1

CAPACIDAD DE LOS PROCESOS

ndices de Capacidad y Anlisis de Tolerancias
Los ndices de capacidad, son mediciones especializadas que se
utilizan para evaluar la capacidad de los procesos. El Anlisis de Tolerancia,
es una metodologa de mucha utilidad para estudiar la capacidad cuando se
combinan varios componentes o partes. Estos dos aspectos son herramientas
fundamentales en el contexto de proyectos Seis Sigma.

ndices
de
Especificacin

Capacidad

para

procesos

con

Doble

Los procesos industriales tienen variables de salida o de respuesta, las

cuales deben cumplir con ciertas especificaciones, para poder considerar que
el proceso est funcionando de manera satisfactoria. Evaluar la habilidad o
Capacidad de un proceso es analizar que tan bien cumplen sus variables de
salida con las especificaciones.
Consideremos una caracterstica de calidad de un producto o variable de
salida de un proceso, del tipo Valor Nominal es Mejor, donde para considerar
que hay calidad las mediciones deben ser igual a cierto valor nominal o ideal
(N), o al menos tienen que estar dentro de cierta especificacin inferior (EI) y
superior (ES).
Ejemplo 5.1
Una caracterstica de Calidad importante en la fabricacin de una llanta
es la longitud de capa, que para cierto tipo de llanta debe ser de 780 mm con
una tolerancia de 10 mm. La longitud es el resultado de un proceso de corte,
por lo que este proceso debe garantizar que la longitud ste entre la
especificacin inferior EI = 770 y la superior ES = 790, con un valor ideal o
nominal de N = 780. Para monitorear el correcto funcionamiento del proceso de
corte, cada media hora se toman cinco capas y se miden. De acuerdo con las
mediciones hechas en el ltimo mes, en el que el proceso ha estado trabajando
de manera estable, se tiene que la media y la desviacin estndar del proceso
son

=781

=4 , respectivamente. Con base en esto se quiere tener

una evaluacin de la manera que el proceso ha estado cumpliendo con las

especificaciones. Haremos esto con base en los ndices de capacidad.

ndice

Cp

El ndice de capacidad potencial del proceso,

siguiente manera:

Cp=

ESEI
6

C p , se define de la

donde

representa la desviacin estndar del proceso, y ES y EI son las

especificaciones superior e inferior para la caracterstica de calidad. El ndice

Cp

compara el ancho de las especificaciones o variacin tolerada para el

proceso con la amplitud de la variacin real del proceso:

Cp=

Variacin Tolerada
Variacin Real

Decimos que 6

(seis veces la desviacin estndar) es la variacin real,

debido a las propiedades de la distribucin normal, en donde se afirma que

entre

se encuentra el 99.73% de los valores de una variable con

distribucin normal.
Interpretacin del ndice

Cp

. Para que el proceso se pueda

considerar potencialmente capaz de cumplir con especificaciones, se requiere

que la variacin real siempre sea menor que la variacin tolerada. De aqu que
lo deseable es que ndice

C p sea mayor que 1, y si el valor del ndice

Cp

es menor que uno es una evidencia de que no cumple con las especificaciones.
La interpretacin que a continuacin se dar se basa en que los ndices
se han estimado considerando variabilidad de corto plazo. Para ampliar
las perspectivas en la interpretacin del ndice

C p , tenemos las siguientes

posibilidades:

Consultar los procesos representados en los histogramas de la figura 2.2

(a, b, c, d), pagina 35, donde se ha calculado el ndice
y b son potencialmente capaces, ya que el

, as, slo a

C p es mayor que 1.33.

Aunque para lograr calidad Seis Sigma se requiere que el

Cp

C p =2.0

En la tabla 5.1 se presentan cinco categoras de procesos que dependen

del valor del ndice
se ve que el

C p , suponiendo que el proceso est centrado. Ah

C p debe ser mayor que 1.33 , o que 1.50 si se quiere

tener un proceso bueno, pero debe ser mayor o igual que 2.0 si se
quiere tener un proceso de clase mundial.
Tabla 5.1
Valores de Cp y su
interpretacin.

