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Faculdade de Engenharia Mecnica - Universidade Federal de Uberlndia - Av. Joo Naves de vila, 2121 Campus Santa Mnica - Uberlndia, MG Brasil - CEP 38400-902. E-mail: claudio_costasouza@hotmail.com
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Faculdade de Engenharia Mecnica - Universidade Federal de Uberlndia - Av. Joo Naves de vila, 2121 Campus Santa Mnica - Uberlndia, MG Brasil - CEP 38400-902. E-mail: arvaldes@mecanica.ufu.br
1. INTRODUO
Em 15 de maio de 2005 a International Organization for Standardization (ISO)
publicou uma nova edio da Norma ISO/IEC 17025, atualmente em vigor. A referida norma
contm todas as especificaes e exigncias que os laboratrios responsveis pela realizao
de ensaios e calibraes devem atender para garantir a emisso de resultados confiveis.
A adoo e implantao da mesma so indispensveis para assegurar a qualidade de
todos os servios prestados pelos laboratrios, incluindo as pesquisas. Deve-se ressaltar que a
adequao a esta norma garante o atendimento de todos os requisitos j contidos nas NBR
ISO 9001 (1994) e NBR ISO 9002 (1994).
A NBR ISO/IEC 17025 dividida em cinco partes, que so respectivamente: objetivo,
referncias normativas, termos e definies, requisitos da direo e requisitos tcnicos. Ela
discorre a respeito dos mtodos normalizados, mtodos no-normalizados e mtodos
desenvolvidos pelos prprios laboratrios, sendo aplicvel a quaisquer entidades que realizam
ensaios e calibraes.
Nas pginas finais, esto contidos dois anexos. O anexo A apresenta uma matriz de
correlao dos tpicos desta norma com aqueles apresentados nas ISO 9001 e 9002. Por sua
vez, o Anexo B trata a respeito da necessidade de informaes complementares norma,
como exemplos de aplicaes e referncias s condies ideais de operao.
Segundo a ISO/IEC 17025 (2005), o laboratrio responsvel por todas as atividades
que realiza e deve, portanto, dispor de pessoal gerencial e tcnico qualificado. Deve, ainda,
nomear um gerente de qualidade e confeccionar documentos para informar a respeito das
prticas e procedimentos adequados, garantindo inclusive o cumprimento da norma.
Todos os documentos pertencentes ao laboratrio, incluindo normas, regulamentos,
mtodos de ensaios ou calibraes, desenhos, especificaes, softwares e manuais devem ser
controlados pelos responsveis. Devem estar disposio de todo o pessoal para consulta. a
partir da sua verificao.
O laboratrio deve atender a alguns requisitos tcnicos relacionados com os fatores
humanos, os equipamentos e seu manuseio, os mtodos empregados, as instalaes e
condies ambientais, a rastreabilidade das medies e a estimativa da incerteza.
O pessoal tcnico deve ser qualificado e em determinados casos, certificado. Os
responsveis pela emisso de opinies nos relatrios e documentos devem possuir
conhecimento amplo a respeito da tecnologia, do princpio de funcionamento e da maneira
formato de apresentao dos documentos deve ser padronizado e claro para impedir
interpretaes equivocadas.
Pelo antes exposto, pode-se dizer que a adequao dos processos de medio e
calibrao NBR ISO/IEC 17025 (2005) no uma tarefa fcil. O laboratrio deve trabalhar
de forma rdua para atingir tal objetivo.
Assim sendo, este trabalho tem como objetivo adequar apenas o procedimento de
calibrao dos micrmetros para medies externas. Para tanto, foram propostas as seguintes
etapas: estudo minucioso sobre micrmetros, enfatizando as caractersticas construtivas, os
procedimentos de calibrao e as fontes de erros; calibrao do micrmetro; desenvolvimento
de uma metodologia para estimar a incerteza associada calibrao; elaborao e
padronizao de documentos para emitir os resultados da calibrao.
