuando una partcula cargada elctricamente

con suficiente energa cintica es frenada rpidamente. Los electrones son las partculas
utilizadas habitualmente y la radiacin se obtiene en un dispositivo conocido como tubo de
rayos x. Los rayos x emitidos consisten en una mezcla de diferentes longitudes de onda y la
variacin de intensidad con depende del voltaje del tubo. Esta radiacin se denomina
radiacin continua o blanca, pues est formada igual que ocurre con la luz blanca por muchas
longitudes de onda.

Espectro caracterstico.- Son longitudes de onda superpuestos sobre el espectro continuo.

Dado que son picos estrechos y que la longitud de onda depende del metal usado como blanco
se denominan lneas caractersticas. Estas lneas se agrupan en conjuntos denominados K, L,
M, etc en orden de creciente y todas juntas forman el espectro caracterstico del metal usado
como blanco.
Normalmente nicamente las lneas K son tiles en difraccin, las de ms larga son
absorbidas con demasiada facilidad. Hay varias lneas en el conjunto K, pero slo las tres ms
intensas se observan en el trabajo de difraccin habitual: son K1, K2 y K1; para Mo la
son aproximadamente:
K1: 0.709
K2: 0.71
K1: 0.632
Las lneas de r-x caractersticas fueron sistematizadas por Moseley, ste encontr que la
longitud de onda de una lnea particular descenda conforme el n atmico del emisor
aumentaba. En concreto, encontr una relacin lineal entre la raz cuadrada de la frecuencia y el
n atmico Z: = C(Z - ) donde C y son ctes.
Mientras que el espectro continuo tiene su origen en la deceleracin de los electrones que
inciden sobre el blanco de un tubo de r-x, el origen del espectro caracterstico est en los tomos
mismos del blanco.

03. Qu diferencia hay entre un material cristalino y un material amorfo? Define celda
unidad.

SISTEMA CRISTALINO
-Se caracteriza por su orden.
-Todos los tomos del cristal estn
regularmente dispuestos, por lo tanto
existir simetra cristalina.
-Poseen propiedades de anisotropa
(propiedad general de la materia segn
las cualidades como: elasticidad,
temperatura, conductividad, velocidad
de propagacin de la luz, etc. Varan
segn la direccin en la que son
examinadas)

MATERIAL AMORFO
-No existe regularidad atmica.
-No tienen punto de fusin bien
definido
Como el vidrio, plstico, papel.
-Alta entropa (alto desorden).

Celda unidad: Todos los materiales cristalinos adoptan una distribucin regular de tomos o

iones en el espacio. La porcin ms simple de la estructura que al repetirse mediante traslacin

reproduce todo el cristal
se define como celda unidad.

04. Responde a las siguientes cuestiones:

a) Enumera los sistemas cristalinos:

Sistema cristalino
de celda unidad
Triclnico
Monoclnico
Ortorrmbico
Tetragonal
Trigonal
Hexagonal
Cbico

Parmetros
abc
a b c = = 90 90
a b c = = = 90
a = b c = = = 90
a = b = c = = 90
a = b c = = 90 = 120
a = b = c = = = 90

b) Cuntos parmetros son necesarios para describir la celda de un material que cristaliza en
el sistema cbico?

c) Qu es un grupo espacial? Cuntos son posibles?

Se pueden definir los grupos espaciales como grupos de transformacin del espacio
tridimensional homogneo y discreto en s mismo.
El principio de homogeneidad de una sustancia en estado cristalino, considerndolo a nivel
microscpico, es decir, considerndolo la atomicidad de la sustancia cristalina, incluye los
principios de simetra y de discrecin. Estos principios se realizan simultneamente en la red
cristalina. Las condiciones de homogeneidad de discrecin determinan que todos los grupos
espaciales sean peridicos tridimensionalmente y por lo tanto cristalogrficos, con ejes de
simetra de ordenes 1,2,3,4,y 6. Los grupos especiales contienen al grupo de translaciones de la
red tridimensional como subgrupo, y por ello tambin se pueden definir los grupos especiales
como grupos en los que las rotaciones propias e impropias van acompaadas de las traslaciones
y existen 230 grupos espaciales cristalogrficos.
05. En qu consiste el fenmeno de la difraccin. Enuncia la Ley de Bragg

Los rayos X son difractados por los electrones que rodean los tomos por ser su longitud
de onda del mismo orden de magnitud que el radio atmico. El haz de rayos X emergente
tras esta interaccin contiene informacin sobre la posicin y tipo de tomos encontrados en su
camino. Los cristales, gracias a su estructura peridica, dispersan elsticamente los haces
de rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por interferencia constructiva,
originando un patrn de difraccin. Existen varios tipos de detectores especiales para observar y
medir la intensidad y posicin de los rayos X difractados, y su anlisis posterior por medios
matemticos permite obtener una representacin a escala atmica de los tomos y molculas del
material estudiado.
Ley de Bragg

La ley de Bragg confirma la existencia de partculas reales en la escala atmica, proporcionando

una tcnica muy poderosa de exploracin de la materia, permite estudiar las direcciones en las
que la difraccin de rayos X sobre la superficie de un cristal produce interferencias
constructivas, dado que permite predecir los ngulos en los que los rayos X son difractados por
un material con estructura atmica peridica (materiales cristalinos).