3
Valor del ndice Clase o
Cp (Corto
Categora de
Plazo)
Proceso
Cp 2
Clase Mundial
Cp > 1.33
1
1 < Cp < 1.33

0.67 < Cp < 1

Cp < 0.67

Decisin (si el proceso esta centrado)

Se tiene Calidad Seis Sigma
Adecuado
Parcialmente Adecuado. Requiere de un
control estricto
No adecuado para el trabajo. Es necesario un
anlisis del proceso. Requiere de
modificaciones serias para alcanzar una
calidad parcial.
No adecuado para el trabajo. Requiere de
modificaciones muy serias.

Notas:
1. Si el Cpk < Cp , entonces una vez que se centre el proceso se tendr la clase de
proceso que se seala.
2. Vase la tabla 5.2 para una interpretacin del Cp en trminos de piezas fuera de
especificaciones.
3. Para procesos con una sola especificacin, el valor mnimo de C pi o Cps debe ser
debe ser mayor
que 1.25, en lugar de 1.33, para considerar el proceso adecuado.
4. Si se utiliza el ndice Z como ndice de capacidad, entonces los valores mnimos
que ste debe tomar
para cada una de las categoras del proceso se obtienen multiplicando el
correspondiente valor de 3;
as, para tener procesos con categora adecuada se requiere que tanto Zs como Zi
sean mayores
que 4 (3 o 1.33) y para Seis Sigmas mayores que seis.

En la tabla 5.2 se ha traducido el valor del ndice en porcentaje de

artculos que no cumpliran especificaciones y en la cantidad de partes
con defectos por cada milln producido (PPM). Por ejemplo, si el ndice

C p =0.8 y el proceso estuviera centrado, entonces el correspondiente

proceso produce 1.64 % de piezas fuera de especificaciones (que

corresponde a 16 395 partes no conformes de cada milln producido).

Un aspecto que es necesario destacar es que la interpretacin de los

ndices

Cp ,

C pi y

C ps , que se da en las tablas 5.1 y 5.2, se

fundamenta en tres supuestos: que la caracterstica de calidad se

distribuye normal; que el proceso es estable; y que se conoce la desviacin
estndar del proceso; es decir, la desviacin estndar no es una estimacin
con base en una muestra. La violacin de alguno de estos supuestos, sobre
todo los dos ltimos, afecta sensiblemente la interpretacin de los ndices.

5
Tabla 5.2
Los ndices C p , Cpi y Cps , en trminos de la cantidad de
piezas malas (corto plazo);
bajo normalidad y proceso centrado en
el caso de doble especificacin.
Valor
ndice
(corto
plazo)

del

0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1.0
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
1.9
2.0

Proceso con doble

especificacin
( ndice Cp )
% fuera de las
Partes por
dos
Milln fuera
especificacion
es
54.8506 %
548 506.130
36.8120 %
368 120.183
23.0139 %
230 139.463
13.3614 %
133 614.458
7.1861 %
71 860.531
3.5729 %
35 728.715
1.6395 %
16 395.058
0.6934 %
6 934.046
0.2700 %
2 699.934
0.0967 %
966.965
0.0318 %
318.291
0.0096 %
96.231
0.0027 %
26.708
0.0007 %
6.802
0.0002 %
1.589
0.0000 %
0.340
0.0000 %
0.067
0.0000 %
0.012
0.0000 %
0.002

Proceso con una sola

especificacin
( Cpi , Cps, Cpk )
% fuera de
Partes por
una
Milln fuera
especificaci
n
27.4253 %
274 253.065
18.4060 %
184 060.092
11.5070 %
115 069.732
6.6807 %
66 807.229
3.5930 %
35 930.266
1.7864 %
17 864.357
0.8198 %
8 197.529
0.3467 %
3 467.023
0.1350 %
1 349.967
0.0483 %
483.483
0.0159 %
159.146
0.0048 %
48.116
0.0013 %
13.354
0.0003 %
3.401
0.0001 %
0.794
0.0000 %
0.170
0.0000 %
0.033
0.0000 %
0.006
0.0000 5
0.00