2. FUNDAMENTOS TERICOS
Os micrmetros so instrumentos muitos utilizados na verificao dimensional de
peas nas linhas de produo. Eles permitem a medio de diversas caractersticas com boa
exatido e repetitividade com custo relativamente baixo.
Atualmente, so comercializados micrmetros para medies externas, internas e de
profundidades. Dentre eles, o mais utilizado o micrmetro para medies externas. Seu
funcionamento se baseia no Princpio de Palmer, que consiste no deslocamento axial de um
parafuso com passo de alta exatido no interior de uma porca fixa. Com isto, o valor do
mensurando pode ser indicado com uma resoluo de at um milsimo de milmetro.
Dentre os componentes que definem a geometria do micrmetro para dimenses
externas esto: o fuso, o batente, o arco, o cilindro e o tambor (Figura 1). Os outros
componentes so a trava do fuso, a catraca e o nnio, encontrado apenas em micrmetros com
resoluo de 0,001 mm.
O fuso e o batente entram diretamente em contato com a pea durante o processo de
medio. Suas faces localizadas nas extremidades recebem o nome de superfcies de medio
e as bordas podem apresentar chanfros. O batente fixo e no se movimenta em relao ao
arco, enquanto que o fuso se desloca juntamente com o tambor.
Para evitar o desgaste excessivo o fuso e o batente so fabricados de ao inoxidvel ou
de ao-ferramenta temperado. Por sua vez, o arco deve apresentar um formato que possibilite
a medio de um dimetro igual faixa de medio do instrumento. Geralmente, so
fabricados de ao ou ferro fundido. A rigidez do arco importante, pois a fora aplicada para
girar o parafuso deve impedir que as superfcies de medio se desloquem alm do valor
mximo recomendado pela NBR NM-ISO 3611 (1997).
Re soluo =
passorosca
divisestambor
(1)
Re soluo =
1
passorosca
10 divisestambor
(2)
fornece o valor medido instantaneamente de acordo com sua resoluo. Podem ser
encontrados, tambm, micrmetros com contador mecnico (Figura 6a). Com caractersticas
especiais, dentre eles com pontas finas (Figura 6b) e com pontas cnicas (Figura 7). Ambos
utilizados nas medies de flancos de roscas, ranhuras e rasgos de chavetas.
(a)
(b)
Figura 5. Micrmetro analgico (a) e micrmetro digital (b) (Mitutoyo (a) e Starrett (b)).
(a)
(b)
Figura 6. Micrmetro com contador mecnico (a) e com pontas finas (b) (Digimess).
(a)
(b)
Figura 8. Micrmetro para medio de engrenagens (a) e micrmetro com arco profundo (b)
(Digimess (a) e Mitutoyo (b)).
So encontrados, tambm, micrmetros com batentes intercambiveis, com batentes
deslizantes, com relgio comparador e do tipo paqumetro.
O erro mximo admissvel para os micrmetros pode ser determinado pela Eq. (3) em
funo do limite inferior da faixa de medio.
Fmax = 4 + A / 50
(3)
onde Fmax o erro mximo em (m) e A limite inferior da faixa de medio do instrumento.
10
D paral = 2 + A / 50
(4)
f = (2 + A / 50)
(5)
11
Para cada comprimento foram realizadas cinco medies, que possibilitaram a anlise
estatstica dos dados. A partir das leituras realizadas foram calculados a mdia aritmtica e o
desvio padro. Como a dimenso do padro conhecida (Valor Verdadeiro Convencional) o
erro de indicao pode ser calculado a partir da Eq. (6).
E = Vm VVC
(6)
onde E o erro de indicao, Vm o valor mdio das leituras e VVC o valor verdadeiro
convencional, representado pelo comprimento do bloco-padro.