07. Qu diferencia hay entre un monocristal y un material policristalino?

MATERIAL MONOCRISTALINO
-Constituidos por un solo tipo de red
cristalina.
-Son sistemas homogneos de grano
nico y sin interrupciones.
-Celdas de unidad tienen misma
direccin.
-Alta resistencia y baja capacidad de
deformacin.

MATERIAL POLICRISTALINO
-Tiene ms de un tipo de
ordenamiento o estructura
cristalina.
-Sistema heterogneo de granos,
durante la solidificacin luchan
por ocupar el mayor espacio
posible.
-Los extremos de los cristales
interaccionan entre s
produciendo discontinuidades y
marcando un lmite de grano.
-Granos grandes son frgiles y
granos pequeos son dctiles.

08. Describe un tubo de rayos X.

Es una ampolla grande de cristal con vaco en su interior protegida por una
carcasa forrada de plomo, esta carcasa presenta dos terminales de alta
tensin y una ventana para la salida de los rayos X, contiene aceite como
amortiguador trmico y presenta dos polos uno negativo llamado catado,
que contiene 1 o 2 filamentos generalmente de tungsteno y otro positivo
llamado nodo, que puede ser fijo o giratorio. Presenta un motor de
induccin que hace girar al nodo produciendo los rayos x en el tubo, el
nodo empieza a calentar el filamento, se realiza el disparo desde la consola
de mando la cual produce una descarga de electrones a alta velocidad las
cuales chocan con el blanco del tungsteno y el frenado de estos electrones o
choque generan los rayos X
Ampolla de cristal

Carcasa de plomo

Ctodo

nodo

Filamentos de tungsteno

Aceite

Rayos X

Motor de induccin

09. Qu datos se obtienen a partir de un diagrama de difraccin de rayos-X ?

Un difracto-grama de r-x recoge los datos de intensidad en funcin del

ngulo de difraccin
(2) obtenindose una serie de picos. Los datos ms importantes obtenidos
a partir de un difracto-grama son los siguientes:
- Posicin de los picos expresada en valores de , 2, d q = 1/d2.
- Intensidad de pico. Las intensidades se pueden tomar como alturas de los
picos o para trabajos de ms precisin las reas. Al pico ms intenso se le
asigna un valor de 100 y el resto se reescala respecto a ste.
- Perfil de pico. Aunque se utiliza menos que los anteriores la forma de los
picos tambin proporciona informacin til sobre la muestra analizada.
10. De qu dependen las direcciones en las que se produce la difraccin en un experimento
de difraccin de rayos-X los valores de espaciado para los picos observados en un
difractograma?

Las direcciones de difraccin estn determinadas nicamente por la forma y tamao de

la celda unidad. La anchura y la forma de los picos de un difractograma son el resultado
de la combinacin de factores instrumentales y de factores basados en la
microestructura de la muestra. El perfil de lnea instrumental se origina en el carcter no
estrictamente monocromtico, la divergencia del haz, la anchura de las ventanas, etc.
La contribucin de la muestra al ensanchamiento de los picos se debe
fundamentalmente a dos factores: tamao de cristal y tensiones.
11. Indica los factores que determinan la intensidad de los picos de difraccin.

La intensidad de los picos de difraccin es la segunda caracterstica fundamental de un

Diagrama de difraccin.
Hay seis factores que influyen en la intensidad relativa de las lneas de difraccin:
Factor de polarizacin
Factor de estructura
Factor de multiplicidad
Factor de Lorentz
Factor de absorcin

Factor de Temperatura
12. Describe las aplicaciones ms importantes de la difraccin de rayos-X.

Estudio de texturas.