Si al analizar el proceso se encuentra que su capacidad para

cumplir con especificaciones es mala, existen tres opciones: modificar
el proceso, mejorar su control, mejorar el sistema de medicin, modificar
tolerancias o inspeccionar el 100% de los productos. Por el contrario, si hay
capacidad excesiva, sta se puede aprovechar, por ejemplo: con la venta de la
precisin, del mtodo, reasignando productos a maquinas menos precisas,
acelerar el proceso y reducir la cantidad de inspeccin.
En el caso de la longitud de capa para las llantas, el ndice

Cp=

C p est dado por

790770 20
= =0.83
24
6 (4)

La variacin tolerada es de 20, pero la variacin real de 24 es mayor. Por tanto,

el proceso no tiene capacidad, ya que genera capas con una longitud no
satisfactoria. De acuerdo con la tabla 5.1, el proceso es de tercera categora, y

6
en funcin de la tabla 5.2 se espera que aproximadamente 1.64% de las capas
tengan una longitud no satisfactoria.

Cr

ndice

Un ndice menos conocido que el

E ndice

es el que se conoce como Razn

Cr , el cual est definido por

de Capacidad,

Cr =

Cp

6
ESEI

Cr , es el inverso del

C p , ya que compara la variacin real contra

la variacin tolerada. Con este ndice se requiere que el numerador sea menor
que el denominador, es decir, lo deseable son valores de
(menor que 1). La ventaja del ndice C r

sobre el

Cp

Cr

pequeos

, es que tiene una

interpretacin un poco ms intuitiva a saber: el del ndice C r representa la

proporcin de la banda de especificaciones que es ocupada por el proceso. Por
ejemplo, si el Cr = 0.60, quiere decir que la variacin del proceso abarca o
cubre slo 60% (0.60 x 100) de la banda de especificaciones, por lo que su
capacidad potencial es satisfactoria. En cambio, si el C r = 1.20, esto indica una
capacidad pobre, ya que la variacin del proceso cubre 120 % de la banda de
especificaciones. En los procesos representados en los histogramas de la figura
2.2, donde se ha calculado el ndice C r , slo los casos a y b son
potencialmente capaces.
El Cr para el ejemplo de la longitud de las capas de las llantas, es:

Cr =

6(4 )
24
= =1.20
790770 20

que es un valor muy grande y que nos dice que la variacin del proceso cubre
120 % de la banda de especificaciones, lo que indica una capacidad pobre, tal
como ya lo habamos visto con el ndice

ndices

C pk ,

C pi

La desventaja de los ndices

cuenta el centrado del proceso.
interviene la media del proceso,

Cp .

C ps
Cp

Cr

es que no toman en

Por ejemplo, en sus definiciones nunca

. A manera de ilustracin se tienen los

casos a y b de la figura 2.2, en donde de acuerdo con ambos ndices la

capacidad es satisfactoria (Cp = 1.44 y Cr = 0.69); sin embargo, el proceso b

7
est muy descentrado a la izquierda y por eso no cumple con la especificacin
inferior. Para superar esta desventaja ser necesario recurrir a otros ndices,
uno de ellos el llamado ndice de Capacidad Real: el ndice C pk. Para
calcularlo hay varias formas equivalentes; una de ellas consiste en calcular un
ndice de la capacidad para la especificacin inferior, Cpi , y otro para la
superior, Cps , de la siguiente manera:

C pi =

EI
3

C ps=

ES
3

Como se puede ver, estos ndices si toman en cuenta la media del proceso y
evalan la capacidad para cumplir con la especificacin inferior y superior. La
distancia de la media del proceso a una de las especificaciones representa la
variacin tolerada para el proceso de un solo lado de la media. Los ndices
unilaterales se interpretan en forma ms o menos similar al ndice C p. De aqu
que entre ms grandes sean estos ndices, se cumplir mejor con la
especificacin correspondiente.
El ndice Cpk est definido por:
Cpk = El valor ms pequeo entre Cpi y Cps
Es decir, el ndice Cpk es igual al ndice unilateral ms malo, por lo que si el
valor del Cpk es satisfactorio, eso indicar que el proceso en realidad es capaz.
Si no es satisfactorio, no cumple al menos con una de las especificaciones.
Elementos adicionales para la interpretacin del ndice Cpk:

El ndice Cpk siempre ser menor o igual que el ndice Cp. Cuando sean
muy prximos, eso indicar que la media del proceso est muy cerca del
punto medio de las especificaciones.
Si el valor del ndice Cpk es mucho ms pequeo que el Cp , nos indicar
que la media del proceso est alejada del centro de las especificaciones.
Valores del Cpk
igual a cero o negativos, indican que la media del
proceso est fuera de las especificaciones.