Conhecidos os erros sistemticos (tendncia) nos dez pontos de medio, possvel
traar a curva de erros do instrumento. Ela consiste em um grfico com o eixo horizontal
indicando o comprimento em milmetros e o eixo vertical representando o erro em cada ponto
da faixa de medio tambm em milmetros. Ainda, so traadas duas outras curvas, com os
valores da ordenada iguais a E+2s e E-2s, que estipulam um intervalo para as medies com
um nvel de confiana de 95%.
A planeza das superfcies de medio avaliada por meio de um plano ptico. Este
dispositivo indica o desvio de planeza atravs de franjas de interferncia. Analisando cada
superfcie separadamente, deve-se posicionar o plano ptico de modo a visualizar o menor
nmero de franjas possvel. Caso sejam verificadas mais de quatro franjas de mesma cor, o
desvio ultrapassa os nveis aceitveis.
A calibrao relacionada ao paralelismo das faces dos micrmetros com faixa de
medio de 25 mm realizada utilizando-se uma combinao de paralelos pticos de
espessuras diferentes do passo da rosca. Para tanto as duas superfcies de medio entram em
contato com os paralelos pticos e tomando uma delas como referncia, os paralelos pticos
so movimentados de modo a obter um nmero mnimo de franjas na face. Conta-se ento o
nmero de franjas visualizadas na outra superfcie. Repete-se o procedimento para cada
paralelo ptico. O nmero de franjas observado no deve ser maior que 8.
De forma similar inspecionado o paralelismo das superfcies de medio de
micrmetros com faixa de at 100 mm. Neste caso, usada uma combinao de blocospadro. Recomenda-se que as pilhas montadas apresentem o menor nmero de blocos, para
minimizar a propagao de erros acumulativos.
A fora exercida pelo micrmetro contra a pea tambm precisa ser medida. Esta
operao feita com o uso de um dinammetro. O valor encontrado deve estar entre 5 e 15 N.
12
13
u ( x) =
s( x)
n
(7)
Por sua vez, uma avaliao do Tipo B pode ser efetuada atravs de um julgamento
cientfico baseado em informaes disponveis sobre a variabilidade da grandeza em estudo.
Essas informaes podem ser especificaes do fabricante, dados relatados em certificados de
calibrao ou manuais tcnicos, dados de medies prvias ou mesmo do conhecimento a
respeito dos materiais mais influentes.
Quando existe a chance de o valor de uma grandeza estar situado em um determinado
intervalo, com uma porcentagem conhecida e significativa, pode-se considerar a distribuio
como Normal. Admite-se que a melhor representao para cada valor seja o ponto mdio do
intervalo.
Por outro lado, adota-se uma distribuio retangular quando se tem conhecimento
somente a respeito dos limites inferior e superior do intervalo no qual os valores esto
contidos. Desta forma, igualmente provvel que eles estejam situados em qualquer lugar
14
u ( x) =
estimativa
3
(8)
u ( x) =
a (1 + )
6
(9)
u ( x) =
estimativa
6
(10)
uc2 ( y ) =
f
i =1 xi
N 1 N f f
2
u ( xi ) + 2
. u (x i ) u x j r(x i , x j )
i =1 j= i +1 x i x j
( )
(11)
15
Para aplicao desta lei o modelo matemtico que relaciona a varivel de sada da
medio e as variveis que afetam o seu comportamento deve ser conhecido. Caso contrrio
outro mtodo deve ser adotado.
O segundo termo da equao (11) expressa a correlao existente entre duas fontes de
incertezas xi, xj com ij. O coeficiente r, equao (12), fornece uma medida do grau de
correlao entre as variveis xi e xj.
r xi , x j =
( x ik xi ) x jk x j
k =1
M
k =1
k =1
(12)
2
2
( xik x i ) x jk x j
uc2 ( y ) =
f
i =1 xi
2
u ( xi )
(13)
16
(14)
veff =
uc4 ( y )
u 4 ( y)
i
i =1 vi
N
(15)
17
micrmetro calibrado de ao, do tipo analgico, marca Pantec. Apresenta passo de rosca de
0,5 mm, resoluo de 0,001 mm, faixa de medio de 0-25 mm e nmero de identificao
061258393.