Cada grano en un agregado poli-cristalino normalmente tiene una orientacin

cristalogrfica diferente de la de sus vecinos. Considerado como un todo las
orientaciones de todos los granos pueden estar aleatoriamente distribuidas o pueden
tender a agruparse, en mayor o menor grado alrededor de una o varias orientaciones
particulares. Cualquier agregado caracterizado por esta condicin se dice que posee
orientacin preferente o textura. La orientacin preferente puede tener una gran
influencia sobre las intensidades de los picos de difraccin.
La orientacin preferente es un fenmeno muy frecuente, en metales, materiales
cermicos, pelculas semiconductoras y recubrimientos en general entre otros. De
hecho, la presencia de orientacin preferente es la regla habitual, no la excepcin.
La importancia industrial de la orientacin preferente se debe al efecto que tiene sobre
las propiedades macroscpicas del material, por ejemplo aceros para usos magnticos
deben tener los granos orientados con los planos {100} paralelos a la capa de la
superficie mientras que si es un acero para perforaciones las mejores prestaciones se
obtienen con los planos {111} paralelos a la superficie.
Las texturas ms frecuentes son en forma de fibras o en forma de lminas. En la textura
fibrosa en la mayora de los granos la misma direccin cristalogrfica [uvw] es paralelo
casi paralela al eje del alambre. En el caso de la textura en lminas la mayora de los
granos estn orientados con cierto plano cristalogrfico (hkl) aproximadamente paralelo
a la superficie de la lmina y una direccin en ese plano [uvw] aproximadamente
paralela a la direccin en la que se aplan la lmina.
La mayora de las texturas laminares, sin embargo, slo pueden describirse mediante la
suma de un nmero de orientaciones ideales o componentes de textura; esto slo puede
hacerse mediante una descripcin grfica tal como la figura de polo.
Una figura de polo es una proyeccin estereogrfica con una orientacin especfica
respecto a la muestra que representa la variacin de la densidad con la orientacin de
polo para un conjunto de planos cristalinos seleccionados. La proyeccin estereogrfica
consiste en un sistema grfico para representar en 2D ngulos y direcciones de 3D. Los
planos cristalinos se representan por puntos (polos) que equivalen a la interseccin de
los vectores directores del plano en una esfera imaginaria.
El uso de las figuras de polo para representar texturas puede ilustrarse mediante el
siguiente ejemplo: supongamos una lmina de un metal cbico que contiene slo 10
granos y la orientacin de esos granos es conocida. Las orientaciones de esos 10 granos
pueden resumirse representando las posiciones de los polos {100} en una nica
proyeccin estereogrfica con el plano de proyeccin paralelo a la superficie de la
lmina. Puesto que cada grano posee tres polos {100} habr un total de 30 polos
representados en la proyeccin. Si los granos tienen una orientacin completamente
aleatoria esos polos aparecern uniformemente distribuidos sobre la proyeccin. Sin
embargo, si existe orientacin preferente los polos tendern a agruparse en ciertas areas
de la proyeccin dejando otras vacas. Por ejemplo, este agrupamiento podra tomar la
forma particular de la figura, este se denomina textura de cubo porque cada grano est
orientado con sus planos (100) prcticamente paralelos a la superficie de la lmina y la
direccin [001] en esos planos paralela a la direccin de laminacin; esta textura se
describe con la notacin (100)[001] y es muy frecuente en metales y aleaciones. La
apariencia de la figura de polo vara sustancialmente con los ndices de los polos

representados y su eleccin depende del aspecto de la textura que se pretende mostrar

ms claramente. Para determinar experimentalmente la textura de un material se fija la
posicin de tubo y detector (2) para estudiar una reflexin (hkl) determinada. A
continuacin se analiza la muestra movindola en y consecutivamente para
recoger la intensidad de toda la esfera. Para representar los resultados se conectan los
puntos con la misma densidad de polo obtenindose diagramas como el de la figura que
corresponde a la figura de polo de la reflexin (111) de una aleacin Cu-Zn, este
material tiene una textura (110)[112].

Difraccin de R-X a Temperatura variable.

La drx puede realizarse sometiendo la muestra a un programa de T controlado. De esta manera
es posible realizar estudios como los siguientes. Es posible seguir el grado de avance de una
reaccin qumica. Se puede hacer a T cte o calentando a velocidad de calentamiento cte. Sin
embargo, para realizar esto con una razonable resolucin en T es necesario usar una fuente de
r-x de alta intensidad preferiblemente con un detector sensible a la posicin. Despus de
completar la reaccin a una T particular la T puede bajarse a diferentes velocidades con objeto
de comprobar si la reaccin es reversible o si el producto de reaccin sufre alguna
transformacin de fase al enfriarse. El ejemplo corresponde a la reaccin entre el MgO y Al2O3
para dar el xido mixto. Como se puede apreciar desaparecen los picos correspondientes a los
reactivos y aparecen los del producto. La drx puede utilizarse para seguir las transiciones de
fase. As por ejemplo se ha estudiado la reaccin de Ni con una aleacin de Sn-Pb fundida
(60% en peso de Sn). El proceso se realiz en modo isotermo, en la figura se observa como
disminuye la intensidad de la reflexin 200 en funcin del tiempo a 400 C. Otro ejemplo puede
ser la cristalizacin a partir de hidrxido de circonio amorfo de una forma tetragonal meta
estable de ZrO2. El patrn de difraccin se registr cada 10 en el intervalo comprendido entre
330-410C. A 360C comienza la cristalizacin apareciendo el pico 111. A 390C aparecen los
picos (202), (220), (222) y (311). A 410C aparecen los picos (200) y (002).
Tambin es posible el estudio de disoluciones slidas. Una disolucin slida contiene un soluto
B distribuido de forma aleatoria en un disolvente A bien en los huecos o sustituyendo a los
tomos o iones. Debido a esa distribucin aleatoria el soluto no da lugar a nuevos picos de
difraccin sino que el efecto que produce es desplazar la posicin de los picos ligeramente. En
una disolucin slida de tipo intersticial el efecto que produce el soluto es un incremento en las
ctes de red y por tanto un desplazamiento de las posiciones de los picos a valores menores de
2. En el caso de una disolucin slida sustitucional el efecto sobre la posicin de los picos
depende del tamao relativo de soluto y disolvente. Si el tomo de soluto es de mayor tamao
que el disolvente se produce un incremento en los parmetros de red y por tanto un
desplazamiento de los picos a menor ngulo. Si el tamao del soluto es menor que el del
disolvente el efecto es el contrario. El desplazamiento es a grosso modo proporcional a la