En el ejemplo 5.1, de la longitud de las capas de las llantas, tenemos que:

C ps=

790781 9
= =0.75
12
3 ( 4)

C pi =

781770 11
= =0.92
12
3 ( 4)

El ndice para la especificacin superior, Cps , es el ms pequeo, eso quiere

decir que los mayores problemas del proceso estn por la parte superior,
aunque tambin hay problemas con la especificacin inferior, ya que 0.92 es
un valor an pequeo. En consecuencia, el ndice Cpk es:

C pk =Mnimo { 0.92, 0.75 }=0.75

Esto indica una capacidad no satisfactoria. Por lo tanto, cierta proporcin de las
capas para las llantas no tienen una longitud adecuada. Utilizando la segunda
parte de la tabla 5.2, vemos que con Cpk = 0.75 el porcentaje de capas que
exceden los 790 mm est entre 0.82 % y 1.79 %.

ndice K
El ndice de descentrado de proceso o ndice de localizacin, K,
es una medida especializada para evaluar el centrado del proceso, ya que mide
en trminos relativos y porcentuales qu tan descentrada o alejada est la
media de un proceso respecto al valor nominal, N, para la caracterstica de
calidad. Este ndice se calcula con la siguiente frmula:

K=

N
1
( ESEI )
2

100

El ndice K mide qu tan descentrado est el proceso en funcin de la mitad de

la amplitud de las especificaciones, y al multiplicar por 100 se convierte en una
medida porcentual.
La interpretacin de los valores de K es

como sigue:

Si el signo del valor de K es positivo significa que la media del proceso es

mayor al valor nominal, y ser negativo cuando sea menor que N.
Valores de K menores a 20 % en trminos absolutos se pueden
considerar como aceptables, pero a medida que el valor absoluto de K
sea ms grande que 20 %, indica un proceso muy descentrado, lo que
puede contribuir de manera significativa a que la capacidad del proceso
para cumplir especificaciones sea baja.
El valor nominal, N, es la calidad objetivo y ptima; cualquier desviacin
respecto a este valor lleva un detrimento en la calidad. Por ello cuando
un proceso est descentrado de manera significativa se deben hacer
esfuerzos serios para centrarlo.
En el ejemplo de la longitud de la capa para llantas, el ndice K es

K=

781780
1
( 790770 )
2

100=10

De esta forma la media est desviada 10 % a la derecha del valor nominal, por
lo que el centrado del proceso se puede considerar aceptable y esto no
contribuye de manera significativa a la baja capacidad del proceso.

ndice Z (la mtrica en seis sigma)

Otra forma de medir la capacidad del proceso es mediante el ndice Z,
el cual consiste en calcular la distancia entre las especificaciones y la media

del proceso en unidades de la desviacin estndar,

De esta manera,

para un proceso con doble especificacin se tiene Z superior,

inferior,

Z s , y el Z

Z i , definidos de la manera siguiente:

Z s=

ES

Z i=

EI

Tomando en cuenta la forma que se estandariza una variable con

distribucin normal, el ndice Z se distribuye normal con media 0 y desviacin
estndar 1. Por ello, entre ms grande sea el valor de Z mejor ser la
capacidad del proceso. Como se puede ver, hay una relacin directa entre los
ndices Cps y Cpi con el estadstico Z, ya que:
3 Cps = Zs

3 Cpi = Zi

por tanto, su interpretacin se debe hacer de acuerdo con esta relacin.

El ndice Z es la mtrica ms utilizada en los programas seis sigmas, ya
que ste mide el nmero de sigmas con el que se desempea un proceso,
siendo la meta que sean seis sigmas.