3.1. CALIBRAO
A calibrao do micrmetro para medies externas foi realizada no Laboratrio de
Metrologia Dimensional da Faculdade de Engenharia Mecnica da UFU. Foram utilizados,
tambm, um suporte para micrmetros, um conjunto de blocos-padro de classe 0, cotonetes,
luvas, pinas e lcool.
A calibrao foi efetuada a (20,1 1,0) C. A temperatura ambiente foi monitorada
por meio de um termo-higrmetro digital de resoluo igual a 0,1 C e faixa de indicao de
(20 a 60) C. Foi aguardado, aproximadamente, 10 h para que todos os equipamentos e
dispositivos atingissem o equilbrio trmico.
Inicialmente, foi efetuada a limpeza do micrmetro, do suporte e dos blocos padro
(Figura 13). Em seguida foi feita a identificao dos mesmos. As informaes registradas
foram: tipo de instrumento, fabricante, resoluo, faixa de indicao, passo da rosca, classe de
exatido e nmero do patrimnio.
Uma anlise visual do micrmetro foi realizada com o intuito de detectar possveis
defeitos capazes de comprometer o seu desempenho. Os aspectos verificados foram: a
presena de marcas de oxidao ou marcas provocadas por impacto; a definio e visibilidade
dos traos das escalas principal, do tambor e do nnio; o movimento do fuso micromtrico; o
funcionamento da catraca; a posio dos zeros de todas as escalas e as condies das
superfcies de medio fixa e mvel.
Foram definidos dez pontos da faixa de indicao do micrmetro para anlise: 2,5
5,1 7,7 10,3 12,9 15,0 17,6 20,2 22,8 25,0 mm. Recomendados pela NBR NMISO 3611 (1997).
Para a obteno de todas as dimenses, foram montadas pilhas de blocos-padro, que
consistem na juno de dois ou mais blocos. As pilhas foram medidas cinco vezes, em ordem
crescente, iniciando do ponto 2,5 at 25,0 mm. Todos os valores lidos durante a medio dos
blocos-padro foram anotados para tratamento posterior.
Aps a calibrao foi efetuada a limpeza e manuteno dos equipamentos e
dispositivos. Para tanto foi utilizado lcool etlico, cotonetes, toalhas de papel e pano seco.
18
Uma camada de vaselina foi aplicada sobre os mesmos antes de serem guardados em seus
respectivos estojos.
3.2. ESTIMATIVA DA INCERTEZA DE MEDIO
A estimativa da incerteza de medio iniciou-se com a identificao das variveis que
afetam os resultados da calibrao do micrmetro. Isso possibilitou a definio do modelo
matemtico que relaciona as grandezas de entrada e de sada, alm de alguns fatores de
correo.
As variveis que influenciam a incerteza associada calibrao do micrmetro so:
valor do mensurando (LM) indicado pelo instrumento, resoluo do micrmetro (RM), os
coeficientes de dilatao linear dos materiais do micrmetro (M) e dos blocos-padro (P) e a
variao de temperatura (T) em relao temperatura padro de 20 C. Os outros fatores
utilizados so as correes devido aos desvios de planeza das superfcies de medio de
medio fixa e mvel (Dpl(fixa) e Dpl(mvel)) e a correo devido ao desvio de paralelismo entre
estas superfcies (Dparal). O modelo proposto para estimativa da incerteza apresentado na Eq.
(16).
C = LM + RM + D Paral + D Pl ( fixa ) + D Pl ( mvel ) + M .P.T + P .P.T + I Pad
(16)
19
u ( RM ) =
resoluo
3
(17)
u ( D paral ) =
D paralelismo
(18)
u ( D pl ( fixa) ) =
D planeza( fixa)
u ( D pl ( mvel ) ) =
D planeza( mvel )
6
(19)
(20)
20
u ( M ) =
u ( P ) =
0,1 M
3
0,1 P
3
(21)
(22)
u (var Temp ) =
T
3
(23)
(24)
C
= ( M + P ) LM
T
(25)
21
liberdade. A derivada parcial relacionada a essa varivel apresenta valor unitrio. A incerteza
padro u(IPad) calculada conforme a Eq. (26).