concentracin de soluto, ley de Vegard, aunque con frecuencia no se cumple. El coeficiente de

expansin trmica puede determinarse midiendo el incremento de
las ctes de red con el aumento de T( es decir la disminucin en el ngulo 2 para un pico de
difraccin dado).
La expansin trmica es un fenmeno de especial inters para la industria electrnica. Los
dispositivos electrnicos usan diferentes materiales (a menudo en forma de pelcula) en
contacto entre s. Cuando el dispositivo se calienta se dilata en extensin diferente en cada
material y se originan tensiones que pueden producir rotura, separacin, etc; de ah el inters
del conocimiento de los coeficientes de expansin trmica.
La figura muestra la expansin trmica del Ag2CO3 en un modo de barrido de T por pasos.
Se calent a 10/min hasta 50 y se mantuvo a esa T durante 15 min para tomar datos, se
calent hasta 100 y se mantuvo 15 min y lo mismo se hizo a 150. se tomaron 25 picos de
difraccin en cada T para determinar las ctes de red. Los coeficientes de expansin trmica
fueron 1.92x10-5, 0, 5.76x10-5 para a, b y c respectivamente. Este otro ejemplo presenta la
variacin de los parmetros de red para una aleacin -Co3Sn2. La celda es hexagonal, slo
dos parmetros de red a y c. Se encontr una variacin lineal hasta los 800C. A partir de aqu
la desviacin de la linealidad se explic por la aparicin de otra fase.
El crecimiento de cristales es un proceso lento que requiere altas T dado que necesita un
proceso de difusin. La drx se puede utilizar para medir el tamao de grano hasta aprox. 1000
. El tamao de grano se determina a partir de la anchura de un pico despus de corregir la
anchura debida al instrumento. Esto se hace mediante la frmula de Scherrer utilizando la
anchura a mitad de altura de un pico, en general a menor tamao de grano picos ms anchos.
Las grficas representan un estudio del crecimiento de grano de una disolucin slida ZrO2CeO2. El pico correspondiente a la reflexin 111 se midi despus de tener la muestra 2 horas
a cada T. Como se observa la anchura de los picos disminuye, es decir aumenta el tamao de
grano.

Dispersin de rayos X a bajo ngulo.

La dispersin de r-x a bajo ngulo (SAXS) es una tcnica analtica empleada para la
caracterizacin estructural de materiales en el rango de los nanmetros. La muestra es
irradiada con un haz de r-x monocromtico y a partir de la distribucin de intensidades a
muy bajo ngulo es posible obtener informacin sobre tamao o distribucin de
tamaos de partculas, forma de partculas y estructura interna. Esta tcnica se emplea
en partculas con un tamao comprendido entre 0.5 y 50 nm en materiales tales como:
cristales lquidos, pelculas de polmeros, micro emulsiones, catalizadores, protenas,
virus etc.
El equipo necesario para realizar este tipo de anlisis tiene diferencias notables respecto
a un difractmetro convencional. Normalmente se trabaja en transmisin. Es necesario

un haz de r-x muy fino de manera que pueda ser interceptado sin bloquear la intensidad
dispersada, una mayor distancia de la muestra al detector permite que se separe el haz
dispersado del incidente y disminuye el background. Es necesario tambin que exista
vaco desde la fuente de r-x hasta el detector, adems se utiliza un detector PSD.
La interpretacin de los datos SAXS puede ser realmente compleja; en los casos ms
favorables es posible utilizar mtodos directos en los que se interpretan los datos
(corregidos con el background) sin manipulacin o tambin es posible aplicarles la
transformada de Fourier para obtener informacin del espacio real de manera anloga a
la Microscopa de transmisin electrnica.