Z s=

790781
=2.25
4

3 Cpi = Zi

por lo tanto,

C pi =

Zi
3

Z i=

C pk =0.75

especificaciones.

ndice Cpm (ndice de Taguchi)

C pi =

781770
=2.75
4

2.75
=0.9197
3

C ps =

2.25
=0.75
3

Ver tabla 5.2 para estimar PPM fuera de

10
Como se vio con anterioridad, para los ndices Cp y Cpk lo ms
importante es reducir la variabilidad y cumplir con especificaciones. Sin
embargo, segn G. Taguchi, cumplir con especificaciones no es sinnimo de
calidad, y la reduccin de la variabilidad debe darse en torno al valor nominal
(calidad ptima). Es decir, la mejora de un proceso segn Taguchi debe estar
orientada a reducir su variabilidad alrededor del valor nominal, N, y no slo
orientada a cumplir con especificaciones.
Taguchi (1986) propone una definicin alternativa de los ndices de
capacidad del proceso, la cual se fundamenta en lo que l denomina funcin de
prdida. Al ndice propuesto por Taguchi, que se denota con Cpm , toma en
cuenta simultneamente el centrado y la variabilidad del proceso. El ndice
Cpm est definido por

C pm =

ESEI
6

donde

= + ( N )
2

y N es el valor nominal de la caracterstica de calidad; EI y ES son las

especificaciones inferior y superior. El valor de N generalmente es igual al
punto medio de las especificaciones, es decir,

N=0.5 ( ES+ EI ) .

ndice Cpm compara el ancho de las especificaciones con

6 ; pero

slo toma en cuenta la variabilidad del proceso, a travs de

tambin toma en cuenta el centrado a travs de
el proceso est centrado, es decir, si

( N )2

Ntese que el

no

, sino que

. De esta forma, si

=N , entonces el Cp y el

Cpm son

iguales.
Interpretacin. Cuando el ndice C pm es mayor que uno, eso quiere decir que
el proceso cumple con las especificaciones, y en particular que la media del
proceso est dentro de la tercera parte media de la banda de las
especificaciones. Si Cpm es mayor que 1.33, entonces el proceso cumple con
las especificaciones, pero adems la media del proceso est dentro de la
quinta parte media del rango de especificaciones. Por ejemplo, en el caso de la
longitud de capa para llantas, la quinta parte media de la banda de
especificaciones es

11

780

10
5

Por cierto, en este caso el valor del ndice C pm est dada por

C pm =

790770
6 4 + ( 781780 )
2

20
=0.81
24.74

que al ser menor que uno muestra que el proceso que corta la capa de la llanta
no es capaz.
Para finalizar este apartado, se debe tener presente que los clculos de
los ndices deben estar basados en los parmetros poblacionales del proceso

Si los clculos son basados en una muestra pequea, la

interpretacin cambia.

PROCESOS CON SLO UNA ESPECIFICACIN

Aqu se estudian los ndices de capacidad para caractersticas de calidad
que slo tienen una especificacin por satisfacer. En la industria existen
muchas variables de este tipo, como las variables del tipo entre ms grande
mejor, donde lo que interesa es que sean mayores a cierto valor mnimo (EI); o
variables del tipo entre ms pequea mejor, donde lo que se quiere es que
nunca excedan un cierto valor mximo (ES).
Ejemplo 5.2

(Variable entre ms pequea mejor).

Entre las plantas tratadoras de aguas residuales, una forma de medir la eficacia del tratamiento
biolgico aerobio, clarificacin secundaria y filtracin es mediante los slidos suspendidos totales (SST), ya
que la alta concentracin impedir su reso. En una planta en particular se tiene que los SST no deben ser
mayor a ES = 30, por lo que esta variable es del tipo entre ms pequea mejor. De acuerdo con datos
histricos, se tiene que la media y la desviacin estndar de SST son

=10.2 y

=5.1.