I
u ( I Pad ) = Padro
3
(26)
C
(uC ) =
LM
2
(u ( LM ) )2 +
RM
2
C
(u ( RM ) )2 +
D paral
u ( D paral ) 2
C
C
u ( D pl ( fixa ) ) 2 +
u ( D pl ( mvel ) ) 2 +
+
D pl ( fixa )
D pl (mvel )
C
+
M
C
+
I Pad
C
C
2
(u ( P ) )2 +
(u ( M ) )2 +
(u (T ) ) +
T
P
2
.(u ( I Pad ) )2
(27)
22
23
N 1 [mm]
N 2 [mm]
N 3 [mm]
N 4 [mm]
N 5 [mm]
2,5
2,502
2,501
2,500
2,501
2,501
5,1
5,103
5,103
5,103
5,103
5,102
7,7
7,703
7,701
7,702
7,702
7,703
10,3
10,302
10,302
10,302
10,301
10,301
12,9
12,903
12,904
12,901
12,901
12,902
15,0
15,003
15,003
15,002
15,001
15,002
17,6
17,604
17,603
17,604
17,604
17,603
20,2
20,200
20,203
20,204
20,203
20,204
22,8
22,807
22,806
22,806
22,806
22,807
25,0
25,006
25,006
25,005
25,005
25,005
2,5
2,501
0,7
5,1
5,103
0,4
7,7
7,702
0,8
10,3
10,302
0,5
12,9
12,902
1,3
15,0
15,002
0,8
17,6
17,604
0,5
20,2
20,203
1,6
22,8
22,806
0,5
25,0
25,005
0,5
24
25
Estimativa
Dist. de
Coeficiente de
Graus de
Incerteza
xi
Probabilidade
Sensibilidade
Liberdade
Padro
LM
2,501 mm
Normal
0,3162 m
RM
1 m
Retangular
0,5774 m
Dparal
2 m
Triangular
0,8165 m
Dpl(fixa)
1 m
Triangular
0,4082 m
Dpl(mvel)
1 m
Triangular
0,4082 m
0,1 C
Retangular
0,0550 mC-1
0,5033 C
1,1x10-5 C-1
Retangular
250 mC
6,35x10-7 C-1
1,1x10-5 C-1
Retangular
250 mC
6,35x10-7 C-1
0,05 m
Normal
0,0250 m
Xi
Ipadro
1,20
823
eff)
k=1,96
2,35
26
Observe que a incerteza padro combinada assume valores entre 1,17 e 1,39 m,
enquanto a incerteza expandida varia de 2,29 a 2,79 m com probabilidade de abrangncia de
95,5 %.
Tabela 4. Valores das incertezas padro combinada e expandida.
VVC [mm]
uc [m]
eff
Fator k
UP [m]
2,5
1,20
823
1,96
2,35
5,1
1,17
4741
1,96
2,29
7,7
1,22
448
1,96
2,39
10,3
1,19
2200
1,96
2,33
12,9
1,30
99
1,99
2,59
15,0
1,22
460
1,96
2,39
17,6
1,20
2278
1,96
2,35
20,2
1,39
51
2,01
2,79
22,8
1,21
2361
1,96
2,37
25,0
1,21
2403
1,96
2,37
O valor de k se repetiu para quase todos os pontos, pois o grau de liberdade efetivo das
medies muito elevado.
4.3. CERTIFICADO DE CALIBRAO
Um certificado de calibrao foi confeccionado para a emisso dos resultados da
calibrao. Neste documento so relatados todos os dados e informaes importantes
relacionados ao procedimento de calibrao, tais como: erro de indicao e incerteza de
medio em cada ponto da faixa de indicao avaliado. Ele contm ainda a curva de erros do
instrumento.