En este caso no es posible calcular el ndice Cp , ya que solo cuenta con la especificacin superior.
Se debe tener cuidado de no caer en la mala prctica
de fijar artificialmente una especificacin inferior,
ya que con frecuencia eso distorsiona el diagnstico que se haga sobre el proceso; por ejemplo, en el caso
que nos ocupa, se podra estar tentado a fijar como especificacin inferior al cero (EI = 0), pero eso no es
necesario, debido a que los SST no pueden ser negativos, por lo que en forma natural esta variable est
limitada por el lado inferior. Lo adecuado es no ponerle ms exigencia al proceso de las que sean realmente
necesarias para la calidad, y a variables como SST calcularles el ndice para la especificacin superior Cps,
que est dado por:

12

C ps=

donde

ES
3

son la media y la desviacin estndar de la caracterstica de calidad, y ES la

especificacin o tolerancia superior. La interpretacin del ndice Cps es parecida al Cp y Cpk , como se indica
en las tablas 5.1 y 5.2.
En el caso de los SST de la planta tratadora de agua, se tiene que

C ps=

3010.2
=1.29
3 ( 5.1 )

este valor indica que el proceso correspondiente es capaz, al no excederse la especificacin superior.
Si se tienen caractersticas de calidad del tipo entre ms grande mejor
que debe ser mayor que una especificacin inferior (EI), entonces el ndice de
capacidad inferior, Cpi , est dado por

C pi =

EI
3

El valor mnimo de los ndices Cps y Cpi para que el proceso se pueda
considerar capaz de cumplir con la correspondiente especificacin es 1.25. Si
la caracterstica es crtica, entonces el valor mnimo debe ser 1.45, o fijarse de
acuerdo con la tabla 5.2, para procesos con una sola especificacin.

Ejemplo 5.3

(Variable entre ms grande mejor).

En una armadora de autos, en el rea de pintado, una caracterstica de calidad es el espesor de la

capa antipiedra en la zona trasera de los arcos de rueda, que debe tener un espesor mnimo de 100 micras
(EI = 100). A partir de la carta de control
sabe que

=105 y
C pi =

X R

que se lleva normalmente para monitorear el espesor, se

=6.5 , por lo que el C pi en este caso es

EI 105100
=
=0.256
3
3 ( 6.5 )

que es un valor pequeo, por lo que el proceso es incapaz de cumplir con la especificacin inferior, y de
acuerdo con la tabla 5.2, el porcentaje aproximado de productos que tienen un espesor inferior a 100 micras
est entre 18.4% y 27.4%, por lo que es necesario hacer esfuerzos serios para mejorar ese proceso.

ndices de capacidad de largo plazo:

Pp

P pk

13
Cuando hablamos de capacidad podemos tener una perspectiva de corto
y largo plazo.
La capacidad de corto plazo se calcula a partir de muchos datos tomados
durante un periodo suficientemente corto para que no haya influencias
externas sobre el proceso (por ejemplo, cambios importantes de temperatura,
turnos, operadores, embarques de materia prima). Por lo tanto, esta capacidad
representa el potencial del proceso, lo mejor que se puede esperar del mismo,
mientras que la capacidad de largo plazo se calcula con muchos datos
tomados de un periodo de tiempo suficientemente largo para que los factores
externos puedan influir en el desempeo del proceso. Lo anterior tiene
impacto en la forma que se estima la desviacin estndar del proceso.
Supongamos que se tiene una gran cantidad de datos que se han
obtenido a travs del muestreo para cartas de control, entonces habr dos
formas de calcular la desviacin estndar.
La primer forma considera slo la variacin dentro de las muestras a travs
del rango de las muestras, mediante la siguiente expresin:

donde

R
d2

es el promedio de los rangos de las muestras, y la constante

d2

depende del tamao de la muestra o subgrupo y esta tabulado. Esta forma de

calcular la desviacin estndar no considera los desplazamientos del proceso a
travs del tiempo que tambin influyen en la variacin total del proceso, por lo
que suele llamrsele variacin de corto plazo del proceso. Normalmente
los ndices de capacidad se calculan considerando slo la variacin de corto
plazo, por lo que se habla de capacidad de corto plazo.
La segunda forma de calcular la desviacin estndar del proceso es
considerando la variacin entre muestras y dentro de muestras, lo que se hace
calculando la desviacin estndar directamente de todos los datos obtenidos a
lo largo del tiempo; de esta forma, se tienen muchos datos de un tiempo
suficientemente amplio entonces se tendr una idea de la capacidad del
proceso a largo plazo.
Por lo general, para designar a los ndices calculados con la desviacin
estndar de largo plazo se les designa con
en lugar de

Pp

en lugar de

Cp

C pk , y as con los dems ndices cuya letra inicial es

sustituye por la

P . Es decir, el

Pp

P pk

se calcula de igual forma que el

se

Cp ,

la diferencia es la forma en que se calcul la desviacin estndar: largo plazo

para

Pp

y corto plazo para

Cp .

14

La capacidad de corto plazo evaluada a travs de

(que en este caso puede designarse con

Z . ct

C p y por el ndice
) representa la

tecnologa del proceso. Mientras que la capacidad de largo plazo medida por

Pp

Z .<

y por el estadstico

(que en esta caso puede designarse con

) representa la tecnologa del proceso combinada con el control de la

tecnologa.
La diferencia entre la capacidad de corto plazo y de largo plazo se
conoce como desplazamiento o movimiento del proceso y se puede medir
a travs del ndice

de la manera siguiente:

Z mov =Z . ctZ .<

El ndice

Z mov representa la habilidad para controlar la tecnologa. Hay

estudios que ponen de manifiesto que la media de un proceso puede

desplazarse a travs del tiempo hasta 1.5 sigmas del valor nominal, es decir,
que el valor del ndice

Z mov

puede ser de hasta 1.5 en procesos con un

control pobre. Por lo general este 1.5 se utiliza de la siguiente manera: si se

puede calcular

Z mov

, entonces, si ste es menor que 1.5; eso se

interpretar como que el proceso tiene un mejor control que el promedio de los
procesos con pobre control, y si es mayor que 1.5, entonces el control es muy
malo. Si no se conoce

Z mov

, entonces se puede asumir un valor de 1.5. De

aqu que si no se conoce el desplazamiento del proceso, la relacin entre

capacidad de corto y largo plazo la da la siguiente expresin:

Z . ct=1.5+ Z .<

INDICES DE CAPACIDAD PARA VARIABLES DE ATRIBUTOS

Todas las formulas que hemos visto en la seccin anterior para los
ndices de capacidad estn orientadas para variables de tipo continuo, en las
que para cada producto, muestra o pieza inspeccionada se obtiene una
medicin numrica que refleja su calidad. Por ello, para otro tipo de variables
como las de atributos, por ejemplo, donde lo que se hace es ver si el producto
pasa o no pasa, o contar el nmero de defectos, no es posible calcular en
forma directa los ndices de capacidad que hemos visto antes.
Sin embargo, si se quiere medir la calidad de un proceso que tiene
variables de salida de atributos, en trminos de los ndices Cp o Cpk ,
entonces lo que se debe hacer es estimar el porcentaje promedio de

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defectos o el porcentaje promedio de artculos defectuosos del proceso, y
con apoyo de la tabla 5.2 convertir este porcentaje al correspondiente ndice
Cp . Por ejemplo, si el porcentaje promedio de artculos defectuosos es de 3.0 %,
entonces utilizando las columnas para procesos con doble especificacin de la
tabla 5.2, el porcentaje ms cercano a 3.0 % es el de 3.5729%, que
corresponde a un ndice Cp de 0.7, por lo que el Cp para este proceso ser de
0.7 aproximadamente, que refleja una capacidad inadecuada. Para que el
proceso se pueda considerar de primera categora, de acuerdo a los criterios
del ndice Cp , se requiere que el porcentaje de defectuosos sea menor a
0.0096% (vase tabla 5.2).
Algunas variables de atributos en lugar de medirse en porcentaje de
defectos, se miden en nmero de partes con defectos por cada milln de
oportunidades (PPM). Otra forma de medir las variables de atributos es por
el nmero de defectos por milln de oportunidades (DPMO). En estos
casos, se utiliza la tercera columna de la tabla 5.2 y se procede en forma
similar al porcentaje de defectos. Recordemos que para calcular las PPM se
divide el total de artculos con defectos entre el total de artculos
inspeccionados, y al resultado se le multiplica por un milln. Por ejemplo, si un
total de 1 000 piezas inspeccionadas se encuentran cinco defectuosas,
entonces las PPM correspondientes son de 5 000, ya que:

PPM=

Total de artculos con defec tos

5
1 000 000=
1 000 000=5 000
Total de artculos inspeccionados
1000