Cabe ressaltar que o certificado de calibrao atende os requisitos estabelecidos na
NBR ISO/IEC 17025 (2005).
Os resultados da calibrao do micrmetro para externos revelam que o instrumento
apresenta valores de erro superiores ao valor mximo permitido por norma, que de 4 m.
Observe que em dois dos pontos da faixa de indicao avaliados os erros so respectivamente
iguais a 6 e 5 m.
27
O erro do fuso, tambm, apresenta valor superior ao mximo permitido pela NBR
NM-ISO 3611 (1997), que de 3 m. O erro do fuso micromtrico considerado aceitvel
apenas at o ponto da faixa de indicao correspondente a 15,0 mm.
5. CONCLUSO
Ao finalizar foram formuladas as seguintes concluses.
Foi proposta e aplicada uma metodologia para calibrar micrmetros para externos
conforme requisitado pela NBR ISO/IEC 17025 (1997). Um micrmetro, escolhido ao acaso,
foi calibrado.
A metodologia da calibrao foi documentada e pode ser aplicada para calibrar
qualquer micrmetro para externos independente da faixa de medio.
Foi desenvolvida uma metodologia para estimar a incerteza associada calibrao de
micrmetros para externos de forma simples e rpida seguindo as recomendaes do GUM
(2008).
O procedimento de clculo da incerteza foi implementado, utilizando-se o aplicativo
Microsoft Office Excel e ficar disposio de todos.
A curva de calibrao do micrmetro mostrou que o erro de indicao atinge valores
de at 6 m, ultrapassando o valor mximo permitido pela NBR NM-ISO 3611 (1997).
O erro do fuso tambm apresenta um valor maior que aquele estipulado por norma.
Assim sendo, este equipamento deve ser ajustado ou colocado em desuso.
A varivel que mais influenciou na incerteza associada calibrao do micrmetro foi
o desvio de paralelismo existente entre as superfcies de medio fixa e mvel do
instrumento.
A incerteza padro combinada assume valores entre 1,17 e 1,39 m, enquanto a
incerteza expandida varia entre 2,29 e 2,79 m.
Foi elaborado um certificado padro para relatar os resultados da calibrao de acordo
com a NBR ISO/IEC 17025 (2005).
6. AGRADECIMENTOS
Oferecemos os agradecimentos ao PIBIC-UFU pelo apoio financeiro e por possibilitar
o desenvolvimento deste trabalho de Iniciao Cientfica.
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7. REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
CAVACO, M.A.M. Apostila de Metrologia Parte II. Laboratrio de Metrologia e
Automatizao, Departamento de Engenharia Mecnica. Universidade Federal de Santa
Catarina. Florianpolis, Brasil, 2003. 169 p. Apostila.
GONALVES Jr., A.A. Apostila de Metrologia Parte I. Laboratrio de Metrologia e
Automatizao, Departamento de Engenharia Mecnica, Universidade Federal de Santa
Catarina. Florianpolis, Brasil, 2002. 130 p. Apostila.
INMETRO. Guia para a Expresso da Incerteza de Medio. Rio de Janeiro, 1997. 120 p.
INMETRO. SI - Sistema Internacional de Unidades, 2007. 114 p.
INMETRO. VIM - Vocabulrio Internacional de Termos Fundamentais e Gerais de
Metrologia, 2008. 72 p.
MORETTIN, L.G. Estatstica Bsica Volume 1: Probabilidade. 7 Edio. Makron Books,
1999. 230 p.
NBR ISO/IEC 17025 Requisitos gerais para competncia de laboratrios de ensaio e
calibrao. Janeiro, 2005. 20 p.
NBR NM-ISO 1 Temperatura padro de referncia para medies industriais de
comprimento. Dezembro, 1997. 2 p.
NBR NM-ISO 3611 Micrmetro para medies externas. Janeiro, 1997. 12 p.